「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(142ページ目) - Weblio英語例文検索

In a microscope system 1, a supply arm 35 for supplying a slide glass SG to a stage 15 is made independent of an ejection arm 36 for ejecting the slide glass SG from the stage 15.例文帳に追加

顕微鏡システム１は、ステージ１５へスライドガラスＳＧを供給する供給アーム３５と、当該ステージ１５から当該スライドガラスＳＧを排出する排出アーム３６とを互いに独立させた。 - 特許庁

To realize a scanning electron microscope capable of eliminating sense of incompatibility to an operator with the movement of a sample by enabling the recognition of the sample moving direction by the operator, even under the condition with a sample image rotated.例文帳に追加

試料像が回転された状態でも、試料の移動方向を操作者に認識させ、試料移動に伴う操作者の違和感を取り除くようにした走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

The light passed through the optical path inside the microscope 300 is condensed on an object to be processed 500 with an object lens 312 in a form based on a beam forming slit 306, thus a machining is processed.例文帳に追加

顕微鏡３００内部の光路を通過した光は対物レンズ３１２により加工対象物５００上にビーム整形用スリット３０６に基づいた形状で集光され，加工が行われる。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus for a microscope having an interlace scan system imaging device, which can perform an exposure over the range from a short-time exposure to a long-time exposure inexpebsively without increasing the number of component parts.例文帳に追加

インターレーススキャン方式の撮像素子を有する顕微鏡用撮像装置であって構成部品を増やすことなく安価に短時間露光から長時間露光を行うことのできる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system for simultaneously evaluating effects of a plurality of drugs in a method for rapidly and simply evaluating effects of the drugs by observing morphology change of a drug-treated filamentous bacterium by a microscope.例文帳に追加

薬剤処理した糸状菌の形態変化を顕微観察することで、薬剤の効果を迅速かつ簡便に評価する方法において複数の薬剤の効果を同時に評価するシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a microregion scanning apparatus utilizing a cylindrical piezoelectric element which does not cause hindrance to application of an SPM to various fields, particularly mounting of the SPM on a biological inverted microscope.例文帳に追加

ＳＰＭの様々な分野への応用、特にＳＰＭを生物用倒立顕微鏡に搭載する際に障害とならない円筒型圧電素子利用の微小領域走査装置を提供すること。 - 特許庁

Then, the alignment mark is measured again, and at that time, the alignment mark is measured in a manner that a position where it is deviated by -Δx and -Δy from the design position becomes the center of the visual field in the optical microscope.例文帳に追加

その後、再びアライメントマークの測定行うが、その際には、設計位置から（−Δｘ，−Δｙ）だけずれた位置が光学顕微鏡の視野中心になるようにして測定を行う。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope, capable of observing a sample of which the surface is extremely soft by enhancing the accuracy (S/N ratio) of a detection signal and the reliability of feedback control.例文帳に追加

表面が極めて柔らかい試料等を、検出信号の精度（Ｓ／Ｎ比）が高く、かつフィードバック制御を信頼性高くして観察することのできる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The use of the microscope system 1 for surgery allows both an operator X and an assistant Y to perform surgeries watching stereoscopic images displayed on CRT displays 30A and 30B.例文帳に追加

手術用顕微鏡システム１を用いることにより、術者Ｘおよび助手Ｙの両方がＣＲＴディスプレイ３０Ａ，３０Ｂに表示された立体画像を見ながら手術を行えるようにした。 - 特許庁

To provide a surgical microscope, especially for a neurological surgery, whose lighting intensity of a lighting system could be largely changed, and which prevents tissue structure of a patient from being damaged by its improper operation.例文帳に追加

照明装置の照明光強度を大幅に変更可能で、誤作動により患者の組織構造に損傷を与えない手術用顕微鏡、特に神経外科用の手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This composition has an initiation temperature of phase difference increase (Ts) measured using a scanning viscoelasticity microscope of not lower than 25°C, and this sheet having an easily formable surface is prepared by processing the resin composition into a sheet form.例文帳に追加

走査粘弾性顕微鏡を用いて、測定される位相差増大開始温度Ｔｓが２５℃以上である組成物、及び該樹脂組成物をシート状に加工してなる易表面賦形性シート。 - 特許庁

To provide a slit lamp microscope device that examines a patient's eye by means of continuous illumination using an LED and can capture images of the eye during the examination by means of pulse illumination using the LED.例文帳に追加

LEDを用いて連続照明により患者眼の観察を行い、観察中にそのLEDを用いてパルス照明により眼の撮影を行うことができる細隙灯顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

A cantilever 4 having a lever 10 with diamond abrasive grains 5 at its end is strongly abutted against a single crystal silicon material 3 with use of such a mechanism of a frictional-force microscope as shown in Fig. 1.例文帳に追加

図１に示すような摩擦力顕微鏡の機構を用い、単結晶シリコン材料３に対して端部にダイヤモンド砥粒５を備えたレバー１０を有するカンチレバー４を強く当接させる。 - 特許庁

A main component constituting functional particles and powder capable of visually checking the specific shape when observed by a microscope are combinedly used and formed into particles to produce functional particles having a function capable of distinguishing oneself from others.例文帳に追加

機能性粒子を構成する主要成分の他に、顕微鏡で観察した際に特異な形状を視認できる粉体を併用して粒子化し自他識別能を有した機能性粒子を製造する。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of always positioning a sample in a visual field of a camera, and of preventing the number of installation of various types of apparatuses in a sample chamber from being restricted by the camera.例文帳に追加

本発明は、常に試料をカメラに視野内に位置させることができると共に、カメラによる試料室内への各種機器の設置数を制限させることがない電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide a microscopic image pickup unit having a smooth observation environment without giving unnecessary labor to an operator at the time of picking up an observation image obtained by a microscope.例文帳に追加

顕微鏡から得られる観察画像の撮像時に、操作者に対して余計な労力をあたえず、円滑な観察環境を提供することができる顕微鏡用撮像装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an object positioning apparatus that improves spatial resolution of a charged particle beam apparatus such as an electron microscope by suppressing minute vibration of an object such as a sample by a simple means.例文帳に追加

試料等の物体の微小な振動を簡便な手段によって抑制し、以って電子顕微鏡等の荷電粒子線装置の空間分解能を向上させる物体位置決め装置の提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of providing a high-resolution image even if a sample is tilted when a surface of the sample is observed by a retarding method for applying a negative voltage to the sample.例文帳に追加

試料に負電圧を印加するリターディング法により試料表面の観察を行う際に、試料を傾斜させても高分解能像を得ることを可能にする走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The sample mount 2 of a scanning magnetic force microscope 1 is provided with a permanent magnet 11 and a moving means for moving the permanent magnet 11 in an approaching and separating direction relative to the sample placed on the sample mount 2.例文帳に追加

走査型磁気力顕微鏡１に、サンプル台２に永久磁石11およびサンプル台２に載置されるサンプルに対して永久磁石11を接離方向に移動する移動手段とを備える。 - 特許庁

To provide a scanning microscope which is universally usable, provides the advantages of various known scanning microscopes, does not require a position adjusting cost or reduces the position adjusting cost and can be post installed.例文帳に追加

普遍的に使用可能で、公知の種々の走査顕微鏡の利点を提供し、位置調整コストを要せずに、或いは位置調整コストを少なくして後付け可能な走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To realize a scanning electron microscope formed so that the position of a deflection supporting point of the electron beam always passes through the main surface position of an objective lens, even if the position of the lens main surface of the objective lens is changed.例文帳に追加

対物レンズのレンズ主面の位置が変化しても、電子ビームの偏向支点の位置が常に対物レンズの主面位置を通るように構成した走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a method for adjusting lightness of an image in an imaging type microscope device capable of rapidly adjusting lightness of an image even when brightness is changed according to an object to be observed.例文帳に追加

観察対象によって明るさが変化するような場合でも、迅速に画像の明度を調整することが可能な撮像型顕微鏡装置における画像の明度の調整方法を提供する。 - 特許庁

A hook 135 and the turning pin 133 which are provided at the upper part of the inside of the microscope part 102 are connected through a spring member 136 having elasticity in order to butt the turning pin 133 against the regulation pin 134.例文帳に追加

回動ピン１３３を規制ピン１３４に当て付けるため、顕微鏡部１０２の内側上部に設けたフック１３５と回動ピン１３３が弾性を有するバネ部材１３６で接続されている。 - 特許庁

To solve the problem in the appearance inspection of a ferrule with the combination of a subject microscope with an epi-illumination light source, that an appearance failure can be detected only when they are set to a specified angle and specified rotating angle range.例文帳に追加

フェルールの外観検査を行うに当り、実体顕微鏡と落射光源の組合せで行なうと特定の角度、特定の回転角範囲に合わせないと外観不良が検出できない。 - 特許庁

To provide a near-field light sensing optical system, whose noise level is low and by which a clear optical contrast can be obtained and to improve the reproducing resolution of an optical recording and reproducing apparatus and a near-field optical microscope.例文帳に追加

ノイズレベルが低く鮮明な光学コントラストが得られる近接場光検出光学系を提供し、光記録再生装置および近接場光学顕微鏡の再生分解能を向上する。 - 特許庁

To provide a magnetic field applying device of an electron microscope wherein the application correcting angle of a sample can be increased without enlarging the device.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡の磁場印加装置に関し、装置を大型化することなく試料の印加補正角を大きくとることができる電子顕微鏡の磁場印加装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

Near the observation surface of a liquid crystal substrate 5, there is installed, in a manner covering this substrate 5, a soundproof plate 23 having an observation opening part 24 on the optical axis of the objective lens 15 of the microscope 13.例文帳に追加

液晶基板５の観察面に近接し、かつ顕微鏡１３の対物レンズ１５を通る光軸上に観察用の開口部２４を設けた防音板２３を液晶基板５を覆って設けた。 - 特許庁

To provide an inexpensive scanning laser microscope with a film thickness measuring function which requires only small memory capacity for image data and does not require highly accurate high resolution in Z-axis drive.例文帳に追加

画像データのメモリ容量が少なくて済み、さらにＺ軸駆動分解能も高精度、高分解能である必要のない、安価な膜厚測定機能付き走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system capable of making more rapid observation, after switching of at least either the objective or the observing method, while preventing adverse effects caused by stray lights etc., in the switching.例文帳に追加

対物レンズ、及び観察法の少なくとも一方の切り換え時に迷光等によって生じる悪影響を回避させつつ、その切り換え後の観察をより迅速に行える顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a lens holding device capable of preventing the occurrence of a flaw caused by the mutual interference of lenses and being easily handled in manufacturing work, and to provide an objective lens for a microscope equipped with the lens holding device.例文帳に追加

レンズ同士の干渉によるキズの発生を防止し、製造作業上取り扱いの容易なレンズ保持装置およびこのレンズ保持装置を備えた顕微鏡用対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning type microscope which can acquire an image of a sample in a range where the sample exists in an optical axis direction even when a three-dimensional shape of the sample changes with the lapse of time.例文帳に追加

試料の立体的な形状が時間的に変化する場合でも、光軸方向に試料が存在する範囲で試料の画像を取得することができる走査型顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The measuring apparatus 100 includes the confocal optical microscope 110, an excitation light source 130 which emits excitation light for generating fluorescence from a fluorescent substance, and the light-receiving unit 140.例文帳に追加

測定装置１００は、共焦点光学顕微鏡１１０と、蛍光物質から蛍光を発生させるための励起光を発する励起光源部１３０と、受光ユニット１４０とを有している。 - 特許庁

To enable to change control contents described in memories of a microprocessor, an FPGA and a CPLD that are used as component elements of a scanning electron microscope, without moving from the development base of a manufacturer or a service center.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の構成要素として用いられるマイクロプロセッサ，ＦＰＧＡ，ＣＰＬＤのメモリに記述されている制御内容を、メーカの開発拠点・サービスセンタに居ながらにして変更する。 - 特許庁

The visual field of the transmission electron microscope is searched at a first magnifying power and sample stage coordinates to be recorded, designated on the transmitted electron beam image of a sample displayed in an image display section are calculated and stored (S13 and S14).例文帳に追加

第１の倍率で視野探しを行い、画像表示部に表示された試料の透過電子線像上で指定された記録対象の試料ステージ座標を計算し、記憶する（Ｓ１３，Ｓ１４）。 - 特許庁

This tissue piece treating device for manufacturing a microscope specimen of the tissue piece is characterized by being equipped with deterioration determination means 55, 84, 88, 102 capable of determining deterioration of the dehydrating agent solution.例文帳に追加

組織片の顕微鏡標本を作製するための組織片処理装置において、脱水剤溶液の劣化を判定することができる劣化判定手段５５，８４，８８，１０２を具備することを特徴とする。 - 特許庁

DISTYRYLBENZENE DERIVATIVE AND MATERIAL FOR FORMING THREE DIMENSIONAL MEMORY, LIGHT LIMITING MATERIAL, CURING MATERIAL FOR PHOTOCURABLE RESIN FOR USE IN PHOTOFABRICATION, AND FLUORESCENT PIGMENT MATERIAL FOR USE IN TWO-PHOTON FLUORESCENT MICROSCOPE, EACH COMPRISING THE SAME例文帳に追加

ジスチリルベンゼン誘導体及びこれを用いた三次元メモリ材料、光制限材料、光造形用光硬化樹脂の硬化材料、並びに二光子蛍光顕微鏡用蛍光色素材料。 - 特許庁

To provide a machine tool with an observation-point specifying function, which can easily specify (determine) where is an observation point in an observation target even while using a microscope system having a telecentric optical system.例文帳に追加

テレセントリック光学系顕微鏡システムを用いながらも、観察対象物のどこが観察点であるのかを容易に特定（判別）できるような観察点特定機能付きの工作機械を提供すること。 - 特許庁

A scanning confocal microscope 11 is provided with a piezoelectric element 28-1 for moving an object lens 25 in a z direction, and a piezoelectric element 28-2 for moving a stage 21 in the z direction.例文帳に追加

走査型の共焦点顕微鏡１１には、対物レンズ２５をｚ方向に移動させるピエゾ素子２８−１と、ステージ２１をｚ方向に移動させるピエゾ素子２８−２が設けられている。 - 特許庁

When the microscope is operated intentionally in an out-of-focus state, the cells look like having either bright spots or dark spots that can be used for reporting the number of cells in the sample.例文帳に追加

顕微鏡を意図的な焦点はずれ状態下で動作させると、細胞は、試料中の細胞の個数を報告するために使用できる明るいスポットまたは暗いスポットのいずれかを有するように見える。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope which is configured, in the case of acquiring fluorescence from pigments, to acquire each fluorescence, even when spectral components of the fluorescence by the respective pigments overlap one another.例文帳に追加

複数の色素からの蛍光を取得する場合において、各色素による蛍光のスペクトルが重なっている場合にも、それぞれの蛍光を取得することができるレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The metal microstructure exposed through an etching treatment using the etching solution is observed under an optical or laser microscope to determine a subgrain size, and the creep damage is derived from the subgrain size.例文帳に追加

このエッチング液によりエッチング処理して現出した金属微細組織を光学顕微鏡またはレーザ顕微鏡により観察し、サブグレインサイズを求め、このサブグレインサイズからクリープ損傷率を求める。 - 特許庁

The first liquid crystal panel is aligned by using three alignment marks on the panel and three cameras on the probe stage, and the alignment of the probe and the electrodes on the panel is checked by using a microscope.例文帳に追加

１枚目の液晶パネルは，パネル上の三つのアライメントマークとプローブステージ上の三つのカメラを用いてアライメントし，かつ，顕微鏡を用いてプローブとパネルの電極との位置合わせ状態を確認する。 - 特許庁

A thin-film sample 2 thinned down to allow for observation by a transmission type electron microscope is made from a model alloy 1 to be observed, and a mark 3 is manufactured on the thin-film sample 2.例文帳に追加

観察対象となるモデル合金１から、透過型電子顕微鏡で観察可能な厚さまで薄膜化された薄膜試料２が作製され、薄膜試料２にマーク３の作製が行なわれる。 - 特許庁

To provide a microscope capable of simultaneously performing excitation-observation even if an object to be observed contains a plurality of kinds of photoactivatable fluorescent material having fluorescent wavelength regions overlapping one other.例文帳に追加

蛍光波長域の互いに重複する複数種類の光活性化蛍光物質が被観察物に含まれていたとしても同時励起観察を行うことが可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To detect the information of a phase delay even if a plurality of kinds of polymers are in rubber states, when analyzing a composite material including the plurality of kinds of polymers by using an atomic force microscope.例文帳に追加

複数種類のポリマーを含む複合材料を、原子間力顕微鏡を用いて解析する際、複数種類のポリマーがゴム状態にある場合でも位相遅れの情報を検出する。 - 特許庁