「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(160ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an electronic imaging apparatus wherein a change in color reproduction and a sense of edge emphasis is less even when the gamma characteristic is changed and deterioration in the S/N due to edge emphasis is less and to provide a microscope system employing the electronic imaging apparatus.例文帳に追加

γ特性を変化させても色再現、エッジ強調感の変化が少なく、エッジ強調によるＳ／Ｎの低下が少ない電子的撮像装置及びその電子的撮像装置を使用する顕微鏡システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

The subject method for observing the biological blood flow is to observe the image of the blood vessel of a micro-circulation system underneath the mucous membrane of an oral cavity by a PC or a TV monitor via the mucous membrane of the oral cavity by magnifying and displaying by a simple reflection illumination type optical microscope system having a magnification of more than 100.例文帳に追加

口腔の粘膜を介して、その下にある微小循環系の血管の像を１００倍以上の倍率を持つ反射照明方式の単純な光学顕微鏡システムで拡大表示してＰＣ或いはＴＶモニターで見る。 - 特許庁

A second verification execution part 35 causes a microscope image of the piece determined to be non-defective at the first verification to be displayed in parallel with the device image, and causes a quality determination result made by the inspector to be stored as a second verification result in the storage part 31.例文帳に追加

第２のベリファイ実行部３５は、第１のベリファイで良品と判定されたピースの顕微鏡画像と検査装置画像を並行表示させ、検査員による良否判定結果を第２のベリファイの結果として記憶部３１に格納する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus, a method and a program for a microscope that can perform securer correction processing by deterring improper coloration due to specification of a wrong corrected position in white balance correction or black balance correction of an observed image.例文帳に追加

観察画像のホワイトバランス補正またはブラックバランス補正において、誤った補正部位の指定に起因する不適切な着色を抑止し、より確実に補正処理を行なうことができる顕微鏡用撮像装置、方法、プログラムを提供すること。 - 特許庁

Three to five kinds of different defocuses are generated by switching the shape of a changeable mirror 7 in the confocal microscope (system) to change it, and then the height of the object is determined by confocal output intensity in respective condition.例文帳に追加

ここでは共焦点顕微鏡（システム）内の可変鏡７の形状を切り替えて変化させることにより３から５種類の異なったデフォーカス発生させ、それぞれの状態における共焦点出力強度より物体の高さを決定している。 - 特許庁

A observation device 1A includes: partial reflection mirrors 2, 3 arranged coaxially; and an optical microscope 19 for detecting light beams emitted from object points on a hologram surface 21a and a photodetector surface 22a through the partial reflection mirrors 2, 3.例文帳に追加

観察装置１Ａは、同軸上に配置された部分反射ミラー２，３と、部分反射ミラー２，３を経由して、ホログラム面２１ａおよび光検出器面２２ａ上の物点から発せられた光線を検出する光学顕微鏡１９とを備える。 - 特許庁

To provide a method for detecting microscopic sample dispersed widely on substrate, in a short time, and to provide a method for surely moving the sample to any little position on the substrate, by using probe of the scanning probe microscope with little damage on the probe/sample.例文帳に追加

基板上に広く分散した微細な試料を短時間に発見する方法と、その試料を、走査型プローブ顕微鏡の探針により前記基板の任意の位置に、探針・試料のダメージが少なく、確実に移動させる方法を提供すること。 - 特許庁

The optical device having a light source, in particular a laser light source and a cut-off device (1) for the light beam (2) from the light source, in particular a laser scanning microscope, has a means (3) of monitoring the operation state of the cutoff device (1) in the cut-off device (1).例文帳に追加

光源、とりわけレーザ光源、及び該光源の光線（２）に対する遮断装置（１）を有する光学装置、とりわけレーザスキャニング顕微鏡は、該遮断装置（１）の作動状態を監視するための手段（３）が、該遮断装置（１）に配されている。 - 特許庁

To provide a SQUID for suppressing the filling amount of a cryogen for cooling a SQUID sensor, a biomagnetism measuring instrument, a magnetoencephalograph, a magnetocardiograph, SQUID magnetic searching equipment, a SQUID microscope, and a SQUID metal detector.例文帳に追加

ＳＱＵＩＤセンサ冷却用の寒剤の充填量を抑えることができるＳＱＵＩＤ装置、生体磁気計測装置、脳磁計、心磁計、ＳＱＵＩＤ磁気探傷装置、ＳＱＵＩＤ顕微鏡及びＳＱＵＩＤ金属探知器を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning microscope which is capable of adapting the image formation of the illumination rays and rotating point of a ray deflector to the axial position of a pupil for various objective lenses and illumination wavelengths and a method for scanning a target.例文帳に追加

様々な対物レンズ及び照明波長のためのひとみの軸方向位置に対して光線偏向装置の照明光線・回転点の結像を適合することが可能である、走査顕微鏡、及び、目標物を走査するための方法を提案する - 特許庁

In the piezoelectric power generating element formed by arranging a piezoelectric ceramics layer on a substrate, the piezoelectric ceramics layer is formed of ceramics in the range of a grain diameter of ≥0.01 μm and ≤0.1 μm by scanning electron microscope observation.例文帳に追加

基板上に圧電セラミックス層を配置してなる圧電発電素子において、前記圧電セラミックス層が走査型電子顕微鏡観察により粒径０．０１μｍ以上、０．１μｍ以下の範囲のセラミックスで形成されていることを特徴とする。 - 特許庁

This sampling apparatus used in preparing samples for transmission electron microscope observation by a focused ion beam processing apparatus includes a probe which can rotate which its shaft being as an axis of rotation and a rotating means for rotating the probe.例文帳に追加

また、集束イオンビーム加工装置による透過電子顕微鏡観察用試料作製に用いるサンプリング装置は、プローブの軸を回転軸とする回転が可能なプローブと、その回転を行うための回転手段とを備えることを特徴とする。 - 特許庁

When the work mark exists inside the visual field of at least either of the two alignment microscopes, the work W is rotated and moved so as to make the other work mark enter inside the visual field of the other microscope.例文帳に追加

そして、２個のアライメント顕微鏡のうちの少なくとも一つの顕微鏡の視野内にワークマークＷＡＭが入っている場合には他方の顕微鏡の視野内に他方のワークマークＷＡＭが入るようにワークＷを回転・移動させる。 - 特許庁

In the focus correcting method for a microscope that automatically focuses an observation optical system by using a focus error signal obtained by a focus error detection optical system, focusing is applied by correcting warpage of an observation well plate.例文帳に追加

焦点誤差検出光学系により得られる焦点誤差信号を用いて観察光学系の自動合焦を行う顕微鏡の合焦を補正する方法であって、観察用ウェルプレートのたわみを補正して、焦点を合わせることを特徴とする。 - 特許庁

To provide an electron microscope allowing anyone to easily set a beam shower mode with optimum conditions and return each parameter to an original analysis mode or observation mode correctly in a short time after a beam shower operation finishes.例文帳に追加

ビームシャワーモードの設定を誰もが最適な条件で簡単に行なうことができ、また、ビームシャワー動作が終了した後には、電子顕微鏡の各パラメータを元の分析や観察のモードに短時間に正確に戻すことができる電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

Then, before actually exposing the pattern of a reticle R onto the wafer W, is the pattern of the reticle R is illuminated with an EUV beam EL to measure a latent image formed on the resist subjected to silylation with the atomic force microscope(AFM).例文帳に追加

そして、レチクルＲのパターンをウエハＷ上に本露光するに先立って、レチクルＲのパターンをＥＵＶ光ＥＬで照明することによってシリル化レジストに形成された潜像を、原子間力顕微鏡ＡＦＭで計測する構成とした。 - 特許庁

An atomic force microscope with a probe in its light condensing system is installed in the cathode luminescence composite device which detects light from a sample irradiated by a electron beam.例文帳に追加

試料に電子線を照射して、その電子線照射により試料から発生した光を検出するカソードルミネッセンス装置において、集光システムとして探針をプローブとする原子間力顕微鏡を設けたことを特徴とするカソードルミネッセンス複合装置。 - 特許庁

To provide an inspection microscope or the like that does not make an objective lens collide with a glass substrate, even in focusing by a manual operation when inspection is performed using a sample or the like for evaluation thicker than a substrate to be usually inspected.例文帳に追加

通常検査する基板等よりも厚い、例えば評価用サンプル等を用いて検査を行なう際の手動による操作でのフォーカス合わせにおいても、対物レンズをガラス基板に衝突させることがない検査顕微鏡等を提供すること。 - 特許庁

Diffraction lines attributed to metallic Si and Si compound cannot be detected in the texture structure by the pattern analysis by X-ray diffraction method and granular texture is unrecognizable by the observation with a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

また、その組織構造は、Ｘ線回折法によるパターン解析により金属Ｓｉ及びＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM)の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope for highly efficiently and highly accurately correcting differences in electron energy-loss spectra between measuring positions on electron energy-loss spectral images formed of two axes of the amount of an energy loss and measuring position information.例文帳に追加

エネルギー損失量と測定位置情報の二軸で形成される電子エネルギー損失スペクトル像について、各測定位置間での電子エネルギー損失スペクトルの相違点を高効率かつ高精度に補正する透過型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Particles influencing transfer are cleanly and absolutely removed from a photomask by using dynamic or electromagnetic interaction or chemical reaction between the probe 2 of a scanning probe microscope having high positioning accuracy and the particle 1 on the photomask.例文帳に追加

高い位置決め精度を有する走査プローブ顕微鏡の探針2とフォトマスク上のパーティクル1間の力学的・電磁気学的な相互作用または化学反応を利用して転写に影響を与えるパーティクルをフォトマスク上からクリーンかつ確実に除去する。 - 特許庁

This stereomicroscope inclines the body tubes of the microscope incorporating coaxial vertical illumination in order to obtain the stereoscopic images at the same angle of both opposite surfaces and binocularly views the images formed by receiving the halation images created by both with the each other's microscopes.例文帳に追加

立体像を得るために、同軸落射照明を取り入れた顕微鏡の鏡筒を双方対面の同角度で傾け双方でつくられるハレーション像を、相互の顕微鏡で受像し互いに受像した像を双眼で見る立体顕微鏡。 - 特許庁

A system and method of generating a phase contrast microscope images without interfering with the intensity and optical quality of other microscopy modalities employ wavelength-specific illumination and attenuation strategies for phase microscopy applications.例文帳に追加

強度および他の顕微鏡検査様式の光学的な質を阻害することなく位相差顕微鏡画像を生成するシステムおよび方法は、位相顕微鏡検査適用のための波長特異的な照明ストラテジーおよび減衰ストラテジーを用いる。 - 特許庁

To provide a microscope for surgical operations whose endoscopic image can be made smaller and movable for orientation procedure and endoscopic observation of an entire image, not disturbing the endoscopic orientation procedure under microscopic observations.例文帳に追加

内視鏡観察において、オリエンテーション操作時は、内視鏡画像を小さくし、かつ移動可能とし、顕微鏡観察下で内視鏡の位置操作を行なう際に、邪魔にならず、かつ画像全体も観察できる手術用顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

When coating osmium on a metal plate 16, such as an iris plate of an electron microscope as a metal plate in which micropores are made, hydrogen gas is added in addition to sublimation gas, consisting of osmium oxide using the plasma excitation chemical vapor phase deposition method.例文帳に追加

例えば微小な孔を空けた金属板である電子顕微鏡の絞りプレート等の金属板１６にオスミウムのコーティングを施す際に、プラズマ励起化学気相堆積法において、酸化オスミウムからなる昇華ガスに加えて水素ガスを添加する。 - 特許庁

In the scanning electron microscope wherein the condenser lens is formed by the permanent magnet as an embodiment of the invention, a mechanism capable of varying a distance between an electron source and an anode electrode is arranged.例文帳に追加

上記目的を解決するために、本発明の一実施態様は、コンデンサレンズが永久磁石により構成されている走査電子顕微鏡において、電子源とアノード電極との間の距離を可変可能とする機構を設けたことを特徴とする。 - 特許庁

At the forward end part of a probe 2 in the scanning probe microscope, a carbon nanotube 3 having a conductive armchair type crystal structure or a carbon nanotube 3 having a forward end part modified chemically with a specified modifier molecule is provided.例文帳に追加

本発明の走査型プローブ顕微鏡における探針２の先端部分に、伝導性のアームチェア型結晶構造を有するカーボンナノチューブ３、又は先端部分が所定の修飾分子で化学的に修飾されたカーボンナノチューブ３を設ける。 - 特許庁

To provide a light quantity adjusting mechanism which has a simple constitution, is low in cost and can conduct continuous light control and to provide an illumination unit having the mechanism and a microscope having the mechanism or the unit having the mechanism.例文帳に追加

簡素な構成、かつ、低コストで、連続的な調光を行うことのできる光量調節機構、それを備えた照明ユニット、及び光量調節機構、又は光量調節機構を備えた照明ユニットを備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To obtain a scanning probe microscope capable of expanding a measuring range in the measurement of a sample of which the surface irregularities are severe and capable of measuring accurate physical characteristics not affected by the unstable deformation of the leading end of the laser reflecting surface of a cantilever.例文帳に追加

表面凹凸の激しい試料の測定において測定範囲を広げること および カンチレバーのレーザ反射面先端の不安定変形の影響の無い正確な物理特性を測定可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To prevent degradation in read sensitivity of an image reader which can be used in common to a chemical luminous image detection system, a system of detecting an image by an electronic microscope, a radiation diffracted image detection system, and a fluorescent image detection system.例文帳に追加

化学発光画像検出システム、電子顕微鏡による画像検出システムおよび放射線回折画像検出システムと、蛍光画像検出システムに共通して使用することのできる画像読取装置において読取感度の低下を防止する。 - 特許庁

As shown in an electron microscope photograph (A), in this state, columnar crystals of small column diameters are mixed among columnar crystals of large column diameters, and the columnar crystals of small column diameters are filled into gaps among the columnar crystals of large column diameters.例文帳に追加

電子顕微鏡写真（Ａ）に見られるように、大きな柱径の柱状結晶の間に小さい柱径の柱状結晶を混在させ、大きな柱径の柱状結晶の間を柱径の小さい柱状結晶が埋めたような状態とする。 - 特許庁

The digital camera 2 for microscope having a sleep function comprises a camera head 8 performing image pick-up, and an operating section 11 controls to make a transition to the sleep state or not to make a transition to the sleep state based on an image picked up by means of the camera head 8.例文帳に追加

スリープ機能を有する顕微鏡用デジタルカメラ２であって、撮像を行うカメラヘッド８を備え、操作部１１は、カメラヘッド８により撮像された画像に基づいてスリープ状態へ移行する或いは移行しないように制御する。 - 特許庁

In this confocal optical scanner mounted in a microscope, a branching mechanism to the right and left eyepieces of both the eyes and pupil distance adjusting mechanism are arranged in an infinity-coupled type relay optical system which transmits confocal image to the eyepiece or to a camera.例文帳に追加

顕微鏡に搭載する共焦点光スキャナにおいて、共焦点像を接眼レンズまたはカメラへ伝達する無限遠結合形リレー光学系内に、双眼の左右の接眼レンズへの分岐機構と眼幅調整機構を配置する。 - 特許庁

A surface of a sample placed on a sample table 15 of an atomic force microscope and a probe provided on an end of a cantilever are brought close to each other and surface data of the sample are obtained based on an elastic deformation of the cantilever caused by interatomic force produced between the two.例文帳に追加

原子間力顕微鏡の試料台上に載置された試料表面とカンチレバー先端に設けられた探針とを近接させて両者間の原子間力によるカンチレバーの弾性変形に基づいて試料の表面情報を得る。 - 特許庁

To provide a microscope control device and a method for determining a processing range capable of disposing an observation object within a detectable range of a defocus amount at a high speed in a defocus amount detecting process using a phase difference optical system.例文帳に追加

位相差光学系を用いたデフォーカス量検出処理において、デフォーカス量の検出可能範囲内に観察対象をより高速に配置することが可能な顕微鏡制御装置及び処理範囲決定方法を提供すること。 - 特許庁

In this case, it is set that the area occupancy of the alumina to be calculated from a visual field image by observing the surface of the magnetic layer by a scanning electron microscope is 0.3 to 1.0% and the standard deviation of the spatial distribution of alumina is three or less.例文帳に追加

その場合に、磁性層の表面を走査型電子顕微鏡により観察した視野像から求められる、アルミナの面積占有率が０．３〜１．０％で、かつその空間分布の標準偏差が３以下となるように設定する。 - 特許庁

To allow application favorable for micro-sampling carried out by sampling, for example, 50 μm or less of sample, in combination of a stereoscopic microscope/a CCD camera and a monitor/a micro-manipulator/an ultra-micro- knife.例文帳に追加

実体顕微鏡・ＣＣＤカメラ及びモニター・マイクロマニピュレーター・超マイクロナイフの組み合わせで、例えば５０μｍ以下のサンプルを採取して行うマイクロサンプリングに好ましく適用されるマイクロサンプリングシステム、装置及び分析法並びにマイクロナイフを提供する。 - 特許庁

To provide an immersion system microscope objective which has magnifying power of about 40, a numerical aperture(NA) of about 1.2, an image plane with a good flat characteristics and can correct the variations of aberrations caused by the change of the thickness of a cover glass, etc., by using a fluorescence optical glass.例文帳に追加

蛍光用硝材を用いても、倍率が４０倍程度で、開口数（ＮＡ）が１．２程度で、像面の平坦性が良好で、カバーガラスの厚さの変化などに起因する諸収差の変動を補正することのできる液浸系顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁

This microscope optical system is constituted of the low magnifying power observation optical system 2 with performing observation from the upper direction of a sample 1, an illuminating optical system 3, and the high magnifying power observation optical system 4 performing observation from the lower direction of the sample 1.例文帳に追加

本発明の顕微鏡光学系は、標本１の上方向から観察する低倍率の観察光学系２と、照明光学系３と、標本１の下方向から観察する高倍率の観察光学系４とにより構成している。 - 特許庁

To provide an otological microscope which is excellent in the facility and certainty of posture control, suitably used for, especially, an outpatient service where subjects are frequently exchanged, and easily changed for right-handed use and left-handed use.例文帳に追加

姿勢制御の容易性及び確実性に優れ、特に被検者が頻繁に入れ替わる外来診察に好適に用いられ、さらに右利き用及び左利き用への改変が容易な耳鼻科用顕微鏡装置の提供を目的とするものである。 - 特許庁

To provide a method for controlling the probe in a scanning probe microscope that properly controls the twisted condition of the probe that is caused from a reaction force, applied from the inclination portion of unevenness on the surface of a sample to the top end of the probe.例文帳に追加

試料表面の凹凸の傾斜部から探針先端に加わる反力に起因して生じる探針の捩れ状態を適切に制御して計測データの誤差を低減する走査型プローブ顕微鏡の探針制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a DLP type evanescence microscope capable of generating evanescent light by control of a DMD in order to attain efficient use of irradiation light, precision of a generation point, simple control and easy switching to other lighting system.例文帳に追加

照射光の効率的な利用，発生位置の精度，簡易な制御，他の照明方式にも容易に切替え可能にするため、ＤＭＤの制御によってエバネッセント光を発生させることができるＤＬＰ式エバネッセンス顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and method capable of easily searching for defects when reviewing the defects detected from the plane to be inspected of a body to be inspected such as a semiconductor wafer by an observing device such as a scanning microscope.例文帳に追加

半導体ウェーハ等の被検査体の被検査面から検出した欠陥を走査型顕微鏡等の観察装置によってレビューする際に欠陥の探索を容易に行うことができる欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

This mesh for the transmission electron microscope has a sample supporting surface, and includes a support having one or a plurality of opening parts, and a protecting member disposed on the sample supporting surface side of the support, and equipped with one or a plurality of opening parts.例文帳に追加

試料支持面を有し、１つまたは複数の開口部を有する支持体と；該支持体の試料支持面側に配置され、１つまたは複数の開口部を有する保護部材とを含むことを特徴とする透過電子顕微鏡用メッシュ。 - 特許庁

P&M worked to use the haptic (tactile senor) technologies developed by Nihon University to develop medical devices with sensors that approximate the sensation of the human hand, and successfully commercialized a scanning haptic microscope that measures the hardness and irregularity of biological tissue. 例文帳に追加

日本大学が開発した触覚（ハプティック）技術を活かして、人間の手の感覚に近いセンサーを搭載した医療機器等の開発に取り組み、生体組織の硬度や凹凸を測定する走査型ハプティック顕微鏡の実用化に成功した。 - 経済産業省