「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(149ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a lens barrel for an observing device, especially for a microscope, achieving various visual field positions, structural lengths and structural heights of a lens barrel to respective view angles.例文帳に追加

本発明の課題は、それぞれの視野角度に対して鏡胴の様々な視野位置もしくは構造長および構造高が実現可能である観察装置、特に顕微鏡のための鏡胴を提供することである。 - 特許庁

In the section observed with the horizontal force microscope, the area proportion of the phase having the lowest horizontal force is ≥5% and that of the phase having the highest horizontal force is ≥10%.例文帳に追加

断面を水平力顕微鏡で観察した場合、水平力が最も低い相の面積率が５％以上、最も水平力が高い相が10％以上である前記 記載の水現像型感光性フレキソ印刷版。 - 特許庁

In the example of the electronic component mounting state inspection method disclosed herein, first an observation image of the electrode pads 10a via a transparent mount board 10 by a differential interference microscope 1 is obtained as electronic image data.例文帳に追加

本発明に係る電子部品実装状態検査方法の一例では、まず、微分干渉顕微鏡１による透明な実装基板１０を介した電極パッド１０ａの観察像を、電子画像データとして得る。 - 特許庁

To provide a template matching method by which erroneous determination is prevented even when a ground pattern appears in extracting a pattern matched with a template from the images using a design pattern as the template, and to provide a scanning electron microscope.例文帳に追加

設計パターンをテンプレートとし、画像からテンプレートと一致するパターンを抽出するときに、画像に下地パターンが現れていても誤判断のないテンプレートマッチング方法、および走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope system and a light quantity detector which allows quantitative observation by informing an operator of the quantity of light radiated to a sample by a luminous stimulus.例文帳に追加

オペレータに対して、光刺激により標本に照射した光量を通知することにより、定量的な観察を可能とする走査型レーザ顕微鏡装置及び光量検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To improve the accuracy of measuring marks themselves and to prevent the erroneous judgment by the personal differences among measuring persons, the optical axis misalignment of an optical microscope used for measurement, etc., in measuring misalignment in superposition between different layers.例文帳に追加

異なるレイヤー間の重ね合わせずれ測定において、測定マーク自身の精度自体の向上と、測定者間による個人差や測定に用いる光学顕微鏡の光軸ずれ等による誤判定を防止。 - 特許庁

A sample stage 5 and a gas supply unit 9 are disposed in the sample chamber 7 of a focus ion beam system and a microscope 31 is interposed between a sample 6 on the sample stage 5 and the gas nozzle 10 of the gas supply unit 9.例文帳に追加

集束イオンビーム装置の試料室７内に試料ステージ５とガス供給ユニット９とを設け、試料ステージ５上の試料６とガス供給ユニット９のガスノズル１０との間にマイクロスコープ３１を設ける。 - 特許庁

A confocal laser microscope is used to observe autofluorescence emitted by a sampled stratum corneum, image data divided in the height direction of the stratum corneum are compared and analyzed, and the multilayer exfoliation state of the stratum corneum is measured.例文帳に追加

共焦点レーザー顕微鏡を用いて、採取した角層試料が発する自家蛍光を観察し、角層の高さ方向に分割した画像データを比較分析して角層の重層剥離状態を測定する。 - 特許庁

A photomask 11 is immersed in cooling water 14 and modified by removal using a probe of an atomic force microscope, whereby adhesion by frictional heat is prevented and it is made easy to remove chips by wet cleaning.例文帳に追加

フォトマスク１１を冷却水１４中に浸して原子間力顕微鏡の探針を用いて除去修正を行うことで、摩擦熱による付着を防ぎ、削り屑もウェット洗浄で除去しやすくするものである。 - 特許庁

An air bearing is introduced into a pipette rotating shaft fitted to a rotating shaft of a microscope to improve the rotational accuracy of a pipette, whereby the intracellular three-dimensional fine structure is observed with higher accuracy and quickly.例文帳に追加

顕微鏡の回転軸に取り付けられたピペット回転軸に空気軸受を導入し，ピペットの回転精度を向上させることによって，より高精度かつ迅速な細胞内3次元微細構造の観察を行う。 - 特許庁

To provide a scanning type optical microscope which can guide fluorescent light to a photodetector without lowering the confocal effect and without causing a loss of the fluorescent light for respective wavelengths of the fluorescent light on the multiple dying.例文帳に追加

多重染色時の各蛍光波長に対して、共焦点効果を落とすことなく、かつ蛍光を損失することなく光検出器に導くことができる走査型光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The probe for the scanning probe microscope includes a cantilever like base part 101 equipped with a conical needle part 101a, the insulating layer 102 formed the base part 101 and the electron discharge layer 103 formed on the insulating layer 102.例文帳に追加

円錐状の針部１０１ａを備えたカンチレバー状の基部１０１と、基部１０１の上に形成された絶縁層１０２と、絶縁層１０２の上に形成された電子放出層１０３とを備える。 - 特許庁

To mount an intermediate matter such as a wavelength conversion filter on a sample lighting optical system such as a microscope and perform lighting while making good use of the characteristic and feature of the intermediate matter, when lighting a sample with a converted wavelength.例文帳に追加

顕微鏡などの試料照明用光学系に波長変換フィルタのような中間物を装着し、変換した波長で試料を照明するとき、中間物の特性、特徴を生かした照明をする。 - 特許庁

To provide a microscope device including a time lapse imaging part which repeatedly images an object to be observed at a prescribed time interval and generates a plurality of images and appropriately manages data generated during time lapse photography.例文帳に追加

被観察物を繰り返し所定時間間隔で撮像して複数の画像を生成するタイムラプス撮像部を備えた顕微鏡装置において、タイムラプス撮影時に生成されるデータを好適に管理すること。 - 特許庁

Spherical graphite particles (G2) having a cabbage like appearance formed so that the graphite chips are directed to various directions in the observation of broken-out surfaces with a microscope is manufactured by allowing raw material graphite particles to collide with each other in a fluidizing state.例文帳に追加

原料黒鉛粒子(G_1)を流動状態で衝突させて、破断面の顕微鏡観察で黒鉛切片が種々の方向に向かうキャベツ状の外観を有する球形化黒鉛粒子(G_2)を製造する。 - 特許庁

STRUCTURE OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, METHOD FOR POSITIONING LIGHT INCIDENT ON MICRO OPENING OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND PROXIMITY FIELD OPTICAL RECORDER USING PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE例文帳に追加

近接場光プローブの構造、近接場光プローブの微小開口に入射する光の位置決め方法、走査型近接場光顕微鏡装置及び近接場光プローブを用いた近接場光記録装置 - 特許庁

To provide an apparatus and method for measuring a three dimensional shape capable of generating an accurate three dimensional model from a three dimensional coordinate of a test surface acquired by a microscope having an auto focus function.例文帳に追加

顕微鏡のオートフォーカス機能を用いて取得した試料表面の三次元座標から正確な三次元モデルを生成することができる三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法を提供する。 - 特許庁

To enable to detect a transmitted electron with a large scattering angle and to observe an STEM image of a high contrast according to a testpiece and a purpose, in a high-resolution scanning electron microscope having an in-lens type objective lens.例文帳に追加

インレンズ形対物レンズを有する高分解能走査電子顕微鏡において、散乱角の大きな透過電子を検出できるようにし、試料や目的に応じた高コントラストのＳＴＥＭ像を観察する。 - 特許庁

The microscope 11 includes a turning mirror 46 provided between an observation camera 29 for imaging a specimen 22 and an objective lens 24 to change the optical path of observation light from the specimen 22 by turning a reflecting surface thereof.例文帳に追加

顕微鏡１１には、標本２２を撮像する観察カメラ２９と、対物レンズ２４との間に、反射面を回動して標本２２からの観察光の光路を変更する回動ミラー４６が設けられている。 - 特許庁

A transparent conductive oxide layer 19 is set as an anode, and a probe 21 of an atomic force microscope is placed with a predetermined interval from a surface of the transparent conductive oxide layer 19, which is set as a cathode.例文帳に追加

透明導電性酸化物層１９を陽極とし、透明導電性酸化物層１９の表面から所定の間隔を隔てて原子間力顕微鏡の探針２１を設置しこれを陰極とする。 - 特許庁

When a sample having a low reflective index on the sample surface is observed, an operator moves an optical microscope 21 along an optical axis O so as to focus an illuminating light transmitted by a half mirror 23 onto the cantilever.例文帳に追加

試料表面の反射率が低い試料を観察するときは、オペレータは、ハーフミラー２３を透過した照明光がカンチレバ上にフォーカスするように、光学顕微鏡２１を光軸Ｏ方向に沿って移動させる。 - 特許庁

To provide an image processor for improving the success rate and accuracy of pattern matching of two images without lowering the efficiency of the inspection work of length measurement or the like, an image processing method and a scanning electron microscope.例文帳に追加

２つの画像のパターンマッチングの成功率および精度を向上させ、しかも、測長などの検査作業の効率を低下させない画像処理装置、画像処理方法および走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an optical apparatus for observation, with the optical apparatus configured so as to be switched between the position used for microscope observation and the position used for other purposes, by moving the illumination light source through a simple mechanism and using only simple operations.例文帳に追加

簡単な機構でかつ容易な操作のみで照明光源を移動させて顕微観察用途とそれ以外の用途にそれぞれ適した位置に切り換え得るようにした観察用光学機器を提供する。 - 特許庁

An image of skin imaged by means of a microscope camera is input to a PC (steps S20 and S30), and using this image as a subject, skin groove components are extracted by means of a morphological filter to provide a skin groove multi-value image (steps S40 and S50).例文帳に追加

マイクロスコープカメラで撮影した肌の画像をＰＣに入力し（ステップＳ２０、Ｓ３０）、この画像を対象としてモルフォロジカル・フィルタにより皮溝成分を抽出し、皮溝多値画像を得る（ステップＳ４０、Ｓ５０）。 - 特許庁

The scanning type microscope detects the observation light from the sample 2 with a PMT (photo multiplier tube) 66a and a PMT 66b by irradiating the sample 2 with excited light of a predetermined wavelength while scanning the sample 2 with the excited light without performing descanning with the observation light from the sample 2.例文帳に追加

走査型顕微鏡は、所定の波長の励起光を走査しながら試料２に照射し、試料２からの観察光をデスキャンせずにPMT６６ａおよびPMT６６ｂにより検出することが可能である。 - 特許庁

To provide an X-ray microscope for improving resolution of an X-ray image, and to provide a microscopic method using X rays.例文帳に追加

本発明はＸ線顕微鏡及びＸ線を用いた顕微方法に関し、Ｘ線画像の分解能を向上させることができるＸ線顕微鏡及びＸ線を用いた顕微方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a stereo-microscope by which a stereoscopic effect is prevented from getting different even when the angle of convergence is different between respective testers and whose assembly adjustment is facilitated even in the case of structure obtaining the same stereoscopic effect.例文帳に追加

検者各々により輻輳角が異なっても、立体感が異なってしまうことがなく、また同じ立体感が得られる構造としても組立調整が容易な双眼実体顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope or an image processing apparatus in which an imaging unit and a display unit which are separated from each other are connected by radio communication and which can deal with a communication error or a decoding error that may occur in connection by radio communication.例文帳に追加

離隔した撮像部と表示部とを無線通信で接続すると共に無線通信による接続で生じうる通信エラーや復号エラーに対応できる顕微鏡や画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To change the display form of metadata displayed together with a thumbnail image, so as not to damage the visibility of the thumbnail image, while making it possible to change the size of the thumbnail image of an image obtained from a microscope.例文帳に追加

顕微鏡から得られた画像のサムネイル画像のサイズを変更可能としながら、サムネイル画像と共に表示されるメタデータの表示形態を、サムネイル画像の視認性を損なわないように変更すること。 - 特許庁

To provide a sensitivity unevenness correction method and device of a camera for a transmission electrode microscope capable of automatically establishing a correction factor of a sensitivity unevenness correction optimal for observation conditions.例文帳に追加

本発明は、観察条件に最適な感度ムラ補正の補正係数の設定を自動的に行なうことができる透過型電子顕微鏡用カメラの感度ムラ補正方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a light source device capable of supplying light from a light source simultaneously to a plurality of optical devices including a microscope, and changing the light quantity instantly, and to provide an optical device having the light source device.例文帳に追加

顕微鏡を含む複数の光学装置に対して光源からの光を同時に供給、かつ瞬時にその光量を変更することができる光源装置と、これを有する光学装置を提供すること。 - 特許庁

The camera port 50 is provided on an upper part of a microscope body 32 on the opposite side to the side on which the eye lens 39 is held as viewed from the optical axial direction of the light entering the lens barrel 38.例文帳に追加

そして、カメラポート５０は、鏡筒３８に入射する光軸の軸方向から見て、接眼レンズ３９が保持されている方向に対して反対側であって、顕微鏡本体３２の上部に設けられている。 - 特許庁

To provide means which allows an operator for easily acquiring a desired observation image under an arbitrary observation condition, in a scanning electron microscope having a plurality of different types of detectors.例文帳に追加

本発明の目的は、異なる種類の複数の検出器を有した走査電子顕微鏡において、任意の観察条件で操作者が所望する観察画像を容易に取得する手段を提供することにある。 - 特許庁

To obtain a microscope objective lens system comprising lenses made of only fluorite and fused quartz, capable of correcting aberrations in a far-ultraviolet region and a visible light region, and also, capable of sufficiently correcting various aberrations.例文帳に追加

遠紫外光領域と可視光領域において収差補正可能な、蛍石と石英ガラスだけで構成される顕微鏡対物レンズ系であって、諸収差を良好に補正した顕微鏡対物レンズ系を得る。 - 特許庁

The operation microscope 100 has an observation light path 109 that passes through a microscopic imaging optical system including a microscopic main objective lens system 101 and a magnification system 108 with variable magnification.例文帳に追加

本発明は、顕微鏡主対物レンズ系１０１および拡大率を可変な拡大システム１０８を含む顕微鏡結像光学系を通る観察光路１０９を備える、手術用顕微鏡１００に関するものである。 - 特許庁

To provide a structured illuminating microscope for acquiring a restored image reflecting the quantity of incident light as accurately as possible by calculating the accurate quantity of incident light from the output signal of a photodetector.例文帳に追加

光検出器の出力信号から正確な入射光量を算出し、入射光量をできるだけ正確に反映した復元画像を取得すことが可能な構造化照明顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To obtain a fluorescence microscope in which a plurality of objectives can be mounted and interference between the objective and a stage accompanied with switching operation for the objective is avoided even when the space of a spot where the objective is installed is restricted.例文帳に追加

対物レンズを設置する箇所のスペースが制限されている場合であっても、複数の対物レンズを搭載することができ且つ対物レンズの切り替え操作に伴う対物レンズとステージとの干渉を回避する。 - 特許庁

To provide a diaphragm correction method and a device for it capable of automatically and accurately correcting the axial displacement of an electronic microscope.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡の絞り補正方法及び装置に関し、電子顕微鏡の軸ずれ補正を自動でかつ正確に行なうことができる電子顕微鏡の絞り補正方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

The shape of the surface of a disk 10 is captured as an image due to interference by using a differential interference microscope constituted of an optical detection head 16 and an analyser 22 and this image is converted to an electric signal by a photodiode 28.例文帳に追加

光学検出ヘッド１６〜検光子２２で構成される微分干渉顕微鏡を用いてディスク１０表面の形状を干渉による画像として捕らえ、この画像をホトダイオード２８で電気信号に変換する。 - 特許庁

To provide a sample table driving device for an atomic force microscope capable of measuring surface force of a sample to be measured with high accuracy and high resolution by controlling the movement of the sample table with high reliability and repeatability.例文帳に追加

高い信頼性及び再現性にて試料台を移動制御して試料の表面力を高精度及び高分解能で測定することができる原子間力顕微鏡の試料台駆動装置の提供。 - 特許庁

The fluorescence 34 from a focal point by the second objective lens 27 within the section 33 to be examined is observed by the multi-photon microscope 1, by which the observation of the internal tissue of the section 33 to be examined is made possible.例文帳に追加

被検査部３３の内部における第２対物レンズ２７による集光点からの蛍光３４を多光子顕微鏡１で観察することにより、被検査部３３の内部組織の観察も可能となる。 - 特許庁

To automatically image a desired evaluation point (EP) on a sample, and automatically measure a circuit pattern formed at the evaluation points, in the dimension measurement of a circuit pattern using a scanning electron microscope (SEM).例文帳に追加

走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いた回路パターンの寸法計測において、試料上の任意の評価ポイント（ＥＰ）を自動で撮像し，評価ポイントに形成された回路パターンを自動で計測することを可能にする。 - 特許庁

The scanning type laser microscope is equipped with a 1st scanning optical system A for obtaining the scanning image of the sample 19 and a 2nd scanning optical system B for causing the singular phenomenon at the specific position of the sample 19.例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡は標本１９の走査画像を得るための第１の走査光学系Ａと、標本１９の特定の部位に特異現象を発現させるための第２の走査光学系Ｂとを備える。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope with a scanned image observation function which can remarkably reduce deterioration of scanned image quality and resolution due to noises superposed on a deflecting current for scanning of electron beam.例文帳に追加

電子ビームの走査のための偏向電流に重畳したノイズによる走査像の画質や分解能の劣化を、著しく軽減することができる走査像観察機能を有した透過電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide an analyzer used with an excellent electron microscope apparatus capable of shortening the analyzing time and improving the analyzing accuracy by suppressing the occurrence of the contamination on an analysis object surface.例文帳に追加

分析時間の短縮を図れるとともに分析対象体表面のコンタミネーションの発生を抑制して分析精度の向上を図れるといった、優れた電子顕微鏡装置と共に用いる分析装置を提供する。 - 特許庁