「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(163ページ目) - Weblio英語例文検索

A laser oscillating means 2 radiates a laser beam in the optical axis direction of a tested lens 1 to the tested lens 1, and an image of the laser beam transmitted through the tested lens 1 and focused on a cover glass 5 is expanded by means of a microscope 6 so as to be converted into an image signal by means of a camera 7.例文帳に追加

レーザー発振手段２は被検レンズ１の光軸方向から被検レンズ１にレーザー光を照射し、被検レンズ１を透過したレーザー光がカバーガラス５にて集光した像を顕微鏡６で拡大しカメラ７にて映像信号に変換する。 - 特許庁

This operation microscope system is provided with a controller A33 disposed with push button switches 53 and 54 in an armrest L30 on which the left hand (arm) of an operator 21 is mounted and a controller B34 disposed with push button switches 53 and 54 on an armrest R31 on which the right hand (arm) of the operator is mounted.例文帳に追加

術者２１の左手（腕）の載置されるアームレストＬ３０に押しボタンスイッチ５３，５４を配したコントローラＡ３３を設け、術者の右手（腕）の載置されるアームレストＲ３１に押しボタンスイッチ５３，５４を配したコントローラＢ３４を設けて構成したものである。 - 特許庁

By overlapping an image A of an optical microscope 2 for observing the package 1 and that B of an X-ray fluoroscope 3 for observing the package 1 through using an image processor 4 to display their images on a monitor system 5, a region required for seal breaking can be determined.例文帳に追加

パッケージ１を観察する光学顕微鏡２の画像Ａと、パッケージ１を観察するＸ線透過装置３の画像Ｂとを、画像処理装置４によって重ね合わせしてモニター装置５に表示し、開封処理に要求される領域を確認できる。 - 特許庁

A plurality of frame images extracted from a dynamic image taken from a phase-contrast microscope are subjected as pre-processing to differential processing for background deletion, binarization processing for converting a density image into a binary image, and reducing and enlarging processing of an image for noise removal.例文帳に追加

位相差顕微鏡から取り込まれる動画像中から抽出した複数のフレーム画像は、背景消去用の差分処理、濃淡画像を二値画像に変換する二値化処理、ノイズ除去のための画像の収縮膨張処理が、前処理としてなされる。 - 特許庁

To provide an imaging tool by which the same image pickup as the one by a general purpose video camera and magnification imaging at high magnification like the one by a "video microscope" can be easily properly chosen according to need while making the effective use of easy magnification change by a zoom function.例文帳に追加

ズーム機能による手軽な倍率変更を有効に活かしつつ、汎用的なビデオカメラにおけると同様な撮像と“ビデオ顕微鏡”におけるような高倍率での拡大撮像を必要に応じて手軽に使い分けることができる撮像具の提供。 - 特許庁

To provide a cantilever for a scan type probe microscope having a supporting part with less eclipse of a lever displacement detecting laser beam, a lever part with a good film thickness controlling property, and a probe part with high sharpness or low wearability for its point and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

レバー変位検出用レーザー光のけられの少ない支持部と、膜厚制御性のよいレバー部と、先端の尖鋭度が高いか若しくは磨耗性の低い探針部を備えた走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a fluorescence detection device, a contrast information correction method, a contrast information correction program, and a scanning type confocal laser microscope capable of correcting deterioration of the contrast information (brightness information) by brown of a fluorescent pigment dying a sample.例文帳に追加

試料を染色している蛍光色素の褪色による濃淡情報（輝度情報）の劣化を補正することが可能な蛍光検出装置、濃淡情報補正方法、濃淡情報補正プログラムおよび走査型共焦点レーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a diamond electron source and its manufacturing method wherein one sharp-pointed section as an electron emission point for use in an electron beam device such as an electron microscope is formed at one end of a columnar diamond single crystal having a size where resist coating is difficult in a microfabrication process.例文帳に追加

電子顕微鏡などの電子線機器に用いられる電子放射点として、微細加工プロセスにおいてレジスト塗布が困難なサイズの柱状ダイヤモンド単結晶の片端に、一ヶ所の先鋭部を形成したダイヤモンド電子源及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a sample which can form at once a large quantity of thin piece samples for a crystal defect observing transmission electron microscope in the silicon crystal and which can be simply manufactured in a wide area and to provide the thin piece sample.例文帳に追加

シリコン結晶中の結晶欠陥観察用透過型電子顕微鏡用の薄片試料を、一度に大量に作成することができるとともに簡便に広い面積で作製することを可能とした試料作製方法及び薄片試料を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of optimally and accurately removing static electricity in a short time and measuring and inspecting samples by stable operation without having to interrupt the approximation of a probe even if the samples are charged in an inline automatic inspection process of wafers etc.例文帳に追加

ウェハ等のインライン自動検査工程でたとえ試料が帯電していたとしても、短時間で最適にかつ正確に除電し、探針の接近を中断することなく、安定した動作で測定・検査を行える走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a wafer-working method/apparatus for efficiently working a wafer, by measuring a surface shape by an inter-atom force microscope, without having to clean the wafer polished by CMP and cleaning the wafer.例文帳に追加

本発明は、ＣＭＰで研磨されたウェーハを、洗浄することなく原子間力顕微鏡で表面形状を測定し、この後にウェーハを洗浄することにより、効率よくウェーハを加工することができるウェーハ加工方法及びその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a container for cell culture enabling microscope observation of the interior of a stored partition from the lower direction of the bottom also in a method for use of cell culture in a small amount of culture medium like a micro drop method.例文帳に追加

マイクロドロップ法のように少量の培養液中での細胞培養を目的とした使用方法においても、収容区画内を底部下方から顕微鏡観察が可能であり、容器内部を無駄なく区画して使用できる細胞培養用容器を提供する。 - 特許庁

Further, the cross section of the monofilament can be distinguished between two layers of a sheath layer and core layer on being observed by an optical microscope, and the ratio R (%) of the mean diameter r_2 of the core layer to the fiber cross sectional diameter r_1 is ≤90%.例文帳に追加

さらに、前記モノフィラメント繊維の断面が、光学顕微鏡によって観察した際に、シース層とコア層の二層に識別可能であり、コア層の平均直径ｒ_２の繊維断面直径ｒ_１に対する比率Ｒ（％）が９０％以下であるポリベンザゾール繊維ロープ。 - 特許庁

To reduce a drop in output power in a positive-dispersion element used as a pulse compressor, thus improving multiphoton-excitation efficiency, to reduce the size of the positive-dispersion element to make it easier to attach it to a microscope main body and to accommodate it therein, thus improving maneuverability.例文帳に追加

パルス圧縮器として使用される正分散素子における出力減衰を低減して、多光子励起効率を向上するとともに、正分散素子のサイズを低減して、顕微鏡本体への取り付けや収納を容易にすることができ、取り回しを容易にする。 - 特許庁

The support device is positioned at the foot of the observer, and is constituted to shift the position of a mirror body 2 by converting operational force input in an operation input device which is operated by the foot of the observer into moving force for shifting the position of the mirror body 2 of a surgical microscope.例文帳に追加

観察者の足元に位置され、観察者自身の脚で、操作可能な操作入力装置で入力した操作力を、手術用顕微鏡の鏡体２の位置を変更する移動力に変換して鏡体２の位置を変えるようにした支持装置である。 - 特許庁

The microscope is equipped with an ocular 1, the objective lens 5, a stage supporting part 6, a lower stage 7, an upper stage 8, a surface light source 9 fit in the upper stage 8, and the specimen 10 placed and restricted to be detached on the light source 9 through a hard glass.例文帳に追加

顕微鏡は、接眼レンズ１と、対物レンズ５と、ステージ支持部６と、下ステージ７と、上ステージ８と、上ステージに嵌め込まれた面光源９と、硬質ガラスを介して面光源９上に取り外し可能に載置抑止された標本１０を備えている。 - 特許庁

To provide a means for easily and reliably preventing an accident that a sample and chart information about an alien living body are falsely recognized as a sample and chart information about the same living body when using an electric chart system in observing a sample by a microscope.例文帳に追加

顕微鏡による試料の観察において電子カルテシステムを利用する際に、異なる生体に関する試料とカルテ情報を同じ生体に関する試料とカルテ情報であると誤認する事故を容易かつ確実に防止する手段を提供する。 - 特許庁

When the cross section of the resin pellet is observed by a polarization microscope, a spherurite can not be observed in the center part, a lubricant is not contained in the resin pellet and the pellets with an angle of repose of ≤23° when the resin pellets are piled are obtained.例文帳に追加

これにより樹脂ペレットの切断面を偏光顕微鏡で観察したとき、中心部において、球晶が観察されず、または樹脂ペレット中に滑剤を含有せず、かつ前記樹脂ペレットを積み上げたときの安息角が２３度以下のペレットを得る。 - 特許庁

To provide measurement in high reliability by confirming errors, evaluating reliability of the measured data, and removing errors for less measurement error when wide-area measurement or long-time measurement in narrow- area scanning is performed with a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡で、広域測定を行うときまたは狭域走査で時間をかけて測定を行うとき、測定誤差を確認し、測定データの信頼性を評価し、測定誤差を除去して測定誤差を低減し、信頼性の高い測定を行えるようにする。 - 特許庁

The length of a known pattern provided, in advance, in a specified region on a sample is measured with a scanning electron microscope (S101-S104), and the length-measurement result is compared with the pattern design value to provide a magnification correction factor (S105 and S108).例文帳に追加

予め試料上の所定の領域に設けられた既知のパターンを走査形電子顕微鏡によって測長し（Ｓ１０１〜Ｓ１０４）、その測長結果を前記パターンの設計値と比較することにより倍率補正係数を導出する（Ｓ１０５，Ｓ１０８）。 - 特許庁

A static eliminator 4 and a charge monitor 3 are arranged and the charge monitor 3 is controlled on the basis of the position of the probe 2 of the atomic force microscope by a monitor position control means 7 so as to measure the charge quantity in the periphery of the position of the probe 2 of the sample 1.例文帳に追加

除電装置４と、帯電モニタ３を配置し、原子間力顕微鏡の探針２の位置に基づいて、試料１の探針２の位置周辺の帯電量が測定されるように帯電モニタ３をモニタ位置制御手段７により制御する。 - 特許庁

The photosensitive resin composition has a sea-island structure comprising sea and island parts in which two phases different from each other in horizontal force are present in cross-section observation with a horizontal force microscope (LFM) and ≥60% of the island part has ≤4 μm2 average domain area.例文帳に追加

水平力顕微鏡（ＬＦＭ）で断面観察した場合、水平力の異なる相が二相存在する、海部分と島部分とからなる海島構造であり、前記島部分の６０％以上がドメイン平均面積を４μｍ^2以下とする感光性樹脂組成物。 - 特許庁

This scanning probe microscope is equipped with a cantilever 21 having a probe 20, measuring parts 24, 32 for measuring physical quantities generated between the probe and the sample 12, and moving mechanisms 14, 15, 29 for allowing to perform scanning operation by changing relatively positions of the probe and the sample.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、探針２０を有するカンチレバー２１と、探針と試料１２の間で生じる物理量を測定する測定部（２４，３２）と、探針と試料の位置を相対的に変化させ走査動作を行わせる移動機構（１４，１５，２９）とを備える。 - 特許庁

To provide a stereoscopic shape measuring method by a scanning electron microscope (SEM) and its device capable of highly-accurate stereoscopic shape measurement even in the case of a flat surface or a nearly vertical surface, by utilizing tilt angle dependency of a secondary electron image signal quantity.例文帳に追加

ＳＥＭの２次電子画像信号量の傾斜角依存性を利用して平坦な面や垂直に近い面についても高精度な立体形状計測を可能にしたＳＥＭによる立体形状計測方法およびその装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a light scanning microscope which having; an at least single-dimensional light distribution apparatus for grid-shaped illumination of a sample in a locally limited grid field; a detector for capturing sample light; and a sample table capable of moving in at least one direction.例文帳に追加

大きさの制限されたラスタフィールド内で試料をラスタ状に照明するための少なくとも１次元の光分布装置、試料光捕捉のための検出装置および少なくとも１方向に移動できる試料ボードを有する光走査型顕微鏡 - 特許庁

In the laser scanning microscope scanning an image field 4, the laser beam is deflected to a stop 6 arranged near the image field 4 in order to shut off the laser beam 1 if the laser beam 1 is not intended to be incident on the image field 4.例文帳に追加

結像領域（４）を走査するレーザ走査顕微鏡において、結像領域（４）に対するレーザ・ビーム（１）の入射が意図されなければ該レーザ・ビーム（１）を遮断すべく該ビームは結像領域（４）に近接して配置された絞り（６）に向けて偏向される。 - 特許庁

The nonwoven fabric 13 is mounted on a highly reflective metal-made material 11, fiber structure of the mounted nonwoven fabric 13 is evaluated using a confocal type laser microscope 12 provided with an objective lens 14 arranged opposedly to a highly reflective mounting face of the highly reflective metal-made material 11.例文帳に追加

金属製高反射材１１上に不織布１３を載置し、載置された不織布１３の繊維構造を、金属製高反射材１１の高反射な載置面に対向配置された対物レンズ１４を備えた共焦点型レーザ顕微鏡１２を用いて評価する。 - 特許庁

To provide an electron microscope which forms an enlarged image of almost the same magnification on a monitor screen before and after switching-over when supplying to the monitor a high resolution TV camera output signal replaced with a wide view TV camera output signal.例文帳に追加

広視野ＴＶカメラの出力信号に代わって高分解能ＴＶカメラの出力信号をモニターへ切替えて供給しても、その切替えの前後において、モニター画面上の試料拡大像倍率がほぼ同じになるような電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide an electron microscope device using a short focus objective lens that enables acquiring a good image of high resolution without any distortion in a wide range from low magnification to high magnification at the observation in low acceleration voltage condition.例文帳に追加

短焦点の対物レンズを用いた電子顕微鏡装置において、低加速電圧条件での観察時に、低倍率から高倍率までの広い倍率範囲において高解像度で歪みのない良好な画像の取得を可能とする電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide an illumination optical system and a microscope provided with the system capable of easily switching evanescent illumination and ordinary vertical illumination while using a laser beam having intensity high enough to excite fluorescence dye though an entire device is compact.例文帳に追加

蛍光色素を励起するのに十分な強度を有するレーザー光を用いつつ、装置全体もコンパクトでありながら、容易にエヴァネッセント照明と通常の落射照明が切り替え可能な照明光学系及びこの照明光学系を備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The object surface is observed by measuring a horizontal force relative to the object whose surface has a part having different hydrophobicity or hydrophilicity by using the scanning probe atomic force microscope having a probe of a cantilever type modified by an organic compound.例文帳に追加

表面に疎水性または親水性が異なる部分を有する対象物を有機化合物で修飾されたカンチレバータイプの探針を有する走査プローブ原子間力顕微鏡を用いて水平力を測定することで対象物の表面を観察する。 - 特許庁

To provide a scanning X-ray electron microscope capable of detecting photoelectrons under a wide range of a vacuum condition from a low vacuum to a high vacuum when photoelectrons generated from a sample by the scanning of X-rays are detected.例文帳に追加

本発明は、Ｘ線の走査により試料から発生した光電子を検出する際、低真空から高真空までの広範囲の真空条件において光電子を検出することが可能な走査Ｘ線電子顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an electrostatic capacitance type ultrasonic transducer which is small-sized and is capable of transmitting/receiving ultrasonic waves at frequencies of wide bands without reducing a transmission strength and a reception strength of ultrasonic waves, and to provide an ultrasonic diagnostic device and ultrasonic microscope.例文帳に追加

小型であり、かつ超音波の送信強度及び受信感度を低下させずに広帯域の周波数で超音波を送受信することが可能な静電容量型の超音波トランスデューサ、超音波診断装置及び超音波顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This electron microscope has an electron emitting negative electrode having a carbon nanotube, and an extraction device to cause field emission of an electron, and uses the carbon nanotube having an acute angle portion in an almost conic form at its tip part.例文帳に追加

上記目的を解決する本発明の特徴は、カーボンナノチューブを有する電子放出陰極と、電子を電界放出させる引出装置とを有する電子顕微鏡であって、先端部に略円錐形状の鋭角部を有するカーボンナノチューブを用いる点にある。 - 特許庁

A matrix computing part 66 calculates a vector indicating the electron microscope image of the sample by performing matrix computation based on the electron beam irradiation matrix and a vector representing time-series detection signals detected by the secondary electron detector.例文帳に追加

行列演算部６６は、上記電子線照射行列と、上記２次電子検出器において検出された時系列の検出信号を表したベクトルとに基づいて行列演算を行うことによって、試料の電子顕微鏡画像を示すベクトルを算出する。 - 特許庁

Surface of electrode is scraped by irradiating ion beam, image of drilled face of the activator is observed by a scanning ion microscope (SIM), and a property of the electrode is evaluated on the basis of contrast of the activator in observed SIM image.例文帳に追加

イオンビームの照射によって電極表面をその厚さ方向に堀削して、堀削面における活物質層の走査イオン顕微鏡（ＳＩＭ）像を観察し、観察されたＳＩＭ像における活物質のコントラストに基づき電極の性能を評価する。 - 特許庁

To provide an optical system which can simultaneously obtain image and spectrum from object such as tissue specimen, industrial object such as computer chip, or other optional objects visible through optical systems such as microscope, endoscope, telescope or camera.例文帳に追加

組織標本のような対象物、コンピュータチップのような産業上の対象物、又は顕微鏡、内視鏡、望遠鏡若しくはカメラのような光学システムで目視可能の他の任意の対象物から同時に画像及びスペクトルを提供する光学システムを提供すること。 - 特許庁

To detect fine powder in real time, and to raise an alarm, based on light scattered by fine powder generated by applying light near the contact section between a stator and a rotor for composing a mechanically driven ultrasonic motor for a stage using a charged particle microscope.例文帳に追加

荷電粒子顕微鏡に用いるステージについて、機械駆動する超音波モータを構成するステータとロータの接触部分の近傍に光を照射して発生した微粉によって散乱したを光をもとに微粉をリアルタイムに検出および警報を発する。 - 特許庁

To provide a vernier for calculating the positional deviation of a colored pixel, with respect to a black matrix, and accurately and stably calculating the position deviation, without being affected by the focal depth of a microscope or without being affected by the fringe part of a measurement mark, and to provide a method of measuring exposure position.例文帳に追加

ブラックマトリックスに対する着色画素の位置ズレを算出するバーニアで、顕微鏡の焦点深度に影響されず、測定用マークのフリンジ部に影響されず精度よく、安定して位置ズレを算出するバーニア、及び露光位置の測定方法を提供する。 - 特許庁

When recording an observation image, a camera control unit 13 displays on a monitor 24 input fields and display fields for selecting items of information depending on the purpose of use of a microscope 11 as items of comment to be added to the observation image.例文帳に追加

カメラコントロールユニット１３は、観察画像の記録時に、観察画像に付加するコメントの項目として、顕微鏡１１の使用用途により予め定められている項目の情報を選択するための入力欄および表示欄をモニタ２４に表示させる。 - 特許庁

To provide an inspection system by which investigation or the like of the causes of defects of a semiconductor sample can be easily performed by making the work for observing defects detected by a SEM (scanning electron microscope)-aided appearance inspection apparatus is surely performable with the use of a review apparatus with high definition.例文帳に追加

ＳＥＭ式外観検査装置で検出した欠陥をレビュー装置で高分解能観察する作業を容易、且つ確実に行えるようにし、半導体試料の欠陥に対する原因究明等が容易に行える検査システムを提供する。 - 特許庁

The objective 1 for the microscope includes a lens system 11, an inner cylinder 12 supporting the lens system 11, an outer cylinder 15 encloses an outer circumference of the inner cylinder 12 to form an optical path L for lighting, and a shield mechanism M which shields the optical path L for lighting.例文帳に追加

レンズ系１１と、レンズ系１１を支持する内筒１２と、内筒１２の外周を包囲して照明用光路Ｌを形成する外筒１５と、照明用光路Ｌを遮蔽可能な遮蔽機構Ｍと、を有することを特徴とする顕微鏡用対物レンズ１。 - 特許庁

The durability predicting apparatus 100 comprises a deterioration promoting apparatus 10 (a deterioration promoting means), an electron microscope 12, an energy dispersing X-ray analyzing apparatus 1206, a film thickness measuring instrument 14, a gloss measuring instrument 16, a contact angle measuring instrument 18 and a color measuring instrument 20.例文帳に追加

耐久性予測装置１００は、劣化促進装置１０（劣化促進手段）、電子顕微鏡１２、エネルギー分散形Ｘ線分析装置１２０６、膜厚測定器１４、光沢測定器１６、接触角測定器１８、色測定器２０を備えて構成されている。 - 特許庁

A sample 11 is placed on a stage 101 of a microscope body 10 and a light shielding member 18 is deposited to cover the sample 11 on the stage 101 so that the vertical illuminating observation of the sample 11 is performed.例文帳に追加

顕微鏡本体１０のステージ部１０１上に試料１１を載置して、このステージ部１０１上の試料１１を被うように遮光部材１８を被着して試料１１の落射照明観察を行うように構成し、所期の目的を達成したものである。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of stable and highly reliable operation in inspections on wafers etc. without operation halts in an inspection apparatus or any damage to a probe even if samples are charged in an inline automatic inspection process of wafers etc.例文帳に追加

ウェハ等のインライン自動検査工程でたとえ試料が帯電していたとしても、当該ウェハ等の検査で、検査装置が動作停止に陥らず、探針が損傷を受けることなく安定かつ信頼性の高い動作が可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁