「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(164ページ目) - Weblio英語例文検索

A main body H of the microscope is provided with a variable power knob 7 capable of changing an observation magnification by rotationally operating this knob and a fine adjustment focusing knob 11 movable by focusing adjustment by rotationally operating on a common revolving shaft.例文帳に追加

顕微鏡の本体部Ｈには、回転操作することにより観察倍率を変化させることの可能な変倍ノブ７と、回転操作することによりピント調節をすることの可能な微動焦準ノブ１１とが共通の回転軸上に設けられている。 - 特許庁

To provide slide glass and a fluid chip capable of simplifying the attaching and detaching of the slide glass, positioning freely the slide glass, securing a sufficient space between the slide glass an objective lens, and fixing easily and stably the slide glass, in a stage of a microscope.例文帳に追加

顕微鏡のステージにおいて、スライドガラスの脱着の簡易化と、スライドガラスの自由な位置決めと、スライドガラスと対物レンズとの間での十分な空間の確保と、スライドガラスの簡単かつ安定な固定と、を実現可能なスライドガラス及び流体チップを提供する。 - 特許庁

A magnified image of the specimen is observed by a microscope 40, and a stage device 20 is two-dimensionally position-adjusted in X and Y directions so that the planned cutting line of the specimen lies on a cutting line mark in a visual field while its rotary position is also adjusted by a rotary stage 24.例文帳に追加

顕微鏡４０により試料の拡大像を観察し、試料の切断予定線が視野内の切断線マークに重さなるようにステージ装置２０をＸＹ方向に２次元位置調整するとともに、回転ステージ２４により回転位置も調整する。 - 特許庁

Since the detecting unit 26 separated from a microscope body 10 is attachably and detachably connected to the scanning unit 12 through the multimode optical fiber 29, the detecting unit 26 is easily exchangeable with another detecting unit different in the number of detecting channels.例文帳に追加

顕微鏡本体１０から分離されている検出ユニット２６は、マルチモード光ファイバ２９を介して走査ユニット１２に着脱可能に接続されているので、検出ユニット２６を検出チャネル数の異なる他の検出ユニットと容易に交換することができる。 - 特許庁

This scanning probe microscope is characterized by therein storing observation data up to just before then as a history when a probe is caused to scan, each time setting the sampling interval in an X or Y direction based on the observation data/shape, and causing the probe to scan as far as a next sampling position.例文帳に追加

探針を走査時に、直前までの観測データを履歴として記憶し、観測データ形状を元に、ＸまたはＹ方向のサンプリング間隔をその都度設定し、次のサンプリング位置まで探針を走査することを特徴とする走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscopic surface temperature distribution measuring device capable of measuring a temperature of a microscopic area of 1μm or less without adopting a composition wherein a microscopic temperature measuring means is arranged on a microscopic tip of a cantilever which is a cause of error in temperature measurement in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における温度測定の際の、誤差の原因であるカンチレバーの微小先端に微小な温度計測手段を配置するという構成を採らずに、１μｍ以下の微小領域の温度を計測できる微小表面温度分布測定装置の提供。 - 特許庁

To provide a cassette for medical examination which can improve the productivity and the reliability in preparing a microscope specimen, in which a lid of the cassette can be easily and stably taken away with a single action, and in which the lid can be taken away while confirming the recording contents of a recording part.例文帳に追加

カセットの蓋をワンタッチで容易且つ安定的に取り去ることができるとともに、記録部の記録内容を確認しながら蓋を取り去ることができるので、顕微鏡標本作成の生産性及び信頼性を向上させる医療検査用カセットを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope which prevents second laser light from impinging on a light detection system of a first scanning optical system to efficiently detect fluorescence excited by the laser light of the first scanning optical system in the case a plurality of scanning optical systems are used.例文帳に追加

複数の走査光学系を使用した場合においても、第２のレーザ光が第１の走査光学系の光検出系に進入することを防ぎ、第１の走査光学系のレーザ光により励起された蛍光を効率良く検出することが可能な走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

An uneven film whose average surface roughness measured by an atomic force microscope is 2 nm or less is inserted as an intermediate layer between a low anchoring layer and ITO, thereby influence of panel-dependent ITO-film surface shapes on the low anchoring layer can be avoided, and switching characteristics are stabilized.例文帳に追加

低アンカリング層とＩＴＯ間に中間層として、原子間力顕微鏡で計測した平均表面粗さが２ｎｍ以下の凹凸膜を挿入することにより、パネルごとに異なるＩＴＯ膜の表面形状に低アンカリング層が影響を受けるとなく、スイッチング特性が安定した。 - 特許庁

Conversion parts 8, 9 which individually perform coordinate-conversion in each horizontal (X) direction and vertical direction (Y) are provided at a scan control part 12 to form two dimensional coordinates for scanning electron beams of a scanning electron microscope, and the electron beams are scanned in the arbitrary direction in the inspection object region of the sample.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の電子ビームを走査（スキャン）させるための２次元の座標を生成するスキャン制御部１２に、水平（Ｘ）方向及び垂直（Ｙ）方向毎に個別に座標変換する変換部８，９を備え、試料の検査対象領域で任意の方向に電子ビームを走査させる。 - 特許庁

To provide a probe capable of accommodating for various kinds of measurement when being used in a microscope and applying to a recorder, and provide an optical head using the probe, and inexpensive, simple manufacturing method of the probe.例文帳に追加

本発明の目的は、顕微鏡などに用いられた場合に様々な測定に対応することができ、記録装置にも応用することができるプローブ及びそれを用いた光ヘッドを提供すること、及びこのようなプローブの安価で簡単な製造方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope that has a small wear of a probe, has high measurement reliability, can control the travel of probe scanning easily, and can scan a sample surface quickly when measuring the sidewall, or the like of a minute groove, or the like on the sample surface.例文帳に追加

試料表面の微細な溝等の側壁等を測定するとき、探針の磨耗が小さく、測定信頼性が高く、探針走査の移動制御を簡単に行うことができ、試料表面を短時間に走査できる走査型プローブ顕微鏡およびその測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a vertical illumination optical system for a microscope having an adjusting function to adjust the image position of a light source to the rear focal position of each microscopic objective lens in response to replacement of the microscopic objective lens with a simple constitution, in a Koehler illumination system using a condenser lens array.例文帳に追加

集光レンズアレイを用いたケーラー照明系において簡単な構成で顕微鏡対物レンズの交換等に対応して光源の像位置を各顕微鏡対物レンズの後側焦点位置に調整する調整機能を有する顕微鏡用落射照明光学系。 - 特許庁

To make the state of samples observable from outside with a microscope while the observation samples are kept confined in a container at all times in a manner as to prevent the samples from spilling and leaking outside when dangerous microorganisms or very small underwater organisms are observed, cultured or transported.例文帳に追加

危険な微生物や微小な水中の生物を観察したり、培養したり或いは輸送したりする場合に、こぼれたりして外部に試料が漏れることがないように、終始入れ物の中に観察試料を閉じこめておきながら外部から試料の状態を顕微鏡で観察出来る様にする。 - 特許庁

The substrate for an information recording medium is characterized in that a cycle of the microscopic waviness falls within 2 μm to 4 mm, wa of the substrate main surface is 5 nm or less and Rmax is 12 nm or less, where a maximum height of this microscopic waviness is wa (95% PV value) and a maximum height measured by an atomic force microscope is Rmax.例文帳に追加

情報記録媒体用基板は、微小うねりの周期が２μｍ〜４ｍｍであって、この微小うねりの最大高さをwa（95％PV値）とし、原子間力顕微鏡によって測定した最大高さをRmaxとしたとき、該基板主表面のwaが5nm以下、Rmaxが12nm以下であることを特徴とする。 - 特許庁

To provide an image data display device in which the display size or display position of an image can be freely set without losing visibility even when image data acquired by a confocal microscope system and an image based on a profile of the image are simultaneously displayed, and to provide a program.例文帳に追加

共焦点顕微鏡システムによって取得した画像データと同時にその画像のプロファイルに基づく画像を表示した場合でも視認性を損なわず、画像の表示サイズや表示位置を自由に配置可能な画像データ表示装置及びプログラムを提供すること。 - 特許庁

The microscope is configured such that a field stop 210 is arranged between the sample 116 placed on a stage 105 and a condenser lens 202 and the light reflectivity of the surface S1 on a side opposite to an objective lens 113 of the field stop 210 is higher than that of the surface of the stage 105.例文帳に追加

本発明の顕微鏡は、ステージ１０５上に載置された標本１１６とコンデンサレンズ２０２との間に視野絞り２１０を配置し、視野絞り２１０の対物レンズ１１３に対向する側の面Ｓ１を、ステージ１０５の表面よりも光反射率を高く構成している。 - 特許庁

The scanning probe microscope comprises a probe holding mechanism A for pushing to hold a probe B having fixed a cantilever 6 provided with a probe 5 at its end by a lever 21 by a force acting equally on three clamp surfaces 3a, 3b, and 3c in a lower surface of a clamp body 1.例文帳に追加

本発明の走査型プローブ顕微鏡は、先端に探針５を設けたカンチレバー６を固着したプローブＢを、クランプ本体１の下面の３つのクランプ面３ａ，３ｂ，３ｃに等しく作用する力でレバー２１によって押し付けて保持するプローブ保持機構Ａを備えている。 - 特許庁

In the transmission electron microscope provided with the sample holder having a side part holding member and a back surface holding member in a sample stand, the sample holder is provided with an abutment part, on which a surface of the sample abuts, between the side part holding member and the back surface holding member.例文帳に追加

試料台に側部保持部材と裏面保持部材とを有する試料ホルダーを備える透過電子顕微鏡において、試料ホルダーの側部保持部材と裏面保持部材との間に、前記試料の表面が当接する当接部を備えることを特徴とする試料ホルダーを提供する。 - 特許庁

wt. polyamide, (B) 0.005-1 pt. wt. ethylene bis-oleic acid amide and (C) 0.01-2 pt. wt. barium stearate is characterized in that the mean value A and standard deviation B of a spherical crystal diameter observed by a polarlizing optical microscope satisfy the following formula (1): B/A≤0.3.例文帳に追加

ポリアミド（Ａ）１００重量部に対し、エチレンビスオレイン酸アミド（Ｂ）０．００５〜１重量部、ステアリン酸バリウム（Ｃ）０．０１〜２重量部からなり、偏光光学顕微鏡で観察した球晶直径の平均値Ａ、標準偏差Ｂが、次の（１）式を満たすことを特徴とするポリアミド樹脂組成物。 - 特許庁

In this evaluation method of the porous aggregate, a liquid whose refractive index difference from a refractive index of components is below 1 is impregnated into the porous aggregate formed by aggregating the plurality of components, and then observed by a microscope, to thereby confirm existence of a component larger than 0.4 μm.例文帳に追加

構成要素が複数集合した多孔性集合体に、該構成要素の屈折率に対して屈折率差が１以下の液体を含浸させた後、顕微鏡で観察することにより、０．４μｍ以上の構成要素の有無を確認することを特徴とする多孔性集合体の評価方法。 - 特許庁

The period of micro waviness of this substrate for an information recording medium is 2 μm to 4 mm, and the main surface of the substrate has a wa of 5 nm or less and an Rmax of 12 nm or less, where wa (95% PV value) is the maximum height of the microwaviness and Rmax is the maximum height measured by an atomic force microscope.例文帳に追加

情報記録媒体用基板は、微小うねりの周期が２μｍ〜４ｍｍであって、この微小うねりの最大高さをwa（95％PV値）とし、原子間力顕微鏡によって測定した最大高さをRmaxとしたとき、該基板主表面のwaが5nm以下、Rmaxが12nm以下であることを特徴とする。 - 特許庁

This substrate for information recording medium is characterized in that the period of the microscopic waviness is in 2 μm to 4 mm, wa of the substrate main surface is 5 nm or less and Rmax is 12 nm or less, where a maximum height of this microscopic waviness is wa (95% peak value) and a maximum height measured by an atomic force microscope is Rmax.例文帳に追加

情報記録媒体用基板は、微小うねりの周期が２μｍ〜４ｍｍであって、この微小うねりの最大高さをwa（95％PV値）とし、原子間力顕微鏡によって測定した最大高さをRmaxとしたとき、該基板主表面のwaが5nm以下、Rmaxが12nm以下であることを特徴とする。 - 特許庁

The degree of the influence of the image unsharpness by the heat of a lamp or a power source supplying electric power to the lamp is previously measured by experiment and a focusing section is so controlled as to negate the amount of the image unsharpness at all times by calculating the amount of the image unsharpness from this degree and the use conditions of the microscope.例文帳に追加

ランプやランプに電力を供給する電源などの熱による像ボケの影響度をあらかじめ実験により測定しておき、これと顕微鏡の使用条件から像ボケ量を算出し、像ボケ量を打ち消すように常にフォーカス部を制御する。 - 特許庁

This microscope is equipped with image-forming optical systems 4 and 11 forming a primary image O' of a sample, the projection optical system 15 projecting the primary image O' to the electronic imaging device 17, and a diaphragm 20 having a light-transmitting area where light is transmitted and a light-shielding area, where light is intercepted and controlling the irregular brightness.例文帳に追加

標本の一次像Ｏ’を形成する結像光学系４、１１と、一次像Ｏ’を電子撮像素子１７に投影する投影光学系１５と、光を透過する透過領域と光を遮光する遮光領域を有し明るさムラを制御する絞り２０とを備えた顕微鏡。 - 特許庁

A spherical part 38 disposed at one end of a support rod 36 is fitted into a receiving part 34 of a post-shaped part 32 screwed to an eyeball clip 22 attached to a support 6R on a side of the slit-lamp microscope 2, and a tweezers wiping cloth 20 is attached to the other end of the support rod 36.例文帳に追加

細隙燈顕微鏡２が側方に備える支柱６Ｒに取り付けた目玉クリップ２２にネジ止めした柱状部３２の受け部３４に、支持棒３６の一端に設けた球状部３８を嵌め、支持棒３６の他端にピンセット拭き取りようの布２０を取り付けてある。 - 特許庁

In a microscope including optical systems (4, 5, and 6) for microscopic observation in a column 2 erected on a base 11, the base 11 includes a leg piece 20 which is freely pulled out to both left and right sides of the base 11 and a storage box 30 which is freely pulled out to the front side of the base 11.例文帳に追加

基台１１に立設した支柱２に、顕微鏡観察する光学系（４，５，６）を設けた顕微鏡において、基台１１には、基台１１の左右側方に引き出し自在な脚片２０、基台１１の前方に引き出し自在な収納ボックス３０を設ける。 - 特許庁

A stand unit 11 of a module type microscope is provided with bolt holes 11b-1, 11b-2 which are coaxial with internal threaded portions 11e and receive a cylindrical portion 10b of a bolt 10, and a fitting hole 11c and an oval hole 11d to which the cylindrical portion 10b of the bolt 10 fits nearly closely.例文帳に追加

モジュール型顕微鏡のスタンド部１１に、めねじ部１１ｅと同軸であって、ボルト１０の円筒部１０ｂを受け容れるボルト穴１１ｂ−１，１１ｂ−２、ボルト１０の円筒部１０ｂがほぼ隙間なく嵌合する嵌合穴１１ｃ及び小判穴１１ｄを設ける。 - 特許庁

A method of managing an etching width includes a step of forming contact arrays R1, R2 having different intervals of contacts C1, C2, a step of wet etching an insulating layer with resist patterns corresponding to these contact arrays R1, R2 as masks, and a step of then observing the discoloring of the resist patterns of these contact arrays R1, R2 by a metallurgical microscope.例文帳に追加

コンタクトＣ１、Ｃ２の間隔が互いに異なるコンタクトアレイＲ１、Ｒ２を形成し、これらのコンタクトアレイＲ１、Ｒ２に対応したレジストパターンをマスクとして、絶縁層のウェットエッチングを行った後に、これらのコンタクトアレイＲ１、Ｒ２のレジストパターンの変色を金属顕微鏡にて観察する。 - 特許庁

As for the cover glass used for the total reflection illuminating fluorescence microscope, a substantially transparent thin film whose Young's modulus is 0.5 to 2KPa and whose refractive index is 1.4 to 1.5 exists on one surface of a glass substrate, and the thin film is formed such that many particulates are dispersed and fixed on its surface which is not in contact with the glass substrate.例文帳に追加

ガラス基板の片面上にヤング率０．５〜２ＫＰａで、屈折率１．４〜１．５の実質的に透明な薄膜が存在し、該薄膜はガラス基板と接していない表面に多数の微粒子が分散固定された全反射照明蛍光顕微鏡に用いるカバーガラスである。 - 特許庁

At the cover part 6, a panel and open and close doors 11a, 11b and a window part 14 or the like are mounted on a frame part 29, and in the frame part 29, the rear part frame body surrounding the electron microscope main body part 1 and the rear part side of the pedestal cabinet 24 and the front part frame body surrounding the front part side are coupled.例文帳に追加

カバー部６は、枠部２９にパネルや開閉扉１１ａ，１１ｂ，窓部１４などが取り付けられたものであり、枠部２９は、電子顕微鏡本体部１や架台筐体２４の後部側を囲む後部枠体と前部側を囲む前部枠体とが連結されたものである。 - 特許庁

To provide a magnetic field lens used for an electron gun of an electron beam device, particularly a probe-forming system (spot beam type electron beam aligner, electron microscope, etc.) which is suitable to an ultrahigh vacuum atmosphere, and can perform wabbling operation.例文帳に追加

電子ビーム装置、特に大電流で小直径なビームが必要とされるプローブフォーミングシステム（スポットビーム型電子線露光装置、分析用電子顕微鏡など）の電子銃に使用する磁場レンズに関し、超高真空雰囲気に適合し、かつワブリング動作が可能な磁場レンズを提供する。 - 特許庁

A height measurement function using a laser beam is provided by using a part of components of an optical microscope equipped in the electron beam analyzer, and consequently, the unevenness image of the sample surface can be simultaneously measured in the same visual field as the EPMA analysis image and the SEM observation image.例文帳に追加

レーザーを用いた高さ測定機能を、電子線分析装置が備える光学顕微鏡の構成要素の一部を兼用することによって設け、これによって、試料面の凹凸像をＥＰＭＡ分析像やＳＥＭ観察像と同一視野で同時測定を可能とする。 - 特許庁

A higher harmonic wave generation device 5 modulating a laser light beam Q transmitted through optical fiber 3 to a laser light beam Qa whose wavelength is different from that of the light beam Q and transmitting it to a scanning type optical microscope main body 4 is integrally fitted to the main body 4.例文帳に追加

光ファイバー３を伝送してきたレーザ光Ｑを、このレーザ光Ｑの波長とは異なる波長のレーザ光Ｑａに変調して走査型光学顕微鏡本体４に送る高調波発生装置５を、走査型光学顕微鏡本体４に一体的に取り付けた。 - 特許庁

To provide a method for quickly and firmly attaching the cover glass of an optical microscope sample to a lower material and a chamber with which reaction from a moment to a long time to stimulation to a live sample is continuously observed in high resolution.例文帳に追加

光学顕微鏡試料のカバーガラスを素早くかつ強固に下部材に密着する方法を提供すること、および生きた試料の刺激などに対する瞬時から長期に及ぶ反応を高解像度で継続的に観察することを可能にするチャンバーを提供すること。 - 特許庁

To provide information useful for the discrimination of a disease by standardizing an image analysis result liable to be unstable due to coloring or the setting condition of a microscope in blood application sample by using the analytical result of a cell other than a target cell.例文帳に追加

血液塗抹標本において、染色や顕微鏡の設定条件により不安定になりがちな画像解析結果を、非対象細胞の解析結果を用いることで基準化させることにより、より疾患鑑別に有用な情報を提供することを課題とする。 - 特許庁

A photographing system is connected for communication with an information processor which makes a microscope having an autofocusing control mechanism, an offset lens control mechanism, a stage control mechanism to control the displacement of the stage holding samples of the observation object, and a photographing mechanism to perform multipoint time lapse photographing.例文帳に追加

本発明は、オートフォーカス制御機構と、オフセットレンズ制御機構と、観察対象の試料が載せられるステージの変位を制御するステージ制御機構と、撮影機構と、を備える顕微鏡装置に、マルチポイント・タイムラプス撮影を行わせる情報処理装置を、通信接続した撮影システムである。 - 特許庁

To provide a method in which a probe can approach so as to accurately and softly come into contact with a minute sample only by operating a manipulator while performing microscope observation without requiring special detection means, and to provide a device for executing the same.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、特別な検出手段を要せず顕微鏡観察しながらマニピュレータを操作するだけで微小な試料へプローブが確実に且つソフトに接触するようにアプローチ出来る手法を提示すると共に、それを実行する装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope apparatus capable of acquiring a spectral image simultaneously from a plurality of samples and measuring a highly accurate chemical shift form an electronic energy loss spectrum extracted from the spectral image, a sample holder, a sample stage, and a method of acquiring the spectral image.例文帳に追加

複数個の試料から同時にスペクトル像を取得し、スペクトル像より抽出された電子エネルギー損失スペクトルから、高精度のケミカルシフトを測定することが可能な透過型電子顕微鏡装置，試料ホルダ，試料台及びスペクトル像の取得方法を提供する。 - 特許庁

The cantilever for processing, for processing a micropattern by use of an atomic force microscope (AFM), has a great number of probes as cutting blades provided at the top end of a lever part of a cantilever, and has the probes integrally formed with a common base material.例文帳に追加

原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）を利用して微細パターンの加工を行うための加工用カンチレバーについて、切れ刃となるプローブ（探針）がカンチレバーの１本のレバー部先端に多数設けられていることであり、上記プローブが共通の基材と一体に形成されていること。 - 特許庁

As to this stereoscopic microscope by which plural observers can simultaneously perform observation, and the observing direction of at least one observer can be changed, the relative observing positions of observers can be changed with each other in a condition where a specified observing direction is kept.例文帳に追加

複数人が同時に観察でき、かつ、少なくとも一人の観察者の観察方向を変更することができる実体顕微鏡において、観察者同士の相対的な観察位置を、所定の観察方向を保ったままの状態で、変更することができるようにしている。 - 特許庁

To provide a CDSEM (Scanning Electron Microscope) capable of highly accurately evaluating and presenting the length measurement reproducibility of the device without being affected by fluctuations of a fine shape, which tend to increase with the miniaturization of semiconductor patterns, and provide a reproducibility evaluation method as a device.例文帳に追加

半導体パターンの微細化に伴なって増加傾向にある微細形状揺らぎに影響されずに、装置の測長再現性能を高精度で評価して提示することができるＣＤＳＥＭ（走査型電子顕微鏡装置）及び装置としての再現性能評価方法を提供することにある。 - 特許庁

A Hilbert phase microscope is used to obtain parameters such as shape and volume for each frame, from high-resolution phase information relating to a transparent object, and quantify dynamical changes at a nanometer order resolution on the basis of a lot of images obtained on the millisecond time scale.例文帳に追加

ヒルベルト位相顕微鏡を使用し、透光性物体に関連した高解像度位相情報から、一フレーム毎の形状、体積のようなパラメータを得、ミリ秒の時間スケールで取得した多数の画像をもとに、ダイナミックな変動をナノメートルオーダーの分解能で定量化する。 - 特許庁

Subsequently, while the microscope is moved at a preset magnification interval from the highest magnification toward the lowest magnification, in each magnification, the imaged object is photographed by a television camera, the edge positions in X-axis direction and Y-axis direction are detected from the photographed image and stored.例文帳に追加

次いで、顕微鏡を最高倍率から最低倍率に向けて予め設定された倍率間隔で移動させながら、各倍率において被撮像物をテレビカメラにて撮影し、この撮影画像からＸ軸方向及びＹ軸方向のそれぞれのエッジ位置を検出し記憶する。 - 特許庁

To provide a living body organ support device and method that significantly decrease the motion of living body texture in imaging of living bodies, will not damage the texture, and acquire a laminating image of the depth direction, using a confocal laser microscope.例文帳に追加

生体イメージングにおいて生体組織の動きを大幅に減少させることができるとともに組織に損傷を与えることがなく、共焦点レーザ顕微鏡を用いて深さ方向の積層イメージを得ることを可能とする生体臓器支持装置および方法を提供する。 - 特許庁