「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(152ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an electrode ring and an electron microscope capable of suppressing a variation in electric field distribution around the axial center of a hollow hole serving as a passage path of an electron beam and secondary electrons emitted from a sample.例文帳に追加

電子ビーム及び試料から放出される２次電子の通過経路となる中空孔の軸中心まわりの電界分布のばらつきを抑えることのできる電極リング及び電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The liquid permeable film has pores with 50μm-1mm film thickness and 1μm-10μm diameters and optical transparency observable by a microscope, is disposed on a solid medium such as an agar medium and used.例文帳に追加

上記液体透過性フィルムは膜厚が５０μｍ〜１ｍｍ、直径１μｍ〜１０μｍの孔を有し、顕微鏡観察が可能な光透過性であり、寒天培地のような固体培地上に配置して使用することができる。 - 特許庁

The observation with the microscope 10 to determine whether the light having passed through this microlens 3b is focused on the resist film 2 or not, can determine the focal point of the exposure light converged on the resist film 2 by the microlens 3a.例文帳に追加

このマイクロレンズ３ｂを透過した光がレジスト膜２上で合焦点か否かを顕微鏡１０で観察することにより、マイクロレンズ３ａによりレジスト膜２に収束される露光光の合焦点を判別できる。 - 特許庁

To provide a device for detecting microorganism, capable of observing microcolonies with a microscope mounted with a high magnification object lens, without polluted with various bacteria, and to provide a method for detecting microorganism and using the device.例文帳に追加

雑菌に汚染されることなく、高倍率の対物レンズを装着した顕微鏡で微小なコロニーを観察することのできる微生物検出用デバイス及びこれを用いた微生物の検出方法を提供すること。 - 特許庁

In the electron source 10A used in an electron microscope 20, a field emission electron can be easily obtained in vacuum from a cathode 42 by using diamond of a work function 3.0 ev or lower for the cathode 42.例文帳に追加

電子顕微鏡２０に用いられている電子源１０Ａでは、仕事関数が３．０ｅｖ以下であるダイヤモンドを陰極部４２に用いることで、陰極部４２から真空中に電子が容易に電界放出可能となる。 - 特許庁

The microscope sample 10 has a resin-made phase body 11 having an unevenness pattern 16 of predetermined size in a predetermined shape and support members 12 and 13 which support the phase body.例文帳に追加

本発明の顕微鏡標本１０は、予め定めた形状および寸法の凹凸パターン１６を有する樹脂製の位相物体１１と、前記位相物体を支持する支持部材１２,１３とを備えたものである。 - 特許庁

The probe provided with a probe needle of the nanotube especially the carbon nanotube, the length of which is adjusted at a precision of several 10 nm while holding a cylindrical needle along the tip part is applied to the probe microscope of scanning type.例文帳に追加

ナノチューブ特にカーボンナノチューブよりなる探針を備えたプローブにおいて、長さを数１０ｎｍの精度で調整し、先端にかけて円筒型を保持する探針を有するプローブを走査型プローブ顕微鏡に応用する。 - 特許庁

To provide a cantilever capable of improving face resolution of SCM furthermore than in the case of using the conventional cantilever, concerning the cantilever used for a scanning capacity microscope (SCM).例文帳に追加

走査型容量顕微鏡（ＳＣＭ）に用いられるカンチレバーにおいて、当該ＳＣＭの面分解能を従来のカンチレバーを用いた場合よりも、さらに向上させることができるカンチレバーを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a microscope objective lens which corrects various aberration caused by the change of the thickness of a medium existing between the objective lens and a sample, and has the maximized performance.例文帳に追加

対物レンズと標本との間にある媒質の厚さの変化によって生じる諸収差を補正できる対物レンズにおいて、性能を最大限に引き出すことが可能な顕微鏡対物レンズを提供すること。 - 特許庁

The magnesium oxide powder has a cubic particle shape when observed by a scanning electron microscope, and has a cumulative 50% particle diameter (D_50) of at least 1.0 μm by a laser diffraction scattering type particle size distribution measurement method.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡にて観察した粒子形状が立方体状であり、かつレーザ回折散乱式粒度分布測定による累積５０％粒子径（Ｄ_５０）が１．０μｍ以上である酸化マグネシウム粉末。 - 特許庁

To provide a semiconductor reflection electron detector for a scanning electron microscope, capable of achieving compatibly between data analysis and collection efficiency of reflection electrons, and capable of improving performance in 3D measurement.例文帳に追加

データ解析の向上及び反射電子の収集効率の向上を両立させ、且つ、３D計測の性能を改善することができる走査型電子顕微鏡用半導体反射電子検出器を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope in which a rapid change of an irradiation current can be suppressed against intensity changes of a focusing lens at changing the irradiation current by changing the intensity of the focusing lens.例文帳に追加

集束レンズの強度を変化させて照射電流を変化させるに際して、集束レンズの強度変化に対して、照射電流の急激な変化を抑えることができる走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To attain highly precise measurement by restraining a sonic velocity from being changed by a temperature elevation of a medium caused by transmission of ultrasonic wave, in an ultrasonic microscope using an ultrasonic probe of a convergence type.例文帳に追加

集束型の超音波探触子を用いた超音波顕微鏡において、超音波の送信による媒質の温度上昇による音速の変化を抑制することによって、高精度な計測を行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide a fluorescent microscope in simple structure which can form an image of an ultraviolet area by directly detecting fluorescent light of an ultraviolet part generated by short-wavelength ultraviolet-ray excitation and is adaptive to the ultraviolet area.例文帳に追加

短波長の紫外線励起によって生じる紫外部の蛍光を直接検出し、紫外領域の像を形成することのできる、簡単な構造を持つ紫外領域対応の蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The inspection method includes applying a fluorescence in-situ hybridization method to suspended cells with a cell surface antigen fluorescence-stained and then observing cell nuclei with a fluorescence microscope focused on the nuclei.例文帳に追加

浮遊細胞の検査方法は、細胞表面抗原が蛍光染色された浮遊細胞を、蛍光インサイチューハイブリダイゼーション法に供し、次いで細胞の核にピントを合わせて核を蛍光顕微鏡で観察することを含む。 - 特許庁

To provide a microscope objective lens which can realize chromatic aberration compensation in a wide wavelength breadth ranging from a deep ultra violet region to a visible region.例文帳に追加

深紫外域（Ｄｅｅｐ Ｕｌｔｒａ Ｖｉｏｌｅｔ、略してＤＵＶと呼ばれる。）から可視領域に亘る広い波長幅での色収差補正は実現することができる顕微鏡対物レンズを提供すること。 - 特許庁

Concerning the dielectric porcelain composition having a main component containing barium titanate, in the case of observation with an electronic transmission microscope, this composition contains crystal grains having interference stripes more than 30% of the field of observation view.例文帳に追加

チタン酸バリウムを含む主成分を有する誘電体磁器組成物であって、透過電子顕微鏡により観察した際に、干渉縞を有する結晶粒子を観察視野の３０％以上含有する。 - 特許庁

In this microscopic observation method of metallic soap particles in grease, the grease is sandwiched between the two transparent plates with a force having prescribed strength and observed by an optical microscope having differential interference or polarization function.例文帳に追加

グリース中の金属石鹸粒子の顕微鏡観察方法において、グリースを透明な２枚の板の間に所定の強度の力で挟み、微分干渉もしくは偏光機能を有した光学顕微鏡で観察する。 - 特許庁

Using a plurality of optical elements in a transmission electron microscope 500, an unscattered electron beam is adjusted to deflect to prevent incidence of the electron beam onto a contrast enhancing element 518 disposed in the diffraction plane.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡５００の複数の光学素子を用いることにより非散乱電子ビームを偏向して、回折平面に配置されたコントラスト向上素子５１８に該電子ビームが照射されないように調節する。 - 特許庁

To provide a laser microscope capable of executing optimum pulse width adjustment for shortening the pulse width of a laser beam on the position of a sample, preferably making it to the shortest width and observing the sample under an optimum condition.例文帳に追加

標本位置でのレーザビームのパルス幅を短く、望ましくは最短にする最適なパルス幅調整を行うことができ、最適な条件下での観察を行うことができるレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This microscope system includes; microscopes (5 to 11) for acquiring data; and a calculation device 2 configured to execute the control of the microscopes during acquiring the data and the data processing of raw data acquired by the microscopes.例文帳に追加

顕微鏡システムは、データ取得のための顕微鏡（５〜１１）と、データ取得の際の顕微鏡の制御及び顕微鏡により取得された生データのデータ処理を実行するように構成された計算装置２とを備える。 - 特許庁

For example, an interaction between the surface of the ion exchanger and a cantilever that is a probe of an atomic force microscope is measured, and the charge state of the ion exchanger is checked, thereby evaluating the capability of the ion exchanger.例文帳に追加

例えば、原子間力顕微鏡の探針であるカンチレバーとイオン交換体の表面との相互作用を測定し、イオン交換体の電荷の状態を調べることにより、イオン交換体の性能評価を行う。 - 特許庁

The sample production device achieves sample production suitable for observation by a scanning electron microscope, by forming a micro irregularity every structure by focused ion beam assistant etching using assist gas for increasing the spatter yield difference for every material.例文帳に追加

材料毎のスパッタイールド差を大きくするアシストガスを利用した集束イオンビームアシストエッチングにより、構造毎の微小凹凸を形成することで、走査電子顕微鏡観察に適した試料作製を実現する。 - 特許庁

The interface 6 is formed as a rotary joint and includes a first portion 10 which is to be connected to the ocular unit and the stand while the second portion 9 of the interface unit 6 is connected to the tubular unit 2 of the microscope.例文帳に追加

インターフェース６は、ロータリ・ジョイントとして構成され、接眼ユニットとスタンドに接続される第１の部分１０を備え、インターフェース・ユニット６の第２の部分９は顕微鏡の筒ユニット２に接続される。 - 特許庁

In laser position regulation, an operator regulates a laser position regulating mechanism 27 so that laser spot is located in a proper position of the back surface of a cantilever 10 while observing the cantilever 10 through an optical microscope 29.例文帳に追加

また、レーザ位置調整時には、オペレータは、光学顕微鏡２９でカンチレバ１０を観察しながら、カンチレバ背面の適当な位置にレーザスポットが位置するように、前記レーザ位置調整機構２７を調整する。 - 特許庁

Since the camera 4 is moved in conjunction with the movement of a sample 8 by composing the electron microscope like that, the sample 8 is prevented from deviating from the visual field of the camera 4 or being interrupted by various types of apparatuses 6 installed around it.例文帳に追加

このように構成することで、試料８の移動に連動してカメラ４も移動するので、試料８がカメラ４の視野から外れたり、周辺に設置された各種機器６で遮られたりすることがなくなる。 - 特許庁

To provide an adhesive composition for an optical element that continuously suppresses the emission of fluorescence from a cement excited by an excitation light falling on cemented optical elements of a fluorescence microscope and is free from discoloration of the cement and peeling of the cemented surface and to provide a cemented structure.例文帳に追加

蛍光顕微鏡の接合光学素子に対し、励起光による接合剤の蛍光を連続的に抑え、変色や剥がれのない光学素子の接着剤組成物及び接着構造体を提供する。 - 特許庁

At the bottom end of a main operation tool 7 inserted and extracted in a tank 1 having pool water, a chamber 13 is attached to the end of the operation tool 7 and in this chamber 13, a high magnification microscope 5 is placed through a position controlling mechanism 6.例文帳に追加

プール水を有する貯槽１内を挿脱する操作具７を主体とし、この操作具７の下端にチャンバ13を取付け、このチャンバ13内に高倍率顕微鏡５を位置調整機構６を介して設ける。 - 特許庁

The scanning microscope capable of acquiring the confocal image and the evanescence illumination image information is equipped with a transparent board 9 which has a first face and a second face and which supports a sample on the first face.例文帳に追加

本発明による共焦点像とエバネッセンス照明像情報を取得できる走査顕微鏡は、第１の面と第２の面を備え前記第１の面に標本を支持する透明板９を備えている。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of automatically rationalizing various parameters in a measuring instrument corresponding to a cantilever and planned so as to enhance not only the efficiency of measuring work but also the stabilization and reliability of a measuring result.例文帳に追加

測定装置での各種パラメータを、カンチレバーに応じて自動的に適正化でき、測定作業の効率化、測定結果の安定化と信頼性向上を企図した走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the confocal microscope, the rotary disk 20 has a disk main body 201 having the pattern surface 201a of a confocal aperture on one side and a fixed part 202 and a fixed part 203 provided at the center part of the main body 201.例文帳に追加

回転ディスク２０は、片側に共焦点開口のパターン面２０１ａを有するディスク本体２０１と、ディスク本体２０１の中央部に設けられた固定部品２０２と固定部品２０３とを有している。 - 特許庁

To provide a zoom lens that has a small size and a superior optical performance and that, while securing a working distance longer than that of a microscope, has the ability to continuously perform variable magnification from reduced magnification to unmagnification, and also to provide an image pickup unit.例文帳に追加

小型で良好な光学性能を有し、顕微鏡よりも長い作動距離を確保しつつ、縮小倍率から等倍率まで連続的に変倍できるズームレンズ、および撮像装置を提供する。 - 特許庁

To shorten an inspection time, to always allow the optical axis of a microscope to coincide with that of a transmission illumination part by positionally correcting the same at an arbitrary position and to hold the uniformity of luminous intensity at the time of microscopic observation.例文帳に追加

検査時間の短縮化が図れ、かつ、任意の位置で位置補正して、常に顕微鏡と透過照明部との光軸を一致させ、しかも顕微鏡による観察時における照度の均一性を保つ。 - 特許庁

A probe, means for replacing the inside of a sample chamber with prescribed gas and means for turning into images by ion current detection or absorbed current detection are incorporated to realize a safe SEM (scanning electron microscope) whose risk of electrical discharge is low.例文帳に追加

探針と、試料室内を所定のガスで置換する手段と、イオン電流検出や吸収電流検出による画像化手段を備えることにより、放電の危険性の低い安全なＳＥＭを実現する。 - 特許庁

The reflecting X-ray microscope includes the convex mirror 1 constituting a Schwarzschild optical system, the concave mirror 2 provided with an aperture 8 and a diaphragm 9 for preventing illuminating light 5 from being blocked by the optical system, and an image detector 4.例文帳に追加

シュバルツシルド光学系を構成する凸面鏡１と、照明光５が光学系で遮られるのを避けるための開口部８と絞り９が設けられた凹面鏡２と、画像検出器４とを具備する。 - 特許庁

In a device body comprising an analysis cell 1 and substrates 2A and 2B for supporting this, an excitation light source 3, a detection light source 4, and at least a part of a thermal lens microscope optical system are disposed integrally with each other.例文帳に追加

分析セル（１）とこれを支持する基板（２Ａ）（２Ｂ）とにより構成されるデバイス本体において、励起光源（３）、検出光源（４）および熱レンズ顕微鏡光学系の少くとも一部が一体配設されていること - 特許庁

The condenser lens for the microscope is constituted, by arranging a cemented negative meniscus lens (L1) which is concave to a light source side and three single-body positive lenses (L2, L3, and L4), in this order, from the light source side to an observed body side.例文帳に追加

この顕微鏡用コンデンサレンズは、光源側から被観察物側へ向かって順に、光源側に凹面を向けた接合負メニスカスレンズ（Ｌ１）と、３枚の単体正レンズ（Ｌ２，Ｌ３，Ｌ４）とを配置してなる。 - 特許庁

This probe control method is adopted for the scanning probe microscope for changing the relative position relation between the probe 20 and a sample 12, and measuring the sample surface by a measuring part, while scanning the sample surface by the probe.例文帳に追加

この探針制御方法は、探針２０と試料１２の相対的な位置関係を変化させ、探針が試料の表面を走査しながら測定部で試料表面を測定する走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

A microscopic observation method for observing an observation object by an optical microscope is provided for performing the steps including: a thin film-forming step of forming a thin film at least absorbing or scattering light on a surface of the observation object containing a plurality of types of constituent materials to thereby prepare an observation sample; and an observing step of observing the observation sample by the optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡によって観察対象物を観察するための顕微観察方法であって、複数種の構成材料を含む観察対象物の表面に少なくとも光を吸収又は散乱する薄膜を形成する薄膜形成工程を実施することにより観察用試料を作製し、さらに、該観察用試料を光学顕微鏡によって観察する観察工程を実施する顕微観察方法を提供する。 - 特許庁

This adapter for the microscope includes a casing 64 that is detachably attached to a sample side end of an objective lens barrel of the microscope where an illumination section for observation is arranged in the periphery of an objective lens 41 and has an opening 61 in the bottom, and an irradiation angle adjusting means 65 that is arranged in the casing 64 and adjusts the irradiation angle of illumination light from the illumination section for observation to the sample.例文帳に追加

対物レンズ４１の外周に観察用照明部が配置された顕微鏡の対物レンズ鏡筒の標本側端部に着脱可能に装着され、底部に開口部６１を有する筐体６４と、前記筐体６４内に配置され、標本に対する前記観察用照明部からの照明光の照射角度を調整する照射角度調整手段６５とを有することを特徴とする顕微鏡用アダプタ。 - 特許庁

To provide a quantum line-supported atomic force microscopic method and a quantum line-supported atomic force microscope capable of performing simultaneously shape observation and elemental analysis in the atomic level by using the atomic force microscope, analyzing the chemical state on the sample surface, and performing the elemental analysis or chemical state analysis with respect to a biosample with a resolution in the atomic level because of being operable even in liquid.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を使って原子レベルでの形状観察と元素分析とを同時に行うことができ、さらには試料表面の化学状態を分析することが可能となり、また、液体中でも動作可能であるため生体試料に対する元素分析や化学状態分析を原子レベルの分解能で行うことが可能な量子線支援原子間力顕微法および量子線支援原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The microscope control device includes: an evaluation value calculation unit for calculating an evaluation value for evaluating the presence or absence of a sample for each local area constituting one of a pair of phase difference images of the sample imaged by a microscope; and an area determination unit for determining an area in which the sample is imaged in the one of the phase difference images based on the calculated evaluation value.例文帳に追加

本発明に係る顕微鏡制御装置は、顕微鏡により撮像されたサンプルの一組の位相差像の一方について、当該位相差像の一方を構成する局所的な領域毎に、前記サンプルの有無を評価するための評価値を算出する評価値算出部と、算出された評価値に基づいて、前記位相差像の一方において前記サンプルが撮像されている領域を判定する領域判定部と、を備える。 - 特許庁

This microscope for operation comprises a moving means 16 for turning a first arm constituent body 7 around turning shafts 14a, 14b of a connection part to a first rotating shaft part 9 and moving a second arm constituent body 8 vertically.例文帳に追加

第１のアーム構成体７を第１の回転軸部９との連結部の回動軸１４ａ，１４ｂを中心に回動させ、第２のアーム構成体８を上下方向に平行移動させる移動手段１６を設けたものである。 - 特許庁

To provide a microscope for surgical operations having an ultrasonic probe generating a tomographic image of a region to be operated on by which an operator can effectively perform surgical operations by obtaining tomographic images of high resolution depending on the operating circumstances.例文帳に追加

術部の断層画像を生成する超音波プローブを有し、術者は手術状況に応じて高解像の断層画像情報が得られ、効率的に手術が遂行できる手術用顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide a microscope, even if air is contained in a preparation, capable of determining a region other than an air region as a region of an object of focusing process or the like, and to provide a region determining method, and a program.例文帳に追加

プレパラート内に空気が含まれる場合でも、当該空気の領域以外の領域を、合焦処理等の対象となる領域として判定することができる顕微鏡、領域判定方法、プログラムを提供すること。 - 特許庁