「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(162ページ目) - Weblio英語例文検索

To arbitrarily control relative directions between an axis of a probe and an axis of a carbon nanotube being set at the head of a scanning probe microscope or held by a handling equipment such as carbon nanotube tweezers or the like, in order to improve its durability and precision and stability of measurements.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡先端のカーボンナノチューブや、カーボンナノチューブピンセットなどのハンドリング機器に把持されたカーボンナノチューブについて、プローブの軸とカーボンナノチューブの軸の相対方向を任意に制御し、測定の精度、安定性、耐久性等を向上させる。 - 特許庁

To provide a microscope with an imaging apparatus capable of rapidly determining an optimum exposure condition as a whole with simple constitution even when dividing a sample to many partial areas and performing microscopic imaging, and a method for calculating its exposure time.例文帳に追加

試料を多数の部分領域に分割して顕微鏡撮像を行う場合においても、簡単な構成で迅速に全体最適な露出条件を決定できる撮像装置付顕微鏡、及びその露出時間を算出する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an eyepiece system, a telescope, binoculars and a microscope where an aspherical lens formed at low cost is used, eye relief being ≥80% of the focal distance of the entire eyepiece system is secured, and aberration is excellently compensated to the peripheral part of visual field.例文帳に追加

安価に形成可能な非球面レンズを使用した、接眼レンズ系全体の焦点距離の８０％以上のアイレリーフを有し、視野周辺部まで各収差が良好に補正された接眼レンズ系、及び望遠鏡、双眼鏡、顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Next, the humidity-adjusting pin 14 of the measuring cell 8 is loosened to expose the surface of the resin base material 1 of the sample 7 to a high-humidity atmosphere and the surface shape of the same place as a dry state measured first by the atomic force microscope 20 is measured, after a fixed interval.例文帳に追加

次に、測定セル８の湿度調整ピン１４を緩め、試料７の樹脂基材１の表面を高湿雰囲気に晒し、一定時間後に原子間力顕微鏡２０により始めに測定した乾燥状態と同じ箇所の表面形状を測定する。 - 特許庁

To provide a light intensity distribution correction optical system configured so that the intensity distribution of diverging light from a light source is made to be uniform, light utilization efficiency is improved, a difference in NA of the light source is easily absorbed, and cost reduction is achieved, and also to provide an optical microscope using the light intensity distribution correction optical system.例文帳に追加

光源からの発散光の光強度分布を均一化すると共に光利用効率を向上させ、光源のＮＡの違いを容易に吸収し、かつローコストな光強度分布補正光学系およびそれを用いた光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A microscope for magnifying a sample image by an optical system provided in a body 2 is provided on the back-face when a surface opposed to an observer faces forward during use, and is equipped with a grip 3 located above a center of gravity of the body.例文帳に追加

本体２に設けた光学系によって標本の像を拡大して観察する顕微鏡は、使用の際に観察者と対向する面を正面とするときの背面側に設けられ、本体の重心よりも上方に位置する取っ手３を備えている。 - 特許庁

A crease is generated on the metal layer by applying a tensile stress or a bending stress to the metal layer, and a period of the crease generated at that time is measured directly on the field by an optical microscope or the like, to thereby easily measure the thickness of the thin metal layer.例文帳に追加

金属層に引張応力又は曲げ応力を加えることにより金属層にシワを生成し、このときに発生したシワの周期を光学顕微鏡などで現場で直接測定することにより薄い金属層の厚さを容易に測定することができる。 - 特許庁

The titanium dioxide particles, in which crystal structure is an anatase type, the primary particle diameter by the measurement of the diameter in a fixed direction with an electron microscope is 0.5 to 5.0 μm, and the particle size distribution thereof is ≤3.0 by D90/D10, and the method for producing the titanium dioxide particles are provided.例文帳に追加

結晶構造がアナタース型であり、電子顕微鏡にて定方向径を計測することによる一次粒子径が０．５μｍ〜５．０μｍであり、その粒度分布はＤ９０／Ｄ１０で３．０以下である二酸化チタン粒子、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

A microscope device, which is configured to photograph an image for every visual field while horizontally moving the visual field relative to a specimen, includes a focal point-adjusting means for estimating a focal point for every visual field and adjusting the focal point for every visual field based on the result of the estimation.例文帳に追加

標本に対する視野を水平方向に移動しながら視野毎の画像を撮影する顕微鏡装置であって、視野毎の合焦点を予測し、当該予測結果に基づいて視野毎の合焦点を調整する合焦点調整手段を具備する。 - 特許庁

A microscope system 1 is provided with a transmission turret 6 for holding a plurality of filters 5 and for switching an arrangement of the filters 5, a stepping motor 21 for driving the transmission turret 6, and a transmission turret control part 25 for controlling the stepping motor 21 to control the arrangement of the filters 5.例文帳に追加

顕微鏡システム１は、複数のフィルタ５を保持してフィルタ５の配置を切り換える透過ターレット６と、透過ターレット６を駆動するステッピングモータ２１と、ステッピングモータ２１を制御して、フィルタ５の配置を制御する透過ターレット制御部２５を備える。 - 特許庁

A β-type iron silicate has a fluorine content of 400 ppm or less relative to the dry weight and has all or part of iron contained in a β-skeleton structure, provided that crystalline particles of the β-type iron silicate have a dual truncated quadrangle pyramid under a scanning electron microscope.例文帳に追加

乾燥重量に対するフッ素の含有率が４００ｐｐｍ以下、走査型電子顕微鏡観察において結晶粒子が双四角錐台形状である鉄の全部又は一部をβ骨格構造中に含有するβ型鉄シリケートを用いる。 - 特許庁

An illumination device (20) for a microscope (40) has a laser unit (24) that generates at least one broadband laser light pulse (30), and light components (71, 72, 73, 74, 75, 76) of different wavelengths of the broadband laser light pulse (30) are temporally offset from one another.例文帳に追加

顕微鏡（４０）の照明装置（２０）は、少なくとも１つの広帯域レーザ光パルス（３０）を生成するレーザユニット（２４）を有し、上記広帯域レーザ光パルス（３０）の異なる波長の光成分（７１、７２、７３、７４、７５、７６）は、互いに時間的にずらされる。 - 特許庁

To provide an anti-reflection film for optical components of an optical glass system, permitting to improve an S/N ratio in observation treating very feeble light such as microscope observation, by preventing collapse of surface particles due to eradication of magnesium fluoride and suppressing micro-scattering.例文帳に追加

光学ガラス系の光学部品の反射防止膜に使用されるフッ化マグネシウムの払拭による表面粒子の崩壊を阻止して微小散乱を抑えることにより、顕微鏡観察等、極微弱光を扱う観察においてＳ／Ｎ比の向上を図る - 特許庁

Thereafter, the base 6 is moved in an upward direction with respect to the base 5 so as to make the base 5 stand on the floor surface, and an air bearing is attached to the base 6 instead of the caster 9, whereby the microscope is accurately and easily aligned to the specified position.例文帳に追加

その後、固定台５に対して上方向に可動台６を移動させて固定台５を床面に着地させ、キャスタ９に替えてエアーベアリングを可動台６に取り付けることで、所定の位置への顕微鏡の位置合せを高精度且つ容易に行うことができる。 - 特許庁

The physical quantity measuring instrument is so constituted as to be capable of two-dimensionally or three-dimensionally measuring the physical quantities of a sample to be measured, by adapting a laser-induced fluorescence method to the confocal microscope which uses a confocal scanner, having a two-port disk type pinhole array.例文帳に追加

ニポウディスク型のピンホールアレイを有する共焦点スキャナを用いた共焦点顕微鏡にレーザ誘起蛍光法を適応して、測定対象中の測定試料の物理量の２次元または３次元分布を測定することができるように構成する。 - 特許庁

The scanning electron microscope according to the present invention scans a sample along one or more straight lines and adds, to a detection signal for each scan line, information for identifying a start position and an end position of the scan line as address information indicating a scan position on the sample.例文帳に追加

本発明に係る走査型電子顕微鏡は、試料を１以上の直線状に走査し、走査線の開始位置と終了位置を特定する情報を、試料上の走査位置を示すアドレス情報として、１走査線毎の検出信号に付与する。 - 特許庁

To provide a noise canceling type headphone capable of preventing the disturbance of musical sounds caused by unexpected noise canceling sounds by preventing resonant sounds near an outside sound taking port which are listened to as sounds having no relation to original outside sounds from being taken into a microscope.例文帳に追加

本来の外部ノイズとは関係のない音として聴取される外部音取り込み口付近での共鳴音がマイクロホンに取り込まれるのを防止して不用意なノイズキャンセル発音による楽音の乱れを防止できるノイズキャンセル型ヘッドホンを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope using a plurality of scanning optical systems, and capable of preventing the same area from being irradiated simultaneously with laser light beams emitted from respective scanning optical systems, even when areas to be scanned by the scanning optical systems overlap each other.例文帳に追加

複数の走査光学系を使用し、各走査光学系の走査領域が重なり合うような場合でも、各走査光学系からのレーザ光が同時に同じ領域を照射しないようにすることが可能な走査型レーザ光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The detector 18 includes a case 50 slidably disposed to the casing of the infrared microscope; a lighting opening 56 for guiding infrared light from the casing into the inside along the sliding direction; and a detection center section that is contained in the case 50 and detects the infrared light.例文帳に追加

検出器１８は、赤外顕微鏡の筐体に対してスライド自在に設けられるケース５０と、スライド方向に沿って筐体からの赤外光を内部に導く採光口５６と、ケース５０に内蔵され赤外光を検出する検出中心部とを備える。 - 特許庁

To provide a laser scanning type microscope capable of achieving optimum irradiation with a light beam respectively for a laser scanning optical system for observation and an optical system for luminous stimulus by performing luminous stimulus and observation by the use of optical systems having different characteristics.例文帳に追加

本発明の課題は、観察用のレーザー走査光学系と光刺激用の光学系とを異なる特性の光学系を使って光刺激と観察を行うことにより、それぞれに最適な光線の照射が可能なレーザー走査型顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

The method and device for scanning a sample with a scanning probe microscope includes a step for scanning the surface of the sample according to at least one scanning parameter to obtain data corresponding to the surface, and a step for substantially automatically identifying a transition part on the surface.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡でサンプルを走査する方法および装置は、少なくとも一つの走査パラメータに応じてサンプルの表面を走査して表面に対応するデータを取得するステップと、表面における変移部を略自動的に識別するステップとを有する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of promptly shaping second light of any wavelength to a desired beam shape and of superposing the beam on first light with simple and inexpensive constitution without using a phase plate and without forcing vexatious work to a user.例文帳に追加

位相板を用いることなく、簡単かつ安価な構成で、しかもユーザーに煩雑な作業を強いることなく、第２の光をいかなる波長でも即座に所望のビーム形状に整形して第１の光と重ね合わせることができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a panorama image synthesis technique using a scanning charged-particle microscope, which achieves a panorama image robust against contamination, imaging shift and distortion of an image in a wide-field imaging region (EP) on a fine semiconductor pattern.例文帳に追加

微細な半導体パターンに対する広視野な撮像領域（ＥＰ）において、コンタミネーション、画像の撮像ずれや歪みに対してロバストなパノラマ画像合成を実現できるようにした走査荷電粒子顕微鏡を用いたパノラマ画像合成技術を提供することにある。 - 特許庁

The scanning type probe microscope is provided further with an acquisition-registering means for acquiring and registering a reference pattern for alignment, and a recipe formation means for recipe-registering the luminous energy to an illuminance when registering an image pattern to a recipe by the acquisition-registering means.例文帳に追加

さらに走査型プローブ顕微鏡は、アライメントのための参照用パターンを取得・登録する取得登録手段と、この取得登録手段によって画像パターンをレシピに登録した時の照度に光量をレシピに登録するレシピ化手段とを備える。 - 特許庁

A CPU 44 generates email to an email address registered in advance, which includes the image data and information on settings of the microscope 10 or camera 30 for imaging the observed image represented by the image data.例文帳に追加

ＣＰＵ４４は、予め登録されている電子メールアドレスを宛先とし、当該画像データと、当該画像データで表されている観察像の撮影時における顕微鏡１０若しくはカメラ３０の設定状態を示す情報とが含まれている電子メールを作成する。 - 特許庁

To provide a vertical illumination microscope, whose aperture stop diameter is automatically changed interlocking with objective lens change of a motor-driven revolver mounted with a plurality of objective lenses and also easily set for each of the plurality of objective lenses, compactly at low cost.例文帳に追加

複数の対物レンズが装着された電動レボルバの対物レンズ転換に連動して開口絞り径が自動的に変更され、且つそれら複数の対物レンズ毎に開口絞り径の設定が容易に行える落射顕微鏡を安価に、またコンパクトに提供すること。 - 特許庁

This device is provided to a microscope, including an auto-focus unit 42 which focuses a light beam on an object based on the light beam returning from the object after it is projected to the object through an objective lens 41.例文帳に追加

ウェハ位置調整装置は、光ビームを対物レンズ４１を介して対象物に投光し対象物から戻ってくる光ビームに基づいて前記対象物に対する焦点合わせを行うオートフォーカスユニット４２を有するウェハ検査用の顕微鏡に備えられる。 - 特許庁

To provide a fluorescence microscope provided with an excitation light irradiating optical system and a fluorescence correlated spectroscopic analyzer used favorably for measuring respectively a plurality of excitation light irradiating areas concurrently or sequentially by fluorescence correlated spectrometry.例文帳に追加

複数の励起光照射領域それぞれについて同時に又は順次に蛍光相関分光法により測定するのに好適に用いられ得る励起光照射光学系を備える蛍光顕微鏡および蛍光相関分光解析装置を提供する。 - 特許庁

In a parallel flat plate type dry etching device, a camera having a microscope function and a film thickness measurement function is installed inside an electrode opposite to an electrode for mounting the semiconductor substrate, and the etching state of the semiconductor substrate is observed by using this camera.例文帳に追加

平行平板型のドライエッチング装置において、半導体基板を載置する電極とは反対の電極の内部に顕微鏡機能および膜厚測定機能を有するカメラを設置し、このカメラを用いて半導体基板のエッチング状態を観測できるようにした。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus capable of remarkably reducing dust-sticking on a sample such as a semiconductor wafer using an immersion objective lens and the occurrence of watermarks on the sample by quickly drying liquid remaining on the sample after performing the visual inspection of the sample.例文帳に追加

液浸系対物レンズを用いた半導体ウエハ等の標本の外観検査後に、標本上に残存する液体を速やかに乾燥して、標本への塵埃等の付着やウォーターマークの発生を著しく減少させることができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a zoom microscope with high expandability which can be used for contrast observation (e.g., differential interference observation, etc.) of a sample and in which other optical systems (e.g., a fluorescent incident light illumination system, etc.) can be arranged between an objective lens part and a zoom part if necessary.例文帳に追加

標本のコントラスト観察（例えば微分干渉観察など）に用いることができ、必要に応じて対物レンズ部とズーム部との間に他の光学系（例えば蛍光落射照明系など）を配置することもできる拡張性の高いズーム顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A first verification execution part 34 causes a microscope image of the piece determined to be defective at the inspection device 6 to be displayed in parallel with an inspection device image, and causes a quality determination result made by an inspector to be stored as a first verification result in a storage part 31.例文帳に追加

第１のベリファイ実行部３４は、パターン検査装置６で不良品と判定されたピースの顕微鏡画像と検査装置画像を並行表示させ、検査員による良否判定結果を第１のベリファイの結果として記憶部３１に格納する。 - 特許庁

The microscope device further comprises two wedge prisms 51a and 51b disposed on an optical path between the detection system 30 and the half mirror 17, and rotary mechanisms 52a and 52b holding the wedge prisms 51a and 51b so as to allow them to rotate severally.例文帳に追加

さらに測定顕微鏡装置は、焦点検出系３０とハーフミラー１７の間の光路上に配置された２つのウェッジプリズム５１ａと５１ｂと、ウェッジプリズム５１ａと５１ｂをそれぞれ回転可能に保持している回転機構５２ａと５２ｂとを有している。 - 特許庁

In the method of correcting a photomask defect, after making an electrical continuity in an isolated pattern by a metal deposition film 7 by use of an electron beam or a helium ion beam generating from a gas field ion source, the defect 3 is corrected; and after the correction, the metal deposition film 7 is physically removed by an AFM (atomic force microscope) scratch working probe 9.例文帳に追加

電子ビームまたはガスフィールドイオン源から発生するヘリウムイオンビームを用いた金属デポジション膜7で孤立したパターンに導通を作ってから欠陥3を修正し、修正後金属デポジション膜7をAFMスクラッチ加工探針9で物理的に除去する。 - 特許庁

A reticle stage 100 is moved in a vertical direction of the figure, the focus of an objective lens 104a of a microscope 104 is matched with the mark 106 of the back surface 50b of a mask 10, and the image of the mark 106 is acquired in an image acquisition device 108 and stored in a memory 109.例文帳に追加

レチクルステージ１００を図の上下方向に動かして、顕微鏡１０４の対物レンズ１０４ａのフォーカスを、マスク１０の裏面５０ｂのマーク１０６に合わせ、マーク１０６の画像を画像取得装置１０８で取得し、メモリ１０９に記憶する。 - 特許庁

To provide a phase plate for an electron microscope which can further effectively prevent an electron beam loss, can be applied to an acceleration voltage over a wide range from low to high voltages, can be put into practical use without being accompanied by difficulty in its manufacture, and can attain an image of a high contrast.例文帳に追加

電子線損失をより効果的に防止し、低圧から高圧まで広範囲の加速電圧に適用可能で、製造上の困難性を伴わず、実用化が可能で高コントラストの像を得ることを可能とする電子顕微鏡用位相板を提供する。 - 特許庁

With this arrangement, when the CNT probe, due to distortion or slipping, collides with the sample surface, destruction and deformation of the tip part of the base probe and tip part of the joined part can be prevented to provide the CNT cantilever having high durability for a scanning probe microscope.例文帳に追加

このような構成により、ＣＮＴ探針の撓みや滑りによる試料表面との衝突時にベース探針先端部と接合部先端部の破壊や変形が防止でき、高い耐久性を持った走査型プローブ顕微鏡用ＣＮＴカンチレバーを提供できる。 - 特許庁

To provide a probe control method of a scanning probe microscope capable of measuring an irregular shape or the like of the sample surface by a step-in method relative to a measuring point determined beforehand, heightening throughput of measurement, and reducing breakage or damage caused by collision of the probe.例文帳に追加

試料表面の凹凸形状等を予め決められた測定点についてステップイン方式で測定し、測定のスループプットを高め、探針の衝突による破損・ダメージを減少できる走査型プローブ顕微鏡の探針制御方法を提供する。 - 特許庁

An adaptor 25 is provided in the casing for the microscope 10, and the endoscope 30 can be held so that the endoscopic objective optical system can be arranged in a position to enable the obtainment of the optical image which passes through the microscopic objective optical system.例文帳に追加

アダプタ２５は、前記手術用顕微鏡１０の筐体に設けられ、前記内視鏡対物光学系が前記顕微鏡対物光学系を通過した光学像を得ることが可能な位置に配置されるように前記内視鏡３０を保持可能になっている。 - 特許庁

To provide an ocular optical system of a microscope which can increase the degree of freedom of the posture of an observer to an ocular part by preventing a visual field pupil from being vignetted by making the pupil of the ocular optical system follow up the line of sight of the observer.例文帳に追加

本発明の目的とするところは、観察者の視線に接眼光学系の瞳を追従させて、視野瞳の蹴られを防止し、接眼部に対する観察者の姿勢の自由度を高めるようにした顕微鏡の接眼光学系を提供することにある。 - 特許庁

A joined body 14B joined with an evaluated sample 10 to be evaluated and a standard sample 12 is irradiated with an electron beam E1 of a transmission electron microscope from a side way of the joined body to include the evaluated sample and the standard sample within an irradiation spot 28.例文帳に追加

評価すべき被評価試料１０と標準試料１２とが接合された接合体１４Ｂに、接合体の側方から、被評価試料と標準試料とを照射スポット２８内に含むように透過型電子顕微鏡の電子ビームＥ１を照射する。 - 特許庁

Resultantly, the state of a sample 11 can be easily checked only by taking an eye off the eye contact part of the microscope and turning the eye line downward as shown in 20A of the Fig.1 and the observation of sample images, check of sample state and manipulator operation etc. can be smoothly performed.例文帳に追加

その結果、２０Ａのように顕微鏡の接眼部から眼を離して視線を下方に落とすだけで試料１１の状態を容易に確認することができ、試料像の観察と試料状態の確認やマニュピレータ操作等をスムーズに行うことができる。 - 特許庁

This system is equipped with a light source which has two UV narrow bands of 360 to 370 nm and 398 to 407 nm and a single visual narrow band of 427 to 434 through broadband and individualband filtering, an optical microscope characterized by a broadband objective system, a lighting path, and a tube lens, a camera, and a data processor.例文帳に追加

ブロードバンドと個別バンドフィルタリングにより、360-370nmと398-407nm の２つのUVナロウバンドと427-434nm の単一の可視ナロウバンドを有する光源と、ブロードバンド対物システムと照明経路とチューブレンズを特徴とする光学顕微鏡と、カメラと、データ処理装置とを備える。 - 特許庁

The cross section of chemically treated hair, which is obtained by twice treating hair with a commercial high bleaching agent, and that of treated hair obtained by treating hair with a 2% amino acid aqueous solution are respectively measured by an atomic force microscope to obtain an amplitude image shown in Fig.1 and a phase image shown in Fig.2.例文帳に追加

毛髪を市販のハイブリーチ剤で２回ブリーチ処理を行った化学処理毛と、更に２％アミノ酸水溶液で処理したトリートメント処理毛との断面を、それぞれ、原子間力顕微鏡で測定し、図１に示すamplitude像と、図２に示すphase像とを得た。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope suitably adapted to the study of the observation of the lattice of lines of magnetic induction or an electron state in a magnetic flux inlusive of the study of a nanoscale non-uniform superconductive state and the observation of the uneven image on the surface of a sample, and its using method.例文帳に追加

ナノ・スケール不均一超伝導状態の研究を始めとして、磁束線格子の観測や磁束内電子状態の研究、さらには試料表面の凹凸像の観測に適用して好適な走査プローブ顕微鏡およびその使用方法を提供する。 - 特許庁