「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(154ページ目) - Weblio英語例文検索

To obtain confocal effect for improving the picture quality of a simple laser scanning microscope which has its Y-directional scan fixed (linear scan type) and picks up an image formed by an objective at a return destination directly by a television camera.例文帳に追加

レーザー走査顕微鏡で、Ｙ方向走査を固定型（線走査型）とし、戻り先の対物レンズによる結像を直接テレビカメラに写し込む簡易化型レーザー走査顕微鏡の画質を向上させるため共焦点効果をだすこと。 - 特許庁

To provide an optical fiber probe suitable for use in a proximity optical microscope, and a manufacturing method for the optical fiber probe capable of manufacturing easily and inexpensively the optical fiber probe having a highly precise sharp part.例文帳に追加

近接場光学顕微鏡に用いて好適な光ファイバプローブを提供するとともに、高精度な先鋭部を有する光ファイバプローブを容易にかつ安価に製造することが可能な光ファイバプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope system which provides a high quality image by removing both of noise such as smearing noise due to an optical image incidence to an imaging apparatus during the term other than an exposure term and banding noise.例文帳に追加

スミアノイズ等の露光期間以外の期間における撮像装置への光像入射に起因するノイズ、及びバンディングノイズの両方を解消し、高品位な画像の取得を可能とする共焦点顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide a device for mating the face azimuth of a single crystal material which does not use a microscope, improves working efficiency, and can accurately obtain a crystal azimuth face in a cutting surface and a method for slicing the single crystal material.例文帳に追加

顕微鏡を使用せず、作業効率を向上させ、かつ、高精度で切断面に結晶方位面を得ることができる単結晶材料の面方位合わせ装置および単結晶材料のスライス方法を提供する。 - 特許庁

Also, the microscope device 1 modulates the phase of a laser beam with the phase modulation type SLM5 arranged at the pupil conjugate position of an object lens 13 and irradiates a sample surface SP through the object lens 13 with the laser beam.例文帳に追加

さらに、顕微鏡装置１は、対物レンズ１３の瞳共役位置に配置された位相変調型ＳＬＭ５でレーザ光の位相を変調して、対物レンズ１３を介して標本面ＳＰ上にレーザ光を照射する。 - 特許庁

To provide a sample holder of an electron microscope doing away with pretreatment of a sample for having it electrically conducted, and enabling electricity conduction to the sample and image observation during measurement of electric resistance only by thrusting it down on a sample pedestal.例文帳に追加

試料に電気的導通を取るための試料前処理が不要で、試料台に試料を押止するだけで試料への通電及び電気抵抗測定中の像観察を可能とする電子顕微鏡用試料ホルダの提供。 - 特許庁

Then, the scanning tunnel microscope is used to acquire an STM image by scanning the probe along the measuring surface of the measuring sample on the condition that a tunnel current value is constant while preventing the probe from moving beyond the maximum forwardly-movable value.例文帳に追加

次いで、走査型トンネル顕微鏡を使用し、探針が最大前進可能値を超えて移動しないようにし、トンネル電流値が一定の条件で探針を測定試料の測定面に沿って走査してＳＴＭ像を取得する。 - 特許庁

MAGNIFIED IMAGE OBSERVATION SYSTEM, CONFOCAL MICROSCOPE, IMAGE DATA TRANSFER METHOD, THREE-DIMENSIONAL FOCUSED IMAGE FORMING METHOD, DATA TRANSFER PROGRAM, THREE-DIMENSIONAL FOCUSED IMAGE FORMING PROGRAM, COMPUTER RECORDABLE RECORDING MEDIUM, AND APPARATUS WITH PROGRAM RECORDED例文帳に追加

拡大画像観察システム、共焦点顕微鏡、画像データ転送方法、３次元合焦点画像生成方法、データ転送プログラム、３次元合焦点画像生成プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 - 特許庁

A confocal microscope 10 which is provided movably in the Z-axis direction by a Z-stage 21, images a focal image on a Z-position different relative to a sample 16 by a measuring camera 18, and outputs it to a control unit 20.例文帳に追加

共焦点顕微鏡１０は、Ｚステージ２１によりＺ軸方向に移動可能に設けられ、試料１６に対して異なるＺ位置での焦点画像を測定カメラ１８で撮像し、制御ユニット２０へ出力する。 - 特許庁

The surgical microscope 1, which includes an objective lens 12 for observing an object 2 and a device for determining the position and attitude of the object point, has a first image sensor 10 and a second image sensor 11 installed in spaced apart relation.例文帳に追加

対象物（２）を観察するための対物レンズ（１２）と、対象点の位置および姿勢把握のための装置を備える手術用顕微鏡（１）が、互いに離れて設置された第１画像センサ（１０）と第２画像センサ（１１）を有する。 - 特許庁

The scanning laser microscope is provided with drive parts (25a, 25b) to drive a plurality of mirrors (11a, 11b) to reflect luminous flux while adjusting the wavelength width and wavelength band of spectrally resolved luminous flux, and a control part 27 to control the drive parts.例文帳に追加

スペクトル分解された光束の波長幅と波長域とを調整しながら前記光束を反射する複数のミラー（１１ａ、１１ｂ）を駆動する駆動部（２５ａ、２５ｂ）と、前記駆動部を制御する制御部２７とを備えた。 - 特許庁

The standard sample for the charged particle beam containing different two samples for magnification or dimension calibration, and the charged particle beam device using the standard sample are formed, in a TEM, an STEM (scanning transmission electron microscope), or an SEM for observing a sample by using electrons transmitted through it.例文帳に追加

本発明では、上記目的を達成するために、倍率、或いは寸法校正のための異なる２つの試料が含まれている荷電粒子線用標準試料及びそれを用いる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide an illumination optical system for enabling bright phase difference observation and dark field observation by obtaining annular illumination without losing light intensity from a light source, and to provide an illumination optical system for an exposure device and a microscope lighting system using it.例文帳に追加

光源からの光量を損失することなく輪帯照明を得られ、明るい位相差観察や暗視野観察が可能な照明光学系、露光装置用の照明光学系とそれを用いた顕微鏡照明装置。 - 特許庁

The microscope equipped with a vertical illuminating optical system A employs an imaging optical system D which converges transmitted illumination light traveling from a sample 13 after passing through a half-mirror 4 arranged halfway in the optical path of the vertical illuminating optical system A.例文帳に追加

落射照明光学系Ａを備える顕微鏡において、落射照明光学系Ａの光路の途中に配置されたハーフミラー４を透過した標本１３からの透過照明光を集光させる結像光学系Ｄを採用した。 - 特許庁

To control lightness and to control prescribed color temperature of a transmitted light base for a zoom microscope in which a light source is incorporated by making it possible to control illumination intensity and then making the color temperature constant to control lightness.例文帳に追加

光源が組み込まれた、ズーム顕微鏡用の透過光ベースにおいて、照明強度を制御できるようにし、ひいては色温度を一定にして明度を制御することができ、かつ所定の色温度を調整できるように構成する。 - 特許庁

To prevent a charged particle beam from deviating from its optical axis, irrespective of the direction (parallel or perpendicular to the optical axis) of a magnetic field applied to a sample, in an apparatus using a charged- particle-beam optical system which includes electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡を含む荷電粒子線光学系を用いた装置において、試料に印加する磁場の方向（光軸と平行、もしくは、垂直）に係らず、荷電粒子線の光軸からのずれが生じないようにすること。 - 特許庁

Since an optical system from a transparent substance to the sample has a dispersion compensation process for compensating the dispersion of light pulses generated at the transparent substance and the microscope, the sample can be irradiated with the light of target wavelength of short pulse width.例文帳に追加

また、透明物質から試料までの光学系で透明物質と顕微鏡とで生じる光パルスの分散を補償する分散補償工程を有することで短パルス幅の目的波長光を試料に照射することができる。 - 特許庁

This device has a scanning microscope type scanning optical system provided with a laser 1, a light deflector 2 and a condenser lens 3, and a lens 5 Fourier-transforms a phase defect transmission image of a photomask (reticle) 4 formed of scanning micro condensing spots, in the device.例文帳に追加

レーザ１、光偏向器２、集光レンズ３を備えた走査型顕微鏡方式の走査光学系を有し、レンズ５が走査微小集光スポットの作るフォトマスク（レチクル）４の位相欠陥透過像をフーリエ変換像に変換する。 - 特許庁

A non-bonding constituent in a solution to be analyzed is separated from a bonding fraction, and bonding can be detected by a microscope method, a fluorescence method, an epifluorescence method, a luminescence method, a phosphorescence method, a radioactivity method, or an absorbance method.例文帳に追加

分析に付される溶液中の非結合成分は結合画分から分離され、結合は、顕微鏡法、蛍光法、エピ蛍光法、ルミネッセンス法、燐光法、放射能法、あるいは吸光度法によって検出することができる。 - 特許庁

In the microscope 100, a sample 4 may be kept stationary, while providing devices 24 and 26 both in an illumination beam path 2 and in an detection beam path 5, the devices 24 and 26 making two beam paths 2, 5 slide in their region near the sample.例文帳に追加

顕微鏡１００において、試料４を定置に保持することができ、照明光路２と検出光路５とには、この両光路２，５を試料近傍領域において摺動させる装置２４，２６が設けられている。 - 特許庁

To provide a microscope system that facilitates soak injecting/removing operation and prevents air bubbles from being mixed in the soak, when the type of objective lens is changed according to the presence or type of a soak during insertion/detachment of the objective lens into/from an optical path.例文帳に追加

対物レンズの光路への挿脱時に、浸液の有無／種類に応じた対物レンズの種別に変化がある場合、浸液の注入／除去作業がしやすく、かつ浸液への気泡混入を防止する顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide an illuminating apparatus including means configured to cope with the movement of a pupil surface caused by zooming, without using a complicated zoom system in which the conjugate relation between an image and a pupil is secured, and to provide a zoom microscope including the illuminating apparatus.例文帳に追加

複雑な構成となる像及び瞳の共役関係を保ったズーム系とすることなく、ズーミングによる瞳面の移動に対処する手段を設けた照明装置、及び、この照明装置を備えたズーム顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope with a focus adjusting mechanism having a simple structure capable of performing coarse and fine motion adjustments of a focal point and facilitating the focusing, and capable of suppressing the production cost.例文帳に追加

焦点の粗動調整と微動調整とを行うことができると共に焦点を容易に合わせることができる簡易な構成を有し、製造コストを抑えることができる焦点調整機構を備えた顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The transmission electron microscope having a sample arranged in a sample surface 9b includes an objective lens 11b, a first projection lens system 61b having a plurality of lenses, a second projection lens system 63b having a plurality of lenses, and the analysis system.例文帳に追加

試料面内９ｂに試料を配置した透過電子顕微鏡は、対物レンズ１１ｂ、複数のレンズを有する第１投影レンズ系６１ｂ、複数のレンズを有する第２投影レンズ系６３ｂ、および分析系を備える。 - 特許庁

The display part displays images imaged from a first observed target and a second observed target having spatial similarities with each other by a microscope as a first image and a second image in parallel, respectively.例文帳に追加

表示部は、互いに空間的類似性を有する第１の観察対象および第2の観察対象のそれぞれから顕微鏡によって撮像された各画像を第１の画像および第2の画像としてそれぞれ並列的に表示する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of attaining both photographing and preservation of a moving image and a still image and especially attaining photographing and preservation of the moving image and photographing of the still image with high image quality.例文帳に追加

本発明の目的は、動画の撮影・保存と静止画撮影・保存がいずれも可能な走査電子顕微鏡、特に動画の撮像・保存と、高画質な静止画像が撮影できる走査電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide an objective lens for an electron microscope system requiring a smaller space and having a minimum magnetic field outside the objective lens, and to provide an improved inspection system for performing image formation for a subject and manipulation of the subject simultaneously.例文帳に追加

必要とされる空間がより少なく、対物レンズ外部の磁界が最小限である電子顕微鏡システムのための対物レンズ、被検物体の像形成および操作を同時に行うための改良検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope which can perform real-time observation by correcting deterioration of images which is brought about when charged particle beams are scanned with a speed exceeding the upper limit of a band width of a secondary signal detector and its amplifying circuit.例文帳に追加

二次信号検出器およびその増幅回路の帯域幅の上限を超える速さで荷電粒子線を走査した場合に発生する画像の劣化を補正し、リアルタイム観察が可能な電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide an automatic focusing optical device which does not occupy a space between an objective lens and a second objective lens and permits a quick focusing operation for a specimen, and to provide an inverted microscope having the automatic focusing optical device.例文帳に追加

対物レンズと第２対物レンズとの間をオートフォーカス光学装置が占有することなく、かつ標本に対する俊敏な合焦動作を可能にするオートフォーカス光学装置と、これを有する倒立顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The electrochemical microscope is provided with a microelectrode 1 which is installed on a microstage 15, an electrode positioning device 16, a very small current measuring device 8, a temperature controller 10 and a culture gas-phase condition (oxygen, carbon dioxe) controller.例文帳に追加

上記電気化学顕微鏡は、顕微鏡ステージ１５上に設置した微小電極１、電極位置決め装置６、微小電流計測装置８、温度制御装置１０、培養気相条件（酸素、二酸化炭素）制御装置を有する。 - 特許庁

The microtomy for the transmission type electron microscope is characterized by that only glass fiber is eroded by dipping glass fiber mixed polymer in a hydrofluoric acid solution with a concentration of ≥0.01 vol.% and ≤1 vol.% for ≥ five minutes and ≤24 hours.例文帳に追加

ガラス繊維配合ポリマーを、0.01vol％以上1vol%以下の濃度のフッ化水素酸水溶液に5分以上24時間以下浸漬し、ガラス繊維のみを浸食させることを特徴とする透過型電子顕微鏡の検鏡試料作成法。 - 特許庁

To realize high resolving power of an electron microscope or charged particles beam process device or improvement of process precision by suppressing a thing that charged particles generated secondarily arrive at a sample.例文帳に追加

本発明は、二次的に発生する荷電粒子の試料への到達を抑制することにより、電子顕微鏡や荷電粒子線加工装置の高分解能化、或いは加工精度の向上を実現ならしめることを目的とするものである。 - 特許庁

The problem is solved by an objective lens for the microscope including a first lens group and a second lens group in order from a sample face side, wherein, a light beam splitting means is disposed between the first lens group and the second lens group.例文帳に追加

上記課題は、標本面側から順に第１レンズ群と第２レンズ群を備え、前記第１レンズ群と前記第２レンズ群の間に光線分割手段を有することを特徴とする顕微鏡対物レンズによって解決される。 - 特許庁

To provide a conveying device of a mini-environment system efficiently conveying a sample to a scanning electron microscope for critical dimension measuring, even when an SMIF-pod (standard mechanical interface-pod) housing only one piece of photomask is used.例文帳に追加

１枚のフォトマスクしか収納することはできないスミフポッドを使用する場合でも、効率的に、試料を微小寸法測定走査電子顕微鏡に搬送することができるミニエンバイラメント方式の搬送装置を提供する。 - 特許庁

To provide an interference objective lens for selecting easily and surely an interference image having an interference picture and a bright field image not superposed with the interference picture, and to provide an interference microscope equipped with the interference objective lens.例文帳に追加

干渉像を有する干渉画像と干渉像が重畳されていない明視野画像を容易、且つ確実に選択可能に取得できる干渉対物レンズと、その干渉対物レンズを備える干渉顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample setting method capable of setting a sample for a transmission electron microscope (TEM) in a sample holder without fixing it to an auxiliary plate and facilitated in fixing of insertion length of the TEM sample.例文帳に追加

透過電子顕微鏡（ＴＥＭ）用試料を、補助板などに装着固定することなく試料ホルダーへの装着を行うことが出来、かつＴＥＭ試料の挿入長を一定にすることが容易な試料装着方法を提供する。 - 特許庁

The scanning electron microscope is provided with a means of changing optical angles of aperture by changing a plurality of converging lenses and aperture hole diameters, and changes electron beam angles of aperture in accordance with a visual field range equivalent to one pixel, a so-called pixel size.例文帳に追加

複数の収束レンズ及び絞りの穴径を変化させることにより光学系の開き角を変化させる手段をもち、１画素に相当する視野範囲、いわゆる画素サイズに応じて電子ビーム開き角αを変化させる。 - 特許庁

To facilitate a diameter change, an exchange, and mounting and dismounting of an orifice arranged above and below a sample chamber (an incident side and an emitting side of an electron beam) in a charged particle beam device such as a transmission electron microscope (TEM).例文帳に追加

透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）等の荷電粒子線装置において、試料室の上下（電子線の入射側及び出射側）に設置される絞り（オリフィス）の口径変更、交換、着脱が容易に行えるようにする。 - 特許庁

The auxiliary magnification MSUB is calculated by the following mathematical expression (1) in accordance with the magnification MOBJ and numerical aperture NAOBJ of the objective lens and the resolution P of a photoelectric conversion element and the auxiliary magnification of the microscope is changed to the calculated auxiliary magnification.例文帳に追加

対物レンズの倍率Ｍ_OBJ及び開口数ＮＡ_OBJと光電変換素子の分解能Ｐとを基に、補助倍率Ｍ_SUBを下記数式（１）により算出し、顕微鏡の補助倍率を当該算出された補助倍率に変更する。 - 特許庁

A DIC motor 118 moves the Nomarski prism 117 in a direction orthogonal to the optical axis of the optical system of the optical microscope in accordance with acquirement of designation by the operation part 3, to adjust the retardation in differential interference observation.例文帳に追加

ＤＩＣモータ１１８は、操作部３による該指示の取得に応じ、光学顕微鏡の光学系の光軸に直交する方向にノマルスキープリズム１１７を移動させて、微分干渉観察におけるリタデーションの調整を行う。 - 特許庁

To detect light emission from a detection object substance, in the presence of a foreign substance of emitting self-fluorescence, in a technology for measuring and analyzing fluorescence or phosphorescence by using an optical system of a confocal optical microscope.例文帳に追加

共焦点光学顕微鏡の光学系を用いて蛍光又はりん光を計測し分析する技術に於いて、自家蛍光を発する夾雑物の存在下で、検出対象物質からの発光を検出できるようにすること。 - 特許庁

In a scanning electron microscope in which a lubricant is coated on a sliding portion of a movable member that moves inside a vacuum chamber, a substance from which low molecular components were removed is used as the lubricant.例文帳に追加

以上のような目的を達成するために、真空室内にて移動する移動部材の摺動部分に潤滑剤を塗布した走査型電子顕微鏡において、当該潤滑剤として、低分子成分が除去されたものを採用する。 - 特許庁

To provide an objective lens system and an electron microscope capable of sample observation with an electron beam accelerated to ultra high voltage even without any use of a DC ultra high-voltage power supply, a DC acceleration tube, or a number of electromagnetic lenses for ultra high voltage.例文帳に追加

直流超高圧電源、直流加速管及び多数の超高圧用電磁レンズを使用しなくても、超高圧に加速された電子線による試料観察が可能な対物レンズ系及び電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device allowing observation by an electron microscope to be rapidly carried out by correctly detecting a foreign substance in a film without causing LMIS pollution; a sample processing method; and a semiconductor inspection device.例文帳に追加

ＬＭＩＳ汚染を発生させることなく、膜中の異物を正確に検出し電子顕微鏡による観察を迅速に行うことができる荷電粒子線装置、試料加工方法及び半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

To measure a high S/N ratio and high space resolution elastic scattering electron image, an element image formed with characteristic X-rays and an element image formed by an electron beam energy spectrum in an electron microscope device having an element image generating function.例文帳に追加

元素像を生成する機能を有する電子顕微鏡において、高Ｓ／Ｎかつ高空間分解能の弾性散乱電子像や特性Ｘ線による元素像や電子線エネルギー分光による元素像を測定できるようにする。 - 特許庁