「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(150ページ目) - Weblio英語例文検索

The operation variable of a light source (2) generating multiple photon excitation and/or the system variable of a confocal scanning microscope is suited to the characteristics of a fluorescent material as to the optimum fluorescent photon collection quantity.例文帳に追加

最適蛍光光子収量に関して、多光子励起を生ずる光源（２）の動作変数および／または共焦点走査型顕微鏡のシステム変数が蛍光材料の特性に適合していることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a device of switching between bright and dark visual fields for microscope by which three kinds of conditions of bright visual field illumination, dark visual field illumination and dazzling preventing illumination can be switched without spoiling the operability while keeping miniaturization.例文帳に追加

小型化を維持し、かつ、操作性を損なうことなく、明視野照明、暗視野照明および防眩照明の３種の状態に切り換えることができる顕微鏡の明暗視野切換装置を提供する。 - 特許庁

A camera 104 images an image (phase contrast image) in a cell culture container A, which is observed by using a phase-contrast microscope for observing floating cells being cultured in the cell culture container A and acquires the image.例文帳に追加

カメラ１０４は、細胞培養容器Ａ内で培養されている浮遊細胞を観察するための位相差顕微鏡を用いて観察した細胞培養容器Ａ内の画像（位相差画像）を撮像して取得する。 - 特許庁

To confirm the state of a sample in a reaction process of decomposition or synthesis with a stable quality picture at a high frame rate on a real time basis and to perform fluorescence observation in a centrifugal microscope.例文帳に追加

遠心顕微鏡において、分離あるいは合成の反応過程におけるサンプルの状態を高フレームレートで安定した画質の映像でリアルタイムに確認することが可能であると共に、蛍光観察を可能とする。 - 特許庁

To provide a method for evaluating feature values such as the area, width, and height of the whole part or specific part of an SEM image(scanning electron microscope image) to be inspected without generating the fluctuation of evaluation.例文帳に追加

検査対象のＳＥＭ像（電子顕微鏡画像）に基づいて、その全体または特定部分の面積や幅、高さなどの特徴量を評価する評価方法で、評価にバラツキが発生しない方法を提供する。 - 特許庁

The electron microscope is provided with a sample table 33 to mount a sample on it, and an electron beam imaging part in order to irradiate an electron beam on the sample mounted on the sample table 33, and to form an electron beam observation image.例文帳に追加

電子顕微鏡は、試料を裁置する試料台３３と、試料台３３に裁置された試料に対して電子線を照射し電子線観察像を結像するための電子線撮像部とを備える。 - 特許庁

To provide a laser microscope which efficiently makes multi-photon excited fluorescence obtainable in spite of attenuation of a laser beam and permits fluorescent observation by lowering laser beam intensity so as not to damage living cells.例文帳に追加

レーザ光を減衰しても効率的に多光子励起蛍光を得ることができ、生細胞にダメージを与えないようにレーザ光強度を落として蛍光観察をおこなうことが可能なレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

By using polyacrylamide as coating composition for microscope slide glass, hydrophilic property and close contact with the pathologic tissue and the cell on the surface of the slide glass is maintained, and the collateral stain is prevented or suppressed at the PAM staining.例文帳に追加

ポリアクリルアミドを顕微鏡スライドグラス用のコーティング組成物に使用することでスライドグラス表面の親水性、病理組織・細胞との密着性を保持しながらＰＡＭ染色時の共染防止ないし抑制する。 - 特許庁

To provide a minute object preparing method and device, capable of manufacturing minute objects by coupling together two members in the correct positional relationship such as a nano-tube probe, while enlarging image photographing takes place in an electron microscope device.例文帳に追加

電子顕微鏡装置内で拡大撮像しながら、ナノチューブプローブ等のように、２部材を正しい位置関係で相互に結合して微小物を製造できる微小物作成方法とその装置を開発する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of well measuring the surfaces of various samples different in properties, for example, a sample minute in difference in level and a sample large in difference in level.例文帳に追加

種々の性質の異なる試料、例えば段差の微小な試料に対しても、また段差の大きな試料に対しても、それらの試料表面を良好に測定できる走査型プローブ顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

The laser scanning type microscope is provided with a laser beam source to oscillate a laser beam, an objective lens 100 to condense the laser beam on a specimen 101, and a laser scanning means 102 to scan the condensed laser beam.例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡は、レーザ光を発振するレーザ光源と、このレーザ光を試料１０１に集光する対物レンズ１００と、集光されるレーザ光を走査するレーザ走査手段１０２とを備えている。 - 特許庁

This invention makes it possible to measure automatically each height of a plurality of the fine particles (9) by a combination of a control of the microscope camera (4) with a personal computer (8) and an imaging processing technology.例文帳に追加

この発明は、パーソナルコンピュータ（８）による顕微鏡カメラ（４）の制御と、画像処理技術を組み合わせることによって、複数個の微粉体（９）のそれぞれの高さを自動的に計測することを可能にする。 - 特許庁

A microscopic sample is displaced at high speed in the optical axis direction of the microscope by extending/shortening the piezoelectric element using a calibration table of the voltage-extension characteristics for a piezoelectric element without using a feedback circuit etc.例文帳に追加

ピエゾ素子の電圧−伸長特性の校正表を用いることにより、フィードバック回路等を用いることなく高速にピエゾ素子を伸長・短縮させ、顕微試料を顕微鏡の光軸方向に高速に変位させる。 - 特許庁

To provide a fine adjustment mechanism for a scanning type probe microscope of high rigidity and high measuring precision, by arranging a strain gage type displacement sensor allowing setting even in a narrow space to allow temperature compensation.例文帳に追加

狭いスペースでも設置が可能なひずみゲージ式変位センサを温度補償が可能なように配置することにより、剛性が高く、測定精度の高い走査型プローブ顕微鏡用の微動機構を提供する。 - 特許庁

A microscope system 200 comprises: a He ion source; a first lens 216; axis adjusting deflectors 220 and 222; a diaphragm 224; scanning deflectors 219 and 221; an ion optical device 130 including a second lens 226; and a sample chamber.例文帳に追加

顕微鏡システム２００は、Ｈｅイオン源、第一レンズ２１６、軸合せ偏向器２２０及び２２２、絞り２２４、走査偏向器２１９及び２２１、第二レンズ２２６を含むイオン光学機器１３０、並びに試料室を有する。 - 特許庁

To satisfy a problem required so as to inexpensively and easily measure zeta potential using a microscope coming into general use for the purpose of utilizing zeta potential increased in importance by accompanying the development of surface science.例文帳に追加

界面科学の発展に伴い重要性を増しているゼータ電位の利用のため、ゼータ電位測定を、一般に普及している顕微鏡を使用し、安価に且つ手軽に測定できるようにすることが求められている。 - 特許庁

A photoirradiation heating means for irradiating the sample with IR light from a horizontal direction to a sample is arranged within a heat treatment unit 4 arranged on a state of an optical microscope 1 for observing the sample from above.例文帳に追加

試料を上方から観察する光学顕微鏡１の載置台上に配置された熱処理ユニット４内には、水平方向から試料に対して赤外光照射を行なう光照射加熱手段が配置されている。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of obtaining a confocal effect in all the directions in an observation image field by using a multi-pinhole array as an optical filtering element for obtaining the confocal effect.例文帳に追加

共焦点効果を得るための光学的フィルタリング素子としてマルチピンホールアレイを使用することにより、観察像面内のすべての方向について共焦点効果を得られる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Then, by comparing the maximum contrast evaluation value for a pixel having the same position in each microscope image with the threshold for each pixel, an error region composed of pixels having the maximum contrast evaluation value lower than the threshold is extracted.例文帳に追加

そして、各顕微鏡画像での位置が同一である画素についての最大コントラスト評価値と該閾値とを画素毎に比較し、最大コントラスト評価値が閾値よりも低い画素で構成されるエラー領域を抽出する。 - 特許庁

Since illumination light reaches a ceramic substrate 12a in an uppermost layer through the groove 19, a shadow boundary X' by an outer circumferential edge X of the ceramic substrate 12a in an uppermost layer can be observed by an optical microscope.例文帳に追加

照明光は溝１９を通って最上層のセラミック基板１２ａに達するから、光学顕微鏡で最上層のセラミック基板１２ａの外周縁Ｘによる陰影境界線Ｘ’を観察することができる。 - 特許庁

This scanning probe microscope is designed so that the cantilever 1 is attached to the cantilever mounting section 2 and is additionally equipped with the cantilever feed mechanism 20 for retaining the cantilever 1, and the cantilever 1 retains the cantilever 1 through adhesion.例文帳に追加

カンチレバー１がカンチレバー取り付け部２に取り付けられる構成で、さらに、カンチレバー１を保持するカンチレバー供給機構２０を備え、カンチレバー供給機構２０は、カンチレバー１を粘着力によって保持する。 - 特許庁

With samples mounted inside containers and observed by the biological microscope via a bottom surface 62 in an organism observation container 60, an antireflection film 65 is formed in the surface 63 of the bottom surface 62.例文帳に追加

容器内部に載置された試料が底面６２を介して生物顕微鏡により観察される生物観察容器６０において、前記底面６２の表面６３に反射防止膜６５が形成されたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide an inspection device and method using a scanning electron microscope which detects an highly accurate electron beam image and excludes limitation of an AD conversion element for a low sampling rate as a subject matter.例文帳に追加

高精度の電子線画像を検出すると同時に、その際問題となる低サンプリングレートに対するＡＤ変換素子の制約を排除した走査電子顕微鏡を用いた検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

Since an optical filter 19 to cut the light on the infrared side is mounted in the fixed state in the internal optical path 13 of the microscope 1, the light in the infrared region to become heat rays can be securely eliminated.例文帳に追加

顕微鏡１の内部光路１３に赤外側の光をカットする光学フィルター１９が固定された状態で設けられているため、熱線となる赤外領域の光を確実に除去することができる。 - 特許庁

The positions relative to the developed images of both marks Mip and Mop are detected by a wafer alignment microscope and the image formation characteristics including various aberrations of the projection optical system are measured on the basis of the result of the detection.例文帳に追加

そして、現像された両マークＭｉｐ，Ｍｏｐの像の相対位置をウエハアライメント顕微鏡で検出し、その検出結果に基づいて投影光学系の諸収差を含む結像特性を計測する。 - 特許庁

A stage 8 is horizontally moved in such a way that an immersion objective lens of an inverted fluorescence microscope may generate a horizontal trajectory 25 of a predetermined shape and size to the bottom surface of the microplate 20.例文帳に追加

倒立型蛍光顕微鏡の液浸対物レンズがマイクロプレート２０の底面に対して予め定められた形状と大きさの軌跡２５を水平方向に描くように、ステージ８を水平方向に移動させる。 - 特許庁

The first blur image is an image of at least a part of the observation region of the sample, obtained by relatively moving an objective lens of a microscope and the sample along the optical axis direction of the objective lens.例文帳に追加

前記第１のぼやけ画像は、顕微鏡の対物レンズ及び試料を、前記対物レンズの光軸方向に沿って相対的に移動させて得られる、前記試料の少なくとも一部の観察領域の画像である。 - 特許庁

To enable a liquid immersion microscope objective lens of semi-apochromat class or apochromat class having a large number of openings to be used in a wide wavelength band region from an ultraviolet region to an infrared region.例文帳に追加

本発明の課題は、高開口数を有しセミアポクロマート級あるいはアポクロマート級の液浸系顕微鏡対物レンズにおいて、紫外域から赤外域までの広い波長帯域で利用可能なものを提供する。 - 特許庁

To selectively detect a secondary electron signal and a reflected electron signal regarding a secondary electron-reflected electron detecting device and a scanning electron microscope having the secondary electron-reflected electron detecting device.例文帳に追加

本発明は２次電子・反射電子検出装置及び２次電子・反射電子検出装置を有する走査電子顕微鏡に関し、２次電子信号と反射電子信号を選択的に検出することを目的としている。 - 特許庁

To provide a cathode luminescence specimen holder to easily perform cathode luminescence analysis by using an existing transmission electron microscope (TEM) and a spectroscopic analyzer using the cathode luminescence specimen holder.例文帳に追加

既設の透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）を用いてカソードルミネッセンス分析を容易に行うことを可能とするカソードルミネッセンス用試料ホルダ、及び該カソードルミネッセンス用試料ホルダを用いた分光分析装置を提供する。 - 特許庁

The texture structure thereof has the texture characteristics that the metal Si and Si compound cannot be observed by X-ray diffraction and the granular texture cannot be observed by a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

その組織構造は、Ｘ線回折によって金属ＳｉおよびＳｉ化合物が観察されず、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えたものである。 - 特許庁

To provide a physical quantity measuring instrument capable of two-dimensionally or three-dimensionally measuring the physical quantities, such as concentration, temperature, pH and the like of a fluid in the flow channel or the like of a microreactor with high accuracy and at a high speed by adapting a confocal microscope.例文帳に追加

共焦点顕微鏡を適用し、マイクロリアクタの流路などにおける流体の濃度、温度、ｐＨ等の物理量を高精度、高速に２次元または３次元測定できる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a thin sample for a transmission type electron microscope in which a coat layer is unlikely to be released from a particle surface and there is no damage in the inside of particles and the coat layers, and an observation method of the thin sample.例文帳に追加

粒子表面からコート層が剥がれ難く、粒子内部とコート層に損傷のない透過式の電子顕微鏡用薄片試料の作製方法と薄片試料の観察方法を提供する。 - 特許庁

The observation apparatus includes an incident-light illumination optical system, a transmitting illumination optical system, an imaging unit 18, an input device 56, a storage unit 58, an imaging controller 51, a microscope controller 52, and an imaging information management unit 54.例文帳に追加

観察装置は、落射照明光学系、透過照明光学系、撮影部１８、入力装置５６、記憶装置５８、撮影制御部５１、顕微鏡制御部５２および撮影情報管理部５４を備える。 - 特許庁

Moreover, the control unit 11 operates each portion of the electrically-driven microscope 1 based on the information on the observation condition recorded in the recording unit 12 and the information inputted by the controller 13, so that each portion thereof is driven to move to a predetermined position.例文帳に追加

ここで、制御部１１は、記録部１２に記録された観察条件の情報とコントローラ１３により入力された情報とにより、電動顕微鏡１の各部を所定位置に駆動するように制御する。 - 特許庁

A light-receiving diode 14 is provided in the lens-barrel 11 of an optical microscope 3 of the Vickers hardness tester 1 to detect the quantity of light, which is reflected at the surface of a sample and passes through an object lens 5 and through the lens-barrel 11.例文帳に追加

ビッカース硬さ試験機１の光学顕微鏡３の鏡筒１１内に受光ダイオード１４を設け、試料表面にて反射し、対物レンズ５を通過して鏡筒１１を通る光の光量を検出する。 - 特許庁

To provide a reflecting X-ray microscope using an image-forming optical system provided with a convex mirror and a concave mirror and capable of observing an image of a sample placed approximately perpendicular to an optical axis yet in a reflecting position.例文帳に追加

凸面鏡と凹面鏡を具備した結像光学系を用いて、試料を光軸にほぼ垂直に配置して、なおかつ反射型の配置で像を観察することのできる反射型Ｘ線顕微鏡を得る。 - 特許庁

To provide a microscope control device that can suppress a computation load required for distortion correction processing in a defocus detection processing using a phase-difference optical system, and an optical distortion correction method thereof.例文帳に追加

位相差光学系を用いたデフォーカス検出処理において、ディストーション補正処理に要する演算負荷を抑制することが可能な顕微鏡制御装置及び光学的歪み補正方法を提供すること。 - 特許庁

This transmission electron microscope is provided with a phase plate 8 for generating a phase difference between an electron beam passing through a predetermined region including a rear focal point of an object lens 6 and an electron beam passing through a region excluding the predetermined region.例文帳に追加

対物レンズ６の後焦点を含む所定の領域を通過する電子線と、前記所定の領域外の領域を通過する電子線との間に位相差を生じさせる位相板８を備える。 - 特許庁

The illuminating optical system has a first lens group and a second lens group for forming an image of the field iris 124 on an object's region 108 via a microscopic main objective lens 101 of the operation microscope 100.例文帳に追加

照明光学系は、視野絞り１２４を手術用顕微鏡１００の顕微鏡主対物レンズ１０１を介して物体領域１０８へ結像する役目をする第１のレンズ群と第２のレンズ群を有している。 - 特許庁

To provide an immersion system microscope objective in which the variations of aberrations caused by the thickness change of a cover glass or a temperature change is satisfactorily corrected even when an immersion liquid and a conventional cover glass with a high refractive index are used.例文帳に追加

高い屈折率の浸液と従来のカバーガラスとを用いた場合にも、カバーガラスの厚さ変化や温度変化に起因する諸収差の変動を良好に補正することのできる液浸系顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁

The supporting structure 14 has a protection covers 38a and 38b for protecting the microscope section 16 when the supporting structure 14 is at the distal end position of the moving area during storage against the moving area during use.例文帳に追加

この支持機構１４には、支持機構１４が使用時移動範囲に対して遠位の収納時移動範囲の終端位置にあるときに顕微鏡部１６を保護する保護カバー３８ａ，３８ｂが配設されている。 - 特許庁

To provide a lens barrel for microscope having light and inexpensive constitution, in which the height of an imaging apparatus attaching part can be secured without using an optical element for extending an image position and there is no degradation of colors and an image of an imaging optical path.例文帳に追加

像位置を延ばすための光学素子を用いることなく撮像装置取付部の高さを確保し、撮像光路の色と像の劣化のない、軽量かつ安価な構成の顕微鏡鏡筒を実現する。 - 特許庁

To provide an instillator for ophthalmic operation in which an operator himself or herself can simply achieve the sure dropping of eye drops to a given point of an operation field in the ophthalmic operation under a microscope.例文帳に追加

顕微鏡下における眼科手術において、術野の任意点への確実な点眼液の滴下を術者自身が簡便に達成することが可能な眼科手術用点眼装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

The scanning electron microscope is constructed so as to emit high-energy charged particles from an electron source 2 and irradiate the high-energy charged particles on a sample S by reducing the speed of the high-energy charged particles between an objective lens 6 of an electron gun 1 and the sample.例文帳に追加

電子源２から高エネルギーの荷電粒子を放出し、この高エネルギーの荷電粒子を電子銃１の対物レンズ６と試料との間で減速させて試料Ｓに照射する構成とする。 - 特許庁