「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(157ページ目) - Weblio英語例文検索

If the mobile part 31 is so inclined or deformed that the extent of degradation in optical performance of the microscope may exceed an allowable range, auxiliary members 36 to 39 are brought into contact with the mobile part 31 to prevent deformation or inclination of the mobile part 31.例文帳に追加

顕微鏡の光学性能の低下量が許容範囲を越すほどに可動部３１が傾きかけたり変形しかけたりすると補助部材３６〜３９が可動部３１と接触して可動部３１の変形や傾きが阻止される。 - 特許庁

To provide a microscope capable of automatically setting transmitted illumination, epi-illumination, or transmitted epi-illumination even when a connected illuminating device is changed, while minimizing the number of control ports for an illuminating device.例文帳に追加

照明装置の制御ポートを最小限に抑えつつ、接続された照明装置が変更された場合でも自動的に透過照明、落射照明、或いは落射透過照明に設定することのできる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a plate for microscope specimen capable of economical and efficient use, that has proper workability and capable of using the residual liquid sample coating part, after a part of liquid sample coating parts has been used.例文帳に追加

作業性が良好であるとともに、一部の液体試料塗沫部を使用した後で残部の液体試料塗沫部を使用することが出来る、経済的かつ効率的な使用が可能な顕微鏡標本用プレートを提供する。 - 特許庁

To provide an optical system equipped with a focusing optical system capable of easily focusing with a simple constitution, dispensing with a mechanically complicated configuration for adjusting a pupil position, and to provide a laser microscope using the optical system.例文帳に追加

瞳位置の調整のための機械的に複雑な構成を必要とせずに簡単な構成で、フォーカシングを容易に行うことができるフォーカシング光学系を有する光学系およびこれを用いたレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The lighting system for the microscope includes, at least one light source and a reflector for providing diffused lighting, and the reflector at least partially surrounds an observation beam path between a microscope objective mirror and an object to be observed; and the reflector, at least partially has elasticity and can be reversibly deformed from at least a first spatial form to at least a second spatial form.例文帳に追加

少なくとも一つの光源と、拡散照明をもたらすためのリフレクターとを備えて構成され、前記リフレクターが少なくとも部分的に、顕微鏡対物鏡と観察されるべき対象物との間の観察ビーム路を取り囲んでいる、顕微鏡用照明装置において、リフレクターは少なくとも部分的に弾性があって、且つ少なくとも第一空間的形態から少なくとも第二空間的形態へ可逆的に変形可能である、照明装置によって解決される。 - 特許庁

The optical observation apparatus 100 for an eye 22 includes a microscope 1 for observing the front side area of an eye 22, and a visualizing device 2 for the retina of the eye 22 which has at least one camera 21, wherein the retina visualizing device 2 is prepared as an auxiliary module in front of the microscope 1, is arranged at a positioning device 12 and can be positioned in front of the eye 22 through the positioning device 12.例文帳に追加

目（２２）の前側区域を観察するための顕微鏡装置（１）と、少なくとも１つのカメラを有する（２１）、目（２２）の網膜を視覚化する装置（２）とを備える、目（２２）を観察するための光学観察装置（１００）において、前記視覚化装置（２）は前記顕微鏡装置（１）の手前の補助モジュールとして構成されており、前記視覚化装置（２）は位置決め装置（１２）に配置されるとともに、前記位置決め装置（１２）を介して目（２２）の手前で位置決め可能である、光学観察装置である。 - 特許庁

To provide a thin sample preparing method which prevents an FIB (focused ion beam) processing from forming any hole and allowing any redeposition to originate in holes when forming a protection film in preparing a thin sample, in order to obtain a good image by using an electron microscope.例文帳に追加

ＦＩＢ加工で薄片試料を作製する際に保護膜形成時に穴が形成されず穴からリデポすることを防ぎ、電子顕微鏡にて良好な像を取得することのできる薄片試料作製方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a polishing device and a polished surface observing method using this where observation working efficiency does not so decrease even when repeating of polishing and observation of the polished member is diligently performed, the focal distance of a microscope may be constant, and the space is not taken.例文帳に追加

被研磨部材の研磨、観察の反復をこまめに行っても観察作業効率が余り落ちず、マイクロスコープの焦点距離は一定でよく、場所を取らない研磨装置及びこれを用いた被研磨面観察方法を得ることである。 - 特許庁

To provide a contact type atomic force microscope capable of rapidly obtaining a stable image of surface shape of a specimen in a state of an atmospheric pressure not in environmental control when the surface shape is measured by a contact mode having high sensitivity for irregularities.例文帳に追加

環境制御がされていない大気圧の状態にある試料の表面形状を、凹凸に対する感度の高いコンタクトモードによって測定するとき、吸着力の影響を回避して安定した表面形状像を迅速に得る。 - 特許庁

In this abnormality detection method, when an abnormality occurs at a specific position of a device and the abnormal state is a level A, the address of a service center for the device and the address of an operator of an scanning electron microscope are selected by a format conversion unit 5 and a destination selection unit 7.例文帳に追加

装置の特定箇所で異常が発生し、その異常状態がレベルＡであった場合、フォーマット変換ユニット５と転送先選択ユニット７により、装置のサービスサイトのアドレスと、走査電子顕微鏡のオペレータのアドレスが選択される。 - 特許庁

To provide an image generation device capable of generating a wide-range high-definition fluorescence tiling image having high positioning accuracy obtained by a low magnification image and a fluorescence image having magnification higher than that of the low magnification image of a sample and to provide a microscope device having the image generation device.例文帳に追加

標本の低倍画像と低倍画像より高倍の蛍光画像とから位置決め精度が高く、広い範囲の高精細な蛍光タイリング画像を生成することができる画像生成装置と、これを有する顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

When the imaging process for the slide glass SG is completed, the microscope system 1 ejects the slide glass SG from the stage 15 with the ejection arm 36, and then sets a fresh slide glass on the stage 15 with the supply arm 35.例文帳に追加

そして顕微鏡システム１は、スライドガラスＳＧの撮像処理が完了すると、排出アーム３６によりステージ１５から当該スライドガラスＳＧを排出させた後、直ちに供給アーム３５により新たなスライドガラスを当該ステージ１５に設置させる。 - 特許庁

The diaphragm 12 is arranged at a position nearer to the imaging apparatus side by as long as 2/3 or more of a distance from a shoulder position 11a in the microscope attaching part 11 to a shoulder position 13a in the imaging apparatus attaching part 13 as seen from the object side.例文帳に追加

絞り１２が、物体側からみて顕微鏡取り付け部１１内の胴付き位置１１ａから撮像装置取り付け部１３内の胴付き位置１３ａまでの間の距離の２／３の位置以上撮像装置側に寄った位置に配置される。 - 特許庁

An image acquisition device for acquiring the image of a specimen 30 includes a measurement device 2 for measuring the surface shape of the specimen 30 and a microscope 1 for imaging the specimen 30 based on the surface shape measured with the measurement device 2.例文帳に追加

被検物３０の画像を取得する画像取得装置は、被検物３０の表面形状を計測する計測装置２と、計測装置２で計測した表面形状に基づいて被検物３０の像を撮像する顕微鏡１とを備える。 - 特許庁

This microscope is equipped with an input device 34 for designating a limited tracking domain where a probe 11 is moved following moving atoms, and a control operation device 33 for controlling switches 31, 32 for switching on/off an output signal from feedback circuits 23, 24.例文帳に追加

探針１１が移動原子に追随して移動する限界の追跡領域を指定する入力装置３４と、フィードバック回路２３と２４からの出力信号をＯＮ／ＯＦＦするスイッチ３１と３２を制御する制御演算装置３３を備える。 - 特許庁

To provide a multistage and multiplex magnetic pole lens system, used in an energy analyzer for an electron microscope and an electron energy analyzer using the same, for simplifying the alignment of the center axes of a plurality of axially symmetrical lens systems to the track of a beam, as much as possible.例文帳に追加

電子顕微鏡用のエネルギーアナライザーに用いる多段多重磁極子レンズ系及びそれを用いた電子エネルギー分析器において、複数の軸対称レンズ系の中心軸を、ビームの軌道に合わせる調整をできるだけ簡便にする。 - 特許庁

To provide a microscope unit in which the relative distance between an objective lens and a work can be kept constant by changing a main body attachment or main body assembling when a revolver is attached/detached even after the main body is attached to an equipment having been installed once.例文帳に追加

被設置機器に本体を一旦取り付けた後でも、レボルバの着脱を行う場合、本体取付あるいは本体組合せを変えることで対物レンズとワークとの相対距離を一定に保つことができる顕微鏡ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope provided with a highly reliable holding and dismounting mechanism allowing a sample to be changed on a sample table and a sample transfer device which allow the sample table to be easily be extracted from a sample changing chamber and replaced.例文帳に追加

本発明の目的は、試料台に於いて、試料が確実に、かつ、信頼性の高い保持脱着機構と、試料交換室から試料台が容易に取り外し交換できる試料移送装置を備えた走査型顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

This invention is applied to the microscope which performs the observation of a sample while illuminating a sample with an illuminator and has an eyepiece lens-barrel which performs the observation with the naked eye and an imaging optical lens-barrel which enables the observation with an imaging device such as a camera.例文帳に追加

本発明は、標本を照明装置で照明しつつ観察が行なわれ、肉眼による観察を行う接眼鏡筒およびカメラ等の撮像装置による観察が可能な撮像光学鏡筒を有する顕微鏡に適用される。 - 特許庁

In a glass substrate for an information recording medium, variability of surface roughness (Ra), which is calculated from measurement results of surface roughness (Ra) obtained from 10 or more fields of 10 μm square using an atomic force microscope, is less than 3%.例文帳に追加

情報記録媒体用ガラス基板は、原子間力顕微鏡を使用して、表面粗さ（Ｒａ）を１０μｍ四方の視野で１０視野以上測定した測定結果より算出される表面粗さ（Ｒａ）のばらつき率は、３％以下である。 - 特許庁

The microscope 202 is controlled in such a manner that the microscopic images when the position of the focus is in the position after the movement are successively acquired every time the movement of the position of the focus with respect to the sample is made at the intervals of the movement by this control.例文帳に追加

そして、該制御によって標本の位置に対する焦点の位置の移動が該移動の間隔でなされる度に、該焦点の位置が該移動後の位置であるときにおける顕微鏡画像を順次取得させるように顕微鏡２０２を制御する。 - 特許庁

In this defect inspecting method for the color filter, a surface potential of the color filter is measured by an atomic force microscope, and a defect in the surface is inspected based on a difference between the maximum value and the minimum value in the surface potential.例文帳に追加

カラーフィルターの欠陥検査方法であって、カラーフィルターの表面電位を原子間力顕微鏡で測定し、表面電位の最大値と最小値の差から表面の欠陥を検査することを特徴とするカラーフィルターの欠陥検査方法。 - 特許庁

To provide a method for measuring frictional force and a friction coefficient by using a scanning probe microscope for measuring frictional force as an absolute value not depending on the slope or shape of a specimen with respect to friction between a probe given arbitrary physical properties and a surface of the specimen.例文帳に追加

任意の物性を付与した探針と試料面間の摩擦について試料の傾き・形状によらない摩擦力を絶対値として測定する走査型プローブ顕微鏡による摩擦力および摩擦係数測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a near field opticalprobe which can be manufactured at low cost by simple process, a near field opticalprobe, a near field optical microscope, a near field light fine processing device and a near field optical record playback device.例文帳に追加

単純な工程で、安価なコストで作製することが可能となる近接場光プローブの作製方法、及び近接場光プローブ、近接場光学顕微鏡、近接場光微細加工装置、近接場光記録再生装置を提供する。 - 特許庁

A ferro-dielectric thin film 12 is attached onto a base board 11 which forms a work to be processed, and patterns are formed on the thin film using atomic force microscope which has an electroconductive probe 13 so that the desired nano-circuit pattern is partitioned.例文帳に追加

加工物を形成する基板１１上に強誘電体薄膜１２を付着し、次に、導電性探針１３を有する原子間力顕微鏡を用いて、強誘電体薄膜上にパターンを形成して、所望のナノ回路パターンを画定する。 - 特許庁

In this method, a micro phase separation structure film is irradiated with normal-pressure plasma, and the film is etched up to a part allowing confirmation of the micro phase separation structure, and then the surface is observed by an atomic force microscope (AFM), to thereby confirm the micro phase separation structure.例文帳に追加

ミクロ相分離構造膜に、常圧プラズマを照射し、ミクロ相分離構造が確認可能な部分まで膜をエッチングした後、表面を原子力間顕微鏡（ＡＦＭ）で観察することによりミクロ相分離構造を確認する方法である。 - 特許庁

By forming the opening parts in the opaque layer of the substrate and wiring in such a way that the conductors may traverse the opening parts, it is possible to simultaneously observe a traverse part of a conductor traversing an opening part and the specimen observed from the opening part with a microscope.例文帳に追加

基板の不透明層に開口部を形成し導線が開口部を横断するように配線することにより、開口部を横断している導線の横断部と、開口から観察される検体とを顕微鏡で同時に観察することができる。 - 特許庁

This microscope has a light source 1, a condenser lens 5, an opening 6a arranged in the front side focal position of the condenser lens 5, an objective lens 7 and a modulator 14 which is arranged in a position approximately conjugate with the opening 6a and has a region of transmittance T(%).例文帳に追加

光源１と、コンデンサレンズ５と、コンデンサレンズ５の前側焦点位置に配置された開口６aと、対物レンズ７と、開口６aと略共役な位置に配置されていて透過率Ｔ（％）の領域を持つ変調器１４とを備えている。 - 特許庁

To provide a preparation method of a specimen for observing a defective part of a semiconductor device substrate, which enables the fine defective part of the semiconductor device substrate to be easily specified in a short time, so that a thin specimen suitable for transmission electron microscope observation can be made.例文帳に追加

短時間で容易に、半導体デバイス基板の微小な欠陥部を特定でき、透過形電子顕微鏡観察に適した薄片試料とすることが可能な半導体デバイス基板の欠陥部観察用試料の作製方法を提供すること。 - 特許庁

To solve the problem, wherein when the resolution of a scanning electron microscope is monitored, preparation of a sample and employment of measurement algorithm capable of reducing the pattern dependence of resolution index value to be measured is required for accurately measuring the change in the size of electron beam.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の分解能をモニタする場合，計測する分解能指標値のパターン依存性を低減できるようなサンプルの準備と計測アルゴリズムの採用が，電子ビームサイズの変化を高精度に計測するために必要である。 - 特許庁

To provide a three-dimensional image acquisition apparatus and its method optimal for an observation device such as a microscope, which uses biological materials such as nearly transparent cells in an undyed state as samples and visualizes low-contrast samples, and provide a processing apparatus using the same.例文帳に追加

透明に近い細胞などの生体材料を非染色状態で試料とし、コントラストの低い試料を可視化する顕微鏡などの観察装置に最適な三次元画像取得装置およびその方法とこれを利用した加工装置の提供。 - 特許庁

The colloidal silica is produced from active silicic acid as an original material in the presence of an alcohol, and contains the alcohol and a group of silica particles in various nonspherical shapes wherein a ratio of long length diameter/short length diameter observed by a transmission electron microscope is 1.2-6.例文帳に追加

アルコールの存在下で活性珪酸を原料として製造されるコロイダルシリカであって、アルコールを含有し、透過型電子顕微鏡観察による長径／短径比が１．２〜６である非球状の異形シリカ粒子群を含有するコロイダルシリカである。 - 特許庁

To provide a microscope for surgical operation which makes display of an index to a microscopic observation image only when an operator is needed and is capable of preventing the unnecessary index from hindering the microscopic observation image.例文帳に追加

本発明は、術者の必要なときのみ顕微鏡観察像への指標の表示を行ない、不必要な指標が顕微鏡観察像の妨げとなることを防止することができる手術用顕微鏡を提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

Consequently, it is possible to constitue a ceramic made raceway track without cutting work to a ceramic made member and is possible to incorporate it in electronic equipment (for example, an X-Y table of an electronic microscope and a semiconductor manufacturing device) for which its non-magnetism is required.例文帳に追加

したがって、セラミック製部材への切削加工を行うことなく、セラミック製の軌道を構成できる上に、非磁性であることが要求される電子機器(例えば、電子顕微鏡や半導体製造装置のＸ−Ｙテーブル)に組み込むことができる。 - 特許庁

On the silver paste consisting of silver powder as a filler, an organic agent and a solvent, the silver powder with an average particle diameter D_IA of primary particles obtained by image analysis of a scanning electron microscope image of 0.6 μm or less, is adopted.例文帳に追加

フィラーとしての銀粉と有機剤と溶剤とからなる銀ペーストにおいて、前記銀粉は、走査型電子顕微鏡像の画像解析により得られる一次粒子の平均粒径Ｄ_ＩＡが０．６μｍ以下である銀ペーストを採用する。 - 特許庁

To provide a method for finding a minute sample scattered widely on a substrate in a short time and provide a method for securely moving the sample to an arbitrary position on the substrate by a probe of a scanning probe microscope with reduced damages of the probe and the sample.例文帳に追加

基板上に広く分散した微細な試料を短時間に発見する方法と、その試料を、走査型プローブ顕微鏡の探針により前記基板の任意の位置に、探針・試料のダメージが少なく、確実に移動させる方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a tension and compression holder mechanism of an electron microscope which can accurately detect a tensile force and in which a tensile direction does not vary in an observation of an image.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡の引っ張り・圧縮ホルダ機構に関し、像観察中に引っ張り方向が変わらず、引っ張り力を精度よく検出することができる電子顕微鏡の引っ張り・圧縮ホルダ機構を提供することを目的としている。 - 特許庁

A mechanical stage 3 is equipped with a clamp 9 holding a sample 13 and a moving mechanism 24 which holds the clamp 9 and moves the clamp 9 to a fixed stage 2 of a microscope by operating an operation handle 22 while the clamp 9 is in the held state.例文帳に追加

メカニカルステージ３は、標本１３を保持するクレンメル９と、クレンメル９を保持すると共に、クレンメル９の保持状態で操作ハンドル２２への操作によって顕微鏡の固定ステージ２に対してクレンメル９を移動させる移動機構２４とを備える。 - 特許庁

By aligning a cutting point 12 of the diamond cutter 11 with the marker displayed within the visual field of the microscope of the diamond-cutter adjusting apparatus 21, the alignment of the cutting point 12 is performed simply in a short time and accurately.例文帳に追加

そして、ダイヤモンドカッタ１１のカッティングポイント１２の位置合わせは、ダイヤモンドカッタ調整装置２１の顕微鏡の視野内に表示されるマーカーとカッティングポイント１２との位置を合わせることによって、簡単に短時間に且つ正確に行われる。 - 特許庁

The optical microscope 10 includes: a specimen stage 12: an imaging optical system including an objective lens 14 and an imaging lens 18; and an objective stage 16 supporting the objective lens 14 so as to be movable along an axis perpendicular to the optical axis of the objective lens 14.例文帳に追加

光学顕微鏡１０は、標本ステージ１２と、対物レンズ１４と結像レンズ１８を含む結像光学系と、対物レンズ１４をその光軸に直交する軸に沿って移動可能に支持している対物ステージ１６を有している。 - 特許庁

There is provided a moon grid 100 specialized for three-dimensional observation by a transmission electron microscope, and its manufacturing method, wherein the moon grid includes a sheet mesh 110 for protecting an upper structure, and a support film 120 equipped on the sheet mesh 110 and containing nanoparticles 130 dispersed.例文帳に追加

上部構造を保護するシートメッシュ１１０と、シートメッシュ１１０上に具備されてナノ粒子１３０が分散している支持膜１２０とを含む、透過電子顕微鏡３次元観察専用ムーングリッド１００とその製造方法を提供する。 - 特許庁

The photographing apparatus is used for microscope observation or the like, carries out positioning and focusing in the display mode wherein a user observes a moving picture on an LCD monitor 91, is switched to the photographing mode by operating a photographing button 921 to photograph a still picture.例文帳に追加

顕微鏡観察等に用いられる撮影装置であって、ＬＣＤモニタ９１で動画を観察する表示モードで位置合わせやピント合わせを行い、撮影ボタン９２１を操作することにより撮影モードに切り替わり静止画が撮影される。 - 特許庁

To solve a problem that, in a charged particle beam microscope applying a phase retrieval method, a restructured image size to be restructured by phase retrieval and a sample area size contained in a diffraction image used do not conform by observation condition and it takes time for calculation.例文帳に追加

位相回復法を適用した荷電粒子顕微鏡では、観察条件により、位相回復で再構成される再構成像サイズと、用いた回折像に含まれる試料領域サイズとが一致しなくなる、また、計算に時間が掛かる。 - 特許庁

The perovskite type compound oxide particle consists of a single crystal particle of a perovskite type compound oxide, has 5-50 nm average particle size, which is calculated by using the results measured by using a transmission electron microscope, and contains a noble metal in a crystal lattice of the single crystal particle.例文帳に追加

ペロブスカイト型複合酸化物の単結晶粒子からなり、透過型電子顕微鏡の観測結果から求めた平均粒子径が５ｎｍ以上５０ｎｍ以下であり、その結晶格子中に貴金属元素が含まれている構成とする。 - 特許庁

To provide a multiple photon exciting and scanning type laser microscope capable of obtaining a sharp image over a range from a surface layer to a deep layer even if performing the observation up to an extremely deep region (e.g., about 100 μm or above from a surface).例文帳に追加

非常に深い領域(例えば、表面から約１００μｍ以上)まで観察する場合であっても、表層から深層まで鮮明な画像を得ることのできる多光子励起走査型レーザ顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁