「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(145ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a microscopic raman fine particle discovery device hardly generating thermal drift of a visual field of an optical microscope even if brightness of illumination light is raised, and detecting and identifying surely even fine foreign matters on a wafer.例文帳に追加

照明光の輝度を上げても光学顕微鏡の視野のサーマルドリフトが生じにくく、ウェーハ上の微小な異物も確実に検出・同定できる顕微ラマン微小パーティクル発見装置を提供する。 - 特許庁

To provide a wrong measurement verification method capable of verifying accurately wrong measurement such as measuring start position deviation, when performing inline automatic inspection of a sample such as a wafer by utilizing a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を利用してウェハ等の試料をインライン自動検査を行うとき測定開始位置ずれなどの誤測定を正確に検証できる誤測定検証方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample holder capable of continuously observing a sample even if the sample is heated and reducing a temperature difference between the sample and a heater, in a transmission electron microscope, and a sample observation method.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡において、加熱しても試料を連続観察することができ、かつ試料とヒーターの温度差を減らすことができる試料ホルダーおよび試料観察方法を提供する。 - 特許庁

The stand 22 has an image processing circuit 122 that processes the digital image signal supplied from the microscope body 21 in real time, and generates digital image data for displaying an image on a monitor 12.例文帳に追加

スタンド２２は、顕微鏡本体２１から供給されるデジタル画像信号をリアルタイムに処理し、モニタ１２に画像を表示させるためのデジタル画像データを生成する画像処理回路１２２を備える。 - 特許庁

To provide an electron microscope, capable of automatically adjusting an optical axis even when the optical axis deviates to the extent that an electron beam position cannot be confirmed on a fluorescent plate after the exchange of a electron source.例文帳に追加

電子源の交換後、蛍光板上で電子線の位置を確認することができないような光軸のずれがある状態でも光軸の自動調整が可能な電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The microscope system 100 includes: a stage 101 which is loaded with an observation sample 102; and an objective lens 109 arranged opposed to the observation sample 102 placed on the stage 101.例文帳に追加

顕微鏡システム１００は、観察試料１０２を積載するステージ１０１と、ステージ１０１に載置された観察試料１０２と対峙するように配置される対物レンズ１０９とを備えている。 - 特許庁

By adding a function of an optical mirror to the reflected electron detector, total structure of the device is simplified and can match the beam axis of the electron microscope with the optical axis of the optical imaging device.例文帳に追加

反射電子検出器に光学ミラーの機能を付加することで装置の全体の構造を簡略化するとともに、電子顕微鏡のビーム軸と光学画像装置の光軸を一致させる。 - 特許庁

An observation region 306 and an entirely-white image 160' subsequent thereto are imaged by an image pickup device 200 while a sample is not disposed on the observation region 306 of the optical microscope 300.例文帳に追加

光学顕微鏡３００の観察領域３０６に試料が配置されていない状態で、撮像装置２００によりその観察領域３０６が撮像され全白画像１６０’が撮像される。 - 特許庁

To fix a cantilever not to be dislocated even if the cantilever is moved at high speed, and to fix/dismount simply the cantilever on/from a cantilever holding stand, in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、カンチレバーを高速に移動させてもずれることがないようにカンチレバーを固定でき、かつカンチレバーをカンチレバー保持台に簡単に固定または外すことができるようにすること。 - 特許庁

To provide a microscope which can rapidly take a general view (overall picture) of an image or scan the image with high resolution advantageously in terms of a cost while selectively making such taking or scanning of the image possible.例文帳に追加

選択的に、画像の迅速な概観（全体像）、又は画像の高分解能な走査を可能にしつつ、しかもコスト的にも有利にこれを行なうことが可能な顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

With regard to comb type wiring patterns 1, 2 being inspected, potential distribution is measured by means of a scanning surface potential microscope while applying a DC voltage of 0.2 V between probes 3, 4.例文帳に追加

検査対象とする櫛形配線パターン１及び２について、プローブ３及び４間に０．２Ｖの直流電圧を印加しながら、走査型表面電位顕微鏡により電位分布を測定する。 - 特許庁

To provide an endoscopic device and a microscope for operations allowing an operator to easily move a hard mirror in the visual field in microscopic observation.例文帳に追加

本発明は、顕微鏡観察視野内においても、硬性鏡の移動操作を行いやすくすることができる内視鏡装置と手術用顕微鏡を提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

To provide a confocal electric light emission spectral microscope capable of simultaneously obtaining a spectrum for an electric light emitting element and a mechanical external structure for the element and also capable of obtaining an electric light emission video with high resolution.例文帳に追加

電気発光素子の分光スペクトルと素子の機械的外形構造を同時に得ることができ、かつ高分解能の電気発光映像を得ることができる電気発光分光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a laser microscope device for imaging a sample using terahertz vibrations of molecules in the sample, capable of performing high speed imaging while focusing on the specific molecular vibration.例文帳に追加

標本中の分子のテラヘルツ振動を利用して標本のイメージングを行うレーザ顕微鏡装置において、特定の分子振動に注目し、かつ高速にイメージングできるレーザ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide an observation method of intercellular microstructure of stratum corneum using a transmission electron microscope enabling a whole detail of intercellular microstructure of stratum corneum being easily and clearly observed.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡を用いて角層細胞間の微細構造の全体の詳細を簡便かつ明瞭に観察することができる角層細胞間の微細構造の観察方法を提供する。 - 特許庁

The structure of a gate type supporting member having an integral rigid body is formed of a front-side support leg 22, a rear-side support leg 24 and a horizontal member 25, and the gate-type structure is fixed on an inverted microscope body 1.例文帳に追加

前側支持脚２２、後側支持脚２４及び水平部材２５により一体的な剛体を持つ門型支持部材の構造を成し、この門型構造を倒立顕微鏡本体１上に固定する。 - 特許庁

To provide an optical element switching device for a microscope capable of satisfactorily performing various types of observation including dark field observation, and also, which is obtained at low cost by eliminating the duplication of optical elements.例文帳に追加

暗視野観察を含めた各種観察を良好に行なうことができ、しかも、光学素子の重複を無くして価格的にも安価にできる顕微鏡の光学素子切換装置を提供する。 - 特許庁

This microscope system 100 is constituted to sense the individual photons of a detected light beam 17 each as one event 50, and to provide an output signal in the form of a characteristic function 52.例文帳に追加

顕微鏡システム（１００）は、検出された光ビーム（１７）の個々のフォトンを各々一つの事象（５０）として知覚し、それから特性関数（５２）の形式に出力信号を提供するように、構成される。 - 特許庁

The method for measuring with a scanning electrostatic capacity microscope comprises the steps of exposing the sections of a silicon substrate 101, a wall region 102 and a diffused region 103, forming an insulating film 105 on the exposed surface, and forming the sample 10 formed with a contact electrode 104 on a rear surface of the substrate.例文帳に追加

シリコン基板101 、ウエル領域102 および拡散領域103 の断面を露呈させ、その露呈表面に絶縁膜105 を形成し、基板裏面にコンタクト電極104 を形成した試料10を作成する。 - 特許庁

To provide an objective lens, whose service life is prolonged by suppressing photochemical reaction which is caused when microscope inspection and observation are performed by having deep ultraviolet-rays as a light source and preventing the deterioration in the optical performance.例文帳に追加

深紫外光を光源として顕微鏡検査・観察を行うときに起きる光化学反応を抑制して光学性能の低下を防止し、製品寿命の長い対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide a method for controlling the quality of surface recesses and projections that are not affected by factors other than projections by a scanning probe microscope for a sample where the projections with a specific size are formed on the surface.例文帳に追加

特定サイズの突起が表面に形成された試料について、走査型プローブ顕微鏡により、突起以外の因子によって影響されない表面凹凸の品質管理方法を提供すること。 - 特許庁

The magnetic domain observation microscope 1 includes an XY stage 3 and a rotary stage 4 for placing an observation target W having a magnetic domain and an optical system 10 is arranged at an upper portion of the observation target W.例文帳に追加

磁区観察顕微鏡１は、磁区を有する観察対象物Ｗを載置するＸＹステージ３及び回転ステージ４を有し、観察対象物Ｗの上方に光学系１０が配置されている。 - 特許庁

To provide a method which enables the detection of the concentration of a fluorescent reagent or the like in a biosample of an experimental small animal or the like by an imaging technique using an optical microscope or the like.例文帳に追加

実験用小動物等の生物試料の内部に於ける蛍光試薬等の濃度を光学顕微鏡等を用いたイメージング技術を用いて検出することのできる方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a process of reviewing failure using electronic microscope and to provide a failure reviewing device which can reduce a man-hour of user required for setting automatic focus by electron beam and to facilitate the observation of a sample.例文帳に追加

電子顕微鏡を用いた欠陥のレビュー方法、および欠陥のレビュー装置において、電子ビームの自動焦点合わせの設定に要するユーザの工数を低減し、試料の観察を容易化する。 - 特許庁

To easily evaluate melanin situated at the interface between the epidermis and the corium regarding a melanin evaluation apparatus with which melanin existing inside a skin is evaluated by using a confocal microscope.例文帳に追加

本発明は共焦点顕微鏡を用いて皮膚内に存在するメラニンの評価を行なうメラニン評価装置に関し、表皮と真皮の界面に位置するメラニンを容易に評価することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method for determining detailed positional relationships among individual biological molecules by causing only a particular biological molecule to emit light in molecule units and provide a near field light microscope.例文帳に追加

分子単位で特定の生体分子のみを発光させることにより、生体分子の個々の具体的な位置関係を判別することができる方法及び近接場光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The cerium oxide comprises cubic polygonal particles having a length of one side of 5-200 nm, wherein images of the polygonal particles observed with a transmission electron microscope are cubic.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡による多角形粒子の観察像が矩形であり、一辺の長さが５ｎｍ〜２００ｎｍである立方体状の多角形粒子を含むことを特徴する酸化セリウムに関する。 - 特許庁

This photoemission electron microscope is equipped with an ion source or an electron beam source for marking by irradiating a focused ion beam or an electron beam to a part close to an observation portion on the sample surface.例文帳に追加

収束イオンビームまたは電子ビームを試料表面の観察部位の直近に照射してマーキングするためのイオン源または電子線源を備えたことを特徴とする光電子顕微鏡。 - 特許庁

To provide a method for simply and correctly quantifying and evaluating the excystation capability of an oocyst as a method for evaluating the growth activity of a protozoan oocyst without relying on microscope observation.例文帳に追加

原虫オーシストの生育活性を評価する方法として、オーシストの脱嚢性を、顕微鏡観察によることなく簡便かつ正確に定量・評価するための方法を提供するものである。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope and a detection wavelength range setting method capable of setting easily the optimum detection wavelength range (start wavelength and acquired wavelength width) for an observation object.例文帳に追加

観察対象に対する最適な検出波長範囲（開始波長と取込み波長幅）を簡単に設定できる走査型レーザ顕微鏡および検出波長範囲設定方法を提供する。 - 特許庁

By inserting a glass plate between the silicone film and the oil lens, the cell on the silicone film and molecules in the cell can be observed at high magnification for a long time with the inverted microscope.例文帳に追加

シリコーン膜とオイルレンズの間にガラス板を挿入することで、シリコーン膜上の細胞および細胞内分子を倒立顕微鏡により高倍率かつ長時間観察することが可能である。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of correcting the optical axis shift of a displacement detection mechanism caused by the difference of a cantilever or a solution or the warpage of the cantilever in the atmosphere or the solution.例文帳に追加

大気中や溶液中を問わず、カンチレバーや溶液の違いやカンチレバーの反りなどによる、変位検出機構の光軸ずれを補正することが可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This infrared imaging microscope of a type used especially for executing FT-IR measurement has a detector in the form of a small detector array 85 comprising respective detector elements 86.例文帳に追加

特にＦＴ−ＩＲ計測を実施するために使用されるタイプの赤外線イメージングマイクロスコープは、個々の検出器エレメント（８６）からなる小検出器アレイ（８５）の形態での検出器を有する。 - 特許庁

To provide a microscope system for operation that can be protected certainly from irregularly reflected laser light rays with a simple constitution and, in addition, can be improved conveniently and easily in color reproducibility and high resolution.例文帳に追加

この発明は、簡易な構成で、レーザー光の乱反射からの確実な保護を実現し得、且つ、簡便にして容易に色再現性及び高解像度化の促進を図り得るようにすることにある。 - 特許庁

The emission microscope has a high-vacuum chamber 11 exhausted from an exhaust part 12 by a vacuum pump, and a lens body tube 1, a sample 8, and a sample stage 9 are arranged inside the high-vacuum chamber.例文帳に追加

エミッション顕微鏡は排気部１２から真空ポンプにより排気される高真空チャンバー１１を有し、高真空チャンバー１１の内部にはレンズ鏡筒１、試料８、試料ステージ９が配置されている。 - 特許庁

DEPOSITION APPARATUS AND METHOD FOR CNT INCLUDING MAGNETIC BODY, CNT INCLUDING MAGNETIC BODY, MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, SPIN TRANSISTOR, SPIN DIODE, SPIN FIELD-EFFECT TRANSISTOR, AND SPIN PIN-DIODE例文帳に追加

磁性体内包ＣＮＴの析出装置、磁性体内包ＣＮＴの析出方法、磁性体内包ＣＮＴ、磁気力顕微鏡、スピン・トランジスタ、スピン・ダイオード、スピン電界効果トランジスタ、スピンｐｉｎダイオード - 特許庁

The pattern includes an effective line to space ratio and can be tested, by using a microscope or a stepper system, or can be measured directly using a detector for the zeroth-order diffraction measurement.例文帳に追加

このパターンは、効果的なライン対スペース比を含み、顕微鏡またはステッパ・システムを使用して試験することができ、または０次回折測定用の検出器を使用して直接測定することができる。 - 特許庁

This microscope includes a stage 17, an objective lens 14, an irradiation optical system for irradiating observation objects 15 and 18 with illumination light through the objective lens 14 and the illumination light antireflection unit 200.例文帳に追加

ステージ１７と、対物レンズ１４と、対物レンズ１４を通して照明光を観察対象物１５，１８に照射するための照射光学系と、照明光反射防止ユニット２００とを有する。 - 特許庁

To provide an illuminator for a laser microscope in which a wavelength width of light selected from light which is spectrum spread can be freely set and loss of amount of light can be suppressed with a simple structure.例文帳に追加

スペクトル拡散された光から選択する光の波長幅を自由に設定でき、簡単な構成で光量のロスを抑えることができるレーザ顕微鏡用照明装置を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope unit applicable to an optional CCD camera, in which a banding noise is eliminated by completely synchronizing the scanning period of a Nipkow disk and the image capture period of the camera.例文帳に追加

任意のＣＣＤカメラに適用でき、ニポウディスクの走査周期とカメラの画像取り込み周期を完全に同期させてバンディングノイズを除去することができる共焦点顕微鏡装置を実現する。 - 特許庁

To provide a scanning near-field optical microscope which is capable of performing high-resolution observation without bringing a fine structure for generating or selectively transmitting near-field light into direct contact with a sample.例文帳に追加

近接場光を生成または選択的に透過させる微細構造を試料に直接接触させることなく、高分解能観察可能な走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The invention relates to a method for estimating physical strength of a film from the observation of the surface conditions of the film of an aqueous acrylic-modified polyurethane resin in air and in water by using atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いての水性アクリル変性ポリウレタン樹脂被膜の、空気中と水中の表面状態の観察から被膜の物理強度を予測する方法により解決する。 - 特許庁

The (a) and (b) can be obtained by EDS measurement in which an electronic beam is applied to a minute region in terms of pinpoint using a transmission electron microscope.例文帳に追加

０.３≦ａ／ｂ≦１.０ ……(1) ｂ／ｃ≧１.０ ……(2) ０.１≦ａ／ｃ≦１.０ ……(3) 前記ａおよびｂは、透過型電子顕微鏡を用いて電子ビームを微小領域にピンポイント的に当てたＥＤＳ測定によって求めることができる。 - 特許庁

This etching dispersion estimation device has a length-measuring scanning electron microscope 10 for respectively measuring the line widths of a resist pattern used as a measuring object at a plurality of positions with first and second threshold values.例文帳に追加

複数の位置で、測定対象となるレジストパターンの線幅を、第１および第２の閾値でそれぞれ測定する測長用走査型電子顕微鏡１０を持つエッチングばらつき予測装置である。 - 特許庁

To provide a method for forming a polarization optical interference contrast for microscope imaging of a specimen which is free of problems of anisotropy of a specimen carrier, an objective, or a condenser.例文帳に追加

被検体用担体あるいは対物レンズやコンデンサについても、それらの異方性が問題とならない被検体の顕微鏡結像のための偏光光学的な干渉コントラストを形成する方法。 - 特許庁