「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(159ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a SQUID microscope that can enhance spatial resolution while keeping a sample from contacting a probe and can acquire a magnetic signal with a high signal-to-noise ratio by a lock-in detecting method.例文帳に追加

本発明は、試料とプローブとが接触することなく、かつ、空間分解能を高めることができ、ロックイン検出法によって信号対雑音比の高い磁気信号を得ることができるＳＱＵＩＤ顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a polariscopic phase microscope that precisely observes a specimen, and more specifically, observes a structure and change of a physiological cell by using a phase contrast of light passing through components of the physiological cell.例文帳に追加

本発明は、標本を精密に観察するための偏光位相顕微鏡に関し、より詳くは、生体細胞の構成要素を通過する光の位相差を用いて生体細胞の構造および変化を観察することが可能な偏光位相顕微鏡に関する。 - 特許庁

The particulate black composite oxide particles comprise 60 to 80 mass% cobalt and 0.1 to 5 mass% manganese and has an average primary particle diameter of 0.05 to 0.3 μm (as measured by observation with a scanning electron microscope (SEM)).例文帳に追加

６０質量％〜８０質量％のコバルトおよび０．１質量％〜５質量％のマンガンを含有し、ＳＥＭ観察で測定した一次粒子平均径が０．０５μｍ〜０．３μｍであることを特徴とする粒状黒色複合酸化物粒子。 - 特許庁

To easily adhere a sample on a metal mesh without breaking an organic film adhered on the mesh without breaking the sample for an electron microscope or without flying and losing the sample.例文帳に追加

本発明は、電子顕微鏡用試料を破壊したり、飛ばして紛失したりすることがなく、また金属メッシュに張られた有機膜を破ることなく、容易に金属メッシュ上に試料を張り付けることができることを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

To provide a technology for cleanly removing chips with the shaving of defects by a scanning probe microscope, without being restricted even by the surface tension of adsorption water existing on the surface or static charge with friction on a sample surface.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡による欠陥部削り落としに伴う切り粉が、表面に存在する吸着水の表面張力や摩擦にともなう帯電によっても試料面に拘束されることなく綺麗に除去される技術を提示する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a probe for a probe microscope capable of growing a carbon nanotube on the tip part of a probe substrate by a plasma CVD method by reducing a damage received from plasma by electric field concentration.例文帳に追加

電界集中によりプラズマから受けるダメージを減少させて探針基体の先端部にカーボンナノチューブをプラズマＣＶＤ法によって成長させることができるプローブ顕微鏡用探針の作製方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a microscope for ophthalmology which corresponds to perfect coaxial illumination and illumination with an angle range, and can easily perform modification operation of observation condition in a short time by enabling a change in correlated color temperature.例文帳に追加

本発明は、完全同軸照明や角度付照明に対応し、且つ、相関色温度を変更可能なことより、観察条件の変更操作を容易且つ短時間に行うことができる眼科用顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide metal nickel particle powder made of fine metal nanonickel particle which has a mean particle diameter obtained according to TEM (Transmission Electron Microscope) of ≤30 nm, and which has satisfactory dispersibility in a solvent, and has sintering temperature suppressed to low.例文帳に追加

ＴＥＭにより求まる平均粒子径が３０ｎｍ以下の微細な金属ナノニッケル粒子からなる粉末であって、溶媒中での分散性が良好であり、かつ焼結温度を低く抑えることが可能な金属ニッケル粒子粉末を提供する。 - 特許庁

By setting a required contour line on the observation object having a variety of shapes, and arranging the filed of vision, an image of the electron microscope can be selectively obtained based on the required field of vision set along the shape of the observation object.例文帳に追加

種々の形状を有する観察対象に対し、必要な輪郭線を設定した上で、視野を配列することで、観察対象の形状に沿った必要な視野設定に基づく電子顕微鏡像を選択的に取得することが可能となる。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of controlling quantity of electrons emitted from a sample generated by collision of electrons with other members, and to provide a method of static charge control for the sample by controlling quantity of electrons.例文帳に追加

本発明は、試料から放出された電子が、他部材に衝突した結果、生じる電子量を制御可能とすることを目的とした走査電子顕微鏡、及び電子量の制御による試料帯電制御方法の提供を目的とする。 - 特許庁

The subject method for observing the biological blood flow is to observe the image of the blood vessel of a micro-circulation system underneath the mucous membrane of an oral cavity by a PC or a TV monitor via the mucous membrane of the oral cavity by magnifying and displaying by a simple reflection illumination type optical microscope system having a magnification of more than 100.例文帳に追加

口腔の粘膜を介して、その下にある微小循環系の血管の像を１００倍以上の倍率を持つ反射照明方式の単純な光学顕微鏡システムで拡大表示してＰＣ或いはＴＶモニターで見る。 - 特許庁

A second verification execution part 35 causes a microscope image of the piece determined to be non-defective at the first verification to be displayed in parallel with the device image, and causes a quality determination result made by the inspector to be stored as a second verification result in the storage part 31.例文帳に追加

第２のベリファイ実行部３５は、第１のベリファイで良品と判定されたピースの顕微鏡画像と検査装置画像を並行表示させ、検査員による良否判定結果を第２のベリファイの結果として記憶部３１に格納する。 - 特許庁

The optical device having a light source, in particular a laser light source and a cut-off device (1) for the light beam (2) from the light source, in particular a laser scanning microscope, has a means (3) of monitoring the operation state of the cutoff device (1) in the cut-off device (1).例文帳に追加

光源、とりわけレーザ光源、及び該光源の光線（２）に対する遮断装置（１）を有する光学装置、とりわけレーザスキャニング顕微鏡は、該遮断装置（１）の作動状態を監視するための手段（３）が、該遮断装置（１）に配されている。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus, a method and a program for a microscope that can perform securer correction processing by deterring improper coloration due to specification of a wrong corrected position in white balance correction or black balance correction of an observed image.例文帳に追加

観察画像のホワイトバランス補正またはブラックバランス補正において、誤った補正部位の指定に起因する不適切な着色を抑止し、より確実に補正処理を行なうことができる顕微鏡用撮像装置、方法、プログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a method for detecting microscopic sample dispersed widely on substrate, in a short time, and to provide a method for surely moving the sample to any little position on the substrate, by using probe of the scanning probe microscope with little damage on the probe/sample.例文帳に追加

基板上に広く分散した微細な試料を短時間に発見する方法と、その試料を、走査型プローブ顕微鏡の探針により前記基板の任意の位置に、探針・試料のダメージが少なく、確実に移動させる方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a near-field optical probe high in resolution and high in detection efficiency, which can be employed in a near-field optical microscope capable of carrying out a measurement with a S/N ratio better than conventional ones, and to provide a method and an apparatus for manufacturing the near-field optical probe.例文帳に追加

従来よりも良好なＳＮ比で測定可能な近接場光顕微鏡に使用できる、分解能が高くかつ検出効率も高い近接場光プローブ、近接場光プローブの作製方法および作製装置を提供する。 - 特許庁

A groove 9a with a smooth bottom surface is formed from the side of the metal film 8 at the side of the glass pedestal 7 that is joined to the silicon wafer 2, thus directly observing the release of the junction surface and the presence or absence of void through the bottom surface of the groove 9a with a microscope or the like.例文帳に追加

シリコンウェハ２に接合されるガラス台座７の部位には、金属膜８側から底面の平らな溝９ａが形成されており、溝９ａの底面を通して接合面１３の剥離やボイドの有無を直接観察する。 - 特許庁

To provide a thin sample preparing method which prevents an FIB (focused ion beam) processing from forming any hole and allowing any redeposition to originate in holes when forming a protection film in preparing a thin sample, in order to obtain a good image by using an electron microscope.例文帳に追加

ＦＩＢ加工で薄片試料を作製する際に保護膜形成時に穴が形成されず穴からリデポすることを防ぎ、電子顕微鏡にて良好な像を取得することのできる薄片試料作製方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a polishing device and a polished surface observing method using this where observation working efficiency does not so decrease even when repeating of polishing and observation of the polished member is diligently performed, the focal distance of a microscope may be constant, and the space is not taken.例文帳に追加

被研磨部材の研磨、観察の反復をこまめに行っても観察作業効率が余り落ちず、マイクロスコープの焦点距離は一定でよく、場所を取らない研磨装置及びこれを用いた被研磨面観察方法を得ることである。 - 特許庁

To provide a contact type atomic force microscope capable of rapidly obtaining a stable image of surface shape of a specimen in a state of an atmospheric pressure not in environmental control when the surface shape is measured by a contact mode having high sensitivity for irregularities.例文帳に追加

環境制御がされていない大気圧の状態にある試料の表面形状を、凹凸に対する感度の高いコンタクトモードによって測定するとき、吸着力の影響を回避して安定した表面形状像を迅速に得る。 - 特許庁

In this abnormality detection method, when an abnormality occurs at a specific position of a device and the abnormal state is a level A, the address of a service center for the device and the address of an operator of an scanning electron microscope are selected by a format conversion unit 5 and a destination selection unit 7.例文帳に追加

装置の特定箇所で異常が発生し、その異常状態がレベルＡであった場合、フォーマット変換ユニット５と転送先選択ユニット７により、装置のサービスサイトのアドレスと、走査電子顕微鏡のオペレータのアドレスが選択される。 - 特許庁

To provide a multistage and multiplex magnetic pole lens system, used in an energy analyzer for an electron microscope and an electron energy analyzer using the same, for simplifying the alignment of the center axes of a plurality of axially symmetrical lens systems to the track of a beam, as much as possible.例文帳に追加

電子顕微鏡用のエネルギーアナライザーに用いる多段多重磁極子レンズ系及びそれを用いた電子エネルギー分析器において、複数の軸対称レンズ系の中心軸を、ビームの軌道に合わせる調整をできるだけ簡便にする。 - 特許庁

To provide a microscope unit in which the relative distance between an objective lens and a work can be kept constant by changing a main body attachment or main body assembling when a revolver is attached/detached even after the main body is attached to an equipment having been installed once.例文帳に追加

被設置機器に本体を一旦取り付けた後でも、レボルバの着脱を行う場合、本体取付あるいは本体組合せを変えることで対物レンズとワークとの相対距離を一定に保つことができる顕微鏡ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope provided with a highly reliable holding and dismounting mechanism allowing a sample to be changed on a sample table and a sample transfer device which allow the sample table to be easily be extracted from a sample changing chamber and replaced.例文帳に追加

本発明の目的は、試料台に於いて、試料が確実に、かつ、信頼性の高い保持脱着機構と、試料交換室から試料台が容易に取り外し交換できる試料移送装置を備えた走査型顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

To provide an image generation device capable of generating a wide-range high-definition fluorescence tiling image having high positioning accuracy obtained by a low magnification image and a fluorescence image having magnification higher than that of the low magnification image of a sample and to provide a microscope device having the image generation device.例文帳に追加

標本の低倍画像と低倍画像より高倍の蛍光画像とから位置決め精度が高く、広い範囲の高精細な蛍光タイリング画像を生成することができる画像生成装置と、これを有する顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

This microscope is equipped with an input device 34 for designating a limited tracking domain where a probe 11 is moved following moving atoms, and a control operation device 33 for controlling switches 31, 32 for switching on/off an output signal from feedback circuits 23, 24.例文帳に追加

探針１１が移動原子に追随して移動する限界の追跡領域を指定する入力装置３４と、フィードバック回路２３と２４からの出力信号をＯＮ／ＯＦＦするスイッチ３１と３２を制御する制御演算装置３３を備える。 - 特許庁

The diaphragm 12 is arranged at a position nearer to the imaging apparatus side by as long as 2/3 or more of a distance from a shoulder position 11a in the microscope attaching part 11 to a shoulder position 13a in the imaging apparatus attaching part 13 as seen from the object side.例文帳に追加

絞り１２が、物体側からみて顕微鏡取り付け部１１内の胴付き位置１１ａから撮像装置取り付け部１３内の胴付き位置１３ａまでの間の距離の２／３の位置以上撮像装置側に寄った位置に配置される。 - 特許庁

An image acquisition device for acquiring the image of a specimen 30 includes a measurement device 2 for measuring the surface shape of the specimen 30 and a microscope 1 for imaging the specimen 30 based on the surface shape measured with the measurement device 2.例文帳に追加

被検物３０の画像を取得する画像取得装置は、被検物３０の表面形状を計測する計測装置２と、計測装置２で計測した表面形状に基づいて被検物３０の像を撮像する顕微鏡１とを備える。 - 特許庁

To prevent poor transfer and obtain a highly fine image of high quality by configuring an endless belt so that a ten-point mean roughness of a surface of the endless belt, measured with a scanning probe microscope, is in a range from not less than 2.1 nm to not more than 11.0 nm.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡によって測定した表面の十点平均粗さが２．１〔ｎｍ〕以上、かつ、１１．０〔ｎｍ〕以下の範囲となるようにして、転写不良が発生せず、高品質な高精細画像を得ることができるようにする。 - 特許庁

The scanning electron microscope 1 is provided with an electron gun 2 in which a metal film, a carbon film, a diamond film, and a diamond-like carbon film which transmit accelerating electrons and can endure the atmosphere are provided at the electron gun window 35, and a sealed container 33 is maintained in vacuum.例文帳に追加

電子銃窓３５に加速電子を透過し大気に耐える金属膜、炭素膜、ダイヤモンド膜、ダイヤモンドライクカーボン膜を設け、密封容器３３内が真空に保たれる電子銃２を備える走査型電子顕微鏡装置１とする。 - 特許庁

To provide a distance measuring method, which can accurately measure the distance between an examined sample and an optical observation device under a disadvantageous condition of extremely low contract, etc., and/or over the whole visual field, and to provide a microscope which implements the method.例文帳に追加

極めて低いコントラスト等の不利な条件下での及び／又は視野全体に亘っての被検試料と光学観察装置との間の正確な距離測定が可能な距離測定方法及び当該方法を実行する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

This microscope is constituted by installing a CCD camera in a main body tube and installing an illumination lamp in proximity to the front end opening of the main body tube and is so formed that the central axis direction of the CCD camera is irradiated with light while the light quantity is made uniform.例文帳に追加

本体鏡胴内にＣＣＤカメラを設置し、本体鏡胴の先端開口に近接して照明ランプを配置し、ＣＣＤカメラの中心軸方向に光量を均等にしつつ照射するようにしたことを特徴とする。 - 特許庁

In the method for grasping the one-line processing quantity by the FIB under the prescribed condition, the sample is processed by performing scanning of a plurality of lines, and the etching size at that time is measured by the microscope length measuring function, and the average processing quantity by one-line scanning is calculated.例文帳に追加

所定条件下のＦＩＢによる１ラインの加工量を把握する方法は複数ラインの走査を行って試料を加工し、その際のエッチング寸法を顕微鏡測長機能で測長し、１ライン走査の平均加工量を算出する。 - 特許庁

The orientation flat 4a of a wafer 4, being held with a wafer holding unit which can move in the stage, is magnified with a microscope to obtain an image data, measure an edge location using an image processing means, and to obtain deviation of angle θ_0 for the holding reference location L_1.例文帳に追加

ステージで移動可能なウエハ保持部に保持されたウエハ４のオリフラ４ａを、顕微鏡で拡大して、画像データを取得し、画像処理手段を用いてエッジ位置を測定し、保持基準位置Ｌ_１に対する角度ずれθ_０を求める。 - 特許庁

A tool table 15 is placed on a rotary table 30, and turned by πradian, a blade tip 16a of the tool 16 is detected by a microscope, and the tool position is adjusted or corrected so that the blade tip 16a before the turning is agreed with that after the turning.例文帳に追加

工具台１５をロータリテーブル３０に積載しπラジアン旋回させ、工具１６の刃先端１６ａを顕微鏡により検知し、旋回前と旋回後の刃先端１６ａを一致させるよう工具位置を調整または補正して加工する。 - 特許庁

A cantilever 12 having a probe 12a for characteristic measurement is resonated by an exciting section 5, the vibration of the cantilever 12 is detected by a vibration detecting section 6, and AFM (Atomic Force Microscope) observation of a sample is determined based on the detection result by a control/arithmetic section 9.例文帳に追加

特性計測用プローブ１２ａが形成されたカンチレバー１２を励振部５により共振させ、カンチレバー１２の振動を振動検出部６で検出し、その検出結果に基づいて試料のＡＦＭ観察を制御・演算部９で求める。 - 特許庁

To provide a microscope control device capable of suppressing a load related to focusing when browsing a microscopic image and improving the convenience of a reader; and to provide an image display device, a method for generating focus position information, and an image display method.例文帳に追加

顕微鏡画像閲覧時のピント調整に関する負荷を抑制し、閲覧者の利便性を向上させることが可能な顕微鏡制御装置、画像表示装置、合焦位置情報生成方法及び画像表示方法を提供する。 - 特許庁

In the microscope provided with an illumination optical system 12 irradiating an object to be observed O with an illumination light L1 from a light source 12a via an opening diaphragm 12e, a light diffusion element 12f is disposed on the position of the opening diaphragm 12e.例文帳に追加

光源１２ａからの照明光Ｌ１を、開口絞り１２ｅを介して観察物Ｏに照射する照明光学系１２を備えた顕微鏡において、開口絞り１２ｅの位置に、光拡散性素子１２ｆを備える構成を採用した。 - 特許庁

To provide a forming method of an outgoing wiring, which effects the forming of leader wiring and connection to a substrate simultaneously while retaining collimation between a test piece and the substrate, and a manufacturing method of the test piece for scanning-type probe microscope to which this forming method is applied.例文帳に追加

引出配線の形成と基板との接合を同時に行い、かつ試料と基板の平行性を保持する引出配線の形成方法及びこの形成方法を適用した走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope of which, the problem of deterioration of vacuum in a mirror body caused by gas, and drift of sample resulting from the elongation of a heater by heating, which occurs in real-time observation of a reaction process of the sample with the gas in heating are solved, capable of observing with high resolution.例文帳に追加

電子顕微鏡で試料の加熱時のガスとの反応過程をリアルタイムで観察する際に起こる、ガスによる鏡体内の真空の悪化や、加熱によるヒーターの伸びからくる試料ドリフトを解決し、高分解能観察を可能にする。 - 特許庁

Regarding the microscope, an abutting member 20 which is made movable in the optical axis direction, with reference to an objective optical system 4, and also, which can be positioned in a desired position in the optical axis direction is arranged on the leading end part of the objective optical system 4 arranged adjacent to the sample A.例文帳に追加

試料Ａに近接配置される対物光学系４の先端部に、該対物光学系４に対して、光軸方向に移動可能かつ、所望の光軸方向位置に位置決め可能な突当て部材２０を備えることを特徴とする。 - 特許庁

When the mobile part 31 is turned, the position in the turning direction of the mobile part 31 is determined in a prescribed angular position by a click stop mechanism omitted in Figure, and the optical element 34 or 35 is aligned with the optical axis of an optical system of the microscope.例文帳に追加

可動部３１を回動操作させると、所定の角度位置で不図示のクリックストップ機構により可動部３１の回動方向の位置が決められ、光学素子３４または３５が顕微鏡の光学系の光軸に対してアライメントされる。 - 特許庁

To provide a laser microscope capable of securing a desired length measurement accuracy by turning the pixel size of a CCD element or the size of a light spot to the size for providing at least about four pixels at all times for one edge of a fine cycle structure to be an object.例文帳に追加

ＣＣＤ素子の画素サイズ又は光スポットの大きさを、対象となる微細周期構造の１つのエッジに対して常に少なくとも４画素程度含まれる大きさにして所望の測長精度を確保できるレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Three to five kinds of different defocuses are generated by switching the shape of a changeable mirror 7 in the confocal microscope (system) to change it, and then the height of the object is determined by confocal output intensity in respective condition.例文帳に追加

ここでは共焦点顕微鏡（システム）内の可変鏡７の形状を切り替えて変化させることにより３から５種類の異なったデフォーカス発生させ、それぞれの状態における共焦点出力強度より物体の高さを決定している。 - 特許庁

A observation device 1A includes: partial reflection mirrors 2, 3 arranged coaxially; and an optical microscope 19 for detecting light beams emitted from object points on a hologram surface 21a and a photodetector surface 22a through the partial reflection mirrors 2, 3.例文帳に追加

観察装置１Ａは、同軸上に配置された部分反射ミラー２，３と、部分反射ミラー２，３を経由して、ホログラム面２１ａおよび光検出器面２２ａ上の物点から発せられた光線を検出する光学顕微鏡１９とを備える。 - 特許庁