「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(153ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a sample chamber which ensures an electron accelerating space, can easily adjust an optical position and makes exchange of a sample easy in a novel X-ray microscope that an X-ray image of the sample is converted to an electron image to observe it.例文帳に追加

試料のＸ線像を電子像に変換して観察する新規なＸ線顕微鏡において、電子加速空間を確保し容易に光学的位置調整ができさらに試料の交換を容易にする試料室を提供する。 - 特許庁

The optical microscope 100 has a ring diaphragm 14 through which illuminating light from a light source 11 is made to pass in an illumination part, and a light shielding ring 17 corresponding to the ring diaphragm 14 on the rear side focal plane of a dispersion objective lens 8.例文帳に追加

光学顕微鏡１００は、照明部に光源１１からの照明光を通過させるリング絞り１４を有し、分散対物レンズ８の後ろ側焦点面にリング絞り１４に対応する遮光リング１７を有する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope enabling a user to correct deviation between the optical axis of fluorescence and a detection-side pinhole without operating a tilt adjusting mechanism of a detection-side condenser lens every time a beam splitter is exchanged.例文帳に追加

ビームスプリッタの交換の度に使用者が検出側集光レンズのチルト調整機構を操作することなく、蛍光の光軸と検出側ピンホールとのずれを補正することができるコンフォーカル顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

In an observation area provided on an XYZ stage of a light microscope, first and second photographing areas 11 and 12 which are multiple in a Y axis direction are arranged so as to be overlapped with each other in an X axis direction.例文帳に追加

光学顕微鏡のＸＹＺステージ上に設けられた観察領域内で、Ｙ軸方向に沿って複数の第１及び第２の撮影領域１１及び１２が、Ｘ軸方向で互いに重なり合うように配置される。 - 特許庁

To provide an upright microscope in which a sample is observed regardless of the thickness of the sample by suppressing the deviation of a conjugated relationship among a light source of a vertical illumination system, an aperture, an objective lens and a rear side focus at minimum without deteriorating the vertical illumination performance.例文帳に追加

落射照明系の光源と開口絞りと対物レンズと後ろ側焦点との共役関係のずれを最小限に抑えて落射照明性能を劣化させずに、試料の厚みに拘らず試料を観察すること。 - 特許庁

A microscope for intraocular observation is designed to view an eyeball as an observation object, and includes an observation optical system for observing the interior of the eye illuminated with illumination light and a filter unit 15 mounted on the lower end of a lens barrel 16.例文帳に追加

眼球を観察の対象物とするとともに、照明光が照射された眼内を観察する観察光学系を備える眼内観察用顕微鏡であって、鏡筒１６の下端部に装着されるフィルタユニット１５を備える。 - 特許庁

An optical microscope device is provided with a casing 20 which stores an optical member 21, a sample room 10 having an airtight structure and an environmental control section which controls temperature and humidity of the sample room 10 and controls temperature of the casing 20.例文帳に追加

光学顕微鏡装置は、光学部材２１を収納する筺体２０と気密構造の試料室１０と試料室１０の温度および湿度を制御するとともに筺体の温度を制御する環境制御部を備えている。 - 特許庁

To enhance efficiency for reviewing a defect to review the large number of defects in a short time, in the defect review for a semiconductor device capable of detecting the defect in a low magnification of SEM (Scanning Electron Microscope) image and capable of observing the defect in a high magnification of SEM image.例文帳に追加

低倍率のＳＥＭ像で欠陥を検出し、高倍率のＳＥＭ画像で欠陥を観察する半導体デバイスの欠陥レビューにおいて、欠陥レビューの効率をあげて短時間に多数に欠陥をレビューできるようにする。 - 特許庁

To provide a multi-probe and a microprocessing method using it, able to be applied as it is to a scan type probe microscope, performing high-accuracy nano-processing for an arbitrary position in a wide range collectively, and directly measuring the surface shape of a workpiece after processing.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡にそのまま適用することができ、広範囲を一括に、且つ任意位置に高精度なナノ加工を行うことができ、加工後、直接被加工物の表面形状を計測することができる。 - 特許庁

The microscope includes a light source 11, a condenser lens 12 for condensing light from the light source 11, an objective lens 13, a barrier filter 14 for extracting the fluorescent light from the light out of a sample 16, and an imaging device 18.例文帳に追加

光源１１と、光源１１からの光を集光させる集光レンズ１２と、対物レンズ１３と、標本１６からの光から蛍光を抽出するバリアフィルタ１４と、撮像素子１８を有する全反射蛍光顕微鏡である。 - 特許庁

To provide a grid for a transmission electron microscope capable of heating a sample of powder of the like at several hundred degrees C or higher in the degree of vacuum in the range of 10^-2-10^-3 Pa, and a grid holder capable of preventing pollution or damage of the grid.例文帳に追加

粉末などの試料に１０^−２〜１０^−３Ｐａ程度の真空度で数１００℃以上の加熱を行える透過型電子顕微鏡用グリッドと、グリッドの汚染や破損を防止できるグリッドホルダーを提供する。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope capable of correcting sequentially a relative displacement between a cantilever used in measurement and a measuring object not affected by thermal expansion or contraction of an instrument or the measuring object, and by instrument vibration or the like caused by floor vibration.例文帳に追加

測定に用いるカンチレバーと被測定物間の相対変位を逐次補正して、装置や被測定物の熱膨張や収縮、床振動による装置振動等の影響を受けない原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an illuminating module for surgical microscope, whose light is generated by LEDs, capable of simultanesouly having white light having the largest CRI value and variable color temperature, and then satisfying the conditions of formula CRI_Beleuchtungsmodul>80.例文帳に追加

ＬＥＤによって光が生成され、最大のＣＲＩ値と同時に可変の色温度をもつ白色の照明光を提供することを可能にし、式ＣＲＩ_Beleuchtungsmodul＞８０が成り立つような、手術用顕微鏡の照明モジュールを提供する。 - 特許庁

The microscope includes a means for changing an aperture angle of an optical system by varying diameters of a plurality of convergence lenses and diaphragms to change the aperture angle α of an electron beam in accordance with a virtual field corresponding to a single pixel, which is called as a pixel size.例文帳に追加

複数の収束レンズ及び絞りの穴径を変化させることにより光学系の開き角を変化させる手段をもち、１画素に相当する視野範囲、いわゆる画素サイズに応じて電子ビーム開き角αを変化させる。 - 特許庁

This microscope for operation comprises a moving means 16 for turning a first arm constituent body 7 around turning shafts 14a, 14b of a connection part to a first rotating shaft part 9 and moving a second arm constituent body 8 vertically.例文帳に追加

第１のアーム構成体７を第１の回転軸部９との連結部の回動軸１４ａ，１４ｂを中心に回動させ、第２のアーム構成体８を上下方向に平行移動させる移動手段１６を設けたものである。 - 特許庁

To provide a microscope for surgical operations having an ultrasonic probe generating a tomographic image of a region to be operated on by which an operator can effectively perform surgical operations by obtaining tomographic images of high resolution depending on the operating circumstances.例文帳に追加

術部の断層画像を生成する超音波プローブを有し、術者は手術状況に応じて高解像の断層画像情報が得られ、効率的に手術が遂行できる手術用顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide a microscope, even if air is contained in a preparation, capable of determining a region other than an air region as a region of an object of focusing process or the like, and to provide a region determining method, and a program.例文帳に追加

プレパラート内に空気が含まれる場合でも、当該空気の領域以外の領域を、合焦処理等の対象となる領域として判定することができる顕微鏡、領域判定方法、プログラムを提供すること。 - 特許庁

To project images while maintaining the characteristics of an interchangeable lens and an intermediate when projecting the image of a CCD on the receiving surface of an CDD for instance by mounting the intermediate such as an interchangeable lens and an interference filter in an optical system such as a microscope.例文帳に追加

顕微鏡などの光学系に交換レンズと干渉フィルタのような中間物を装着し、ＣＣＤなどの受光部に物体像を投影するとき、交換レンズと中間物の特性、特徴を生かしたままで投影する。 - 特許庁

The circularity is the average value of values found by the following formula after observing cross sections of 1,000 or more randomly sampled metal magnetic particles under a microscope, and calculating the area and the circumference length of each metal magnetic particle.例文帳に追加

ここで、円形度は、無作為に抽出した1000個以上の金属磁性粒子について断面を顕微鏡で観察し、各金属磁性粒子の面積および外周長さを算出し、以下の式により求めた値の平均値である。 - 特許庁

To provide a dark visual field vertical illumination microscope which quickly changes-over excitation wavelength and fluorescent wavelength, measures one tissue or one organelle by time-resolving, can be easily changed-over to a dark field and can obtain a clear image with low back ground.例文帳に追加

励起波長と蛍光波長を素早く切り換え、１つの細胞やオルガネラを時間分解して計測し、容易に暗視野に切り換えられバックグランドの低い鮮明な画像が得られる暗視野落射顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To enable measurement by a highly precise scanning probe microscope using a novel cantilever with a measurement hole and provide a method for measuring mutual action of various beams and a sample substance by squeezing it into a very small region.例文帳に追加

新規な測定孔付きカンチレバーを用いて精度の高い走査型プローブ顕微鏡測定を可能にし、種々のビームと試料物質との相互作用を極小領域にまで絞り込んで測定できる方法を実現する。 - 特許庁

Otherwise, the transparent film is deposited to be higher than the normal glass surface, and the portion higher than the glass surface is scraped off by a mechanical process by an atomic force microscope with a fixed height so as to flatten the surface of the filled transparent film.例文帳に追加

透明膜が正常なガラス面よりも高くなるように埋め、ガラス面よりも高い部分を高さを固定した原子間力顕微鏡による機械的な加工で削り取り埋めた透明膜表面が平坦になるようにする。 - 特許庁

To provide a laser scan type microscope wherein an aperture diaphragm is arranged in front of a detector so as to have at least one detection optical path, and by which various kinds of wavelength of detected light are focused in the aperture diaphragm plane in the detection optical path.例文帳に追加

検出器の前に孔絞りが配置されている、少なくとも１つの検出光路を有するレーザ走査型顕微鏡であって、検出された光のさまざまな波長を検出光路内の孔絞り平面内へフォーカシングする。 - 特許庁

To provide a new sample preparation method allowing measurement of a fluorescent signal with high sensitiveness in a short time and making full use of ultra high resolution of a double resonance absorption microscope so as to improve practicability.例文帳に追加

蛍光信号を短時間、且つ高感度で計測することができ、二重共鳴吸収顕微鏡の超解像性を十分に引き出して実用性をより向上させることのできる、新しい試料調整法を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope system, image processing method, and an image processing program, which are able to display an image on a surface, as an observation object, without wasting time even if a user specifies a wide range as an observation range.例文帳に追加

使用者が広い範囲を観察範囲として指定した場合にも無駄な時間を費やさずに観察対象物の表面の画像を表示可能な共焦点顕微鏡システム、画像処理方法および画像処理プログラムを提供する。 - 特許庁

An image focusing optical system of the microscope image-focuses a measuring objective face of the measured object in an imaging system, and a regular reflectance (gloss value) of the light source is measured in every picture element by the image processing part, since the toner printed matter is expressed with a fine pattern.例文帳に追加

トナー印刷物は、微小パタンで表現されるため、顕微鏡である結像光学系が非測定物の測定対称面を撮像系に結像し、その像処理部で各画素ごとに光源の正反射率（グロス値）を測定する。 - 特許庁

To provide a microscope stage in which respective final controlling elements are consolidated to one handle or are arranged in proximity to each other to improve operability while manual control of rotation of a rotary holder with the handle under the stage is made.例文帳に追加

回転ホルダの回転をステージ下のハンドルで手動操作することを可能としつつ、各操作部を一つハンドルに集約、又は互いに近接配置させて操作性の向上を図ることができる顕微鏡ステージを提供する。 - 特許庁

Illumination light is applied to the objective lens 19 to observe an image forming spot, and the position of the image forming spot and the mark 17a for alignment of the diffraction optical element 17 are made to coincide with each other while observing them by an optical microscope, etc.例文帳に追加

対物レンズ１９に対して照明光を当ててその結像スポットを観察し、結像スポットの位置と回折光学素子１７の芯合わせ用マーク１７ａとを光学顕微鏡などで観察しつつ一致させる。 - 特許庁

In this scanning type charged particle beam microscope using an electron beam etc., when a scanning image is taken-in in a memory device synchronizing with a scanning signal, a delay of the electronic circuit is corrected and taken-in by a shift registor having variable number of steps.例文帳に追加

電子線等を使用した走査型荷電粒子ビーム顕微鏡において、走査信号に同期して走査画像を記憶装置に取り込む際に、電子回路の遅延を可変段数のシフトレジスタにより補正して取り込む。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its measuring method capable of properly adjusting an explorer approaching position, when measuring a ridged/grooved shape and stroke of a Z-axis fine-movement element when an approaching action is finished, and measuring effectively utilizing the stroke.例文帳に追加

凹凸形状測定時に探針接近位置と接近動作終了時のＺ軸微動素子のストロークを適切に調整し、ストロークを有効に利用して測定できる走査型プローブ顕微鏡およびその測定方法を提供する。 - 特許庁

A current flows in the defect portions if a reverse bias voltage is applied to the light emitting elements having the defect portions, and emission of light which occurs from the current is measured by using an emission microscope, specifying the position of the defect portions, and short-circuited portions can be repaired by applying a laser to the defect portions.例文帳に追加

この電流から生じる発光をエミッション顕微鏡により測定して欠陥部を特定し、欠陥部にレーザーを照射することによりショート箇所を修理するという発光装置の作製方法である。 - 特許庁

To make the magnitude of a magnetic field being applied controllable such that a uniform magnetic field can be applied to an object to be measured over the entire measuring range thereof in a scanning SQUID microscope having an SQUID as a magnetic sensor.例文帳に追加

ＳＱＵＩＤを磁気センサとした走査型のＳＱＵＩＤ顕微鏡において、計測対象物に測定範囲全域に渡って一様な磁場を印加できるように、印可磁場の大きさを制御することができるようにすること。 - 特許庁

Thereby, each side-etching quantity, generated in the first thin film 13, is so observed by an optical microscope as to measure each side-etching quantity of the first thin film 13 and as to evaluate the adhesiveness of the first thin film 13 to the second thin film 15.例文帳に追加

これにより、第１薄膜１３に生じたサイドエッチング量を光学顕微鏡で観察することにより、第１薄膜１３のサイドエッチング量を測定して、第１薄膜１３と第２薄膜１５との密着性を評価する。 - 特許庁

In the stereoscopic microscope, an objective optical system 21 is arranged in a longitudinal direction state and a zoom optical system 22 is arranged in a lateral direction state and is divided into two groups arranged parallel to each other so that they are in the same level in a longitudinal direction.例文帳に追加

対物光学系２１を縦向き状態で配置する一方、ズーム光学系２２は横向き状態で配置し、且つ該ズーム光学系２２が縦方向で同じレベルとなる２系統に分かれた並列状態で配置されている。 - 特許庁

An objective lens 51 of an erecting-type vertical-light fluorescent microscope 42 is arranged over the cone 61, and the state of the cells seeded on the test material, under liquid flow generated by a cone, is observed in real time by a monitor 60.例文帳に追加

コーン１６の上方に正立型落射蛍光顕微鏡４２の対物レンズ５１を配置し、試験材料上に播種した細胞のコーンによって生起された液体の流動下での状態をリアルタイムでモニタ６０により観察する。 - 特許庁

To provide an image processor which can inexpensively realize a TV camera for multiple microscope, which can usually observe an image by the monitor of general TV and can take in the image of a high pixel into a personal computer if need.例文帳に追加

通常は一般のＴＶ等でのモニタ観察ができ、必要に応じて、高画素の画像をパーソナルコンピュータ等に取り込めるマルチな顕微鏡用のＴＶカメラ装置を安価で実現することができる画像処理装置を提供する。 - 特許庁

The motion of particles 14, 18 not trapped therein is observed by a microscope 26 connected to a video camera 28, and an image is analyzed by a computer 34 to measure a flow velocity and a flow direction of the liquid 20.例文帳に追加

トラップされない粒子１４，１８の動きをビデオカメラ２８が接続された顕微鏡２６によって観察し、コンピュータ３４によって画像解析することによって、液体２０の流動速度と流動方向を計測する。 - 特許庁

In the microscope observation sample mount-manufacturing method of a porous body in 1 above, the cured resin is cured in approximately 15 minutes (2).例文帳に追加

２．前記１．における多孔質体の顕微鏡観察試料マウント製作方法において、前記硬化型樹脂が１５分前後で硬化する短時間硬化型樹脂であることを特徴とする多孔質体の顕微鏡観察試料マウントの製作方法。 - 特許庁

A scanning probe microscope 19 is provided to the electrode pad of an IC formed on a wafer 12 so as to measure the depth of a needle trace (application of a needle) which is formed by contact with the electrode probe 13 of a probe card 14.例文帳に追加

ウエハ１２上に形成されたＩＣの電極パッドにプローブカード１４の電極プローブ１３が接触（針当て）することによって形成された針跡の深さを計測するために、走査型プローブ顕微鏡１９を設ける。 - 特許庁

To provide a measuring microscope apparatus, capable of preventing a trouble caused by external wiring such as breaking of an external communication cable, and being set easily and reduced in required occupying installation area in use.例文帳に追加

外部通信ケーブルの断線等の外部配線によるトラブルを防止すると共に、装置のセッティングを容易にし、使用するうえで必要な装置の占有設置面積を小さくすることが可能な測定顕微鏡装置を提供することである。 - 特許庁

This scanning probe microscope is configured to display measurement data in a scanning image display area 202 of a monitor screen 201 as an image with a monochromatic density matched to irregularity information with a line 203 showing a measuring position of sample line profile.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡測定データは凹凸情報を白黒濃度に対応させた画像としてモニター画面２０１の走査画像表示領域２０２に、試料ラインプロファイルの測定位置を示す線２０３と一緒に表示される。 - 特許庁

Distribution of reflection electron or secondary electron intensity is processed from a control system of a scan type microscope and an adjacent terminal, and the shape of an area representing the edge vicinity is digitized to calculate a taper gradient from the result.例文帳に追加

走査型顕微鏡の制御系ないし隣接する端末から反射電子ないしは２次電子強度の分布を処理し、エッジ近傍を表わす領域の形状を数値化しそれらの結果からテーパ傾向を算出する。 - 特許庁

To provide an objective lens for an electron microscope system requiring a relatively small space, and for minimizing a magnetic field outside the objective lens, and to provide an improved inspection system used for simultaneously executing image formation and operation of an inspection object.例文帳に追加

必要とされる空間がより少なく、対物レンズ外部の磁界が最小限である電子顕微鏡システムのための対物レンズ、被検物体の像形成および操作を同時に行うための改良検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a focus detector which adapts itself to an objective lens form a low power to a high power and can widen the AF capturing range of the high-power objective lens and an optical microscope or optical inspection apparatus having the same.例文帳に追加

低倍から高倍までの対物レンズに適合し、且つ、高倍対物レンズでのＡＦ捕捉範囲を広くすることが可能な焦点検出装置及びそれを備えた光学顕微鏡又は光学検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a measurement method of a scanning probe microscope for measuring a shape and optical characteristics of a sample using near field light without reducing a signal-to-noise ratio in a plasmon propagation beam SPM.例文帳に追加

本発明はプラズモン伝播形光ＳＰＭにおいて、信号対雑音比が低下させずに近接場光を用いて試料の形状と光学特性を測定する走査プローブ顕微鏡の測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁