「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(165ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a quantitative analytical method capable of analyzing quantitatively a mass of a specified substance with high sensitivity, using a fluorescence microscope image, even when the specified substance such as a protein and a eucaryotic cell having a size exceeding several μm is contained in a sample.例文帳に追加

数μｍを超える大きさを有するたんぱく質や真核細胞などの特定物質が試料中に含まれる場合でも、蛍光顕微鏡画像を用いてその特定物質の質量を高感度で定量分析することができる定量分析方法を提供する。 - 特許庁

The microscope imaging apparatus capable of communicating with the computer includes a communication means receiving imaging interval information transmitted from the computer, and a computer activation means activating the computer on a basis of the imaging interval information.例文帳に追加

計算機と通信可能な顕微鏡撮像装置は、前記計算機から送信される撮像間隔情報を受信する通信手段と、前記撮像間隔情報に基づいて、前記計算機を起動させる計算機起動手段と、を備えることにより、上記課題の解決を図る。 - 特許庁

The panorama image synthesis technique in the wide-field imaging region (EP) using the scanning charged-particle microscope, optimizes an imaging sequence including arrangement of respective adjusting points and imaging order of respective local imaging regions and the respective adjusting points to create an imaging recipe.例文帳に追加

走査荷電粒子顕微鏡を用いた広視野な撮像領域（ＥＰ）におけるパノラマ画像合成技術において、各調整ポイントの配置並びに各局所撮像領域（及び各調整ポイントの撮像順からなる撮像シーケンスを最適化して撮像レシピとして作成することを特徴とする。 - 特許庁

To provide an objective lens which is made to so as to have high resolution when the resolution of a stereomicroscope is high when used in the stereomicroscope having magnification converters and whose resolution is larger than that of the well-known steromicroscope and moreover which can use the whole magnification area of the microscope without vignetting.例文帳に追加

倍率変換器を有する立体顕微鏡に使用する際に、倍率が高い場合には高い分解能を有するようにし、この分解能は公知の立体顕微鏡よりも大きく、さらに顕微鏡の倍率領域全体を、口径食なしで使用できる対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide a lighting system for a microscope that creates diffusion incident lighting, is readily applicable to different working distances, reduces the injury risk of a user and damage risk of the device, readily approaches a sample, and is readily operated.例文帳に追加

拡散入射照明を作り出し、異なる作動距離に対し容易に適用可能であって、使用者がケガをする危険性及び装置に対する損傷の危険性を減少させ、且つ試料に容易に接近可能であって操作が簡単である、顕微鏡用照明装置をもたらすことである。 - 特許庁

The microscope illuminator includes: a light source 11 including a solid-state light emitting element for emitting illuminating light; and an illuminating optical system including, in order from the light source 11, a collector lens 12 for condensing illuminating light and a condenser lens 14 for emitting illuminating light to a specimen 3.例文帳に追加

顕微鏡用照明装置は、照明光を射出する固体発光素子からなる光源１１と、光源１１側から順に、照明光を集光するコレクタレンズ１２と照明光を標本３へ照射するコンデンサレンズ１４とを含む照明光学系と、を含んで構成される。 - 特許庁

The method for detecting microorganisms in a sample which is dyed by fluorescent dyeing by the microscope having an autofocusing function, includes a fluorescent particle-adding step for adding fluorescent particles having a height nearly equal to the microorganisms to the sample.例文帳に追加

微生物検出方法が、試料中の蛍光染色された微生物をオートフォーカス機能を有する顕微鏡によって検出する微生物検出方法であって、微生物と同等の高さを有する蛍光粒子を試料中に添加する蛍光粒子添加工程を具備する。 - 特許庁

The electron microscope includes a signal processing part which calculates a deterioration function of images based on the detection signal obtained by scanning charged particle beams with two kinds of scanning speeds of a scanning speed in the band width of a detector and its amplifying circuit and a scanning speed exceeding the upper limit of the band width.例文帳に追加

検出器およびその増幅回路の帯域幅内の走査速度と、上記帯域幅の上限を超える走査速度の２種の走査速度で荷電粒子線を走査して得られる検出信号に基づき、画像の劣化関数を算出する信号処理部を設ける。 - 特許庁

A device 140 for adjusting classification classifies defects into a first class group according to the feature amount of the defects that are obtained from image data obtained from an electron microscope 110, and also classifies the defects into a second class group according to the feature amount of the defects classified into the first class group.例文帳に追加

分類調整装置１４０は、電子顕微鏡１１０から得られた画像データよりより得られる欠陥の特徴量より、当該欠陥を第一のクラス群に分類し、当該第一のクラス群に分類された前記欠陥の前記特徴量より、前記欠陥を第二のクラス群に分類する。 - 特許庁

In the separator material for fuel cell, the Au plating layer 2-20 nm in thickness and 0.5-1.5 nm in arithmetic surface roughness (Ra) measured in a crystal grain of a metal substrate by an atomic force microscope is formed on a surface of the metal substrate.例文帳に追加

金属基材の表面に、厚み２〜２０ｎｍで、かつ前記金属基材の結晶粒内において原子間力顕微鏡により測定した算術表面粗さ（Ｒａ）が０．５〜１．５ｎｍであるＡｕめっき層が形成されている燃料電池用セパレータ材料である。 - 特許庁

To provide an optical microscope capable of performing observation by proper focal illumination by relatively rotating a sample and focal illumination with respect to the vertical axis of the sample, while being made to correspond to the shape of the sample, thereby performing irradiation, without intercepting the focal illumination by the sample.例文帳に追加

標本の形状に対応させて、標本と偏斜照明を標本の垂直軸に対して相対的に回転させることにより、標本によって偏斜照明が遮断されることなく照射され、適切な偏斜照明により観察することができる光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

In this detector suitable for a scanning electron microscope or the like, which is a PIN photodiode having a thin layer of pure boron connected to the p^+-diffusion layer, the boron layer is connected to an electrode having an aluminum grid to form a path of low electrical resistance on each position between the boron layer and the electrode.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡等に適した検出器は、p^＋‐拡散層に接続された純ホウ素の薄い層をもつPINフォトダイオードで、そのホウ素層は、アルミニウム・グリッドをもつ電極に接続され、そのホウ素層と電極との間の各々の位置において低い電気抵抗の経路を形成する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope for certainly sticking a sample to a substrate, more concretely, without using a metal ion source as a solution, and without requiring an expensive coat on the rear surface of a cantilever.例文帳に追加

本発明は走査型プローブ顕微鏡に関し、更に詳しくは溶液として金属イオン源を用いることなく、またカンチレバー背面に高価なコートをする必要がなく、かつ試料を確実に基板に付着させることができる走査型プローブ顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a size analysis program accurately determining parameters such as a correlation distance and variance required to evaluate the roughness of a pattern of a semiconductor device by using a size measurement apparatus such as a scanning electron microscope or the like, and a size measurement apparatus.例文帳に追加

本発明は、走査電子顕微鏡等の寸法測定装置を用いて、半導体デバイスのパターンのラフネスを評価する際に要する相関距離や分散といったようなパラメータを、正確に決定することが可能な寸法解析プログラム、寸法計測装置の提供を目的とする。 - 特許庁

The reference dimensions of the plurality of patterns may be obtained by measuring the plurality of patterns by an Atomic Force Microscope: AFM, or alternatively, may be obtained on the basis of sectional shapes or the like of the patterns obtained by applying simulation to semiconductor pattern design data.例文帳に追加

複数パターンの基準寸法は、原子間力顕微鏡（Atomic Force Microscope：ＡＦＭ）によって、上記複数のパターンを測定することによって得るようにしても良いし、半導体パターンの設計データにシミュレーションを施すことによって得られるパターンの断面形状等に基づいて求めるようにしても良い。 - 特許庁

To provide an inspection system for improving working efficiency by reducing a confirmation work load using a microscope by discriminating types of defects and deciding whether the types are appropriate, by processing the defective images with a plurality of thresholds for all the defects within a substrate.例文帳に追加

基板内の全ての欠陥に対して複数の閾値によって欠陥画像を処理して欠陥の種類の判別と良否判定を行う事により、顕微鏡による確認作業負荷を削減する事を可能とし、作業効率を向上させる検査システムを提供する。 - 特許庁

In the technique of discriminating the skin internal structure, with the skin surface information of the texture and/or the skin color or the like as an index, a parameter measured using a confocal laser microscope as the skin internal structure is estimated utilizing estimation formula obtained by multivariable analysis.例文帳に追加

キメ及び／又は肌色等の皮膚表面情報を指標に、皮膚内部構造として共焦点レーザー顕微鏡を用いて計測されたパラメータを、多変量解析によって得られた推定式を利用して推定することを特徴とする、皮膚内部構造を鑑別する技術に関する。 - 特許庁

To provide a method capable of easily fabricating a sample for a transmission electron microscope in a short time without requiring troublesome pretreatments nor causing sample damage, for an organic material with a thin film of a metal or compound formed on at least one end surface thereof.例文帳に追加

有機材料表面の少なくとも片端面に金属薄膜あるいは化合物薄膜を成膜した材料について、面倒な前加工を施すことなく簡便、かつ短時間に、試料損傷を与えずに透過電子顕微鏡用試料を作製できる方法の提供。 - 特許庁

To provide an operative part observing system capable of correctly detecting an observation position in a pickup image to be provided for an operator even when a visual field is moved in a system comprising a microscope for an operation combined with an endoscope device provided with a visual field moving function as the most important feature.例文帳に追加

本発明は、手術用顕微鏡と、視野移動機能を備えた内視鏡装置とを組み合せたシステムで視野移動を行った場合でも撮像画像の観察位置を正しく検出して術者に呈示できる術部観察システムを提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

To provide a device capable of evaluating nano-level thermoelectric material tissues and thermoelectric characteristics at the same time, a method of observing a thermoelectric material using the same, by generating a thermoelectric effect in an electron microscope, and visualizing an ensuing magnetic field.例文帳に追加

本発明は、電子顕微鏡内で熱電効果を発生させ、それに伴う発生磁場を可視化することにより、ナノレベルの熱電材料組織と熱電特性を同時に評価できる装置およびそれを用いた熱電材料を観察する方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide an objective lens which is constituted by previously incorporating respective elements such as a polarizer and a quarter-wave plate necessary for extremely low magnification observation, thereby capable of switching observation from a very low magnification to a high magnification by only making a revolver revolve, and to provide a microscope device which includes the lens.例文帳に追加

極低倍の観察に必要な偏光子や１／４波長板などの各素子を予め組み込んで構成することで、レボルバの回転作業のみで、極低倍から高倍までの観察を切り替えることが可能な対物レンズ及びこれを有する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

A microscope 11 is provided with an object lens 22 for throwing the fluorescence developed from the specimen 13 on an observation optical system for forming the image of the specimen 13 and an image guide 25 composed of a plurality of optical fibers and throwing the fluorescence developed from the specimen 13 on the object lens 22.例文帳に追加

顕微鏡１１には、標本１３から発現した蛍光を標本１３の像を結像させるための観察光学系に入射させる対物レンズ２２と、複数の光ファイバからなり、標本１３から発現した蛍光を対物レンズ２２に入射させるイメージガイド２５とが設けられている。 - 特許庁

The measuring method for microorganism contains a step to label the microorganism with fluorescent light, a step to pass the sample liquid containing the microorganism as a micro-flow, a step to photograph the microorganism in the micro-flow with a fluorescent microscope by color photography, and a step to count the number of microorganisms from the photographed image.例文帳に追加

また、微生物の計測方法が、微生物を蛍光標識する工程と、微生物を含むサンプル液をマイクロフローとして流す工程と、マイクロフロー中の微生物を蛍光顕微鏡を介してカラー撮影する工程と、撮影された画像から微生物の数を計測する工程とを含む。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a sample for cross-section observation by a scanning electron microscope that is appropriate to smooth cross-section formation of 10-100 μm order, does not require a skilled technique of a worker, has high processing position accuracy, and accurately forms a cross section at a desired specific position.例文帳に追加

１０μｍ〜１００μｍオーダーの平滑な断面形成に適し、作業者の熟練の技術を必要とせず、かつ加工位置精度に優れ、所望の特定位置に正確に断面を形成できる、走査電子顕微鏡による断面観察用サンプルの作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method which enables the making of a sample for a transmission electron microscope simply and in a shorter time without damaging it by eliminating any troublesome preliminary working for a material with a metal thin film or a chemical thin film formed on at least one end face of a glass base material.例文帳に追加

ガラス基材の少なくとも片端面に金属薄膜あるいは化合物薄膜を成膜した材料について、面倒な前加工を施すことなく簡便、かつ短時間に、試料損傷を与えずに透過電子顕微鏡用試料を作製できる方法の提供。 - 特許庁

In an image recording method of the laser scanning confocal microscope device, each of a plurality of laser lights having at least different wavelengths is scanned on a specimen as a spot light, light from the specimen based on the spot light is detected, and obtained image information is recorded by segmenting it.例文帳に追加

レーザ走査型共焦点顕微鏡装置の画像記録方法として、少なくとも波長の異なる複数のレーザ光の各々をスポット光として試料上に走査し、このスポット光に基づく試料からの光を検出し、得られた画像情報を切り分けて記録する、ようにする。 - 特許庁

An eyepiece 1 of a measurement microscope is provided with a frame 2, a rotor 3 placed freely rotatably on the frame 2 and a reticle 6 placed on the rotor 3 and is constituted by providing a capacitance type encoder 10 for measuring the rotation displacement of the rotor 3 in the frame 2.例文帳に追加

測定顕微鏡の接眼レンズ１を、フレーム２と、このフレーム２に回転自在に設けられたロータ３と、このロータ３に設けられたレチクル６とを備えたものとするとともに、フレーム２内にロータ３の回転変位量を測定する静電容量型エンコーダ１０を設けて構成した。 - 特許庁

To provide an image data analysis device with which image processing conditions (threshold value or the like) enabling desired pattern edges with good reproductivity can be easily obtained by using image data obtained by using a scanning type microscope (CD-SEM) even if the patterns change structures in a height direction.例文帳に追加

高さ方向で構造が変化するようなパターンであっても、走査型顕微鏡（ＣＤ−ＳＥＭ）を用いて取得した画像データを用いて所望のパターンエッジが再現性よく決定できる画像処理条件（閾値等）を、簡便に得ることのできる画像データ解析装置を提供する。 - 特許庁

The ruthenium tetroxide reducing material according to this invention effectively reduces the ruthenium tetroxide having high degree of risk, occurring from atomic power plants, in utilization of radioactive rays or from the catalysts for organic synthetic reactions and in dyed samples for electron microscope or the like to ruthenium dioxide that is made insoluble with the risk reduced.例文帳に追加

本発明の四酸化ルテニウム還元材は、原子力、放射線利用、有機合成反応に用いる触媒、電子顕微鏡用の染色等で発生する、危険度の高い四酸化ルテニウムを危険度の低い二酸化ルテニウムに還元し、不溶化するのに有効である。 - 特許庁

To provide an electron microscope with a magnetic image forming energy filter suitable for forming an energy-filtered object image or a diffraction image in a detector plane and suitable for forming a dispersion plane image in the detector plane for the parallel registration positioning of the energy spectrum.例文帳に追加

エネルギフィルタリングされた対象物像又は回析像を検出器平面内に結像するのに適しているのみならず、エネルギスペクトルのパラレルレジストレーション位置合せのため検出器平面内へ分散平面を結像するのにも適する磁気形結像エネルギフィルタを有する電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect analysis method and its system for analyzing defect, based on an emission image that is detected by an emission microscope corresponding to a circuit block in an LSI chip for a semiconductor device where LSI chips such as system LSIs are arranged.例文帳に追加

システムＬＳＩなどのようなＬＳＩチップが配列された半導体装置に対してＬＳＩチップ内部における回路ブロックに対応付けしてエミッション顕微鏡によって検出される発光像に基いて不良解析をできるようにした不良解析方法およびそのシステムである。 - 特許庁

To provide an image forming method and an electron microscope capable of accurately or effectively acquiring information required for comparison regarding an image forming method accompanying with comparison among images such as three-dimensional image construction and a device for forming such images.例文帳に追加

本発明の目的は、３次元像構築等の画像間の比較を伴う画像形成方法、及び当該画像を形成する装置について、比較に要する情報を、高精度、或いは効率よく取得することが可能な画像形成方法、及び電子顕微鏡の提供にある。 - 特許庁

The problem is solved by providing the infrared microscope equipped with: the up-conversion phosphor disposed at the imaging position of an imaging lens that converts infrared light to visible light; and an imaging element that detects the visible light converted by the up-conversion phosphor.例文帳に追加

本発明の上記課題は、赤外光を可視光に変換する結像レンズの結像位置に配置されたアップコンバージョン蛍光体と、アップコンバージョン蛍光体で変換された可視光を検出する撮像素子とを備えた赤外線顕微鏡を提供することで解決される。 - 特許庁

To quantitatively and accurately measure the carrier concentration of a measured sample such as a semiconductor substrate by a semiconductor measuring device using a scanning capacitance microscope, and to provide a method for measuring the carrier concentration inexpensively without increasing the scale nor cost of a measurement system.例文帳に追加

走査型容量顕微鏡を用いた半導体測定装置において、半導体基板などの測定サンプルのキャリア濃度を定量的に正確に測定することができ、しかもこのようなキャリア濃度の測定を、測定システムの規模の増大やコストアップを招くことなく低コストで行う方法の提供。 - 特許庁

To perform the measurement of mm-class wide scanning with high reproducibility and measuring accuracy without causing such problems as probe wear excluding undesirable force to the sample surface being applied to the probe with a scanning probe microscope for observing a μm-class fine target.例文帳に追加

μｍ級の微小対象物の観察を行える走査型プローブ顕微鏡で、探針に加わる好ましくない試料表面に平行な力を除き、ｍｍ級の広域走査の測定を探針摩耗等の問題を起こすことなく高い再現性、測定精度で行えるようにする。 - 特許庁

In the endscope 2 used together with a microscopic operation 1, the shortest linear length 1 of an insertion section 7 of the endoscope and a holding section 8 combined together is shorter than the focal distance L of the objective lens 6 of the microscope for operation 1.例文帳に追加

本発明は、手術用顕微鏡１と併用する内視鏡２において、手術用顕微鏡１の対物レンズ６の焦点距離Ｌよりも内視鏡２の挿入部７と把持部８を合わせた最短直線長さいｌのほうが短くなるように構成したものである。 - 特許庁

This emission microscope is provided with an ultraviolet ray irradiating device 12 for irradiating with an ultraviolet ray a sample 8 stored inside a vacuum container 15, an electrode current introducing terminal 9 for impressing pulse voltage to the sample 8, and a pulse generator 10.例文帳に追加

エミッション顕微鏡には、真空容器１５の内部に収容された試料８に紫外線光を照射する紫外線照射装置１２と、試料８にパルス電圧を印加するための電極（不図示）、電流導入端子９およびパルス発生器１０とが備えられている。 - 特許庁

To provide a scanning transmission electron microscope capable of independently setting capturing angle ranges of a scattered electron beam detector and an energy spectrometer, and not requiring to change a condition of the energy spectrometer for the change of the capturing angle range of the scattered electron beam detector.例文帳に追加

散乱電子線検出器の取り込み角度範囲の設定と独立にエネルギー分光器の取りこみ角度範囲が設定でき、散乱電子線検出器の取り込み角度範囲の変化に対してエネルギー分光器の条件を変更する必要がない走査透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of optionally changing a filter transmission wavelength band without preparing an optical filter for every fluorescent wavelength even in the case of changing the fluorescent wavelength, filtering only the wavelength of an exciting laser beam and yielding a distinct fluorescent image without being influenced in terms of manufacture and environment.例文帳に追加

蛍光波長を変更する場合でも光学フィルタを各蛍光波長毎に用意することなくフィルタ透過波長帯域を任意に変更可能で、励起レーザビームの波長のみをフィルタリングでき、製造上及び環境上の影響を受けずに鮮明な蛍光画像を得ること。 - 特許庁

The scalpel for fabricating slices of various samples and/or for creating a surface of the highest quality, particularly the scalpel for fabricating laminas or sub-laminas using a microtome or ultramicrotome with a blade and a blade holder, preferably for electron microscope inspection, has its blade fabricated from synthetic diamond.例文帳に追加

種々の試料の切片製造用及び／又は最高品質の表面生成用メス、とりわけ、好ましくは電子顕微鏡検査のための、刃及び刃ホルダを有するミクロトーム又はウルトラミクロトームによる薄片ないし亜薄片製造用メスは、刃が、合成ダイヤモンドから製造されている。 - 特許庁

Besides, by using an optical observation apparatus utilizing the interference and refraction of light, without shrinking the resist pattern like the conventional case of recognizing the resist pattern by using an electron microscope, the line width can be precisely measured in a nondestructive manner.例文帳に追加

また、光の干渉、回折を利用した光学観察装置を用いることにより、従来において電子顕微鏡を用いてレジストパターンの認識を行った場合のようにレジストパターンの収縮を発生させることはなく、非破壊で精密に線幅を測定することができる。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which can easily obtain a confocal color image of a necessary area or focus measurement data by making pixels or pixel groups of a confocal image and a CCD color image correspond to each other even when both the images are different resolution.例文帳に追加

共焦点画像とＣＣＤカラー画像の解像度が異なる場合であっても、両画像の画素又は画素群を対応付けることにより、必要な領域の共焦点カラー画像又は共焦点測定データが容易に得られる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To enhance processing speed in an analysis method of an energy loss spectroscopic device and a transmission electron microscope, equipped with the energy loss spectroscopic device.例文帳に追加

本発明はエネルギー損失分光装置の分析方法及びエネルギー損失分光装置を備えた透過電子顕微鏡に関し、処理速度を向上させることができるエネルギー損失分光装置の分析方法及びエネルギー損失分光装置を備えた透過電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide an electron emitting cathode, capable of attaining a high luminance due to low electron affinity while sufficiently ensuring heat radiation performance, and reducing the energy width by reducing heating temperature, to provide an electron microscope, and to provide an electron beam exposing machine provided with the electron emitting cathode.例文帳に追加

放熱性を十分に確保しつつ、電子親和力が低いことにより、高輝度を達成するとともに加熱温度を抑えてエネルギー幅を抑制することが可能な電子放射陰極、当該電子放射陰極を備えた電子顕微鏡および電子ビーム露光機を提供する。 - 特許庁

To easily carry out incident axis adjusting method of a scattered electron beam against an annular dark field scanning image detector regarding an incident axis adjusting method of a scattered electron beam against an annular dark field scanning image detector and a scanning transmission electron microscope.例文帳に追加

本発明は環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡に関し、環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸合わせ容易に行うようにすることを目的としている。 - 特許庁