「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(144ページ目) - Weblio英語例文検索

A scanning type microscope comprises a light source unit 120, an objective lens 115, a scanner unit 114, a pin hole array 113, an optical separator 112, a light quantity detector 116 and a position detecting system 117.例文帳に追加

走査型顕微鏡は、光源ユニット１２０、対物レンズ１１５、スキャナユニット１１４、ピンホールアレイ１１３、光学的分離器１１２、光量検出器１１６、および位置検出システム１１７を有する。 - 特許庁

The invention relates to a method for estimating physical strength of a film from the observation of the surface conditions of the film of an aqueous acrylic-modified polyurethane resin in air and in water by using atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いての水性アクリル変性ポリウレタン樹脂被膜の、空気中と水中の表面状態の観察から被膜の物理強度を予測する方法により解決する。 - 特許庁

The (a) and (b) can be obtained by EDS measurement in which an electronic beam is applied to a minute region in terms of pinpoint using a transmission electron microscope.例文帳に追加

０.３≦ａ／ｂ≦１.０ ……(1) ｂ／ｃ≧１.０ ……(2) ０.１≦ａ／ｃ≦１.０ ……(3) 前記ａおよびｂは、透過型電子顕微鏡を用いて電子ビームを微小領域にピンポイント的に当てたＥＤＳ測定によって求めることができる。 - 特許庁

This etching dispersion estimation device has a length-measuring scanning electron microscope 10 for respectively measuring the line widths of a resist pattern used as a measuring object at a plurality of positions with first and second threshold values.例文帳に追加

複数の位置で、測定対象となるレジストパターンの線幅を、第１および第２の閾値でそれぞれ測定する測長用走査型電子顕微鏡１０を持つエッチングばらつき予測装置である。 - 特許庁

To provide a method for forming a polarization optical interference contrast for microscope imaging of a specimen which is free of problems of anisotropy of a specimen carrier, an objective, or a condenser.例文帳に追加

被検体用担体あるいは対物レンズやコンデンサについても、それらの異方性が問題とならない被検体の顕微鏡結像のための偏光光学的な干渉コントラストを形成する方法。 - 特許庁

(1) This composite yarn comprises the modified cross-section regenerated cellulose fibers having 1.1-10 degree of modified cross section of the fibers and 10-50 nm fiber surface roughness parameter Ra measured under an atomic force microscope.例文帳に追加

(1) 繊維の異型度が１．１〜１０で、原子間力顕微鏡で測定した繊維表面粗度パラメーターＲａが１０〜５０ｎｍである異型断面再生セルロース繊維を含有する複合糸。 - 特許庁

To manufacture inexpensively with high yield and high reliability a cantilever having new magnetic characteristic and optical characteristic or the like using a compound semiconductor as a material, which is suitable to be used for a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡での利用に適した、化合物半導体を素材とする新しい磁気特性、光学特性等をもつカンチレバーを高い歩留まりと信頼性で安価に製造する。 - 特許庁

A first liquid crystal panel is aligned by using three alignment marks on the panel and three cameras on a probe stage, and an alignment state of a probe and an electrode of the panel is confirmed by using a microscope.例文帳に追加

１枚目の液晶パネルは，パネル上の三つのアライメントマークとプローブステージ上の三つのカメラを用いてアライメントし，かつ，顕微鏡を用いてプローブとパネルの電極との位置合わせ状態を確認する。 - 特許庁

To provide an endoscopic device and a microscope for operations allowing an operator to easily move a hard mirror in the visual field in microscopic observation.例文帳に追加

本発明は、顕微鏡観察視野内においても、硬性鏡の移動操作を行いやすくすることができる内視鏡装置と手術用顕微鏡を提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

To provide a confocal electric light emission spectral microscope capable of simultaneously obtaining a spectrum for an electric light emitting element and a mechanical external structure for the element and also capable of obtaining an electric light emission video with high resolution.例文帳に追加

電気発光素子の分光スペクトルと素子の機械的外形構造を同時に得ることができ、かつ高分解能の電気発光映像を得ることができる電気発光分光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a laser microscope device for imaging a sample using terahertz vibrations of molecules in the sample, capable of performing high speed imaging while focusing on the specific molecular vibration.例文帳に追加

標本中の分子のテラヘルツ振動を利用して標本のイメージングを行うレーザ顕微鏡装置において、特定の分子振動に注目し、かつ高速にイメージングできるレーザ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide an observation method of intercellular microstructure of stratum corneum using a transmission electron microscope enabling a whole detail of intercellular microstructure of stratum corneum being easily and clearly observed.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡を用いて角層細胞間の微細構造の全体の詳細を簡便かつ明瞭に観察することができる角層細胞間の微細構造の観察方法を提供する。 - 特許庁

The microscope controller 52 controls the incident-light illumination optical system or the transmitting illumination optical system to illuminate the specimen S only during the imaging period everytime when the imaging unit 18 images the specimen S.例文帳に追加

顕微鏡制御部５２は、撮影制御部５１が撮影部１８に撮影を行わせるごとに、その撮影期間のみ落射照明光学系または透過照明光学系に標本Ｓを照明させる。 - 特許庁

Since the positions and inclinations of a specimen of a continuous section on a prepared slide are irregular, it is necessary to adjust its positions and angles on a computer so that continuous digital microscope photographs are superposed on each other.例文帳に追加

連続切片のプレパラート上の標本は位置、傾きが一定ではないので連続するデジタル顕微鏡写真が重なり合うようにコンピューター上で位置と角度を調整する必要がある。 - 特許庁

For the charged particle beam apparatus which performs observation, recording and analysis of an image from a scanning microscope, a digital space-time filter arithmetic circuit 17 for processing detected signals is provided in an image signal system.例文帳に追加

走査型顕微鏡の画像観察、記録、分析を行なう荷電粒子ビーム装置において、検出した信号を処理するディジタル時空間フィルタ演算回路１７を画像信号系に設けて構成する。 - 特許庁

To provide a focus detector for a microscope accurately detecting a focusing position even when a peak shape obtained when relation between the intensity of a light quantity signal and a relative position is made a graph, is flat.例文帳に追加

光量信号の強度と相対位置との関係をグラフ化したときのピーク形状が平坦な場合でも、合焦位置を正確に検出できる顕微鏡の焦点検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for fabricating a probe for a scanning probe microscope (SPM), particularly a method for fabricating the probe using (111) single crystal silicon.例文帳に追加

本発明は、走査探針顕微鏡（ＳＰＭ：Ｓｃａｎｎｉｇ Ｐｒｏｂｅ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）のための探針の製造方法に関し、特に（１１１）単結晶シリコンを用いた探針の製造方法に関する。 - 特許庁

When a microscope magnification by recognition of the magnification recognition device 100 is then discriminated to be more than X times, the controller 43 impresses voltage V0 for fine movement on a piezoelectric element 54 of a fine movement mechanism 44.例文帳に追加

その後、コントローラ４３は、倍率認識装置１００の認識による顕微鏡倍率がＸ倍以上であると判別すると、微動機構４４の圧電素子５４に微動用電圧Ｖ０を印加する。 - 特許庁

The body 21 includes an objective lens 33 or a small monitor 37, and a battery 45 so that the body 21 functions alone as a microscope when the body 21 is detached from the stand 22.例文帳に追加

本体２１がスタンド２２から取り外された場合、本体２１が単体で顕微鏡として機能できるように、本体２１には対物レンズ３３乃至小型モニタ３７、およびバッテリ４５が設けられている。 - 特許庁

To provide a probe and a cantilever for realizing an AFM (Atomic Force Microscope) having high resolution, and a method for manufacturing the probe and the cantilever easily and surely.例文帳に追加

高い分解能を有するＡＦＭを実現し得るプローブ及びカンチレバーと、それらプローブ及びカンチレバーを簡易且つ確実に製造することが可能な製造方法とを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope constituted so as to accurately and quantitatively evaluate the leading end shape of its probe by simple work, and also to provide an evaluation method of its probe.例文帳に追加

簡単な作業を行うことで探針の先端形状を評価でき、定量的な評価を正確に行うことができる走査型プローブ顕微鏡およびその探針評価方法を提供する。 - 特許庁

In particular, bacteria (cells) are brought into contact with a substance to be tested in solutions of the substance to be tested, having different degrees of dilution for ≤8 hours or 12 hours and the contact solutions are observed by a microscope.例文帳に追加

具体的には、細菌（細胞）と被験物質とを、希釈度の異なる被験物質の溶液中において８時間以下もしくは１２時間接触させ、当該接触液を顕微鏡観察する。 - 特許庁

To provide a mapping type electron microscope composed by relaxing restriction of a condition of a projection electron optical system to design of an illumination electron optical system to increase the degree of freedom of design of the illumination electron optical system.例文帳に追加

投影電子光学系の条件が照明電子光学系の設計の制約となることを緩和し、照明電子光学系の設計の自由度を増した写像型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a mapping type electron microscope in where a projection imaging optical system is provided with a zooming transfer lens system for improving the geometrical aberrations in low-magnification imaging and space-charge effect in the zooming range.例文帳に追加

投影結像光学系にズーム型トランスファー・レンズ系を用いて、低倍結像の幾何収差とズーム範囲での空間電荷効果とを改善する写像型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

A microscope control section 11 changes the distance of the thin film from the objective lens 2 in the direction of the optical axis, and obtains measurement data indicating the relationship between the distance and the intensity detected by the photodetector 7.例文帳に追加

顕微鏡制御部１１は、該薄膜の対物レンズ２からの距離を光軸方向に変化させて、該距離と光検出器７で検出される輝度との関係を示す測定データを取得する。 - 特許庁

To provide an objective enabling an operator to surely recognize the contact of the edge of the objective with a sample or the state change of the sample with simple constitution, and a microscope equipped therewith.例文帳に追加

簡単な構成で対物レンズの先端と試料との接触又は試料の状態変化を確実に認識することができる対物レンズ及びその対物レンズを備える顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a pair of tweezers capable of holding a sample for observation by an electron microscope and easily detecting the holding force with high accuracy, and a holding force control device.例文帳に追加

電子顕微鏡観察用の試料を挟持可能なものであって、挟持する力（挟持力）を容易且つ高精度に検出することができるピンセット及びその挟持力制御装置を提供する。 - 特許庁

To precisely and inexpensively measure the gas concentration of on a substrate surface in a micro-area under a microscope, as to the sublimable raw material gas.例文帳に追加

昇華性の原料ガスについて、顕微鏡下の微小な領域の基板表面の原料ガス濃度を高精度、かつ、安価に測定することができるガス濃度測定装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a a vertical illuminator which can continuously adjust the light quantity of a plurality of light for illumination with respect to a specimen in a wide wavelength region and can be inexpensively configured and a fluorescent microscope.例文帳に追加

標本に対する複数の照明光の光量を広い波長域で連続的に調整でき、安価に構成できる蛍光観察用の落射照明装置、および蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The camera control unit 13 records an observation image picked up by a camera head 12 and setting information showing the setting of a microscope system at the time of picking up the observation image recorded in a removable medium 25.例文帳に追加

カメラコントロールユニット１３は、カメラヘッド１２により撮像された観察画像と、その観察画像の撮像時における顕微鏡システムの設定を示す設定情報とを、リムーバブルメディア２５に記録させる。 - 特許庁

At this time, the light sources 23, 24 of the light source part 20 and the lenses 33, 34 of the deflection part 30 are arranged in a peripheral direction with nearly the same intervals so as to surround an imaging part 40 of the microscope 100.例文帳に追加

このとき、光源部２０の光源２３，２４及び偏向部３０のレンズ３３，３４は、顕微鏡１００の結像部４０を囲むように、円周方向に略等間隔で配置される。 - 特許庁

To fix a cantilever not to be dislocated even if the cantilever is moved at high speed, and to fix/dismount simply the cantilever on/from a cantilever holding stand, in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、カンチレバーを高速に移動させてもずれることがないようにカンチレバーを固定でき、かつカンチレバーをカンチレバー保持台に簡単に固定または外すことができるようにすること。 - 特許庁

To provide a microscope which can rapidly take a general view (overall picture) of an image or scan the image with high resolution advantageously in terms of a cost while selectively making such taking or scanning of the image possible.例文帳に追加

選択的に、画像の迅速な概観（全体像）、又は画像の高分解能な走査を可能にしつつ、しかもコスト的にも有利にこれを行なうことが可能な顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

With regard to comb type wiring patterns 1, 2 being inspected, potential distribution is measured by means of a scanning surface potential microscope while applying a DC voltage of 0.2 V between probes 3, 4.例文帳に追加

検査対象とする櫛形配線パターン１及び２について、プローブ３及び４間に０．２Ｖの直流電圧を印加しながら、走査型表面電位顕微鏡により電位分布を測定する。 - 特許庁

This tester is provided with a laser generating part 1, a laser scan part 2, a microscope 3, a current-voltage converter 13, and a front end amplifier 15 disposed between the sample 4 to be measured and the current- voltage converter 13.例文帳に追加

レーザー発生部１と、レーザー走査部２と、 顕微鏡３と、 電流−電圧変換器１３と、被測定試料４と電流−電圧変換器１３との間に前置増幅器１５とを備える。 - 特許庁

The ratio D_top/D_50 of the maximum particle diameter D_top to the average particle diameter D_50 of the primary particle of the titanium dioxide observed with a field emission scanning electron microscope is 1 or greater and 3 or less.例文帳に追加

電界放射型走査電子顕微鏡で観察した一次粒子の最大粒子径Ｄ_topと平均粒子径Ｄ_50の比Ｄ_top／Ｄ_50が１以上３以下であることを特徴とする二酸化チタン。 - 特許庁

To provide a device capable of improving throughput of wafer inspection by further reducing a time required for replacement of a wafer, in a scanning electron microscope for inspecting a semiconductor wafer.例文帳に追加

本発明は、半導体ウェーハを検査する走査型電子顕微鏡において、ウェーハの交換に要する時間をさらに短縮することにより、ウェーハ検査のスループットを向上させる装置の提供を課題にする。 - 特許庁

To make it possible to perform changeover of scanning optical microscope observation and regular transmission illumination observation at a high speed and to perform compact and low-cost transmission detection and changeover of transmission illumination lamps.例文帳に追加

走査型光学顕微鏡観察と通常の透過照明観察の切換を高速に行うことが可能であり、かつコンパクトでコストも安い透過検出と透過照明ランプの切換を行うこと。 - 特許庁

To provide a microscopic raman fine particle discovery device hardly generating thermal drift of a visual field of an optical microscope even if brightness of illumination light is raised, and detecting and identifying surely even fine foreign matters on a wafer.例文帳に追加

照明光の輝度を上げても光学顕微鏡の視野のサーマルドリフトが生じにくく、ウェーハ上の微小な異物も確実に検出・同定できる顕微ラマン微小パーティクル発見装置を提供する。 - 特許庁

To provide a wrong measurement verification method capable of verifying accurately wrong measurement such as measuring start position deviation, when performing inline automatic inspection of a sample such as a wafer by utilizing a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を利用してウェハ等の試料をインライン自動検査を行うとき測定開始位置ずれなどの誤測定を正確に検証できる誤測定検証方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope and a detection wavelength range setting method capable of setting easily the optimum detection wavelength range (start wavelength and acquired wavelength width) for an observation object.例文帳に追加

観察対象に対する最適な検出波長範囲（開始波長と取込み波長幅）を簡単に設定できる走査型レーザ顕微鏡および検出波長範囲設定方法を提供する。 - 特許庁

By inserting a glass plate between the silicone film and the oil lens, the cell on the silicone film and molecules in the cell can be observed at high magnification for a long time with the inverted microscope.例文帳に追加

シリコーン膜とオイルレンズの間にガラス板を挿入することで、シリコーン膜上の細胞および細胞内分子を倒立顕微鏡により高倍率かつ長時間観察することが可能である。 - 特許庁

To easily evaluate melanin situated at the interface between the epidermis and the corium regarding a melanin evaluation apparatus with which melanin existing inside a skin is evaluated by using a confocal microscope.例文帳に追加

本発明は共焦点顕微鏡を用いて皮膚内に存在するメラニンの評価を行なうメラニン評価装置に関し、表皮と真皮の界面に位置するメラニンを容易に評価することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method for determining detailed positional relationships among individual biological molecules by causing only a particular biological molecule to emit light in molecule units and provide a near field light microscope.例文帳に追加

分子単位で特定の生体分子のみを発光させることにより、生体分子の個々の具体的な位置関係を判別することができる方法及び近接場光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The cerium oxide comprises cubic polygonal particles having a length of one side of 5-200 nm, wherein images of the polygonal particles observed with a transmission electron microscope are cubic.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡による多角形粒子の観察像が矩形であり、一辺の長さが５ｎｍ〜２００ｎｍである立方体状の多角形粒子を含むことを特徴する酸化セリウムに関する。 - 特許庁