「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(164ページ目) - Weblio英語例文検索

Since the detecting unit 26 separated from a microscope body 10 is attachably and detachably connected to the scanning unit 12 through the multimode optical fiber 29, the detecting unit 26 is easily exchangeable with another detecting unit different in the number of detecting channels.例文帳に追加

顕微鏡本体１０から分離されている検出ユニット２６は、マルチモード光ファイバ２９を介して走査ユニット１２に着脱可能に接続されているので、検出ユニット２６を検出チャネル数の異なる他の検出ユニットと容易に交換することができる。 - 特許庁

Fluorescence generated from the sample is transmitted through the dichroic mirror 8 through the microscope 4, passes through an analyzer (polarizer) 12 set in the same polarization direction as the polarizing plate 10, and then is guided to a streak scope 16 through a cut-off filter 14 for removing excitation light components.例文帳に追加

試料から発生した蛍光は、顕微鏡４を通ってダイクロイックミラー８を透過し、偏光板１０と同一の偏光方向に設定された検光子（偏光子）１２を通過した後、励起光成分を除去するカットオフフィルタ１４を経てストリークスコープ１６に導かれて検出される。 - 特許庁

The supporting stand which is used in a operation room 4 installed with the MRI where an electric shield is applied on a wall face of the operating room installed with the MRI and the power source 8 of the supporting stand which supports a microscope is located outside the operating room 4.例文帳に追加

ＭＲＩを設置した手術室４内で使用され、顕微鏡１を支持するＭＲＩ用の支持スタンド２であって、ＭＲＩを設置した手術室の壁面に電気シールドを施し、顕微鏡を支持する支持スタンドの電源８を手術室４の外部に配することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a method for immediately finding out a focal position from one obtained image without searching an optimum position by obtaining an image while slightly mechanically moving a sample or an optical member when a focal surface is obtained by using an optical microscope.例文帳に追加

本発明の課題は、光学顕微鏡を用いて焦点面を求める際にわずかずつ試料若しくは光学部材の機械的移動を行いながら画像を取得して最適な位置を探索することなく、得られた１画像から即座に合焦位置を割り出すことが出来る手法を提示することにある。 - 特許庁

A high speed video camera 9 enlarges, with a microscope lens 8, the state where the photosensitive layer of the photosensitive colored resin sheet 14 is adhered to the adhering face 12a of the glass substrate 12 and images the state when the thermo-compression roller 5 passes through the downside of an opening 3c of a holding base plate 3.例文帳に追加

ハイスピードビデオカメラ９は、熱圧着ローラ５が保持基板３の開口３ｃの下方を通過する際に、感光性着色樹脂シート１４の感光層がガラス基板１２の貼着面１２ａに貼着される状態を顕微鏡レンズ８で拡大して撮像する。 - 特許庁

This invention relates to the device for optically coupling the light (1) of at least one wavelength of the laser beam source (2) to the optical assembly (3), more specifically the confocal scanning microscope, having an optically active element (4) acting to select the wavelength and to set the power of the coupling light (5).例文帳に追加

本発明は、レーザ光源（２）の少なくとも１つの波長の光（１）を、具体的には波長を選択し、結合光（５）のパワーを設定するために作用する光学活性素子（４）を有する光学組立物（３）、好ましくは共焦点走査型顕微鏡に結合するための装置に関する。 - 特許庁

By adjusting the image of the face 22 so as not to produce the fringe, the face 22 becomes precisely vertical with respect to a light axis 15 of the microscope 40, and an axis of the coated fiber 10 have been adjusted precisely in parallel with the optical axis 45.例文帳に追加

光反射面２２の画像において干渉縞が生じないように調整できれば、光反射面２２が干渉顕微鏡４０の光軸４５に対して精密に直角になり、光ファイバ心線１０の軸が光軸４５に精密に平行になるよう調整できたことになる。 - 特許庁

To provide an operative part observing system capable of correctly detecting an observation position in a pickup image to be provided for an operator even when a visual field is moved in a system comprising a microscope for an operation combined with an endoscope device provided with a visual field moving function as the most important feature.例文帳に追加

本発明は、手術用顕微鏡と、視野移動機能を備えた内視鏡装置とを組み合せたシステムで視野移動を行った場合でも撮像画像の観察位置を正しく検出して術者に呈示できる術部観察システムを提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

In an image recording method of the laser scanning confocal microscope device, each of a plurality of laser lights having at least different wavelengths is scanned on a specimen as a spot light, light from the specimen based on the spot light is detected, and obtained image information is recorded by segmenting it.例文帳に追加

レーザ走査型共焦点顕微鏡装置の画像記録方法として、少なくとも波長の異なる複数のレーザ光の各々をスポット光として試料上に走査し、このスポット光に基づく試料からの光を検出し、得られた画像情報を切り分けて記録する、ようにする。 - 特許庁

An eyepiece 1 of a measurement microscope is provided with a frame 2, a rotor 3 placed freely rotatably on the frame 2 and a reticle 6 placed on the rotor 3 and is constituted by providing a capacitance type encoder 10 for measuring the rotation displacement of the rotor 3 in the frame 2.例文帳に追加

測定顕微鏡の接眼レンズ１を、フレーム２と、このフレーム２に回転自在に設けられたロータ３と、このロータ３に設けられたレチクル６とを備えたものとするとともに、フレーム２内にロータ３の回転変位量を測定する静電容量型エンコーダ１０を設けて構成した。 - 特許庁

In the microscope, sample light is detected, and at least one combination of a means SM influencing spatial phase circularly and a means RM influencing it in a radial direction is arranged in the exciting light beam and/or the deexciting light beam and/or the switching light beam.例文帳に追加

本発明の顕微鏡では、試料光が検出され、励起光線および／または脱励起光線および／またはスイッチング光線中に、空間位相に円形に影響を及ぼす手段ＳＭおよび径方向に影響を及ぼす手段ＲＭの少なくとも１つの組合せが配置されている。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a sample for cross-section observation by a scanning electron microscope that is appropriate to smooth cross-section formation of 10-100 μm order, does not require a skilled technique of a worker, has high processing position accuracy, and accurately forms a cross section at a desired specific position.例文帳に追加

１０μｍ〜１００μｍオーダーの平滑な断面形成に適し、作業者の熟練の技術を必要とせず、かつ加工位置精度に優れ、所望の特定位置に正確に断面を形成できる、走査電子顕微鏡による断面観察用サンプルの作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method which enables the making of a sample for a transmission electron microscope simply and in a shorter time without damaging it by eliminating any troublesome preliminary working for a material with a metal thin film or a chemical thin film formed on at least one end face of a glass base material.例文帳に追加

ガラス基材の少なくとも片端面に金属薄膜あるいは化合物薄膜を成膜した材料について、面倒な前加工を施すことなく簡便、かつ短時間に、試料損傷を与えずに透過電子顕微鏡用試料を作製できる方法の提供。 - 特許庁

To provide a device capable of evaluating nano-level thermoelectric material tissues and thermoelectric characteristics at the same time, a method of observing a thermoelectric material using the same, by generating a thermoelectric effect in an electron microscope, and visualizing an ensuing magnetic field.例文帳に追加

本発明は、電子顕微鏡内で熱電効果を発生させ、それに伴う発生磁場を可視化することにより、ナノレベルの熱電材料組織と熱電特性を同時に評価できる装置およびそれを用いた熱電材料を観察する方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide an objective lens which is constituted by previously incorporating respective elements such as a polarizer and a quarter-wave plate necessary for extremely low magnification observation, thereby capable of switching observation from a very low magnification to a high magnification by only making a revolver revolve, and to provide a microscope device which includes the lens.例文帳に追加

極低倍の観察に必要な偏光子や１／４波長板などの各素子を予め組み込んで構成することで、レボルバの回転作業のみで、極低倍から高倍までの観察を切り替えることが可能な対物レンズ及びこれを有する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of easily fabricating a sample for a transmission electron microscope in a short time without requiring troublesome pretreatments nor causing sample damage, for an organic material with a thin film of a metal or compound formed on at least one end surface thereof.例文帳に追加

有機材料表面の少なくとも片端面に金属薄膜あるいは化合物薄膜を成膜した材料について、面倒な前加工を施すことなく簡便、かつ短時間に、試料損傷を与えずに透過電子顕微鏡用試料を作製できる方法の提供。 - 特許庁

To provide an image data analysis device with which image processing conditions (threshold value or the like) enabling desired pattern edges with good reproductivity can be easily obtained by using image data obtained by using a scanning type microscope (CD-SEM) even if the patterns change structures in a height direction.例文帳に追加

高さ方向で構造が変化するようなパターンであっても、走査型顕微鏡（ＣＤ−ＳＥＭ）を用いて取得した画像データを用いて所望のパターンエッジが再現性よく決定できる画像処理条件（閾値等）を、簡便に得ることのできる画像データ解析装置を提供する。 - 特許庁

A microscope 11 is provided with an object lens 22 for throwing the fluorescence developed from the specimen 13 on an observation optical system for forming the image of the specimen 13 and an image guide 25 composed of a plurality of optical fibers and throwing the fluorescence developed from the specimen 13 on the object lens 22.例文帳に追加

顕微鏡１１には、標本１３から発現した蛍光を標本１３の像を結像させるための観察光学系に入射させる対物レンズ２２と、複数の光ファイバからなり、標本１３から発現した蛍光を対物レンズ２２に入射させるイメージガイド２５とが設けられている。 - 特許庁

The measuring method for microorganism contains a step to label the microorganism with fluorescent light, a step to pass the sample liquid containing the microorganism as a micro-flow, a step to photograph the microorganism in the micro-flow with a fluorescent microscope by color photography, and a step to count the number of microorganisms from the photographed image.例文帳に追加

また、微生物の計測方法が、微生物を蛍光標識する工程と、微生物を含むサンプル液をマイクロフローとして流す工程と、マイクロフロー中の微生物を蛍光顕微鏡を介してカラー撮影する工程と、撮影された画像から微生物の数を計測する工程とを含む。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope that has a small wear of a probe, has high measurement reliability, can control the travel of probe scanning easily, and can scan a sample surface quickly when measuring the sidewall, or the like of a minute groove, or the like on the sample surface.例文帳に追加

試料表面の微細な溝等の側壁等を測定するとき、探針の磨耗が小さく、測定信頼性が高く、探針走査の移動制御を簡単に行うことができ、試料表面を短時間に走査できる走査型プローブ顕微鏡およびその測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a vertical illumination optical system for a microscope having an adjusting function to adjust the image position of a light source to the rear focal position of each microscopic objective lens in response to replacement of the microscopic objective lens with a simple constitution, in a Koehler illumination system using a condenser lens array.例文帳に追加

集光レンズアレイを用いたケーラー照明系において簡単な構成で顕微鏡対物レンズの交換等に対応して光源の像位置を各顕微鏡対物レンズの後側焦点位置に調整する調整機能を有する顕微鏡用落射照明光学系。 - 特許庁

To make the state of samples observable from outside with a microscope while the observation samples are kept confined in a container at all times in a manner as to prevent the samples from spilling and leaking outside when dangerous microorganisms or very small underwater organisms are observed, cultured or transported.例文帳に追加

危険な微生物や微小な水中の生物を観察したり、培養したり或いは輸送したりする場合に、こぼれたりして外部に試料が漏れることがないように、終始入れ物の中に観察試料を閉じこめておきながら外部から試料の状態を顕微鏡で観察出来る様にする。 - 特許庁

When an operator instructs a point near the inclined axis of the inclined axis pattern by an input device 23, the display control device 22 sets a focusing position on the inclined axis J, which is closest in distance from the instructed point and informs the electron microscope body control part 30 of focusing position information.例文帳に追加

入力装置２３によりオペレータが傾斜軸パターンの傾斜軸近傍の点を指示すると、表示制御装置２２は指示点から距離が最も近い傾斜軸Ｊ上に焦点合わせ位置を設定し、その焦点合わせ位置の情報を電子顕微鏡本体制御部３０に通知する。 - 特許庁

A second image acquisition control part 63 acquires an image in which only a pixel with the highest luminance is selected among images obtained in respective focal positions of the confocal microscope with light of a light quantity shown by the second light quantity setting data, and records the image in the memory 66.例文帳に追加

続いて、第２の画像取得制御部６３は、第２の光量設定データで表される光量の光により、共焦点顕微鏡の各焦点位置で得られた各画像の中で輝度が最も高い画素のみが選択された画像を取得し、その画像をメモリ６６に記録する。 - 特許庁

To provide a focus detector which can be downsized and simplified, is excellent in productivity and is capable of detecting a focus with good accuracy and high reliability even if objective lenses of any magnifications are used as well as an objective lens, optical microscope or optical test apparatus having the same.例文帳に追加

小型化、簡易化でき、生産性に優れ、かつ、異なる倍率の対物レンズを用いても、精度よく信頼性の高い焦点検出を行なうことができる焦点検出装置、及びそれを備えた対物レンズ、光学顕微鏡又は光学検査装置を提供する。 - 特許庁

This scanning probe microscope is characterized by therein storing observation data up to just before then as a history when a probe is caused to scan, each time setting the sampling interval in an X or Y direction based on the observation data/shape, and causing the probe to scan as far as a next sampling position.例文帳に追加

探針を走査時に、直前までの観測データを履歴として記憶し、観測データ形状を元に、ＸまたはＹ方向のサンプリング間隔をその都度設定し、次のサンプリング位置まで探針を走査することを特徴とする走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscopic surface temperature distribution measuring device capable of measuring a temperature of a microscopic area of 1μm or less without adopting a composition wherein a microscopic temperature measuring means is arranged on a microscopic tip of a cantilever which is a cause of error in temperature measurement in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における温度測定の際の、誤差の原因であるカンチレバーの微小先端に微小な温度計測手段を配置するという構成を採らずに、１μｍ以下の微小領域の温度を計測できる微小表面温度分布測定装置の提供。 - 特許庁

An uneven film whose average surface roughness measured by an atomic force microscope is 2 nm or less is inserted as an intermediate layer between a low anchoring layer and ITO, thereby influence of panel-dependent ITO-film surface shapes on the low anchoring layer can be avoided, and switching characteristics are stabilized.例文帳に追加

低アンカリング層とＩＴＯ間に中間層として、原子間力顕微鏡で計測した平均表面粗さが２ｎｍ以下の凹凸膜を挿入することにより、パネルごとに異なるＩＴＯ膜の表面形状に低アンカリング層が影響を受けるとなく、スイッチング特性が安定した。 - 特許庁

Conversion parts 8, 9 which individually perform coordinate-conversion in each horizontal (X) direction and vertical direction (Y) are provided at a scan control part 12 to form two dimensional coordinates for scanning electron beams of a scanning electron microscope, and the electron beams are scanned in the arbitrary direction in the inspection object region of the sample.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の電子ビームを走査（スキャン）させるための２次元の座標を生成するスキャン制御部１２に、水平（Ｘ）方向及び垂直（Ｙ）方向毎に個別に座標変換する変換部８，９を備え、試料の検査対象領域で任意の方向に電子ビームを走査させる。 - 特許庁

To provide a probe capable of accommodating for various kinds of measurement when being used in a microscope and applying to a recorder, and provide an optical head using the probe, and inexpensive, simple manufacturing method of the probe.例文帳に追加

本発明の目的は、顕微鏡などに用いられた場合に様々な測定に対応することができ、記録装置にも応用することができるプローブ及びそれを用いた光ヘッドを提供すること、及びこのようなプローブの安価で簡単な製造方法を提供することである。 - 特許庁

The substrate for an information recording medium is characterized in that a cycle of the microscopic waviness falls within 2 μm to 4 mm, wa of the substrate main surface is 5 nm or less and Rmax is 12 nm or less, where a maximum height of this microscopic waviness is wa (95% PV value) and a maximum height measured by an atomic force microscope is Rmax.例文帳に追加

情報記録媒体用基板は、微小うねりの周期が２μｍ〜４ｍｍであって、この微小うねりの最大高さをwa（95％PV値）とし、原子間力顕微鏡によって測定した最大高さをRmaxとしたとき、該基板主表面のwaが5nm以下、Rmaxが12nm以下であることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a method for inspection of a mounting state of an electronic component or the like capable of inspecting automatically without depending on the individual difference of an inspecting person and the material of an electrode pad, and performing image processing corresponding to a change of the background brightness observed by a differential interference microscope.例文帳に追加

この発明は、検査人の個人差または電極パッドの材質に依存すること無く自動的に検査することができ、また、微分干渉顕微鏡で観察された背景の明るさの変化に応じた画像処理が可能な電子部品実装状態検査方法等を提供する。 - 特許庁

The slit light 10 for exactly performing focusing to the microscope of the configuration consisting of only the coaxial illumination of the conventional type in Fig. 7 is composited and thereby the video obtained by striking the light composited with the coaxial illumination and the slit light to an object is projected by a CCD camera.例文帳に追加

本発明は、図７の従来型の同軸照明６のみの構成の顕微鏡にピント合わせを正確に行うためのスリット光１０を合成する事により、被写体に同軸照明とスリット光が合成された光が当たった映像をＣＣＤカメラで映し出す。 - 特許庁

To provide a confocal microscope device capable of changing independently depth-directional excitation light intensity distributions, on a sample face, of a laser beam for stimulating a sample, and a light for acquiring an image; and to provide an observation method using the same.例文帳に追加

標本に刺激を加えるレーザ光と画像取得のための光との標本面上での深さ方向の励起光強度分布をそれぞれ独立に変化させることができる共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法を提供すること。 - 特許庁

(2) The modified cross-sectional regenerated cellulose fiber characterized by having a degree of modification of 1.1 to 10 and a fiber surface roughness parameter Ra of 10 to 50 nm measured with an interatomic force microscope and containing fine powder having a 50% average particle diameter of 0.05 to 10 μm in an amount of 0.2 to 5 wt.%.例文帳に追加

(2) 繊維の異型度が１．１〜１０で、原子間力顕微鏡で測定した繊維表面粗度パラメータＲａが１０〜５０ｎｍであり、かつ５０％平均粒径が０．０５〜１０μｍである微粉末を０．２〜５重量％含有する異型断面再生セルロース繊維。 - 特許庁

This magnetic field applying device of the transmission electron microscope comprises a plurality of deflectors to swingingly return the optical axis deflection of an irradiated electron beam generated simultaneously with application of the magnetic field onto the optical axis, and is formed so that the deflection main surface of one deflector is disposed at a position extremely close to the surface of the sample 6.例文帳に追加

透過電子顕微鏡の磁場印加装置において、磁場印加と同時に発生する照射電子線の光軸偏向を軸上に振り戻す複数の偏向器からなり、１つの偏向器の偏向主面が試料６表面に極めて近い位置に配置されように構成される。 - 特許庁

To provide an immersion microscope apparatus capable of obtaining an observing state without using movement of a substrate and capable of preventing spread of a liquid toward an unnecessary area (i.e., an area where a liquid cannot be recovered afterward) around an observation point regardless of the condition (hydrophilic/repellent property) of the surface of a substrate.例文帳に追加

基板の移動を利用せずに観察状態を実現することができ、基板の表面の状態（親水性／撥水性）に拘わらず、観察点の周囲の不要な箇所（後から回収できない箇所）への液体の広がりを防止できる液浸顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

The obtained hollow particle is comprised of a dense silica shell which has a diameter of a primary particle of 30-300 nm as measured by the transmission electron microscope method, and a particle size of 30-800 nm by the dynamic light scattering method, and which can not detect pores of 2-20 nm in a pore distribution measured by the mercury porosimetry.例文帳に追加

得られた中空粒子は透過型電子顕微鏡法による一次粒子径が３０〜３００ｎｍ、動的光散乱法による粒子径が３０〜８００ｎｍ、水銀圧入法により測定される細孔分布において２〜２０ｎｍの細孔が検出されない緻密なシリカ殻からなる。 - 特許庁

An ellipsometry microscope includes: an oblique illumination system that includes a light source, a polarizer and a phase compensator and emits an illumination light L4 obliquely to a sample surface SP; an imaging system; an analyzer 23; and an imaging element 24 for detecting an image by the imaging system on the detection surface 25.例文帳に追加

エリプソメトリー顕微鏡は、光源と偏光子と位相補償子とを備えると共に試料面ＳＰに対して照明光Ｌ４を斜めに照射する斜め照明系と、結像系と、検光子２３と、結像系による像を検出面２５で検出する撮像素子２４とを備える。 - 特許庁

To provide: an objective lens switching device capable of easily switching an objective lens, decreasing a size of the very device, and arranging a coarse/fine focusing operation part and an objective lens switching part on a near side relative to an observing optical axis; and a microscope equipped with an objective lens focusing device.例文帳に追加

対物レンズの切り換えを簡単に行うことができ、装置自体をコンパクトにするとともに、粗微動焦準操作部と対物レンズ切り換え操作部を観察光軸よりも手前側に配置する対物レンズ切り換え装置及び対物レンズ焦準装置を具備する顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In this inspection device 100 for the microscope, a sample P is held by a sample stage 232a, a cooling atmosphere is formed around the sample stage 232a by air flow F225a, and normal temperature-drying air flow is formed around the cooling atmosphere by the air flow F21 and air flow F245.例文帳に追加

顕微鏡用の検査装置１００においては、サンプルステージ２３２ａによりサンプルＰが保持され、気流Ｆ２２５ａによりサンプルステージ２３２ａの周囲に冷却雰囲気が形成され、気流Ｆ２１および気流Ｆ２４５により冷却雰囲気の周囲に常温乾燥気流が形成される。 - 特許庁

To provide a computer-readable recording medium storing a novel and improved data structure configured to form digitally scanned images, store the digitally scanned images in a tiled format for viewing the images without using a microscope, and allow a remote observer to observe the images.例文帳に追加

デジタル走査されたイメージを構築し、デジタル走査されたイメージを顕微鏡なしでビューするのに好都合なタイル化フォーマットで記憶し、かつ遠隔の観察者が観察できるように改良された新規のデータ構造を記憶したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供すること。 - 特許庁

To provide a device for attaining a new scanning method which is always not associated with the contact of a probe with a sample surface, such as that in a non-contact mode or a point contact mode, and a scanning method thereof, while maintaining the versatility of a contact mode, in physical property measurement of a scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の物性測定において、コンタクトモードの汎用性を維持しつつ、非接触モードやポイントコンタクトモードのように、常時探針と試料表面の接触を伴わない新たな走査方法を実現する装置及びその走査方法を提供する。 - 特許庁

An alignment microscope 10 can be switched, for example, between a magnification ratio of three and a magnification ratio of ten, and a work mark WAM and a search mark which is higher in contrast to be easy to be seen than the work mark WAM are formed, on the work W, in a position predeterminingly located relatively to the work mark WAM.例文帳に追加

アライメント顕微鏡１０は例えば３倍の倍率と１０倍の倍率に切り替えが可能であり、ワークＷ上には、ワークマークＷＡＭと、ワークマークＷＡＭよりコントラストが高く見えやすいワークマークＷＡＭに対して所定の相対位置にある探索マークが設けられている。 - 特許庁

To provide an objective mirror replacing device capable of replacing an objective mirror simply as much as possible, and at the same time, bringing a free space which is large as much as possible in the periphery of the objective mirror and an inspection sample placed on an operation position, and to provide a microscope including the objective mirror replacing device.例文帳に追加

できるだけ簡単な対物鏡交換を可能にし、一方で操作位置に置かれた対物鏡と検査標本の周囲に出来るだけ大きな自由空間をもたらす、対物鏡交換装置及び当該対物鏡交換装置を備えた顕微鏡を具体化することである。 - 特許庁