「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(158ページ目) - Weblio英語例文検索

In the microscope system 1, a high resolution image acquisition processing unit 453 acquires a VS image of a target specimen S stained with a staining dye containing a dye for cell component identification and a molecule target dye.例文帳に追加

本発明のある実施の形態の顕微鏡システム１において、高解像画像取得処理部４５３は、細胞コンポーネント同定用色素および分子標的色素を含む染色色素によって染色された対象標本ＳのＶＳ画像を取得する。 - 特許庁

The confocal scanning microscope 1 makes the fluorescence generated from the sample 12 incident on the light separation means 3 via the objective optical system 6, to separate the fluorescence from the exciting light and detects the fluorescence by an imaging element 19 via an imaging optical system 13.例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡１は、試料１２から生じた蛍光を、対物光学系６を介して光分離手段３へ入射させ励起光から分離し、撮像光学系１３を介して撮像素子１９で検出する。 - 特許庁

In the scanning electron microscope 10, deflection images 21, 23 in which a voltage value or a current value of the deflection signals s4, s5 to deflect electron beams 13 is cut out as luminance is obtained simultaneously with an observation image from an image cut-out part 19.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡１０において、画像切出部１９より、電子線１３を偏向する偏向信号ｓ４，ｓ５の電圧値若しくは電流値を輝度として切り出した偏向画像２１，２３を、観察画像と同時に取得する。 - 特許庁

In the particle diameter distribution measuring method, scattered beams of light, which are scattered by particle groups contained at respective depths, are continuously condensed from the different depths of the cell 2 by moving the condensing region of a dark-field microscope 4.例文帳に追加

本発明に係る粒子径分布測定方法は、暗視野顕微鏡４の集光領域を移動させることによって、セル２の異なる深度から各深度に含まれる粒子群によって散乱される散乱光を連続して集光する。 - 特許庁

The optical arrangement for a microscope is equipped with the beam splitter (1) arranged in a divergent and/or convergent beam path for separating an illumination light (2) that is produced by an illumination source from a detection light (3) that is emitted by a sample being tested.例文帳に追加

照明源によって発生した照明光（２）と検査対象である試料から出る検出光（３）とを分離させるように発散光路および／または収束光路内に配置されるビームスプリッター（１）を備えた顕微鏡用光学装置。 - 特許庁

To obtain a transmission electron microscope which measures and indicates an amount and directions deviations in a visual field of a reference image recorded after an arbitrary set time relative to a recorded image in a real time and a high degree of accuracy and automatically corrects for the deviations in visual field.例文帳に追加

記録した登録画像に対し、任意の設定時間後に記録した参照画像の２つの画像間の視野ずれ量および方向をリアルタイムで高精度に計測，表示し、視野ずれを自動的に補正する透過型電子顕微鏡を得る。 - 特許庁

The detection position of a photoelectron microscope 4 for detecting a graduation of a line measure 5 provided to the slider 16 and a fixed reflector 21 positioned at an end part of the reference optical path 24 are arranged on the same straight line in the moving direction of the slider 16.例文帳に追加

スライダ１６に設けられた線度器５の目盛を検出する光電顕微鏡４の検出位置と参照光路２４の端部に位置する固定反射鏡２１をスライダ１６の移動方向において同一直線上に配置する。 - 特許庁

This objective lens 810 of a microscope in the culture observation device is provided by positioning its tip end part at the inside of a culturing space 202, and the rest of its part at the inside space 156 of a culturing device sub-main body at a lower temperature than that of the culturing space 202.例文帳に追加

培養観察装置内の顕微鏡の対物レンズ８１０は、先端部分が培養空間２０２内に位置し、残りの部分は培養空間２０２より低湿度の培養装置副本体の内部空間１５６内に位置している。 - 特許庁

To obtain a microscope objective lens which can be used not only for the light of wavelength 248 nm but also for the ultraviolet rays of short wavelength 193 nm to 157 nm by making each of all the lens components constituting 1st and 2nd lens groups a single lens arranged separated with air spacing with each other and making the objective lens satisfy specified conditions.例文帳に追加

倍率が１００倍程度で、開口数が０．９程度の大口径で、２４８ｎｍの波長光のみならず、１９３ｎｍや１５７ｎｍの短波長の紫外光でも利用することのできる顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁

The computing unit 8 analyzes an image imaged by a microscope 6, it finds the peripheral length and the area on the projection image of each spherical particle 22, and a surface index S_i which affects the acoustic radiating force of each particle is computed by using them.例文帳に追加

さらに、演算装置８は、マイクロスコープ６で撮像された画像を解析し、球形状の各粒子２２の投影像の周長や面積を求め、これらを用いて個々の粒子の音響放射力に影響を与える表面指数Ｓ_iを演算する。 - 特許庁

To provide an electron microscope holder having high X-ray detection efficiency even in an EDX analysis by an X-ray analyzer of a low angle for extracting a sample for TEM observation in cross section produced by the FIB processing and to provide a spacer for use therefor.例文帳に追加

ＦＩＢ加工により作製した断面ＴＥＭ観察用試料の、低取り出し角のＸ線分析器によるＥＤＸ分析においても、高いＸ線検出効率を有する電子顕微鏡ホルダー及びこれに用いるスペーサーを提供する。 - 特許庁

The optical microscope 100 is equipped with a refractive power variable lens 20, a refractive power changing mechanism 30 and a lens driving mechanism 40, and a microplate M in which the sample S is stored together with the culture solution is placed on an XY moving stage 6.例文帳に追加

光学顕微鏡１００には、屈折力可変レンズ２０、屈折力変更機構３０およびレンズ駆動機構４０とが備えられ、マイクロプレートＭは、標本Ｓを培養液とともに収容し、ＸＹ移動ステージ６上に載置されている。 - 特許庁

The microscope specimen chamber comprises a case 11, a cavity chamber 12 arranged in the case 11, an isolation plate 14 to divide the inside of the case 11, a vapor chamber 16 formed at the outside of the cavity chamber 12, and a cushion chamber 18 formed at the outside of the vapor chamber16.例文帳に追加

ケース１１と、ケース１１の内部に配置される腔室１２と、ケース１１内部を分割する隔離板１４と、腔室１２の外部に形成される蒸気室１６と、蒸気室１６の外部に形成される緩衝室１８とを備える。 - 特許庁

To provide an information processor, an information processing method, a program, an imaging device and an imaging device having a light microscope which can generate multiple images subject to which stitching processing, while suppressing deterioration of an imaged sample.例文帳に追加

撮影される試料の劣化を抑ながら、スティッチング処理される複数の画像を生成することを可能とする情報処理装置、情報処理方法、プログラム、撮像装置、及び光学顕微鏡を搭載した撮像装置を提供すること。 - 特許庁

Otherwise, the cantilever for the scanning probe microscope or the sensor is manufactured by compounding a probe (a chip, a beam and a small pedestal) molded integrally from the arsenic-based, antimony-based or nitrogen-based 3-5 group compound semiconductor with a large pedestal manufactured from ceramics, glass and a cystal.例文帳に追加

また、砒素系、アンチモン系、窒素系３−５族化合物半導体で一体成型したプローブ（チップ+ビーム+小台座）とセラミクス、ガラス、水晶で作製した大台座を複合化して走査プローブ顕微鏡用、又はセンサー用カンチレバーを製造する。 - 特許庁

The surgical microscope for observing infrared fluorescence includes a camera system 25 having three chips 35, 36, 37, wherein infrared light emanating from an object 9 is supplied to only one chip among the three chips of the camera via a dichroic beam splitter 33.例文帳に追加

赤外蛍光を観察するための手術用顕微鏡は、３つのチップ３５、３６、３７を有するカメラシステム２５を含み、対象物９から発する赤外光は、ダイクロイックビームスプリッタ３３を介して３つのカメラチップのうちの１つのみに供給される。 - 特許庁

To measure the surface physical properties of a sample without being influenced by the variation of contact areas by securing the contact area between a probe and the sample, preventing plastic deformation, and seizing the contact area in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、プローブと試料との接触面積を確保し塑性変形を防止し、かつ、接触面積を把握することで接触面積のバラツキによる影響を無くして試料の表面物性を測定することを課題とする。 - 特許庁

To provide a sample transfer method for a transmission electron microscope with operability improved by transferring a sample smoothly to a next mesh position when it approaches a grid part.例文帳に追加

本発明は透過電子顕微鏡の試料移動方法に関し、グリッド部分にさしかかった時にスムーズに次のメッシュ位置まで移動することで、操作性を向上させることができる透過電子顕微鏡の試料移動方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

After a resist film 11 is coated on the surface of a substrate 10 and a layer of atom 12 is formed on the resist film 11, atoms 12 is pulled out of the layer of the atoms 12 according to the designed pattern by the use of probe 13 of scanning tunneling microscope.例文帳に追加

基板１０の表面にレジスト膜１１を塗布し、次いで、前記レジスト膜１１上に原子１２の層を形成した後、走査型トンネル顕微鏡の探針１３を用いて設計パターン様に前記原子１２の層から原子１２を引き抜く。 - 特許庁

This optical product including ≤10,000/mm^3 foreign matters having 1-5 μm size measured by microscope observation is obtained by molding the aromatic-aliphatic copolymerized polycarbonate resin including ≤100/g foreign matters having ≥5 μm particle diameters insoluble in methylene chloride.例文帳に追加

塩化メチレン不溶の粒径５μｍ以上の異物が１００個／ｇ以下である芳香族−脂肪族共重合ポリカーボネート樹脂を成形してなる、顕微鏡観察による１〜５μｍの異物が１０，０００個／ｍｍ^3以下である光学製品。 - 特許庁

To provide a differential interference microscope device for observing a sample with an increased contrast, wherein epi-illumination is performed from an image side of an objective even when a slit is provided on a condenser lens side.例文帳に追加

本発明は、試料のコントラストを高めて観察する微分干渉顕微鏡装置に関し、コンデンサレンズ側にスリットを設けた場合にも対物レンズの像側から落射照明を行うことができる微分干渉顕微鏡装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To correct measurement magnification and measurement position of a spectral image with high efficiency and with high accuracy using an electronic spectroscope and a transmission electron microscope, regarding the spectral image formed with two axes where an amount of energy loss and a measurement position information are orthogonal to each other.例文帳に追加

電子分光器および透過型電子顕微鏡を用いて、エネルギー損失量と測定位置情報が直交する二軸で形成されるスペクトル像について、スペクトル像の測定倍率および測定位置を高効率かつ高精度に行う。 - 特許庁

To provide a microscope system for surgical operation which can record a plurality of pictures photographed during a surgical operation with high picture quality and reproduce the recorded images in a state very close to the observation state during the surgical operation.例文帳に追加

術中に撮影される複数の画像を高画質に記録することができ、しかも、記録画像を再生する際には術中の観察状態と極めて近い状態で再生することのできる手術用顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To solve a problem that, in a conventional cover glass used for counting asbestos and other fiber particles with a phase-contrast microscope, a counting visual field varies, resulting in an error, even if multiple analysts use the same counting specimen.例文帳に追加

従来のカバーグラスでは、位相差顕微鏡によるアスベストやその他の繊維状粒子等の計数に用いるカバーグラスにおいて、複数の分析者によって同じ計数用標本を用いても計数する視野が異なり誤差が生じてしまう。 - 特許庁

To provide an ultraviolet microscope which does not generate a photochemical reaction between ultraviolet rays and contaminants in an ambience of an optical path, and can prevent the degradation of optical performance and extend the lifetime of a product.例文帳に追加

本発明は、紫外線顕微鏡に関し、紫外光と光路雰囲気中の汚染物質との光化学反応を発生させることなく、光学性能の低下を防止し、製品寿命を長くすることができる紫外線顕微鏡を提供する - 特許庁

To provide an IC device-testing method and an IC device-testing system for inexpensively applying a laser beam different targets of a semiconductor IC device (DUT) to be inspected simultaneously in parallel, speedily successively without requiring any rematching in a microscope.例文帳に追加

検査対象の半導体ＩＣデバイス（ＤＵＴ）の互いに異なるターゲットを同時並行的にまたは高速逐次的に顕微鏡の再整合を要することなく低コストでレーザ光照射するＩＣデバイス試験方法・システムを提供する。 - 特許庁

To form right and left images having uniform brightness on an image pickup surface by correcting the respective deviation of the illuminance of right and left subject images caused by that the object light of the pair of photographing optical systems of a stereoscopic microscope is reflected by each reflection member.例文帳に追加

立体顕微鏡の一対の撮影光学系の被写体光が各反射部材に反射されることにより生じる左右の被写体像の夫々の照度の偏りを補正し、均等な明るさを有する左右の像を撮像面に形成する。 - 特許庁

The confocal scanning microscope 1 guides the exciting light emitted from a light source part 2 to an objective optical system 6 by a light separation means 3 and irradiates a sample 12 arranged in the focal position on the side of the sample 12 of the objective optical system 6.例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡１は、光源部２から射出された励起光を光分離手段３により対物光学系６へ導き、対物光学系６の試料１２側の焦点位置に配置された試料１２に照射する。 - 特許庁

The controller 49 makes control so that the lighting timing of a PWM (Pulse Width Modulation) controllable LED (Light Emitting Diode) light source part 29 for illuminating the sample in the microscope 1 provided with a camera head 33 for imaging the sample, agrees with the exposure timing of the camera head 33.例文帳に追加

試料撮像用のカメラヘッド３３を備えた顕微鏡１における試料照明用のＰＷＭ制御可能なＬＥＤ光源部２９の点灯のタイミングを、カメラヘッド３３の露光のタイミングに合わせるように制御する制御装置４９。 - 特許庁

To provide a frequency detection device of a vibrator capable of being detected in a wide frequency detection range while highly holding detection sensitivity of a resonant frequency of the vibrator, an atomic force microscope, and a frequency detection method and a program of the vibrator.例文帳に追加

振動体の共振周波数の検出感度を高く保ったまま、広い周波数検出範囲で検出可能な振動体の周波数検出装置、原子間力顕微鏡、振動体の周波数検出方法およびプログラムを提供する。 - 特許庁

The microscope apparatus 100 includes a surface light source sheet 20 which is so disposed that it can be disposed in contact with an observation sample-mounting implement 50 housing an observation sample, and which functions as a light source for irradiating the observation sample with light rays.例文帳に追加

本発明に係る顕微鏡装置１００は、観察試料を収容する観察試料載置具５０と当接配置可能なように配置され、観察試料に光線を照射する光源として機能するシート状の面状光源シート２０を備える。 - 特許庁

The second prism 18 is held to a second prism locking plate 41 which is movable in a direction of being closer to the first prism 17 and in a direction of being farther from the first prism 17, and to a second pressing plate 42, and the second prism 18 is moved while viewing the prism gap by a microscope 51.例文帳に追加

第１プリズム１７に近づく方向と遠ざかる方向に移動自在な第２プリズム係止板４１，第２押圧板４２に第２プリズム１８を保持し、顕微鏡５１でプリズム間隔を観察しながら第２プリズム１８を移動させる。 - 特許庁

To provide a probe approach method for bringing a probe closer quickly, reliably avoiding the collision between the probe and the sample, and surely preventing the damage in the probe or the like when bringing the probe closer to the sample surface in a scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡で、試料表面に向かって探針を接近させるとき、探針を短時間で接近させ、かつ探針と試料の衝突を確実に避け、探針等の破損を確実に防止する探針接近方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope device capable of obtaining a good image with less aberration, even when the position of a pupil conjugate surface is fluctuated in the case of observing a phase object by relaying a pupil of an object lens and arranging a pupil modulation element on the pupil conjugate surface.例文帳に追加

対物レンズの瞳をリレーして、瞳共役面に瞳変調素子を配置して位相物体を観察する際に、瞳共役面の位置が変動しても、収差の発生が少ない良好な像が得られる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope having an analysis system with high adaptability, which has an incident image surface and an incident pupil surface and can perform one or more kinds of analysis methods as an analysis method for electrons passing through samples.例文帳に追加

入射像面および入射瞳面を有し、試料を通過した電子の分析方法として１種類またはそれ以上の種類の分析方法を実施可能とする、適応性の高い分析系を備える透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A scanning electron microscope 1 having an automatic focusing function is provided with a coordinate navigation function which allows setting measurement points arbitrarily and an output function for plotting thickness distribution based on the measured data, for measuring flatness of a wafer.例文帳に追加

オートフォーカス機能を有する走査型電子顕微鏡１に測定箇所を任意に設定可能な座標ナビゲーション機能と、計測したデータに基づいて厚さ分布を描画する出力機能を搭載することによりウェーハの平坦度の測定する。 - 特許庁

In another example of the visual inspecting method and apparatus, images are acquired by a confocal microscope having two corresponding pinhole arrays provided in its illumination and light receiving sides and a single TDI camera.例文帳に追加

本発明の他の態様によれば、対応する２つのピンホールアレイ（３７，３８）を顕微鏡の照明側と受光側に設けた共焦点顕微鏡と１つのＴＤＩカメラ（４０）により画像を取得する外観検査方法及び装置が提供される。 - 特許庁

A control section 10 obtains microscopic information on each constituting unit constituting a microscope main body 6, transmits the microscopic information and receives control information, to control the operation of each constituting unit based on the received control information.例文帳に追加

制御部１０は、顕微鏡本体６を構成する各構成ユニットに関する顕微鏡情報の取得、該顕微鏡情報の送信、及び、制御情報の受信を行い、受信した制御情報に基づいて各構成ユニットの動作を制御する。 - 特許庁

To examine a physical property of a target of inspection having one of its surfaces covered with a member resistant to transmission of laser light or a magnetic field, a semiconductor IC mounted on a substrate for example, by a laser SQUID microscope with higher sensitivity.例文帳に追加

レーザー光や磁場の透過が困難な部材により片面が覆われている検査対象物、例えば基板に実装された半導体ＩＣでも、レーザーＳＱＵＩＤ顕微鏡による物理的性質の検査をより高感度に行うこと。 - 特許庁

To provide a microscope device capable of realizing with a simple constitution an illumination means for illuminating a sample which is an observation object and a space filter for removing a specific space frequency component of a pattern on the sample, and its illumination method.例文帳に追加

本発明は観察対象である試料を照明する照明手段と、この試料上のパターンの特定の空間周波数成分を除去する空間フィルタとを簡単な構成で実現する顕微鏡装置及びその照明方法を提供する。 - 特許庁

As to this heating device 1 for the microscope; the end parts of a pair of electrodes 7 and 7 extend in a direction where they come closer to each other so that a current rapidly starts flowing in a transparent conductive film 6 existing in the opposed area of the electrodes when the electrodes 7 and 7 are energized.例文帳に追加

顕微鏡用加温装置１では、一対の電極７，７の一端部は互いに近づく方向へ延びているので、電極７，７に通電すると、その対向領域にある透明導電膜６に速やかに電流が流れる。 - 特許庁

The video microscope irradiates an object to be observed with light, converts an image of the observed object into an image signal by an image sensor and a signal processing circuit, and displays an enlarged image of the observed object on a display device according to the image signal.例文帳に追加

ビデオマイクロスコープは、観察対象物に光を照射し、観察対象物の像をイメージセンサ及び信号処理回路によって画像信号に変換し、その画像信号に基づいて観察対象物の拡大画像を表示装置に表示する。 - 特許庁

After internationally charging electric charge at early stages on a sample surface such as a photograph mask, the scanning electron microscope image, is set as the base which obtains the image based on a signal of a secondary electron produced by scanning with a primary electronic beam on the charged sample surface.例文帳に追加

フォトマスクのような試料表面に初期に意図的に電荷を帯電させた後で、帯電された試料表面を１次電子ビームでスキャンして生じる２次電子の信号を基とする画像を得る走査電子顕微鏡画像による。 - 特許庁

To provide a sample support stage for observing a three-dimensional structure of high versatility with a sample constitution while adopting a constitution capable of always holding a sample in the visual field center of an electron microscope, a protractor and a three-dimensional structure observing method.例文帳に追加

試料を常に電子顕微鏡の視野中心で保持可能な構成を採用しながら、簡素な構成で汎用性の高い３次元構造観察用の試料支持台及び分度器、並びに３次元構造観察方法を提供する。 - 特許庁

An image of the fluorescein ring part passed through two prisms and a microscope is captured, the deviation ΔL of two half fluorescein rings is accurately measured by image analysis, and a pressure of a measurer is controlled to make the deviation quantity ΔL less than or equal to a fixed value.例文帳に追加

２個のプリズムと顕微鏡を通過したフルオレスセインリング部の画像を取り込み、画像解析により２つの半割れフルオレスセインリングのずれ量ΔＬを正確に計測し、ずれ量ΔＬが一定値以下になるように、測圧子の押付力を制御する。 - 特許庁