「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(148ページ目) - Weblio英語例文検索

By supplying air to the bearing part 21 and making a rolling body 22 float in the midst of aligning the microscope A, a base board 16 floats and is freely moved with respect to the top board 17.例文帳に追加

そして、顕微鏡Ａの位置合わせ中において、ベアリング部２１にエアーを供給して転動体２２を浮上させることで、ベース板１６が浮上し、天板１７に対しベース板１６を自由に移動させることができる。 - 特許庁

The silver particle is provided, wherein the shape by electron microscope observation is nongranular; the central particle diameter (D50) is 0.05 to 3.0 μm, and also, the content of carbon is 0.03 to 3 mass%.例文帳に追加

電子顕微鏡観察による形状が非粒状であり、中心粒径（Ｄ５０）が０．０５μｍ〜３．０μｍであり、且つ、カーボン含有量が０．０３〜３質量％であることを特徴とする銀粒子を提案する。 - 特許庁

To provide a tube to be adapted to a microscope having an adaptable interface (2), an operator interface (3) arranged to be rotated, a beam refracting device (4) and a beam refracting unit (5) arranged to be rotated.例文帳に追加

本発明は、適合インターフェース（２）、回転可能に配されたオペレータインターフェース（３）、ビーム屈折装置（４）及び回転可能に配されたビーム屈折ユニット（５）を有するマイクロスコープに適合するためのチューブに関する。 - 特許庁

To provide a specimen holder for an electron microscope, to which the present invention relates, and which permits a field of view to be obtained at a tilt angle that is made as close as possible to 90° and can be manipulated easily.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡用試料ホルダーに関し、可能な限り９０°に近い傾斜角度で視野を得ることができ、また操作性のよい電子顕微鏡用試料ホルダーを提供することを目的としている。 - 特許庁

The microscope main body 100 is provided with a plurality of optical devices (electric revolver device 110, etc.), having a plurality of optical members (objective lens 115, etc.), driving motor 112, etc., which moves the optical members on the optical path and so on.例文帳に追加

顕微鏡本体１００は、複数の光学装置（電動レボルバ装置１１０等）を備え、これらは複数の光学部材（対物レンズ１１５等）とこれを光路上に移動させる駆動モータ１１２等とを有する。 - 特許庁

To provide an optical element with a dielectric multi-layered film which can obtain a visual field while suppressing lightness unevenness and color unevenness as much as possible even when the element is arranged in an optical path and a microscope which uses it.例文帳に追加

光路中に配置しても明るさムラや色ムラを極力抑えた視野を得ることができる誘電体多層膜を有する光学素子及びそれを用いた顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a probe microscope capable of reducing probe damage when positioning a probe and a sample on a measuring domain, and performing proper and stable measurement by suppressing a resolution change caused by a probe tip shape.例文帳に追加

探針と試料を測定領域に位置決めする際の探針破損を低減させ、探針先端形状に起因する分解能の変化を抑えて、適切でしかも安定な測定ができるプローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can measure exact information on solid shape of a sample, simultaneously with the distribution information on the local properties of the sample by highest throughput, without damaging the sample.例文帳に追加

高スループットで試料にダメージを与えずに、試料の正確な立体形状情報と同時に試料の局所的特性に関する分布情報を計測できる走査プローブ顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope constituted so as to measure the relative displacement of an article to be inspected and a cantilever and capable of measuring the displacement of the cantilever, even if the article to be inspected is not placed on the stage.例文帳に追加

被検物とカンチレバーとの相対変位を計測する原子間力顕微鏡において、ステージ上に被検物が載置されていなくてもカンチレバーの変位を計測可能な原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an image pickup device of a microscope, which can ensure a frame rate without losing the framing or focus operability even when a sample is dark and avoid disturbance in sample observation due to deteriorated S/N.例文帳に追加

標本が暗い場合でもフレーミングや合焦の操作性を損なうことのないフレームレートを確保できるとともに、Ｓ／Ｎ劣化による標本観察の妨げを回避できる顕微鏡用撮像装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of irradiating a necessary range of a sample with illumination light only for necessary time and suppressing the influence of irradiation with illumination light to the irreducible minimum.例文帳に追加

標本の必要とする範囲に、必要とする時間だけ照明光を照射することができ、必要以外の標本への照明光を照射する影響を最小限に抑えることができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the scanning probe microscope for detecting the physical quantity acting across a probe and a sample, the probe and the sample are relatively scanned using the scanner.例文帳に追加

探針と試料との間に作用する物理量を検出する走査形プローブ顕微鏡において、前記スキャナを用いて前記探針と前記試料を相対的に走査することを特徴とする走査形プローブ顕微鏡。 - 特許庁

To generate a three-dimensional image of skin with high resolution of a cell level regarding a three-dimensional image generation apparatus for the skin with which the three-dimensional image of the skin is generated by using a confocal microscope.例文帳に追加

本発明は共焦点顕微鏡を用いて皮膚の三次元画像を生成する皮膚の三次元画像生成装置に関し、細胞レベルの高解像度を有した皮膚の三次元画像を生成することを課題とする。 - 特許庁

To provide a scanning charged particle beam device, an image display method of the same, and the scanning microscope suitable for easily conducting evaluation, control, and adjustment for reducing an effect of image trouble caused by vibration.例文帳に追加

振動による像障害の評価、管理や影響を低減するための調整を容易に行えるようにするのに好適な走査型荷電粒子線装置、その像表示方法、および走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a thin-layer oblique illumination system that can move illumination light in a thin-layer shape along the depth of a sample while keeping constant illumination conditions in the sample, and to provide a microscope.例文帳に追加

標本の内部における照明条件を一定に保ちながら、薄層状の照明光を標本の深さ方向に移動させることができる薄層斜光照明装置および顕微鏡を提供する。 - 特許庁

That is, the contents set in the microscope once can be stored by the set contents obtaining means, so that the same set contents are reproduced later without depending on operator's memory and notes.例文帳に追加

すなわち、一度顕微鏡に設定した内容を設定内容取得手段に記憶させることができるので、操作者の記憶やメモを介すことなく後に同一の設定内容を再現することが可能となる。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope, allowing an image satisfactory for observing of the irregular shapes of an object of observation to be observed correctly and accurately three-directionally, and to provide a three-dimensional image display method that uses it.例文帳に追加

被観察対象物の凹凸形状を観察するに十分な画像を正確に精度よく立体観察可能とする走査型電子顕微鏡装置およびこれを用いた三次元画像表示方法を提供する。 - 特許庁

To provide a stereomicroscope that makes left brightness and right brightness equal and has an inter-optical-axis distance-varying function without increasing the size of the body of the stereomicroscope, and to provide a lens drive mechanism for a microscope, which achieves the stereomicroscope.例文帳に追加

左右の明るさを同等にでき、実体顕微鏡本体の大型化を招くことなく光軸間距離可変機能を有する実体顕微鏡と、これを実現する顕微鏡のレンズ駆動機構を提供する。 - 特許庁

A light projection tube unit 101 is releasably attached to a microscope body and allows a vertical illumination module 103, a total reflection illumination module 104, and a spot illumination module 105 to be attached to and detached from an incident section 101A.例文帳に追加

投光管ユニット１０１は、顕微鏡の本体に着脱自在であり、落射照明モジュール１０３、全反射照明モジュール１０４およびスポット照明モジュール１０５を入射部１０１Ａに着脱することができる。 - 特許庁

Once the search mark is detected, a work stage WS is moved so that the work mark WAM is within a visual field of the alignment microscope 10 in a magnification ratio of ten, and the work mark WAM is detected with the magnification ratio of ten.例文帳に追加

探索マークが検出されたら、ワークマークＷＡＭが１０倍の倍率のアライメント顕微鏡１０の視野に入るようにワークステージＷＳを移動させ、１０倍の倍率でワークマークＷＡＭを検出する。 - 特許庁

To provide an apparatus, method and program for focus correction, and microscope which can stabilize the focus even when non-optical system elements generate a drift in different direction from the direction of a drift caused by optical system.例文帳に追加

光学系のドリフト方向とは異なる方向にドリフトを生じさせる光学系以外の要素があってもフォーカスを安定化し得るフォーカス補正装置、フォーカス補正方法、フォーカス補正プログラム及び顕微鏡を提案する。 - 特許庁

To provide an inexpensive electrolytic polishing device having a wide observation visual field of a sample by a transmission electron microscope, requiring an extremely small amount of electrolytic solution to be used, and reducing dramatically a load on an environment.例文帳に追加

使用する電解液が極めて少量であり、環境への負荷が劇的に減少すると共に、透過型電子顕微鏡による試料の観察視野も広く且つ安価な電解研磨装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope and a sample observation method capable of detecting scattered electrons of a high scattering angle, without receiving restrictions due to the spherical aberrations of an electron lens and improving the depth resolution.例文帳に追加

電子レンズの球面収差による制約を受けることなく高散乱角の散乱電子を検出し、深さ分解能を向上させることができる透過型電子顕微鏡及び試料観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope which is suitable for the high-resolution three-dimensional viewing of millimeter-size biological objects, wherein fast acquisition of data is possible and a structure is technically as simple as possible to implement.例文帳に追加

データの迅速な撮影が可能であって、構成が技術的にできるだけ簡単に実現されるような、ミリメータサイズの生物学的な対象物の高解像度による３次元的な観察に適した顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device having a mechanism in which ionic liquid shape and membrane thickness are adjusted to be adhered to samples so as to be suitable for various observations by electronic microscope or processing by ion beam.例文帳に追加

電子顕微鏡等による各種観察やイオンビームによる加工に適するように、試料に付着させるイオン液体の形状及び膜厚を調整する機構を有する荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide means for observing simultaneously both a fluorescently labeled target cell and a pipette with a fluorescence microscope in the cases such as that for analyzing a fluorescently labeled nerve cell by the patch clump method.例文帳に追加

蛍光標識された神経細胞をパッチクランプ法で解析する場合などにおいて、蛍光標識された標的細胞とピペットの両方を蛍光顕微鏡下で同時に観察するための手段を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device of a critical-dimension measuring scanning electron microscope (CD-SEM) or the like, measuring accurately a pattern dimension on a photomask for nanoimprint by a retarding voltage application system.例文帳に追加

リターディング電圧印加方式によってナノインプリント用フォトマスク上のパターン寸法を正確に測定することができる微小寸法測定走査電子顕微鏡（CD-SEM）等の荷電粒子線装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a cantilever holder which can be used under various environments, regardless of the kinds of solution and gas and which can efficiently vibrate a cantilever, and to provide a scanning probe microscope with improved measurement accuracy being equipped with the holder.例文帳に追加

溶液やガスの種類を問わず、様々な環境下で使用可能で、カンチレバーを効率的に加振可能にしたカンチレバーホルダ及びそれを備えて測定精度を向上させた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a device for recognition of a thin-film sample position in an electron microscope, allowing multi-axial stage movement to bring easily an objective thin film sample piece within an observation visual field.例文帳に追加

本発明は簡単に目的の薄膜試料片が観察視野に入るように多軸ステージ移動することができる電子顕微鏡における薄膜試料位置認識装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To keep the clean state of a sample or the working region around the sample in case of doing the work during observation by microscope and to achieve good workability.例文帳に追加

顕微鏡装置において、顕微鏡観察を行いつつ作業を行う場合に、試料あるいは試料の周囲の作業領域の清浄性を保つことができるとともに作業性が良好となるようにする。 - 特許庁

Herewith, a CdTe-system semiconductor substrate will be realized in which a projection with a height of ≥5 nm is not observed within the visual field of 10 μm×10 μm when the surface of the substrate is observed by an atomic force microscope.例文帳に追加

これにより、原子間力顕微鏡で基板表面を観察したときに１０μｍ×１０μｍの視野範囲内に高さ５ｎｍ以上の突起が観察されないＣｄＴｅ系半導体基板が実現される。 - 特許庁

To provide an objective lens that is equal in outside diameter to an objective lens used for bright field observation and enables dark field observation by using a bright field illuminating optical system, and to provide a microscope that has the objective lens.例文帳に追加

対物レンズの外径が明視野観察用対物レンズと同等で、明視野照明光学系を用いて暗視野観察を可能とする対物レンズ及び該対物レンズを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a temperature measurement probe, a temperature measurement device and a temperature measurement method using the probe, which can be used in a general-purpose scanning probe microscope device and are hardly affected by the heat deformation of samples.例文帳に追加

汎用の走査型プローブ顕微鏡装置でも使用可能で、かつ試料の熱変形の影響を受けにくい温度測定用プローブ、および前記プローブを用いた温度測定装置および温度測定方法を提供する - 特許庁

To provide an image pickup unit which uses an electronic microscope for automatically sorting fine defects, shortens an image acquiring time, decreases a calculation cost of image processing, and suppressing a calculator resource, and to provide a method thereof.例文帳に追加

微細な欠陥を自動分類するための電子顕微鏡を用いた撮像ユニットにおいて、画像取得時間，画像処理の計算コスト、および、計算機資源を抑えた撮像ユニットおよびその方法を提供する。 - 特許庁

This spectroscope is provided with an information processor 250 for finding a spectroscopic characteristic of a measuring object, based on a spectroscopic characteristic data obtained by making fluorescence get incident into a spectroscopic unit by a microscope 220 and a confocal unit 210.例文帳に追加

顕微鏡２２０および共焦点ユニット２１０により蛍光を分光ユニットに入射させて得られた分光特性データに基づいて測定対象の分光特性を求める情報処理装置２５０を備える。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of measuring the distribution information relating to the partial characteristic of a sample, simultaneously with the accurate three-dimensional shape information of the sample without giving the damage to the sample with high throughput.例文帳に追加

高スループットで試料にダメージを与えずに、試料の正確な立体形状情報と同時に試料の局所的特性に関する分布情報を計測できる走査プローブ顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

To provide an optical path-selecting device which decreases troublesomeness in an optical path-selecting optical element and in opening and closing a shutter to prevent stray light, and also provide an illumination device having the same and a microscope having the same.例文帳に追加

光路選択光学素子やシャッタ開閉動作の煩わしさを軽減し、迷光を防止することが可能な光路選択装置と、これを有する照明装置、及びこれを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a portable binocular microscope by which the recording and the simultaneous observation of an image are easily executed even through it is small- sized and is light in weight and which is carried out and used to/at outdoors and to provide an image pickup method using it.例文帳に追加

小型軽量であっても画像の記録や同時観察などを簡便に行うことができ、野外に持ち出して使用できるような携帯用の双眼顕微鏡とそれを用いた撮像方法を提供する。 - 特許庁

This microscope contains an electron gun 1 for irradiating an electron beam 13 to an article to be observed 11, such as a semiconductor wafer where a minute working pattern is formed, or the like, a throttle means 3, an optical means 2, and a voltage applying means 4.例文帳に追加

微細加工パターンが形成された半導体のウエハーなどの被観察物１１に対し電子ビーム１３を照射する電子銃１と、絞り手段３と、光学手段２と、電圧印加手段４とを含んでいる。 - 特許庁

A switching part 31 switches the connection of imaging parts 13 and 14, and a CPU 36 acquires the information of the imaging parts 13 and 14 through the switching part 31 and stores it in a memory 35 when a microscope system 11 is activated.例文帳に追加

切替部３１は、撮像部１３および１４との接続を切り替え、CPU３６は、顕微鏡システム１１の起動時に、切替部３１を介して撮像部１３および１４の情報を取得して、メモリ３５に記憶させる。 - 特許庁

To facilitate sample alignment when samples are the samples that are scattered with regularity in a minimum region in a flat plane which has almost no features and is hardly discovered by direct observation of an observation face with an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡による観察面の直接観察では発見しにくい、平坦で特徴の少ない面内の極小領域に規則性を持って点在する試料であった場合に、アライメントを容易にする。 - 特許庁

An objective lens 13 and scaling optical systems 14a and 14b serve as a microscopic objective optical system which is provided in a casing 12 for the operating microscope 10 so as to obtain an optical image of the subject 2.例文帳に追加

対物レンズ１３及び変倍光学系１４ａ，１４ｂは、前記手術用顕微鏡１０の筐体１２に設けられ前記被検体２の光学像を得るための顕微鏡対物光学系となっている。 - 特許庁

To provide a scan probe microscope to shorten the time when the measurement of a work can be started after the set temperature of an outer cylinder of a scanner is switched from a rough adjustment temperature to the preheating temperature.例文帳に追加

スキャナ外筒の設定温度を粗動温度から予熱温度に切替えた時点から、被測定物の測定を開始できるようになるまでの時間を短縮できる走査型プローブ顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

In an embodiment, a high resolution image acquisition unit 453 gives operation instructions for a microscope device 2, and acquires a plurality of specimen area block images picked up for each part of a specimen area.例文帳に追加

本発明のある実施の形態において、高解像画像取得処理部４５３は、顕微鏡装置２に対する動作指示を行い、標本領域を部分毎に撮像した複数の標本領域区画画像を取得する。 - 特許庁

When the number of the residues is counted by means of a data processor, particle counter, etc., under an optical microscope, the density of the defects as precipitation of oxygen in the etched sample can be found.例文帳に追加

例えば、酸素析出欠陥の存在するシリコンウエハを試料としてこれを対酸化物選択比の大きい条件でエッチングすることで、エッチングされにくい酸素析出欠陥を頂点として円錐状エッチング残渣を得る。 - 特許庁