「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(151ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a scanning electron microscope which can switch in a simple operation a low vacuum secondary electron detection to other detections like a reflector electron detection without exposing a test piece chamber to an atmosphere.例文帳に追加

試料チャンバを大気開放することなく、低真空二次電子検出とそのほかの例えば反射電子検出等との切り換えを簡便な操作で以て行うことができる走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the electron microscope applying a phase retrieval method, an image size decided by a pixel size p of a diffraction image, a camera length L, and a wavelength λ of irradiation beams and a sample irradiation area are set to have a constant relation.例文帳に追加

位相回復法を適用した電子顕微鏡等において、回折像の画素サイズｐ、カメラ長L、照射ビームの波長λにより決まる画像サイズと試料照射領域が一定関係になるようにする。 - 特許庁

A microscope system 200 comprises: a He ion source; a first lens 216; axis adjusting deflectors 220 and 222; a diaphragm 224; scanning deflectors 219 and 221; an ion optical device 130 including a second lens 226; and a sample chamber.例文帳に追加

顕微鏡システム２００は、Ｈｅイオン源、第一レンズ２１６、軸合せ偏向器２２０及び２２２、絞り２２４、走査偏向器２１９及び２２１、第二レンズ２２６を含むイオン光学機器１３０、並びに試料室を有する。 - 特許庁

To satisfy a problem required so as to inexpensively and easily measure zeta potential using a microscope coming into general use for the purpose of utilizing zeta potential increased in importance by accompanying the development of surface science.例文帳に追加

界面科学の発展に伴い重要性を増しているゼータ電位の利用のため、ゼータ電位測定を、一般に普及している顕微鏡を使用し、安価に且つ手軽に測定できるようにすることが求められている。 - 特許庁

A photoirradiation heating means for irradiating the sample with IR light from a horizontal direction to a sample is arranged within a heat treatment unit 4 arranged on a state of an optical microscope 1 for observing the sample from above.例文帳に追加

試料を上方から観察する光学顕微鏡１の載置台上に配置された熱処理ユニット４内には、水平方向から試料に対して赤外光照射を行なう光照射加熱手段が配置されている。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of obtaining a confocal effect in all the directions in an observation image field by using a multi-pinhole array as an optical filtering element for obtaining the confocal effect.例文帳に追加

共焦点効果を得るための光学的フィルタリング素子としてマルチピンホールアレイを使用することにより、観察像面内のすべての方向について共焦点効果を得られる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Then, by comparing the maximum contrast evaluation value for a pixel having the same position in each microscope image with the threshold for each pixel, an error region composed of pixels having the maximum contrast evaluation value lower than the threshold is extracted.例文帳に追加

そして、各顕微鏡画像での位置が同一である画素についての最大コントラスト評価値と該閾値とを画素毎に比較し、最大コントラスト評価値が閾値よりも低い画素で構成されるエラー領域を抽出する。 - 特許庁

Since illumination light reaches a ceramic substrate 12a in an uppermost layer through the groove 19, a shadow boundary X' by an outer circumferential edge X of the ceramic substrate 12a in an uppermost layer can be observed by an optical microscope.例文帳に追加

照明光は溝１９を通って最上層のセラミック基板１２ａに達するから、光学顕微鏡で最上層のセラミック基板１２ａの外周縁Ｘによる陰影境界線Ｘ’を観察することができる。 - 特許庁

To provide an inspection device and method using a scanning electron microscope which detects an highly accurate electron beam image and excludes limitation of an AD conversion element for a low sampling rate as a subject matter.例文帳に追加

高精度の電子線画像を検出すると同時に、その際問題となる低サンプリングレートに対するＡＤ変換素子の制約を排除した走査電子顕微鏡を用いた検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

The camera port 50 is provided on an upper part of a microscope body 32 on the opposite side to the side on which the eye lens 39 is held as viewed from the optical axial direction of the light entering the lens barrel 38.例文帳に追加

そして、カメラポート５０は、鏡筒３８に入射する光軸の軸方向から見て、接眼レンズ３９が保持されている方向に対して反対側であって、顕微鏡本体３２の上部に設けられている。 - 特許庁

To provide means which allows an operator for easily acquiring a desired observation image under an arbitrary observation condition, in a scanning electron microscope having a plurality of different types of detectors.例文帳に追加

本発明の目的は、異なる種類の複数の検出器を有した走査電子顕微鏡において、任意の観察条件で操作者が所望する観察画像を容易に取得する手段を提供することにある。 - 特許庁

To obtain a microscope objective lens system comprising lenses made of only fluorite and fused quartz, capable of correcting aberrations in a far-ultraviolet region and a visible light region, and also, capable of sufficiently correcting various aberrations.例文帳に追加

遠紫外光領域と可視光領域において収差補正可能な、蛍石と石英ガラスだけで構成される顕微鏡対物レンズ系であって、諸収差を良好に補正した顕微鏡対物レンズ系を得る。 - 特許庁

The operation microscope 100 has an observation light path 109 that passes through a microscopic imaging optical system including a microscopic main objective lens system 101 and a magnification system 108 with variable magnification.例文帳に追加

本発明は、顕微鏡主対物レンズ系１０１および拡大率を可変な拡大システム１０８を含む顕微鏡結像光学系を通る観察光路１０９を備える、手術用顕微鏡１００に関するものである。 - 特許庁

To provide a physical quantity measuring instrument capable of two-dimensionally or three-dimensionally measuring the physical quantities, such as concentration, temperature, pH and the like of a fluid in the flow channel or the like of a microreactor with high accuracy and at a high speed by adapting a confocal microscope.例文帳に追加

共焦点顕微鏡を適用し、マイクロリアクタの流路などにおける流体の濃度、温度、ｐＨ等の物理量を高精度、高速に２次元または３次元測定できる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope control device that can suppress a computation load required for distortion correction processing in a defocus detection processing using a phase-difference optical system, and an optical distortion correction method thereof.例文帳に追加

位相差光学系を用いたデフォーカス検出処理において、ディストーション補正処理に要する演算負荷を抑制することが可能な顕微鏡制御装置及び光学的歪み補正方法を提供すること。 - 特許庁

This transmission electron microscope is provided with a phase plate 8 for generating a phase difference between an electron beam passing through a predetermined region including a rear focal point of an object lens 6 and an electron beam passing through a region excluding the predetermined region.例文帳に追加

対物レンズ６の後焦点を含む所定の領域を通過する電子線と、前記所定の領域外の領域を通過する電子線との間に位相差を生じさせる位相板８を備える。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a thin sample for a transmission type electron microscope in which a coat layer is unlikely to be released from a particle surface and there is no damage in the inside of particles and the coat layers, and an observation method of the thin sample.例文帳に追加

粒子表面からコート層が剥がれ難く、粒子内部とコート層に損傷のない透過式の電子顕微鏡用薄片試料の作製方法と薄片試料の観察方法を提供する。 - 特許庁

A light-receiving diode 14 is provided in the lens-barrel 11 of an optical microscope 3 of the Vickers hardness tester 1 to detect the quantity of light, which is reflected at the surface of a sample and passes through an object lens 5 and through the lens-barrel 11.例文帳に追加

ビッカース硬さ試験機１の光学顕微鏡３の鏡筒１１内に受光ダイオード１４を設け、試料表面にて反射し、対物レンズ５を通過して鏡筒１１を通る光の光量を検出する。 - 特許庁

To provide a reflecting X-ray microscope using an image-forming optical system provided with a convex mirror and a concave mirror and capable of observing an image of a sample placed approximately perpendicular to an optical axis yet in a reflecting position.例文帳に追加

凸面鏡と凹面鏡を具備した結像光学系を用いて、試料を光軸にほぼ垂直に配置して、なおかつ反射型の配置で像を観察することのできる反射型Ｘ線顕微鏡を得る。 - 特許庁

The illuminating optical system has a first lens group and a second lens group for forming an image of the field iris 124 on an object's region 108 via a microscopic main objective lens 101 of the operation microscope 100.例文帳に追加

照明光学系は、視野絞り１２４を手術用顕微鏡１００の顕微鏡主対物レンズ１０１を介して物体領域１０８へ結像する役目をする第１のレンズ群と第２のレンズ群を有している。 - 特許庁

To provide an immersion system microscope objective in which the variations of aberrations caused by the thickness change of a cover glass or a temperature change is satisfactorily corrected even when an immersion liquid and a conventional cover glass with a high refractive index are used.例文帳に追加

高い屈折率の浸液と従来のカバーガラスとを用いた場合にも、カバーガラスの厚さ変化や温度変化に起因する諸収差の変動を良好に補正することのできる液浸系顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁

The observation apparatus includes an incident-light illumination optical system, a transmitting illumination optical system, an imaging unit 18, an input device 56, a storage unit 58, an imaging controller 51, a microscope controller 52, and an imaging information management unit 54.例文帳に追加

観察装置は、落射照明光学系、透過照明光学系、撮影部１８、入力装置５６、記憶装置５８、撮影制御部５１、顕微鏡制御部５２および撮影情報管理部５４を備える。 - 特許庁

Moreover, the control unit 11 operates each portion of the electrically-driven microscope 1 based on the information on the observation condition recorded in the recording unit 12 and the information inputted by the controller 13, so that each portion thereof is driven to move to a predetermined position.例文帳に追加

ここで、制御部１１は、記録部１２に記録された観察条件の情報とコントローラ１３により入力された情報とにより、電動顕微鏡１の各部を所定位置に駆動するように制御する。 - 特許庁

To enable a liquid immersion microscope objective lens of semi-apochromat class or apochromat class having a large number of openings to be used in a wide wavelength band region from an ultraviolet region to an infrared region.例文帳に追加

本発明の課題は、高開口数を有しセミアポクロマート級あるいはアポクロマート級の液浸系顕微鏡対物レンズにおいて、紫外域から赤外域までの広い波長帯域で利用可能なものを提供する。 - 特許庁

To selectively detect a secondary electron signal and a reflected electron signal regarding a secondary electron-reflected electron detecting device and a scanning electron microscope having the secondary electron-reflected electron detecting device.例文帳に追加

本発明は２次電子・反射電子検出装置及び２次電子・反射電子検出装置を有する走査電子顕微鏡に関し、２次電子信号と反射電子信号を選択的に検出することを目的としている。 - 特許庁

To provide a cathode luminescence specimen holder to easily perform cathode luminescence analysis by using an existing transmission electron microscope (TEM) and a spectroscopic analyzer using the cathode luminescence specimen holder.例文帳に追加

既設の透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）を用いてカソードルミネッセンス分析を容易に行うことを可能とするカソードルミネッセンス用試料ホルダ、及び該カソードルミネッセンス用試料ホルダを用いた分光分析装置を提供する。 - 特許庁

The texture structure thereof has the texture characteristics that the metal Si and Si compound cannot be observed by X-ray diffraction and the granular texture cannot be observed by a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

その組織構造は、Ｘ線回折によって金属ＳｉおよびＳｉ化合物が観察されず、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えたものである。 - 特許庁

To accurately calculate a coordinate data conversion/correction formula for a short time so as to effectively search particles on a wafer from their data that are measured by a particle counter, by a scanning electron microscope (SEM).例文帳に追加

パーティクルカウンタで測定したウェーハ上の粒子の座標データに対し走査型電子顕微鏡（SEM）で当該粒子の探索を効果的に行うための、座標データ変換・補正式を短時間で精度良く算出する。 - 特許庁

The fluorescent screen 20 also acts as an electron beam detecting screen, and a current corresponding to the electron beam quantity detected with the fluorescent screen 20 is sent to an electron microscope controlling computer 18 through an amplifier 22.例文帳に追加

蛍光板２０は電子線検出板を兼ねており、蛍光板２０で検出された電子ビーム量に対応する電流は増幅器２２を介して電子顕微鏡制御用コンピューター１８に送られるように成っている。 - 特許庁

To cope with not only an EPMA but also other X-ray analyzer such as a scanning microscope, by arranging a spectrometer using a curved analyzing crystal of high wavelength resolution distantly from a sample.例文帳に追加

波長分解能の高い湾曲分光結晶を用いた分光器を試料から離して配置できるようにすることで、ＥＰＭＡだけでなく走査顕微鏡等の他のＸ線分析装置にも対応可能とする。 - 特許庁

A film comprising Os (osmium) is formed on the surface of the sample before processed into a slice form and this sample having the Os film on its surface is processed into the slice form to prepare the sample for the transmission electron microscope.例文帳に追加

薄片状に加工する前のサンプルにＯｓ（オスミウム）からなる膜をサンプルの表面に形成し、その後に加工して薄片状とすることを特徴とする透過型電子顕微鏡用試料の作製方法。 - 特許庁

The microscope part 110 has an objective lens 114; a dichroic mirror 116 for separating excitation light from fluorescence; and an excitation light irradiation part 120 for irradiating excitation light to a sample S, while switching each different wavelength thereof.例文帳に追加

顕微鏡部１１０は、対物レンズ１１４と、励起光と蛍光を分離するダイクロイックミラー１１６と、波長の異なる励起光を切り替えながら試料Ｓに照射する励起光照射部１２０とを有している。 - 特許庁

To provide an electron beam control device for controlled use of an electron beam, such as an electron microscope or an electron beam aligner, that protects a track of an electron beam from an adverse influence of an externally influenced magnetic variation.例文帳に追加

外界からの影響による磁気変動量により、電子ビームの飛跡が悪影響されない電子顕微鏡および電子ビーム露光装置等の電子ビームを制御して利用する電子ビーム制御装置を提供する。 - 特許庁

A pair of the electron images E1 having the binocular disparity is photographed in an observation direction C by attaching the assistant's camera 7 to the luminous flux intake port 10 of the microscope main body 6 to be outputted to the stereoviewer S1.例文帳に追加

助手用カメラ７を顕微鏡本体６の光束取入口１０に取付けることにより、観察方向Ｃでの両眼視差を有する一対の電子映像Ｅ１を撮影し、ステレオビュアＳ１に出力できる。 - 特許庁

To provide an electrode ring and an electron microscope capable of suppressing a variation in electric field distribution around the axial center of a hollow hole serving as a passage path of an electron beam and secondary electrons emitted from a sample.例文帳に追加

電子ビーム及び試料から放出される２次電子の通過経路となる中空孔の軸中心まわりの電界分布のばらつきを抑えることのできる電極リング及び電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The liquid permeable film has pores with 50μm-1mm film thickness and 1μm-10μm diameters and optical transparency observable by a microscope, is disposed on a solid medium such as an agar medium and used.例文帳に追加

上記液体透過性フィルムは膜厚が５０μｍ〜１ｍｍ、直径１μｍ〜１０μｍの孔を有し、顕微鏡観察が可能な光透過性であり、寒天培地のような固体培地上に配置して使用することができる。 - 特許庁

The observation with the microscope 10 to determine whether the light having passed through this microlens 3b is focused on the resist film 2 or not, can determine the focal point of the exposure light converged on the resist film 2 by the microlens 3a.例文帳に追加

このマイクロレンズ３ｂを透過した光がレジスト膜２上で合焦点か否かを顕微鏡１０で観察することにより、マイクロレンズ３ａによりレジスト膜２に収束される露光光の合焦点を判別できる。 - 特許庁

The fluorescence 34 from a focal point by the second objective lens 27 within the section 33 to be examined is observed by the multi-photon microscope 1, by which the observation of the internal tissue of the section 33 to be examined is made possible.例文帳に追加

被検査部３３の内部における第２対物レンズ２７による集光点からの蛍光３４を多光子顕微鏡１で観察することにより、被検査部３３の内部組織の観察も可能となる。 - 特許庁

To automatically image a desired evaluation point (EP) on a sample, and automatically measure a circuit pattern formed at the evaluation points, in the dimension measurement of a circuit pattern using a scanning electron microscope (SEM).例文帳に追加

走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）を用いた回路パターンの寸法計測において、試料上の任意の評価ポイント（ＥＰ）を自動で撮像し，評価ポイントに形成された回路パターンを自動で計測することを可能にする。 - 特許庁

The scanning type laser microscope is equipped with a 1st scanning optical system A for obtaining the scanning image of the sample 19 and a 2nd scanning optical system B for causing the singular phenomenon at the specific position of the sample 19.例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡は標本１９の走査画像を得るための第１の走査光学系Ａと、標本１９の特定の部位に特異現象を発現させるための第２の走査光学系Ｂとを備える。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope with a scanned image observation function which can remarkably reduce deterioration of scanned image quality and resolution due to noises superposed on a deflecting current for scanning of electron beam.例文帳に追加

電子ビームの走査のための偏向電流に重畳したノイズによる走査像の画質や分解能の劣化を、著しく軽減することができる走査像観察機能を有した透過電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide an analyzer used with an excellent electron microscope apparatus capable of shortening the analyzing time and improving the analyzing accuracy by suppressing the occurrence of the contamination on an analysis object surface.例文帳に追加

分析時間の短縮を図れるとともに分析対象体表面のコンタミネーションの発生を抑制して分析精度の向上を図れるといった、優れた電子顕微鏡装置と共に用いる分析装置を提供する。 - 特許庁

The microscope sample 10 has a resin-made phase body 11 having an unevenness pattern 16 of predetermined size in a predetermined shape and support members 12 and 13 which support the phase body.例文帳に追加

本発明の顕微鏡標本１０は、予め定めた形状および寸法の凹凸パターン１６を有する樹脂製の位相物体１１と、前記位相物体を支持する支持部材１２,１３とを備えたものである。 - 特許庁

The probe provided with a probe needle of the nanotube especially the carbon nanotube, the length of which is adjusted at a precision of several 10 nm while holding a cylindrical needle along the tip part is applied to the probe microscope of scanning type.例文帳に追加

ナノチューブ特にカーボンナノチューブよりなる探針を備えたプローブにおいて、長さを数１０ｎｍの精度で調整し、先端にかけて円筒型を保持する探針を有するプローブを走査型プローブ顕微鏡に応用する。 - 特許庁

To provide a cantilever capable of improving face resolution of SCM furthermore than in the case of using the conventional cantilever, concerning the cantilever used for a scanning capacity microscope (SCM).例文帳に追加

走査型容量顕微鏡（ＳＣＭ）に用いられるカンチレバーにおいて、当該ＳＣＭの面分解能を従来のカンチレバーを用いた場合よりも、さらに向上させることができるカンチレバーを提供することを目的とする。 - 特許庁