「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(160ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a microscope using at least one or more motor-driving parts, and capable of preventing the motor-driving part from driving because an observer inadvertently depressing an operation part without using an expensive PC system or a liquid crystal display part or the like.例文帳に追加

少なくとも１つ以上の電動駆動部を用いた顕微鏡において、高価なＰＣシステムや液晶などの表示部を用いず、観察者が誤って操作部を押すことで電動部が駆動してしまうことが無い顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

This microscope is composed of photographing optical systems 1, 2, 3, 4L and 4R for taking left and right pictures having parallax and ocular optical systems 7L, 7R, 8L, 8R, 9 and 11 observing the pictures by left and right eyes 12L and 12R by displaying the pictures on picture display means 6R, 6M and 6L.例文帳に追加

左右の視差のある画像を撮影する撮影光学系１，２，３，４Ｌ，４Ｒと、その画像を画像表示手段６Ｒ，６Ｍ，６Ｌに表示して左右の目１２Ｌ，１２Ｒで観察する接眼光学系７Ｌ，７Ｒ，８Ｌ，８Ｒ，９，１１から成っている。 - 特許庁

To provide a measuring method/means which can measure a shape of an arbitrary pattern such as surrounded by non parallel lines when a pattern length is to be measured with the use of display image information of a scanning microscope or the like and which prevents personal differences and errors for each measurement.例文帳に追加

走査型顕微鏡等のディスプレイ画像情報を用いたパターン測長において非平行線で囲まれたような任意パターンの形状測定が可能で、個人差や測定毎の誤差が出にくい測定手法／手段を提供する。 - 特許庁

The focusing part 5 has a focusing handle 6 for moving itself to the focusing part moving mechanism 3, a power conversion part 7 for varying the power of the microscope, and a power varying handle 8 for varying the power of the power conversion part 7.例文帳に追加

焦準部５は、それ自体を焦準部移動機構３に対して移動させるための焦準ハンドル６と、顕微鏡の倍率を変更するための倍率変換部７と、倍率変換部７の倍率を変更するための変倍ハンドル８とを有している。 - 特許庁

To properly provide information about the inside of a visual field necessary for a surgeon or its assistant and to provide a surgical microscope device facilitating surger for securing an objective microscopic visual field during the surgery.例文帳に追加

本発明は、術者あるいは助手などに必要な視野内情報を適切に提供し、また、術中、目的の顕微鏡視野を確保する操作を簡便に行うことができる手術用顕微鏡装置を提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

To provide a light detection method and device, capable of detecting light to be detected with high sensitivity, even if the light to be detected is scattered light or light disturbed in wave front, and to provide a living body observing method, a microscope and an endoscope.例文帳に追加

被検出光が、散乱光や波面の乱れた光であっても、高感度かつ高感度に検出することができる光検出方法および光検出装置、並びに、生体観察方法、顕微鏡および内視鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a laser scanning type microscope capable of moving only the focused position of an observation laser beam while keeping a state where an operation laser beam is focused on the same position on a sample, and a microscopic observation method.例文帳に追加

標本内の同じ位置に操作用レーザ光を合焦させた状態を維持しながら観察用レーザ光の合焦位置のみを移動させることのできるレーザ走査型顕微鏡および顕微鏡観察方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A half mirror 41 is provided on an optical path between a beam expander 12 provided in a confocal microscope and a light source 2 generating a laser beam L to thereby divide the laser beam L into a laser beam L1 being illuminating light and a laser beam L2 being inspecting light.例文帳に追加

共焦点顕微鏡に設けられたビームエキスパンダ１２とレーザ光Ｌを発生する光源２との間の光路上にハーフミラー４１を設けて、レーザ光Ｌを照明光であるレーザ光Ｌ１と検査光であるレーザ光Ｌ２とに分割する。 - 特許庁

To provide a microscope for operation capable of being driven substantially in an XY plane relative to a plane to be observed even when the mirror body is in any condition by constituting a visual field moving means capable of being driven around two tilted axes.例文帳に追加

２つの傾斜軸まわりに駆動可能な視野移動手段を構成することで、鏡体がどういった観察状態にあっても、観察面に対して略ＸＹ平面に駆動可能となる手術用顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

To provide a microscope which can suppress the occurrence of flares caused by the intermediate optical system (e.g. a variable magnification optical system) provided between the objective lens and the focusing lens and can make the sample illuminating direction coincide with the observation direction.例文帳に追加

対物レンズと結像レンズとの間に設けた中間光学系（例えば変倍光学系）に起因するフレアの発生を抑えることができ、かつ、標本に対する照明方向を観察方向と揃えることもできる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The electron beam control device for controlled use of an electron beam, such as an electron microscope or an electron beam aligner, comprises a magnetic sensor for measuring an externally influenced magnetic variation that influences a track of an electron beam.例文帳に追加

電子顕微鏡および電子ビーム露光装置等の、電子ビームを制御して利用する電子ビーム制御装置であって、電子ビームの飛跡に影響を及ぼす、外界からの影響による磁気変動量を測定するための磁気センサーを備えている。 - 特許庁

To provide a microscope equipped with an optical element provided with an antireflection film having high antireflection performance in a wide band from an ultraviolet region to a visible region and further over an infrared region and having high transmittance, and also to provide an imaging apparatus used therefor.例文帳に追加

紫外域から可視域、さらには赤外域にわたる広帯域で高い反射防止性能を有した反射防止膜を設けた高い透過率を有する光学素子を備えた顕微鏡及びこれに用いられる撮像装置を提供する。 - 特許庁

An atomic force microscope with a probe in its light condensing system is installed in the cathode luminescence composite device which detects light from a sample irradiated by a electron beam.例文帳に追加

試料に電子線を照射して、その電子線照射により試料から発生した光を検出するカソードルミネッセンス装置において、集光システムとして探針をプローブとする原子間力顕微鏡を設けたことを特徴とするカソードルミネッセンス複合装置。 - 特許庁

To provide a SQUID for suppressing the filling amount of a cryogen for cooling a SQUID sensor, a biomagnetism measuring instrument, a magnetoencephalograph, a magnetocardiograph, SQUID magnetic searching equipment, a SQUID microscope, and a SQUID metal detector.例文帳に追加

ＳＱＵＩＤセンサ冷却用の寒剤の充填量を抑えることができるＳＱＵＩＤ装置、生体磁気計測装置、脳磁計、心磁計、ＳＱＵＩＤ磁気探傷装置、ＳＱＵＩＤ顕微鏡及びＳＱＵＩＤ金属探知器を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning microscope which is capable of adapting the image formation of the illumination rays and rotating point of a ray deflector to the axial position of a pupil for various objective lenses and illumination wavelengths and a method for scanning a target.例文帳に追加

様々な対物レンズ及び照明波長のためのひとみの軸方向位置に対して光線偏向装置の照明光線・回転点の結像を適合することが可能である、走査顕微鏡、及び、目標物を走査するための方法を提案する - 特許庁

In the piezoelectric power generating element formed by arranging a piezoelectric ceramics layer on a substrate, the piezoelectric ceramics layer is formed of ceramics in the range of a grain diameter of ≥0.01 μm and ≤0.1 μm by scanning electron microscope observation.例文帳に追加

基板上に圧電セラミックス層を配置してなる圧電発電素子において、前記圧電セラミックス層が走査型電子顕微鏡観察により粒径０．０１μｍ以上、０．１μｍ以下の範囲のセラミックスで形成されていることを特徴とする。 - 特許庁

This sampling apparatus used in preparing samples for transmission electron microscope observation by a focused ion beam processing apparatus includes a probe which can rotate which its shaft being as an axis of rotation and a rotating means for rotating the probe.例文帳に追加

また、集束イオンビーム加工装置による透過電子顕微鏡観察用試料作製に用いるサンプリング装置は、プローブの軸を回転軸とする回転が可能なプローブと、その回転を行うための回転手段とを備えることを特徴とする。 - 特許庁

When the work mark exists inside the visual field of at least either of the two alignment microscopes, the work W is rotated and moved so as to make the other work mark enter inside the visual field of the other microscope.例文帳に追加

そして、２個のアライメント顕微鏡のうちの少なくとも一つの顕微鏡の視野内にワークマークＷＡＭが入っている場合には他方の顕微鏡の視野内に他方のワークマークＷＡＭが入るようにワークＷを回転・移動させる。 - 特許庁

To provide an electron microscope allowing anyone to easily set a beam shower mode with optimum conditions and return each parameter to an original analysis mode or observation mode correctly in a short time after a beam shower operation finishes.例文帳に追加

ビームシャワーモードの設定を誰もが最適な条件で簡単に行なうことができ、また、ビームシャワー動作が終了した後には、電子顕微鏡の各パラメータを元の分析や観察のモードに短時間に正確に戻すことができる電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

Then, before actually exposing the pattern of a reticle R onto the wafer W, is the pattern of the reticle R is illuminated with an EUV beam EL to measure a latent image formed on the resist subjected to silylation with the atomic force microscope(AFM).例文帳に追加

そして、レチクルＲのパターンをウエハＷ上に本露光するに先立って、レチクルＲのパターンをＥＵＶ光ＥＬで照明することによってシリル化レジストに形成された潜像を、原子間力顕微鏡ＡＦＭで計測する構成とした。 - 特許庁

To provide an inspection microscope or the like that does not make an objective lens collide with a glass substrate, even in focusing by a manual operation when inspection is performed using a sample or the like for evaluation thicker than a substrate to be usually inspected.例文帳に追加

通常検査する基板等よりも厚い、例えば評価用サンプル等を用いて検査を行なう際の手動による操作でのフォーカス合わせにおいても、対物レンズをガラス基板に衝突させることがない検査顕微鏡等を提供すること。 - 特許庁

Diffraction lines attributed to metallic Si and Si compound cannot be detected in the texture structure by the pattern analysis by X-ray diffraction method and granular texture is unrecognizable by the observation with a transmission electron microscope(TEM).例文帳に追加

また、その組織構造は、Ｘ線回折法によるパターン解析により金属Ｓｉ及びＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM)の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁

Particles influencing transfer are cleanly and absolutely removed from a photomask by using dynamic or electromagnetic interaction or chemical reaction between the probe 2 of a scanning probe microscope having high positioning accuracy and the particle 1 on the photomask.例文帳に追加

高い位置決め精度を有する走査プローブ顕微鏡の探針2とフォトマスク上のパーティクル1間の力学的・電磁気学的な相互作用または化学反応を利用して転写に影響を与えるパーティクルをフォトマスク上からクリーンかつ確実に除去する。 - 特許庁

This stereomicroscope inclines the body tubes of the microscope incorporating coaxial vertical illumination in order to obtain the stereoscopic images at the same angle of both opposite surfaces and binocularly views the images formed by receiving the halation images created by both with the each other's microscopes.例文帳に追加

立体像を得るために、同軸落射照明を取り入れた顕微鏡の鏡筒を双方対面の同角度で傾け双方でつくられるハレーション像を、相互の顕微鏡で受像し互いに受像した像を双眼で見る立体顕微鏡。 - 特許庁

A system and method of generating a phase contrast microscope images without interfering with the intensity and optical quality of other microscopy modalities employ wavelength-specific illumination and attenuation strategies for phase microscopy applications.例文帳に追加

強度および他の顕微鏡検査様式の光学的な質を阻害することなく位相差顕微鏡画像を生成するシステムおよび方法は、位相顕微鏡検査適用のための波長特異的な照明ストラテジーおよび減衰ストラテジーを用いる。 - 特許庁

To provide a microscope for surgical operations whose endoscopic image can be made smaller and movable for orientation procedure and endoscopic observation of an entire image, not disturbing the endoscopic orientation procedure under microscopic observations.例文帳に追加

内視鏡観察において、オリエンテーション操作時は、内視鏡画像を小さくし、かつ移動可能とし、顕微鏡観察下で内視鏡の位置操作を行なう際に、邪魔にならず、かつ画像全体も観察できる手術用顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope for highly efficiently and highly accurately correcting differences in electron energy-loss spectra between measuring positions on electron energy-loss spectral images formed of two axes of the amount of an energy loss and measuring position information.例文帳に追加

エネルギー損失量と測定位置情報の二軸で形成される電子エネルギー損失スペクトル像について、各測定位置間での電子エネルギー損失スペクトルの相違点を高効率かつ高精度に補正する透過型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

When coating osmium on a metal plate 16, such as an iris plate of an electron microscope as a metal plate in which micropores are made, hydrogen gas is added in addition to sublimation gas, consisting of osmium oxide using the plasma excitation chemical vapor phase deposition method.例文帳に追加

例えば微小な孔を空けた金属板である電子顕微鏡の絞りプレート等の金属板１６にオスミウムのコーティングを施す際に、プラズマ励起化学気相堆積法において、酸化オスミウムからなる昇華ガスに加えて水素ガスを添加する。 - 特許庁

In the scanning electron microscope wherein the condenser lens is formed by the permanent magnet as an embodiment of the invention, a mechanism capable of varying a distance between an electron source and an anode electrode is arranged.例文帳に追加

上記目的を解決するために、本発明の一実施態様は、コンデンサレンズが永久磁石により構成されている走査電子顕微鏡において、電子源とアノード電極との間の距離を可変可能とする機構を設けたことを特徴とする。 - 特許庁

At the forward end part of a probe 2 in the scanning probe microscope, a carbon nanotube 3 having a conductive armchair type crystal structure or a carbon nanotube 3 having a forward end part modified chemically with a specified modifier molecule is provided.例文帳に追加

本発明の走査型プローブ顕微鏡における探針２の先端部分に、伝導性のアームチェア型結晶構造を有するカーボンナノチューブ３、又は先端部分が所定の修飾分子で化学的に修飾されたカーボンナノチューブ３を設ける。 - 特許庁

To prevent degradation in read sensitivity of an image reader which can be used in common to a chemical luminous image detection system, a system of detecting an image by an electronic microscope, a radiation diffracted image detection system, and a fluorescent image detection system.例文帳に追加

化学発光画像検出システム、電子顕微鏡による画像検出システムおよび放射線回折画像検出システムと、蛍光画像検出システムに共通して使用することのできる画像読取装置において読取感度の低下を防止する。 - 特許庁

The digital camera 2 for microscope having a sleep function comprises a camera head 8 performing image pick-up, and an operating section 11 controls to make a transition to the sleep state or not to make a transition to the sleep state based on an image picked up by means of the camera head 8.例文帳に追加

スリープ機能を有する顕微鏡用デジタルカメラ２であって、撮像を行うカメラヘッド８を備え、操作部１１は、カメラヘッド８により撮像された画像に基づいてスリープ状態へ移行する或いは移行しないように制御する。 - 特許庁

As shown in an electron microscope photograph (A), in this state, columnar crystals of small column diameters are mixed among columnar crystals of large column diameters, and the columnar crystals of small column diameters are filled into gaps among the columnar crystals of large column diameters.例文帳に追加

電子顕微鏡写真（Ａ）に見られるように、大きな柱径の柱状結晶の間に小さい柱径の柱状結晶を混在させ、大きな柱径の柱状結晶の間を柱径の小さい柱状結晶が埋めたような状態とする。 - 特許庁

To provide a light quantity adjusting mechanism which has a simple constitution, is low in cost and can conduct continuous light control and to provide an illumination unit having the mechanism and a microscope having the mechanism or the unit having the mechanism.例文帳に追加

簡素な構成、かつ、低コストで、連続的な調光を行うことのできる光量調節機構、それを備えた照明ユニット、及び光量調節機構、又は光量調節機構を備えた照明ユニットを備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To obtain a scanning probe microscope capable of expanding a measuring range in the measurement of a sample of which the surface irregularities are severe and capable of measuring accurate physical characteristics not affected by the unstable deformation of the leading end of the laser reflecting surface of a cantilever.例文帳に追加

表面凹凸の激しい試料の測定において測定範囲を広げること および カンチレバーのレーザ反射面先端の不安定変形の影響の無い正確な物理特性を測定可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In this confocal optical scanner mounted in a microscope, a branching mechanism to the right and left eyepieces of both the eyes and pupil distance adjusting mechanism are arranged in an infinity-coupled type relay optical system which transmits confocal image to the eyepiece or to a camera.例文帳に追加

顕微鏡に搭載する共焦点光スキャナにおいて、共焦点像を接眼レンズまたはカメラへ伝達する無限遠結合形リレー光学系内に、双眼の左右の接眼レンズへの分岐機構と眼幅調整機構を配置する。 - 特許庁

A surface of a sample placed on a sample table 15 of an atomic force microscope and a probe provided on an end of a cantilever are brought close to each other and surface data of the sample are obtained based on an elastic deformation of the cantilever caused by interatomic force produced between the two.例文帳に追加

原子間力顕微鏡の試料台上に載置された試料表面とカンチレバー先端に設けられた探針とを近接させて両者間の原子間力によるカンチレバーの弾性変形に基づいて試料の表面情報を得る。 - 特許庁

To provide a microscope control device and a method for determining a processing range capable of disposing an observation object within a detectable range of a defocus amount at a high speed in a defocus amount detecting process using a phase difference optical system.例文帳に追加

位相差光学系を用いたデフォーカス量検出処理において、デフォーカス量の検出可能範囲内に観察対象をより高速に配置することが可能な顕微鏡制御装置及び処理範囲決定方法を提供すること。 - 特許庁

In this case, it is set that the area occupancy of the alumina to be calculated from a visual field image by observing the surface of the magnetic layer by a scanning electron microscope is 0.3 to 1.0% and the standard deviation of the spatial distribution of alumina is three or less.例文帳に追加

その場合に、磁性層の表面を走査型電子顕微鏡により観察した視野像から求められる、アルミナの面積占有率が０．３〜１．０％で、かつその空間分布の標準偏差が３以下となるように設定する。 - 特許庁

To allow application favorable for micro-sampling carried out by sampling, for example, 50 μm or less of sample, in combination of a stereoscopic microscope/a CCD camera and a monitor/a micro-manipulator/an ultra-micro- knife.例文帳に追加

実体顕微鏡・ＣＣＤカメラ及びモニター・マイクロマニピュレーター・超マイクロナイフの組み合わせで、例えば５０μｍ以下のサンプルを採取して行うマイクロサンプリングに好ましく適用されるマイクロサンプリングシステム、装置及び分析法並びにマイクロナイフを提供する。 - 特許庁

To provide an immersion system microscope objective which has magnifying power of about 40, a numerical aperture(NA) of about 1.2, an image plane with a good flat characteristics and can correct the variations of aberrations caused by the change of the thickness of a cover glass, etc., by using a fluorescence optical glass.例文帳に追加

蛍光用硝材を用いても、倍率が４０倍程度で、開口数（ＮＡ）が１．２程度で、像面の平坦性が良好で、カバーガラスの厚さの変化などに起因する諸収差の変動を補正することのできる液浸系顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁

This microscope optical system is constituted of the low magnifying power observation optical system 2 with performing observation from the upper direction of a sample 1, an illuminating optical system 3, and the high magnifying power observation optical system 4 performing observation from the lower direction of the sample 1.例文帳に追加

本発明の顕微鏡光学系は、標本１の上方向から観察する低倍率の観察光学系２と、照明光学系３と、標本１の下方向から観察する高倍率の観察光学系４とにより構成している。 - 特許庁

To provide an otological microscope which is excellent in the facility and certainty of posture control, suitably used for, especially, an outpatient service where subjects are frequently exchanged, and easily changed for right-handed use and left-handed use.例文帳に追加

姿勢制御の容易性及び確実性に優れ、特に被検者が頻繁に入れ替わる外来診察に好適に用いられ、さらに右利き用及び左利き用への改変が容易な耳鼻科用顕微鏡装置の提供を目的とするものである。 - 特許庁

To provide a method for controlling the probe in a scanning probe microscope that properly controls the twisted condition of the probe that is caused from a reaction force, applied from the inclination portion of unevenness on the surface of a sample to the top end of the probe.例文帳に追加

試料表面の凹凸の傾斜部から探針先端に加わる反力に起因して生じる探針の捩れ状態を適切に制御して計測データの誤差を低減する走査型プローブ顕微鏡の探針制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a DLP type evanescence microscope capable of generating evanescent light by control of a DMD in order to attain efficient use of irradiation light, precision of a generation point, simple control and easy switching to other lighting system.例文帳に追加

照射光の効率的な利用，発生位置の精度，簡易な制御，他の照明方式にも容易に切替え可能にするため、ＤＭＤの制御によってエバネッセント光を発生させることができるＤＬＰ式エバネッセンス顕微鏡を提供する。 - 特許庁