「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(148ページ目) - Weblio英語例文検索

When the number of the residues is counted by means of a data processor, particle counter, etc., under an optical microscope, the density of the defects as precipitation of oxygen in the etched sample can be found.例文帳に追加

例えば、酸素析出欠陥の存在するシリコンウエハを試料としてこれを対酸化物選択比の大きい条件でエッチングすることで、エッチングされにくい酸素析出欠陥を頂点として円錐状エッチング残渣を得る。 - 特許庁

In this mapping type electron microscope, an illuminating mirror cylinder 11 is disposed to have an angle of θ1 relative to an optical axis and an illuminating mirror cylinder 12 is disposed to have an angle of θ2 relative to the optical axis, these cylinders 11 and 12 emit electron beams to the center of a Wien filter 13.例文帳に追加

照明鏡筒１１は光軸とθ１の角度、照明鏡筒１２は光軸とθ２の角度をなして設けられ、ウィーンフィルター１３の中心に向けて電子ビームを放出している。 - 特許庁

The cryogenic energy storing means is disposed under the specimen holding means, whereby the cryogenic energy can be continuously supplied to the specimen, and the observation time for the specimen in an electron microscope can be thus extended.例文帳に追加

冷却エネルギー蓄積手段は、試料載置手段の下方に配置されることで、試料に持続的に冷却エネルギーを供給し、ひいては電子顕微鏡を用いて試料を観察する時間を延長できる。 - 特許庁

A differential interference microscope 1 includes: a light source 2; and a lateral deviation variable device 20 capable of varying a lateral deviation between first polarized light and second polarized light.例文帳に追加

光源２と、前記光源から射出された光のうち試料４表面上での第１の偏光と第２の偏光との横ズレ量を可変可能な横ズレ量可変装置２０と、を備えた微分干渉顕微鏡１に関する。 - 特許庁

To provide a micro-grid structure for holding specimens of an electron microscope which can reduce the possibility of breakage of a specimen holding film as well as easily discriminable between such as the front and back surfaces of a specimen, and to provide a manufacturing method of the specimens.例文帳に追加

マイクログリッドが有する試料を載置するための支持膜の破損の可能性を低減し、また、試料の表裏等の区別を容易にできるマイクログリッド及び電子顕微鏡用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a stereo microscope by which a focusing state, size and a position of an image of an observation object respectively formed on an image pickup surface of an image pickup unit are respectively adjusted by each photographing optical system.例文帳に追加

各撮影光学系によって撮像装置の撮像面に夫々結像される観察対象物の像のピント状態，大きさ，及び位置を夫々調整することができる立体顕微鏡を、提供する。 - 特許庁

The scanning charged particle microscope performs the analog integration of the detection signal with an analog integrator 7; if output of the analog integrator 7 exceeds a specified value, converts the output to a digital value with an A/D converter 8; and performs the digital integration of the digital value with a digital integrator 9.例文帳に追加

検出信号をアナログ積分器7でアナログ積分し、アナログ積分器7の出力が指定した値を越えたらA/D変換器8でディジタル値に変換し、そのディジタル値をディジタル積分器9でディジタル積分する。 - 特許庁

In the microscope system 1, a fresh slide glass SG is obtained and held by the supply arm 35, and is kept in a stand-by state near the stage 15 together with the empty ejection arm 36.例文帳に追加

また顕微鏡システム１は、スライドガラスＳＧの撮像処理中に、供給アーム３５により新たなスライドガラスＳＧを取得して保持させ、空の排出アーム３６と共にステージ１５の近傍で待機させておく。 - 特許庁

To provide a microscope which adopts a compact illuminating device adopting an LED as a light source, achieving observation good in resolution and sensitivity, also obtaining uniform illumination free from an illumination spot, having high efficiency of utilizing light and making power consumption low.例文帳に追加

光源にＬＥＤを採用し、分解能と感度の高い観察ができると共に、照明斑のない均一な、光の利用効率の高い、低消費電力でコンパクトな照明装置を採用した顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide a heating device for a microscope by which the temperature of a transparent plate for heating on which an inspection sample is placed or a transparent plate for protection are always kept at a specified temperature, whose temperature disribution is uniform, and which can be made thinner.例文帳に追加

従来の顕微鏡用加温装置は検体を載せる発熱用透明板または保護用透明板が常に所望の温度に保つのが難しく、またその温度分布が不均一になりがちである。 - 特許庁

In this microscope, opening dimensions of rectangle stop 40A is calculated by a microcomputer 70 on the basis of the dimensions of an imaging element disposed on the imaging device and/or the powers m1, m2 of variable magnification optical systems 5, 6.例文帳に追加

この顕微鏡では、撮像装置に設置された撮像素子の寸法および／または変倍光学系５，６の倍率ｍ１，ｍ２を基に、矩形絞り４０Ａの開口寸法がマイクロコンピュータ７０により算出される。 - 特許庁

To provide a microscope for a surgical operation constituted so that the lens and the like of an eye to be inspected can be clearly observed by effectively eliminating the virtual image of an illumination light source caused by light reflected on the cornea of the eye to be inspected.例文帳に追加

本発明は、被検眼の角膜反射光による照明光源の虚像を有効に除去して被検眼の水晶体等を明瞭に観察することが可能な手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope whose resolution is improved by partial spatial superposition during illumination by an exciting light beam and a deexciting light beam and/or a switching light beam on a sample which emits phosphor.例文帳に追加

励起光線および脱励起光線、および／または蛍光を発する試料におけるスイッチング光線による、照明中における部分的空間的重なりによって解像度を高めた顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The plated material for the terminal or the connector has the Au plating layer formed on the surface of a base material composed of the stainless steel thin plate, wherein the arithmetic surface roughness (Ra) of the plating layer measured by an atomic force microscope is 3.0 nm or less.例文帳に追加

ステンレス鋼薄板からなる基材の表面に、原子間力顕微鏡により測定した算術表面粗さ（Ra）が３．０ｎｍ以下であるＡｕめっき層を形成してなる端子又はコネクタ用めっき材である。 - 特許庁

The reduction of the transmittance is adjusted to be equal to that of a glass or quartz part not subjected to defect correction, by the vibration amplitude, indention depth, feedback gain and scanning interval of the probe 1 of the scanning probe microscope.例文帳に追加

透過率の低下量は欠陥修正していないガラスまたは石英部分と同じになるように走査プローブ顕微鏡の探針１の振動振幅と押し込み量とフィードバックゲインと走査間隔で調整する。 - 特許庁

An image of skin imaged by means of a microscope camera is input to a PC (steps S20 and S30), and using this image as a subject, skin groove components are extracted by means of a morphological filter to provide a skin groove multi-value image (steps S40 and S50).例文帳に追加

マイクロスコープカメラで撮影した肌の画像をＰＣに入力し（ステップＳ２０、Ｓ３０）、この画像を対象としてモルフォロジカル・フィルタにより皮溝成分を抽出し、皮溝多値画像を得る（ステップＳ４０、Ｓ５０）。 - 特許庁

To provide an optical apparatus for observation, with the optical apparatus configured so as to be switched between the position used for microscope observation and the position used for other purposes, by moving the illumination light source through a simple mechanism and using only simple operations.例文帳に追加

簡単な機構でかつ容易な操作のみで照明光源を移動させて顕微観察用途とそれ以外の用途にそれぞれ適した位置に切り換え得るようにした観察用光学機器を提供する。 - 特許庁

The scanning type microscope detects the observation light from the sample 2 with a PMT (photo multiplier tube) 66a and a PMT 66b by irradiating the sample 2 with excited light of a predetermined wavelength while scanning the sample 2 with the excited light without performing descanning with the observation light from the sample 2.例文帳に追加

走査型顕微鏡は、所定の波長の励起光を走査しながら試料２に照射し、試料２からの観察光をデスキャンせずにPMT６６ａおよびPMT６６ｂにより検出することが可能である。 - 特許庁

To provide an X-ray microscope for improving resolution of an X-ray image, and to provide a microscopic method using X rays.例文帳に追加

本発明はＸ線顕微鏡及びＸ線を用いた顕微方法に関し、Ｘ線画像の分解能を向上させることができるＸ線顕微鏡及びＸ線を用いた顕微方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a stereo-microscope by which a stereoscopic effect is prevented from getting different even when the angle of convergence is different between respective testers and whose assembly adjustment is facilitated even in the case of structure obtaining the same stereoscopic effect.例文帳に追加

検者各々により輻輳角が異なっても、立体感が異なってしまうことがなく、また同じ立体感が得られる構造としても組立調整が容易な双眼実体顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope or an image processing apparatus in which an imaging unit and a display unit which are separated from each other are connected by radio communication and which can deal with a communication error or a decoding error that may occur in connection by radio communication.例文帳に追加

離隔した撮像部と表示部とを無線通信で接続すると共に無線通信による接続で生じうる通信エラーや復号エラーに対応できる顕微鏡や画像処理装置を提供する。 - 特許庁

The inverted microscope is equipped with a stage for placing a dish 113 in which a sample 112 is put, an objective lens 110 positioned under the dish 113, and an observation optical system for observing the sample 112.例文帳に追加

倒立顕微鏡は、標本１１２を入れたディッシュ１１３を載置するためのステージと、ディッシュ１１３の下方に位置する対物レンズ１１０と、標本１１２を観察するための観察光学系とを備えている。 - 特許庁

By supplying air to the bearing part 21 and making a rolling body 22 float in the midst of aligning the microscope A, a base board 16 floats and is freely moved with respect to the top board 17.例文帳に追加

そして、顕微鏡Ａの位置合わせ中において、ベアリング部２１にエアーを供給して転動体２２を浮上させることで、ベース板１６が浮上し、天板１７に対しベース板１６を自由に移動させることができる。 - 特許庁

The silver particle is provided, wherein the shape by electron microscope observation is nongranular; the central particle diameter (D50) is 0.05 to 3.0 μm, and also, the content of carbon is 0.03 to 3 mass%.例文帳に追加

電子顕微鏡観察による形状が非粒状であり、中心粒径（Ｄ５０）が０．０５μｍ〜３．０μｍであり、且つ、カーボン含有量が０．０３〜３質量％であることを特徴とする銀粒子を提案する。 - 特許庁

To provide a tube to be adapted to a microscope having an adaptable interface (2), an operator interface (3) arranged to be rotated, a beam refracting device (4) and a beam refracting unit (5) arranged to be rotated.例文帳に追加

本発明は、適合インターフェース（２）、回転可能に配されたオペレータインターフェース（３）、ビーム屈折装置（４）及び回転可能に配されたビーム屈折ユニット（５）を有するマイクロスコープに適合するためのチューブに関する。 - 特許庁

To provide a specimen holder for an electron microscope, to which the present invention relates, and which permits a field of view to be obtained at a tilt angle that is made as close as possible to 90° and can be manipulated easily.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡用試料ホルダーに関し、可能な限り９０°に近い傾斜角度で視野を得ることができ、また操作性のよい電子顕微鏡用試料ホルダーを提供することを目的としている。 - 特許庁

A system controller 8 of the scanning laser microscope device outputs an A/D conversion clock (a) to an A/D converter 12 of the photometric apparatus 7 and outputs a pixel clock (p) to an arithmetic unit 13 of the photometric apparatus 7.例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡装置のシステムコントローラ８はＡ／Ｄ変換クロックａを測光装置７のＡ／Ｄ変換器１２に出力し、画素クロックｐを同じく測光装置７の演算装置１３に出力する。 - 特許庁

The microscope main body 100 is provided with a plurality of optical devices (electric revolver device 110, etc.), having a plurality of optical members (objective lens 115, etc.), driving motor 112, etc., which moves the optical members on the optical path and so on.例文帳に追加

顕微鏡本体１００は、複数の光学装置（電動レボルバ装置１１０等）を備え、これらは複数の光学部材（対物レンズ１１５等）とこれを光路上に移動させる駆動モータ１１２等とを有する。 - 特許庁

To provide an optical element with a dielectric multi-layered film which can obtain a visual field while suppressing lightness unevenness and color unevenness as much as possible even when the element is arranged in an optical path and a microscope which uses it.例文帳に追加

光路中に配置しても明るさムラや色ムラを極力抑えた視野を得ることができる誘電体多層膜を有する光学素子及びそれを用いた顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a thin-layer oblique illumination system that can move illumination light in a thin-layer shape along the depth of a sample while keeping constant illumination conditions in the sample, and to provide a microscope.例文帳に追加

標本の内部における照明条件を一定に保ちながら、薄層状の照明光を標本の深さ方向に移動させることができる薄層斜光照明装置および顕微鏡を提供する。 - 特許庁

That is, the contents set in the microscope once can be stored by the set contents obtaining means, so that the same set contents are reproduced later without depending on operator's memory and notes.例文帳に追加

すなわち、一度顕微鏡に設定した内容を設定内容取得手段に記憶させることができるので、操作者の記憶やメモを介すことなく後に同一の設定内容を再現することが可能となる。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope, allowing an image satisfactory for observing of the irregular shapes of an object of observation to be observed correctly and accurately three-directionally, and to provide a three-dimensional image display method that uses it.例文帳に追加

被観察対象物の凹凸形状を観察するに十分な画像を正確に精度よく立体観察可能とする走査型電子顕微鏡装置およびこれを用いた三次元画像表示方法を提供する。 - 特許庁

The near-field microscope can be used over in the range of the microwave band to the milimeter wave band by utilizing the probe 7 coupled to the waveguide resonator 5, and can have its volume minimized and sensitivity and resolving power enhanced.例文帳に追加

前記のように導波管共振器５に結合された探針７を利用して、マイクロウェーブ帯域からミリメートルウェーブ帯域まで使用でき、体積を最小化し、かつ感度と分解能とを向上させうる。 - 特許庁

This microscope is provided with the stage 150 on which a sample is mounted, an objective lens 104 arranged under the stage 150, and an image-formation lens 106 and relay lenses 113 and 115 arranged in order on an optical axis 114.例文帳に追加

標本を搭載するためのステージ１５０と、ステージ１５０の下側に配置された対物レンズ１０４と、光軸１１４上に順に配置された結像レンズ１０６とリレーレンズ１１３，１１５とを有する。 - 特許庁

To improve the reproducibility of a position relation on a light source, a foreign matter and an opening part, to eliminate the need of a complicated operation for using an optical microscope and to highly precisely evaluate PRNU.例文帳に追加

光電変換素子を用いたラインセンサーにおいて、光源、異物、開口部の位置関係の再現性が良く、光学顕微鏡を使うような煩雑な操作が不要で、精度良くＰＲＮＵを評価することができるようにする。 - 特許庁

To provide a probe microscope capable of reducing probe damage when positioning a probe and a sample on a measuring domain, and performing proper and stable measurement by suppressing a resolution change caused by a probe tip shape.例文帳に追加

探針と試料を測定領域に位置決めする際の探針破損を低減させ、探針先端形状に起因する分解能の変化を抑えて、適切でしかも安定な測定ができるプローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can measure exact information on solid shape of a sample, simultaneously with the distribution information on the local properties of the sample by highest throughput, without damaging the sample.例文帳に追加

高スループットで試料にダメージを与えずに、試料の正確な立体形状情報と同時に試料の局所的特性に関する分布情報を計測できる走査プローブ顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope constituted so as to measure the relative displacement of an article to be inspected and a cantilever and capable of measuring the displacement of the cantilever, even if the article to be inspected is not placed on the stage.例文帳に追加

被検物とカンチレバーとの相対変位を計測する原子間力顕微鏡において、ステージ上に被検物が載置されていなくてもカンチレバーの変位を計測可能な原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an image pickup device of a microscope, which can ensure a frame rate without losing the framing or focus operability even when a sample is dark and avoid disturbance in sample observation due to deteriorated S/N.例文帳に追加

標本が暗い場合でもフレーミングや合焦の操作性を損なうことのないフレームレートを確保できるとともに、Ｓ／Ｎ劣化による標本観察の妨げを回避できる顕微鏡用撮像装置を提供する。 - 特許庁

When performing alignment, an optical positive image, which is an image of observing the end face different from the observation face of the electron microscope from an oblique direction, is photographed at an observation-target portion arbitrarily selected from among a plurality of the observation target portions.例文帳に追加

アライメントの際には、複数ある観察対象部位から任意に選択した観察対象部位で、電子顕微鏡の観察面とは異なる端面を斜めから観察した光顕画像を撮影する。 - 特許庁

Furthermore, the magnetic domain observation microscope 1 includes, as a control system 12, a CPU 31, and a gray scale magnetic domain image generation section 33 for generating a gray scale magnetic domain image, and a color magnetic domain image generation section 34 for generating a color magnetic domain image from the gray scale magnetic domain image.例文帳に追加

さらに、制御系１２として、ＣＰＵ３１やグレースケール磁区像を生成するグレースケール磁区像生成部３３、グレースケール磁区像からカラー磁区像を生成するカラー磁区像生成部３４を有する。 - 特許庁

To provide a technique capable of carrying out repair and regeneration in a vacuum chamber without extracting and changing defective parts when the abrasion or breakage of a probe of a probe microscope, the flection or breakage of a micro-manipulator, or the abrasion or breakage of micro-tweezers occur.例文帳に追加

プローブ顕微鏡の探針の摩耗や折れ、マイクロマニピュレータの屈曲や折れ、マイクロピンセットの磨耗や折れが生じた際、取り出して交換することなく、真空チャンバ内で補修再生ができる技術を提示する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus equipped with an illuminating part having a small-scaled circuit for a control part to control the lighting of an LED light source, and also, configured to perform the replacement work of the LED light source in a short time.例文帳に追加

ＬＥＤ光源の点灯制御を行う制御部の回路規模が小さく、且つ、ＬＥＤ光源の交換作業を短時間で済ませることのできる照明部を備えた顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope for surgical operation capable of making an inputting means of an electric driving part of a first observation means and an inputting means of an electric driving part of a second observation means the same and improving operability of both means.例文帳に追加

第１の観察手段の電動駆動部の入力手段と、第２の観察手段の電動駆動部の入力手段とを同一にし、両者の操作性を向上させる手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

NEAR-FIELD LIGHT MICROSCOPE, NEAR-FIELD LIGHT IMAGING METHOD, NEAR-FIELD LIGHT IMAGING DEVICE, AND PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE NEAR-FIELD LIGHT IMAGING METHOD, RECORDING MEDIUM, AND HIGH-DENSITY RECORDING INFORMATION MEDIA READING DEVICE例文帳に追加

近接場光顕微鏡、近接場光イメージング方法、近接場光イメージング装置、近接場光イメージング法をコンピュータに実行させるプログラム、記録媒体および高密度記録情報メディア読み取り装置 - 特許庁