「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(143ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inexpensive scanning laser microscope with a film thickness measuring function which requires only small memory capacity for image data and does not require highly accurate high resolution in Z-axis drive.例文帳に追加

画像データのメモリ容量が少なくて済み、さらにＺ軸駆動分解能も高精度、高分解能である必要のない、安価な膜厚測定機能付き走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system capable of making more rapid observation, after switching of at least either the objective or the observing method, while preventing adverse effects caused by stray lights etc., in the switching.例文帳に追加

対物レンズ、及び観察法の少なくとも一方の切り換え時に迷光等によって生じる悪影響を回避させつつ、その切り換え後の観察をより迅速に行える顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a lens holding device capable of preventing the occurrence of a flaw caused by the mutual interference of lenses and being easily handled in manufacturing work, and to provide an objective lens for a microscope equipped with the lens holding device.例文帳に追加

レンズ同士の干渉によるキズの発生を防止し、製造作業上取り扱いの容易なレンズ保持装置およびこのレンズ保持装置を備えた顕微鏡用対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning type microscope which can acquire an image of a sample in a range where the sample exists in an optical axis direction even when a three-dimensional shape of the sample changes with the lapse of time.例文帳に追加

試料の立体的な形状が時間的に変化する場合でも、光軸方向に試料が存在する範囲で試料の画像を取得することができる走査型顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The measuring apparatus 100 includes the confocal optical microscope 110, an excitation light source 130 which emits excitation light for generating fluorescence from a fluorescent substance, and the light-receiving unit 140.例文帳に追加

測定装置１００は、共焦点光学顕微鏡１１０と、蛍光物質から蛍光を発生させるための励起光を発する励起光源部１３０と、受光ユニット１４０とを有している。 - 特許庁

To enable to change control contents described in memories of a microprocessor, an FPGA and a CPLD that are used as component elements of a scanning electron microscope, without moving from the development base of a manufacturer or a service center.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の構成要素として用いられるマイクロプロセッサ，ＦＰＧＡ，ＣＰＬＤのメモリに記述されている制御内容を、メーカの開発拠点・サービスセンタに居ながらにして変更する。 - 特許庁

The visual field of the transmission electron microscope is searched at a first magnifying power and sample stage coordinates to be recorded, designated on the transmitted electron beam image of a sample displayed in an image display section are calculated and stored (S13 and S14).例文帳に追加

第１の倍率で視野探しを行い、画像表示部に表示された試料の透過電子線像上で指定された記録対象の試料ステージ座標を計算し、記憶する（Ｓ１３，Ｓ１４）。 - 特許庁

This tissue piece treating device for manufacturing a microscope specimen of the tissue piece is characterized by being equipped with deterioration determination means 55, 84, 88, 102 capable of determining deterioration of the dehydrating agent solution.例文帳に追加

組織片の顕微鏡標本を作製するための組織片処理装置において、脱水剤溶液の劣化を判定することができる劣化判定手段５５，８４，８８，１０２を具備することを特徴とする。 - 特許庁

DISTYRYLBENZENE DERIVATIVE AND MATERIAL FOR FORMING THREE DIMENSIONAL MEMORY, LIGHT LIMITING MATERIAL, CURING MATERIAL FOR PHOTOCURABLE RESIN FOR USE IN PHOTOFABRICATION, AND FLUORESCENT PIGMENT MATERIAL FOR USE IN TWO-PHOTON FLUORESCENT MICROSCOPE, EACH COMPRISING THE SAME例文帳に追加

ジスチリルベンゼン誘導体及びこれを用いた三次元メモリ材料、光制限材料、光造形用光硬化樹脂の硬化材料、並びに二光子蛍光顕微鏡用蛍光色素材料。 - 特許庁

To provide a machine tool with an observation-point specifying function, which can easily specify (determine) where is an observation point in an observation target even while using a microscope system having a telecentric optical system.例文帳に追加

テレセントリック光学系顕微鏡システムを用いながらも、観察対象物のどこが観察点であるのかを容易に特定（判別）できるような観察点特定機能付きの工作機械を提供すること。 - 特許庁

A scanning confocal microscope 11 is provided with a piezoelectric element 28-1 for moving an object lens 25 in a z direction, and a piezoelectric element 28-2 for moving a stage 21 in the z direction.例文帳に追加

走査型の共焦点顕微鏡１１には、対物レンズ２５をｚ方向に移動させるピエゾ素子２８−１と、ステージ２１をｚ方向に移動させるピエゾ素子２８−２が設けられている。 - 特許庁

When the microscope is operated intentionally in an out-of-focus state, the cells look like having either bright spots or dark spots that can be used for reporting the number of cells in the sample.例文帳に追加

顕微鏡を意図的な焦点はずれ状態下で動作させると、細胞は、試料中の細胞の個数を報告するために使用できる明るいスポットまたは暗いスポットのいずれかを有するように見える。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope which is configured, in the case of acquiring fluorescence from pigments, to acquire each fluorescence, even when spectral components of the fluorescence by the respective pigments overlap one another.例文帳に追加

複数の色素からの蛍光を取得する場合において、各色素による蛍光のスペクトルが重なっている場合にも、それぞれの蛍光を取得することができるレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The metal microstructure exposed through an etching treatment using the etching solution is observed under an optical or laser microscope to determine a subgrain size, and the creep damage is derived from the subgrain size.例文帳に追加

このエッチング液によりエッチング処理して現出した金属微細組織を光学顕微鏡またはレーザ顕微鏡により観察し、サブグレインサイズを求め、このサブグレインサイズからクリープ損傷率を求める。 - 特許庁

The first liquid crystal panel is aligned by using three alignment marks on the panel and three cameras on the probe stage, and the alignment of the probe and the electrodes on the panel is checked by using a microscope.例文帳に追加

１枚目の液晶パネルは，パネル上の三つのアライメントマークとプローブステージ上の三つのカメラを用いてアライメントし，かつ，顕微鏡を用いてプローブとパネルの電極との位置合わせ状態を確認する。 - 特許庁

A thin-film sample 2 thinned down to allow for observation by a transmission type electron microscope is made from a model alloy 1 to be observed, and a mark 3 is manufactured on the thin-film sample 2.例文帳に追加

観察対象となるモデル合金１から、透過型電子顕微鏡で観察可能な厚さまで薄膜化された薄膜試料２が作製され、薄膜試料２にマーク３の作製が行なわれる。 - 特許庁

To provide a microscope capable of simultaneously performing excitation-observation even if an object to be observed contains a plurality of kinds of photoactivatable fluorescent material having fluorescent wavelength regions overlapping one other.例文帳に追加

蛍光波長域の互いに重複する複数種類の光活性化蛍光物質が被観察物に含まれていたとしても同時励起観察を行うことが可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To detect the information of a phase delay even if a plurality of kinds of polymers are in rubber states, when analyzing a composite material including the plurality of kinds of polymers by using an atomic force microscope.例文帳に追加

複数種類のポリマーを含む複合材料を、原子間力顕微鏡を用いて解析する際、複数種類のポリマーがゴム状態にある場合でも位相遅れの情報を検出する。 - 特許庁

This abrasive is characterized by including manganese dioxide particles having a non-acicular form at 3.0 or less of a fraction of a vertical axis to a lateral axis of a particle observed by a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡により観察された粒子の縦軸と横軸との比が３．０以下である非針状形態を有する二酸化マンガン粒子からなることを特徴とする研摩材である。 - 特許庁

The atomic force microscope 100 includes a cantilever 130 having a probe 142 at the tip, a support 110 supporting the cantilever 130, and a vibration generating part 120 giving vibration to the cantilever 130.例文帳に追加

原子間力顕微鏡１００は、先端に探針１４２を有するカンチレバー１３０と、カンチレバー１３０を支持する支持部１１０と、カンチレバー１３０に振動を与える振動発生部１２０とを備えている。 - 特許庁

To perform the simultaneous beam transmission of a plurality of ultrashort pulse laser beams having different single wavelengths while suppressing an extension of time width, thereby making it possible to perform a high-speed observation on a microscope.例文帳に追加

複数の異なる単一波長の超短パルスレーザ光を、時間幅の拡がりを最小限に抑えつつ同時に光伝送して顕微鏡による観察等を高速に行えるようにすること。 - 特許庁

The probe microscope 1 includes a cantilever 2 having a probe 21 contacting the to-be-measured object W, the first displacement detecting optical system 3, the second displacement detecting optical system 4, and an objective lens 7.例文帳に追加

プローブ顕微鏡１は、被測定物Ｗに接触する探針２１を有するカンチレバー２と、第１の変位検出光学系３と、第２の変位検出光学系４と、対物レンズ７とを備える。 - 特許庁

To provide a microscope device capable of illuminating the entire field of view, using a comparatively simple structure, even if objective lens is moved so as to have a component in a direction orthogonal to an optical axis of the objective lens.例文帳に追加

対物レンズをこの対物レンズの光軸と直交方向の成分を持つように移動させても、比較的簡易な構成で、視野全体を照明することができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for construction and processing of a three dimensional image in a transmission electron microscope TEM, which is simpler than before, concerning a technology associated with alignment of the method for construction and processing of the three dimensional image in the TEM.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）三次元像構築画像処理方法のアライメントに関する技術において、従来よりも簡便なＴＥＭ三次元像構築画像処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope objective causing no collision between the objective lens and a specimen even if the specimen is not flat when the specimen is moved and a revolver is turned.例文帳に追加

本発明では、試料に凹凸がある場合でも、試料の移動とレボルバの回転を行う際に対物レンズと試料の衝突が起きない顕微鏡対物レンズを提供することを課題とする。 - 特許庁

The prism-shaped oscillator measurement 13 is brought close to an optional sample surface as a probe and suitable to a probe for a scanning microscope observing the surface condition.例文帳に追加

振動子マス１３は四面体形状であり、その振動子マス１３を任意の試料表面にプローブとして近接させ、表面状態を観察する走査型力顕微鏡のプローブに適している。 - 特許庁

To provide an automatic focusing microscope capable of detecting a focus at the time of differential interference observation and realizing accurate detection by eliminating influence by the reflection of an internal optical system to the utmost.例文帳に追加

微分干渉観察時に焦点検出が可能であり、かつ内部光学系の反射による影響を極力無くし、高精度な検出が可能な自動焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

Therefore, when the microscope part 11 is turned over about a focusing part 17, the slide-type shutter 63 is closed to surely prevent dust and raindrops from sticking on the objective lens group (3).例文帳に追加

したがって、顕微鏡部１１を焦準部１７に対して上下反転させた際には、スライド式シャッタ６３を閉鎖することで、対物レンズ群３への塵埃や雨滴の付着が確実に防止される。 - 特許庁

To provide a confocal scanning transmission type electron microscope device and a three-dimensional tomographic observation method such that atom arrays of a thin-layer sample at different depths are observed through one image.例文帳に追加

共焦点走査透過型電子顕微鏡装置及び３次元断層像観察方法に関し、薄層状試料における異なった深さにおける原子配列を一画像で観察可能にする。 - 特許庁

It is preferable to apply the external force to the capsule 11 for submerged observation in the scanning electron microscope and the external force is preferably applied to the capsule 11 for submerged observation while vibrating the capsule.例文帳に追加

前記走査型電子顕微鏡内で前記液中観察用カプセルに外力を加えることが好ましく、前記液中観察用カプセルを振動させて外力を加えることが好ましい。 - 特許庁

The particle suitably has an average primary particle diameter of from 20 nm to 1 μm measured by a transmission electron microscope method, and average particle diameter of from 20 nm to 3 μm measured by a dynamic light scattering method.例文帳に追加

その中空粒子としては透過型電子顕微鏡法による平均一次粒子径が２０ｎｍ〜１μｍ、動的光散乱法による平均粒子径が２０ｎｍ〜３μｍが好適である。 - 特許庁

The microscope includes an optical system for changing a beam diameter and a field stop disposed at a position conjugate with a sample surface, in this order beginning from the side of the laser light source.例文帳に追加

上記課題は、レーザー光源から順に、ビーム径を変更する光学系と、標本面と共役な位置に配置された視野絞りとを備え、以下の関係式を満たすことによって解決される。 - 特許庁

In this configuration, the vibration of this frequency, which is transmitted from a floor face A through the second vibration resistant mount 3 to the intermediate frame 1, is absorbed by the dynamic vibration absorber, and not transmitted to the electron microscope E.例文帳に追加

この構成では、床面Ａから第２除振マウント３を通って中間フレーム１に伝わってきた当該周波数の振動は動吸振器によって吸収され、電子顕微鏡Ｅには伝わらない。 - 特許庁

To realize, in a detecting device and a confocal microscope having the detecting device, high resolution and high detection efficiency regardless of detected light rays of different wavelengths by using a simple structure means.例文帳に追加

検出装置と該検出装置を備えた共焦点顕微鏡において、波長が異なる検出光でも高解像度と高検出効率とを構造的に簡単な手段により実現する。 - 特許庁

To provide a stereomicroscope, specially a microscope for surgical operation by which the other picture is displayed within a microscopic observation visual field at a required time and by a required display method without losing the brightness of a microscopic image.例文帳に追加

顕微鏡像の明るさを失わず必要なとき必要な表示方法で他画像を顕微鏡観察視野内に表示することの出来る実体顕微鏡特に手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a data measuring method and a device of a tomograph, reducing an electron beam irradiation quantity to a sample, in the data measuring method and the device of the tomograph in a transmission type electron microscope.例文帳に追加

本発明は透過型電子顕微鏡におけるトモグラフのデータ測定方法及び装置に関し、試料への電子線照射量を減らすことができるトモグラフのデータ測定方法及び装置に関する。 - 特許庁

To solve the problem that it is difficult to show the analyzing position of a photoelectron analyzer on the image obtained by an optical microscope with a position reading function.例文帳に追加

本発明が解決しようとする問題点は、光電子分析装置で分析した位置が、位置読み取り機能付き光学顕微鏡で得た像のどこに位置するかを示すことが困難であったという点である。 - 特許庁

To provide a maceration medium supply apparatus, a fluorescent analytic inspecting device, and an incubation microscope which can stably perform temperature control over a sample and have simple constitution, and are reduced in cost.例文帳に追加

標本の温度制御を安定して行うことができる、構成が簡単で、価格的にも安価な液浸媒質供給装置、蛍光分光検査装置及び培養顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The near-field optical microscope can obtain the high-resolution near-field optical image in a perfect near- field area by excluding optical signals from samples in a far-field area.例文帳に追加

このような近接場光学顕微鏡では、Far Field領域における試料からの光信号は除外されて、完全な近接場領域での高分解能の近接場光学像を得ることができる。 - 特許庁

In an operating room, operating tools, tool stands carrying the tools, and peripheral devices such as a drip, an electrocardiograph and a microscope for operation are existent in addition to the magnetic imaging apparatus for testing and a bed.例文帳に追加

手術室には、検査用の磁気共鳴イメージング装置と寝台の他に手術器具類やそれを搭載する器具台、点滴、心電計、手術用顕微鏡などの周辺機器などが存在する。 - 特許庁

To provide the inspecting method of semiconductor device which can measure in direct carrier distribution at the cross-section of a semiconductor testing sample using a scanning probe microscope without cutting out a thin semicoductor test sample.例文帳に追加

半導体試料を薄く切り出さずに、該半導体試料の断面におけるキャリア分布を走査型プローブ顕微鏡により直接測定することが可能な半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

Light emitted by the optical transducer 8 into a microscope 16 is thus concentric light with the red light in the center, the green light on the periphery and the blue light further on the periphery.例文帳に追加

したがって、光変換器８から顕微鏡１６の内部に出射される光は、中心部が赤色光、その外周部が緑色光、さらにその外周部が青色光の同心円状の光になる。 - 特許庁

To obtain a scanning microscope capable of simultaneously observing morphological information, etc., on the same observed area as fluorescent observation with the fluorescent observation and capable of obtaining both observed images in a short time.例文帳に追加

蛍光観察と同一の注目領域における形態情報等を蛍光観察と併せて同時観察でき、かつ、短時間で両者の観察画像を得ることができる走査型顕微鏡。 - 特許庁

To provide a fluorescent cube which prevents excitation light from being made incident to an observation light path and can separate the excitation light from fluorescent light more precisely, and to provide a fluorescent microscope provided with the fluorescent cube.例文帳に追加

励起光の観察光路への入射を妨げ、励起光と蛍光をより正確に分離できる蛍光キューブおよびその蛍光キューブを備えた蛍光顕微鏡を提供する事を目的とする。 - 特許庁

To provide an anisotropic friction data acquisition method of a scanning probe microscope capable of acquiring anisotropic friction data in a minute region on the sample surface, when measuring various characteristics on the surface of a wafer or the like.例文帳に追加

ウェハ等の表面上の各種特性を測定するとき試料表面の微小領域で異方摩擦データを取得できる走査型プローブ顕微鏡の異方摩擦データ取得方法を提供する。 - 特許庁