「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(158ページ目) - Weblio英語例文検索

There is provided a moon grid 100 specialized for three-dimensional observation by a transmission electron microscope, and its manufacturing method, wherein the moon grid includes a sheet mesh 110 for protecting an upper structure, and a support film 120 equipped on the sheet mesh 110 and containing nanoparticles 130 dispersed.例文帳に追加

上部構造を保護するシートメッシュ１１０と、シートメッシュ１１０上に具備されてナノ粒子１３０が分散している支持膜１２０とを含む、透過電子顕微鏡３次元観察専用ムーングリッド１００とその製造方法を提供する。 - 特許庁

The photographing apparatus is used for microscope observation or the like, carries out positioning and focusing in the display mode wherein a user observes a moving picture on an LCD monitor 91, is switched to the photographing mode by operating a photographing button 921 to photograph a still picture.例文帳に追加

顕微鏡観察等に用いられる撮影装置であって、ＬＣＤモニタ９１で動画を観察する表示モードで位置合わせやピント合わせを行い、撮影ボタン９２１を操作することにより撮影モードに切り替わり静止画が撮影される。 - 特許庁

To solve a problem that, in a charged particle beam microscope applying a phase retrieval method, a restructured image size to be restructured by phase retrieval and a sample area size contained in a diffraction image used do not conform by observation condition and it takes time for calculation.例文帳に追加

位相回復法を適用した荷電粒子顕微鏡では、観察条件により、位相回復で再構成される再構成像サイズと、用いた回折像に含まれる試料領域サイズとが一致しなくなる、また、計算に時間が掛かる。 - 特許庁

The perovskite type compound oxide particle consists of a single crystal particle of a perovskite type compound oxide, has 5-50 nm average particle size, which is calculated by using the results measured by using a transmission electron microscope, and contains a noble metal in a crystal lattice of the single crystal particle.例文帳に追加

ペロブスカイト型複合酸化物の単結晶粒子からなり、透過型電子顕微鏡の観測結果から求めた平均粒子径が５ｎｍ以上５０ｎｍ以下であり、その結晶格子中に貴金属元素が含まれている構成とする。 - 特許庁

To provide a multiple photon exciting and scanning type laser microscope capable of obtaining a sharp image over a range from a surface layer to a deep layer even if performing the observation up to an extremely deep region (e.g., about 100 μm or above from a surface).例文帳に追加

非常に深い領域(例えば、表面から約１００μｍ以上)まで観察する場合であっても、表層から深層まで鮮明な画像を得ることのできる多光子励起走査型レーザ顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

The sheeted material for preventing electromagnetic interference is provided, in which at least one layer (layer A) of a soft magnetic metal film comprising microcrystal whose particle size is less than 100nm as observed by a transmission microscope, is formed by wet plating.例文帳に追加

透過型顕微鏡下における観察で粒径が１００ナノメートル未満の微結晶を含有する軟磁性金属皮膜の少なくとも一層（Ａ層）が湿式めっき法によって形成されてなるシート状電磁波障害防止用材料である。 - 特許庁

A drawing pattern 8 is heat-treated by local high temperature annealing using laser in the same device 1 immediately after carrying out pattern drawing by a solution 6 containing the inorganic material by using a cantilever 2 of a scanning type probe microscope on a substrate 5.例文帳に追加

基板５上に走査型プローブ顕微鏡のカンチレバー２を用いて無機材料を含む溶液６によるパターン描画を行った直後に、同一装置１内においてレーザを用いた局所高温アニールにより描画パターン８を加熱処理する。 - 特許庁

The manufacturing method is used for a micro grid 1 that includes a grid mesh 10 that is used for sample support when observed by an electron microscope and a thin film 20 placed on the grid mesh 10 that has pores 21.例文帳に追加

本発明の製造方法は、電子顕微鏡による観察の際に試料支持用として用いられる、グリッドメッシュ１０と、グリッドメッシュ１０上に設けられた、孔部２１を有する薄膜２０と、を備えたマイクログリッド１の製造方法である。 - 特許庁

To provide a light detection method and device, capable of detecting light to be detected with high sensitivity, even if the light to be detected is scattered light or light disturbed in wave front, and to provide a living body observing method, a microscope and an endoscope.例文帳に追加

被検出光が、散乱光や波面の乱れた光であっても、高感度かつ高感度に検出することができる光検出方法および光検出装置、並びに、生体観察方法、顕微鏡および内視鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a laser scanning type microscope capable of moving only the focused position of an observation laser beam while keeping a state where an operation laser beam is focused on the same position on a sample, and a microscopic observation method.例文帳に追加

標本内の同じ位置に操作用レーザ光を合焦させた状態を維持しながら観察用レーザ光の合焦位置のみを移動させることのできるレーザ走査型顕微鏡および顕微鏡観察方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A half mirror 41 is provided on an optical path between a beam expander 12 provided in a confocal microscope and a light source 2 generating a laser beam L to thereby divide the laser beam L into a laser beam L1 being illuminating light and a laser beam L2 being inspecting light.例文帳に追加

共焦点顕微鏡に設けられたビームエキスパンダ１２とレーザ光Ｌを発生する光源２との間の光路上にハーフミラー４１を設けて、レーザ光Ｌを照明光であるレーザ光Ｌ１と検査光であるレーザ光Ｌ２とに分割する。 - 特許庁

To prevent poor transfer and obtain a highly fine image of high quality by configuring an endless belt so that a ten-point mean roughness of a surface of the endless belt, measured with a scanning probe microscope, is in a range from not less than 2.1 nm to not more than 11.0 nm.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡によって測定した表面の十点平均粗さが２．１〔ｎｍ〕以上、かつ、１１．０〔ｎｍ〕以下の範囲となるようにして、転写不良が発生せず、高品質な高精細画像を得ることができるようにする。 - 特許庁

The scanning electron microscope 1 is provided with an electron gun 2 in which a metal film, a carbon film, a diamond film, and a diamond-like carbon film which transmit accelerating electrons and can endure the atmosphere are provided at the electron gun window 35, and a sealed container 33 is maintained in vacuum.例文帳に追加

電子銃窓３５に加速電子を透過し大気に耐える金属膜、炭素膜、ダイヤモンド膜、ダイヤモンドライクカーボン膜を設け、密封容器３３内が真空に保たれる電子銃２を備える走査型電子顕微鏡装置１とする。 - 特許庁

In the method for grasping the one-line processing quantity by the FIB under the prescribed condition, the sample is processed by performing scanning of a plurality of lines, and the etching size at that time is measured by the microscope length measuring function, and the average processing quantity by one-line scanning is calculated.例文帳に追加

所定条件下のＦＩＢによる１ラインの加工量を把握する方法は複数ラインの走査を行って試料を加工し、その際のエッチング寸法を顕微鏡測長機能で測長し、１ライン走査の平均加工量を算出する。 - 特許庁

To provide a distance measuring method, which can accurately measure the distance between an examined sample and an optical observation device under a disadvantageous condition of extremely low contract, etc., and/or over the whole visual field, and to provide a microscope which implements the method.例文帳に追加

極めて低いコントラスト等の不利な条件下での及び／又は視野全体に亘っての被検試料と光学観察装置との間の正確な距離測定が可能な距離測定方法及び当該方法を実行する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

This microscope is constituted by installing a CCD camera in a main body tube and installing an illumination lamp in proximity to the front end opening of the main body tube and is so formed that the central axis direction of the CCD camera is irradiated with light while the light quantity is made uniform.例文帳に追加

本体鏡胴内にＣＣＤカメラを設置し、本体鏡胴の先端開口に近接して照明ランプを配置し、ＣＣＤカメラの中心軸方向に光量を均等にしつつ照射するようにしたことを特徴とする。 - 特許庁

Coordinate data Z of a height position in the confocal image data acquired by an infrared confocal scanning microscope 1 are corrected by a data correction-computing part 19, based on a refractive index data of the sample S input from a user interface 17.例文帳に追加

ユーザインタフェース１７からインプットされた試料Ｓの屈折率データに基づいてデータ補正演算部１９により赤外共焦点走査型顕微鏡１により取得された共焦点画像データの高さ位置の座標データＺを補正する。 - 特許庁

The system is equipped with a scanning electron microscope 30 for measuring a pattern line width in a vacuum chamber 20 for dry etching so as to carry out intermediate length measurement of a pattern line width while a dry-etched photomask substrate 10 is mounted in the vacuum chamber for dry etching.例文帳に追加

ドライエッチング用真空チャンバー２０にパターン線幅を測長する走査型電子顕微鏡３０を備え、ドライエッチングしたフォトマスク基板１０をドライエッチング用真空チャンバー内に載置した状態でパターン線幅を中間測長する。 - 特許庁

The silver halide photographic emulsion contains ≥50% by number of silver halide grains each having ≥10 nm thickness of a short-range repulsion region measured by a force curve method using an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いたフォースカーブ法によって測定される、近距離反発力領域の厚さが、１０ｎｍ以上であるハロゲン化銀粒子を粒子個数比率で５０％以上含有することを特徴とするハロゲン化銀写真乳剤である。 - 特許庁

In this method of evaluating a dispersion state of the filler contained in the resin, the resin containing the filler is dissolved in a solvent, a solution is filtered using a filter, the filler remained on the filter is observed and evaluated by a microscope.例文帳に追加

樹脂に含まれるフィラーの分散状態を評価する方法であって、フィラーを含む樹脂を溶媒で溶解し、溶解液を、ろ過フィルターを用いてろ過し、前記ろ過フィルター上に残ったフィラーを顕微鏡で観察し、評価する方法。 - 特許庁

The microscope device comprises an objective lens 125, an upper base member 114 where the objective lens 125 is disposed, a lower base member 191, and a plurality of supporting pillars 111 linking the upper base member 114 and the lower base member 191.例文帳に追加

顕微鏡装置は、対物レンズ１２５と、対物レンズ１２５が設置される上側ベース部材１１４と、下側ベース部材１９１と、上側ベース部材１１４と下側ベース部材１９１を連結している複数の支持支柱１１１とを備えている。 - 特許庁

A digital microscope 1 comprises a half mirror 13 for providing bright field illumination, a ring lens 16 for providing dark field illumination and a mechanism for changing mixing ratio of bright field illumination and dark field illumination according to the operation at an operation part 26.例文帳に追加

デジタル顕微鏡１は、明視野照明光を供給するハーフミラー１３と、暗視野照明光を供給するリングレンズ１６と、操作部２６での操作に応じて明視野照明光と暗視野照明光の混合割合を変える機構を備える。 - 特許庁

Reflectance of the particle in the minute flow field is reflected by the first and the second reflection surfaces and makes incidence on the optical path of the microscope and a plurality of images for the same particle obtained from different viewpoints are imaged on a single imaging surface of the imaging apparatus.例文帳に追加

微小流動場の粒子の反射光が第１及び第２反射面によって反射して顕微鏡内の光路に入射し、異なる視点から得られた同一粒子の複数の像が撮像装置の単一の結像面に結像する。 - 特許庁

To provide a movable diaphragm position control method and a device of an electron microscope enabled in carrying out intuitive operation in the case of moving a diaphragm.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡の可動絞り位置制御方法及び装置に関し、絞りを移動させる場合に直感的な操作を行なうことができるようにした電子顕微鏡の可動絞り位置制御方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

A microscope 20 detects a displacement of a preparation PRT relative to a standard position PR, which is determined by holding projections 71A to 71C provided on a stage 21, from a thumb nail imaging including the preparation PRT distributed an organism sample SPL.例文帳に追加

顕微鏡２０は、生体サンプルＳＰＬが配されたプレパラートＰＲＴを含むサムネイル像から、ステージ２１に設けられる保持突起７１Ａ〜７１Ｃにより規定される基準位置ＰＲに対する該プレパラートＰＲＴの位置ずれを検出する。 - 特許庁

A microscope adapter unit 4 disposed in an optical path of an illumination light from a light source unit 2 including a light source LS to a sample surface SP comprises a first lens group (lens L4 and L3) and a second lens group (lens L2 and L1).例文帳に追加

光源ＬＳを含む光源ユニット２から標本面ＳＰに至る照明光の光路中に配置される顕微鏡アダプタユニット４を、第１のレンズ群（レンズＬ４及びレンズＬ３）と第２のレンズ群（レンズＬ２及びレンズＬ１）で構成する。 - 特許庁

In the microscope system 1, a high resolution image acquisition processing unit 453 acquires a VS image of a target specimen S stained with a staining dye containing a dye for cell component identification and a molecule target dye.例文帳に追加

本発明のある実施の形態の顕微鏡システム１において、高解像画像取得処理部４５３は、細胞コンポーネント同定用色素および分子標的色素を含む染色色素によって染色された対象標本ＳのＶＳ画像を取得する。 - 特許庁

The objective optical system 4 for the microscope includes, in order from the side of a sample surface 5: a first lens group including at least two lenses of negative refractive power and having negative refractive power as a whole; and a second lens group including positive refractive power.例文帳に追加

顕微鏡用の対物光学系４は、標本面５側から順に、負の屈折力を有する少なくとも２つのレンズを含み、全体で負の屈折力を有する第１レンズ群と、正の屈折力を有する第２レンズ群と、を含む。 - 特許庁

The confocal scanning microscope 1 makes the fluorescence generated from the sample 12 incident on the light separation means 3 via the objective optical system 6, to separate the fluorescence from the exciting light and detects the fluorescence by an imaging element 19 via an imaging optical system 13.例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡１は、試料１２から生じた蛍光を、対物光学系６を介して光分離手段３へ入射させ励起光から分離し、撮像光学系１３を介して撮像素子１９で検出する。 - 特許庁

In the scanning electron microscope 10, deflection images 21, 23 in which a voltage value or a current value of the deflection signals s4, s5 to deflect electron beams 13 is cut out as luminance is obtained simultaneously with an observation image from an image cut-out part 19.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡１０において、画像切出部１９より、電子線１３を偏向する偏向信号ｓ４，ｓ５の電圧値若しくは電流値を輝度として切り出した偏向画像２１，２３を、観察画像と同時に取得する。 - 特許庁

To provide an information processor, an information processing method, a program, an imaging device and an imaging device having a light microscope which can generate multiple images subject to which stitching processing, while suppressing deterioration of an imaged sample.例文帳に追加

撮影される試料の劣化を抑ながら、スティッチング処理される複数の画像を生成することを可能とする情報処理装置、情報処理方法、プログラム、撮像装置、及び光学顕微鏡を搭載した撮像装置を提供すること。 - 特許庁

Otherwise, the cantilever for the scanning probe microscope or the sensor is manufactured by compounding a probe (a chip, a beam and a small pedestal) molded integrally from the arsenic-based, antimony-based or nitrogen-based 3-5 group compound semiconductor with a large pedestal manufactured from ceramics, glass and a cystal.例文帳に追加

また、砒素系、アンチモン系、窒素系３−５族化合物半導体で一体成型したプローブ（チップ+ビーム+小台座）とセラミクス、ガラス、水晶で作製した大台座を複合化して走査プローブ顕微鏡用、又はセンサー用カンチレバーを製造する。 - 特許庁

The surgical microscope for observing infrared fluorescence includes a camera system 25 having three chips 35, 36, 37, wherein infrared light emanating from an object 9 is supplied to only one chip among the three chips of the camera via a dichroic beam splitter 33.例文帳に追加

赤外蛍光を観察するための手術用顕微鏡は、３つのチップ３５、３６、３７を有するカメラシステム２５を含み、対象物９から発する赤外光は、ダイクロイックビームスプリッタ３３を介して３つのカメラチップのうちの１つのみに供給される。 - 特許庁

To measure the surface physical properties of a sample without being influenced by the variation of contact areas by securing the contact area between a probe and the sample, preventing plastic deformation, and seizing the contact area in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、プローブと試料との接触面積を確保し塑性変形を防止し、かつ、接触面積を把握することで接触面積のバラツキによる影響を無くして試料の表面物性を測定することを課題とする。 - 特許庁

To provide a sample transfer method for a transmission electron microscope with operability improved by transferring a sample smoothly to a next mesh position when it approaches a grid part.例文帳に追加

本発明は透過電子顕微鏡の試料移動方法に関し、グリッド部分にさしかかった時にスムーズに次のメッシュ位置まで移動することで、操作性を向上させることができる透過電子顕微鏡の試料移動方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

After a resist film 11 is coated on the surface of a substrate 10 and a layer of atom 12 is formed on the resist film 11, atoms 12 is pulled out of the layer of the atoms 12 according to the designed pattern by the use of probe 13 of scanning tunneling microscope.例文帳に追加

基板１０の表面にレジスト膜１１を塗布し、次いで、前記レジスト膜１１上に原子１２の層を形成した後、走査型トンネル顕微鏡の探針１３を用いて設計パターン様に前記原子１２の層から原子１２を引き抜く。 - 特許庁

This optical product including ≤10,000/mm^3 foreign matters having 1-5 μm size measured by microscope observation is obtained by molding the aromatic-aliphatic copolymerized polycarbonate resin including ≤100/g foreign matters having ≥5 μm particle diameters insoluble in methylene chloride.例文帳に追加

塩化メチレン不溶の粒径５μｍ以上の異物が１００個／ｇ以下である芳香族−脂肪族共重合ポリカーボネート樹脂を成形してなる、顕微鏡観察による１〜５μｍの異物が１０，０００個／ｍｍ^3以下である光学製品。 - 特許庁

To provide a differential interference microscope device for observing a sample with an increased contrast, wherein epi-illumination is performed from an image side of an objective even when a slit is provided on a condenser lens side.例文帳に追加

本発明は、試料のコントラストを高めて観察する微分干渉顕微鏡装置に関し、コンデンサレンズ側にスリットを設けた場合にも対物レンズの像側から落射照明を行うことができる微分干渉顕微鏡装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To correct measurement magnification and measurement position of a spectral image with high efficiency and with high accuracy using an electronic spectroscope and a transmission electron microscope, regarding the spectral image formed with two axes where an amount of energy loss and a measurement position information are orthogonal to each other.例文帳に追加

電子分光器および透過型電子顕微鏡を用いて、エネルギー損失量と測定位置情報が直交する二軸で形成されるスペクトル像について、スペクトル像の測定倍率および測定位置を高効率かつ高精度に行う。 - 特許庁

To provide a microscope system for surgical operation which can record a plurality of pictures photographed during a surgical operation with high picture quality and reproduce the recorded images in a state very close to the observation state during the surgical operation.例文帳に追加

術中に撮影される複数の画像を高画質に記録することができ、しかも、記録画像を再生する際には術中の観察状態と極めて近い状態で再生することのできる手術用顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To solve a problem that, in a conventional cover glass used for counting asbestos and other fiber particles with a phase-contrast microscope, a counting visual field varies, resulting in an error, even if multiple analysts use the same counting specimen.例文帳に追加

従来のカバーグラスでは、位相差顕微鏡によるアスベストやその他の繊維状粒子等の計数に用いるカバーグラスにおいて、複数の分析者によって同じ計数用標本を用いても計数する視野が異なり誤差が生じてしまう。 - 特許庁

To provide an ultraviolet microscope which does not generate a photochemical reaction between ultraviolet rays and contaminants in an ambience of an optical path, and can prevent the degradation of optical performance and extend the lifetime of a product.例文帳に追加

本発明は、紫外線顕微鏡に関し、紫外光と光路雰囲気中の汚染物質との光化学反応を発生させることなく、光学性能の低下を防止し、製品寿命を長くすることができる紫外線顕微鏡を提供する - 特許庁

To provide an IC device-testing method and an IC device-testing system for inexpensively applying a laser beam different targets of a semiconductor IC device (DUT) to be inspected simultaneously in parallel, speedily successively without requiring any rematching in a microscope.例文帳に追加

検査対象の半導体ＩＣデバイス（ＤＵＴ）の互いに異なるターゲットを同時並行的にまたは高速逐次的に顕微鏡の再整合を要することなく低コストでレーザ光照射するＩＣデバイス試験方法・システムを提供する。 - 特許庁

To form right and left images having uniform brightness on an image pickup surface by correcting the respective deviation of the illuminance of right and left subject images caused by that the object light of the pair of photographing optical systems of a stereoscopic microscope is reflected by each reflection member.例文帳に追加

立体顕微鏡の一対の撮影光学系の被写体光が各反射部材に反射されることにより生じる左右の被写体像の夫々の照度の偏りを補正し、均等な明るさを有する左右の像を撮像面に形成する。 - 特許庁

To easily adhere a sample on a metal mesh without breaking an organic film adhered on the mesh without breaking the sample for an electron microscope or without flying and losing the sample.例文帳に追加

本発明は、電子顕微鏡用試料を破壊したり、飛ばして紛失したりすることがなく、また金属メッシュに張られた有機膜を破ることなく、容易に金属メッシュ上に試料を張り付けることができることを最も主要な特徴とする。 - 特許庁