「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(156ページ目) - Weblio英語例文検索

The microscope stage equipped with a lower stage 2 and an upper stage 3 slidably coming into contact with a prescribed plane of the lower stage 2 is disposed with a grip 8 provided with a surface having a large coefficient of friction in a portion of the upper stage 3.例文帳に追加

シタステージ２と、このシタステージ２の所定の平面に対して摺動自在に接触するウエステージ３とを備えた顕微鏡ステージにおいて、ウエステージ３の一部に摩擦係数の大きい表面を持ったグリップ８を配置した。 - 特許庁

To provide a compact scanning type laser microscope having stable performance and high optical resolution which is not affected by vibration and heat generation from a laser light source, and the quantity of UV laser light with respect to a sample is not fluctuated.例文帳に追加

本発明は、レーザ光源からの振動及び発熱の影響を受けることがなく、かつ試料へのＵＶレーザ光の光量が変動することなく、小型で安定した性能を有し、高い光学分解能を有すること。 - 特許庁

A genetic screening apparatus is provided with both a reaction stage 103 for supporting a reaction vessel 101 containing a DNA microarray and for accelerating reaction and a microscope 102 for optically observing the DNA microarray.例文帳に追加

遺伝子検査装置は、ＤＮＡマイクロアレイを含む反応容器１０１を支持すると共に反応を促進するための反応ステージ１０３と、ＤＮＡマイクロアレイを光学的に観察するための顕微鏡１０２とを備えている。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method which is capable of quickly, easily, and clearly observing malaria plasmodia with naked eyes by using a general optical microscope and applying a malaria rapid diagnosis method employing acridine orange staining.例文帳に追加

一般の光学顕微鏡を使用して、アクリジンオレンジ（ＡＯ）染色によるマラリアの迅速診断法を適用して、マラリア原虫を肉眼で迅速、簡単、明りょうに観察することを可能する装置と方法を提供すること。 - 特許庁

In this chemical bonding condition analyzing method for elements in tungsten and its compound, the chemical bonding condition of the measuring material is analyzed by analyzing the characteristic X-ray wavelength provided from the electron microscope.例文帳に追加

タングステンおよびその化合物における元素の化学結合状態分析方法において、測定用材料を電子顕微鏡から取得される特性Ｘ線波長を解析することによって、化学結合状態を分析する。 - 特許庁

The surgical microscope is disposed on an interface between the digital type fundus camera and the fundus lens of a retina diagnostic system and the camera is constituted of the digital type fundus camera of the retina diagnostic system.例文帳に追加

この手術用顕微鏡において、該手術用顕微鏡は、網膜診断システムのデジタル式眼底カメラと眼底レンズとの間のインターフェースに配設され、及び前記カメラは、網膜診断システムのデジタル式眼底カメラから構成される。 - 特許庁

To realize an electron microscope which has adopted for it a normally available exhaust system such as a turbo molecular pump, an ion pump or a rotary pump and which can safely execute observation or adsorption of a highly scarce object.例文帳に追加

ターボ分子ポンプやイオンポンプ、あるいはロータリーポンプなどといった通常入手できる排気系を採用した電子顕微鏡において、希少性の高い対象物の観察または吸着を安全に実行できる装置を実現する。 - 特許庁

More particularly, a plurality of targets can be labeled by a metal specifically deposited and other chromogenic labels, and the use of bright field light microscope enables chromogenic immunohistochemical (IHC) detection in situ.例文帳に追加

より詳細には、複数の標的が、特異的に沈着される金属および他の発色標識で標識され得、明視野光学顕微鏡を用いることによってインサイチュで発色免疫組織化学的（ＩＨＣ）検出が可能になる。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF TRANSMISSION TYPE MODERATOR FOR SLOW POSITRON BRIGHTNESS ENHANCEMENT, TRANSMISSION TYPE MODERATOR FOR SLOW POSITRON BRIGHTNESS ENHANCEMENT, BRIGHTNESS ENHANCEMENT METHOD OF SLOW POSITRON BEAM, HIGH BRIGHTNESS SLOW POSITRON BEAM GENERATION DEVICE, AND POSITRON MICROSCOPE例文帳に追加

低速陽電子輝度増強用透過型減速材の製造方法、低速陽電子輝度増強用透過型減速材、低速陽電子ビームの輝度増強方法、高輝度低速陽電子ビーム発生装置および陽電子顕微鏡 - 特許庁

To provide a tapping mode atomic force microscope (AFM) allowing measurement of a delicate sample or a flexible material, and capable of reducing impact force between a probe and the sample acting during collision; and its operation method.例文帳に追加

繊細な試料や柔軟な素材の計測を可能にする、衝突の間に作用するプローブと試料の間の衝撃力を低減する実施可能なタッピングモード原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）及びその操作方法を提供する。 - 特許庁

To vary magnification with extremely less off-centering while coping with the wide magnification variable range, then, to improve the workability in microscopic observation, and also, to attain the cost reduction and the miniaturization, as for a microscope and a zoom objective lens.例文帳に追加

顕微鏡およびズーム対物レンズにおいて、幅広い変倍範囲に対応しながら芯ずれの非常に少ない倍率切換を行え、それにより顕微鏡観察の作業性を向上でき、しかも低コスト化、小型化が図れるようにする。 - 特許庁

To provide a mapping type electron microscope capable of controlling the charge-up amount of a sample between the minimum amount required for observing images and the maximum amount not damaging the sample itself and capturing observed images with less distortion.例文帳に追加

試料のチャージアップ量を、像観察に必要な最低量と、試料自身を損傷させることなく、かつ、歪みの少ない観察画像を得られる最大量の間になるように制御の可能な写像型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The emission generated from this reverse current is measured by an emission microscope and the defective part is identified, and the defective part is insulated by irradiating a laser beam and, thereby, the short circuit area is repaired.例文帳に追加

この逆方向電流から生じる発光をエミッション顕微鏡により測定して欠陥部を特定し、欠陥部にレーザーを照射して絶縁化させることによりショート箇所を修理するという発光装置の作製方法。 - 特許庁

To reduce the influence of achromatic aberration at an objective lens in a color microscope furnished with a plurality of light sources, in which a color image is obtained by condensing light having different wavelengths of the light sources on a specimen through the common objective lens.例文帳に追加

複数の光源を具備し、これらの光源の波長の異なる光を共通の対物レンズを通して試料に集光させることによりカラー画像を得るカラー顕微鏡において、対物レンズでの色収差の影響を低減する。 - 特許庁

To provide an electron microscope which reduces a sample damage without depending on a measurement magnification or a sample and with the minimized illumination beam, and makes astigmatism correction automatically.例文帳に追加

本発明の目的は、測定倍率や試料に依存しないで、また、できる限り照射ビームを少なくして試料損傷低減を図り、自動的に非点収差補正を行うことができる電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of obtaining an image with a superior contrast even if a primary beam current is small and efficiency of a secondary electron emission is small.例文帳に追加

本発明は走査型電子顕微鏡に関し、１次ビーム電流が小さい場合や試料の２次電子放出効率が小さくてもコントラストの良い画像を得ることができる走査型電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide an easy and highly reliable method for molecular diagnosis of colon cancer, usable as a substitute for or complementary means for diagnosis of colon cancer of tissue, cell or chromosome level to use naked eyes or a microscope.例文帳に追加

肉眼又は顕微鏡を用いて行われる組織、細胞、染色体レベルでの大腸癌の診断に代わる、又は、相補的に利用することが出来る、簡便かつ信頼性の高い大腸癌の分子診断を提供する。 - 特許庁

To damp the vibration by converting vibration energy into heat energy when a constituent member of a microscopic analysis device such as an electron microscope is vibrated in a natural vibration mode by the input of ambient vibration, sound.例文帳に追加

周囲の振動、音響の入力により、電子顕微鏡等の顕微分析装置の構成部材がそれぞれの固有振動モードにて振動するとき、その振動エネルギを熱エネルギに変換して前記振動を減衰させること。 - 特許庁

To provide a microscope image photographing system and method which allows even a photographic object being in low contrast with a background to be surely recognized and is capable of photographing an area wherein many photographic objects exist.例文帳に追加

背景との濃淡差が少ない場合であっても撮影対象物を確実に認識することができ、撮影対象物が多く存在する領域を撮影することができる顕微鏡画像撮影システム及び方法を提供する。 - 特許庁

The black defect is removed by the same method as anodic oxidation by using that DLC is oxidized by partial VUV light irradiation from a scanning proximity place optical microscope probe in an ozone atmosphere, it becomes the volatile component and is removed.例文帳に追加

またはオゾン雰囲気下での走査近接場光学顕微鏡探針からの局所VUV光照射でDLCが酸化され揮発性成分となって除去されることを利用し、陽極酸化と同様な方法で黒欠陥を除去する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope having a scan image observation function for always passing a main beam through the center of an annular dark-field scan image detector even when scanning is carried out by a tilted electron beam on a sample.例文帳に追加

電子ビームを試料上で傾斜させて走査した場合でも、主ビームが常に円環状の暗視野走査像検出器の中心を通るようにすることができる走査像観察機能を有した透過型電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

In the process of the increase, the power of the laser light source of the 1st microscope 21A is gradually decreased to make electrons (current) based upon internal photoelectron effect flow, thus obtaining an abnormal point based upon an actual crystal defect, etc.例文帳に追加

この上げていく過程で、同時に、第１マイクロスコープ２１Ａのレーザ光源のパワーをゆっくり下げていき、内部光電子効果に基づく電子（電流）が流れるようにして、実際の結晶欠陥等に基づく異常点を得る。 - 特許庁

The workstation 3 superimposes the Penrose tile pattern of the reference picture and the Penrose tile pattern of the sample LSU 21 (the object picture) through a microscope to calculate the displacement quantity between the reference picture and the object picture.例文帳に追加

画像処理用ワークステーション３は参照画像のペンローズタイルパタンと顕微鏡２を介して得られた試料ＬＳＩ２１（対象画像）のペンローズタイルパタンとを重ね合わせて参照画像と対象画像との位置ずれ量を算出する。 - 特許庁

To provide an electron beam device capable of appropriately processing stereo scopic detection data obtained from an electron microscope, three-dimensionally observing an image of a sample correctly and highly precisely, and measuring the three dimensional shape of the sample based on the observation.例文帳に追加

電子顕微鏡から得られたステレオの検出データを適切に処理して、試料像を正確に精度よく立体観察可能とし、かつこれに基づき三次元形状計測を行うことができる電子線装置を提供する。 - 特許庁

When the instruction acquisition unit 3 acquires an input for instructing to perform the operation, a computer 2 exerts control for the operation target of the scanning type laser microscope body associated in advance with the GUI component indicated by the cursor.例文帳に追加

コンピュータ２は、指示取得部３が該実行指示の入力を取得したときにカーソルが指し示していたＧＵＩ部品に予め対応付けられている走査型レーザ顕微鏡本体１の操作対象を操作する制御を行う。 - 特許庁

The immersion oil for the microscope is composed by blending (B) phthalic acid ester by 2-20 mass parts and (C1) liquid paraffine and/or (C2) paraffine halide by 5-50 mass parts in (A) liquid diene copolymer by 100 mass parts.例文帳に追加

（Ａ）液状ジエン系共重合体１００質量部に対して、（Ｂ）フタル酸エステル２〜２０質量部及び（Ｃ１）流動パラフィン及び／又は（Ｃ２）ハロゲン化パラフィン５〜５０質量部を配合する顕微鏡用液浸油である。 - 特許庁

(4) It is confirmed that the ultra-thin isolation membrane having an unprecedented new structure and composition is formed by observing and analyzing images, electron diffraction diagrams and electron energy loss spectroscopy spectrums of the membrane by use of a transmission electron microscope.例文帳に追加

４）本膜を透過型電子顕微鏡により像、電子回折図形および電子エネルギー損失分光法スペクトルを観察、解析し、従来にない新しい構造と組成を有する極薄単離膜が生成していることを確認する。 - 特許庁

This scanning electron microscope is structured so that an ion detector for detecting an ion is disposed on the further electron source side than a first differential exhaust throttle to maintain prescribed vacuum in a sample chamber.例文帳に追加

上記目的を達成するための構成として、試料室を所定の真空に維持するための第１の差動排気絞りより、電子源側にイオンを検出するためのイオン検出器を配置した走査電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

CANTILEVER ARRAY, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME, SLIDING DEVICE FOR GUIDE AND ROTATION MECHANISM, SENSOR, HOMODYNE LASER INTERFEROMETER, LASER DOPPLER INTERFEROMETER WITH PHOTOEXCITATION FUNCTION OF SAMPLE AND EXCITATION METHOD FOR CANTILEVER例文帳に追加

カンチレバーアレイ、その製造方法及びそれを用いた走査型プローブ顕微鏡、案内・回転機構の摺動装置、センサ、ホモダインレーザ干渉計、試料の光励振機能を有するレーザドップラー干渉計ならびにカンチレバーの励振方法 - 特許庁

To easily detect the interface of the epidermis and the dermis in an extraction device for the epidermis-dermis interface of the skin performing the extraction treatment of the epidermis-dermis interface of the skin using a confocal microscope.例文帳に追加

本発明は共焦点顕微鏡を用いて皮膚の表皮−真皮界面の抽出処理を行なう皮膚の表皮−真皮界面の抽出装置に関し、表皮と真皮の界面を容易に検出することを課題とする。 - 特許庁

To provide a scanning transmission electron microscope capable of obtaining a scanning transmission image having a specified resolution by deciding an aberration coefficient from Ronchigram and applying feedback of signals correcting each aberration to a device.例文帳に追加

ロンチグラムから収差係数を決定し各収差を補正する信号を装置にフィードバックすることにより、指定した分解能を有する走査透過像を得ることができることを特徴とした走査透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To obtain a probe with carbon nanotubes for a scanning probe microscope which can manufacture in an atmosphere in a short manufacturing time in a mass production and which does not exert an adverse influence on mechanical and electrical characteristics of the nanotubes.例文帳に追加

大気中で作製でき、作製時間が短く可能で、大量生産ができ、しかも、カーボンナノチューブの機械的、電気的特性に悪影響を与えることがない走査型プローブ顕微鏡用カーボンナノチューブ付き探針を得ること。 - 特許庁

Next, the scanning Kelvin force microscope having the conductive cantilever 1A wherein the work function A of the probe 2A is concretely calculated is used to measure the surface potential (y) of an unknown sample different from the standard sample 3A.例文帳に追加

次に、深針２Ａの仕事関数Ａが具体的に算出された導電性カンチレバー１Ａを有する走査型ケルビンフォース顕微鏡を用いて、標準試料３Ａとは異なる未知試料の表面電位ｙを測定する。 - 特許庁

To provide a microscope system, a focal position detecting method, and a focal position detecting program, capable of detecting the focal position of an optical system relative to a desired area of an observation object.例文帳に追加

観察対象物の所望の領域に対して相対的な光学系の焦点の位置を自動的に検出することが可能な顕微鏡システムおよび焦点位置検出方法および焦点位置検出プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a defect correction method for a photomask using a scanning probe microscope, the method giving less damage on the photomask, and to provide a method for manufacturing a photomask using the method.例文帳に追加

本発明は、走査型プローブ顕微鏡を用いたフォトマスクの欠陥修正方法であって、フォトマスクへのダメージが少ないフォトマスクの欠陥修正方法、およびそれを用いたフォトマスクの製造方法を提供することを主目的とする。 - 特許庁

By observing the light emission of the dummy circuit 3 formed on the semiconductor chip 2 under failure analysis by an emission microscope or the like, the semiconductor chip 2 under failure analysis can be easily identified within a short time.例文帳に追加

エミッション顕微鏡などにより、不良解析中の半導体チップ２に設けられたダミー回路３の発光を観察することによって、不良解析中の半導体チップ２を容易に、かつ短時間で確認することができる。 - 特許庁

To provide a negative resist composition which retains solubility in an alkali developer while improving dry etching resistance and resistance to an electron beam from a scanning electron microscope (SEM) and further has high resolution.例文帳に追加

ドライエッチング耐性および走査電子顕微鏡（ＳＥＭ）による電子線への耐性を向上させるとともにアルカリ現像液に対する溶解性を維持し、さらに高解像性を有するネガ型レジスト組成物を提供することを課題とする。 - 特許庁

A microscope control circuit 18 adjusts the amplification factor of the photodetector 15 so that the maximum levels of output signals from the amplifier 16 before and after the changeover of the characteristics are equalized when the changeover of the characteristics is indicated from an operator.例文帳に追加

顕微鏡制御回路１８は、その特性の切り換えがオペレータから指示されると、その切り換え前後における増幅器１６からの出力信号の最高レベルが等しくなるように、光検出器１５の増倍率を調整する。 - 特許庁

To learn states of parts with high commonality of the whole tumor and the whole tumor in detail by micro analysis of a tumor and analysis by paring the parts and to provide an analytic method by an analytic microscope.例文帳に追加

腫瘍のミクロなかつ腫瘍全体での共通性の高い部分を対とした解析により、その部分の状態および腫瘍全体を詳細に知ろうとするもので、解析的顕微鏡による解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a photomask that can accurately control a focus at a desired position within the photomask face in a transfer simulation of a photomask using a lithographic simulation microscope, and to provide a transfer simulation method on a photomask.例文帳に追加

リソグラフィシミュレーション顕微鏡を用いたフォトマスクの転写シュミレーションにおいて、フォトマスク面内の任意の箇所でフォーカスを正確に制御することができるフォトマスクと、フォトマスクの転写シュミレーション方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which can effectively detect ions excited by primary electrons, reflecting electrons, secondary electrons generated due to bias electrode electric field or the like to obtain an absorption current.例文帳に追加

一次電子励起のイオンや反射電子励起のイオン、バイアス電極電界により生じた二次電子励起のイオンなどのイオンを効率よく検出し、吸収電流を得ることができる走査電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

As for the lenses 2 and 3, either the lens for visible light 3 for visible light observation or the lens for ultraviolet light 2 for ultraviolet light observation is selectively arranged in the detection optical path of the microscope.例文帳に追加

対物レンズ２，３は、可視光観察のための可視光用対物レンズ３および紫外光観察のための紫外光用対物レンズ２のいずれか一方が、前記顕微鏡の検出光路中に選択的に配置される。 - 特許庁

The light released by the illumination light source 11 for alignment is guided to an alignment light exit section 13 for darkfield illumination across an optical fiber 14 and irradiates a work mark WAM from outside the optical path of the imaging system of the alignment microscope 1.例文帳に追加

アライメント用照明光源１１が放出する光は、光ファイバ１４を介して暗視野照明用アライメント光出射部１３に導かれ、アライメント顕微鏡１の結像系の光路外からワークマークＷＡＭを照明する。 - 特許庁

Out of various parameters which are required in an image processing process, those which are easily understood by an operator are inputted from a control system or an adjoining terminal of a scanning type microscope, and then the remaining parameters are made automatically optimized.例文帳に追加

走査型顕微鏡の制御系ないし隣接する端末から画像処理工程で必要になる各種パラメータのうち操作者に理解しやすいものを入力すると、残りのパラメータが自動的に最適化されるようにする。 - 特許庁

A microscope (detecting means) 10 observes a polarization holding optical fiber 1 in a direction parallel to an irradiation direction of refractive index varying exciting light A and a computer 18 finds the bearing of the optical fiber 1 according to the observed image.例文帳に追加

顕微鏡（検出手段）１０は、屈折率変化誘起光Ａの照射方向と平行な方向から偏波保持光ファイバ１を観察し、コンピュータ１８は、この観察像に基づいて偏波保持光ファイバ１の方位を求める。 - 特許庁