「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(149ページ目) - Weblio英語例文検索

A switching part 31 switches the connection of imaging parts 13 and 14, and a CPU 36 acquires the information of the imaging parts 13 and 14 through the switching part 31 and stores it in a memory 35 when a microscope system 11 is activated.例文帳に追加

切替部３１は、撮像部１３および１４との接続を切り替え、CPU３６は、顕微鏡システム１１の起動時に、切替部３１を介して撮像部１３および１４の情報を取得して、メモリ３５に記憶させる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of measuring the distribution information relating to the partial characteristic of a sample, simultaneously with the accurate three-dimensional shape information of the sample without giving the damage to the sample with high throughput.例文帳に追加

高スループットで試料にダメージを与えずに、試料の正確な立体形状情報と同時に試料の局所的特性に関する分布情報を計測できる走査プローブ顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

In an embodiment, a high resolution image acquisition unit 453 gives operation instructions for a microscope device 2, and acquires a plurality of specimen area block images picked up for each part of a specimen area.例文帳に追加

本発明のある実施の形態において、高解像画像取得処理部４５３は、顕微鏡装置２に対する動作指示を行い、標本領域を部分毎に撮像した複数の標本領域区画画像を取得する。 - 特許庁

To facilitate sample alignment when samples are the samples that are scattered with regularity in a minimum region in a flat plane which has almost no features and is hardly discovered by direct observation of an observation face with an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡による観察面の直接観察では発見しにくい、平坦で特徴の少ない面内の極小領域に規則性を持って点在する試料であった場合に、アライメントを容易にする。 - 特許庁

An objective lens 13 and scaling optical systems 14a and 14b serve as a microscopic objective optical system which is provided in a casing 12 for the operating microscope 10 so as to obtain an optical image of the subject 2.例文帳に追加

対物レンズ１３及び変倍光学系１４ａ，１４ｂは、前記手術用顕微鏡１０の筐体１２に設けられ前記被検体２の光学像を得るための顕微鏡対物光学系となっている。 - 特許庁

When the number of the residues is counted by means of a data processor, particle counter, etc., under an optical microscope, the density of the defects as precipitation of oxygen in the etched sample can be found.例文帳に追加

例えば、酸素析出欠陥の存在するシリコンウエハを試料としてこれを対酸化物選択比の大きい条件でエッチングすることで、エッチングされにくい酸素析出欠陥を頂点として円錐状エッチング残渣を得る。 - 特許庁

In this mapping type electron microscope, an illuminating mirror cylinder 11 is disposed to have an angle of θ1 relative to an optical axis and an illuminating mirror cylinder 12 is disposed to have an angle of θ2 relative to the optical axis, these cylinders 11 and 12 emit electron beams to the center of a Wien filter 13.例文帳に追加

照明鏡筒１１は光軸とθ１の角度、照明鏡筒１２は光軸とθ２の角度をなして設けられ、ウィーンフィルター１３の中心に向けて電子ビームを放出している。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope constituted so as to eliminate the replacing necessity of a scanner corresponding to an observation target or an observation purpose and capable of performing the observation from a microregion to a wide region while holding high resolving power.例文帳に追加

観察対象や観察目的に応じてスキャナを交換する必要が無く、高い分解能を保ったまま、微小領域から広域までの観察を行うことのできる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an AF device capable of automatically setting AF control information for an objective lens required for AF operation control, a microscope device with the same, and a medium for storing a control program for the AF device.例文帳に追加

ＡＦ動作制御に必要な対物レンズのＡＦ制御情報を自動で設定可能なＡＦ装置と、これを有する顕微鏡装置、及びＡＦ装置の制御プログラムを記憶する媒体を提供すること。 - 特許庁

To provide a reinforcing method and a reinforcing device enabling a carbon nanotube to strongly adhere to a probe, which adheres to a tip of the probe of a handling equipment such as a scanning probe microscope, carbon nanotube tweezers or the like.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡あるいはカーボンナノチューブピンセットなどのハンドリング機器のプローブ先端部に付着されているカーボンナノチューブをプローブに強く付着させる補強方法および補強装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of substantially reducing the effects of hysteresis of piezoelectric elements even at rotation in a scanning direction and eliminating distortion of images in the case that relative scanning between a sample and a probe is performed by the piezoelectric elements.例文帳に追加

試料とプローブの相対的な走査をピエゾ素子によって行う場合に、走査方向の回転時にもピエゾ素子のヒステリシスの影響を著しく低減し、像のゆがみをなくした走査プローブ顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a lens barrel for an observing device, especially for a microscope, achieving various visual field positions, structural lengths and structural heights of a lens barrel to respective view angles.例文帳に追加

本発明の課題は、それぞれの視野角度に対して鏡胴の様々な視野位置もしくは構造長および構造高が実現可能である観察装置、特に顕微鏡のための鏡胴を提供することである。 - 特許庁

In the section observed with the horizontal force microscope, the area proportion of the phase having the lowest horizontal force is ≥5% and that of the phase having the highest horizontal force is ≥10%.例文帳に追加

断面を水平力顕微鏡で観察した場合、水平力が最も低い相の面積率が５％以上、最も水平力が高い相が10％以上である前記 記載の水現像型感光性フレキソ印刷版。 - 特許庁

In the example of the electronic component mounting state inspection method disclosed herein, first an observation image of the electrode pads 10a via a transparent mount board 10 by a differential interference microscope 1 is obtained as electronic image data.例文帳に追加

本発明に係る電子部品実装状態検査方法の一例では、まず、微分干渉顕微鏡１による透明な実装基板１０を介した電極パッド１０ａの観察像を、電子画像データとして得る。 - 特許庁

To provide a template matching method by which erroneous determination is prevented even when a ground pattern appears in extracting a pattern matched with a template from the images using a design pattern as the template, and to provide a scanning electron microscope.例文帳に追加

設計パターンをテンプレートとし、画像からテンプレートと一致するパターンを抽出するときに、画像に下地パターンが現れていても誤判断のないテンプレートマッチング方法、および走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope system and a light quantity detector which allows quantitative observation by informing an operator of the quantity of light radiated to a sample by a luminous stimulus.例文帳に追加

オペレータに対して、光刺激により標本に照射した光量を通知することにより、定量的な観察を可能とする走査型レーザ顕微鏡装置及び光量検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To improve the accuracy of measuring marks themselves and to prevent the erroneous judgment by the personal differences among measuring persons, the optical axis misalignment of an optical microscope used for measurement, etc., in measuring misalignment in superposition between different layers.例文帳に追加

異なるレイヤー間の重ね合わせずれ測定において、測定マーク自身の精度自体の向上と、測定者間による個人差や測定に用いる光学顕微鏡の光軸ずれ等による誤判定を防止。 - 特許庁

A sample stage 5 and a gas supply unit 9 are disposed in the sample chamber 7 of a focus ion beam system and a microscope 31 is interposed between a sample 6 on the sample stage 5 and the gas nozzle 10 of the gas supply unit 9.例文帳に追加

集束イオンビーム装置の試料室７内に試料ステージ５とガス供給ユニット９とを設け、試料ステージ５上の試料６とガス供給ユニット９のガスノズル１０との間にマイクロスコープ３１を設ける。 - 特許庁

A confocal laser microscope is used to observe autofluorescence emitted by a sampled stratum corneum, image data divided in the height direction of the stratum corneum are compared and analyzed, and the multilayer exfoliation state of the stratum corneum is measured.例文帳に追加

共焦点レーザー顕微鏡を用いて、採取した角層試料が発する自家蛍光を観察し、角層の高さ方向に分割した画像データを比較分析して角層の重層剥離状態を測定する。 - 特許庁

A photomask 11 is immersed in cooling water 14 and modified by removal using a probe of an atomic force microscope, whereby adhesion by frictional heat is prevented and it is made easy to remove chips by wet cleaning.例文帳に追加

フォトマスク１１を冷却水１４中に浸して原子間力顕微鏡の探針を用いて除去修正を行うことで、摩擦熱による付着を防ぎ、削り屑もウェット洗浄で除去しやすくするものである。 - 特許庁

An air bearing is introduced into a pipette rotating shaft fitted to a rotating shaft of a microscope to improve the rotational accuracy of a pipette, whereby the intracellular three-dimensional fine structure is observed with higher accuracy and quickly.例文帳に追加

顕微鏡の回転軸に取り付けられたピペット回転軸に空気軸受を導入し，ピペットの回転精度を向上させることによって，より高精度かつ迅速な細胞内3次元微細構造の観察を行う。 - 特許庁

To provide a scanning type optical microscope which can guide fluorescent light to a photodetector without lowering the confocal effect and without causing a loss of the fluorescent light for respective wavelengths of the fluorescent light on the multiple dying.例文帳に追加

多重染色時の各蛍光波長に対して、共焦点効果を落とすことなく、かつ蛍光を損失することなく光検出器に導くことができる走査型光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The probe for the scanning probe microscope includes a cantilever like base part 101 equipped with a conical needle part 101a, the insulating layer 102 formed the base part 101 and the electron discharge layer 103 formed on the insulating layer 102.例文帳に追加

円錐状の針部１０１ａを備えたカンチレバー状の基部１０１と、基部１０１の上に形成された絶縁層１０２と、絶縁層１０２の上に形成された電子放出層１０３とを備える。 - 特許庁

To mount an intermediate matter such as a wavelength conversion filter on a sample lighting optical system such as a microscope and perform lighting while making good use of the characteristic and feature of the intermediate matter, when lighting a sample with a converted wavelength.例文帳に追加

顕微鏡などの試料照明用光学系に波長変換フィルタのような中間物を装着し、変換した波長で試料を照明するとき、中間物の特性、特徴を生かした照明をする。 - 特許庁

To provide a microscope device including a time lapse imaging part which repeatedly images an object to be observed at a prescribed time interval and generates a plurality of images and appropriately manages data generated during time lapse photography.例文帳に追加

被観察物を繰り返し所定時間間隔で撮像して複数の画像を生成するタイムラプス撮像部を備えた顕微鏡装置において、タイムラプス撮影時に生成されるデータを好適に管理すること。 - 特許庁

Spherical graphite particles (G2) having a cabbage like appearance formed so that the graphite chips are directed to various directions in the observation of broken-out surfaces with a microscope is manufactured by allowing raw material graphite particles to collide with each other in a fluidizing state.例文帳に追加

原料黒鉛粒子(G_1)を流動状態で衝突させて、破断面の顕微鏡観察で黒鉛切片が種々の方向に向かうキャベツ状の外観を有する球形化黒鉛粒子(G_2)を製造する。 - 特許庁

STRUCTURE OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, METHOD FOR POSITIONING LIGHT INCIDENT ON MICRO OPENING OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND PROXIMITY FIELD OPTICAL RECORDER USING PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE例文帳に追加

近接場光プローブの構造、近接場光プローブの微小開口に入射する光の位置決め方法、走査型近接場光顕微鏡装置及び近接場光プローブを用いた近接場光記録装置 - 特許庁

To provide an apparatus and method for measuring a three dimensional shape capable of generating an accurate three dimensional model from a three dimensional coordinate of a test surface acquired by a microscope having an auto focus function.例文帳に追加

顕微鏡のオートフォーカス機能を用いて取得した試料表面の三次元座標から正確な三次元モデルを生成することができる三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法を提供する。 - 特許庁

To enable to detect a transmitted electron with a large scattering angle and to observe an STEM image of a high contrast according to a testpiece and a purpose, in a high-resolution scanning electron microscope having an in-lens type objective lens.例文帳に追加

インレンズ形対物レンズを有する高分解能走査電子顕微鏡において、散乱角の大きな透過電子を検出できるようにし、試料や目的に応じた高コントラストのＳＴＥＭ像を観察する。 - 特許庁

The microscope 11 includes a turning mirror 46 provided between an observation camera 29 for imaging a specimen 22 and an objective lens 24 to change the optical path of observation light from the specimen 22 by turning a reflecting surface thereof.例文帳に追加

顕微鏡１１には、標本２２を撮像する観察カメラ２９と、対物レンズ２４との間に、反射面を回動して標本２２からの観察光の光路を変更する回動ミラー４６が設けられている。 - 特許庁

A transparent conductive oxide layer 19 is set as an anode, and a probe 21 of an atomic force microscope is placed with a predetermined interval from a surface of the transparent conductive oxide layer 19, which is set as a cathode.例文帳に追加

透明導電性酸化物層１９を陽極とし、透明導電性酸化物層１９の表面から所定の間隔を隔てて原子間力顕微鏡の探針２１を設置しこれを陰極とする。 - 特許庁

When a sample having a low reflective index on the sample surface is observed, an operator moves an optical microscope 21 along an optical axis O so as to focus an illuminating light transmitted by a half mirror 23 onto the cantilever.例文帳に追加

試料表面の反射率が低い試料を観察するときは、オペレータは、ハーフミラー２３を透過した照明光がカンチレバ上にフォーカスするように、光学顕微鏡２１を光軸Ｏ方向に沿って移動させる。 - 特許庁

To provide an image processor for improving the success rate and accuracy of pattern matching of two images without lowering the efficiency of the inspection work of length measurement or the like, an image processing method and a scanning electron microscope.例文帳に追加

２つの画像のパターンマッチングの成功率および精度を向上させ、しかも、測長などの検査作業の効率を低下させない画像処理装置、画像処理方法および走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

An image of skin imaged by means of a microscope camera is input to a PC (steps S20 and S30), and using this image as a subject, skin groove components are extracted by means of a morphological filter to provide a skin groove multi-value image (steps S40 and S50).例文帳に追加

マイクロスコープカメラで撮影した肌の画像をＰＣに入力し（ステップＳ２０、Ｓ３０）、この画像を対象としてモルフォロジカル・フィルタにより皮溝成分を抽出し、皮溝多値画像を得る（ステップＳ４０、Ｓ５０）。 - 特許庁

To provide an optical apparatus for observation, with the optical apparatus configured so as to be switched between the position used for microscope observation and the position used for other purposes, by moving the illumination light source through a simple mechanism and using only simple operations.例文帳に追加

簡単な機構でかつ容易な操作のみで照明光源を移動させて顕微観察用途とそれ以外の用途にそれぞれ適した位置に切り換え得るようにした観察用光学機器を提供する。 - 特許庁

The scanning type microscope detects the observation light from the sample 2 with a PMT (photo multiplier tube) 66a and a PMT 66b by irradiating the sample 2 with excited light of a predetermined wavelength while scanning the sample 2 with the excited light without performing descanning with the observation light from the sample 2.例文帳に追加

走査型顕微鏡は、所定の波長の励起光を走査しながら試料２に照射し、試料２からの観察光をデスキャンせずにPMT６６ａおよびPMT６６ｂにより検出することが可能である。 - 特許庁

To provide an X-ray microscope for improving resolution of an X-ray image, and to provide a microscopic method using X rays.例文帳に追加

本発明はＸ線顕微鏡及びＸ線を用いた顕微方法に関し、Ｘ線画像の分解能を向上させることができるＸ線顕微鏡及びＸ線を用いた顕微方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a stereo-microscope by which a stereoscopic effect is prevented from getting different even when the angle of convergence is different between respective testers and whose assembly adjustment is facilitated even in the case of structure obtaining the same stereoscopic effect.例文帳に追加

検者各々により輻輳角が異なっても、立体感が異なってしまうことがなく、また同じ立体感が得られる構造としても組立調整が容易な双眼実体顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope or an image processing apparatus in which an imaging unit and a display unit which are separated from each other are connected by radio communication and which can deal with a communication error or a decoding error that may occur in connection by radio communication.例文帳に追加

離隔した撮像部と表示部とを無線通信で接続すると共に無線通信による接続で生じうる通信エラーや復号エラーに対応できる顕微鏡や画像処理装置を提供する。 - 特許庁

Since an optical filter 19 to cut the light on the infrared side is mounted in the fixed state in the internal optical path 13 of the microscope 1, the light in the infrared region to become heat rays can be securely eliminated.例文帳に追加

顕微鏡１の内部光路１３に赤外側の光をカットする光学フィルター１９が固定された状態で設けられているため、熱線となる赤外領域の光を確実に除去することができる。 - 特許庁

The positions relative to the developed images of both marks Mip and Mop are detected by a wafer alignment microscope and the image formation characteristics including various aberrations of the projection optical system are measured on the basis of the result of the detection.例文帳に追加

そして、現像された両マークＭｉｐ，Ｍｏｐの像の相対位置をウエハアライメント顕微鏡で検出し、その検出結果に基づいて投影光学系の諸収差を含む結像特性を計測する。 - 特許庁

A stage 8 is horizontally moved in such a way that an immersion objective lens of an inverted fluorescence microscope may generate a horizontal trajectory 25 of a predetermined shape and size to the bottom surface of the microplate 20.例文帳に追加

倒立型蛍光顕微鏡の液浸対物レンズがマイクロプレート２０の底面に対して予め定められた形状と大きさの軌跡２５を水平方向に描くように、ステージ８を水平方向に移動させる。 - 特許庁

The first blur image is an image of at least a part of the observation region of the sample, obtained by relatively moving an objective lens of a microscope and the sample along the optical axis direction of the objective lens.例文帳に追加

前記第１のぼやけ画像は、顕微鏡の対物レンズ及び試料を、前記対物レンズの光軸方向に沿って相対的に移動させて得られる、前記試料の少なくとも一部の観察領域の画像である。 - 特許庁

To change the display form of metadata displayed together with a thumbnail image, so as not to damage the visibility of the thumbnail image, while making it possible to change the size of the thumbnail image of an image obtained from a microscope.例文帳に追加

顕微鏡から得られた画像のサムネイル画像のサイズを変更可能としながら、サムネイル画像と共に表示されるメタデータの表示形態を、サムネイル画像の視認性を損なわないように変更すること。 - 特許庁

To provide a sensitivity unevenness correction method and device of a camera for a transmission electrode microscope capable of automatically establishing a correction factor of a sensitivity unevenness correction optimal for observation conditions.例文帳に追加

本発明は、観察条件に最適な感度ムラ補正の補正係数の設定を自動的に行なうことができる透過型電子顕微鏡用カメラの感度ムラ補正方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁