「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(165ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a magnetic field lens used for an electron gun of an electron beam device, particularly a probe-forming system (spot beam type electron beam aligner, electron microscope, etc.) which is suitable to an ultrahigh vacuum atmosphere, and can perform wabbling operation.例文帳に追加

電子ビーム装置、特に大電流で小直径なビームが必要とされるプローブフォーミングシステム（スポットビーム型電子線露光装置、分析用電子顕微鏡など）の電子銃に使用する磁場レンズに関し、超高真空雰囲気に適合し、かつワブリング動作が可能な磁場レンズを提供する。 - 特許庁

To provide a method in which a probe can approach so as to accurately and softly come into contact with a minute sample only by operating a manipulator while performing microscope observation without requiring special detection means, and to provide a device for executing the same.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、特別な検出手段を要せず顕微鏡観察しながらマニピュレータを操作するだけで微小な試料へプローブが確実に且つソフトに接触するようにアプローチ出来る手法を提示すると共に、それを実行する装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope apparatus capable of acquiring a spectral image simultaneously from a plurality of samples and measuring a highly accurate chemical shift form an electronic energy loss spectrum extracted from the spectral image, a sample holder, a sample stage, and a method of acquiring the spectral image.例文帳に追加

複数個の試料から同時にスペクトル像を取得し、スペクトル像より抽出された電子エネルギー損失スペクトルから、高精度のケミカルシフトを測定することが可能な透過型電子顕微鏡装置，試料ホルダ，試料台及びスペクトル像の取得方法を提供する。 - 特許庁

The cantilever for processing, for processing a micropattern by use of an atomic force microscope (AFM), has a great number of probes as cutting blades provided at the top end of a lever part of a cantilever, and has the probes integrally formed with a common base material.例文帳に追加

原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）を利用して微細パターンの加工を行うための加工用カンチレバーについて、切れ刃となるプローブ（探針）がカンチレバーの１本のレバー部先端に多数設けられていることであり、上記プローブが共通の基材と一体に形成されていること。 - 特許庁

As to this stereoscopic microscope by which plural observers can simultaneously perform observation, and the observing direction of at least one observer can be changed, the relative observing positions of observers can be changed with each other in a condition where a specified observing direction is kept.例文帳に追加

複数人が同時に観察でき、かつ、少なくとも一人の観察者の観察方向を変更することができる実体顕微鏡において、観察者同士の相対的な観察位置を、所定の観察方向を保ったままの状態で、変更することができるようにしている。 - 特許庁

To provide a CDSEM (Scanning Electron Microscope) capable of highly accurately evaluating and presenting the length measurement reproducibility of the device without being affected by fluctuations of a fine shape, which tend to increase with the miniaturization of semiconductor patterns, and provide a reproducibility evaluation method as a device.例文帳に追加

半導体パターンの微細化に伴なって増加傾向にある微細形状揺らぎに影響されずに、装置の測長再現性能を高精度で評価して提示することができるＣＤＳＥＭ（走査型電子顕微鏡装置）及び装置としての再現性能評価方法を提供することにある。 - 特許庁

The microscope imaging apparatus capable of communicating with the computer includes a communication means receiving imaging interval information transmitted from the computer, and a computer activation means activating the computer on a basis of the imaging interval information.例文帳に追加

計算機と通信可能な顕微鏡撮像装置は、前記計算機から送信される撮像間隔情報を受信する通信手段と、前記撮像間隔情報に基づいて、前記計算機を起動させる計算機起動手段と、を備えることにより、上記課題の解決を図る。 - 特許庁

The panorama image synthesis technique in the wide-field imaging region (EP) using the scanning charged-particle microscope, optimizes an imaging sequence including arrangement of respective adjusting points and imaging order of respective local imaging regions and the respective adjusting points to create an imaging recipe.例文帳に追加

走査荷電粒子顕微鏡を用いた広視野な撮像領域（ＥＰ）におけるパノラマ画像合成技術において、各調整ポイントの配置並びに各局所撮像領域（及び各調整ポイントの撮像順からなる撮像シーケンスを最適化して撮像レシピとして作成することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a method for quickly and firmly attaching the cover glass of an optical microscope sample to a lower material and a chamber with which reaction from a moment to a long time to stimulation to a live sample is continuously observed in high resolution.例文帳に追加

光学顕微鏡試料のカバーガラスを素早くかつ強固に下部材に密着する方法を提供すること、および生きた試料の刺激などに対する瞬時から長期に及ぶ反応を高解像度で継続的に観察することを可能にするチャンバーを提供すること。 - 特許庁

To provide information useful for the discrimination of a disease by standardizing an image analysis result liable to be unstable due to coloring or the setting condition of a microscope in blood application sample by using the analytical result of a cell other than a target cell.例文帳に追加

血液塗抹標本において、染色や顕微鏡の設定条件により不安定になりがちな画像解析結果を、非対象細胞の解析結果を用いることで基準化させることにより、より疾患鑑別に有用な情報を提供することを課題とする。 - 特許庁

A Hilbert phase microscope is used to obtain parameters such as shape and volume for each frame, from high-resolution phase information relating to a transparent object, and quantify dynamical changes at a nanometer order resolution on the basis of a lot of images obtained on the millisecond time scale.例文帳に追加

ヒルベルト位相顕微鏡を使用し、透光性物体に関連した高解像度位相情報から、一フレーム毎の形状、体積のようなパラメータを得、ミリ秒の時間スケールで取得した多数の画像をもとに、ダイナミックな変動をナノメートルオーダーの分解能で定量化する。 - 特許庁

Subsequently, while the microscope is moved at a preset magnification interval from the highest magnification toward the lowest magnification, in each magnification, the imaged object is photographed by a television camera, the edge positions in X-axis direction and Y-axis direction are detected from the photographed image and stored.例文帳に追加

次いで、顕微鏡を最高倍率から最低倍率に向けて予め設定された倍率間隔で移動させながら、各倍率において被撮像物をテレビカメラにて撮影し、この撮影画像からＸ軸方向及びＹ軸方向のそれぞれのエッジ位置を検出し記憶する。 - 特許庁

To provide a living body organ support device and method that significantly decrease the motion of living body texture in imaging of living bodies, will not damage the texture, and acquire a laminating image of the depth direction, using a confocal laser microscope.例文帳に追加

生体イメージングにおいて生体組織の動きを大幅に減少させることができるとともに組織に損傷を与えることがなく、共焦点レーザ顕微鏡を用いて深さ方向の積層イメージを得ることを可能とする生体臓器支持装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope for surgery which can store at least one observation focus positions in observing the anterior segment and eyeground segment of the eye to be examined and can automatically execute focusing on the basis of the stored observation focus positions when observing either of the observation parts thereafter.例文帳に追加

本発明は、被検眼の前眼部と眼底部を観察する際に少なくとも一方の観察フォーカス位置を記憶し、その後いずれかの観察部位を観察する場合には記憶した観察フォーカス位置を基にして自動的にフォーカスを行うことが可能な手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To obtain a low-priced easy-handling microscope for increasing the resolution of an image detected within a wavelength extent including the wavelength areas of ultraviolet light and visible light and making a non-confocal image in an ultraviolet light wavelength area and a confocal image in a visible light wavelength area overlap each other.例文帳に追加

本発明は、紫外線及び可視光線の波長領域を含む波長範囲で検出された像の解像度を高くし、紫外線波長領域での非共焦点像と可視光線波長領域での共焦点像とを容易に重ね合わせることができる安価で取り扱いやすいものとする。 - 特許庁

To provide a microscopic stage with which the entire part of a culture vessel can be warmed at all times in spite of moving of the culture vessel in a two-dimensional direction and further, even a high-powered microscope can come close to observation objects, such as cells, before an objective lens and condenser lens focus at them.例文帳に追加

培養容器を二次元方向へ移動しても培養容器全体を常に加温することができて、更に高倍率の顕微鏡でも対物レンズ及びコンデンサの焦点が合うまで細胞等の観察対象に接近することができる顕微鏡ステージを提供する。 - 特許庁

In this positioning device for circulating nozzle 1 for retaining a circulating nozzle N for injecting a liquid to a vessel (Petri dish or the like) or discharging the liquid from the vessel, a nozzle retaining member 3 for retaining the circulating nozzle N is provided on a base part 2 fixable on a prescribed reference plane (the stage of a microscope).例文帳に追加

容器（シャーレ等）に液体を注入し、又は容器から液体を排出する還流ノズルＮを保持する還流ノズル位置決め装置１であって、所定の基準面（顕微鏡のステージ）に定置可能なベース部２上に、還流ノズルＮを保持するノズル保持部材３を設ける。 - 特許庁

The stereoscopic microscope 10 is used for observation of a sample 11, and many holes 15 piercing a stage 12 in a prescribed direction are formed in the stage 12 on which the sample 11 is placed, and the stage 12 is provided with a porous member 14 made of a material which is opaque and has a low reflectivity.例文帳に追加

標本１１の観察に用いられる実体顕微鏡１０であって、標本１１を載置する載物台１２に、所定方向に貫通する多数の孔１５，１５，…が形成され、かつ、不透明で反射率が小さい物質からなる多孔質部材１４を設ける。 - 特許庁

Since the microscope main body 6 is equipped with an object optical system 18, a zoom optical system 20 and an ocular optical system 25, the main operator D1 looks a pair of optical image K having binocular disparity in the observation direction A of the main operator D1 from the ocular optical system 25 to stereoscopically observe the operation part T.例文帳に追加

顕微鏡本体６が対物光学系１８、ズーム光学系２０、接眼光学系２５を備えるため、主術者Ｄ１は接眼光学系２５から主術者Ｄ１の観察方向Ａでの両眼視差を有する一対の光学像Ｋを見て、術部Ｔを立体的に観察できる。 - 特許庁

The alignment mark of the mask and the alignment mark of the panel to be attached are detected while being shifted timewise without moving the position of an alignment microscope in the XYθ directions and, as the result, the mask and the panel are relatively moved such that the detected both alignment marks comes to a prescribed positional relation.例文帳に追加

マスクのアライメントマークと貼り合せを行なうパネルのアライメントマークとを、アライメント顕微鏡の位置をＸＹθ方向には移動させないで時間的にずらして検出し、検出した両アライメントマークが所定の位置関係になるように、マスクとパネルとを相対的に移動させる。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope apparatus, a sample holder, a sample stage and a method for acquiring a spectral image, capable of acquiring the spectral image from a plurality of pieces of samples simultaneously, and measuring a chemical shift of high precision from an electron energy loss spectrum extracted from the spectral image.例文帳に追加

複数個の試料から同時にスペクトル像を取得し、スペクトル像より抽出された電子エネルギー損失スペクトルから、高精度のケミカルシフトを測定することが可能な透過型電子顕微鏡装置，試料ホルダ，試料台及びスペクトル像の取得方法を提供する。 - 特許庁

In a hardness tester 1 which measure the hardness of a sample S by pushing an indenter 11 against the sample S and is provided with an optical system which can observe the recess, a probe microscope 17 which can scan the surface of the recess with a probe 18 is provided.例文帳に追加

試料Ｓに圧子１１を押し付けることによって形成されるくぼみから硬さを測定し、前記くぼみを観察可能な光学システムを備える硬さ試験機１において、前記くぼみの表面をプローブ１８によって走査可能であるプローブ顕微鏡１７を備えている。 - 特許庁

This scanning probe microscope is characterized by having the electrically independent plural probes 10a, 10b or the like, among which two or more probes 10a, 10b or the like are nanotube probes and one or more probes 10a, 10b or the like are equipped with image observation function.例文帳に追加

電気的に独立した複数のプローブ１０ａ，１０ｂ等を有し、プローブ１０ａ，１０ｂ等のうち、２本以上のプローブ１０ａ，１０ｂ等がナノチューブプローブであり、かつ、１本以上のプローブ１０ａ，１０ｂ等が像観察機能を備えることを特徴とする走査型プローブ顕微鏡である。 - 特許庁

The focus stabilization mechanism of the microscope, etc., comprises, constituting the optical machine consisting of optical system sections fabricated to a type symmetrical with the optical axis in both of weights and shapes and peripheral sections having a sample positioning mechanism, by combining respective components which has nearly zero for the dependence on temperature.例文帳に追加

光軸に重量、形状とも対象型につくられた光学系部と試料位置決め機構を有す周辺部とからなる光学機械において、それぞれのコンポーネントを温度依存性がゼロに近いものを組み合わせて構成したことを特徴とする顕微鏡等のフォーカス安定性機構。 - 特許庁

The semiconductive belt includes an elastic layer made of a semiconductive rubber and a surface layer, wherein the surface layer is composed of a resin layer, containing a polytetrafluoroethylene resin fine powder, and a hardness-corresponding peak voltage value of the surface layer measured by an SPM (scanning probe microscope) method is ≤-6.35 V.例文帳に追加

半導電性ゴムからなる弾性層と表面層からなり，表面層はポリ四フッ化エチレン樹脂微粉末を含有する樹脂層からなり，表面層のＳＰＭ法（走査型プローブ顕微鏡）で測定した硬度対応ピーク電圧値が−６．３５Ｖ以下である半導電性ベルトとする。 - 特許庁

The slope adjusting device 1 of the objective lens servo-controls the position of the objective lens 5 by using a focusing actuator 41 and a tracking actuator 42 provided in an optical pickup 4, and thereby prevents the shifting of a beam spot out of the visual field of the microscope during the slope adjustment of the objective lens 5.例文帳に追加

対物レンズの傾角調整装置１は、光ピックアップ装置４に備わっているフォーカシングアクチュエータ４１およびトラッキングアクチュエータ４２を利用して対物レンズ５の位置をサーボ制御し、これにより、対物レンズ５の傾角調整時にビームスポットが顕微鏡視野内から外れることを防止している。 - 特許庁

In this case, if the cursor is located within a predetermined distance from the GUI component, the computer 2 displays information about the operation target of the microscope system 1 associated with the GUI component in advance, onto the monitor 4 regardless of the acquisition of the input for instructing to execute the operation.例文帳に追加

ここで、コンピュータ２は、カーソルが該ＧＵＩ部品から所定の距離以内に位置したときには、ＧＵＩ部品に予め関連付けられている顕微鏡システム１の操作対象に関する情報を、実行指示の入力の取得とは無関係に、モニタ４に表示させる。 - 特許庁

In an atomic force microscope wherein an optical lever system is adopted, a light emitting element 8 is provided on the back side of a cantilever 5, and a light receiving device 9 is directly irradiated with light from the light emitting element 8, to thereby suppress decline of light receiving sensitivity of the light receiving device 9 caused by reflection of unintended light.例文帳に追加

光てこ方式を採用した原子間力顕微鏡において、発光素子８をカンチレバー５の背面側に設け、発光素子８から直接受光装置９に光を照射することで、意図しない光の反射による受光装置９の受光感度の低下を抑制する。 - 特許庁

The carbon fiber material has 0.83-0.94 ratio A1/A2 of the measured value A1 of π*/σ* on the outermost surface and the maximum value A2 in a single fiber obtained by measurement of the cross section of the single fiber according to an electron energy loss spectroscopy using a field emission type electron microscope.例文帳に追加

本発明の炭素繊維材料の単繊維断面を電界放出型電子顕微鏡を用いて、電子エネルギー損失分光法で測定して得られるπ＊／σ＊の最表面測定値Ａ１と単繊維内部最高値Ａ２との比Ａ１／Ａ２が０．８３〜０．９４である。 - 特許庁

In a microscope in which an optical system is internally mounted on a shaft and which is provided with a wedge-shaped prism at its tip, two light sources are arranged downward at the upper end face of the prism, and its lower part is cut obliquely so as to form a mirror surface.例文帳に追加

この発明は、軸部に光学系を内装し、先端部に楔状プリズムを備えたスコープにおいて、前記楔状プリズムの上端面に、２つの光源を下向きに配置すると共に、下部を斜切してミラー面を形成したことを特徴とするマイクロスコープにより目的を達成した。 - 特許庁

A process waste 5, produced in mechanical processing with an atomic force microscope probe 3, is irradiated with a gas cluster ion beam 1, having energy that will not damage a normal pattern 6 or a glass substrate 7, but which can remove the process waste 5 which is weakly depositing thereon, so as to remove the waste by sputtering effects.例文帳に追加

原子間力顕微鏡探針３による機械加工で発生した加工屑５を正常パターン６やガラス基板７にはダメージを与えないが弱く付着した加工屑５は除去できるようなエネルギーを持ったガスクラスターイオンビーム１を照射してスパッタ効果で除去する。 - 特許庁

To provide a device for detecting the concrete physical quantity of an observed object such as the inclination of the observed object, the minute planer part, the edge part, the level difference and the phase variation, etc., in a short time from the differential interference image of the observed object obtained through a differential interference microscope.例文帳に追加

観察物体の勾配，微小平面部，エッジ部，段差，位相変化量等の具体的な物理量を微分干渉顕微鏡によって得られる観察物体の微分干渉画像から短時間で検出するための装置とこれを用いた検出方法を提供する。 - 特許庁

As a result, the operator of the scanning electron microscope can find out the occurrence of the abnormality of the device by the mail of the PC1, while the service center for the device can immediately find out the occurrence of the abnormality of the device, the type of the abnormality, the occurrence time of the abnormality and the like by the mail of the PC2.例文帳に追加

この結果、走査電子顕微鏡のオペレータは、ＰＣ１のメールによって装置の異常の発生を知ることができ、一方、装置のサービスサイトでは、ＰＣ２のメールによって装置の異常の発生、その異常の種類、異常の発生時刻等をただちに知ることができる。 - 特許庁

Succeedingly, illumination light from the selected light source among the light sources 62A-62C transmits through the filters 72 combined by the filter changeover means 70A and 70B and an illumination light inputted to a light source changeover means 68 is outputted to the microscope through an optical fiber 56.例文帳に追加

続いて、選択された光源６２Ａ〜６２Ｃからの照明光は、固定円板６６を介して、フィルタ切換え手段７０Ａ、７０Ｂにより組合わせたフィルタ７２を透過することにより、光源切換え手段６８に入力した照明光は、光ファイバ５６を介して顕微鏡に出力される。 - 特許庁

In an image selecting device, a controller 9 examines a pattern of vibration which is generated in a substrate 1 based on an image of a subject photographed by an imaging portion 3 by a microscope 2 or an output of a vibration sensor 10, and derives an imaging time T and an imaging interval dt based on the pattern.例文帳に追加

制御部９は、顕微鏡部２を介して撮像部３が撮像した被写体の画像または振動センサ１０の出力に基づいて、基板１に生じる振動のパターンを調べ、そのパターンに基づいて撮像時間Ｔと撮像間隔ｄｔを導出する。 - 特許庁

This microscope device for surgery is provided with a visual field inside indicating controller 29 inputting an observation condition to an eyepiece part 8 for an operator and first and second rotation computing circuits 30, 31 changing the observation condition of an eyepiece part 9 for an assistant according to the condition inputted to the eyepiece part 8.例文帳に追加

術者用接眼部８に観察条件を入力する視野内表示コントローラー２９と、その条件に応じて助手用接眼部９の観察状態を変更する第１の回転演算処理回路３０および第２の回転演算処理回路３１とを設けたものである。 - 特許庁

The backcoat layer has an average surface roughness ranging from 15 to 25 nm, as measured by an atomic force microscope, and a density of protrusions equal to or greater than 50 nm in height ranges from 1 to 50 pieces/mm^2 on the backcoat layer surface, as measured by a three-dimensional surface roughness meter with a contact needle.例文帳に追加

原子間力顕微鏡で測定したバックコート層表面の平均表面粗さは１５〜２５ｎｍの範囲であり、かつ触針式三次元表面粗さ計により測定したバックコート層表面の高さ５０ｎｍ以上の突起密度は１〜５０個／ｍｍ^2の範囲である。 - 特許庁

To provide an objective lens which is constituted, by incorporating respective elements, such as a polarizer, in advance and a quarter-wave plate necessary for extremely low magnification observation, thereby becoming capable of switching observation, from a very low magnification to a high magnification only by revolving operation of a revolver, and to provide a microscope device which includes the lens.例文帳に追加

極低倍の観察に必要な偏光子や１／４波長板などの各素子を予め組み込んで構成することで、レボルバの回転作業のみで、極低倍から高倍までの観察を切り替えることが可能な対物レンズ及びこれを有する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To perform wave front correction for preventing an obtained image from becoming unclear by phase fluctuation such as the fluctuation of a medium in an optical path in video equipment such as a microscope, a telescope and a camera in real time by an optical write type liquid crystal space phase modulation element.例文帳に追加

顕微鏡、望遠鏡、カメラ等の映像機器において、光路中の媒質のゆらぎ等の位相変動により、得られた像が不鮮明となることを防止する波面補正において、光書き込み型液晶空間位相変調素子により実時間で行うようにする。 - 特許庁

To provide a technique for obtaining accurate energy spectral for obtaining a sharp electron image by suppressing the charging or potential strain on the surface of an insulator sample, caused when the insulator sample is observed in the field of an photoemission electron microscopic technique, and to provide a photoemission electron microscope that applies this technique.例文帳に追加

放射電子顕微鏡技術の分野において、絶縁物試料を観察した際に生じる試料表面の帯電や電位歪みを抑制し、鮮明な電子像を得て正確なエネルギースペクトルを得るための手法と、それを応用した放射電子顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of rapidly performing measurement of high precision by causing no fine change of potential in the surface fine region of a sample by properly holding the potential difference between the surface of the sample and a probe when the sample due to the probe is measured in an inspection process.例文帳に追加

検査工程での探針による試料測定時に試料の表面と探針との間の電位差を適切に保ち、試料表面の微細領域での微細な電位変化を生じさせず、迅速にかつ高い精度の測定を行うことができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A measuring mode is set to a tapping mode, when observing the semi-solid substance in the semi-solid state with the solid substance existing by an atomic force microscope, and a shape and a state of the solid substance existing in the semi-solid substance are evaluated based on phase information obtained by the tapping mode.例文帳に追加

固体物質が存在する半固体状態のままの半固体状物質を原子間力顕微鏡にて観察する場合、測定モードをタッピングモードに設定し、半固体状物質中に存在する固体物質の形状および状態をタッピングモードにより得られる位相情報で評価する。 - 特許庁

In this scanning electron microscope, the acceleration voltage of an electron beam EB irradiated on a sample 2 is set to 4 kV, and a voltage of -3 kV is applied to the sample 2 from a power source 11, so that the electron beam EB is decelerated immediately in front of the sample and is irradiated on the sample 2 with an energy of 1 kV.例文帳に追加

試料２に照射される電子ビームＥＢの加速電圧は、４ｋＶとされており、試料２には電源１１より−３ｋＶの電圧が印加されていることから、電子ビームＥＢは試料の直前で減速され、１ｋＶのエネルギーで試料２に照射される。 - 特許庁

The method for evaluating the fatigue of a solder junction containing Sn as a main component includes the steps of enlarging a cut section of the junction by an electron microscope, measuring a phase size (d) of an Sn phase 20 and an Ag_3Sn phase 22, and biquadrating the measured value (d) to a phase growth evaluating parameter S.例文帳に追加

Ｓｎを主成分とするはんだの接合部の疲労評価方法において、はんだ接合部の切断面を電子顕微鏡により拡大して、Ｓｎ相２０やＡｇ_３Ｓｎ相２２の相寸法ｄを測定し、この測定値ｄを４乗して相成長評価パラメータＳとする。 - 特許庁

To make the displacing amount of a finely moving element which minutely changes the height position of a probe with respect to a sample controllable to a desired amount when the probe is brought nearer to the surface of the sample and stopped in a measurable state at the time of measuring the surface of the sample under a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡で試料の表面を測定する場合において試料表面に探針を接近させ測定可能状態で停止するとき、試料に対する探針の高さ位置を微小に変える微動要素の変位量を所望量に制御できるようにする - 特許庁