「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(153ページ目) - Weblio英語例文検索

The biological tissue 8 is irradiated with an ultrasonic wave in a two-dimensional scanning fashion by using a pulse-excitation type ultrasonic microscope 2, and an acoustic impedance is computed based on the intensity of a reflected wave from the surface of the biological tissue 8.例文帳に追加

パルス励起型超音波顕微鏡２を利用して超音波を二次元走査しながら生体組織８に照射し、その生体組織８の表面からの反射波の強度に基づいて音響インピーダンスを算出する。 - 特許庁

By measuring the phase transition temperature of the compound (XA-1) with a texture observation by using a polarizing microscope, in the time of elevating temperature, it shows a smectic phase from 101 to 133°C, and also shows a nematic phase from 133 to 146°C.例文帳に追加

得られた化合物（ＸＡ−１）の相転移温度を偏光顕微鏡によるテクスチャー観察によって行うと、昇温時において、１０１℃から１３３℃までスメクチック相を呈し、１３３℃から１４６℃までネマチック相を呈する。 - 特許庁

To provide a laser scan type microscope wherein an aperture diaphragm is arranged in front of a detector so as to have at least one detection optical path, and by which various kinds of wavelength of detected light are focused in the aperture diaphragm plane in the detection optical path.例文帳に追加

検出器の前に孔絞りが配置されている、少なくとも１つの検出光路を有するレーザ走査型顕微鏡であって、検出された光のさまざまな波長を検出光路内の孔絞り平面内へフォーカシングする。 - 特許庁

To provide a new sample preparation method allowing measurement of a fluorescent signal with high sensitiveness in a short time and making full use of ultra high resolution of a double resonance absorption microscope so as to improve practicability.例文帳に追加

蛍光信号を短時間、且つ高感度で計測することができ、二重共鳴吸収顕微鏡の超解像性を十分に引き出して実用性をより向上させることのできる、新しい試料調整法を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope system, image processing method, and an image processing program, which are able to display an image on a surface, as an observation object, without wasting time even if a user specifies a wide range as an observation range.例文帳に追加

使用者が広い範囲を観察範囲として指定した場合にも無駄な時間を費やさずに観察対象物の表面の画像を表示可能な共焦点顕微鏡システム、画像処理方法および画像処理プログラムを提供する。 - 特許庁

An image focusing optical system of the microscope image-focuses a measuring objective face of the measured object in an imaging system, and a regular reflectance (gloss value) of the light source is measured in every picture element by the image processing part, since the toner printed matter is expressed with a fine pattern.例文帳に追加

トナー印刷物は、微小パタンで表現されるため、顕微鏡である結像光学系が非測定物の測定対称面を撮像系に結像し、その像処理部で各画素ごとに光源の正反射率（グロス値）を測定する。 - 特許庁

Illumination light is applied to the objective lens 19 to observe an image forming spot, and the position of the image forming spot and the mark 17a for alignment of the diffraction optical element 17 are made to coincide with each other while observing them by an optical microscope, etc.例文帳に追加

対物レンズ１９に対して照明光を当ててその結像スポットを観察し、結像スポットの位置と回折光学素子１７の芯合わせ用マーク１７ａとを光学顕微鏡などで観察しつつ一致させる。 - 特許庁

The circularity is the average value of values found by the following formula after observing cross sections of 1,000 or more randomly sampled metal magnetic particles under a microscope, and calculating the area and the circumference length of each metal magnetic particle.例文帳に追加

ここで、円形度は、無作為に抽出した1000個以上の金属磁性粒子について断面を顕微鏡で観察し、各金属磁性粒子の面積および外周長さを算出し、以下の式により求めた値の平均値である。 - 特許庁

To provide a microscope photographic system reducing a convergence time of automatic exposure without increasing light intensity of a light source, to provide an image input device, to provide an automatic exposure method, and to provide a program.例文帳に追加

本発明では光源の光量を増加させることなく自動露出の収束時間を短くすることが出来る顕微鏡撮影装置、画像入力装置、自動露出方法及びプログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁

While observed from outside through an optical microscope or CCD camera, the distance 201 between the end surface of the tube 52 and the end surface of the tube 51 and the distance 202 between the end surface of the tube 52 and the end surface of the tube 53 are set by passive alignment by mutually sliding the tubes.例文帳に追加

また光分波器の調心組立方法としては、各構成要素を対応する透明状チューブにそれぞれ取り付けた後、それら透明状チューブを相互に摺動させることを含む、パッシブアライメントで可能である。 - 特許庁

In the microscope observation sample mount-manufacturing method of a porous body in 1 above, the cured resin is cured in approximately 15 minutes (2).例文帳に追加

２．前記１．における多孔質体の顕微鏡観察試料マウント製作方法において、前記硬化型樹脂が１５分前後で硬化する短時間硬化型樹脂であることを特徴とする多孔質体の顕微鏡観察試料マウントの製作方法。 - 特許庁

To control lightness and to control prescribed color temperature of a transmitted light base for a zoom microscope in which a light source is incorporated by making it possible to control illumination intensity and then making the color temperature constant to control lightness.例文帳に追加

光源が組み込まれた、ズーム顕微鏡用の透過光ベースにおいて、照明強度を制御できるようにし、ひいては色温度を一定にして明度を制御することができ、かつ所定の色温度を調整できるように構成する。 - 特許庁

To prevent a charged particle beam from deviating from its optical axis, irrespective of the direction (parallel or perpendicular to the optical axis) of a magnetic field applied to a sample, in an apparatus using a charged- particle-beam optical system which includes electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡を含む荷電粒子線光学系を用いた装置において、試料に印加する磁場の方向（光軸と平行、もしくは、垂直）に係らず、荷電粒子線の光軸からのずれが生じないようにすること。 - 特許庁

Since an optical system from a transparent substance to the sample has a dispersion compensation process for compensating the dispersion of light pulses generated at the transparent substance and the microscope, the sample can be irradiated with the light of target wavelength of short pulse width.例文帳に追加

また、透明物質から試料までの光学系で透明物質と顕微鏡とで生じる光パルスの分散を補償する分散補償工程を有することで短パルス幅の目的波長光を試料に照射することができる。 - 特許庁

The objective aqueous dispersion contains polymer particles having a DL/Dn ratio of 1.05-5.0 wherein DL is average particle diameter measured by dynamic light-scattering and Dn is number-average particle diameter determined by a transmission electron microscope.例文帳に追加

動的光散乱式測定装置によって測定した平均粒子径Ｄ_Lと、透過型電子顕微鏡によって測定した数平均子粒径Ｄ_nとの比（Ｄ_L／Ｄ_n）が１．０５〜５．０である重合体粒子を含む水系分散体を得る。 - 特許庁

To provide a scanning near-field optical microscope which can efficiently detect a scattering light spreading with a large angle, even if using a condenser lens of a relatively small numerical aperture.例文帳に追加

本発明は、比較的小さな開口数を持つ集光レンズを使用していても大きな角度で広がる散乱光を率よく検出することができるようにした走査型近接場光学顕微鏡を提供するを提供する。 - 特許庁

An objective lens 51 of an erecting-type vertical-light fluorescent microscope 42 is arranged over the cone 61, and the state of the cells seeded on the test material, under liquid flow generated by a cone, is observed in real time by a monitor 60.例文帳に追加

コーン１６の上方に正立型落射蛍光顕微鏡４２の対物レンズ５１を配置し、試験材料上に播種した細胞のコーンによって生起された液体の流動下での状態をリアルタイムでモニタ６０により観察する。 - 特許庁

To provide an image processor which can inexpensively realize a TV camera for multiple microscope, which can usually observe an image by the monitor of general TV and can take in the image of a high pixel into a personal computer if need.例文帳に追加

通常は一般のＴＶ等でのモニタ観察ができ、必要に応じて、高画素の画像をパーソナルコンピュータ等に取り込めるマルチな顕微鏡用のＴＶカメラ装置を安価で実現することができる画像処理装置を提供する。 - 特許庁

A scanning probe microscope 19 is provided to the electrode pad of an IC formed on a wafer 12 so as to measure the depth of a needle trace (application of a needle) which is formed by contact with the electrode probe 13 of a probe card 14.例文帳に追加

ウエハ１２上に形成されたＩＣの電極パッドにプローブカード１４の電極プローブ１３が接触（針当て）することによって形成された針跡の深さを計測するために、走査型プローブ顕微鏡１９を設ける。 - 特許庁

To provide a measuring microscope apparatus, capable of preventing a trouble caused by external wiring such as breaking of an external communication cable, and being set easily and reduced in required occupying installation area in use.例文帳に追加

外部通信ケーブルの断線等の外部配線によるトラブルを防止すると共に、装置のセッティングを容易にし、使用するうえで必要な装置の占有設置面積を小さくすることが可能な測定顕微鏡装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a method for observing and acquiring a histological image inside an individual by a two-photon laser microscope without being influenced by spontaneous vibration of an individual (living body) itself, and to provide a sheet having a hollow part used in the method.例文帳に追加

個体（生体）自体の自発振動の影響を受けずに、２光子レーザー顕微鏡により個体内部の組織学的イメージ像を観察・取得する方法、並びに該方法に使用する中空部を有する薄板の提供。 - 特許庁

A position signal, showing the position which is output from the position detection element 37, can be used as a signal showing an irradiation position of the laser light to a sample when scanning is performed in a scanning type confocal laser microscope.例文帳に追加

位置検出素子３７から出力されるこの位置を示す位置信号は、走査型共焦点レーザ顕微鏡において走査が行われているときにおける試料へのレーザ光の照射位置を示す信号として利用できる。 - 特許庁

An electron beam 70 of a scanning electron microscope (scanning the area of interest) is used to activate the precursor gas 55, 65 and this results in deposition of a metal layer over the topographical features of the substrate in the selected area 40.例文帳に追加

対象となる領域を走査する走査電子顕微鏡の電子ビーム７０は、前駆体ガス５５、６５を活性化させるために用いられ、この結果、選択された領域４０の基板のトポグラフィカルフィーチャ上に金属層が堆積される。 - 特許庁

To obtain confocal effect for improving the picture quality of a simple laser scanning microscope which has its Y-directional scan fixed (linear scan type) and picks up an image formed by an objective at a return destination directly by a television camera.例文帳に追加

レーザー走査顕微鏡で、Ｙ方向走査を固定型（線走査型）とし、戻り先の対物レンズによる結像を直接テレビカメラに写し込む簡易化型レーザー走査顕微鏡の画質を向上させるため共焦点効果をだすこと。 - 特許庁

To provide an optical fiber probe suitable for use in a proximity optical microscope, and a manufacturing method for the optical fiber probe capable of manufacturing easily and inexpensively the optical fiber probe having a highly precise sharp part.例文帳に追加

近接場光学顕微鏡に用いて好適な光ファイバプローブを提供するとともに、高精度な先鋭部を有する光ファイバプローブを容易にかつ安価に製造することが可能な光ファイバプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope system which provides a high quality image by removing both of noise such as smearing noise due to an optical image incidence to an imaging apparatus during the term other than an exposure term and banding noise.例文帳に追加

スミアノイズ等の露光期間以外の期間における撮像装置への光像入射に起因するノイズ、及びバンディングノイズの両方を解消し、高品位な画像の取得を可能とする共焦点顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide a device for mating the face azimuth of a single crystal material which does not use a microscope, improves working efficiency, and can accurately obtain a crystal azimuth face in a cutting surface and a method for slicing the single crystal material.例文帳に追加

顕微鏡を使用せず、作業効率を向上させ、かつ、高精度で切断面に結晶方位面を得ることができる単結晶材料の面方位合わせ装置および単結晶材料のスライス方法を提供する。 - 特許庁

Also, the microscope device 1 modulates the phase of a laser beam with the phase modulation type SLM5 arranged at the pupil conjugate position of an object lens 13 and irradiates a sample surface SP through the object lens 13 with the laser beam.例文帳に追加

さらに、顕微鏡装置１は、対物レンズ１３の瞳共役位置に配置された位相変調型ＳＬＭ５でレーザ光の位相を変調して、対物レンズ１３を介して標本面ＳＰ上にレーザ光を照射する。 - 特許庁

To provide a sample holder of an electron microscope doing away with pretreatment of a sample for having it electrically conducted, and enabling electricity conduction to the sample and image observation during measurement of electric resistance only by thrusting it down on a sample pedestal.例文帳に追加

試料に電気的導通を取るための試料前処理が不要で、試料台に試料を押止するだけで試料への通電及び電気抵抗測定中の像観察を可能とする電子顕微鏡用試料ホルダの提供。 - 特許庁

The motion of particles 14, 18 not trapped therein is observed by a microscope 26 connected to a video camera 28, and an image is analyzed by a computer 34 to measure a flow velocity and a flow direction of the liquid 20.例文帳に追加

トラップされない粒子１４，１８の動きをビデオカメラ２８が接続された顕微鏡２６によって観察し、コンピュータ３４によって画像解析することによって、液体２０の流動速度と流動方向を計測する。 - 特許庁

This device has a scanning microscope type scanning optical system provided with a laser 1, a light deflector 2 and a condenser lens 3, and a lens 5 Fourier-transforms a phase defect transmission image of a photomask (reticle) 4 formed of scanning micro condensing spots, in the device.例文帳に追加

レーザ１、光偏向器２、集光レンズ３を備えた走査型顕微鏡方式の走査光学系を有し、レンズ５が走査微小集光スポットの作るフォトマスク（レチクル）４の位相欠陥透過像をフーリエ変換像に変換する。 - 特許庁

This scanning probe microscope is configured to display measurement data in a scanning image display area 202 of a monitor screen 201 as an image with a monochromatic density matched to irregularity information with a line 203 showing a measuring position of sample line profile.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡測定データは凹凸情報を白黒濃度に対応させた画像としてモニター画面２０１の走査画像表示領域２０２に、試料ラインプロファイルの測定位置を示す線２０３と一緒に表示される。 - 特許庁

Distribution of reflection electron or secondary electron intensity is processed from a control system of a scan type microscope and an adjacent terminal, and the shape of an area representing the edge vicinity is digitized to calculate a taper gradient from the result.例文帳に追加

走査型顕微鏡の制御系ないし隣接する端末から反射電子ないしは２次電子強度の分布を処理し、エッジ近傍を表わす領域の形状を数値化しそれらの結果からテーパ傾向を算出する。 - 特許庁

To provide an objective lens for an electron microscope system requiring a relatively small space, and for minimizing a magnetic field outside the objective lens, and to provide an improved inspection system used for simultaneously executing image formation and operation of an inspection object.例文帳に追加

必要とされる空間がより少なく、対物レンズ外部の磁界が最小限である電子顕微鏡システムのための対物レンズ、被検物体の像形成および操作を同時に行うための改良検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a focus detector which adapts itself to an objective lens form a low power to a high power and can widen the AF capturing range of the high-power objective lens and an optical microscope or optical inspection apparatus having the same.例文帳に追加

低倍から高倍までの対物レンズに適合し、且つ、高倍対物レンズでのＡＦ捕捉範囲を広くすることが可能な焦点検出装置及びそれを備えた光学顕微鏡又は光学検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a measurement method of a scanning probe microscope for measuring a shape and optical characteristics of a sample using near field light without reducing a signal-to-noise ratio in a plasmon propagation beam SPM.例文帳に追加

本発明はプラズモン伝播形光ＳＰＭにおいて、信号対雑音比が低下させずに近接場光を用いて試料の形状と光学特性を測定する走査プローブ顕微鏡の測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A non-bonding constituent in a solution to be analyzed is separated from a bonding fraction, and bonding can be detected by a microscope method, a fluorescence method, an epifluorescence method, a luminescence method, a phosphorescence method, a radioactivity method, or an absorbance method.例文帳に追加

分析に付される溶液中の非結合成分は結合画分から分離され、結合は、顕微鏡法、蛍光法、エピ蛍光法、ルミネッセンス法、燐光法、放射能法、あるいは吸光度法によって検出することができる。 - 特許庁

In the microscope 100, a sample 4 may be kept stationary, while providing devices 24 and 26 both in an illumination beam path 2 and in an detection beam path 5, the devices 24 and 26 making two beam paths 2, 5 slide in their region near the sample.例文帳に追加

顕微鏡１００において、試料４を定置に保持することができ、照明光路２と検出光路５とには、この両光路２，５を試料近傍領域において摺動させる装置２４，２６が設けられている。 - 特許庁

To provide a microscope system that facilitates soak injecting/removing operation and prevents air bubbles from being mixed in the soak, when the type of objective lens is changed according to the presence or type of a soak during insertion/detachment of the objective lens into/from an optical path.例文帳に追加

対物レンズの光路への挿脱時に、浸液の有無／種類に応じた対物レンズの種別に変化がある場合、浸液の注入／除去作業がしやすく、かつ浸液への気泡混入を防止する顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide an illuminating apparatus including means configured to cope with the movement of a pupil surface caused by zooming, without using a complicated zoom system in which the conjugate relation between an image and a pupil is secured, and to provide a zoom microscope including the illuminating apparatus.例文帳に追加

複雑な構成となる像及び瞳の共役関係を保ったズーム系とすることなく、ズーミングによる瞳面の移動に対処する手段を設けた照明装置、及び、この照明装置を備えたズーム顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The display part displays images imaged from a first observed target and a second observed target having spatial similarities with each other by a microscope as a first image and a second image in parallel, respectively.例文帳に追加

表示部は、互いに空間的類似性を有する第１の観察対象および第2の観察対象のそれぞれから顕微鏡によって撮像された各画像を第１の画像および第2の画像としてそれぞれ並列的に表示する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of attaining both photographing and preservation of a moving image and a still image and especially attaining photographing and preservation of the moving image and photographing of the still image with high image quality.例文帳に追加

本発明の目的は、動画の撮影・保存と静止画撮影・保存がいずれも可能な走査電子顕微鏡、特に動画の撮像・保存と、高画質な静止画像が撮影できる走査電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide an objective lens for an electron microscope system requiring a smaller space and having a minimum magnetic field outside the objective lens, and to provide an improved inspection system for performing image formation for a subject and manipulation of the subject simultaneously.例文帳に追加

必要とされる空間がより少なく、対物レンズ外部の磁界が最小限である電子顕微鏡システムのための対物レンズ、被検物体の像形成および操作を同時に行うための改良検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a microscope with a focus adjusting mechanism having a simple structure capable of performing coarse and fine motion adjustments of a focal point and facilitating the focusing, and capable of suppressing the production cost.例文帳に追加

焦点の粗動調整と微動調整とを行うことができると共に焦点を容易に合わせることができる簡易な構成を有し、製造コストを抑えることができる焦点調整機構を備えた顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The transmission electron microscope having a sample arranged in a sample surface 9b includes an objective lens 11b, a first projection lens system 61b having a plurality of lenses, a second projection lens system 63b having a plurality of lenses, and the analysis system.例文帳に追加

試料面内９ｂに試料を配置した透過電子顕微鏡は、対物レンズ１１ｂ、複数のレンズを有する第１投影レンズ系６１ｂ、複数のレンズを有する第２投影レンズ系６３ｂ、および分析系を備える。 - 特許庁