「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(148ページ目) - Weblio英語例文検索

The plated material for the terminal or the connector has the Au plating layer formed on the surface of a base material composed of the stainless steel thin plate, wherein the arithmetic surface roughness (Ra) of the plating layer measured by an atomic force microscope is 3.0 nm or less.例文帳に追加

ステンレス鋼薄板からなる基材の表面に、原子間力顕微鏡により測定した算術表面粗さ（Ra）が３．０ｎｍ以下であるＡｕめっき層を形成してなる端子又はコネクタ用めっき材である。 - 特許庁

The reduction of the transmittance is adjusted to be equal to that of a glass or quartz part not subjected to defect correction, by the vibration amplitude, indention depth, feedback gain and scanning interval of the probe 1 of the scanning probe microscope.例文帳に追加

透過率の低下量は欠陥修正していないガラスまたは石英部分と同じになるように走査プローブ顕微鏡の探針１の振動振幅と押し込み量とフィードバックゲインと走査間隔で調整する。 - 特許庁

The inverted microscope is equipped with a stage for placing a dish 113 in which a sample 112 is put, an objective lens 110 positioned under the dish 113, and an observation optical system for observing the sample 112.例文帳に追加

倒立顕微鏡は、標本１１２を入れたディッシュ１１３を載置するためのステージと、ディッシュ１１３の下方に位置する対物レンズ１１０と、標本１１２を観察するための観察光学系とを備えている。 - 特許庁

By supplying air to the bearing part 21 and making a rolling body 22 float in the midst of aligning the microscope A, a base board 16 floats and is freely moved with respect to the top board 17.例文帳に追加

そして、顕微鏡Ａの位置合わせ中において、ベアリング部２１にエアーを供給して転動体２２を浮上させることで、ベース板１６が浮上し、天板１７に対しベース板１６を自由に移動させることができる。 - 特許庁

The silver particle is provided, wherein the shape by electron microscope observation is nongranular; the central particle diameter (D50) is 0.05 to 3.0 μm, and also, the content of carbon is 0.03 to 3 mass%.例文帳に追加

電子顕微鏡観察による形状が非粒状であり、中心粒径（Ｄ５０）が０．０５μｍ〜３．０μｍであり、且つ、カーボン含有量が０．０３〜３質量％であることを特徴とする銀粒子を提案する。 - 特許庁

To provide a tube to be adapted to a microscope having an adaptable interface (2), an operator interface (3) arranged to be rotated, a beam refracting device (4) and a beam refracting unit (5) arranged to be rotated.例文帳に追加

本発明は、適合インターフェース（２）、回転可能に配されたオペレータインターフェース（３）、ビーム屈折装置（４）及び回転可能に配されたビーム屈折ユニット（５）を有するマイクロスコープに適合するためのチューブに関する。 - 特許庁

To provide a specimen holder for an electron microscope, to which the present invention relates, and which permits a field of view to be obtained at a tilt angle that is made as close as possible to 90° and can be manipulated easily.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡用試料ホルダーに関し、可能な限り９０°に近い傾斜角度で視野を得ることができ、また操作性のよい電子顕微鏡用試料ホルダーを提供することを目的としている。 - 特許庁

A system controller 8 of the scanning laser microscope device outputs an A/D conversion clock (a) to an A/D converter 12 of the photometric apparatus 7 and outputs a pixel clock (p) to an arithmetic unit 13 of the photometric apparatus 7.例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡装置のシステムコントローラ８はＡ／Ｄ変換クロックａを測光装置７のＡ／Ｄ変換器１２に出力し、画素クロックｐを同じく測光装置７の演算装置１３に出力する。 - 特許庁

The microscope main body 100 is provided with a plurality of optical devices (electric revolver device 110, etc.), having a plurality of optical members (objective lens 115, etc.), driving motor 112, etc., which moves the optical members on the optical path and so on.例文帳に追加

顕微鏡本体１００は、複数の光学装置（電動レボルバ装置１１０等）を備え、これらは複数の光学部材（対物レンズ１１５等）とこれを光路上に移動させる駆動モータ１１２等とを有する。 - 特許庁

To provide an optical element with a dielectric multi-layered film which can obtain a visual field while suppressing lightness unevenness and color unevenness as much as possible even when the element is arranged in an optical path and a microscope which uses it.例文帳に追加

光路中に配置しても明るさムラや色ムラを極力抑えた視野を得ることができる誘電体多層膜を有する光学素子及びそれを用いた顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a thin-layer oblique illumination system that can move illumination light in a thin-layer shape along the depth of a sample while keeping constant illumination conditions in the sample, and to provide a microscope.例文帳に追加

標本の内部における照明条件を一定に保ちながら、薄層状の照明光を標本の深さ方向に移動させることができる薄層斜光照明装置および顕微鏡を提供する。 - 特許庁

That is, the contents set in the microscope once can be stored by the set contents obtaining means, so that the same set contents are reproduced later without depending on operator's memory and notes.例文帳に追加

すなわち、一度顕微鏡に設定した内容を設定内容取得手段に記憶させることができるので、操作者の記憶やメモを介すことなく後に同一の設定内容を再現することが可能となる。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope, allowing an image satisfactory for observing of the irregular shapes of an object of observation to be observed correctly and accurately three-directionally, and to provide a three-dimensional image display method that uses it.例文帳に追加

被観察対象物の凹凸形状を観察するに十分な画像を正確に精度よく立体観察可能とする走査型電子顕微鏡装置およびこれを用いた三次元画像表示方法を提供する。 - 特許庁

The near-field microscope can be used over in the range of the microwave band to the milimeter wave band by utilizing the probe 7 coupled to the waveguide resonator 5, and can have its volume minimized and sensitivity and resolving power enhanced.例文帳に追加

前記のように導波管共振器５に結合された探針７を利用して、マイクロウェーブ帯域からミリメートルウェーブ帯域まで使用でき、体積を最小化し、かつ感度と分解能とを向上させうる。 - 特許庁

This microscope is provided with the stage 150 on which a sample is mounted, an objective lens 104 arranged under the stage 150, and an image-formation lens 106 and relay lenses 113 and 115 arranged in order on an optical axis 114.例文帳に追加

標本を搭載するためのステージ１５０と、ステージ１５０の下側に配置された対物レンズ１０４と、光軸１１４上に順に配置された結像レンズ１０６とリレーレンズ１１３，１１５とを有する。 - 特許庁

To improve the reproducibility of a position relation on a light source, a foreign matter and an opening part, to eliminate the need of a complicated operation for using an optical microscope and to highly precisely evaluate PRNU.例文帳に追加

光電変換素子を用いたラインセンサーにおいて、光源、異物、開口部の位置関係の再現性が良く、光学顕微鏡を使うような煩雑な操作が不要で、精度良くＰＲＮＵを評価することができるようにする。 - 特許庁

To provide a probe microscope capable of reducing probe damage when positioning a probe and a sample on a measuring domain, and performing proper and stable measurement by suppressing a resolution change caused by a probe tip shape.例文帳に追加

探針と試料を測定領域に位置決めする際の探針破損を低減させ、探針先端形状に起因する分解能の変化を抑えて、適切でしかも安定な測定ができるプローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can measure exact information on solid shape of a sample, simultaneously with the distribution information on the local properties of the sample by highest throughput, without damaging the sample.例文帳に追加

高スループットで試料にダメージを与えずに、試料の正確な立体形状情報と同時に試料の局所的特性に関する分布情報を計測できる走査プローブ顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope constituted so as to measure the relative displacement of an article to be inspected and a cantilever and capable of measuring the displacement of the cantilever, even if the article to be inspected is not placed on the stage.例文帳に追加

被検物とカンチレバーとの相対変位を計測する原子間力顕微鏡において、ステージ上に被検物が載置されていなくてもカンチレバーの変位を計測可能な原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an image pickup device of a microscope, which can ensure a frame rate without losing the framing or focus operability even when a sample is dark and avoid disturbance in sample observation due to deteriorated S/N.例文帳に追加

標本が暗い場合でもフレーミングや合焦の操作性を損なうことのないフレームレートを確保できるとともに、Ｓ／Ｎ劣化による標本観察の妨げを回避できる顕微鏡用撮像装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope for surgical operation capable of making an inputting means of an electric driving part of a first observation means and an inputting means of an electric driving part of a second observation means the same and improving operability of both means.例文帳に追加

第１の観察手段の電動駆動部の入力手段と、第２の観察手段の電動駆動部の入力手段とを同一にし、両者の操作性を向上させる手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

NEAR-FIELD LIGHT MICROSCOPE, NEAR-FIELD LIGHT IMAGING METHOD, NEAR-FIELD LIGHT IMAGING DEVICE, AND PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE NEAR-FIELD LIGHT IMAGING METHOD, RECORDING MEDIUM, AND HIGH-DENSITY RECORDING INFORMATION MEDIA READING DEVICE例文帳に追加

近接場光顕微鏡、近接場光イメージング方法、近接場光イメージング装置、近接場光イメージング法をコンピュータに実行させるプログラム、記録媒体および高密度記録情報メディア読み取り装置 - 特許庁

To provide a microscope apparatus equipped with an illuminating part having a small-scaled circuit for a control part to control the lighting of an LED light source, and also, configured to perform the replacement work of the LED light source in a short time.例文帳に追加

ＬＥＤ光源の点灯制御を行う制御部の回路規模が小さく、且つ、ＬＥＤ光源の交換作業を短時間で済ませることのできる照明部を備えた顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

This is the manufacturing method of a microgrid 1 which is used for a test piece support at the time of observation by an electron microscope and has a grid mesh 10 and a thin film 20 having a pore installed on the grid mesh.例文帳に追加

電子顕微鏡による観察の際に試料支持用として用いられる、グリッドメッシュ１０と、グリッドメッシュ上に設けられた、孔部を有する薄膜２０と、を備えたマイクログリッド１の製造方法である。 - 特許庁

In the scanning probe microscope for detecting the physical quantity acting across a probe and a sample, the probe and the sample are relatively scanned using the scanner.例文帳に追加

探針と試料との間に作用する物理量を検出する走査形プローブ顕微鏡において、前記スキャナを用いて前記探針と前記試料を相対的に走査することを特徴とする走査形プローブ顕微鏡。 - 特許庁

To generate a three-dimensional image of skin with high resolution of a cell level regarding a three-dimensional image generation apparatus for the skin with which the three-dimensional image of the skin is generated by using a confocal microscope.例文帳に追加

本発明は共焦点顕微鏡を用いて皮膚の三次元画像を生成する皮膚の三次元画像生成装置に関し、細胞レベルの高解像度を有した皮膚の三次元画像を生成することを課題とする。 - 特許庁

To provide a scanning charged particle beam device, an image display method of the same, and the scanning microscope suitable for easily conducting evaluation, control, and adjustment for reducing an effect of image trouble caused by vibration.例文帳に追加

振動による像障害の評価、管理や影響を低減するための調整を容易に行えるようにするのに好適な走査型荷電粒子線装置、その像表示方法、および走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of irradiating a necessary range of a sample with illumination light only for necessary time and suppressing the influence of irradiation with illumination light to the irreducible minimum.例文帳に追加

標本の必要とする範囲に、必要とする時間だけ照明光を照射することができ、必要以外の標本への照明光を照射する影響を最小限に抑えることができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a stereomicroscope that makes left brightness and right brightness equal and has an inter-optical-axis distance-varying function without increasing the size of the body of the stereomicroscope, and to provide a lens drive mechanism for a microscope, which achieves the stereomicroscope.例文帳に追加

左右の明るさを同等にでき、実体顕微鏡本体の大型化を招くことなく光軸間距離可変機能を有する実体顕微鏡と、これを実現する顕微鏡のレンズ駆動機構を提供する。 - 特許庁

A light projection tube unit 101 is releasably attached to a microscope body and allows a vertical illumination module 103, a total reflection illumination module 104, and a spot illumination module 105 to be attached to and detached from an incident section 101A.例文帳に追加

投光管ユニット１０１は、顕微鏡の本体に着脱自在であり、落射照明モジュール１０３、全反射照明モジュール１０４およびスポット照明モジュール１０５を入射部１０１Ａに着脱することができる。 - 特許庁

Once the search mark is detected, a work stage WS is moved so that the work mark WAM is within a visual field of the alignment microscope 10 in a magnification ratio of ten, and the work mark WAM is detected with the magnification ratio of ten.例文帳に追加

探索マークが検出されたら、ワークマークＷＡＭが１０倍の倍率のアライメント顕微鏡１０の視野に入るようにワークステージＷＳを移動させ、１０倍の倍率でワークマークＷＡＭを検出する。 - 特許庁

To provide an apparatus, method and program for focus correction, and microscope which can stabilize the focus even when non-optical system elements generate a drift in different direction from the direction of a drift caused by optical system.例文帳に追加

光学系のドリフト方向とは異なる方向にドリフトを生じさせる光学系以外の要素があってもフォーカスを安定化し得るフォーカス補正装置、フォーカス補正方法、フォーカス補正プログラム及び顕微鏡を提案する。 - 特許庁

To provide means for observing simultaneously both a fluorescently labeled target cell and a pipette with a fluorescence microscope in the cases such as that for analyzing a fluorescently labeled nerve cell by the patch clump method.例文帳に追加

蛍光標識された神経細胞をパッチクランプ法で解析する場合などにおいて、蛍光標識された標的細胞とピペットの両方を蛍光顕微鏡下で同時に観察するための手段を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device of a critical-dimension measuring scanning electron microscope (CD-SEM) or the like, measuring accurately a pattern dimension on a photomask for nanoimprint by a retarding voltage application system.例文帳に追加

リターディング電圧印加方式によってナノインプリント用フォトマスク上のパターン寸法を正確に測定することができる微小寸法測定走査電子顕微鏡（CD-SEM）等の荷電粒子線装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an inexpensive electrolytic polishing device having a wide observation visual field of a sample by a transmission electron microscope, requiring an extremely small amount of electrolytic solution to be used, and reducing dramatically a load on an environment.例文帳に追加

使用する電解液が極めて少量であり、環境への負荷が劇的に減少すると共に、透過型電子顕微鏡による試料の観察視野も広く且つ安価な電解研磨装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope and a sample observation method capable of detecting scattered electrons of a high scattering angle, without receiving restrictions due to the spherical aberrations of an electron lens and improving the depth resolution.例文帳に追加

電子レンズの球面収差による制約を受けることなく高散乱角の散乱電子を検出し、深さ分解能を向上させることができる透過型電子顕微鏡及び試料観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope which is suitable for the high-resolution three-dimensional viewing of millimeter-size biological objects, wherein fast acquisition of data is possible and a structure is technically as simple as possible to implement.例文帳に追加

データの迅速な撮影が可能であって、構成が技術的にできるだけ簡単に実現されるような、ミリメータサイズの生物学的な対象物の高解像度による３次元的な観察に適した顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device having a mechanism in which ionic liquid shape and membrane thickness are adjusted to be adhered to samples so as to be suitable for various observations by electronic microscope or processing by ion beam.例文帳に追加

電子顕微鏡等による各種観察やイオンビームによる加工に適するように、試料に付着させるイオン液体の形状及び膜厚を調整する機構を有する荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a cantilever holder which can be used under various environments, regardless of the kinds of solution and gas and which can efficiently vibrate a cantilever, and to provide a scanning probe microscope with improved measurement accuracy being equipped with the holder.例文帳に追加

溶液やガスの種類を問わず、様々な環境下で使用可能で、カンチレバーを効率的に加振可能にしたカンチレバーホルダ及びそれを備えて測定精度を向上させた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a device for recognition of a thin-film sample position in an electron microscope, allowing multi-axial stage movement to bring easily an objective thin film sample piece within an observation visual field.例文帳に追加

本発明は簡単に目的の薄膜試料片が観察視野に入るように多軸ステージ移動することができる電子顕微鏡における薄膜試料位置認識装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To keep the clean state of a sample or the working region around the sample in case of doing the work during observation by microscope and to achieve good workability.例文帳に追加

顕微鏡装置において、顕微鏡観察を行いつつ作業を行う場合に、試料あるいは試料の周囲の作業領域の清浄性を保つことができるとともに作業性が良好となるようにする。 - 特許庁

Herewith, a CdTe-system semiconductor substrate will be realized in which a projection with a height of ≥5 nm is not observed within the visual field of 10 μm×10 μm when the surface of the substrate is observed by an atomic force microscope.例文帳に追加

これにより、原子間力顕微鏡で基板表面を観察したときに１０μｍ×１０μｍの視野範囲内に高さ５ｎｍ以上の突起が観察されないＣｄＴｅ系半導体基板が実現される。 - 特許庁

To provide an objective lens that is equal in outside diameter to an objective lens used for bright field observation and enables dark field observation by using a bright field illuminating optical system, and to provide a microscope that has the objective lens.例文帳に追加

対物レンズの外径が明視野観察用対物レンズと同等で、明視野照明光学系を用いて暗視野観察を可能とする対物レンズ及び該対物レンズを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a temperature measurement probe, a temperature measurement device and a temperature measurement method using the probe, which can be used in a general-purpose scanning probe microscope device and are hardly affected by the heat deformation of samples.例文帳に追加

汎用の走査型プローブ顕微鏡装置でも使用可能で、かつ試料の熱変形の影響を受けにくい温度測定用プローブ、および前記プローブを用いた温度測定装置および温度測定方法を提供する - 特許庁

To provide an image pickup unit which uses an electronic microscope for automatically sorting fine defects, shortens an image acquiring time, decreases a calculation cost of image processing, and suppressing a calculator resource, and to provide a method thereof.例文帳に追加

微細な欠陥を自動分類するための電子顕微鏡を用いた撮像ユニットにおいて、画像取得時間，画像処理の計算コスト、および、計算機資源を抑えた撮像ユニットおよびその方法を提供する。 - 特許庁