「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(145ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a scanning electron microscope capable of effectively detecting a reflected electron generated from a sample at a low angle while realizing a short focus distance and forming a sample image.例文帳に追加

本発明は、短い焦点距離を実現しつつ、試料から低い角度で発生する反射電子を高率良く検出し、試料像を形成する走査形電子顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a mapping type electron microscope composed by relaxing restriction of a condition of a projection electron optical system to design of an illumination electron optical system to increase the degree of freedom of design of the illumination electron optical system.例文帳に追加

投影電子光学系の条件が照明電子光学系の設計の制約となることを緩和し、照明電子光学系の設計の自由度を増した写像型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a mapping type electron microscope in where a projection imaging optical system is provided with a zooming transfer lens system for improving the geometrical aberrations in low-magnification imaging and space-charge effect in the zooming range.例文帳に追加

投影結像光学系にズーム型トランスファー・レンズ系を用いて、低倍結像の幾何収差とズーム範囲での空間電荷効果とを改善する写像型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

A microscope control section 11 changes the distance of the thin film from the objective lens 2 in the direction of the optical axis, and obtains measurement data indicating the relationship between the distance and the intensity detected by the photodetector 7.例文帳に追加

顕微鏡制御部１１は、該薄膜の対物レンズ２からの距離を光軸方向に変化させて、該距離と光検出器７で検出される輝度との関係を示す測定データを取得する。 - 特許庁

To provide an objective enabling an operator to surely recognize the contact of the edge of the objective with a sample or the state change of the sample with simple constitution, and a microscope equipped therewith.例文帳に追加

簡単な構成で対物レンズの先端と試料との接触又は試料の状態変化を確実に認識することができる対物レンズ及びその対物レンズを備える顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a pair of tweezers capable of holding a sample for observation by an electron microscope and easily detecting the holding force with high accuracy, and a holding force control device.例文帳に追加

電子顕微鏡観察用の試料を挟持可能なものであって、挟持する力（挟持力）を容易且つ高精度に検出することができるピンセット及びその挟持力制御装置を提供する。 - 特許庁

To precisely and inexpensively measure the gas concentration of on a substrate surface in a micro-area under a microscope, as to the sublimable raw material gas.例文帳に追加

昇華性の原料ガスについて、顕微鏡下の微小な領域の基板表面の原料ガス濃度を高精度、かつ、安価に測定することができるガス濃度測定装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a a vertical illuminator which can continuously adjust the light quantity of a plurality of light for illumination with respect to a specimen in a wide wavelength region and can be inexpensively configured and a fluorescent microscope.例文帳に追加

標本に対する複数の照明光の光量を広い波長域で連続的に調整でき、安価に構成できる蛍光観察用の落射照明装置、および蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The camera control unit 13 records an observation image picked up by a camera head 12 and setting information showing the setting of a microscope system at the time of picking up the observation image recorded in a removable medium 25.例文帳に追加

カメラコントロールユニット１３は、カメラヘッド１２により撮像された観察画像と、その観察画像の撮像時における顕微鏡システムの設定を示す設定情報とを、リムーバブルメディア２５に記録させる。 - 特許庁

At this time, the light sources 23, 24 of the light source part 20 and the lenses 33, 34 of the deflection part 30 are arranged in a peripheral direction with nearly the same intervals so as to surround an imaging part 40 of the microscope 100.例文帳に追加

このとき、光源部２０の光源２３，２４及び偏向部３０のレンズ３３，３４は、顕微鏡１００の結像部４０を囲むように、円周方向に略等間隔で配置される。 - 特許庁

This tester is provided with a laser generating part 1, a laser scan part 2, a microscope 3, a current-voltage converter 13, and a front end amplifier 15 disposed between the sample 4 to be measured and the current- voltage converter 13.例文帳に追加

レーザー発生部１と、レーザー走査部２と、 顕微鏡３と、 電流−電圧変換器１３と、被測定試料４と電流−電圧変換器１３との間に前置増幅器１５とを備える。 - 特許庁

The ratio D_top/D_50 of the maximum particle diameter D_top to the average particle diameter D_50 of the primary particle of the titanium dioxide observed with a field emission scanning electron microscope is 1 or greater and 3 or less.例文帳に追加

電界放射型走査電子顕微鏡で観察した一次粒子の最大粒子径Ｄ_topと平均粒子径Ｄ_50の比Ｄ_top／Ｄ_50が１以上３以下であることを特徴とする二酸化チタン。 - 特許庁

To provide a device capable of improving throughput of wafer inspection by further reducing a time required for replacement of a wafer, in a scanning electron microscope for inspecting a semiconductor wafer.例文帳に追加

本発明は、半導体ウェーハを検査する走査型電子顕微鏡において、ウェーハの交換に要する時間をさらに短縮することにより、ウェーハ検査のスループットを向上させる装置の提供を課題にする。 - 特許庁

To make it possible to perform changeover of scanning optical microscope observation and regular transmission illumination observation at a high speed and to perform compact and low-cost transmission detection and changeover of transmission illumination lamps.例文帳に追加

走査型光学顕微鏡観察と通常の透過照明観察の切換を高速に行うことが可能であり、かつコンパクトでコストも安い透過検出と透過照明ランプの切換を行うこと。 - 特許庁

A top magnetic pole of an objective lens is electrically insulated against the part of the lens other than that for the top magnetic lens, and a scanning electron microscope with positive voltage applied accelerating a primary electron beam post-deflection is provided.例文帳に追加

対物レンズの上磁極を、対物レンズの上磁極以外の残部に対し電気的に絶縁し、一次電子ビームを後段加速する正の電圧を印加する走査形電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a phase information detection method and a phase information detector, capable of acquiring easily phase information of a phase object in real time, without using an expensive phase-contrast microscope.例文帳に追加

高価な位相差顕微鏡を用いることなく、より簡便に、しかもリアルタイムに位相物体の位相情報を取得し得る位相情報検出方法及び位相情報検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of executing inspection of a sample with high accuracy while suppressing decomposition of the sample without decreasing the inspection speed of the sample.例文帳に追加

本発明は、試料の分解を抑えつつ、試料の検査を高精度で行うことができ、しかも試料の検査速度を低下させることがない走査電子顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁

The structure of a gate type supporting member having an integral rigid body is formed of a front-side support leg 22, a rear-side support leg 24 and a horizontal member 25, and the gate-type structure is fixed on an inverted microscope body 1.例文帳に追加

前側支持脚２２、後側支持脚２４及び水平部材２５により一体的な剛体を持つ門型支持部材の構造を成し、この門型構造を倒立顕微鏡本体１上に固定する。 - 特許庁

To provide an optical element switching device for a microscope capable of satisfactorily performing various types of observation including dark field observation, and also, which is obtained at low cost by eliminating the duplication of optical elements.例文帳に追加

暗視野観察を含めた各種観察を良好に行なうことができ、しかも、光学素子の重複を無くして価格的にも安価にできる顕微鏡の光学素子切換装置を提供する。 - 特許庁

This microscope system 100 is constituted to sense the individual photons of a detected light beam 17 each as one event 50, and to provide an output signal in the form of a characteristic function 52.例文帳に追加

顕微鏡システム（１００）は、検出された光ビーム（１７）の個々のフォトンを各々一つの事象（５０）として知覚し、それから特性関数（５２）の形式に出力信号を提供するように、構成される。 - 特許庁

The method for measuring with a scanning electrostatic capacity microscope comprises the steps of exposing the sections of a silicon substrate 101, a wall region 102 and a diffused region 103, forming an insulating film 105 on the exposed surface, and forming the sample 10 formed with a contact electrode 104 on a rear surface of the substrate.例文帳に追加

シリコン基板101 、ウエル領域102 および拡散領域103 の断面を露呈させ、その露呈表面に絶縁膜105 を形成し、基板裏面にコンタクト電極104 を形成した試料10を作成する。 - 特許庁

To provide an objective lens, whose service life is prolonged by suppressing photochemical reaction which is caused when microscope inspection and observation are performed by having deep ultraviolet-rays as a light source and preventing the deterioration in the optical performance.例文帳に追加

深紫外光を光源として顕微鏡検査・観察を行うときに起きる光化学反応を抑制して光学性能の低下を防止し、製品寿命の長い対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide a method for controlling the quality of surface recesses and projections that are not affected by factors other than projections by a scanning probe microscope for a sample where the projections with a specific size are formed on the surface.例文帳に追加

特定サイズの突起が表面に形成された試料について、走査型プローブ顕微鏡により、突起以外の因子によって影響されない表面凹凸の品質管理方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a process of reviewing failure using electronic microscope and to provide a failure reviewing device which can reduce a man-hour of user required for setting automatic focus by electron beam and to facilitate the observation of a sample.例文帳に追加

電子顕微鏡を用いた欠陥のレビュー方法、および欠陥のレビュー装置において、電子ビームの自動焦点合わせの設定に要するユーザの工数を低減し、試料の観察を容易化する。 - 特許庁

To easily evaluate melanin situated at the interface between the epidermis and the corium regarding a melanin evaluation apparatus with which melanin existing inside a skin is evaluated by using a confocal microscope.例文帳に追加

本発明は共焦点顕微鏡を用いて皮膚内に存在するメラニンの評価を行なうメラニン評価装置に関し、表皮と真皮の界面に位置するメラニンを容易に評価することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method for determining detailed positional relationships among individual biological molecules by causing only a particular biological molecule to emit light in molecule units and provide a near field light microscope.例文帳に追加

分子単位で特定の生体分子のみを発光させることにより、生体分子の個々の具体的な位置関係を判別することができる方法及び近接場光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The cerium oxide comprises cubic polygonal particles having a length of one side of 5-200 nm, wherein images of the polygonal particles observed with a transmission electron microscope are cubic.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡による多角形粒子の観察像が矩形であり、一辺の長さが５ｎｍ〜２００ｎｍである立方体状の多角形粒子を含むことを特徴する酸化セリウムに関する。 - 特許庁

This photoemission electron microscope is equipped with an ion source or an electron beam source for marking by irradiating a focused ion beam or an electron beam to a part close to an observation portion on the sample surface.例文帳に追加

収束イオンビームまたは電子ビームを試料表面の観察部位の直近に照射してマーキングするためのイオン源または電子線源を備えたことを特徴とする光電子顕微鏡。 - 特許庁

To provide a method for simply and correctly quantifying and evaluating the excystation capability of an oocyst as a method for evaluating the growth activity of a protozoan oocyst without relying on microscope observation.例文帳に追加

原虫オーシストの生育活性を評価する方法として、オーシストの脱嚢性を、顕微鏡観察によることなく簡便かつ正確に定量・評価するための方法を提供するものである。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope and a detection wavelength range setting method capable of setting easily the optimum detection wavelength range (start wavelength and acquired wavelength width) for an observation object.例文帳に追加

観察対象に対する最適な検出波長範囲（開始波長と取込み波長幅）を簡単に設定できる走査型レーザ顕微鏡および検出波長範囲設定方法を提供する。 - 特許庁

By inserting a glass plate between the silicone film and the oil lens, the cell on the silicone film and molecules in the cell can be observed at high magnification for a long time with the inverted microscope.例文帳に追加

シリコーン膜とオイルレンズの間にガラス板を挿入することで、シリコーン膜上の細胞および細胞内分子を倒立顕微鏡により高倍率かつ長時間観察することが可能である。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of correcting the optical axis shift of a displacement detection mechanism caused by the difference of a cantilever or a solution or the warpage of the cantilever in the atmosphere or the solution.例文帳に追加

大気中や溶液中を問わず、カンチレバーや溶液の違いやカンチレバーの反りなどによる、変位検出機構の光軸ずれを補正することが可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This infrared imaging microscope of a type used especially for executing FT-IR measurement has a detector in the form of a small detector array 85 comprising respective detector elements 86.例文帳に追加

特にＦＴ−ＩＲ計測を実施するために使用されるタイプの赤外線イメージングマイクロスコープは、個々の検出器エレメント（８６）からなる小検出器アレイ（８５）の形態での検出器を有する。 - 特許庁

To provide a microscope system for operation that can be protected certainly from irregularly reflected laser light rays with a simple constitution and, in addition, can be improved conveniently and easily in color reproducibility and high resolution.例文帳に追加

この発明は、簡易な構成で、レーザー光の乱反射からの確実な保護を実現し得、且つ、簡便にして容易に色再現性及び高解像度化の促進を図り得るようにすることにある。 - 特許庁

The emission microscope has a high-vacuum chamber 11 exhausted from an exhaust part 12 by a vacuum pump, and a lens body tube 1, a sample 8, and a sample stage 9 are arranged inside the high-vacuum chamber.例文帳に追加

エミッション顕微鏡は排気部１２から真空ポンプにより排気される高真空チャンバー１１を有し、高真空チャンバー１１の内部にはレンズ鏡筒１、試料８、試料ステージ９が配置されている。 - 特許庁

DEPOSITION APPARATUS AND METHOD FOR CNT INCLUDING MAGNETIC BODY, CNT INCLUDING MAGNETIC BODY, MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, SPIN TRANSISTOR, SPIN DIODE, SPIN FIELD-EFFECT TRANSISTOR, AND SPIN PIN-DIODE例文帳に追加

磁性体内包ＣＮＴの析出装置、磁性体内包ＣＮＴの析出方法、磁性体内包ＣＮＴ、磁気力顕微鏡、スピン・トランジスタ、スピン・ダイオード、スピン電界効果トランジスタ、スピンｐｉｎダイオード - 特許庁

The pattern includes an effective line to space ratio and can be tested, by using a microscope or a stepper system, or can be measured directly using a detector for the zeroth-order diffraction measurement.例文帳に追加

このパターンは、効果的なライン対スペース比を含み、顕微鏡またはステッパ・システムを使用して試験することができ、または０次回折測定用の検出器を使用して直接測定することができる。 - 特許庁

This microscope includes a stage 17, an objective lens 14, an irradiation optical system for irradiating observation objects 15 and 18 with illumination light through the objective lens 14 and the illumination light antireflection unit 200.例文帳に追加

ステージ１７と、対物レンズ１４と、対物レンズ１４を通して照明光を観察対象物１５，１８に照射するための照射光学系と、照明光反射防止ユニット２００とを有する。 - 特許庁

To provide an illuminator for a laser microscope in which a wavelength width of light selected from light which is spectrum spread can be freely set and loss of amount of light can be suppressed with a simple structure.例文帳に追加

スペクトル拡散された光から選択する光の波長幅を自由に設定でき、簡単な構成で光量のロスを抑えることができるレーザ顕微鏡用照明装置を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope unit applicable to an optional CCD camera, in which a banding noise is eliminated by completely synchronizing the scanning period of a Nipkow disk and the image capture period of the camera.例文帳に追加

任意のＣＣＤカメラに適用でき、ニポウディスクの走査周期とカメラの画像取り込み周期を完全に同期させてバンディングノイズを除去することができる共焦点顕微鏡装置を実現する。 - 特許庁

To provide a scanning near-field optical microscope which is capable of performing high-resolution observation without bringing a fine structure for generating or selectively transmitting near-field light into direct contact with a sample.例文帳に追加

近接場光を生成または選択的に透過させる微細構造を試料に直接接触させることなく、高分解能観察可能な走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The invention relates to a method for estimating physical strength of a film from the observation of the surface conditions of the film of an aqueous acrylic-modified polyurethane resin in air and in water by using atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いての水性アクリル変性ポリウレタン樹脂被膜の、空気中と水中の表面状態の観察から被膜の物理強度を予測する方法により解決する。 - 特許庁

The (a) and (b) can be obtained by EDS measurement in which an electronic beam is applied to a minute region in terms of pinpoint using a transmission electron microscope.例文帳に追加

０.３≦ａ／ｂ≦１.０ ……(1) ｂ／ｃ≧１.０ ……(2) ０.１≦ａ／ｃ≦１.０ ……(3) 前記ａおよびｂは、透過型電子顕微鏡を用いて電子ビームを微小領域にピンポイント的に当てたＥＤＳ測定によって求めることができる。 - 特許庁

This etching dispersion estimation device has a length-measuring scanning electron microscope 10 for respectively measuring the line widths of a resist pattern used as a measuring object at a plurality of positions with first and second threshold values.例文帳に追加

複数の位置で、測定対象となるレジストパターンの線幅を、第１および第２の閾値でそれぞれ測定する測長用走査型電子顕微鏡１０を持つエッチングばらつき予測装置である。 - 特許庁

To provide a method for forming a polarization optical interference contrast for microscope imaging of a specimen which is free of problems of anisotropy of a specimen carrier, an objective, or a condenser.例文帳に追加

被検体用担体あるいは対物レンズやコンデンサについても、それらの異方性が問題とならない被検体の顕微鏡結像のための偏光光学的な干渉コントラストを形成する方法。 - 特許庁