「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(147ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method appropriate for wafer edge observation using an electron microscope for investigating generation factors of foreign substances or the like, when these foreign substances or defects are discovered in wafer inspection.例文帳に追加

ウェハ検査において異物や欠陥を見つけた場合に、これら異物等の発生原因を探求するための電子顕微鏡を用いたウェハエッジ観察に関する好適な方法を提供する。 - 特許庁

By the above mechanism, a processing by using an ion beam, and observation of secondary electron image in optional direction through an electron microscope are made possible without taking out a fine piece of sample from the sample stand.例文帳に追加

このような構成によれば、微小試料片を試料台から取り外すことなく、イオンビームによる加工および任意の方向からの二次電子像および電子顕微鏡観察が可能となる。 - 特許庁

From the microstructure of a FePt thin film observed by an electron microscope, the island shapes of FePt particulate is confirmed, and the islands are completely isolated from one another.例文帳に追加

電子顕微鏡により観察されたＦｅＰｔ薄膜の微細構造からは、ＦｅＰｔ微粒子の形状が島状になっていることが確認され、個々の島は互いに完全に孤立している。 - 特許庁

To provide a scanning microscope which allows the inspection of a sample at various wavelengths and (or) in wavelength ranges and does not require the post adjustment of wavelength intrinsic component elements in an optical path at this time.例文帳に追加

種々の波長および（または）波長範囲で試料の検査を可能にし、その際波長固有の構成要素の後調整を光路内で行なう必要のない走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

it is usually a slow-growing cancer that may not have symptoms but can be found with regular pap tests (a procedure in which cells are scraped from the cervix and looked at under a microscope). 例文帳に追加

通常は増殖の遅いがんであり、症状がみられない場合もあるが、定期的なパパニコロウ試験（子宮頸部からこすり取った細胞を顕微鏡で調べる検査）で発見されることがある。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

To provide a voice controller for a surgical microscope which avoids damaging to advantages of voice control (avoiding of operation interruption, maintaining of sterilization in an operation area, for example) and which improves control of continuous functions.例文帳に追加

音声制御の利点（例えば、作業中断の回避、作業領域の無菌性の維持等）を損なわず、更に、連続的機能の制御を改善することができる音声制御装置の提供。 - 特許庁

Rails 32 to 36 are provided on the base body 31, and plurality of optical apparatus for extension such as a galvanoscanner 64 which is combined with the microscope 10 are arranged in a multistage in the vertical direction of the installation face 9a.例文帳に追加

顕微鏡１０に組合せ可能なガルバノスキャナ６４等の複数の拡張用光学装置を設置面９ａの垂直方向へ多段に配置するレール３２〜３６をベース本体３１に設ける。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope by which lowering in the sensitivity and the reduction of the scanning range caused, when a detector leaves a specimen is eliminated, and an impact on secondary electrons that are detected by a magnetic field generated by scanning coils is eliminated.例文帳に追加

検出器が試料から遠ざかることによる感度低下、走査範囲の減少を解消し、走査コイルが発生する磁場により検出される２次電子に対する影響を除くこと。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus capable of enhancing image quality of an in-vivo observation image of a bio-sample, and capable of freely selecting a scanning speed, a scanning pattern and an operating condition of a light source etc.例文帳に追加

生物標本のｉｎ-ｖｉｖｏ観察画像の画質を向上させ、走査速度や走査パターン、光源等の使用条件を自由に選択することができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

In a confocal microscope 11, luminous fluxes into which light is split by a light splitting member 22 and emitted from pin holes 22a and 22b are detected by the optical detectors 23a and 23b.例文帳に追加

共焦点顕微鏡１１では、光分離部材２２により分離されてピンホール２２ａおよび２２ｂから射出される光束が光検出器２３ａおよび２３ｂによりそれぞれ検出される。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus which enables an observer to automatically carry out a series of operations to perform photography by adjusting a light quantity without requiring specific skill, a light controllable apparatus and a light control method.例文帳に追加

検鏡者が特別の熟練を要せず、光量を調節して撮影を行う一連の動作を自動で行うことのできる顕微鏡装置、調光装置及び調光方法を提供する。 - 特許庁

An operator acquires information of the image of a large area while viewing the microscope and easily understands the position of the working area with respect to the whole area, thus the working efficiency is improved.例文帳に追加

顕微鏡を覗いたままで、広域画像の情報を得られるので、作業者は、現在作業中の領域の、全体に対する位置が、容易に理解できるようになり、作業能率が向上する。 - 特許庁

To provide an observation method for a microstructure of a polymeric material capable of analyzing a phase separation structure, a lamellar structure and an oriented state of a crystal of the polymeric material by a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡により高分子材料の相分離構造、ラメラ構造および結晶の配向状態を解析することが可能な高分子材料の微細構造の観察方法を提供する。 - 特許庁

The control part 121 controls the operation of the microscope on the basis of the parameter corresponding to a selected sample 102 in accordance with a sample selection instruction sent from a PC 123.例文帳に追加

この制御部１２１は、ＰＣ１２３から送られてくるサンプル１０２の選択の指示に応じ、当該選択されたサンプル１０２に対応付けられているパラメータに基づいて、顕微鏡装置の動作を制御する。 - 特許庁

To provide a mechanism for applying high-voltage to a sample for scanning electron microscope and capable of reducing a load to be applied to a sample stage and capable of eliminating the generation of accidents such as disconnection of a high-voltage cable.例文帳に追加

走査電子顕微鏡等用の試料に高電圧を印加する機構に関して、試料ステージへの負荷を軽減し、高電圧ケーブル断線等の事故をなくす機構を提供すること。 - 特許庁

To provide a stabilized direct-current power supply used for an electron microscope of which the output is stabilized in a short time by the compensation of resistance value fluctuation caused by the temperature drift of a direct-current load.例文帳に追加

本発明の目的は、直流負荷の温度ドリフトによる抵抗値変動を補償し、短時間で出力が安定する電子顕微鏡に用いられる直流安定化電源を提供することにある。 - 特許庁

To provide an SNOM(scanning-type near-field optical microscope) that can be operated in air for obtaining a high-resolution SNOM image where the influence of scattered light from an area other than the tip of a probe has been eliminated as much as possible.例文帳に追加

探針先端以外からの散乱光の影響が極力排除された、従って高分解能なＳＮＯＭ像を得ることのできる、空気中で動作可能なＳＮＯＭを提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for preventing an image distortion indicating a width and a dimension of a gap of a circuit formed by an SEM (scanning electron microscope) under the influence of an external electromagnetic radiation emitted from an adjacent manufacturing apparatus.例文帳に追加

隣接する製造装置から放出された外部電磁放射の影響下でＳＥＭにより形成された回路の幅及び間隔の寸法を示す画像の歪みを防止する装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR PRODUCING NEAR-FIELD OPTICAL PROBE, NEAR-FIELD OPTICAL PROBE, NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE, NEAR-FIELD MICRO MACHINING DEVICE AND NEAR- FIELD OPTICAL RECORDING REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

近接場光プローブの作製方法と近接場光プローブの作製装置、及び近接場光プローブ、近接場光学顕微鏡、近接場光微細加工装置、近接場光記録再生装置 - 特許庁

To provide a microscope by which a phase object or the ruggedness of a surface can be observed at comparatively low image formation power ≤4 times in a wide observation range and in a comparatively narrow range of spatial frequency distribution.例文帳に追加

結像倍率４倍以下の比較的低倍率で広い観察範囲で、空間周波数分布が比較的狭い範囲で、位相物体や表面の凹凸の観察を可能にする顕微鏡。 - 特許庁

To provide an extremely thin illumination light producing device for microscope and an observation method with which stereoscopic information of cells and the like can be acquired by using the device.例文帳に追加

顕微鏡用極薄照明光発生装置および前記顕微鏡用極薄照明光発生装置を用いて、細胞等の立体情報を獲得することができる観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system for operation capable of improving operation efficiency and reducing the burden of an operator by confirming a position to be observed in a part to be observed during the observation of a microscope for operation and improving operability for obtaining position information in a detected operating part space in the case of using a plurality of observing devices and treatment devices together.例文帳に追加

本発明は、手術用顕微鏡の観察中に、その観察部位において観察位置の確認が行なえるとともに、複数の観察装置、さらには処置装置を併用する際に、検出された術部空間における位置情報を得る操作性を向上させ、手術効率向上、術者の負担軽減を図ることができる手術用顕微鏡装置を提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

To obtain an illuminator for a stereoscopic microscope which can show resolution equal to or more than that obtained when a coaxial vertical illuminator is attached without the deficiency of illuminating luminosity in the case of being attached to the stereoscopic microscope, besides, whose cost is lower than that of the coaxial vertical illuminator, to which an auxiliary objective lens can be attached, and which can observe a sample with high magnification.例文帳に追加

実体顕微鏡に装着させると、照明光度を不足させることがなく、同軸落射照明装置を装着した場合の分解能と同等もしくはそれ以上の分解能を発揮させることができるにも拘らず、同軸落射照明装置よりも安価であり、補助対物レンズを取り付けることができ、高い倍率で試料を観察することができる実体顕微鏡の照明装置を提供する。 - 特許庁

To provide an interference microscope and a measuring apparatus, capable of measuring the surface shape of a sample (object to be measured) such as a wafer just by slightly inclining a reference mirror by a simple structure, identify accurate coordinate positions of dirt, pole pieces, etc., transmit and receive their accurate data to a charged particle beam device such as an electronic microscope and an image drawing device, and contribute more to an improvement in workability.例文帳に追加

簡易な構成により、参照ミラーを僅かに傾斜させるだけで、ウェハなどの試料（被測定物）の表面形状を計測し、ごみやポールピースなどの正確な座標位置を特定し、電子顕微鏡、描画装置などの荷電粒子ビーム装置にその正確なデータを送受信して、作業効率の向上に一層貢献することができる干渉顕微鏡及び測定装置を提供する。 - 特許庁

The ferroelectric capacitor includes a first ferroelectric layer in which a ferroelectric is sandwiched between a pair of electrodes and the ferroelectric has a surface roughness (RMS), measured by an atomic force microscope, of not lower than 10 nm; and a second ferroelectric layer which is formed on the first ferroelectric layer and has a surface roughness (RMS), measured by the atomic force microscope, of not higher than 5 nm.例文帳に追加

一対の電極間に強誘電体を挟持させてなり、該強誘電体が、原子間力顕微鏡で測定した表面粗さ（ＲＭＳ）が１０ｎｍ以上である第１強誘電体層と、該第１強誘電体層上に形成され、原子間力顕微鏡で測定した表面粗さ（ＲＭＳ）が５ｎｍ以下である第２強誘電体層とを有する強誘電体キャパシタである。 - 特許庁

In a transmission electron microscope having a fluorescent plate 6 for image observing and a television camera 7, the transmission electron microscope comprises an electron beam detector 8 formed with a hole allowing the electron beam which is incident to the television camera 7, and a control means for controlling a shutter 4 based on the exposure time calculated from the exposure time of a film shot.例文帳に追加

像観察用の蛍光板（６）とテレビカメラ（７）とを備えた透過型電子顕微鏡において、テレビカメラ（７）に入射する電子線（２）を遮断しない孔を形成した電子線検出器（８）と、電子線検出器（８）で測定した電子線量によりフィルム撮影時の露光時間を算出し、算出した露光時間に基づいてシャッター（４）を制御する制御手段（９）とを備えるようにしたものである。 - 特許庁

The surgical microscope system comprises a stand with at least a carrier arm, an optical unit having a microscope body, an objective, and at least one eyepiece tube, and at least one input unit having at least a display and at least a touch-based operating panel, the touch-based operating panel (7) being antimicrobial.例文帳に追加

少なくとも１つの支持アームを有するスタンドと、対物レンズ及び少なくとも１つの接眼鏡筒を有する顕微鏡本体を有する光学ユニットと、少なくとも１つの表示装置及び少なくとも１つの接触操作領域を有する少なくとも１つの入力ユニットとを含んで構成される手術顕微鏡等の顕微鏡において、前記接触操作領域（７）は、抗菌性に構成されていることを特徴とする。 - 特許庁

In the microscope objective having an inner frame holding an optical element and an outer frame for fitting and holding the inner frame inside, the inner frame is installed slidably in the optical axis direction inside the outer frame, so that the full length of the microscope objective is kept in each of a normal condition and a contracted condition in observation.例文帳に追加

上記課題は、光学素子を保持する中枠と前記中枠を内部に嵌め合わせて保持する外枠を有する顕微鏡対物レンズにおいて、前記内枠は前記外枠の内部で光軸方向に摺動可能に設置され、前記顕微鏡対物レンズの全長は、観察時の通常状態と収縮状態の、それぞれの状態で保持されることを特徴とする顕微鏡対物レンズによって解決される。 - 特許庁

The electron microscope is provided in which an excitation current or an impressing voltage to an objective lens or an acceleration cylinder for accelerating electron beams of the scanning electron microscope is cut off when the measuring object test piece is separated from underneath of the objective lens, or is made weak excitation compared with before separation for excitation current, or cut off or made to be lower voltage compared with before the separation for impressing voltage.例文帳に追加

上記目的を達成するために、走査電子顕微鏡の対物レンズ、或いは電子ビームを加速するための加速円筒への励磁電流、或いは印加電圧を、測定対象試料を対物レンズ下から離間させたときに、励磁電流をオフ、或いは離間させる前に比べて弱励磁、又は印加電圧をオフ、或いは離間させる前に比べて低電圧とする電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

To provide a scanning molecule counting method which detects signals from light emitting particles by measuring light for each of a plurality of wavelength bands different from each other using a confocal microscope or a multiphoton microscope, including a new method for correcting the reduction in the number of signals concurrently generated in the plurality of wavelength bands resulting from the deviation in position and dimensions of a photodetection region due to chromatic aberration of a lens.例文帳に追加

共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡を用いて複数の互いに異なる波長帯域毎に光を測定して発光粒子の信号を検出する走査分子計数法に於いて、レンズの色収差による光検出領域の位置と寸法のずれに起因する複数の波長帯域に同時に発生する信号の数の低減を補正する新規な手法を提案すること。 - 特許庁

In the energy dispersion type microanalyzer equipped with an electron microscope 11, an energy dispersion type X-ray analyzer 22 and computers 13 and 24 for controlling them, memory media 13a and 24a storing the analyzing condition set with respect to the electron microscope 11 and the analyzing condition set with respect to the energy dispersion type X-ray analyzer 22 on the basis of the condition corresponding to the set analyzing condition are provided.例文帳に追加

電子顕微鏡１１とエネルギー分散型Ｘ線分析装置２２とこれらを制御するコンピュータ１３，２４とを備えたエネルギー分散型マイクロアナライザにおいて、電子顕微鏡１１について設定する分析条件と、その条件に対応する条件でエネルギー分散型Ｘ線分析装置２２について設定する分析条件とを記憶した記憶媒体１３ａ，２４ａを設けている。 - 特許庁

The cryogenic energy storing means is disposed under the specimen holding means, whereby the cryogenic energy can be continuously supplied to the specimen, and the observation time for the specimen in an electron microscope can be thus extended.例文帳に追加

冷却エネルギー蓄積手段は、試料載置手段の下方に配置されることで、試料に持続的に冷却エネルギーを供給し、ひいては電子顕微鏡を用いて試料を観察する時間を延長できる。 - 特許庁

A differential interference microscope 1 includes: a light source 2; and a lateral deviation variable device 20 capable of varying a lateral deviation between first polarized light and second polarized light.例文帳に追加

光源２と、前記光源から射出された光のうち試料４表面上での第１の偏光と第２の偏光との横ズレ量を可変可能な横ズレ量可変装置２０と、を備えた微分干渉顕微鏡１に関する。 - 特許庁

To provide a microscope whose resolution is improved by partial spatial superposition during illumination by an exciting light beam and a deexciting light beam and/or a switching light beam on a sample which emits phosphor.例文帳に追加

励起光線および脱励起光線、および／または蛍光を発する試料におけるスイッチング光線による、照明中における部分的空間的重なりによって解像度を高めた顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The plated material for the terminal or the connector has the Au plating layer formed on the surface of a base material composed of the stainless steel thin plate, wherein the arithmetic surface roughness (Ra) of the plating layer measured by an atomic force microscope is 3.0 nm or less.例文帳に追加

ステンレス鋼薄板からなる基材の表面に、原子間力顕微鏡により測定した算術表面粗さ（Ra）が３．０ｎｍ以下であるＡｕめっき層を形成してなる端子又はコネクタ用めっき材である。 - 特許庁

To provide a microscope which adopts a compact illuminating device adopting an LED as a light source, achieving observation good in resolution and sensitivity, also obtaining uniform illumination free from an illumination spot, having high efficiency of utilizing light and making power consumption low.例文帳に追加

光源にＬＥＤを採用し、分解能と感度の高い観察ができると共に、照明斑のない均一な、光の利用効率の高い、低消費電力でコンパクトな照明装置を採用した顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide a heating device for a microscope by which the temperature of a transparent plate for heating on which an inspection sample is placed or a transparent plate for protection are always kept at a specified temperature, whose temperature disribution is uniform, and which can be made thinner.例文帳に追加

従来の顕微鏡用加温装置は検体を載せる発熱用透明板または保護用透明板が常に所望の温度に保つのが難しく、またその温度分布が不均一になりがちである。 - 特許庁

The bacteria measuring device 56 uses a CCD camera 60 with an optical microscope for observing bacterial threads deposited on a film 58 and uses an analyzer 62 for analysis to find the quantity and speed of the growth of the bacteria.例文帳に追加

細菌測定装置５６は、フィルム５８に付着した菌糸を、光学顕微鏡付きのＣＣＤカメラ６０で観察し、解析装置６２で解析することによって、細菌の成長量と成長速度を求める。 - 特許庁

In this microscope, opening dimensions of rectangle stop 40A is calculated by a microcomputer 70 on the basis of the dimensions of an imaging element disposed on the imaging device and/or the powers m1, m2 of variable magnification optical systems 5, 6.例文帳に追加

この顕微鏡では、撮像装置に設置された撮像素子の寸法および／または変倍光学系５，６の倍率ｍ１，ｍ２を基に、矩形絞り４０Ａの開口寸法がマイクロコンピュータ７０により算出される。 - 特許庁

To provide a microscope for a surgical operation constituted so that the lens and the like of an eye to be inspected can be clearly observed by effectively eliminating the virtual image of an illumination light source caused by light reflected on the cornea of the eye to be inspected.例文帳に追加

本発明は、被検眼の角膜反射光による照明光源の虚像を有効に除去して被検眼の水晶体等を明瞭に観察することが可能な手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The reduction of the transmittance is adjusted to be equal to that of a glass or quartz part not subjected to defect correction, by the vibration amplitude, indention depth, feedback gain and scanning interval of the probe 1 of the scanning probe microscope.例文帳に追加

透過率の低下量は欠陥修正していないガラスまたは石英部分と同じになるように走査プローブ顕微鏡の探針１の振動振幅と押し込み量とフィードバックゲインと走査間隔で調整する。 - 特許庁

To provide a micro-grid structure for holding specimens of an electron microscope which can reduce the possibility of breakage of a specimen holding film as well as easily discriminable between such as the front and back surfaces of a specimen, and to provide a manufacturing method of the specimens.例文帳に追加

マイクログリッドが有する試料を載置するための支持膜の破損の可能性を低減し、また、試料の表裏等の区別を容易にできるマイクログリッド及び電子顕微鏡用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

The microscope (30 to 80) includes an illuminating optical system (40) for irradiating the analyte under a prescribed illumination condition, an imaging optical system (70) for forming an image of the analyte, and an image sensor (80) for outputting an image signal.例文帳に追加

顕微鏡（３０〜８０）は、被検体に所定照明条件で照射する照明光学系（４０）と、被検体の像を形成する結像光学系（７０）と、画像信号を出力するイメージセンサ（８０）と、を備える。 - 特許庁

When the work W is observed under a microscope, first, one of the light sources 62A, 62B and 62C is arbitrarily selected and respective filter changeover means 70A and 70B are revolved in the direction shown by an arrow to combine filters 72.例文帳に追加

顕微鏡によりワークＷを観察する際、まず、光源６２Ａ、６２Ｂ、６２Ｃの内１つを任意に選択し、夫々のフィルタ切換え手段７０Ａ、７０Ｂを矢印方向に回動してフィルタ７２を組合わせる。 - 特許庁

A system controller 8 of the scanning laser microscope device outputs an A/D conversion clock (a) to an A/D converter 12 of the photometric apparatus 7 and outputs a pixel clock (p) to an arithmetic unit 13 of the photometric apparatus 7.例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡装置のシステムコントローラ８はＡ／Ｄ変換クロックａを測光装置７のＡ／Ｄ変換器１２に出力し、画素クロックｐを同じく測光装置７の演算装置１３に出力する。 - 特許庁