「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(161ページ目) - Weblio英語例文検索

Thus, the constitution of slide movement which hardly causes an error resulting from switching the objective lens 500 to form the image singly and which is simple is used, and then accurate observation is achieved while switching magnification according to the state of a subject to be observed by the microscope of the finite correction optical system.例文帳に追加

単独で結像させる対物レンズ５００の切替による誤差が生じにくく簡単な構成のスライド移動の構成を利用でき、有限補正光学系の顕微鏡で被観察物の状態に応じて倍率を切り替えつつ高精度な観察ができる。 - 特許庁

This sample holding member 30 for an electron microscope used for holding a sample is composed by stacking a grid mesh thin piece 25 provided with a grid mesh 25a at its distal end, and a member provided with a plurality of reinforcing ribs 26 of thin pieces for reinforcing the grid mesh 25a.例文帳に追加

試料を保持する電子顕微鏡用試料保持部材３０であって、その先端部にグリッドメッシュ２５ａを設けたグリッドメッシュ薄片２５と、前記グリッドメッシュ２５ａを補強するための薄片の補強用リブ２６を複数枚設けたものとを積層構成とした。 - 特許庁

This controller is provided with detecting means for detecting that at least one of the setting conditions of a microscope for carrying out the in-darkroom observation is set and inhibition means for inhibiting the display of a luminous display section when the detection described above is made by the detecting means.例文帳に追加

暗室内観察を行うための顕微鏡の設定条件の少なくとも１つが整えられたことを検知する検知手段と、前記検知手段により前記検知がなされると、発光表示部の表示を禁止する禁止手段とが備えられる。 - 特許庁

The stylet 5 of a scanning tunneling microscope (STM) is installed in the vicinity of a point where the DNA 3 is taken into the inside of the RNA polymerase 2 and the distance between the stylet and the DNA 3 is kept to be constant to be metered with a tunnel current.例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡の探針５をピエゾスキャナ６とピエゾスキャナ駆動回路７を用いてＤＮＡ３がＲＮＡポリメラーゼ２の内部に取り込まれる個所の近傍に設置し、ＤＮＡ３との距離をトンネル電流が計測できる一定の距離に保つ。 - 特許庁

In the method for inspecting the compound semiconductor substrate, the surface roughness Rms of the compound semiconductor substrate is measured by using an atomic force microscope at pitches of 0.4 nm or less in a visual field in a square of 0.2 μm or less.例文帳に追加

化合物半導体基板の検査方法は、化合物半導体基板の表面の検査方法であって、０．２μｍ以下四方の視野で、０．４ｎｍ以下のピッチで、原子間力顕微鏡を用いて化合物半導体基板の表面粗さＲｍｓを測定する。 - 特許庁

This method is constituted so as to laminate the observation sample 4 by using an existing FIB (focused ion beam) device, and to perform an extracting and sticking work of the laminated sample 4 by using an optical microscope having an existing micromanipulator equipped with an electrostatic pincette 10.例文帳に追加

この発明は、既存のＦＩＢ装置を用いて観察用試料４の薄片化加工を行い、静電ピンセット１０を装備した既存のマイクロマニピュレータ付きの光学顕微鏡を用いて、薄片化試料４の摘出と貼り付け作業を行うように構成される。 - 特許庁

To apply a bias voltage to a sample independently at approach, to cut off sample bias at measurement, to measure the current between probes, and further to reduce the influence of a displacement current, when measuring current at the probe side in a multi-probe microscope.例文帳に追加

本発明が解決しようとする問題点は、マルチプローブ顕微鏡において、アプローチ時に試料に独立してバイアス電圧が印加できず、電流計測時に試料バイアスを切り離し、探針間の電流計測を行ことができなかったという点である。 - 特許庁

In the scanning probe microscope, a method is performed, wherein a relative fine displacement in the lateral direction is applied independently in the orthogonal biaxial directions in the state where a friction is generated between the sample and the probe, and each data related to the friction in the biaxial directions are acquired.例文帳に追加

さらにこの走査型プローブ顕微鏡では、試料と探針の間で摩擦が生じる状態で相対的な横方向の微小変位を直交する２軸方向に独立に加え、２軸方向のそれぞれ摩擦に係るデータを取得する方法が実行される。 - 特許庁

The focal point of the microscope lens 32 is easily focused on the end face 30a of the rod lens 30 by this manner even when the focusing is difficult directly in such a case as a flaw, dust or the like does not exist or is not deposited on the end face 30a of the lens 30.例文帳に追加

このようにすれば、ロッドレンズ３０の端面３０ａにキズやほこり等が付着していない場合など、直接、焦点を合わせにくいような場合であっても、顕微鏡レンズ３２の焦点を、容易に、ロッドレンズ３０の端面３０ａに合わせることができる。 - 特許庁

An infrared light from an infrared light source 50 is applied to the front surface side of the wafer 1 to transmit the light therethrough, the transmitted image is taken by an infrared microscope 70 arranged on the rear surface side of the wafer 1, and streets 2 are detected from the image pattern of the front surface of the wafer whose image has been taken.例文帳に追加

ウエーハ１の表面側から赤外光源５０より赤外光を照射して透過させ、ウエーハ１の裏面側に配した赤外線顕微鏡７０で透過像を撮像し、撮像されたウエーハ表面の画像パターンからストリート２を検出する。 - 特許庁

To conform an assigned scanning area with an actual scanning area to allow accurate measurement reduced in an error, by measuring an electrostatic capacity due to temperature variation, and by correcting scanner sensitivity based on the electrostatic capacity, in a temperature-varied scanning probe microscope.例文帳に追加

温度の変化する走査形プローブ顕微鏡において、温度変化による静電容量を測定し、この静電容量によりスキャナ感度を補正することで、指定した走査領域と実際の走査領域を一致させ、誤差の少ない正確な測定を行う。 - 特許庁

The tunnel barrier 12 has such a quantum thin line constriction structure that a silicon oxide film 17 as an electric boundary supporting oxide film formed using an interatomic force microscope or the like is formed by oxidizing the quantum thin line from its surface to its nearly central part.例文帳に追加

トンネル障壁部１２は、原子間力顕微鏡等を用いて形成された電界支援酸化膜であるシリコン酸化膜１７が量子細線１１の表面からそのほぼ中心部まで酸化して形成された量子細線コンストリクション（＝くびれ）構造を有している。 - 特許庁

The surface irregularity measuring device for measuring the irregularity of the surface using a scanning probe microscope is configured to measure the irregularity of the surface of the measured sample, calculate a gray-level histogram of the measured data and perform the calibration of the sample measurement.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた試料の表面の凹凸を測定する表面凹凸測定装置であって、測定した試料表面の凹凸を測定し、この測定したデータのグレイレベルヒストグラムを算出して試料測定のキャリブレーションを行なうように構成する。 - 特許庁

To sample an outermost-layer from the plane direction extending over a wide range, having no dirt, no damage and excellent reproducibility, at the time of forming a thin film sample for a transmission electron microscope, thereby evaluates structure and deposit of the outermost layer.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用薄膜試料の作成にあたり、汚れや破損のない、広範囲にわたる、再現性の良い、平面方向からの最表層サンプリングを可能にすることであり、また、これによって最表層の組織、析出物評価を可能にすることである。 - 特許庁

The plate 1 for the microscope specimen is constituted, by providing a plurality of the liquid sample coating parts 4 surrounded by interruption parts 3 to the surface of a plate 2, made of a synthetic resin and where liquid sample coating parts 4 are respectively covered independently with cover films 5.例文帳に追加

合成樹脂製板２の表面に、堰止部３により囲まれた液体試料塗沫部４を複数個設けるとともに、該液体試料塗沫部４の各々を独立にカバーフィルム５で被覆したことを特徴とする顕微鏡標本用プレート１である。 - 特許庁

A pellet wherein when the cut face of the resin pellet is observed by means of a polarized microscope, no spherulite is observed in the central part and no lubricant is incorporated in the resin pellet and angle of repose is at most 23 degree when the resin pellets are piled up, is obtd.例文帳に追加

これにより樹脂ペレットの切断面を偏光顕微鏡で観察したとき、中心部において、球晶が観察されず、または樹脂ペレット中に滑剤を含有せず、かつ前記樹脂ペレットを積み上げたときの安息角が２３度以下のペレットを得る。 - 特許庁

Since a formula +∞=-∞=1=-1=0 may cause the possibility that "1" equal to the infinite universe, the observation of a hydrogen atom of mass 1 (atomic number 1) with a highly accurate microscope enables the observation of the infinite universe, thereby solving the problem.例文帳に追加

＋∞＝−∞＝１＝−１＝０ の数式から「１」イコール無限大の宇宙である可能性があるので、質量１（元素記号番号１）の水素原子を精度の高い顕微鏡で観察するとそこに無限の宇宙を観察する事ができる事により、この問題を解決する。 - 特許庁

To provide a cross section preparation method and a preparation system capable of acquiring accurately a desired cross section in sample internal structure unobservable by an optical microscope in order to prepare a cross-sectional sample of a SiP type semiconductor package by an ion milling method.例文帳に追加

イオンミリング法によるＳｉＰ型半導体パッケージでの断面試料を作成するために光学顕微鏡では観察できない試料内部構造中の所望の断面を正確に得ることができる断面作成方法及び作成システムを提供する。 - 特許庁

To obtain a pretreating device and method with a processing function for preventing a partially or wholly non-conductive sample from being charged up and contaminated at the time of applying a conductive paste on the surfaces of the sample and obtaining satisfactory images through an electron microscope.例文帳に追加

試料表面に導電性ペーストを塗布する際に、試料の一部またはすべてが非導電性である試料のチャージアップや汚染を防ぎ、良好な電子顕微鏡像が得られるための処理機能を有した前処理装置、ならびに前処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a small plasma generator hardly affected by noise and preventing bad effect on an image detecting system by light in plasma generation and to provide a scanning electron microscope.例文帳に追加

本発明はプラズマ発生装置及び低真空走査電子顕微鏡に関し、小型で雑音の影響を受けにくく、プラズマ発生による光が画像検出系に悪影響を与えないプラズマ発生装置及び走査電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide an observation system for the capillary blood flow which is capable of appropriately emitting a proper amount of light to the blood capillary at the cuticle of a fingertip and quickly and appropriately fixing the cuticle of the fingertip corresponding to an optimal position of an objective lens of a microscope.例文帳に追加

指先の爪上皮部分の毛細血管に的確に適量の光りを照射でき、かつ、顕微鏡の対物レンズの最適位置に対応した指先の爪上皮部分を素早く的確に固定することができる毛細血管血流観測装置を提供する。 - 特許庁

A rail cover reinforcing plate 5 is disposed near the location where assisting devices such as a large microscope and an easy movable type X-ray CT fluoroscopic apparatus pass over the rail cover 4, and prevents deformation of the rail cover 4 by the weight of the assisting devices.例文帳に追加

レールカバー補強板５は、大型顕微鏡や簡易移動型Ｘ線ＣＴ透視装置などの補助装置がレールカバー４上を通過する位置近傍に設けられ、補助装置の重量によりレールカバー４が変形するのを防止するようになされている。 - 特許庁

In the the above optical microscope 3, since the probe light 9 is deflected by density gradation near the cell membrane of living cells, viability of cells and cell activity can rapidly and easily be judged and measured by measuring the deflection.例文帳に追加

上記の光学顕微鏡３によれば、プローブ光９が生きている細胞の細胞膜近傍での濃度勾配により偏向することから、該偏向を測定することで細胞の生死判別及び細胞活動を迅速にかつ簡易に判別・測定することができる。 - 特許庁

To provide a system such that when a shape of a shot during exposure is distorted as a circuit pattern becomes finer, a decrease in throughput during wafer inspection with an electron microscope and a decrease in automation rate are recognized, and a position correcting operation for the shot distortion is carried out.例文帳に追加

回路パターンの微細化に伴い、露光の際のショットの形状の歪みがある場合には、電子顕微鏡によるウェーハ検査時のスループットの低下や自動化率の低下が認められ、ショット歪みに対する位置補正動作を実行する方式を提供する。 - 特許庁

The method for detecting the polyphenol adsorbed on the microbial cells is provided by reacting the specimen containing the polyphenol with the microbial cells, then effecting a cerium compound with the reaction liquid, and then observing the crystalline materials of the cerium formed on the surface layer part of the microbial cells by an electron microscope.例文帳に追加

ポリフェノールを含有する試料と菌体とを反応させた後、該反応液にセリウム化合物を作用させ、次いで菌体表層部に形成されたセリウムの結晶物を電子顕微鏡により観察する菌体に吸着したポリフェノールの検出法。 - 特許庁

To provide a standard sample for a scanning probe microscope and a carrier concentration measurement method, capable of finding the correlations between the carrier concentrations and the local electrical characteristics (including the characteristics of spreading resistance, capacitance and nonlinear dielectric constant) more accurately than conventionally.例文帳に追加

キャリア濃度と局所的電気特性（広がり抵抗、静電容量特性及び非線形誘電率特性を含む）との相関を従来よりも正確に求めることができる走査プローブ顕微鏡用標準試料及びキャリア濃度測定方法を提供する。 - 特許庁

This microscope 1 includes an objective lens 9 for observing the sample, the transmission bright field lighting system 17, and a base part 3 having a mounting mechanism for mounting the transmission dark field lighting system 25 on the lower side or the upper side of the transmission bright field lighting system 17.例文帳に追加

標本を観察するための対物レンズ９と、透過明視野照明装置１７と、透過明視野照明装置１７の下側または上側に透過暗視野照明装置２５を装着するための装着機構を有するベース部３を備える顕微鏡１。 - 特許庁

When aligning the crystal direction of the sample to an optical axis of a scanning transmission electron microscope, accurate and quick crystal direction alignment can be performed since a direction for inclining the sample can be directly determined from the shape of the electron beam diffraction image.例文帳に追加

本発明によれば、ＳＴＥＭの光軸に対して試料の結晶方位を合わせる際、試料を傾斜させるべき方向を電子線回折像の形状から直接判断することができるため、正確かつ迅速な結晶方位合せが可能となる。 - 特許庁

The colloidal silica produced using activated silicic acid as a raw material in the presence of potassium ions contains potassium ions and contains a group of nonspherical deformed silica particles having a major to minor axis ratio of 1.2-10 as observed with a transmission electron microscope.例文帳に追加

カリウムイオンの存在下で活性珪酸を原料として製造されるコロイダルシリカであって、カリウムイオンを含有し且つ透過型電子顕微鏡観察による長径／短径比が１．２〜１０である非球状の異形シリカ粒子群を含有するコロイダルシリカである。 - 特許庁

The overlapping state of these structures 23a-23d or the interval between the specific parts of the respective structure members is investigated by a microscopic image, and the sample holder of the microscope is controlled, on the basis of the investigated result to make the observation surface of the sample 22 vertical to an optical axis.例文帳に追加

顕微鏡像でこれらの構造体２３ａ〜２３ｄの重なり状態や各構造体の特定部分の間隔等を調べ、その結果に基づいて顕微鏡の試料ホルダーを制御して、試料２２の観察面が光軸に対し垂直となるようにする。 - 特許庁

To provide an electron microscope device in which analysis of spacial configuration is made possible by applying a CT method (computerized tomography method) without segmentizing the test piece and application of the CT method is possible in a general case.例文帳に追加

ＣＴ法を応用することにより試料を切片化することなしに立体構造の解析を可能とし、電子顕微鏡装置に特有の問題を解決して、一般的なケースにおいてＣＴ法の応用が可能である電子顕微鏡装置を提供する - 特許庁

To provide an edge detecting method and a device, wherein the edge can be detected stably by suppressing an effect of noises even in the case of an image having an inferior S/N ratio obtained by a charged particle beam device such as a scanning electron microscope or the like.例文帳に追加

本発明は、走査電子顕微鏡等の荷電粒子線装置によって得られたＳ／Ｎ比の悪い画像であっても、ノイズの影響を抑えて安定してエッジを検出することが可能なエッジ検出方法、及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A size of a magnetic aggregate present in the magnetic layer is 0.5 μm or higher, and the number of magnetic aggregates having magnetic intensity larger by 20 times or more than an average value of magnetization disturbance obtained from a magnetic force image by a magnetic force microscope is 100/2000 μm^2.例文帳に追加

前記磁性層中に存在する磁気凝集体の大きさが0.5μm以上であり、かつ磁気力顕微鏡による磁気力像から得られた磁化乱れの平均値の２０倍以上の磁気強度を有する前記磁気凝集体の個数が100個/2000μm^2以下である。 - 特許庁

The optical microscope 19 observes a photodetector surface 22a (first object plane) by transmitted light from the partial reflection mirrors 2, 3 and observes the hologram surface 21a (second object plane) by transmitted light after reciprocating between the partial reflection mirror 2 and the partial reflection mirror 3.例文帳に追加

光学顕微鏡１９は、光検出器面２２ａ（第一物面）については部分反射ミラー２，３の透過光により観察し、ホログラム面２１ａ（第二物面）については部分反射ミラー２と部分反射ミラー３との間を往復後の透過光により観察する。 - 特許庁

This invention, preferably used in a confocal fluorescence scanning type microscope method, is relate to a device irradiating sample (1) comprising: one irradiation beam path (2) of one light source (3) and at least another irradiation beam path (4) of another light source (5).例文帳に追加

本発明は、好ましくは共焦点蛍光走査型顕微鏡法において、１つの光源（３）の１つの照射ビーム経路（２）およびさらに別の光源（５）の少なくとも１つのさらに別の照射ビーム経路（４）を有する試料（１）を照射する装置に関する。 - 特許庁

The electronic microscope is provided with a full frame transfer type CCD element 109, captures an image according to a full frame transfer system in the case of photographing a still picture under the control of a CCD control section 110 and captures continuously a moving picture according to a frame transfer system in the case of photographing the moving picture.例文帳に追加

フルフレームトランスファ型ＣＣＤ素子１０９を備え、ＣＣＤ制御部１１０の制御下に、静止画撮像のときにはフルフレームトランスファ方式で画像を取り込み、動画撮像のときにはフレームトランスファ方式で画像の連続取込みを行う。 - 特許庁

To provide an examining method and a scanning electron microscope capable of improving a fading (decoloring) characteristic of a fluorescent colored substance in a test sample, especially a test sample excitable in an ultraviolet spectrum area, for carrying out simultaneous multicolor detection.例文帳に追加

被検試料中の蛍光着色物質の褪色（脱色）特性を改善し、更に、とりわけ紫外スペクトル領域で励起可能な被検試料において、同時的多色的検出を可能とする検査方法及び走査型顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide an electron microscopic image processing system, capable of simultaneously performing reduction in noise and contour emphasis of an image which are conflicting image processing in the conventional art, in regard to an image containing many noise components which is a characteristic of a high-resolution electron microscope.例文帳に追加

高分解能の電子顕微鏡の特徴であるノイズ成分を多く含む画像に対し、ノイズの低減と画像の輪郭の強調という、従来技術では相反する画像処理を同時に行うことのできる電子顕微鏡の画像処理システムを提供する。 - 特許庁

If display of the observation image recorded in the removable medium 25 is directed, the camera control unit 13 makes a monitor 24 display the designated observation image and restores the setting of the microscope system based on the setting information related to the observation image.例文帳に追加

また、カメラコントロールユニット１３は、リムーバブルメディア２５に記録されている観察画像の表示が指示されると、指示された観察画像をモニタ２４に表示させるとともに、その観察画像に関連付けられた設定情報に基づいて、顕微鏡システムの設定を復元する。 - 特許庁

Pulse excitation light from a pulse laser apparatus 6 is converted into a straight line polarization having a specific polarization direction by a polarizing plate 10, and is applied to a 1 μL or less sample in a minute space in a microchip 2 through a microscope 4 from a dichroic mirror 8.例文帳に追加

パルスレーザー装置６からのパルス励起光が偏光板１０により特定の偏光方向をもつ直線偏光にされ、ダイクロイックミラー８から顕微鏡４を通してマイクロチップ２中の微小空間内にある１μＬ以下の試料に照射される。 - 特許庁

The electron microscope is provided with a sample room for sample placement accommodating a heating system to be able to heat the internal space of the sample room including the samples for observation.例文帳に追加

本発明は上記目的を達成するために、観察対象試料を配置するための試料室を備えた電子顕微鏡において、前記観察対象試料を含む試料室内空間を加熱する加熱機構を備えたことを特徴とする電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Thereby, the sample holder 21 can be supported in an objective lens of the electron microscope, the electron beam having passed through the opening 20b can reach the sample 9 in the sample holder 21, and thereby signals of scanning transmission electrons generated from the sample 9 can be detected.例文帳に追加

これにより、電子顕微鏡の対物レンズ内で試料ホルダ２１を支持することができ、該開口２０ｂを通過した電子線が試料ホルダ２１内の試料９に到達し、これにより試料９から発生する走査透過電子の信号を検出できる。 - 特許庁

The aqueous solution is dropped onto an observation plate, followed by drying; the drying is stopped, when moisture is not observed visually by naked eyes; and the coupling condition and the aggregation condition of the suspended matter deposited and actualized on the observation plate are observed by an optical microscope.例文帳に追加

観測用プレートに水溶液を滴下させ、それを乾燥させて肉眼で水分が視認できなくなったら乾燥を止め、観測用プレート上に析出顕在化した懸濁物質の結合状態、集合状態を光学顕微鏡により観察するようにした。 - 特許庁

To provide a dicing machine having a shield plate for shielding water splash or mist between a machining part and a microscope; the shield plate not obstructing in exchanging a rotary blade, even if the machine is a twin dicer having two opposed spindles.例文帳に追加

加工部と顕微鏡との間で水しぶきやミストを遮蔽する遮蔽板を有するダイシングマシンにおいて、該ダイシングマシンが２本のスピンドルを対向配置したツインダイサであっても、回転刃の交換時に前記遮蔽板が邪魔にならないダイシングマシンを提供すること。 - 特許庁

To effectively remove an amorphous layer without generating deposits again in relation to a sample-forming apparatus for a transmission type electron microscope which removes the amorphous layer generated to the side face of an observation part when forming the thin-filmed observation part by a convergent ion beam apparatus.例文帳に追加

本発明は、集束イオンビーム装置により薄膜化した観察部を作製する際にその側面に生成される非晶質層を除去する透過型電子顕微鏡用試料作製装置に関し、再デポを生じさせないで有効に非晶質層を除去する。 - 特許庁