「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(150ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a diaphragm correction method and a device for it capable of automatically and accurately correcting the axial displacement of an electronic microscope.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡の絞り補正方法及び装置に関し、電子顕微鏡の軸ずれ補正を自動でかつ正確に行なうことができる電子顕微鏡の絞り補正方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

This scanning probe microscope is designed so that the cantilever 1 is attached to the cantilever mounting section 2 and is additionally equipped with the cantilever feed mechanism 20 for retaining the cantilever 1, and the cantilever 1 retains the cantilever 1 through adhesion.例文帳に追加

カンチレバー１がカンチレバー取り付け部２に取り付けられる構成で、さらに、カンチレバー１を保持するカンチレバー供給機構２０を備え、カンチレバー供給機構２０は、カンチレバー１を粘着力によって保持する。 - 特許庁

With samples mounted inside containers and observed by the biological microscope via a bottom surface 62 in an organism observation container 60, an antireflection film 65 is formed in the surface 63 of the bottom surface 62.例文帳に追加

容器内部に載置された試料が底面６２を介して生物顕微鏡により観察される生物観察容器６０において、前記底面６２の表面６３に反射防止膜６５が形成されたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide an observation device which allows cell observation without using a conventional microscope between cells and an image sensor used for capturing the images of the cells, so as to attain cost reduction.例文帳に追加

細胞とこの細胞の画像を取得するためのイメージセンサとの間に従来利用していた顕微鏡を介在させないで、細胞の観察が可能となり、コストの低減が可能となる観察装置を提供する。 - 特許庁

Since the width directions of the maximum and minimum widths coincide with the polarization direction of the polarization surface, the direction of the polarization surface of the polarization retention photonic crystal fiber 10 can be discriminated by microscope observation from the side of the fiber 10.例文帳に追加

最大幅及び最小幅の幅方向が偏波面の偏波方向と一致しているので、ファイバ１０側方からの顕微鏡観察により、偏波保持フォトニッククリスタルファイバ１０の偏波面の方向が判別する。 - 特許庁

To provide a sample measuring method for removing impure substances adhered to a sample chamber of an electron microscope or the like, capable of restraining adverse effects to subsequent manufacturing processes, and to provide a charged particle apparatus.例文帳に追加

本発明の目的は、電子顕微鏡の試料室等において付着する不純物を除去し、その後の製造プロセスへの悪影響を抑制し得る試料測定方法、及び荷電粒子線装置の提供にある。 - 特許庁

The two electron beams transmitting the sample at the same time are spatially separated and imaged by a second electron-beam biprism arranged in an imaging optical system to obtain two electron microscope images with different irradiation angles.例文帳に追加

この同時に試料を透過した２つの電子線を結像光学系に配置した第２の電子線バイプリズムにより空間的に分離して結像させ、照射角度の異なる２つの電子顕微鏡像を得る。 - 特許庁

The mouse attaching pin 32 is inserted and locked to a fixing hole 22 arranged on the bottom surface of the mouse input device 2, so that the mouse input device 2 is attached and fixed to the eye piece 1a of the microscope 1.例文帳に追加

マウス入力装置２の底面に設けられた固定用孔２２にマウス取り付け用ピン３２を挿入係止することにより、マウス入力装置２が顕微鏡１の接眼部１ａに取り付け固定される。 - 特許庁

To eliminate use of deposition, and improve the productivity in a preparation of a sample for a transmission electron microscope, when the thin sample which is processed and prepared by a charged particle beam is fixed to a sample holder.例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料の作製において、荷電粒子ビームによって加工して作製した薄片試料を試料ホルダに固定する際に、デポジションを用いないようにすることにより生産性を向上させる。 - 特許庁

To provide a supporting device capable of easily making the optical axis (center of field) of an imaging means orthogonal to the turning shaft (center of turning) of a supporting member for supporting the imaging means, and a microscope equipped therewith.例文帳に追加

撮像手段の光軸（視野中心）と撮像手段を支持する支持部材の回動軸（回動中心）とを容易に直交させることが可能な支持装置およびそれを備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a polarizing unit by which switching between observation using polarized light and the one without using the polarized light can be performed by one operation and which is economically constituted, and a microscope to which the polarizing unit is attached.例文帳に追加

偏光を使用する観察と偏光を使用しない観察との切り換えを一つの動作ででき、かつ経済的に構成できる偏光ユニットおよびこれが取り付けられる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To solve such problems that a digital camera, an improved microscope or a coordinate measuring apparatus used for measuring the dimensions, position or attitude of a blade does not provide a desired accuracy or reliability and it is expensive, bulky and slow in response.例文帳に追加

ブレードの寸法や位置や姿勢を測定するのに用いられるデジタルカメラ、改良された顕微鏡又は座標測定機械は、所望の精度や信頼性を提供せず、高価で、かさばり、応答が遅い。 - 特許庁

When the organic sample observation device is used as the stereoscopic microscope, the mirror 9 is rotated by 90° from the posture (A) and switched to a posture (B).例文帳に追加

生体試料１から放出された蛍光１７は対物レンズ７で無限遠焦点系に導入され、ダイクロイックミラー９、吸収フィルタ１３を通して撮像用投影レンズ８に導かれ、撮像装置３で撮像される。 - 特許庁

To provide an immersion system microscope objective lens which has large numerical aperture and small change over time in an immersion liquid and small degradation of image performance even when living cells, living tissues and the inside of a living body solid are observed.例文帳に追加

開口数が大きく、液浸液の経時変化が少なく、生体細胞や生体組織や生体の固体の内部の観察時にも像性能の劣化が少ない、液浸系顕微鏡対物レンズの提供。 - 特許庁

To provide a method and a device for forming a pattern with proximity field light arranged as a proximity field light lithography developed from a proximity field microscope employing a probe in which highly accurate control can be ensured while reducing the size.例文帳に追加

小型で高精度な制御ができる、探針を用いた近接場顕微鏡を発展させた近接場光リソグラフィーとして構成した近接場光によるパターン形成方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

A microscope stage (14) includes a platform (16), a sample holder (18) mounted on the platform (16) and a positioning device (20) for moving the sample holder (18) in a displacement surface parallel to the platform (16).例文帳に追加

プラットフォーム（１６）と、プラットフォーム（１６）に載置される試料ホルダ（１８）と、プラットフォーム（１６）に平行な変位面内で試料ホルダ（１８）を移動させるための位置決め装置（２０）を備える顕微鏡ステージ（１４）が記載される。 - 特許庁

When performing alignment, an optical positive image, which is an image of observing the end face different from the observation face of the electron microscope from an oblique direction, is photographed at an observation-target portion arbitrarily selected from among a plurality of the observation target portions.例文帳に追加

アライメントの際には、複数ある観察対象部位から任意に選択した観察対象部位で、電子顕微鏡の観察面とは異なる端面を斜めから観察した光顕画像を撮影する。 - 特許庁

Furthermore, the magnetic domain observation microscope 1 includes, as a control system 12, a CPU 31, and a gray scale magnetic domain image generation section 33 for generating a gray scale magnetic domain image, and a color magnetic domain image generation section 34 for generating a color magnetic domain image from the gray scale magnetic domain image.例文帳に追加

さらに、制御系１２として、ＣＰＵ３１やグレースケール磁区像を生成するグレースケール磁区像生成部３３、グレースケール磁区像からカラー磁区像を生成するカラー磁区像生成部３４を有する。 - 特許庁

To provide a technique capable of carrying out repair and regeneration in a vacuum chamber without extracting and changing defective parts when the abrasion or breakage of a probe of a probe microscope, the flection or breakage of a micro-manipulator, or the abrasion or breakage of micro-tweezers occur.例文帳に追加

プローブ顕微鏡の探針の摩耗や折れ、マイクロマニピュレータの屈曲や折れ、マイクロピンセットの磨耗や折れが生じた際、取り出して交換することなく、真空チャンバ内で補修再生ができる技術を提示する。 - 特許庁

To provide a stereo microscope by which a focusing state, size and a position of an image of an observation object respectively formed on an image pickup surface of an image pickup unit are respectively adjusted by each photographing optical system.例文帳に追加

各撮影光学系によって撮像装置の撮像面に夫々結像される観察対象物の像のピント状態，大きさ，及び位置を夫々調整することができる立体顕微鏡を、提供する。 - 特許庁

The scanning charged particle microscope performs the analog integration of the detection signal with an analog integrator 7; if output of the analog integrator 7 exceeds a specified value, converts the output to a digital value with an A/D converter 8; and performs the digital integration of the digital value with a digital integrator 9.例文帳に追加

検出信号をアナログ積分器7でアナログ積分し、アナログ積分器7の出力が指定した値を越えたらA/D変換器8でディジタル値に変換し、そのディジタル値をディジタル積分器9でディジタル積分する。 - 特許庁

In the microscope system 1, a fresh slide glass SG is obtained and held by the supply arm 35, and is kept in a stand-by state near the stage 15 together with the empty ejection arm 36.例文帳に追加

また顕微鏡システム１は、スライドガラスＳＧの撮像処理中に、供給アーム３５により新たなスライドガラスＳＧを取得して保持させ、空の排出アーム３６と共にステージ１５の近傍で待機させておく。 - 特許庁

To provide a sample slide used for X-ray microscope in which a sample is arranged to be adjacent to a photoelectric transducing face, and with which transmitted X-rays are transduced into an electronic image so as to be observed, and to provide a sample holding and insertion mechanism.例文帳に追加

光電変換面に試料を近接して配置し透過Ｘ線を電子像に変換して観察するＸ線顕微鏡に使用する試料スライドおよび試料の保持挿入機構を提供することである。 - 特許庁

Thus, the operator of the fluorescence microscope can discriminate whether or not the exciting light exceeding the reference value is radiated according as the warning is given or not, and adverse influence exerted on the sample by the excess of the exciting light is avoided.例文帳に追加

これにより、蛍光顕微鏡の操作者は警告の有無によって基準値を超える励起光が照射されたか否かを判別することができ、励起光過多による試料への悪影響を回避し得る。 - 特許庁

To perform X-ray analysis without requiring the move of a specimen or the aligning of an analysis object position accompanying the move of the specimen, as to X-ray analysis at an analysis position detected by an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡によって検出した分析位置におけるＸ線分析において、試料の移動、および試料の移動に伴う分析対象位置の位置合わせを要することなくＸ線分析を行う。 - 特許庁

The first lens-barrel upper part 130 has a reflection mirror 140 to deflect the luminous flux from a microscope body to which the lens-barrel base 110 is attached toward a reflection mirror 120 of the lens-barrel base 110 at all times.例文帳に追加

第一の鏡筒上部１３０は、鏡筒基部１１０が取り付けられる顕微鏡本体からの光束を、常時、鏡筒基部１１０の反射ミラー１２０に向けて偏向する反射ミラー１４０を有している。 - 特許庁

The whole stage is rotated on the second spherical seat, without marring the eucentric conditions of a rotating cylinder and a sample holder, so that the direction of the rotating shaft of the cylinder can be set to pass the center of the visual field of the electron microscope.例文帳に追加

回転シリンダや試料ホルダのユーセントリック条件を崩すことなくステージ全体を第２の球面座で回転させ、シリンダ回転軸方向を電子顕微鏡視野中心に通るように設定できるようになる。 - 特許庁

This microscope is equipped with cylindrical optical path partitions 31, 32 and 33 partitioning an observation optical path O1 near the optical axis of an objective lens from an illumination optical path for vertical dark-field O2 around the optical path O1, and realizes a vertical dark-field observation.例文帳に追加

対物レンズの光軸近傍の観察光路（Ｏ１）とその周辺の落射暗視野用照明光路（Ｏ２）とを隔てる筒状の光路隔壁（３１、３２、３３）を備えており、落射暗視野観察が可能である。 - 特許庁

To provide an acidophilic bacteria inspecting system for enabling inspection even by an inexperienced person, reducing the fatigue of an inspector, and eliminates detection omission of an acidophilic bacteria by automating the detection of acidophilic bacteria using a microscope.例文帳に追加

顕微鏡による抗酸菌検出を自動化することにより、熟練者でなくても検査を可能にし、検査者の疲労を軽減するとともに、抗酸菌の検出洩れをなくす抗酸菌検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for determining the angle of incidence of the irradiating light to irradiate a portion in the vicinity of a tip of a probe to realize the high resolution and high contrast, and a scan near-field optical microscope.例文帳に追加

本発明は、高分解能及び高コントラストを実現可能としたプローブ先端近傍を照射する照射光の入射角度を決定する方法及び走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an optical path interrupting device and a microscope provided with the optical path interrupting device whose operability is improved by enabling the change over of an optical path and the replacement of a filter or the like to be simultaneously performed.例文帳に追加

光路の切換とフィルタ等の交換とを同時に行うことができるようにして、作業性を向上させることができる光路遮断装置及びその光路遮断装置を備える顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a halftone phase shift mask by which no correction scum of a residual defect is left when the residual defect of a halftone phase shift mask is removed by using an AFM (atomic force microscope) correcting device.例文帳に追加

ハーフトーン型位相シフトマスクの残留欠陥をＡＦＭ型修正機を用いて除去する際、残留欠陥の修正カスを残さないハーフトーン型位相シフトマスクの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The method for manufacturing the sample to observe the defect in the silicon crystal by the transmission electron microscope comprises the steps of releasing only a shallow region on the surface of the crystal, and thinning the region to the thin piece samples.例文帳に追加

シリコン結晶中の欠陥を透過型電子顕微鏡で観察するための試料作製方法であって、結晶表面の浅い領域のみを剥離させて薄片化し薄片試料とするようにした。 - 特許庁

To provide a method for etching a wafer by which a thin film pattern having prescribed dimensional precision can be deposited on a wafer even in the case the amount to be etched can not directly be measured by using a microscope or the like.例文帳に追加

顕微鏡等を用いてエッチング量を直接計測できない場合であっても、所定の寸法精度を有する薄膜パターンをウエハ上に形成することが可能なウエハのエッチング方法を提供すること。 - 特許庁

This invention makes it possible to measure automatically each height of a plurality of the fine particles (9) by a combination of a control of the microscope camera (4) with a personal computer (8) and an imaging processing technology.例文帳に追加

この発明は、パーソナルコンピュータ（８）による顕微鏡カメラ（４）の制御と、画像処理技術を組み合わせることによって、複数個の微粉体（９）のそれぞれの高さを自動的に計測することを可能にする。 - 特許庁

A microscopic sample is displaced at high speed in the optical axis direction of the microscope by extending/shortening the piezoelectric element using a calibration table of the voltage-extension characteristics for a piezoelectric element without using a feedback circuit etc.例文帳に追加

ピエゾ素子の電圧−伸長特性の校正表を用いることにより、フィードバック回路等を用いることなく高速にピエゾ素子を伸長・短縮させ、顕微試料を顕微鏡の光軸方向に高速に変位させる。 - 特許庁

To provide a fine adjustment mechanism for a scanning type probe microscope of high rigidity and high measuring precision, by arranging a strain gage type displacement sensor allowing setting even in a narrow space to allow temperature compensation.例文帳に追加

狭いスペースでも設置が可能なひずみゲージ式変位センサを温度補償が可能なように配置することにより、剛性が高く、測定精度の高い走査型プローブ顕微鏡用の微動機構を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope with a practical monochromator which can increase the image resolution by monochromatizing the energy of an irradiation electron beam and reducing the diameter of a light spot while decreasing chromatic aberration.例文帳に追加

照射電子ビームのエネルギーを単色化し、色収差を低減してスポット系を縮小することにより、像分解能を高めることのできる実用的なモノクロメータを備えた走査電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

The operation variable of a light source (2) generating multiple photon excitation and/or the system variable of a confocal scanning microscope is suited to the characteristics of a fluorescent material as to the optimum fluorescent photon collection quantity.例文帳に追加

最適蛍光光子収量に関して、多光子励起を生ずる光源（２）の動作変数および／または共焦点走査型顕微鏡のシステム変数が蛍光材料の特性に適合していることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a device of switching between bright and dark visual fields for microscope by which three kinds of conditions of bright visual field illumination, dark visual field illumination and dazzling preventing illumination can be switched without spoiling the operability while keeping miniaturization.例文帳に追加

小型化を維持し、かつ、操作性を損なうことなく、明視野照明、暗視野照明および防眩照明の３種の状態に切り換えることができる顕微鏡の明暗視野切換装置を提供する。 - 特許庁

A camera 104 images an image (phase contrast image) in a cell culture container A, which is observed by using a phase-contrast microscope for observing floating cells being cultured in the cell culture container A and acquires the image.例文帳に追加

カメラ１０４は、細胞培養容器Ａ内で培養されている浮遊細胞を観察するための位相差顕微鏡を用いて観察した細胞培養容器Ａ内の画像（位相差画像）を撮像して取得する。 - 特許庁

To confirm the state of a sample in a reaction process of decomposition or synthesis with a stable quality picture at a high frame rate on a real time basis and to perform fluorescence observation in a centrifugal microscope.例文帳に追加

遠心顕微鏡において、分離あるいは合成の反応過程におけるサンプルの状態を高フレームレートで安定した画質の映像でリアルタイムに確認することが可能であると共に、蛍光観察を可能とする。 - 特許庁

To provide a method for evaluating feature values such as the area, width, and height of the whole part or specific part of an SEM image(scanning electron microscope image) to be inspected without generating the fluctuation of evaluation.例文帳に追加

検査対象のＳＥＭ像（電子顕微鏡画像）に基づいて、その全体または特定部分の面積や幅、高さなどの特徴量を評価する評価方法で、評価にバラツキが発生しない方法を提供する。 - 特許庁

The electron microscope is provided with a sample table 33 to mount a sample on it, and an electron beam imaging part in order to irradiate an electron beam on the sample mounted on the sample table 33, and to form an electron beam observation image.例文帳に追加

電子顕微鏡は、試料を裁置する試料台３３と、試料台３３に裁置された試料に対して電子線を照射し電子線観察像を結像するための電子線撮像部とを備える。 - 特許庁

To provide a laser microscope which efficiently makes multi-photon excited fluorescence obtainable in spite of attenuation of a laser beam and permits fluorescent observation by lowering laser beam intensity so as not to damage living cells.例文帳に追加

レーザ光を減衰しても効率的に多光子励起蛍光を得ることができ、生細胞にダメージを与えないようにレーザ光強度を落として蛍光観察をおこなうことが可能なレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁