「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(144ページ目) - Weblio英語例文検索

Since the positions and inclinations of a specimen of a continuous section on a prepared slide are irregular, it is necessary to adjust its positions and angles on a computer so that continuous digital microscope photographs are superposed on each other.例文帳に追加

連続切片のプレパラート上の標本は位置、傾きが一定ではないので連続するデジタル顕微鏡写真が重なり合うようにコンピューター上で位置と角度を調整する必要がある。 - 特許庁

For the charged particle beam apparatus which performs observation, recording and analysis of an image from a scanning microscope, a digital space-time filter arithmetic circuit 17 for processing detected signals is provided in an image signal system.例文帳に追加

走査型顕微鏡の画像観察、記録、分析を行なう荷電粒子ビーム装置において、検出した信号を処理するディジタル時空間フィルタ演算回路１７を画像信号系に設けて構成する。 - 特許庁

To provide a focus detector for a microscope accurately detecting a focusing position even when a peak shape obtained when relation between the intensity of a light quantity signal and a relative position is made a graph, is flat.例文帳に追加

光量信号の強度と相対位置との関係をグラフ化したときのピーク形状が平坦な場合でも、合焦位置を正確に検出できる顕微鏡の焦点検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for fabricating a probe for a scanning probe microscope (SPM), particularly a method for fabricating the probe using (111) single crystal silicon.例文帳に追加

本発明は、走査探針顕微鏡（ＳＰＭ：Ｓｃａｎｎｉｇ Ｐｒｏｂｅ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）のための探針の製造方法に関し、特に（１１１）単結晶シリコンを用いた探針の製造方法に関する。 - 特許庁

When a microscope magnification by recognition of the magnification recognition device 100 is then discriminated to be more than X times, the controller 43 impresses voltage V0 for fine movement on a piezoelectric element 54 of a fine movement mechanism 44.例文帳に追加

その後、コントローラ４３は、倍率認識装置１００の認識による顕微鏡倍率がＸ倍以上であると判別すると、微動機構４４の圧電素子５４に微動用電圧Ｖ０を印加する。 - 特許庁

The body 21 includes an objective lens 33 or a small monitor 37, and a battery 45 so that the body 21 functions alone as a microscope when the body 21 is detached from the stand 22.例文帳に追加

本体２１がスタンド２２から取り外された場合、本体２１が単体で顕微鏡として機能できるように、本体２１には対物レンズ３３乃至小型モニタ３７、およびバッテリ４５が設けられている。 - 特許庁

To provide a probe and a cantilever for realizing an AFM (Atomic Force Microscope) having high resolution, and a method for manufacturing the probe and the cantilever easily and surely.例文帳に追加

高い分解能を有するＡＦＭを実現し得るプローブ及びカンチレバーと、それらプローブ及びカンチレバーを簡易且つ確実に製造することが可能な製造方法とを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope constituted so as to accurately and quantitatively evaluate the leading end shape of its probe by simple work, and also to provide an evaluation method of its probe.例文帳に追加

簡単な作業を行うことで探針の先端形状を評価でき、定量的な評価を正確に行うことができる走査型プローブ顕微鏡およびその探針評価方法を提供する。 - 特許庁

In the vertical fluorescence microscope, an infinite focusing system objective lens 42 is placed in a space being opposite to an objective lens 22 by interposing the sample 21 and the focus thereof is aligned with that of the lens 22.例文帳に追加

落射蛍光顕微鏡において、試料２１を挟んで、対物レンズと反対側の空間に、無限焦点系の対物レンズ４２をおき、その焦点を対物レンズ２２の焦点に一致させる。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of effectively detecting a reflected electron generated from a sample at a low angle while realizing a short focus distance and forming a sample image.例文帳に追加

本発明は、短い焦点距離を実現しつつ、試料から低い角度で発生する反射電子を高率良く検出し、試料像を形成する走査形電子顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a mapping type electron microscope composed by relaxing restriction of a condition of a projection electron optical system to design of an illumination electron optical system to increase the degree of freedom of design of the illumination electron optical system.例文帳に追加

投影電子光学系の条件が照明電子光学系の設計の制約となることを緩和し、照明電子光学系の設計の自由度を増した写像型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a mapping type electron microscope in where a projection imaging optical system is provided with a zooming transfer lens system for improving the geometrical aberrations in low-magnification imaging and space-charge effect in the zooming range.例文帳に追加

投影結像光学系にズーム型トランスファー・レンズ系を用いて、低倍結像の幾何収差とズーム範囲での空間電荷効果とを改善する写像型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

A microscope control section 11 changes the distance of the thin film from the objective lens 2 in the direction of the optical axis, and obtains measurement data indicating the relationship between the distance and the intensity detected by the photodetector 7.例文帳に追加

顕微鏡制御部１１は、該薄膜の対物レンズ２からの距離を光軸方向に変化させて、該距離と光検出器７で検出される輝度との関係を示す測定データを取得する。 - 特許庁

To provide an objective enabling an operator to surely recognize the contact of the edge of the objective with a sample or the state change of the sample with simple constitution, and a microscope equipped therewith.例文帳に追加

簡単な構成で対物レンズの先端と試料との接触又は試料の状態変化を確実に認識することができる対物レンズ及びその対物レンズを備える顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a pair of tweezers capable of holding a sample for observation by an electron microscope and easily detecting the holding force with high accuracy, and a holding force control device.例文帳に追加

電子顕微鏡観察用の試料を挟持可能なものであって、挟持する力（挟持力）を容易且つ高精度に検出することができるピンセット及びその挟持力制御装置を提供する。 - 特許庁

To precisely and inexpensively measure the gas concentration of on a substrate surface in a micro-area under a microscope, as to the sublimable raw material gas.例文帳に追加

昇華性の原料ガスについて、顕微鏡下の微小な領域の基板表面の原料ガス濃度を高精度、かつ、安価に測定することができるガス濃度測定装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a a vertical illuminator which can continuously adjust the light quantity of a plurality of light for illumination with respect to a specimen in a wide wavelength region and can be inexpensively configured and a fluorescent microscope.例文帳に追加

標本に対する複数の照明光の光量を広い波長域で連続的に調整でき、安価に構成できる蛍光観察用の落射照明装置、および蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The camera control unit 13 records an observation image picked up by a camera head 12 and setting information showing the setting of a microscope system at the time of picking up the observation image recorded in a removable medium 25.例文帳に追加

カメラコントロールユニット１３は、カメラヘッド１２により撮像された観察画像と、その観察画像の撮像時における顕微鏡システムの設定を示す設定情報とを、リムーバブルメディア２５に記録させる。 - 特許庁

At this time, the light sources 23, 24 of the light source part 20 and the lenses 33, 34 of the deflection part 30 are arranged in a peripheral direction with nearly the same intervals so as to surround an imaging part 40 of the microscope 100.例文帳に追加

このとき、光源部２０の光源２３，２４及び偏向部３０のレンズ３３，３４は、顕微鏡１００の結像部４０を囲むように、円周方向に略等間隔で配置される。 - 特許庁

This tester is provided with a laser generating part 1, a laser scan part 2, a microscope 3, a current-voltage converter 13, and a front end amplifier 15 disposed between the sample 4 to be measured and the current- voltage converter 13.例文帳に追加

レーザー発生部１と、レーザー走査部２と、 顕微鏡３と、 電流−電圧変換器１３と、被測定試料４と電流−電圧変換器１３との間に前置増幅器１５とを備える。 - 特許庁

The ratio D_top/D_50 of the maximum particle diameter D_top to the average particle diameter D_50 of the primary particle of the titanium dioxide observed with a field emission scanning electron microscope is 1 or greater and 3 or less.例文帳に追加

電界放射型走査電子顕微鏡で観察した一次粒子の最大粒子径Ｄ_topと平均粒子径Ｄ_50の比Ｄ_top／Ｄ_50が１以上３以下であることを特徴とする二酸化チタン。 - 特許庁

To provide a device capable of improving throughput of wafer inspection by further reducing a time required for replacement of a wafer, in a scanning electron microscope for inspecting a semiconductor wafer.例文帳に追加

本発明は、半導体ウェーハを検査する走査型電子顕微鏡において、ウェーハの交換に要する時間をさらに短縮することにより、ウェーハ検査のスループットを向上させる装置の提供を課題にする。 - 特許庁

To make it possible to perform changeover of scanning optical microscope observation and regular transmission illumination observation at a high speed and to perform compact and low-cost transmission detection and changeover of transmission illumination lamps.例文帳に追加

走査型光学顕微鏡観察と通常の透過照明観察の切換を高速に行うことが可能であり、かつコンパクトでコストも安い透過検出と透過照明ランプの切換を行うこと。 - 特許庁

A top magnetic pole of an objective lens is electrically insulated against the part of the lens other than that for the top magnetic lens, and a scanning electron microscope with positive voltage applied accelerating a primary electron beam post-deflection is provided.例文帳に追加

対物レンズの上磁極を、対物レンズの上磁極以外の残部に対し電気的に絶縁し、一次電子ビームを後段加速する正の電圧を印加する走査形電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a phase information detection method and a phase information detector, capable of acquiring easily phase information of a phase object in real time, without using an expensive phase-contrast microscope.例文帳に追加

高価な位相差顕微鏡を用いることなく、より簡便に、しかもリアルタイムに位相物体の位相情報を取得し得る位相情報検出方法及び位相情報検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of executing inspection of a sample with high accuracy while suppressing decomposition of the sample without decreasing the inspection speed of the sample.例文帳に追加

本発明は、試料の分解を抑えつつ、試料の検査を高精度で行うことができ、しかも試料の検査速度を低下させることがない走査電子顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a detection method in which a contrast difference due to an internal defect is extracted by canceling the contrast difference of an image due to the scattering of ultrasonic waves overlapped with the image of an ultrasonic microscope and due to the flow of a medium.例文帳に追加

超音波顕微鏡画像に重なった超音波の散乱や、媒質の流れによる画像のコントラスト差をキャンセルし、内部欠陥によるコントラスト差を抽出することを目的とする。 - 特許庁

To provide a sample stage reduced in the number of part items and allowing compacification in a height direction, and to provide a scanning probe microscope high in a characteristic frequency and allowing an observation of high resolution as a result thereof.例文帳に追加

部品点数が少なく、高さ方向の小型化が可能な試料ステージ、および固有振動数が高く、その結果、分解能の高い観察が可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する - 特許庁

To provide a near-field optical probe manufacturing method capable of analyzing fine optical properties of samples with a near-field optical microscope and recording high-density light with an optical information storage device.例文帳に追加

近接場光顕微鏡で試料の微細光特性を分析することができ、光情報記憶装置で高密度の光を記録することが可能な近接場光プローブの製作方法を提供する。 - 特許庁

While a microscope is moved from a search start position to a search end position, an image of an area nearby an outline candidate point is extracted at sampling intervals and the contract value of the image is calculated.例文帳に追加

顕微鏡をサーチ開始位置からサーチ終了位置まで移動させながら、サンプリング間隔毎に輪郭候補点の近傍領域の画像を抽出し、この画像のコントラスト値を算出する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which is capable of obtaining an extended image by easily determining the take-in range of an observed image, without being conscious of the shape of a sample as an object to be observed.例文帳に追加

観察対象となる試料の形状を意識することなしに容易に観察画像の取込み範囲を決定してエクステンド画像を取得することが可能な共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

An optical microscope image of a two-dimensional measurement object region on a sample is displayed, and an analyst visually determines a difference or the like of tissues and designates a plurality of small regions (A, B, and C) regarded as the same tissue.例文帳に追加

試料上の２次元測定対象領域の光学顕微画像を表示し、分析者は目視で組織の相違等を判断し、同一組織とみなせる小領域を複数（Ａ、Ｂ、Ｃ）指定する。 - 特許庁

Two STM (scanning tunneling microscope) probes 8 are used, brought close to each other, and adjusted to locations at the same height for the tip parts of the probes and at the shortest distance 15 from each other through which a tunneling current does not pass.例文帳に追加

２本のＳＴＭ探針８を使い、探針同士を近づけ、探針の先端部分は同じ高さでなおかつトンネル電流が流れないぎりぎりの距離１５に位置を調整をする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope technique for highly accurately measuring a distance between a desired position in an image and a reference position, assuming that at least one point outside the visual field of the measurement image is the reference position.例文帳に追加

測定画像の視野外の少なくとも１点を基準位置としてその画像内の所望とする位置との距離を高精度に測定することができる走査型プローブ顕微鏡技術を提供する。 - 特許庁

A depth judging unit of the needle trace located in a control unit 20 corrects the amount of overdrive when the depth of a needle trace, which is measured by the scanning probe microscope 19, is out of a specification range.例文帳に追加

制御部２０内の針跡深さ判定部は、走査型プローブ顕微鏡１９によって測定された針跡深さが規格範囲から外れている場合に、オーバードライブ量の補正を行う。 - 特許庁

A laser emitting image including at least linear optical image is obtained by the light L1 passing though a hologram element 9, a collimator lens 4, a condenser 5, a half mirror 6 and a microscope lens 7 one after another.例文帳に追加

ホログラム素子９、コリメートレンズ４、集光レンズ５、ハーフミラー６および顕微鏡レンズ７を順次経由した光Ｌ１によって、少なくとも線状光像を含むレーザ発光画像を取得する。 - 特許庁

To provide a method of detecting a sample to be examined which is capable of improving the effective resolution of an imaging system beyond the threshold of the resolution regulated by the characteristics of the imaging system and to provide the microscope.例文帳に追加

結像システムの特性によって規定される分解能の限界を超えて、結像システムの有効分解能の向上を可能とする被検試料検出方法及びその顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The observing means is constituted of a microscope for operation and a second observing means, and the control means moves the inclining center point of the observing means supporting arm mechanism according to the detected result of the detecting means.例文帳に追加

観察手段は、手術用顕微鏡及び第２の観察手段で構成され、制御手段は、検出手段の検出結果に応じて、観察手段支持アーム機構の傾斜中心点を移動する。 - 特許庁

XY slow motion mechanisms 6, 12 of a scanning probe microscope are arranged on both the sample side and the cantilever side, both XY slow motion mechanisms 6, 12 are independently operated, and a probe 1a and a sample 2 are releatively scanned.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のXY微動機構６、１２をサンプル側とカンチレバー側の双方に設け、双方のXY微動機構６、１２を独立に動作させて、探針１ａとサンプル２を相対的に走査させた。 - 特許庁

To provide an incubator enabling observing cell culture process continuously for a long time if the culture fluid temperature on the stage of a microscope can be kept at 37°C and the carbon dioxide concentration in a liquid surface atmosphere at 5%.例文帳に追加

顕微鏡ステージ上で培養液温度を３７℃、液面雰囲気の二酸化炭素濃度を５％に保持することができれば、細胞培養過程を長時間連続して観察することが可能となる。 - 特許庁

High vacuum inside the microscope body part 2 is influenced on the inside of a Faraday cup 35 by opening a valve 37 of an exhaust passage 36, and an accurate probe current is measured inside the sample chamber 1 held in low vacuum.例文帳に追加

排気路３６のバルブ３７を開いて、鏡体部２内の高真空をファラデーカップ３５内に作用させ、低い真空に保たれた試料室１内で正確なプローブ電流を測定する。 - 特許庁

In morphological observation of the membrane cross-section by an electron microscope, the width of the lamella structure composed of the polymer segment (B) to form the micro-phase separation structure shows that it is in the range of 5-200 nm.例文帳に追加

膜断面の電子顕微鏡によるモルフォロジー観察において、ミクロ相分離構造を形成するポリマーセグメント（Ｂ）からなるラメラ構造の幅が、５〜２００ｎｍの範囲にあることを示す。 - 特許庁

To provide a surgical microscope with which stereoscopic observation can be performed with a bright image, without vignetting a luminous flux with the opening of a surgical site, even when the surgical site whose opening is narrow and depth is large is observed.例文帳に追加

手術部位の開口部が狭く奥行きのある部位を観察する場合でも、光束が開口部によってけられることなく、明るい像の立体観察が可能な手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Additionally, the aperture diaphragm device is equipped with a controller (52) outputting the aperture signal to the aperture diaphragm(50a and 50b) at least according to the respectively set values of the observation parameters of the microscope.例文帳に追加

加えて、本発明による開口絞り装置は、少なくとも顕微鏡の観察パラメータのそれぞれ設定した値により、開口絞り（５０ａ、５０ｂ）に開口信号に出力する制御装置（５２）を備える。 - 特許庁

This illumination optical system for microscope is provided with a light source 1, an illumination lens group which guides light from the light source 1 to an objective lens and an objective lens system which condenses the light from the illumination lens group and illuminates a sample.例文帳に追加

光源１と、該光源１からの光を対物レンズに導く照明レンズ群と、該照明レンズ群からの光を集光して標本を照明する対物レンズ系とを備えている。 - 特許庁