「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(149ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a stereomicroscope that makes left brightness and right brightness equal and has an inter-optical-axis distance-varying function without increasing the size of the body of the stereomicroscope, and to provide a lens drive mechanism for a microscope, which achieves the stereomicroscope.例文帳に追加

左右の明るさを同等にでき、実体顕微鏡本体の大型化を招くことなく光軸間距離可変機能を有する実体顕微鏡と、これを実現する顕微鏡のレンズ駆動機構を提供する。 - 特許庁

A light projection tube unit 101 is releasably attached to a microscope body and allows a vertical illumination module 103, a total reflection illumination module 104, and a spot illumination module 105 to be attached to and detached from an incident section 101A.例文帳に追加

投光管ユニット１０１は、顕微鏡の本体に着脱自在であり、落射照明モジュール１０３、全反射照明モジュール１０４およびスポット照明モジュール１０５を入射部１０１Ａに着脱することができる。 - 特許庁

Once the search mark is detected, a work stage WS is moved so that the work mark WAM is within a visual field of the alignment microscope 10 in a magnification ratio of ten, and the work mark WAM is detected with the magnification ratio of ten.例文帳に追加

探索マークが検出されたら、ワークマークＷＡＭが１０倍の倍率のアライメント顕微鏡１０の視野に入るようにワークステージＷＳを移動させ、１０倍の倍率でワークマークＷＡＭを検出する。 - 特許庁

To provide an apparatus, method and program for focus correction, and microscope which can stabilize the focus even when non-optical system elements generate a drift in different direction from the direction of a drift caused by optical system.例文帳に追加

光学系のドリフト方向とは異なる方向にドリフトを生じさせる光学系以外の要素があってもフォーカスを安定化し得るフォーカス補正装置、フォーカス補正方法、フォーカス補正プログラム及び顕微鏡を提案する。 - 特許庁

To provide means for observing simultaneously both a fluorescently labeled target cell and a pipette with a fluorescence microscope in the cases such as that for analyzing a fluorescently labeled nerve cell by the patch clump method.例文帳に追加

蛍光標識された神経細胞をパッチクランプ法で解析する場合などにおいて、蛍光標識された標的細胞とピペットの両方を蛍光顕微鏡下で同時に観察するための手段を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device of a critical-dimension measuring scanning electron microscope (CD-SEM) or the like, measuring accurately a pattern dimension on a photomask for nanoimprint by a retarding voltage application system.例文帳に追加

リターディング電圧印加方式によってナノインプリント用フォトマスク上のパターン寸法を正確に測定することができる微小寸法測定走査電子顕微鏡（CD-SEM）等の荷電粒子線装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an inexpensive electrolytic polishing device having a wide observation visual field of a sample by a transmission electron microscope, requiring an extremely small amount of electrolytic solution to be used, and reducing dramatically a load on an environment.例文帳に追加

使用する電解液が極めて少量であり、環境への負荷が劇的に減少すると共に、透過型電子顕微鏡による試料の観察視野も広く且つ安価な電解研磨装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope and a sample observation method capable of detecting scattered electrons of a high scattering angle, without receiving restrictions due to the spherical aberrations of an electron lens and improving the depth resolution.例文帳に追加

電子レンズの球面収差による制約を受けることなく高散乱角の散乱電子を検出し、深さ分解能を向上させることができる透過型電子顕微鏡及び試料観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope which is suitable for the high-resolution three-dimensional viewing of millimeter-size biological objects, wherein fast acquisition of data is possible and a structure is technically as simple as possible to implement.例文帳に追加

データの迅速な撮影が可能であって、構成が技術的にできるだけ簡単に実現されるような、ミリメータサイズの生物学的な対象物の高解像度による３次元的な観察に適した顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device having a mechanism in which ionic liquid shape and membrane thickness are adjusted to be adhered to samples so as to be suitable for various observations by electronic microscope or processing by ion beam.例文帳に追加

電子顕微鏡等による各種観察やイオンビームによる加工に適するように、試料に付着させるイオン液体の形状及び膜厚を調整する機構を有する荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a cantilever holder which can be used under various environments, regardless of the kinds of solution and gas and which can efficiently vibrate a cantilever, and to provide a scanning probe microscope with improved measurement accuracy being equipped with the holder.例文帳に追加

溶液やガスの種類を問わず、様々な環境下で使用可能で、カンチレバーを効率的に加振可能にしたカンチレバーホルダ及びそれを備えて測定精度を向上させた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a device for recognition of a thin-film sample position in an electron microscope, allowing multi-axial stage movement to bring easily an objective thin film sample piece within an observation visual field.例文帳に追加

本発明は簡単に目的の薄膜試料片が観察視野に入るように多軸ステージ移動することができる電子顕微鏡における薄膜試料位置認識装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To keep the clean state of a sample or the working region around the sample in case of doing the work during observation by microscope and to achieve good workability.例文帳に追加

顕微鏡装置において、顕微鏡観察を行いつつ作業を行う場合に、試料あるいは試料の周囲の作業領域の清浄性を保つことができるとともに作業性が良好となるようにする。 - 特許庁

Herewith, a CdTe-system semiconductor substrate will be realized in which a projection with a height of ≥5 nm is not observed within the visual field of 10 μm×10 μm when the surface of the substrate is observed by an atomic force microscope.例文帳に追加

これにより、原子間力顕微鏡で基板表面を観察したときに１０μｍ×１０μｍの視野範囲内に高さ５ｎｍ以上の突起が観察されないＣｄＴｅ系半導体基板が実現される。 - 特許庁

To provide an objective lens that is equal in outside diameter to an objective lens used for bright field observation and enables dark field observation by using a bright field illuminating optical system, and to provide a microscope that has the objective lens.例文帳に追加

対物レンズの外径が明視野観察用対物レンズと同等で、明視野照明光学系を用いて暗視野観察を可能とする対物レンズ及び該対物レンズを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a temperature measurement probe, a temperature measurement device and a temperature measurement method using the probe, which can be used in a general-purpose scanning probe microscope device and are hardly affected by the heat deformation of samples.例文帳に追加

汎用の走査型プローブ顕微鏡装置でも使用可能で、かつ試料の熱変形の影響を受けにくい温度測定用プローブ、および前記プローブを用いた温度測定装置および温度測定方法を提供する - 特許庁

To provide an image pickup unit which uses an electronic microscope for automatically sorting fine defects, shortens an image acquiring time, decreases a calculation cost of image processing, and suppressing a calculator resource, and to provide a method thereof.例文帳に追加

微細な欠陥を自動分類するための電子顕微鏡を用いた撮像ユニットにおいて、画像取得時間，画像処理の計算コスト、および、計算機資源を抑えた撮像ユニットおよびその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope constituted so as to eliminate the replacing necessity of a scanner corresponding to an observation target or an observation purpose and capable of performing the observation from a microregion to a wide region while holding high resolving power.例文帳に追加

観察対象や観察目的に応じてスキャナを交換する必要が無く、高い分解能を保ったまま、微小領域から広域までの観察を行うことのできる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an AF device capable of automatically setting AF control information for an objective lens required for AF operation control, a microscope device with the same, and a medium for storing a control program for the AF device.例文帳に追加

ＡＦ動作制御に必要な対物レンズのＡＦ制御情報を自動で設定可能なＡＦ装置と、これを有する顕微鏡装置、及びＡＦ装置の制御プログラムを記憶する媒体を提供すること。 - 特許庁

To provide a reinforcing method and a reinforcing device enabling a carbon nanotube to strongly adhere to a probe, which adheres to a tip of the probe of a handling equipment such as a scanning probe microscope, carbon nanotube tweezers or the like.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡あるいはカーボンナノチューブピンセットなどのハンドリング機器のプローブ先端部に付着されているカーボンナノチューブをプローブに強く付着させる補強方法および補強装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of substantially reducing the effects of hysteresis of piezoelectric elements even at rotation in a scanning direction and eliminating distortion of images in the case that relative scanning between a sample and a probe is performed by the piezoelectric elements.例文帳に追加

試料とプローブの相対的な走査をピエゾ素子によって行う場合に、走査方向の回転時にもピエゾ素子のヒステリシスの影響を著しく低減し、像のゆがみをなくした走査プローブ顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a lens barrel for an observing device, especially for a microscope, achieving various visual field positions, structural lengths and structural heights of a lens barrel to respective view angles.例文帳に追加

本発明の課題は、それぞれの視野角度に対して鏡胴の様々な視野位置もしくは構造長および構造高が実現可能である観察装置、特に顕微鏡のための鏡胴を提供することである。 - 特許庁

In the section observed with the horizontal force microscope, the area proportion of the phase having the lowest horizontal force is ≥5% and that of the phase having the highest horizontal force is ≥10%.例文帳に追加

断面を水平力顕微鏡で観察した場合、水平力が最も低い相の面積率が５％以上、最も水平力が高い相が10％以上である前記 記載の水現像型感光性フレキソ印刷版。 - 特許庁

In the example of the electronic component mounting state inspection method disclosed herein, first an observation image of the electrode pads 10a via a transparent mount board 10 by a differential interference microscope 1 is obtained as electronic image data.例文帳に追加

本発明に係る電子部品実装状態検査方法の一例では、まず、微分干渉顕微鏡１による透明な実装基板１０を介した電極パッド１０ａの観察像を、電子画像データとして得る。 - 特許庁

To provide a template matching method by which erroneous determination is prevented even when a ground pattern appears in extracting a pattern matched with a template from the images using a design pattern as the template, and to provide a scanning electron microscope.例文帳に追加

設計パターンをテンプレートとし、画像からテンプレートと一致するパターンを抽出するときに、画像に下地パターンが現れていても誤判断のないテンプレートマッチング方法、および走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope system and a light quantity detector which allows quantitative observation by informing an operator of the quantity of light radiated to a sample by a luminous stimulus.例文帳に追加

オペレータに対して、光刺激により標本に照射した光量を通知することにより、定量的な観察を可能とする走査型レーザ顕微鏡装置及び光量検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To improve the accuracy of measuring marks themselves and to prevent the erroneous judgment by the personal differences among measuring persons, the optical axis misalignment of an optical microscope used for measurement, etc., in measuring misalignment in superposition between different layers.例文帳に追加

異なるレイヤー間の重ね合わせずれ測定において、測定マーク自身の精度自体の向上と、測定者間による個人差や測定に用いる光学顕微鏡の光軸ずれ等による誤判定を防止。 - 特許庁

A sample stage 5 and a gas supply unit 9 are disposed in the sample chamber 7 of a focus ion beam system and a microscope 31 is interposed between a sample 6 on the sample stage 5 and the gas nozzle 10 of the gas supply unit 9.例文帳に追加

集束イオンビーム装置の試料室７内に試料ステージ５とガス供給ユニット９とを設け、試料ステージ５上の試料６とガス供給ユニット９のガスノズル１０との間にマイクロスコープ３１を設ける。 - 特許庁

A confocal laser microscope is used to observe autofluorescence emitted by a sampled stratum corneum, image data divided in the height direction of the stratum corneum are compared and analyzed, and the multilayer exfoliation state of the stratum corneum is measured.例文帳に追加

共焦点レーザー顕微鏡を用いて、採取した角層試料が発する自家蛍光を観察し、角層の高さ方向に分割した画像データを比較分析して角層の重層剥離状態を測定する。 - 特許庁

A photomask 11 is immersed in cooling water 14 and modified by removal using a probe of an atomic force microscope, whereby adhesion by frictional heat is prevented and it is made easy to remove chips by wet cleaning.例文帳に追加

フォトマスク１１を冷却水１４中に浸して原子間力顕微鏡の探針を用いて除去修正を行うことで、摩擦熱による付着を防ぎ、削り屑もウェット洗浄で除去しやすくするものである。 - 特許庁

An air bearing is introduced into a pipette rotating shaft fitted to a rotating shaft of a microscope to improve the rotational accuracy of a pipette, whereby the intracellular three-dimensional fine structure is observed with higher accuracy and quickly.例文帳に追加

顕微鏡の回転軸に取り付けられたピペット回転軸に空気軸受を導入し，ピペットの回転精度を向上させることによって，より高精度かつ迅速な細胞内3次元微細構造の観察を行う。 - 特許庁

To provide a scanning type optical microscope which can guide fluorescent light to a photodetector without lowering the confocal effect and without causing a loss of the fluorescent light for respective wavelengths of the fluorescent light on the multiple dying.例文帳に追加

多重染色時の各蛍光波長に対して、共焦点効果を落とすことなく、かつ蛍光を損失することなく光検出器に導くことができる走査型光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The probe for the scanning probe microscope includes a cantilever like base part 101 equipped with a conical needle part 101a, the insulating layer 102 formed the base part 101 and the electron discharge layer 103 formed on the insulating layer 102.例文帳に追加

円錐状の針部１０１ａを備えたカンチレバー状の基部１０１と、基部１０１の上に形成された絶縁層１０２と、絶縁層１０２の上に形成された電子放出層１０３とを備える。 - 特許庁

To mount an intermediate matter such as a wavelength conversion filter on a sample lighting optical system such as a microscope and perform lighting while making good use of the characteristic and feature of the intermediate matter, when lighting a sample with a converted wavelength.例文帳に追加

顕微鏡などの試料照明用光学系に波長変換フィルタのような中間物を装着し、変換した波長で試料を照明するとき、中間物の特性、特徴を生かした照明をする。 - 特許庁

To provide a microscope device including a time lapse imaging part which repeatedly images an object to be observed at a prescribed time interval and generates a plurality of images and appropriately manages data generated during time lapse photography.例文帳に追加

被観察物を繰り返し所定時間間隔で撮像して複数の画像を生成するタイムラプス撮像部を備えた顕微鏡装置において、タイムラプス撮影時に生成されるデータを好適に管理すること。 - 特許庁

Spherical graphite particles (G2) having a cabbage like appearance formed so that the graphite chips are directed to various directions in the observation of broken-out surfaces with a microscope is manufactured by allowing raw material graphite particles to collide with each other in a fluidizing state.例文帳に追加

原料黒鉛粒子(G_1)を流動状態で衝突させて、破断面の顕微鏡観察で黒鉛切片が種々の方向に向かうキャベツ状の外観を有する球形化黒鉛粒子(G_2)を製造する。 - 特許庁

STRUCTURE OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, METHOD FOR POSITIONING LIGHT INCIDENT ON MICRO OPENING OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND PROXIMITY FIELD OPTICAL RECORDER USING PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE例文帳に追加

近接場光プローブの構造、近接場光プローブの微小開口に入射する光の位置決め方法、走査型近接場光顕微鏡装置及び近接場光プローブを用いた近接場光記録装置 - 特許庁

To provide an apparatus and method for measuring a three dimensional shape capable of generating an accurate three dimensional model from a three dimensional coordinate of a test surface acquired by a microscope having an auto focus function.例文帳に追加

顕微鏡のオートフォーカス機能を用いて取得した試料表面の三次元座標から正確な三次元モデルを生成することができる三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法を提供する。 - 特許庁

To enable to detect a transmitted electron with a large scattering angle and to observe an STEM image of a high contrast according to a testpiece and a purpose, in a high-resolution scanning electron microscope having an in-lens type objective lens.例文帳に追加

インレンズ形対物レンズを有する高分解能走査電子顕微鏡において、散乱角の大きな透過電子を検出できるようにし、試料や目的に応じた高コントラストのＳＴＥＭ像を観察する。 - 特許庁

The microscope 11 includes a turning mirror 46 provided between an observation camera 29 for imaging a specimen 22 and an objective lens 24 to change the optical path of observation light from the specimen 22 by turning a reflecting surface thereof.例文帳に追加

顕微鏡１１には、標本２２を撮像する観察カメラ２９と、対物レンズ２４との間に、反射面を回動して標本２２からの観察光の光路を変更する回動ミラー４６が設けられている。 - 特許庁

A transparent conductive oxide layer 19 is set as an anode, and a probe 21 of an atomic force microscope is placed with a predetermined interval from a surface of the transparent conductive oxide layer 19, which is set as a cathode.例文帳に追加

透明導電性酸化物層１９を陽極とし、透明導電性酸化物層１９の表面から所定の間隔を隔てて原子間力顕微鏡の探針２１を設置しこれを陰極とする。 - 特許庁

When a sample having a low reflective index on the sample surface is observed, an operator moves an optical microscope 21 along an optical axis O so as to focus an illuminating light transmitted by a half mirror 23 onto the cantilever.例文帳に追加

試料表面の反射率が低い試料を観察するときは、オペレータは、ハーフミラー２３を透過した照明光がカンチレバ上にフォーカスするように、光学顕微鏡２１を光軸Ｏ方向に沿って移動させる。 - 特許庁

To provide an image processor for improving the success rate and accuracy of pattern matching of two images without lowering the efficiency of the inspection work of length measurement or the like, an image processing method and a scanning electron microscope.例文帳に追加

２つの画像のパターンマッチングの成功率および精度を向上させ、しかも、測長などの検査作業の効率を低下させない画像処理装置、画像処理方法および走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This invention makes it possible to measure automatically each height of a plurality of the fine particles (9) by a combination of a control of the microscope camera (4) with a personal computer (8) and an imaging processing technology.例文帳に追加

この発明は、パーソナルコンピュータ（８）による顕微鏡カメラ（４）の制御と、画像処理技術を組み合わせることによって、複数個の微粉体（９）のそれぞれの高さを自動的に計測することを可能にする。 - 特許庁

A microscopic sample is displaced at high speed in the optical axis direction of the microscope by extending/shortening the piezoelectric element using a calibration table of the voltage-extension characteristics for a piezoelectric element without using a feedback circuit etc.例文帳に追加

ピエゾ素子の電圧−伸長特性の校正表を用いることにより、フィードバック回路等を用いることなく高速にピエゾ素子を伸長・短縮させ、顕微試料を顕微鏡の光軸方向に高速に変位させる。 - 特許庁