「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(141ページ目) - Weblio英語例文検索

Images of the foreign matter particles in respective positions on a reference wafer are acquired using a microscope type surface inspection device, and are image-processed to calculate particle sizes of the respective foreign matter particles.例文帳に追加

また、顕微鏡型表面検査装置を用いて、基準ウェーハの各位置における異物粒子の画像を取得し、画像処理を行って各異物粒子の粒径を算出する。 - 特許庁

To provide a microscope device which suppresses hysteresis caused by inertia when rotating a rotation type optical element, and rotates the optical element to an instructed position with good reproducibility.例文帳に追加

本発明では、回転型光学素子を回転させる際に慣性により生じるヒステリシスを抑え、光学素子を再現良く指示位置に回転させる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

Particles to be created by changing the ratio of different elements for indexing a probe are used; an SEM image is obtained by a scanning electron microscope for detecting the position and the size; and further, the position and the size of characteristic X rays generated, when electrons irradiated to the particles by the scanning electron microscope are obtained, by obtaining element analysis images, by using an energy dispersion type characteristic X-ray detector.例文帳に追加

プローブのインデクシング用に異なる元素の比率を変えて作成する粒子を用い、走査型電子顕微鏡でＳＥＭ像を得て容易にその位置と大きさを検出し、さらに、走査型電子顕微鏡で粒子に電子を照射する時に発生する特性Ｘ線をエネルギー分散型特性Ｘ線検出器により元素分析像を得ることで位置と大きさを得る。 - 特許庁

In the standard sample for the microscope used in the calibration or inspection of the microscope having an uneven structure, wherein protrusions having a predetermined height and recessed parts having a predetermined depth are arranged on the surface of a substrate at a predetermined cycle, the cured matter of the hydrolysate of a metal alkoxide or the cured matter of an epoxy resin or an acrylic resin is used as the constituent material of the uneven structure.例文帳に追加

基板表面に所定の高さを有する凸部または所定の深さを有する凹部が所定の周期で配列された凹凸構造を有する顕微鏡の校正または点検に用いる顕微鏡用標準試料において、凹凸構造を構成する材料として金属アルコキシドの加水分解硬化物またはエポキシ樹脂やアクリル樹脂の硬化物を使用する。 - 特許庁

This detection device of the leakage current spot of a semiconductor chip is characterized by being equipped with an application means 13 for applying a material melting by heat and changing the reflection state of light on at least one side of the semiconductor chip 11, an optical microscope 12 for observing the material applied surface of the semiconductor chip 11, and an image processing device 14 electrically connected to the optical microscope 12.例文帳に追加

加熱により溶けて光の反射状態を変化させる物質を、半導体チップ１１の少なくとも片面に塗る塗布手段１３と、前記半導体チップ１１の物質塗布面を観察する光学顕微鏡１２と、この光学顕微鏡１２に電気的に接続された画像処理装置１４とを具備することを特徴とする半導体チップの漏洩電流箇所の検出装置。 - 特許庁

To optically connect light from a re-imaging area to a light receiving surface of a photodetector with no light protruded therefrom without using a photodetector having a large light receiving surface, when a confocal volume is enlarged for measuring a sample solution with a low emitting particle concentration in an optical analysis technique using an optical system of a confocal microscope or a multiphoton microscope.例文帳に追加

共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いた光分析技術に於いて、発光粒子濃度の低い試料溶液の計測のために、コンフォーカル・ボリュームを拡大した場合に、大きな受光面を有する光検出器を用いることなく、再結像領域からの光線がはみ出さずに光検出器受光面まで光学的に連結されるようにすること。 - 特許庁

The mask pattern correction method includes the steps of: acquiring three-dimensional information of a first portion where no black defect is present in a pattern edge of a mask pattern 5 by using a scanning probe microscope; and correcting a second portion where a black defect 2 is present in the pattern edge of the mask pattern 1 based on the three-dimensional information by using the probe of the scanning probe microscope.例文帳に追加

マスクパターン修正方法は、マスクパターン５のパターンエッジに黒欠陥が存在しない第１の部分の３次元情報を走査型プローブ顕微鏡を用いて取得するステップと、前記３次元情報に基づいてマスクパターン１のパターンエッジに黒欠陥２が存在する第２の部分を前記走査型プローブ顕微鏡のプローブを用いて修正を行うステップとを含む。 - 特許庁

The light-shielding device 7 for the microscope includes a first light-shielding part 16 having an opening abutting on the entire periphery of the leading end of the optical member 9, located nearest the stage side of the imaging optical system of the microscope 1 or nearest the stage side of the illuminating optical system thereof, and the light-shielding device 7 prevents external light from being incident on a specimen 3.例文帳に追加

顕微鏡１における結像光学系中の最もステージ側に位置する光学部材９、又は照明光学系中の最もステージ側に位置する光学部材の先端の外周全体に当接する開口部が形成された第１遮光部１６を有し、外部からの光が試料３へ入射することを防ぐことを特徴とする顕微鏡用遮光装置７。 - 特許庁

To provide a position analyzing method which enhances the frame rate of an image reader and prevents the calculation precision of a position from decreasing when the position of fluorescent particles or the like smaller than a diffraction limit is calculated using the image data acquired by an optical microscope using an image data acquired by an optical microscope using the image reader for reading an image using a plurality of line sensors or area sensors subjected to binning operation.例文帳に追加

ビニング動作する複数のラインセンサ、あるいは、エリアセンサを用いて画像を読み取る画像読取装置を用いて、光学顕微鏡により取得された画像情報を使用して、回折限界より小さな蛍光粒子等の位置を計算する際に、画像読取装置のフレームレートを向上させ、さらに位置の計算精度を低下させることのない解析方法を提供する。 - 特許庁

In order to solve the problems, the standard position of a measuring spot by a scanning electron microscope or the like is set based on position information of a standard pattern on an image acquired by the scanning electron microscope or the like, which is formed on a position separated from the measuring spot, and on information of a position relation between the standard pattern detected based on the design data and the measuring spot.例文帳に追加

上述のような問題を解決するため、測定個所から離間した位置に形成され、走査電子顕微鏡等によって得られる画像上の基準パターンの位置情報と、設計データに基づいて検出される基準パターンと測定個所の位置関係の情報に基づいて、走査電子顕微鏡等による測定個所の基準位置を設定する。 - 特許庁

The sample imaging apparatus A is provided with an oscillation detection means for detecting relative vibration between a sample mounted to the microscope and an object lens 3 of the microscope; a means for achieving focal point before oscillations detected by the oscillation detection means converge; and a determination means for determining whether oscillations detected by the oscillation detection means have stopped.例文帳に追加

前記顕微鏡に取り付けられた標本と前記顕微鏡の対物レンズ３との間の相対的な振動を検出する振動検出手段と、この振動検出手段により検出される振動が収束する前に焦点合わせを行う手段と、前記振動検出手段により検出される振動が収束したか否かを判断する判断手段とを備えている。 - 特許庁

The sample imaging apparatus 1 includes: a microscope unit 2 for imaging a blood smear including a stained hemocyte cell for acquiring a hemocyte image relating to a blood cell included in the blood smear; and an image processing unit 3 for detecting an abnormality relating to staining of the blood smear, based on the hemocyte image obtained by the microscope unit 2.例文帳に追加

標本撮像装置１は、染色された血球細胞を含む血液塗抹標本を撮像し、血液塗抹標本に含まれる血液細胞に関する血球画像を取得する顕微鏡ユニット２と、顕微鏡ユニット２により得られる血球画像に基づいて、血液塗抹標本の染色に関する異常を検出する画像処理ユニット３と、を備える。 - 特許庁

This method has a step for allowing focused electron beams to enter a sample and acquiring a convergent electron diffraction image on the sample by using a scanning transmission electron microscope 12, a step for calculating the lattice strain quantity in the sample based on the acquired convergent electron diffraction image, and a step for displaying the calculated lattice strain quantity corresponding to an electron microscope image of the sample.例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡１２を用い、収束した電子線を試料に入射させ、試料についての収束電子回折像を取得するステップと、取得された収束電子回折像に基づいて、試料における格子歪み量を算出するステップと、算出された格子歪み量を、試料の電子顕微鏡像に対応させて表示するステップとを有している。 - 特許庁

To provide an automatic focus detecting method capable of always detecting a high-precision focus even on an object image to be processed which has a step and is composed of a complicated pattern in a device which performs image processing such as size measurement by using a combination of a microscope and an imaging device which picks up a light image of an object formed by the microscope.例文帳に追加

顕微鏡とこれにより形成され被写体の光像を撮像する撮像装置とを組み合わせ、寸法測定等の画像処理を行う装置において、段差があり、複雑なパタ−ンで構成される被写体像でも、常に、処理対象となる被写体像に対して高精度の焦点を検出することができる自動焦点検出方法を提供する。 - 特許庁

When a sample to be cut and separated is in the outside of a predetermined collection radius of the system, in order to raise the system and move the center of the sample to be cut and divided from the optical axis of the microscope, the slide is moved to a predetermined position in parallel with the optical axis of the microscope.例文帳に追加

次に切り分ける標本が粘着性採集装置の所定の採集半径の外側にある場合は、粘着性採集装置を上昇させ切り分ける標本の中心を顕微鏡の光軸から外すためにスライドを顕微鏡の光軸に対して所定位置まで平行移動させ、粘着性採集装置を試料上まで下降させ、次の１つ以上の標本を切り分ける。 - 特許庁

To realize a detection optical path made as short as possible by the assist of a structurally simple means concerning the design of a microscope, especially, a confocal scanning type microscope having a light source for irradiating an object to be inspected, a spectroscopic device for separating transmitted light passing through the object and fluorescence formed by the object and a separating device acting on the transmitted light.例文帳に追加

検査される対象物を照射するための光源と、対象物を通過する透過光および対象物で形成される蛍光を分離するための分光装置と、透過光に作用する分離装置とを有する特に共焦点走査型顕微鏡のための顕微鏡設計に関し、できる限り短い検出光経路が、構造的に簡素な手段の助けによって実現される。 - 特許庁

After the surface of the sample for microscope observation, cut out from a substrate sample, is processed by FIB, the vicinity of the surface of the sample is scanned with a probe 4 of a probe microscope and ground by a mechanical method, electrochemical reaction, or an optical technique, such as oxidization or annealing, to conduct processing of removing ionic elements implanted by ion irradiation.例文帳に追加

基板サンプルより切り出された顕微鏡観察用試料の表面をＦＩＢによって加工処理した後、試料の表面近傍をプローブ顕微鏡探針４を走査して機械的方法、電気化学的反応、あるいは酸化、アニーリングといった光学的手法によって研磨することによりイオン照射によって打ち込まれたイオン元素を除去する加工を行うものである。 - 特許庁

The observation device used in observing a sample comprises a moving stage rotatable around a first axis of rotation, on which the sample is placed, a first microscope for observing the sample in case the first axis of rotation is at a first angle of rotation and a second microscope for observing the sample in case the first axis of rotation is at a second angle of rotation.例文帳に追加

試料を観察する観察装置において、第１の回転軸を中心に回転可能であり、前記試料を載置する移動ステージと、前記第１の回転軸が第１の回転角度の場合に、前記試料を観察する第１の顕微鏡と、前記第１の回転軸が第２の回転角度の場合に、前記試料を観察する第２の顕微鏡とを有することを特徴とする。 - 特許庁

The gallium injected into the surface is crystallized and removed by a chelating agent which specifically couples with gallium by an electric field generated by a voltage applied on a conductive probe of a submerged scanning probe microscope with addition of a chelating agent which specifically couples with gallium, or by a high electric field enhanced at the top of the probe by irradiating a conductive probe of a submerge scanning probe microscope with laser light.例文帳に追加

ガリウムと特異的に結合するキレート剤を添加した液中走査プローブ顕微鏡の導電性探針に電圧印加して電界または液中走査プローブ顕微鏡の導電性探針にレーザを照射して針先で増強された高電界により表面に注入されたガリウムを析出させ、ガリウムと特異的に結合するキレート剤で除去する。 - 特許庁

In this length measuring method by the scanning electron microscope, the scanning electron microscope is auto-focused with a measuring point, using an output from a sensor for detecting a distance from an objective lens to the sample, and a change of a sample signal emitted from the sample is monitored while changing an excitation current of the objective lens, to detect the excitation current ΔIobj of the objective lens corresponding to a focus shift.例文帳に追加

本発明の走査形電子顕微鏡による測長方法は、対物レンズから試料までの距離を検出するセンサの出力を用いて走査形電子顕微鏡を測定ポイントにオートフォーカスさせ、対物レンズの励磁電流を変化させながら試料から放出された試料信号の変化をモニターしてフォーカスずれに相当する対物レンズの励磁電流ΔIobjを検出する。 - 特許庁

To provide a microscope objective lens with a socket type frame for position correction which is applicable by being combined with various cover glasses and/or various liquid immersion liquid and/or at various working temperature, which can be moved in an axial direction, which can be used instead of a compression spring used for the microscope objective lens and other objective lens and further which can remove a defect of the spring.例文帳に追加

様々なカバーガラスおよび/または様々な液浸液と組み合わせて、および/または様々な作業温度において適用可能な軸方向に移動でき、顕微鏡対物レンズおよびその他の対物レンズに使用される圧縮バネの代わりになり、しかもバネの欠点を取り除くことができる位置修正用ソケット型フレームの付いた顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁

This scanning type probe microscope is provided with a cantilever 21 having a probe 20 opposed to a sample 12, a measuring part (optical lever type optical microscope and feedback servo control loop) for measuring interatomic force or the like generated between the probe and the sample when the probe scans a surface of the sample, and a moving mechanism for varying relatively positions of the probe and the sample to conduct a scanning operation.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、試料１２に対向する探針２０を有するカンチレバー２１、探針が試料の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる原子間力等を測定する測定部（光てこ式光学顕微鏡やフィードバックサーボ制御ループ）、探針と試料の位置を相対的に変化させ走査動作を行わせる移動機構を備える。 - 特許庁

To provide a light source device for a microscope that is easy to use by doing away with a problem of a combination of a lamp with a light control device by making it possible to suitably drive a plurality of lamps by a power source.例文帳に追加

１つの電源で複数のランプを適切に駆動可能とすることにより、ランプと調光装置の組み合わせの問題をなくし、使いやすい顕微鏡用光源装置を提供すること。 - 特許庁

The amorphous silica has a primary particle size of 18 to 50 nm as measured by a small angle X-ray scattering method, and each particle of the amorphous silica has a circularity of 0.70 to 0.85 as observed with an electron microscope.例文帳に追加

Ｘ線小角散乱法で測定した一次粒子径が１８乃至５０ｎｍであり、電子顕微鏡で観察した個々の粒子の円形度が０．７０乃至０．８５であることを特徴とする。 - 特許庁

The X-ray microscope 1 is equipped with: an X-ray source 10 emitting an X-ray; an oblique incidence mirror for illumination 20; an oblique incidence mirror for image formation 30; an X-ray detector 40; and a moving means 50.例文帳に追加

Ｘ線顕微鏡１は、Ｘ線を発するＸ線源１０、照明用斜入射ミラー２０、結像用斜入射ミラー３０、Ｘ線検出器４０及び移動手段５０を備えている。 - 特許庁

Accordingly, the movement within the horizontal plane of the X-Y stage is performed by the rotational control around the straight line in the perpendicular direction in the same manner as in the movement of the stage of the conventional manual microscope.例文帳に追加

したがって、Ｘ−Ｙステージの水平面内の移動は、従来のマニュアル式顕微鏡におけるステージの移動と同様に、垂直方向の直線の周りの回転操作によって行われる。 - 特許庁

XY slow motion mechanisms 6, 12 of a scanning probe microscope are arranged on both the sample side and the cantilever side, both XY slow motion mechanisms 6, 12 are independently operated, and a probe 1a and a sample 2 are releatively scanned.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のXY微動機構６、１２をサンプル側とカンチレバー側の双方に設け、双方のXY微動機構６、１２を独立に動作させて、探針１ａとサンプル２を相対的に走査させた。 - 特許庁

To provide an incubator enabling observing cell culture process continuously for a long time if the culture fluid temperature on the stage of a microscope can be kept at 37°C and the carbon dioxide concentration in a liquid surface atmosphere at 5%.例文帳に追加

顕微鏡ステージ上で培養液温度を３７℃、液面雰囲気の二酸化炭素濃度を５％に保持することができれば、細胞培養過程を長時間連続して観察することが可能となる。 - 特許庁

High vacuum inside the microscope body part 2 is influenced on the inside of a Faraday cup 35 by opening a valve 37 of an exhaust passage 36, and an accurate probe current is measured inside the sample chamber 1 held in low vacuum.例文帳に追加

排気路３６のバルブ３７を開いて、鏡体部２内の高真空をファラデーカップ３５内に作用させ、低い真空に保たれた試料室１内で正確なプローブ電流を測定する。 - 特許庁

In morphological observation of the membrane cross-section by an electron microscope, the width of the lamella structure composed of the polymer segment (B) to form the micro-phase separation structure shows that it is in the range of 5-200 nm.例文帳に追加

膜断面の電子顕微鏡によるモルフォロジー観察において、ミクロ相分離構造を形成するポリマーセグメント（Ｂ）からなるラメラ構造の幅が、５〜２００ｎｍの範囲にあることを示す。 - 特許庁

To provide a microscope for operation which enables an operator to carry out the operation while surely recognizing the perspective of an operating site in compliance with the control and operation appliances of a viewing optical system and the insertion of an endoscope.例文帳に追加

観察光学系の操作や術具、内視鏡の挿入に合わせて、術者が術部の遠近感を確実に把握しながら手術が実施できる手術用顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

A controller 111 controls a scanning confocal microscope 100, and sequentially acquires a slice image for an observation surface for each height of a sample 101 over an acquired range in the height direction.例文帳に追加

コントローラ１１１は、走査型共焦点顕微鏡１００を制御して、試料１０１の高さ毎の観察面に対するスライス画像を、高さ方向の取得範囲に亘り順次取得させる。 - 特許庁

To provide a revolver rotational position detecting device which can accurately detect the rotational position of a revolver with simple structure and can be made small in size and low in cost and to provide a microscope provided with the device.例文帳に追加

簡単な構造でレボルバの回転位置を正確に検出することができ、小型化および低コスト化が可能なレボルバ回転位置検出装置およびそれを備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A computer 13 stores data being the reference of the brightness, data being the reference of the color tone and data being the reference of a position to a memory in advance, and sets a reference specimen to the stage of the microscope 1.例文帳に追加

計算機１３は、あらかじめ明るさの基準となるデータ、及び色合いの基準となるデータ、位置の基準となるデータをメモリに格納し、顕微鏡１のステージに基準試料をセットする。 - 特許庁

To make preheating time shorter and a temperature controls space smaller in order to facilitate the observation of the viable cells held at a temperature at which the cells are desired to be observed with a microscope placed within a room of ordinary temperature.例文帳に追加

常温の室内に置かれた顕微鏡で、観察したい温度に保持された生細胞を容易に観察できるようにするには予熱時間の短縮、温度制御空間の縮小が課題である。 - 特許庁

To provide a microscope device which easily keeps a photodetector and a surface of a glass slide in a parallel state even when dimension in a longitudinal direction of the photodetector is made large, and is accurately focused.例文帳に追加

受光部の長手方向の寸法を大きくした場合であっても、容易に受光部とスライドガラスの面を平行状態に保つことが可能であり、精度よく合焦できる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

In the microscope apparatus, a standard sample for generating reflection light uniformly in a scope of actual visual field of an imaging means is arranged at a position of the sample 13 in an optical system to insert and pull it into/out of the optical system (not shown).例文帳に追加

撮像手段の実視野範囲内において一様に反射光を生じる標準標本が、標本１３の位置において、光学系中に挿脱可能に配置されている（図示せず）。 - 特許庁

To provide an objective lens for an optical microscope, with the objective lens, having a simple structure or a means for preventing axis displacement, after effective alignment adjustment and for reducing degradation in visibility, using a simple structure.例文帳に追加

簡単な構造にて、有効に心出し調整後に於ける心ずれが防止され、見えの劣化が低減される機構又は手段を有する光学顕微鏡用の対物レンズを提供すること。 - 特許庁

In a microscope system 1, a supply arm 35 for supplying a slide glass SG to a stage 15 is made independent of an ejection arm 36 for ejecting the slide glass SG from the stage 15.例文帳に追加

顕微鏡システム１は、ステージ１５へスライドガラスＳＧを供給する供給アーム３５と、当該ステージ１５から当該スライドガラスＳＧを排出する排出アーム３６とを互いに独立させた。 - 特許庁

To provide a magnetic field applying device of an electron microscope wherein the application correcting angle of a sample can be increased without enlarging the device.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡の磁場印加装置に関し、装置を大型化することなく試料の印加補正角を大きくとることができる電子顕微鏡の磁場印加装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

Near the observation surface of a liquid crystal substrate 5, there is installed, in a manner covering this substrate 5, a soundproof plate 23 having an observation opening part 24 on the optical axis of the objective lens 15 of the microscope 13.例文帳に追加

液晶基板５の観察面に近接し、かつ顕微鏡１３の対物レンズ１５を通る光軸上に観察用の開口部２４を設けた防音板２３を液晶基板５を覆って設けた。 - 特許庁

To provide a slit lamp microscope device that examines a patient's eye by means of continuous illumination using an LED and can capture images of the eye during the examination by means of pulse illumination using the LED.例文帳に追加

LEDを用いて連続照明により患者眼の観察を行い、観察中にそのLEDを用いてパルス照明により眼の撮影を行うことができる細隙灯顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning type confocal microscope which can easily align the spot of the detecting light condensed by a detector lens and the opening of a light shielding plate and a positioning method for the light shielding plate.例文帳に追加

検出器レンズで集光された検出光のスポットと遮光板の開口とを、簡易に一致できる走査型共焦点顕微鏡及び遮光板の位置調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope device including an imaging part which repeatedly images an object to be observed and generates a plurality of images, and by which the change of growing environment during time lapse photography is easily obtained.例文帳に追加

被観察物の像を繰り返し撮像して複数の画像を生成する撮像部を備えた顕微鏡装置において、タイムラプス撮影時の生育環境の変化を容易に把握可能とすること。 - 特許庁

The manufacturing method for the extremely small optical waveguide is characterized by that the oxide film is formed by anodizing the surface of the metallic substrate by using a probe tip of an atomic force microscope, etc.例文帳に追加

また、本発明の極微小光導波路の製造方法は、金属基板表面を原子間力顕微鏡等の探針先端を用いて陽極酸化して酸化膜を形成することを特徴とする。 - 特許庁