「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(142ページ目) - Weblio英語例文検索

The amorphous silica has a primary particle size of 18 to 50 nm as measured by a small angle X-ray scattering method, and each particle of the amorphous silica has a circularity of 0.70 to 0.85 as observed with an electron microscope.例文帳に追加

Ｘ線小角散乱法で測定した一次粒子径が１８乃至５０ｎｍであり、電子顕微鏡で観察した個々の粒子の円形度が０．７０乃至０．８５であることを特徴とする。 - 特許庁

In particular, the powder grain of the rod-shape silver powder is made of minute rod-shape, and one with its average major axis L of the primary particle as can be judged by a scanning electron microscope image being 10 μm or less is used.例文帳に追加

特に、前記ロッド状銀粉の粉粒は微小棒状であり、走査型電子顕微鏡像から判断できる一次粒子の平均長径Ｌが１０μｍ以下であるものを用いる。 - 特許庁

To provide a fluorescent microscope which is made compact so as to facilitate transportation and management, can be disposed in a narrow place such as the inside of an incubator or a clean bench, and can achieve a samples observation through a remote control.例文帳に追加

運搬と管理が容易なように蛍光顕微鏡のコンパクト化を図り、インキュベーターやクリーンベンチ内部など狭い場所にも配置可能で、遠隔制御を通じた試料観察が可能であること。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus that is easily manufactured, has a simple configuration, and is easily operated, in order to observe images of a plurality of specimen cross-sections of different focusing positions in the direction of an optical axis, and to provide a microscope device.例文帳に追加

光軸方向に合焦位置の異なる複数の標本断面の画像を観察するため、装置の製造や構成が簡単で操作の容易な結像装置及び顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide an objective lens has the same outer diameter as an objective lens for bright-field observation, and enables dark-field observation by using an optical system for bright-field observation, and to provide a microscope that has the objective lens.例文帳に追加

対物レンズの外径が明視野観察用対物レンズと同等で、明視野照明光学系を用いて暗視野観察が可能な対物レンズ及び該対物レンズを有する顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A microscope 1 includes an illumination unit 10 for illuminating a specimen 30, an imaging optical system 40 for forming the image of the specimen 30, an imaging unit 50 for imaging the image of the specimen 30.例文帳に追加

顕微鏡１は、被検物３０を照明する照明ユニット１０と被検物３０の像を結像する結像光学系４０と被検物３０の像を撮像する撮像ユニット５０とを備える。 - 特許庁

A mirror body 51 of a microscope part 11 has on its reverse surface an opening part (61) for an objective lens group (3) and is fitted with a slide-type shutter 63 which closes the opening part (61).例文帳に追加

顕微鏡部１１の鏡体５１には、下面に対物レンズ群３用の開口部６１が形成されると共に、この開口部６１を閉鎖するスライド式シャッタ６３が取り付けられている。 - 特許庁

The supported section G is an area which is not covered with the transparent substrate 20, and provided at a position at which it backs away from an observation plane 21 of the transparent substrate 20 facing the microscope so as to form a step.例文帳に追加

この支持部Ｇは、透明基板２０に覆われない領域であって、透明基板２０の顕微鏡に対向する観察面２１より後退して段差を形成する位置に設けられる。 - 特許庁

To provide a neutron microscope, along with a neutron transmission magnified image forming method, capable of magnifying a state in a substance or structure in a non-destructive manner using a neutron by a transmission image to observe the same.例文帳に追加

中性子を用い、非破壊で物質や構造内部の状況を透過画像により拡大し観察できる中性子顕微鏡及び中性子透過拡大画像形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a mold for optical imprint which can be observed with an SEM (Scanning Electron Microscope), can be inspected with high throughput, and can form high-definition pattern, and to provide an optical imprint method using the same.例文帳に追加

ＳＥＭ観察が可能であり高スループットで検査を行うことができ、かつ、高精細なパターン形成が可能な光インプリント用のモールドと、これを用いた光インプリント方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning type confocal microscope which can easily align the spot of the detecting light condensed by a detector lens and the opening of a light shielding plate and a positioning method for the light shielding plate.例文帳に追加

検出器レンズで集光された検出光のスポットと遮光板の開口とを、簡易に一致できる走査型共焦点顕微鏡及び遮光板の位置調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope device including an imaging part which repeatedly images an object to be observed and generates a plurality of images, and by which the change of growing environment during time lapse photography is easily obtained.例文帳に追加

被観察物の像を繰り返し撮像して複数の画像を生成する撮像部を備えた顕微鏡装置において、タイムラプス撮影時の生育環境の変化を容易に把握可能とすること。 - 特許庁

The manufacturing method for the extremely small optical waveguide is characterized by that the oxide film is formed by anodizing the surface of the metallic substrate by using a probe tip of an atomic force microscope, etc.例文帳に追加

また、本発明の極微小光導波路の製造方法は、金属基板表面を原子間力顕微鏡等の探針先端を用いて陽極酸化して酸化膜を形成することを特徴とする。 - 特許庁

To provide an X-ray CT apparatus of high resolution, equivalent to a microscope, used for detail observation of a micro structure in an industry field, and microscopic observation in a basic research field.例文帳に追加

工業分野における微小構造体の詳細観察や、基礎研究分野における顕微鏡観察に利用することのできる、分解能の高い、顕微鏡に準じたＸ線ＣＴ装置を提供する。 - 特許庁

This electron microscope is provided with a picture quality setting part 50 to set the picture quality, and the image observation conditions are made possible to be set based on the picture quality set by the picture quality setting part 50.例文帳に追加

電子顕微鏡は、画質を設定する画質設定部５０を備えると共に、画質設定部５０によって設定された画質に基づいて像観察条件を設定可能に構成される。 - 特許庁

To provide a tomography and tomograph that can measure the thickness of affected parts easily and accurately by using short wave infrared light, or an invisible ray as a laser source of a confocal microscope.例文帳に追加

共焦点顕微鏡のレーザ光源は近赤外光、すなわち不可視光を用い、患部の厚さを簡便かつ正確に測定することができる断層像形成方法及びそのための装置を提供する。 - 特許庁

While the probe approaches the sample, an image acquired from the microscope is recognized, and the distance from the probe to the sample is calculated by calculating the probe area in a recognition area.例文帳に追加

プローブが試料方向に接近している最中に、顕微鏡から得られる画像を認識して、認識領域内のプローブ面積を計算することによってプローブから試料までの距離を計算する。 - 特許庁

An interferometer is provided with a light source section 100 which emits light rays and a microscope section 200 which projects the light rays emitted from the section 100 toward objects 31 and 32 to be measured after transforming the light rays into parallel rays of light.例文帳に追加

干渉計は、光を発する光源部１００と、光源部１００からの光を平行光にして測定対象物３１，３２に向けて照射する顕微鏡部２００を備えている。 - 特許庁

To provide an objective lens for an optical microscope, with the objective lens, having a simple structure or a means for preventing axis displacement, after effective alignment adjustment and for reducing degradation in visibility, using a simple structure.例文帳に追加

簡単な構造にて、有効に心出し調整後に於ける心ずれが防止され、見えの劣化が低減される機構又は手段を有する光学顕微鏡用の対物レンズを提供すること。 - 特許庁

In a microscope system 1, a supply arm 35 for supplying a slide glass SG to a stage 15 is made independent of an ejection arm 36 for ejecting the slide glass SG from the stage 15.例文帳に追加

顕微鏡システム１は、ステージ１５へスライドガラスＳＧを供給する供給アーム３５と、当該ステージ１５から当該スライドガラスＳＧを排出する排出アーム３６とを互いに独立させた。 - 特許庁

To realize a scanning electron microscope capable of eliminating sense of incompatibility to an operator with the movement of a sample by enabling the recognition of the sample moving direction by the operator, even under the condition with a sample image rotated.例文帳に追加

試料像が回転された状態でも、試料の移動方向を操作者に認識させ、試料移動に伴う操作者の違和感を取り除くようにした走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

The light passed through the optical path inside the microscope 300 is condensed on an object to be processed 500 with an object lens 312 in a form based on a beam forming slit 306, thus a machining is processed.例文帳に追加

顕微鏡３００内部の光路を通過した光は対物レンズ３１２により加工対象物５００上にビーム整形用スリット３０６に基づいた形状で集光され，加工が行われる。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus for a microscope having an interlace scan system imaging device, which can perform an exposure over the range from a short-time exposure to a long-time exposure inexpebsively without increasing the number of component parts.例文帳に追加

インターレーススキャン方式の撮像素子を有する顕微鏡用撮像装置であって構成部品を増やすことなく安価に短時間露光から長時間露光を行うことのできる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system for simultaneously evaluating effects of a plurality of drugs in a method for rapidly and simply evaluating effects of the drugs by observing morphology change of a drug-treated filamentous bacterium by a microscope.例文帳に追加

薬剤処理した糸状菌の形態変化を顕微観察することで、薬剤の効果を迅速かつ簡便に評価する方法において複数の薬剤の効果を同時に評価するシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a microregion scanning apparatus utilizing a cylindrical piezoelectric element which does not cause hindrance to application of an SPM to various fields, particularly mounting of the SPM on a biological inverted microscope.例文帳に追加

ＳＰＭの様々な分野への応用、特にＳＰＭを生物用倒立顕微鏡に搭載する際に障害とならない円筒型圧電素子利用の微小領域走査装置を提供すること。 - 特許庁

Then, the alignment mark is measured again, and at that time, the alignment mark is measured in a manner that a position where it is deviated by -Δx and -Δy from the design position becomes the center of the visual field in the optical microscope.例文帳に追加

その後、再びアライメントマークの測定行うが、その際には、設計位置から（−Δｘ，−Δｙ）だけずれた位置が光学顕微鏡の視野中心になるようにして測定を行う。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope, capable of observing a sample of which the surface is extremely soft by enhancing the accuracy (S/N ratio) of a detection signal and the reliability of feedback control.例文帳に追加

表面が極めて柔らかい試料等を、検出信号の精度（Ｓ／Ｎ比）が高く、かつフィードバック制御を信頼性高くして観察することのできる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The use of the microscope system 1 for surgery allows both an operator X and an assistant Y to perform surgeries watching stereoscopic images displayed on CRT displays 30A and 30B.例文帳に追加

手術用顕微鏡システム１を用いることにより、術者Ｘおよび助手Ｙの両方がＣＲＴディスプレイ３０Ａ，３０Ｂに表示された立体画像を見ながら手術を行えるようにした。 - 特許庁

To provide a surgical microscope, especially for a neurological surgery, whose lighting intensity of a lighting system could be largely changed, and which prevents tissue structure of a patient from being damaged by its improper operation.例文帳に追加

照明装置の照明光強度を大幅に変更可能で、誤作動により患者の組織構造に損傷を与えない手術用顕微鏡、特に神経外科用の手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This composition has an initiation temperature of phase difference increase (Ts) measured using a scanning viscoelasticity microscope of not lower than 25°C, and this sheet having an easily formable surface is prepared by processing the resin composition into a sheet form.例文帳に追加

走査粘弾性顕微鏡を用いて、測定される位相差増大開始温度Ｔｓが２５℃以上である組成物、及び該樹脂組成物をシート状に加工してなる易表面賦形性シート。 - 特許庁

To provide a slit lamp microscope device that examines a patient's eye by means of continuous illumination using an LED and can capture images of the eye during the examination by means of pulse illumination using the LED.例文帳に追加

LEDを用いて連続照明により患者眼の観察を行い、観察中にそのLEDを用いてパルス照明により眼の撮影を行うことができる細隙灯顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

A cantilever 4 having a lever 10 with diamond abrasive grains 5 at its end is strongly abutted against a single crystal silicon material 3 with use of such a mechanism of a frictional-force microscope as shown in Fig. 1.例文帳に追加

図１に示すような摩擦力顕微鏡の機構を用い、単結晶シリコン材料３に対して端部にダイヤモンド砥粒５を備えたレバー１０を有するカンチレバー４を強く当接させる。 - 特許庁

A main component constituting functional particles and powder capable of visually checking the specific shape when observed by a microscope are combinedly used and formed into particles to produce functional particles having a function capable of distinguishing oneself from others.例文帳に追加

機能性粒子を構成する主要成分の他に、顕微鏡で観察した際に特異な形状を視認できる粉体を併用して粒子化し自他識別能を有した機能性粒子を製造する。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of always positioning a sample in a visual field of a camera, and of preventing the number of installation of various types of apparatuses in a sample chamber from being restricted by the camera.例文帳に追加

本発明は、常に試料をカメラに視野内に位置させることができると共に、カメラによる試料室内への各種機器の設置数を制限させることがない電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide a microscopic image pickup unit having a smooth observation environment without giving unnecessary labor to an operator at the time of picking up an observation image obtained by a microscope.例文帳に追加

顕微鏡から得られる観察画像の撮像時に、操作者に対して余計な労力をあたえず、円滑な観察環境を提供することができる顕微鏡用撮像装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an object positioning apparatus that improves spatial resolution of a charged particle beam apparatus such as an electron microscope by suppressing minute vibration of an object such as a sample by a simple means.例文帳に追加

試料等の物体の微小な振動を簡便な手段によって抑制し、以って電子顕微鏡等の荷電粒子線装置の空間分解能を向上させる物体位置決め装置の提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of providing a high-resolution image even if a sample is tilted when a surface of the sample is observed by a retarding method for applying a negative voltage to the sample.例文帳に追加

試料に負電圧を印加するリターディング法により試料表面の観察を行う際に、試料を傾斜させても高分解能像を得ることを可能にする走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The sample mount 2 of a scanning magnetic force microscope 1 is provided with a permanent magnet 11 and a moving means for moving the permanent magnet 11 in an approaching and separating direction relative to the sample placed on the sample mount 2.例文帳に追加

走査型磁気力顕微鏡１に、サンプル台２に永久磁石11およびサンプル台２に載置されるサンプルに対して永久磁石11を接離方向に移動する移動手段とを備える。 - 特許庁

To provide a scanning microscope which is universally usable, provides the advantages of various known scanning microscopes, does not require a position adjusting cost or reduces the position adjusting cost and can be post installed.例文帳に追加

普遍的に使用可能で、公知の種々の走査顕微鏡の利点を提供し、位置調整コストを要せずに、或いは位置調整コストを少なくして後付け可能な走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To realize a scanning electron microscope formed so that the position of a deflection supporting point of the electron beam always passes through the main surface position of an objective lens, even if the position of the lens main surface of the objective lens is changed.例文帳に追加

対物レンズのレンズ主面の位置が変化しても、電子ビームの偏向支点の位置が常に対物レンズの主面位置を通るように構成した走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a method for adjusting lightness of an image in an imaging type microscope device capable of rapidly adjusting lightness of an image even when brightness is changed according to an object to be observed.例文帳に追加

観察対象によって明るさが変化するような場合でも、迅速に画像の明度を調整することが可能な撮像型顕微鏡装置における画像の明度の調整方法を提供する。 - 特許庁

A workpiece is installed in a cell 3 with liquid pooled, and the scratch working by the scanning probe microscope is implemented in the liquid, thereby making the chips diffuse in the liquid so that it does not remain on the testpiece.例文帳に追加

液体を溜めたセル３中に加工対象物を設置し、走査型プローブ顕微鏡によるスクラッチ加工を前記液中で実施し、切り粉が液中に拡散して試料面に残らないようにした。 - 特許庁

To provide a system for measuring a signal-light by a near-field optical microscope that allows a user to find dependency of signal light, emitted from a sample by near-field light, on the distance between a probe and the sample.例文帳に追加

近接場光により試料から放射される信号光のプローブ・試料間距離依存性を調べることができる近接場光学顕微鏡の信号光測定システムを提供する。 - 特許庁

In this case, claim 1 claims a superoxide anion decomposing agent composed of platinum fine powder having a particle size of 6 nm or less as observed under a microscope which is prepared under a metal salt reduction method. 例文帳に追加

この事例では、請求項1は、金属塩還元反応法により調製され、顕微鏡下で観察した場合に、粒径が6nm以下の白金の微粉末からなるスーパーオキサイドアニオン分解剤を請求している。 - 特許庁

A hook 135 and the turning pin 133 which are provided at the upper part of the inside of the microscope part 102 are connected through a spring member 136 having elasticity in order to butt the turning pin 133 against the regulation pin 134.例文帳に追加

回動ピン１３３を規制ピン１３４に当て付けるため、顕微鏡部１０２の内側上部に設けたフック１３５と回動ピン１３３が弾性を有するバネ部材１３６で接続されている。 - 特許庁