「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(154ページ目) - Weblio英語例文検索

An optical microscope device is provided with a casing 20 which stores an optical member 21, a sample room 10 having an airtight structure and an environmental control section which controls temperature and humidity of the sample room 10 and controls temperature of the casing 20.例文帳に追加

光学顕微鏡装置は、光学部材２１を収納する筺体２０と気密構造の試料室１０と試料室１０の温度および湿度を制御するとともに筺体の温度を制御する環境制御部を備えている。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope capable of correcting sequentially a relative displacement between a cantilever used in measurement and a measuring object not affected by thermal expansion or contraction of an instrument or the measuring object, and by instrument vibration or the like caused by floor vibration.例文帳に追加

測定に用いるカンチレバーと被測定物間の相対変位を逐次補正して、装置や被測定物の熱膨張や収縮、床振動による装置振動等の影響を受けない原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an illuminating module for surgical microscope, whose light is generated by LEDs, capable of simultanesouly having white light having the largest CRI value and variable color temperature, and then satisfying the conditions of formula CRI_Beleuchtungsmodul>80.例文帳に追加

ＬＥＤによって光が生成され、最大のＣＲＩ値と同時に可変の色温度をもつ白色の照明光を提供することを可能にし、式ＣＲＩ_Beleuchtungsmodul＞８０が成り立つような、手術用顕微鏡の照明モジュールを提供する。 - 特許庁

The microscope includes a means for changing an aperture angle of an optical system by varying diameters of a plurality of convergence lenses and diaphragms to change the aperture angle α of an electron beam in accordance with a virtual field corresponding to a single pixel, which is called as a pixel size.例文帳に追加

複数の収束レンズ及び絞りの穴径を変化させることにより光学系の開き角を変化させる手段をもち、１画素に相当する視野範囲、いわゆる画素サイズに応じて電子ビーム開き角αを変化させる。 - 特許庁

To provide an upright microscope in which a sample is observed regardless of the thickness of the sample by suppressing the deviation of a conjugated relationship among a light source of a vertical illumination system, an aperture, an objective lens and a rear side focus at minimum without deteriorating the vertical illumination performance.例文帳に追加

落射照明系の光源と開口絞りと対物レンズと後ろ側焦点との共役関係のずれを最小限に抑えて落射照明性能を劣化させずに、試料の厚みに拘らず試料を観察すること。 - 特許庁

To enhance efficiency for reviewing a defect to review the large number of defects in a short time, in the defect review for a semiconductor device capable of detecting the defect in a low magnification of SEM (Scanning Electron Microscope) image and capable of observing the defect in a high magnification of SEM image.例文帳に追加

低倍率のＳＥＭ像で欠陥を検出し、高倍率のＳＥＭ画像で欠陥を観察する半導体デバイスの欠陥レビューにおいて、欠陥レビューの効率をあげて短時間に多数に欠陥をレビューできるようにする。 - 特許庁

To provide a multi-probe and a microprocessing method using it, able to be applied as it is to a scan type probe microscope, performing high-accuracy nano-processing for an arbitrary position in a wide range collectively, and directly measuring the surface shape of a workpiece after processing.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡にそのまま適用することができ、広範囲を一括に、且つ任意位置に高精度なナノ加工を行うことができ、加工後、直接被加工物の表面形状を計測することができる。 - 特許庁

The optical microscope 100 has a ring diaphragm 14 through which illuminating light from a light source 11 is made to pass in an illumination part, and a light shielding ring 17 corresponding to the ring diaphragm 14 on the rear side focal plane of a dispersion objective lens 8.例文帳に追加

光学顕微鏡１００は、照明部に光源１１からの照明光を通過させるリング絞り１４を有し、分散対物レンズ８の後ろ側焦点面にリング絞り１４に対応する遮光リング１７を有する。 - 特許庁

To provide a grid for a transmission electron microscope capable of heating a sample of powder of the like at several hundred degrees C or higher in the degree of vacuum in the range of 10^-2-10^-3 Pa, and a grid holder capable of preventing pollution or damage of the grid.例文帳に追加

粉末などの試料に１０^−２〜１０^−３Ｐａ程度の真空度で数１００℃以上の加熱を行える透過型電子顕微鏡用グリッドと、グリッドの汚染や破損を防止できるグリッドホルダーを提供する。 - 特許庁

The electrochemical microscope is provided with a microelectrode 1 which is installed on a microstage 15, an electrode positioning device 16, a very small current measuring device 8, a temperature controller 10 and a culture gas-phase condition (oxygen, carbon dioxe) controller.例文帳に追加

上記電気化学顕微鏡は、顕微鏡ステージ１５上に設置した微小電極１、電極位置決め装置６、微小電流計測装置８、温度制御装置１０、培養気相条件（酸素、二酸化炭素）制御装置を有する。 - 特許庁

The microtomy for the transmission type electron microscope is characterized by that only glass fiber is eroded by dipping glass fiber mixed polymer in a hydrofluoric acid solution with a concentration of ≥0.01 vol.% and ≤1 vol.% for ≥ five minutes and ≤24 hours.例文帳に追加

ガラス繊維配合ポリマーを、0.01vol％以上1vol%以下の濃度のフッ化水素酸水溶液に5分以上24時間以下浸漬し、ガラス繊維のみを浸食させることを特徴とする透過型電子顕微鏡の検鏡試料作成法。 - 特許庁

To realize high resolving power of an electron microscope or charged particles beam process device or improvement of process precision by suppressing a thing that charged particles generated secondarily arrive at a sample.例文帳に追加

本発明は、二次的に発生する荷電粒子の試料への到達を抑制することにより、電子顕微鏡や荷電粒子線加工装置の高分解能化、或いは加工精度の向上を実現ならしめることを目的とするものである。 - 特許庁

The problem is solved by an objective lens for the microscope including a first lens group and a second lens group in order from a sample face side, wherein, a light beam splitting means is disposed between the first lens group and the second lens group.例文帳に追加

上記課題は、標本面側から順に第１レンズ群と第２レンズ群を備え、前記第１レンズ群と前記第２レンズ群の間に光線分割手段を有することを特徴とする顕微鏡対物レンズによって解決される。 - 特許庁

To provide a conveying device of a mini-environment system efficiently conveying a sample to a scanning electron microscope for critical dimension measuring, even when an SMIF-pod (standard mechanical interface-pod) housing only one piece of photomask is used.例文帳に追加

１枚のフォトマスクしか収納することはできないスミフポッドを使用する場合でも、効率的に、試料を微小寸法測定走査電子顕微鏡に搬送することができるミニエンバイラメント方式の搬送装置を提供する。 - 特許庁

To provide an interference objective lens for selecting easily and surely an interference image having an interference picture and a bright field image not superposed with the interference picture, and to provide an interference microscope equipped with the interference objective lens.例文帳に追加

干渉像を有する干渉画像と干渉像が重畳されていない明視野画像を容易、且つ確実に選択可能に取得できる干渉対物レンズと、その干渉対物レンズを備える干渉顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample setting method capable of setting a sample for a transmission electron microscope (TEM) in a sample holder without fixing it to an auxiliary plate and facilitated in fixing of insertion length of the TEM sample.例文帳に追加

透過電子顕微鏡（ＴＥＭ）用試料を、補助板などに装着固定することなく試料ホルダーへの装着を行うことが出来、かつＴＥＭ試料の挿入長を一定にすることが容易な試料装着方法を提供する。 - 特許庁

The scanning electron microscope is provided with a means of changing optical angles of aperture by changing a plurality of converging lenses and aperture hole diameters, and changes electron beam angles of aperture in accordance with a visual field range equivalent to one pixel, a so-called pixel size.例文帳に追加

複数の収束レンズ及び絞りの穴径を変化させることにより光学系の開き角を変化させる手段をもち、１画素に相当する視野範囲、いわゆる画素サイズに応じて電子ビーム開き角αを変化させる。 - 特許庁

To facilitate a diameter change, an exchange, and mounting and dismounting of an orifice arranged above and below a sample chamber (an incident side and an emitting side of an electron beam) in a charged particle beam device such as a transmission electron microscope (TEM).例文帳に追加

透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）等の荷電粒子線装置において、試料室の上下（電子線の入射側及び出射側）に設置される絞り（オリフィス）の口径変更、交換、着脱が容易に行えるようにする。 - 特許庁

The auxiliary magnification MSUB is calculated by the following mathematical expression (1) in accordance with the magnification MOBJ and numerical aperture NAOBJ of the objective lens and the resolution P of a photoelectric conversion element and the auxiliary magnification of the microscope is changed to the calculated auxiliary magnification.例文帳に追加

対物レンズの倍率Ｍ_OBJ及び開口数ＮＡ_OBJと光電変換素子の分解能Ｐとを基に、補助倍率Ｍ_SUBを下記数式（１）により算出し、顕微鏡の補助倍率を当該算出された補助倍率に変更する。 - 特許庁

A DIC motor 118 moves the Nomarski prism 117 in a direction orthogonal to the optical axis of the optical system of the optical microscope in accordance with acquirement of designation by the operation part 3, to adjust the retardation in differential interference observation.例文帳に追加

ＤＩＣモータ１１８は、操作部３による該指示の取得に応じ、光学顕微鏡の光学系の光軸に直交する方向にノマルスキープリズム１１７を移動させて、微分干渉観察におけるリタデーションの調整を行う。 - 特許庁

To detect light emission from a detection object substance, in the presence of a foreign substance of emitting self-fluorescence, in a technology for measuring and analyzing fluorescence or phosphorescence by using an optical system of a confocal optical microscope.例文帳に追加

共焦点光学顕微鏡の光学系を用いて蛍光又はりん光を計測し分析する技術に於いて、自家蛍光を発する夾雑物の存在下で、検出対象物質からの発光を検出できるようにすること。 - 特許庁

In a scanning electron microscope in which a lubricant is coated on a sliding portion of a movable member that moves inside a vacuum chamber, a substance from which low molecular components were removed is used as the lubricant.例文帳に追加

以上のような目的を達成するために、真空室内にて移動する移動部材の摺動部分に潤滑剤を塗布した走査型電子顕微鏡において、当該潤滑剤として、低分子成分が除去されたものを採用する。 - 特許庁

To provide an objective lens system and an electron microscope capable of sample observation with an electron beam accelerated to ultra high voltage even without any use of a DC ultra high-voltage power supply, a DC acceleration tube, or a number of electromagnetic lenses for ultra high voltage.例文帳に追加

直流超高圧電源、直流加速管及び多数の超高圧用電磁レンズを使用しなくても、超高圧に加速された電子線による試料観察が可能な対物レンズ系及び電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device allowing observation by an electron microscope to be rapidly carried out by correctly detecting a foreign substance in a film without causing LMIS pollution; a sample processing method; and a semiconductor inspection device.例文帳に追加

ＬＭＩＳ汚染を発生させることなく、膜中の異物を正確に検出し電子顕微鏡による観察を迅速に行うことができる荷電粒子線装置、試料加工方法及び半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

To measure a high S/N ratio and high space resolution elastic scattering electron image, an element image formed with characteristic X-rays and an element image formed by an electron beam energy spectrum in an electron microscope device having an element image generating function.例文帳に追加

元素像を生成する機能を有する電子顕微鏡において、高Ｓ／Ｎかつ高空間分解能の弾性散乱電子像や特性Ｘ線による元素像や電子線エネルギー分光による元素像を測定できるようにする。 - 特許庁

To manufacture a scanning probe microscope whose S/N is insusceptible to noise generated in a post-stage of a photodiode when the noise generated in the post-stage of the photodiode is relatively larger than noise generated in a pre-stage of the photodiode.例文帳に追加

フォトダイオードの前段で発生するノイズに較べて、相対的にフォトダイオードの後段で発生するノイズの方が大きい場合に、Ｓ／Ｎがフォトダイオードの後段で発生するノイズに影響されにくい走査型プローブ顕微鏡を作る。 - 特許庁

A current flows in the defect portions if a reverse bias voltage is applied to the light emitting elements having the defect portions, and emission of light which occurs from the current is measured by using an emission microscope, specifying the position of the defect portions, and short-circuited portions can be repaired by applying a laser to the defect portions.例文帳に追加

この電流から生じる発光をエミッション顕微鏡により測定して欠陥部を特定し、欠陥部にレーザーを照射することによりショート箇所を修理するという発光装置の作製方法である。 - 特許庁

To make the magnitude of a magnetic field being applied controllable such that a uniform magnetic field can be applied to an object to be measured over the entire measuring range thereof in a scanning SQUID microscope having an SQUID as a magnetic sensor.例文帳に追加

ＳＱＵＩＤを磁気センサとした走査型のＳＱＵＩＤ顕微鏡において、計測対象物に測定範囲全域に渡って一様な磁場を印加できるように、印可磁場の大きさを制御することができるようにすること。 - 特許庁

Thereby, each side-etching quantity, generated in the first thin film 13, is so observed by an optical microscope as to measure each side-etching quantity of the first thin film 13 and as to evaluate the adhesiveness of the first thin film 13 to the second thin film 15.例文帳に追加

これにより、第１薄膜１３に生じたサイドエッチング量を光学顕微鏡で観察することにより、第１薄膜１３のサイドエッチング量を測定して、第１薄膜１３と第２薄膜１５との密着性を評価する。 - 特許庁

In the stereoscopic microscope, an objective optical system 21 is arranged in a longitudinal direction state and a zoom optical system 22 is arranged in a lateral direction state and is divided into two groups arranged parallel to each other so that they are in the same level in a longitudinal direction.例文帳に追加

対物光学系２１を縦向き状態で配置する一方、ズーム光学系２２は横向き状態で配置し、且つ該ズーム光学系２２が縦方向で同じレベルとなる２系統に分かれた並列状態で配置されている。 - 特許庁

The microscope 1 calculates an AF evaluation value expressing the contrast based on a brightness signal Y in an AF detecting frame AA of a selected area selected partially in an image corresponding to an image picked-up imaging area CA.例文帳に追加

顕微鏡１は、撮像される撮像領域ＣＡに対応する画像において、部分的に選択された選択領域であるＡＦ検出枠ＡＡにおける輝度信号Ｙから、コントラストを表すＡＦ評価値を算出する。 - 特許庁

To provide a resolution-evaluating method of an electron microscope, a program and an information storage medium, by which the resolution can be evaluated with high accuracy even in case that a picked-up image involves a factor degrading the accuracy of evaluation.例文帳に追加

撮像画像に評価精度を悪化させる要因がある場合であっても、高精度に分解能を評価することが可能な、電子顕微鏡の分解能評価方法、プログラム、及び情報記憶媒体を提供すること。 - 特許庁

The probe array can be used to produce traces of diffusively transferred chemicals with sub-1 micrometer resolution, and can function as an arrayed scanning probe microscope for subsequent reading of the variation of transferred patterns.例文帳に追加

プローブアレーは、拡散移転される化合物のトレースを、サブ１マイクロメートル解像度で生成するために使用されることができ、続いて移転されたパターンの変化を読み取る配列走査プローブ顕微鏡として機能することができる。 - 特許庁

In this electron microscope, the electrons are applied to a sample on the basis of the predetermined image observing condition, and a desired position of the sample can be observed with a desired observing magnification by detecting the secondary electrons or reflected electrons.例文帳に追加

電子顕微鏡は、所定の像観察条件に基づいて電子を試料に照射し、二次電子または反射電子を検出することで、試料の所望の位置を所望の観察倍率にて像観察することが可能である。 - 特許庁

To provide a stereoscopic observation apparatus capable of attaining both functions of a stereoscopic endoscope and a stereoscopic microscope while preventing the endoscope from becoming large in size, and also, capable of easily and quickly switching the functions.例文帳に追加

内視鏡が大型化することを防止しながら立体視内視鏡と立体視顕微鏡との両方の機能を併せ持つことができ、かつその切り替えを容易かつ迅速に行なうことができる立体視観察装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electric field modulation spectrum near-field optical microscope devised to analyze linear and nonlinear physical characteristics by obtaining a spectrum as optical responsiveness by electric field modulation in a local region of an nm order.例文帳に追加

ｎｍオーダの局所領域において電場変調による光学応答性としてのスペクトルを得、線形及び非線形の物理特性を解析するようにした電場変調スペクトル近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In this scanning type charged particle beam microscope using an electron beam etc., when a scanning image is taken-in in a memory device synchronizing with a scanning signal, a delay of the electronic circuit is corrected and taken-in by a shift registor having variable number of steps.例文帳に追加

電子線等を使用した走査型荷電粒子ビーム顕微鏡において、走査信号に同期して走査画像を記憶装置に取り込む際に、電子回路の遅延を可変段数のシフトレジスタにより補正して取り込む。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its measuring method capable of properly adjusting an explorer approaching position, when measuring a ridged/grooved shape and stroke of a Z-axis fine-movement element when an approaching action is finished, and measuring effectively utilizing the stroke.例文帳に追加

凹凸形状測定時に探針接近位置と接近動作終了時のＺ軸微動素子のストロークを適切に調整し、ストロークを有効に利用して測定できる走査型プローブ顕微鏡およびその測定方法を提供する。 - 特許庁

In this manner, the lens barrel is directly mounted to the observation target, and therefore, even the observation target that cannot be housed in the sample chamber of a conventional electron microscope can be observed as it is without processing it.例文帳に追加

こうして鏡筒を観察対象物に対し直接マウントすることで、従来では試料室に入りきらない観察対象物であっても加工を施すことなく現状状態そのままで観察を行うことができるようになる。 - 特許庁

When the analyzing area for the scanning atom probe(SAP) is selected, the tip of the extraction electrode for the SAP is used as a probe for a scanning tunneling microscope(STM), and the shape of the sample is plotted thereby, to select the analyzing area.例文帳に追加

走査型アトムプローブ（ＳＡＰ）の分析領域を選定する際、該ＳＡＰの引出電極の先端を走査型トンネル顕微鏡(ＳＴＭ)の探針として用い、試料の表面形状を描き出させて分析領域を選定する。 - 特許庁

These generation parts are scanned by a probe 212 of the magnetic force microscope to measure the intensity of the generated magnetic fields, thereby calculating, from measurement results, measurement distances corresponding to the sizes of the respective generation parts in the scanning direction.例文帳に追加

これらの磁界発生部上を磁気力顕微鏡のプローブ２１２によりスキャンして、発生する磁界強度を測定し、測定結果からスキャン方向におけるそれぞれの磁界発生部のサイズに対応する測定距離を算出する。 - 特許庁

A light source 40 of the microscope device is provided on the pupil surface 8 of an objective lens 3 or on a plane 23 conjugated with the pupil surface, and a support means 40 for supporting the light source 40 on the surface/plane is used as the space filter.例文帳に追加

顕微鏡装置の光源４０を、対物レンズ３の瞳面８又はこの瞳面と共役な平面２３上に設け、これらの面上にこの光源４０を支持するための支持手段４０を空間フィルタとして使用する。 - 特許庁

To provide a total reflection fluorescence illuminator, capable of rapidly irradiating only an optional designated area from an acquired image with total reflection fluorescence illuminating light, optionally varying the intensity of irradiated light and added to a microscope.例文帳に追加

取得画像から任意の指定領域にのみ全反射蛍光照明光を速やかに照射可能で、かつ照射光の強度を任意に可変できる顕微鏡に付加される全反射蛍光照明装置を提供する。 - 特許庁

The emission generated from this reverse current is measured by an emission microscope and the defective part is identified, and the defective part is insulated by irradiating a laser beam and, thereby, the short circuit area is repaired.例文帳に追加

この逆方向電流から生じる発光をエミッション顕微鏡により測定して欠陥部を特定し、欠陥部にレーザーを照射して絶縁化させることによりショート箇所を修理するという発光装置の作製方法。 - 特許庁

To reduce the influence of achromatic aberration at an objective lens in a color microscope furnished with a plurality of light sources, in which a color image is obtained by condensing light having different wavelengths of the light sources on a specimen through the common objective lens.例文帳に追加

複数の光源を具備し、これらの光源の波長の異なる光を共通の対物レンズを通して試料に集光させることによりカラー画像を得るカラー顕微鏡において、対物レンズでの色収差の影響を低減する。 - 特許庁