「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(155ページ目) - Weblio英語例文検索

Further as one embodiment, the scanning electron microscope includes a function to correct conditions and the like in an apparatus such as magnification, focus, measuring coordinate and the like varied in accordance with a sample electrification, based on the measured sample height and the sample electrification.例文帳に追加

また、その一態様として、測定された試料高さや試料電位に基づいて、試料帯電によって変動する装置条件（例えば倍率，フォーカス，観察座標等）を補正する走査電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

The microscope 110 has an excitation light input port 112 for capturing excitation light from the excitation light source 130 and an output port 113 for outputting fluorescence generated by the excitation light.例文帳に追加

共焦点光学顕微鏡１１０は、励起光源部１３０からの励起光を取り込むための励起光入力ポート１１２と、励起光により発生された蛍光を出力するための出力ポート１１３とを有している。 - 特許庁

This secondary electron image observation device 10 is provided with an irradiation system 15 having a structure for observing a sample while scanning it with an electron microscope and capable of irradiating the sample with at least either of an ultraviolet ray and an X-ray.例文帳に追加

試料に対して電子顕微鏡を走査しながら観察を行う構成を有し、紫外光、Ｘ線の、少なくともいずれかを照射可能な、照射系１５を具備している二次電子像観察装置１０を提供する。 - 特許庁

The converged electron beam 2 allowed to irradiate a semiconductor device 1 from a transmission electron microscope 4 transmits through the semiconductor device 1 as transmitted electron beam 3 to be allowed to be incident on a magnetic field deflecting type energy filter 7 through a slit 5.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡４から半導体装置１に照射された収束電子線２は、透過電子線３として半導体装置１を透過し、スリット５を介して磁場偏向型エネルギーフィルタ７に入射される。 - 特許庁

The microscope 1 provided with an illuminating optical system 5, an objective lens 6, and a spectroscope 14 is provided with an imaging optical system 12 taking an entrance aperture 14a of the spectroscope 14 and a pupil surface 7 of the objective lens as a conjugate pair.例文帳に追加

照明光学系５、対物レンズ６および分光器１４を備える顕微鏡１において、分光器１４の入射開口１４ａと対物レンズの瞳面７とを共役とする結像光学系１２を備えるようにする。 - 特許庁

To evade failure in X-ray analysis caused by coming-out from a sample position where an X-ray is efficiently taken in, when executing the X-ray analysis following to sample observation by a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡による試料観察に引き続いてＸ線分析を実行する場合に、試料の位置がＸ線を効率良く取り込める位置から外れていることでＸ線分析が失敗してしまうことを回避する。 - 特許庁

To provide a microscope with a contact type slit lamp in which a testis inspection is carried out with an enhanced probability of detecting sperm by seeing through the inside of a seminiferous tubule by diagonally floodlighting the seminiferous tubule.例文帳に追加

精細管に対して光を斜めから当てることにより、精細管の内部が透視できるようして、精子が見つかる率を向上させて精巣生検を行うことができる接触式スリットランプ付き顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope that prevents an inspection time from being extended due to vertical vibration of a sample when obtaining a two-dimensional image by irradiating the sample with an electron beam inclined with respect to the perpendicular direction of the sample.例文帳に追加

試料の垂直方向に対して傾斜させた電子ビームを試料に照射して二次元像を得るときに、試料の上下振動が原因で検査時間が長くなることを防止できる走査形電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The microscope system is also provided with a motor 10 for moving the objective lens 5 along the optical axis, and a controller 13 for adjusting a relative distance between the leading end part of the objective lens 5 and the sample table 3 by controlling the motor 10.例文帳に追加

顕微鏡装置は更に、対物レンズ５を光軸に沿って移動させるモーター１０と、モーター１０を制御して対物レンズ５の先端部と試料台３との間の相対距離を調節するコントローラー１３とを有している。 - 特許庁

Meanwhile, in the image processing device 5, a partial image extraction part 571 acquires the plurality of oblique illumination sample images photographed by the microscope 3, and extracts partial images from the respective oblique illumination sample images, based on the brightness distribution thereof.例文帳に追加

一方、画像処理装置５では、部分画像抽出部５７１が、顕微鏡３で撮像された複数の偏斜標本画像を取得し、各偏斜標本画像からその明るさの分布に基づいて部分画像を抽出する。 - 特許庁

Based upon lateral magnification prescribed by scaling of the object reference scale and scaling of the ocular reference scale led to the optical superposition match, actual magnification of the microscope at the zoom position is determined.例文帳に追加

前記光学的重畳一致に導かれた前記物体参照尺度のスケーリングと前記接眼レンズ参照尺度のスケーリングによって規定される横倍率に基づき前記ズーム位置における顕微鏡の実際倍率を決定する。 - 特許庁

The electron microscope has an objective lens 151b for connecting the focus point of an electron beam on the sample, a lens controller 150b which applies exciting current applied to the objective lens 151b, and a host computer 102 which measures feature structures.例文帳に追加

電子顕微鏡は電子ビームの焦点を試料上に結ぶための対物レンズ151bと、対物レンズ151bに供給される励磁電流を供給するレンズ制御部150bと、特徴構造を測定するホストコンピュータ102を有している。 - 特許庁

When characterization of the tip of a diamond probe 1 for machining is needed, a high resolution scanning electron microscope observation at a high accelerating voltage is performed for the tip of the diamond probe 1 in use for machining under a water vapor atmosphere.例文帳に追加

加工用ダイヤモンド探針１の先端のキャラクタリゼーションが必要なときは使用している加工用ダイヤモンド探針1の先端を水蒸気雰囲気下での高加速電圧の高分解能走査電子顕微鏡観察を行う。 - 特許庁

Since a zoom optical system 10 of a normal light path A is formed horizontally, and a high-power optical path C is formed horizontally outside the zoom optical system 10, thereby reducing the vertical size H1 of a microscope body.例文帳に追加

通常光路Ａのズーム光学系１０を水平に形成し、高倍率光路Ｃをそのズーム光学系１０の水平方向外側にそれぞれ形成したため、顕微鏡本体の上下寸法Ｈ１を短縮することができる。 - 特許庁

To provide a photodetector capable of obtaining a proper image data corresponding to observation conditions in response to the change of the observation conditions of a sample automatically and a scanning type confocal microscope with the photodetector.例文帳に追加

試料の観察条件の変化に自動的に対応して、その観察条件に応じた適切な画像データを取得することが可能な光検出回路および該光検出回路を備えた走査型共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A genetic screening apparatus is provided with both a reaction stage 103 for supporting a reaction vessel 101 containing a DNA microarray and for accelerating reaction and a microscope 102 for optically observing the DNA microarray.例文帳に追加

遺伝子検査装置は、ＤＮＡマイクロアレイを含む反応容器１０１を支持すると共に反応を促進するための反応ステージ１０３と、ＤＮＡマイクロアレイを光学的に観察するための顕微鏡１０２とを備えている。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method which is capable of quickly, easily, and clearly observing malaria plasmodia with naked eyes by using a general optical microscope and applying a malaria rapid diagnosis method employing acridine orange staining.例文帳に追加

一般の光学顕微鏡を使用して、アクリジンオレンジ（ＡＯ）染色によるマラリアの迅速診断法を適用して、マラリア原虫を肉眼で迅速、簡単、明りょうに観察することを可能する装置と方法を提供すること。 - 特許庁

In this chemical bonding condition analyzing method for elements in tungsten and its compound, the chemical bonding condition of the measuring material is analyzed by analyzing the characteristic X-ray wavelength provided from the electron microscope.例文帳に追加

タングステンおよびその化合物における元素の化学結合状態分析方法において、測定用材料を電子顕微鏡から取得される特性Ｘ線波長を解析することによって、化学結合状態を分析する。 - 特許庁

The surgical microscope is disposed on an interface between the digital type fundus camera and the fundus lens of a retina diagnostic system and the camera is constituted of the digital type fundus camera of the retina diagnostic system.例文帳に追加

この手術用顕微鏡において、該手術用顕微鏡は、網膜診断システムのデジタル式眼底カメラと眼底レンズとの間のインターフェースに配設され、及び前記カメラは、網膜診断システムのデジタル式眼底カメラから構成される。 - 特許庁

To realize an electron microscope which has adopted for it a normally available exhaust system such as a turbo molecular pump, an ion pump or a rotary pump and which can safely execute observation or adsorption of a highly scarce object.例文帳に追加

ターボ分子ポンプやイオンポンプ、あるいはロータリーポンプなどといった通常入手できる排気系を採用した電子顕微鏡において、希少性の高い対象物の観察または吸着を安全に実行できる装置を実現する。 - 特許庁

To provide a high-frequency oscillation probe for a high-speed scanning probe microscope that permits a quick observation of a sample and, especially, an observation of a moving object by improving the scanning speed of an oscillation scanning probe.例文帳に追加

振動走査探針の走査速度を改善して、迅速な試料の観測を可能とし、特に、移動する物体の観測も行い得る高速走査探針顕微鏡用高周波振動探針を提供することを目的とする。 - 特許庁

A confocal microscope includes a light source that emits excitation light that excites a sample, and a confocal optical system that guides fluorescent light generated from the sample by focusing the excitation light to the sample to an image pickup device.例文帳に追加

試料を励起する励起光を射出する光源と、試料に前記励起光を集光させることにより試料から発生した蛍光を撮像装置に導く共焦点光学系と、を備えた共焦点顕微鏡に関する。 - 特許庁

To provide a compact scanning type laser microscope having stable performance and high optical resolution which is not affected by vibration and heat generation from a laser light source, and the quantity of UV laser light with respect to a sample is not fluctuated.例文帳に追加

本発明は、レーザ光源からの振動及び発熱の影響を受けることがなく、かつ試料へのＵＶレーザ光の光量が変動することなく、小型で安定した性能を有し、高い光学分解能を有すること。 - 特許庁

To provide a microscope with which an observation with high resolution and an observation with low resolution can be changed over as desired at the time of observing a substrate and the higher resolution can be attained at a low cost and an immersion objective lens.例文帳に追加

基板を観察する際に、低分解能での観察と高分解能での観察とを必要に応じて切り換えることができ、且つ、安価に高分解能化が可能な顕微鏡装置および液浸対物レンズを提供する。 - 特許庁

The method for making a preparation for an optical microscope for observation includes a process for bonding side edge parts of at least one side of a cover glass to the lower material by sealing a gap between them with at least one kind of a sealing material.例文帳に追加

試料を観察するための光学顕微鏡用プレパラートを作製する方法であって、以下：カバーガラスの少なくとも片面の辺縁部と下部材との間を、少なくとも一種のシーリング材で接着する工程、を包含する、方法。 - 特許庁

A distribution of a reflection electron or secondary electron intensity is processed from a control system of a scanning microscope and an adjacent terminal, and a shape of an area expressing the vicinity of an edge is digitalized to calculate a tapering tendency based on a result thereof.例文帳に追加

走査型顕微鏡の制御系ないし隣接する端末から反射電子ないしは２次電子強度の分布を処理し、エッジ近傍を表わす領域の形状を数値化しそれらの結果からテーパ傾向を算出する。 - 特許庁

A pigment 1006 of an observation object is arranged on a sample holder 1005, and incident light 1008 from a light source 1003 is made to enter, and light passing the hyper lens 1007 is received by a microscope 307 and measured by a CCD camera 309.例文帳に追加

被観察物体の色素１００６をサンプルホルダ１００５に並べ、光源部１００３からの入射光１００８を入射し、ハイパーレンズ１００７を通過した光を顕微鏡３０７で受け、ＣＣＤカメラ３０９で観測する。 - 特許庁

A display control device 22 displays an image photographed by a TV camera 21, on a monitor 24 and makes a superimposed display of an inclined axis pattern on the monitor 24 on the basis of inclined axis information from an electron microscope body control part 30.例文帳に追加

表示制御装置２２は、ＴＶカメラ２１で撮像した画像をモニタ２４に表示すると共に、電子顕微鏡本体制御部３０からの傾斜軸情報に基づいて傾斜軸パターンをモニタ２４に重畳表示する。 - 特許庁

First, a review is carried out by an electron microscope unit 2, and only when a first determining section 3 recognizes that a defect exists in a recognized defect part, is related defect information output to a defect information classifying section 6.例文帳に追加

先ず電子顕微鏡ユニット２によるレビュー結果に基づき、第１の判定部３により認定欠陥部位に欠陥が有ると認められる場合のみ、その旨の欠陥情報が欠陥情報分類部６に出力される。 - 特許庁

To inexpensively provide a uniform illumination for a microscope which can be easily materialized without requiring much manufacturing cost by dispensing with additional measures for radiating high heat due to use of a lamp of a large output without loss of light energy.例文帳に追加

製造コスとが掛からず、廉価であり、光エネルギの喪失がなく、出力の大きいランプの使用による高い熱を排出するための付加的な対策が必要とならない、容易に実現できる均一な顕微鏡用照明の提供 - 特許庁

To provide a vertical illuminator for observing fluorescence, which can, successively and over a wide range, adjust the light quantity of a plurality of beams of illumination light radiated to a specimen and which can be inexpensively constituted, and to provide a fluorescent microscope equipped with the vertical illuminator.例文帳に追加

標本に対する複数の照明光の光量を広い範囲で連続的に調整することができると共に安価に構成できる蛍光観察用の落射照明装置、およびそれを備えた蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The scanning laser microscope is provided with drive parts (25a, 25b) to drive a plurality of mirrors (11a, 11b) to reflect luminous flux while adjusting the wavelength width and wavelength band of spectrally resolved luminous flux, and a control part 27 to control the drive parts.例文帳に追加

スペクトル分解された光束の波長幅と波長域とを調整しながら前記光束を反射する複数のミラー（１１ａ、１１ｂ）を駆動する駆動部（２５ａ、２５ｂ）と、前記駆動部を制御する制御部２７とを備えた。 - 特許庁

The standard sample for the charged particle beam containing different two samples for magnification or dimension calibration, and the charged particle beam device using the standard sample are formed, in a TEM, an STEM (scanning transmission electron microscope), or an SEM for observing a sample by using electrons transmitted through it.例文帳に追加

本発明では、上記目的を達成するために、倍率、或いは寸法校正のための異なる２つの試料が含まれている荷電粒子線用標準試料及びそれを用いる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide an illumination optical system for enabling bright phase difference observation and dark field observation by obtaining annular illumination without losing light intensity from a light source, and to provide an illumination optical system for an exposure device and a microscope lighting system using it.例文帳に追加

光源からの光量を損失することなく輪帯照明を得られ、明るい位相差観察や暗視野観察が可能な照明光学系、露光装置用の照明光学系とそれを用いた顕微鏡照明装置。 - 特許庁

The microscope equipped with a vertical illuminating optical system A employs an imaging optical system D which converges transmitted illumination light traveling from a sample 13 after passing through a half-mirror 4 arranged halfway in the optical path of the vertical illuminating optical system A.例文帳に追加

落射照明光学系Ａを備える顕微鏡において、落射照明光学系Ａの光路の途中に配置されたハーフミラー４を透過した標本１３からの透過照明光を集光させる結像光学系Ｄを採用した。 - 特許庁

An electrically driven zoom lens barrel 23 of the optical microscope 20 is arranged so as to extend in a Z axis direction at a side of a sample mounting stand 30, and an optical axis conversion mirror is arranged at an upper end part of the electrically driven zoom lens barrel 23.例文帳に追加

光学顕微鏡２０の電動ズーム鏡筒２３は、試料載置台３０の側方においてＺ軸方向に延びるように配置され、光軸変換ミラーは電動ズーム鏡筒２３の上端部に配置されている。 - 特許庁

A specimen transfer system S used for a semiconductor scanning electron microscope is equipped with a specimen chamber 1, a specimen replacing chamber 2, a loading board 11, a specimen transfer path, a transfer means of the specimens 13, and a control device of controlling the transfer means.例文帳に追加

半導体用走査電子顕微鏡用の試料搬送システムＳは、試料室１、試料交換室２、ロードポート１１、試料搬送経路、試料１３の搬送手段、搬送手段を制御する制御装置を備えている。 - 特許庁

In addition, the manufactured glass substrate has a minute wave height (NRa) not larger than 0.15 nm measured on its surface by means of a three dimensional surface structure analyzing microscope through setting the measurement wave length (λ) to be 0.2-1.4 mm.例文帳に追加

また、製造されたガラス基板は、三次元表面構造解析顕微鏡を用い、測定波長（λ）を０．２〜１．４ｍｍに設定して測定された表面の微小うねりの高さ（ＮＲａ）が０．１５ｎｍ以下とされている。 - 特許庁

To enable an uneven shape corresponding to an interest region extracted from two-dimensional distribution of another physical quantity to easily and correctly be understood in a two-dimensional distribution image of a height of predetermined range obtained with an SPM (scanning probe microscope).例文帳に追加

ＳＰＭで得られた所定範囲の高さの２次元分布画像において、他の物理量の２次元分布に基づいて抽出される関心領域に対応する凹凸形状などを容易に且つ的確に理解できるようにする。 - 特許庁

To offer an auxiliary illuminating arrangement for a slit lamp in which the entire image of the eye of a patient including an image of slit light is fetched from an imaging device by a video capture means without causing the patient to sense almost no dazzle and preventing operation of a slit lamp microscope.例文帳に追加

患者に眩しさを殆ど感じさせず、かつ細隙灯顕微鏡の操作を妨げることなく、ビデオキャプチャー手段によって、撮像装置からスリット光の像を含む患者の眼の全体の画像が取り込まれるようにする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope for avoiding the trouble of sample stand changing, and accurately measuring the temperature depending characteristic of physical properties by tracing measurement of the temperature variation on an identical measurement point and an identical measurement area.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、試料を測定する際、試料台の交換の手間をなくすとともに、同一測定ポイント同一測定領域の温度変化を追跡測定し、物性の温度依存特性を正確に測定すること。 - 特許庁

In a camera chamber 160 of the nodular graphite cast iron quality measuring device 1000, a monochrome CCD camera 150 equipped with a microscope 153 and a light source 170 are arranged, and the optical axis of the camera 150 is set in a vertical direction.例文帳に追加

球状黒鉛鋳鉄品質測定装置１０００のカメラ室１６０には、顕微鏡１５３を備えたモノクロＣＣＤカメラ１５０と光源装置１７０とが配設され、カメラ１５０の光軸は鉛直方向に設けられている。 - 特許庁

The microscope stage equipped with a lower stage 2 and an upper stage 3 slidably coming into contact with a prescribed plane of the lower stage 2 is disposed with a grip 8 provided with a surface having a large coefficient of friction in a portion of the upper stage 3.例文帳に追加

シタステージ２と、このシタステージ２の所定の平面に対して摺動自在に接触するウエステージ３とを備えた顕微鏡ステージにおいて、ウエステージ３の一部に摩擦係数の大きい表面を持ったグリップ８を配置した。 - 特許庁

A control part 121 has a storage part for storing parameters for at least two or more samples 102, where each parameter controls the operation of a microscope apparatus and is allowed to correspond to each sample 102 to be observed.例文帳に追加

制御部１２１は、顕微鏡装置の動作を制御するパラメータであって観察対象のサンプル１０２毎に対応付けられている当該パラメータを、少なくとも２つ以上のサンプル１０２について記憶しておく記憶部を有している。 - 特許庁

To obtain a scanning Kelvin probe microscope in which a frequency component not required to detect potential information on the surface of a sample to be measured is suppressed and in which the S/N ratio of the potential information on the surface of the sample is enhanced.例文帳に追加

走査型ケルビンプローブ顕微鏡において、試料表面の電位情報を検出する場合に不要となる周波数成分を抑圧し、測定される試料表面の電位情報のＳ／Ｎを向上させることを目的とする。 - 特許庁