「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(143ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for construction and processing of a three dimensional image in a transmission electron microscope TEM, which is simpler than before, concerning a technology associated with alignment of the method for construction and processing of the three dimensional image in the TEM.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）三次元像構築画像処理方法のアライメントに関する技術において、従来よりも簡便なＴＥＭ三次元像構築画像処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample preparation device for a microscope capable of preventing a sample observation surface from being deformed or damaged, and preventing a load of an exhaust system for exhausting the vacuum chamber inside from being increased.例文帳に追加

試料の観察表面が変形したり、ダメージを受けたりせず、真空チャンバ内を排気する排気装置の負荷が増大しない顕微鏡用試料作成装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an electron scanning microscope equipped with a function for making an object point 33 at a prescribed position even in an electro-optical condition in which precise control of an object point position of an objective lens 11 becomes difficult.例文帳に追加

対物レンズ１１の物点位置の正確な制御が難しくなるような電子光学条件においても、規定位置に物点３３を作るための機能を備えた走査電子顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of imaging a clear two-dimensional image and a three-dimensional image as the whole image, even when a high-brightness or low-brightness portion exists locally in an imaging domain.例文帳に追加

撮像領域内に局所的に高輝度又は低輝度の部位が存在しても、画像全体として鮮明な２次元画像及び３次元画像を撮像できる共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁

In a method for operating a charged-particle microscope, a first image of a first region of an object is recorded by a first setting, and a second image of a second region is recorded by a second setting.例文帳に追加

荷電粒子顕微鏡を操作する方法であって、第１設定で対象物の第１領域の第１画像を記録し、第２設定で対象物の第２領域の第２画像を記録する。 - 特許庁

To provide a scanning optical microscope using a wavefront conversion element which is less deteriorated in abaxial performance, is simple in a method of controlling the wavefront conversion element and is simple in the constitution of a pupil relay optical system or does not require the same.例文帳に追加

軸外での性能劣化が少なく、波面変換素子の制御方法が簡単で、瞳リレー光学系の構成が簡単か不要な波面変換素子を用いた走査型光学顕微鏡 - 特許庁

To provide a microscope apparatus designed so that one part of a light shield body can be opened/closed by a simple operation, and a specimen can be easily replaced while the one part of the light shield is kept open, and the specimen can be easily viewed from above.例文帳に追加

簡易な操作で遮光体の一部を開閉することができ、遮光体の一部を開放した状態で標本の交換と上方からの視認とを容易に行うことができること。 - 特許庁

In this case, claim 1 claims a superoxide anion decomposing agent composed of platinum fine powder having a particle size of 6 nm or less as observed under a microscope which is prepared under a metal salt reduction method. 例文帳に追加

この事例では、請求項1は、金属塩還元反応法により調製され、顕微鏡下で観察した場合に、粒径が6nm以下の白金の微粉末からなるスーパーオキサイドアニオン分解剤を請求している。 - 特許庁

To provide a microscope objective causing no collision between the objective lens and a specimen even if the specimen is not flat when the specimen is moved and a revolver is turned.例文帳に追加

本発明では、試料に凹凸がある場合でも、試料の移動とレボルバの回転を行う際に対物レンズと試料の衝突が起きない顕微鏡対物レンズを提供することを課題とする。 - 特許庁

The prism-shaped oscillator measurement 13 is brought close to an optional sample surface as a probe and suitable to a probe for a scanning microscope observing the surface condition.例文帳に追加

振動子マス１３は四面体形状であり、その振動子マス１３を任意の試料表面にプローブとして近接させ、表面状態を観察する走査型力顕微鏡のプローブに適している。 - 特許庁

To provide an automatic focusing microscope capable of detecting a focus at the time of differential interference observation and realizing accurate detection by eliminating influence by the reflection of an internal optical system to the utmost.例文帳に追加

微分干渉観察時に焦点検出が可能であり、かつ内部光学系の反射による影響を極力無くし、高精度な検出が可能な自動焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

Therefore, when the microscope part 11 is turned over about a focusing part 17, the slide-type shutter 63 is closed to surely prevent dust and raindrops from sticking on the objective lens group (3).例文帳に追加

したがって、顕微鏡部１１を焦準部１７に対して上下反転させた際には、スライド式シャッタ６３を閉鎖することで、対物レンズ群３への塵埃や雨滴の付着が確実に防止される。 - 特許庁

To provide a confocal scanning transmission type electron microscope device and a three-dimensional tomographic observation method such that atom arrays of a thin-layer sample at different depths are observed through one image.例文帳に追加

共焦点走査透過型電子顕微鏡装置及び３次元断層像観察方法に関し、薄層状試料における異なった深さにおける原子配列を一画像で観察可能にする。 - 特許庁

It is preferable to apply the external force to the capsule 11 for submerged observation in the scanning electron microscope and the external force is preferably applied to the capsule 11 for submerged observation while vibrating the capsule.例文帳に追加

前記走査型電子顕微鏡内で前記液中観察用カプセルに外力を加えることが好ましく、前記液中観察用カプセルを振動させて外力を加えることが好ましい。 - 特許庁

The particle suitably has an average primary particle diameter of from 20 nm to 1 μm measured by a transmission electron microscope method, and average particle diameter of from 20 nm to 3 μm measured by a dynamic light scattering method.例文帳に追加

その中空粒子としては透過型電子顕微鏡法による平均一次粒子径が２０ｎｍ〜１μｍ、動的光散乱法による平均粒子径が２０ｎｍ〜３μｍが好適である。 - 特許庁

The microscope includes an optical system for changing a beam diameter and a field stop disposed at a position conjugate with a sample surface, in this order beginning from the side of the laser light source.例文帳に追加

上記課題は、レーザー光源から順に、ビーム径を変更する光学系と、標本面と共役な位置に配置された視野絞りとを備え、以下の関係式を満たすことによって解決される。 - 特許庁

In this configuration, the vibration of this frequency, which is transmitted from a floor face A through the second vibration resistant mount 3 to the intermediate frame 1, is absorbed by the dynamic vibration absorber, and not transmitted to the electron microscope E.例文帳に追加

この構成では、床面Ａから第２除振マウント３を通って中間フレーム１に伝わってきた当該周波数の振動は動吸振器によって吸収され、電子顕微鏡Ｅには伝わらない。 - 特許庁

To realize, in a detecting device and a confocal microscope having the detecting device, high resolution and high detection efficiency regardless of detected light rays of different wavelengths by using a simple structure means.例文帳に追加

検出装置と該検出装置を備えた共焦点顕微鏡において、波長が異なる検出光でも高解像度と高検出効率とを構造的に簡単な手段により実現する。 - 特許庁

To provide a stereomicroscope, specially a microscope for surgical operation by which the other picture is displayed within a microscopic observation visual field at a required time and by a required display method without losing the brightness of a microscopic image.例文帳に追加

顕微鏡像の明るさを失わず必要なとき必要な表示方法で他画像を顕微鏡観察視野内に表示することの出来る実体顕微鏡特に手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a data measuring method and a device of a tomograph, reducing an electron beam irradiation quantity to a sample, in the data measuring method and the device of the tomograph in a transmission type electron microscope.例文帳に追加

本発明は透過型電子顕微鏡におけるトモグラフのデータ測定方法及び装置に関し、試料への電子線照射量を減らすことができるトモグラフのデータ測定方法及び装置に関する。 - 特許庁

To solve the problem that it is difficult to show the analyzing position of a photoelectron analyzer on the image obtained by an optical microscope with a position reading function.例文帳に追加

本発明が解決しようとする問題点は、光電子分析装置で分析した位置が、位置読み取り機能付き光学顕微鏡で得た像のどこに位置するかを示すことが困難であったという点である。 - 特許庁

To provide a maceration medium supply apparatus, a fluorescent analytic inspecting device, and an incubation microscope which can stably perform temperature control over a sample and have simple constitution, and are reduced in cost.例文帳に追加

標本の温度制御を安定して行うことができる、構成が簡単で、価格的にも安価な液浸媒質供給装置、蛍光分光検査装置及び培養顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The near-field optical microscope can obtain the high-resolution near-field optical image in a perfect near- field area by excluding optical signals from samples in a far-field area.例文帳に追加

このような近接場光学顕微鏡では、Far Field領域における試料からの光信号は除外されて、完全な近接場領域での高分解能の近接場光学像を得ることができる。 - 特許庁

In an operating room, operating tools, tool stands carrying the tools, and peripheral devices such as a drip, an electrocardiograph and a microscope for operation are existent in addition to the magnetic imaging apparatus for testing and a bed.例文帳に追加

手術室には、検査用の磁気共鳴イメージング装置と寝台の他に手術器具類やそれを搭載する器具台、点滴、心電計、手術用顕微鏡などの周辺機器などが存在する。 - 特許庁

To provide the inspecting method of semiconductor device which can measure in direct carrier distribution at the cross-section of a semiconductor testing sample using a scanning probe microscope without cutting out a thin semicoductor test sample.例文帳に追加

半導体試料を薄く切り出さずに、該半導体試料の断面におけるキャリア分布を走査型プローブ顕微鏡により直接測定することが可能な半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

Light emitted by the optical transducer 8 into a microscope 16 is thus concentric light with the red light in the center, the green light on the periphery and the blue light further on the periphery.例文帳に追加

したがって、光変換器８から顕微鏡１６の内部に出射される光は、中心部が赤色光、その外周部が緑色光、さらにその外周部が青色光の同心円状の光になる。 - 特許庁

To obtain a scanning microscope capable of simultaneously observing morphological information, etc., on the same observed area as fluorescent observation with the fluorescent observation and capable of obtaining both observed images in a short time.例文帳に追加

蛍光観察と同一の注目領域における形態情報等を蛍光観察と併せて同時観察でき、かつ、短時間で両者の観察画像を得ることができる走査型顕微鏡。 - 特許庁

To provide a fluorescent cube which prevents excitation light from being made incident to an observation light path and can separate the excitation light from fluorescent light more precisely, and to provide a fluorescent microscope provided with the fluorescent cube.例文帳に追加

励起光の観察光路への入射を妨げ、励起光と蛍光をより正確に分離できる蛍光キューブおよびその蛍光キューブを備えた蛍光顕微鏡を提供する事を目的とする。 - 特許庁

To provide an anisotropic friction data acquisition method of a scanning probe microscope capable of acquiring anisotropic friction data in a minute region on the sample surface, when measuring various characteristics on the surface of a wafer or the like.例文帳に追加

ウェハ等の表面上の各種特性を測定するとき試料表面の微小領域で異方摩擦データを取得できる走査型プローブ顕微鏡の異方摩擦データ取得方法を提供する。 - 特許庁

To provide a machine tool with an observation point focusing support function which is able to easily focus on an object to be observed, despite of the use of a telecentric optical system microscope system.例文帳に追加

テレセントリック光学系顕微鏡システムを用いながらも、観察対象物に対する焦点合わせを容易に実施できるような観察点焦点合わせ支援機能付きの工作機械を提供すること。 - 特許庁

To provide an illumination optical system for microscope which allows the state of illumination to continuously change between Koehler illumination and critical illumination, and can always obtain illumination and brightness suitable for observation.例文帳に追加

照明状態をケーラ照明とクリティカル照明の間で連続的に変化させることができ、常に観察に適した照野と明るさを得ることの出来る顕微鏡用照明光学系を提供すること。 - 特許庁

To provide a low-cost microscope device which can always hold the pupil of an objective and an aperture stop at optically conjugate positions and realize the best lighting effect.例文帳に追加

対物レンズの瞳位置と開口絞りの関係を常に光学的共役位置に保つことができ、最適な照明効果を期待できるとともに、コスト的にも安価にできる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fluorescent microscope which is made compact so as to facilitate transportation and management, can be disposed in a narrow place such as the inside of an incubator or a clean bench, and can achieve a samples observation through a remote control.例文帳に追加

運搬と管理が容易なように蛍光顕微鏡のコンパクト化を図り、インキュベーターやクリーンベンチ内部など狭い場所にも配置可能で、遠隔制御を通じた試料観察が可能であること。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus that is easily manufactured, has a simple configuration, and is easily operated, in order to observe images of a plurality of specimen cross-sections of different focusing positions in the direction of an optical axis, and to provide a microscope device.例文帳に追加

光軸方向に合焦位置の異なる複数の標本断面の画像を観察するため、装置の製造や構成が簡単で操作の容易な結像装置及び顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide an objective lens has the same outer diameter as an objective lens for bright-field observation, and enables dark-field observation by using an optical system for bright-field observation, and to provide a microscope that has the objective lens.例文帳に追加

対物レンズの外径が明視野観察用対物レンズと同等で、明視野照明光学系を用いて暗視野観察が可能な対物レンズ及び該対物レンズを有する顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A microscope 1 includes an illumination unit 10 for illuminating a specimen 30, an imaging optical system 40 for forming the image of the specimen 30, an imaging unit 50 for imaging the image of the specimen 30.例文帳に追加

顕微鏡１は、被検物３０を照明する照明ユニット１０と被検物３０の像を結像する結像光学系４０と被検物３０の像を撮像する撮像ユニット５０とを備える。 - 特許庁

A mirror body 51 of a microscope part 11 has on its reverse surface an opening part (61) for an objective lens group (3) and is fitted with a slide-type shutter 63 which closes the opening part (61).例文帳に追加

顕微鏡部１１の鏡体５１には、下面に対物レンズ群３用の開口部６１が形成されると共に、この開口部６１を閉鎖するスライド式シャッタ６３が取り付けられている。 - 特許庁

The supported section G is an area which is not covered with the transparent substrate 20, and provided at a position at which it backs away from an observation plane 21 of the transparent substrate 20 facing the microscope so as to form a step.例文帳に追加

この支持部Ｇは、透明基板２０に覆われない領域であって、透明基板２０の顕微鏡に対向する観察面２１より後退して段差を形成する位置に設けられる。 - 特許庁

To provide a neutron microscope, along with a neutron transmission magnified image forming method, capable of magnifying a state in a substance or structure in a non-destructive manner using a neutron by a transmission image to observe the same.例文帳に追加

中性子を用い、非破壊で物質や構造内部の状況を透過画像により拡大し観察できる中性子顕微鏡及び中性子透過拡大画像形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a mold for optical imprint which can be observed with an SEM (Scanning Electron Microscope), can be inspected with high throughput, and can form high-definition pattern, and to provide an optical imprint method using the same.例文帳に追加

ＳＥＭ観察が可能であり高スループットで検査を行うことができ、かつ、高精細なパターン形成が可能な光インプリント用のモールドと、これを用いた光インプリント方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscopic raman fine particle discovery device hardly generating thermal drift of a visual field of an optical microscope even if brightness of illumination light is raised, and detecting and identifying surely even fine foreign matters on a wafer.例文帳に追加

照明光の輝度を上げても光学顕微鏡の視野のサーマルドリフトが生じにくく、ウェーハ上の微小な異物も確実に検出・同定できる顕微ラマン微小パーティクル発見装置を提供する。 - 特許庁

To provide a wrong measurement verification method capable of verifying accurately wrong measurement such as measuring start position deviation, when performing inline automatic inspection of a sample such as a wafer by utilizing a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を利用してウェハ等の試料をインライン自動検査を行うとき測定開始位置ずれなどの誤測定を正確に検証できる誤測定検証方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample holder capable of continuously observing a sample even if the sample is heated and reducing a temperature difference between the sample and a heater, in a transmission electron microscope, and a sample observation method.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡において、加熱しても試料を連続観察することができ、かつ試料とヒーターの温度差を減らすことができる試料ホルダーおよび試料観察方法を提供する。 - 特許庁

The stand 22 has an image processing circuit 122 that processes the digital image signal supplied from the microscope body 21 in real time, and generates digital image data for displaying an image on a monitor 12.例文帳に追加

スタンド２２は、顕微鏡本体２１から供給されるデジタル画像信号をリアルタイムに処理し、モニタ１２に画像を表示させるためのデジタル画像データを生成する画像処理回路１２２を備える。 - 特許庁

To provide an electron microscope, capable of automatically adjusting an optical axis even when the optical axis deviates to the extent that an electron beam position cannot be confirmed on a fluorescent plate after the exchange of a electron source.例文帳に追加

電子源の交換後、蛍光板上で電子線の位置を確認することができないような光軸のずれがある状態でも光軸の自動調整が可能な電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁