「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(151ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a removal method, for the offset of a scanning probe microscope, in which a Z-axis displacement offset is not generated or can be reduced even when the temperature of a viscoelastic substance is lowered when a coarse adjustment is changed over to a fine adjustment.例文帳に追加

粗動から微動への切替え時に、粘弾性体の温度が低下しても、Ｚ軸変位オフセットが生じない、あるいは低減できる走査型プローブ顕微鏡のオフセット除去方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a microscope for surgical operation capable of making an inputting means of an electric driving part of a first observation means and an inputting means of an electric driving part of a second observation means the same and improving operability of both means.例文帳に追加

第１の観察手段の電動駆動部の入力手段と、第２の観察手段の電動駆動部の入力手段とを同一にし、両者の操作性を向上させる手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus equipped with an illuminating part having a small-scaled circuit for a control part to control the lighting of an LED light source, and also, configured to perform the replacement work of the LED light source in a short time.例文帳に追加

ＬＥＤ光源の点灯制御を行う制御部の回路規模が小さく、且つ、ＬＥＤ光源の交換作業を短時間で済ませることのできる照明部を備えた顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

NEAR-FIELD LIGHT MICROSCOPE, NEAR-FIELD LIGHT IMAGING METHOD, NEAR-FIELD LIGHT IMAGING DEVICE, AND PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE NEAR-FIELD LIGHT IMAGING METHOD, RECORDING MEDIUM, AND HIGH-DENSITY RECORDING INFORMATION MEDIA READING DEVICE例文帳に追加

近接場光顕微鏡、近接場光イメージング方法、近接場光イメージング装置、近接場光イメージング法をコンピュータに実行させるプログラム、記録媒体および高密度記録情報メディア読み取り装置 - 特許庁

To provide a sample slide used for X-ray microscope in which a sample is arranged to be adjacent to a photoelectric transducing face, and with which transmitted X-rays are transduced into an electronic image so as to be observed, and to provide a sample holding and insertion mechanism.例文帳に追加

光電変換面に試料を近接して配置し透過Ｘ線を電子像に変換して観察するＸ線顕微鏡に使用する試料スライドおよび試料の保持挿入機構を提供することである。 - 特許庁

Thus, the operator of the fluorescence microscope can discriminate whether or not the exciting light exceeding the reference value is radiated according as the warning is given or not, and adverse influence exerted on the sample by the excess of the exciting light is avoided.例文帳に追加

これにより、蛍光顕微鏡の操作者は警告の有無によって基準値を超える励起光が照射されたか否かを判別することができ、励起光過多による試料への悪影響を回避し得る。 - 特許庁

To perform X-ray analysis without requiring the move of a specimen or the aligning of an analysis object position accompanying the move of the specimen, as to X-ray analysis at an analysis position detected by an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡によって検出した分析位置におけるＸ線分析において、試料の移動、および試料の移動に伴う分析対象位置の位置合わせを要することなくＸ線分析を行う。 - 特許庁

The first lens-barrel upper part 130 has a reflection mirror 140 to deflect the luminous flux from a microscope body to which the lens-barrel base 110 is attached toward a reflection mirror 120 of the lens-barrel base 110 at all times.例文帳に追加

第一の鏡筒上部１３０は、鏡筒基部１１０が取り付けられる顕微鏡本体からの光束を、常時、鏡筒基部１１０の反射ミラー１２０に向けて偏向する反射ミラー１４０を有している。 - 特許庁

A microscope stage (14) includes a platform (16), a sample holder (18) mounted on the platform (16) and a positioning device (20) for moving the sample holder (18) in a displacement surface parallel to the platform (16).例文帳に追加

プラットフォーム（１６）と、プラットフォーム（１６）に載置される試料ホルダ（１８）と、プラットフォーム（１６）に平行な変位面内で試料ホルダ（１８）を移動させるための位置決め装置（２０）を備える顕微鏡ステージ（１４）が記載される。 - 特許庁

The mouse attaching pin 32 is inserted and locked to a fixing hole 22 arranged on the bottom surface of the mouse input device 2, so that the mouse input device 2 is attached and fixed to the eye piece 1a of the microscope 1.例文帳に追加

マウス入力装置２の底面に設けられた固定用孔２２にマウス取り付け用ピン３２を挿入係止することにより、マウス入力装置２が顕微鏡１の接眼部１ａに取り付け固定される。 - 特許庁

When the organic sample observation device is used as the stereoscopic microscope, the mirror 9 is rotated by 90° from the posture (A) and switched to a posture (B).例文帳に追加

生体試料１から放出された蛍光１７は対物レンズ７で無限遠焦点系に導入され、ダイクロイックミラー９、吸収フィルタ１３を通して撮像用投影レンズ８に導かれ、撮像装置３で撮像される。 - 特許庁

To provide an immersion system microscope objective lens which has large numerical aperture and small change over time in an immersion liquid and small degradation of image performance even when living cells, living tissues and the inside of a living body solid are observed.例文帳に追加

開口数が大きく、液浸液の経時変化が少なく、生体細胞や生体組織や生体の固体の内部の観察時にも像性能の劣化が少ない、液浸系顕微鏡対物レンズの提供。 - 特許庁

To provide a method and a device for forming a pattern with proximity field light arranged as a proximity field light lithography developed from a proximity field microscope employing a probe in which highly accurate control can be ensured while reducing the size.例文帳に追加

小型で高精度な制御ができる、探針を用いた近接場顕微鏡を発展させた近接場光リソグラフィーとして構成した近接場光によるパターン形成方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To eliminate use of deposition, and improve the productivity in a preparation of a sample for a transmission electron microscope, when the thin sample which is processed and prepared by a charged particle beam is fixed to a sample holder.例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料の作製において、荷電粒子ビームによって加工して作製した薄片試料を試料ホルダに固定する際に、デポジションを用いないようにすることにより生産性を向上させる。 - 特許庁

To provide a supporting device capable of easily making the optical axis (center of field) of an imaging means orthogonal to the turning shaft (center of turning) of a supporting member for supporting the imaging means, and a microscope equipped therewith.例文帳に追加

撮像手段の光軸（視野中心）と撮像手段を支持する支持部材の回動軸（回動中心）とを容易に直交させることが可能な支持装置およびそれを備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a polarizing unit by which switching between observation using polarized light and the one without using the polarized light can be performed by one operation and which is economically constituted, and a microscope to which the polarizing unit is attached.例文帳に追加

偏光を使用する観察と偏光を使用しない観察との切り換えを一つの動作ででき、かつ経済的に構成できる偏光ユニットおよびこれが取り付けられる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To solve such problems that a digital camera, an improved microscope or a coordinate measuring apparatus used for measuring the dimensions, position or attitude of a blade does not provide a desired accuracy or reliability and it is expensive, bulky and slow in response.例文帳に追加

ブレードの寸法や位置や姿勢を測定するのに用いられるデジタルカメラ、改良された顕微鏡又は座標測定機械は、所望の精度や信頼性を提供せず、高価で、かさばり、応答が遅い。 - 特許庁

The whole stage is rotated on the second spherical seat, without marring the eucentric conditions of a rotating cylinder and a sample holder, so that the direction of the rotating shaft of the cylinder can be set to pass the center of the visual field of the electron microscope.例文帳に追加

回転シリンダや試料ホルダのユーセントリック条件を崩すことなくステージ全体を第２の球面座で回転させ、シリンダ回転軸方向を電子顕微鏡視野中心に通るように設定できるようになる。 - 特許庁

This microscope is equipped with cylindrical optical path partitions 31, 32 and 33 partitioning an observation optical path O1 near the optical axis of an objective lens from an illumination optical path for vertical dark-field O2 around the optical path O1, and realizes a vertical dark-field observation.例文帳に追加

対物レンズの光軸近傍の観察光路（Ｏ１）とその周辺の落射暗視野用照明光路（Ｏ２）とを隔てる筒状の光路隔壁（３１、３２、３３）を備えており、落射暗視野観察が可能である。 - 特許庁

To provide an acidophilic bacteria inspecting system for enabling inspection even by an inexperienced person, reducing the fatigue of an inspector, and eliminates detection omission of an acidophilic bacteria by automating the detection of acidophilic bacteria using a microscope.例文帳に追加

顕微鏡による抗酸菌検出を自動化することにより、熟練者でなくても検査を可能にし、検査者の疲労を軽減するとともに、抗酸菌の検出洩れをなくす抗酸菌検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for determining the angle of incidence of the irradiating light to irradiate a portion in the vicinity of a tip of a probe to realize the high resolution and high contrast, and a scan near-field optical microscope.例文帳に追加

本発明は、高分解能及び高コントラストを実現可能としたプローブ先端近傍を照射する照射光の入射角度を決定する方法及び走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an optical path interrupting device and a microscope provided with the optical path interrupting device whose operability is improved by enabling the change over of an optical path and the replacement of a filter or the like to be simultaneously performed.例文帳に追加

光路の切換とフィルタ等の交換とを同時に行うことができるようにして、作業性を向上させることができる光路遮断装置及びその光路遮断装置を備える顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a halftone phase shift mask by which no correction scum of a residual defect is left when the residual defect of a halftone phase shift mask is removed by using an AFM (atomic force microscope) correcting device.例文帳に追加

ハーフトーン型位相シフトマスクの残留欠陥をＡＦＭ型修正機を用いて除去する際、残留欠陥の修正カスを残さないハーフトーン型位相シフトマスクの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The method for manufacturing the sample to observe the defect in the silicon crystal by the transmission electron microscope comprises the steps of releasing only a shallow region on the surface of the crystal, and thinning the region to the thin piece samples.例文帳に追加

シリコン結晶中の欠陥を透過型電子顕微鏡で観察するための試料作製方法であって、結晶表面の浅い領域のみを剥離させて薄片化し薄片試料とするようにした。 - 特許庁

To provide a method for etching a wafer by which a thin film pattern having prescribed dimensional precision can be deposited on a wafer even in the case the amount to be etched can not directly be measured by using a microscope or the like.例文帳に追加

顕微鏡等を用いてエッチング量を直接計測できない場合であっても、所定の寸法精度を有する薄膜パターンをウエハ上に形成することが可能なウエハのエッチング方法を提供すること。 - 特許庁

Furthermore, the magnetic domain observation microscope 1 includes, as a control system 12, a CPU 31, and a gray scale magnetic domain image generation section 33 for generating a gray scale magnetic domain image, and a color magnetic domain image generation section 34 for generating a color magnetic domain image from the gray scale magnetic domain image.例文帳に追加

さらに、制御系１２として、ＣＰＵ３１やグレースケール磁区像を生成するグレースケール磁区像生成部３３、グレースケール磁区像からカラー磁区像を生成するカラー磁区像生成部３４を有する。 - 特許庁

When performing alignment, an optical positive image, which is an image of observing the end face different from the observation face of the electron microscope from an oblique direction, is photographed at an observation-target portion arbitrarily selected from among a plurality of the observation target portions.例文帳に追加

アライメントの際には、複数ある観察対象部位から任意に選択した観察対象部位で、電子顕微鏡の観察面とは異なる端面を斜めから観察した光顕画像を撮影する。 - 特許庁

To provide a technique capable of carrying out repair and regeneration in a vacuum chamber without extracting and changing defective parts when the abrasion or breakage of a probe of a probe microscope, the flection or breakage of a micro-manipulator, or the abrasion or breakage of micro-tweezers occur.例文帳に追加

プローブ顕微鏡の探針の摩耗や折れ、マイクロマニピュレータの屈曲や折れ、マイクロピンセットの磨耗や折れが生じた際、取り出して交換することなく、真空チャンバ内で補修再生ができる技術を提示する。 - 特許庁

To provide a stereo microscope by which a focusing state, size and a position of an image of an observation object respectively formed on an image pickup surface of an image pickup unit are respectively adjusted by each photographing optical system.例文帳に追加

各撮影光学系によって撮像装置の撮像面に夫々結像される観察対象物の像のピント状態，大きさ，及び位置を夫々調整することができる立体顕微鏡を、提供する。 - 特許庁

The scanning charged particle microscope performs the analog integration of the detection signal with an analog integrator 7; if output of the analog integrator 7 exceeds a specified value, converts the output to a digital value with an A/D converter 8; and performs the digital integration of the digital value with a digital integrator 9.例文帳に追加

検出信号をアナログ積分器7でアナログ積分し、アナログ積分器7の出力が指定した値を越えたらA/D変換器8でディジタル値に変換し、そのディジタル値をディジタル積分器9でディジタル積分する。 - 特許庁

In the microscope system 1, a fresh slide glass SG is obtained and held by the supply arm 35, and is kept in a stand-by state near the stage 15 together with the empty ejection arm 36.例文帳に追加

また顕微鏡システム１は、スライドガラスＳＧの撮像処理中に、供給アーム３５により新たなスライドガラスＳＧを取得して保持させ、空の排出アーム３６と共にステージ１５の近傍で待機させておく。 - 特許庁

The fluorescent screen 20 also acts as an electron beam detecting screen, and a current corresponding to the electron beam quantity detected with the fluorescent screen 20 is sent to an electron microscope controlling computer 18 through an amplifier 22.例文帳に追加

蛍光板２０は電子線検出板を兼ねており、蛍光板２０で検出された電子ビーム量に対応する電流は増幅器２２を介して電子顕微鏡制御用コンピューター１８に送られるように成っている。 - 特許庁

To cope with not only an EPMA but also other X-ray analyzer such as a scanning microscope, by arranging a spectrometer using a curved analyzing crystal of high wavelength resolution distantly from a sample.例文帳に追加

波長分解能の高い湾曲分光結晶を用いた分光器を試料から離して配置できるようにすることで、ＥＰＭＡだけでなく走査顕微鏡等の他のＸ線分析装置にも対応可能とする。 - 特許庁

A film comprising Os (osmium) is formed on the surface of the sample before processed into a slice form and this sample having the Os film on its surface is processed into the slice form to prepare the sample for the transmission electron microscope.例文帳に追加

薄片状に加工する前のサンプルにＯｓ（オスミウム）からなる膜をサンプルの表面に形成し、その後に加工して薄片状とすることを特徴とする透過型電子顕微鏡用試料の作製方法。 - 特許庁

The microscope part 110 has an objective lens 114; a dichroic mirror 116 for separating excitation light from fluorescence; and an excitation light irradiation part 120 for irradiating excitation light to a sample S, while switching each different wavelength thereof.例文帳に追加

顕微鏡部１１０は、対物レンズ１１４と、励起光と蛍光を分離するダイクロイックミラー１１６と、波長の異なる励起光を切り替えながら試料Ｓに照射する励起光照射部１２０とを有している。 - 特許庁

To provide a cover glass for a total reflection illuminating fluorescence microscope, through which the pulling capacity of an ameba in ameboid movement and the motion of motor protein in a cell can be visualized simultaneously.例文帳に追加

本発明は、アメーバ運動におけるアメーバの牽引力と細胞内におけるモーターたん白質の動きを同時に視認することを可能にした全反射照明蛍光顕微鏡用のカバーガラスを提供するものである。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which can switch in a simple operation a low vacuum secondary electron detection to other detections like a reflector electron detection without exposing a test piece chamber to an atmosphere.例文帳に追加

試料チャンバを大気開放することなく、低真空二次電子検出とそのほかの例えば反射電子検出等との切り換えを簡便な操作で以て行うことができる走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the electron microscope applying a phase retrieval method, an image size decided by a pixel size p of a diffraction image, a camera length L, and a wavelength λ of irradiation beams and a sample irradiation area are set to have a constant relation.例文帳に追加

位相回復法を適用した電子顕微鏡等において、回折像の画素サイズｐ、カメラ長L、照射ビームの波長λにより決まる画像サイズと試料照射領域が一定関係になるようにする。 - 特許庁

To provide a method of analyzing a spin polarization in an optical column of a mapping electron microscope or in a beam outgoing port back part of an electron spectrometer, and to provide a suitable system in which the above method is performed.例文帳に追加

写像する電子顕微鏡の光学コラム内、または電子分光計のビーム出射口後部において、スピン偏極を分析するための方法と、その方法を実施するための適切なシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a stage system enabling alleviation of vibration or drift at a high level and positioning accuracy, which are required for a sample stage of a scanning electron microscope used in a field of semiconductor manufacturing.例文帳に追加

半導体製造分野で用いられる走査型電子顕微鏡の試料ステージについて要求されるような高いレベルでの振動やドリフトの低減および位置決め精度を可能とするステージ装置の提供。 - 特許庁

To provide an electron microscope with a camera for image observation, capable of rotating an observation image to an optional angle without changing the visual field.例文帳に追加

本発明は像観察用カメラを備える電子顕微鏡に関し、視野を変えることなく観察像を任意の角度に回転させることができる像観察用カメラを備える電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide an electron beam microscope device having a scan control capable of improving throughput of the device by shortening the substantial scanning time without changing image acquisition condition at the time of electron beam scanning.例文帳に追加

本発明の目的は、電子線走査時の画像取得条件を変えることなく実質走査時間を高速化し、装置のスループットを向上可能な走査制御を有する電子線顕微鏡装置提供することにある。 - 特許庁

The microscope control circuit 16 determines the proper exposure time based on the input brightness contrast signal and the average brightness signal per frame, and outputs the determined exposure time to a shutter driving circuit 14.例文帳に追加

顕微鏡制御回路１６は、入力された輝度コントラスト信号と１フレーム当たりの平均輝度信号とに基づいて適切な露光時間を決定し、決定した露光時間をシャッタ駆動回路１４に出力する。 - 特許庁

To provide an inverted microscope into which various auxiliary apparatus applicable to inverted microscopes for industrial applications having vertical illumination can be built and which are low in terms of a cost and is excellent in operability.例文帳に追加

落射照明を備えた工業用途の倒立型顕微鏡にも適用可能な種々の補助装置を簡単に組み込むことができ、コスト的に安価で、操作性にも優れた倒立型顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The electron beam apparatus or a transmission electron microscope comprises at least one specimen holder 8 having at least one holding element 18 and at least one identification unit 20.例文帳に追加

本発明に係わる電子ビーム装置、特に透過電子顕微鏡は、試料を保持する少なくとも１つの保持要素（１８）及び少なくとも１つの識別ユニット（２０）を有する少なくとも１つの試料ホルダ（６）を具備する。 - 特許庁