「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(159ページ目) - Weblio英語例文検索

The particulate black composite oxide particles comprise 60 to 80 mass% cobalt and 0.1 to 5 mass% manganese and has an average primary particle diameter of 0.05 to 0.3 μm (as measured by observation with a scanning electron microscope (SEM)).例文帳に追加

６０質量％〜８０質量％のコバルトおよび０．１質量％〜５質量％のマンガンを含有し、ＳＥＭ観察で測定した一次粒子平均径が０．０５μｍ〜０．３μｍであることを特徴とする粒状黒色複合酸化物粒子。 - 特許庁

The electron beam control device for controlled use of an electron beam, such as an electron microscope or an electron beam aligner, comprises a magnetic sensor for measuring an externally influenced magnetic variation that influences a track of an electron beam.例文帳に追加

電子顕微鏡および電子ビーム露光装置等の、電子ビームを制御して利用する電子ビーム制御装置であって、電子ビームの飛跡に影響を及ぼす、外界からの影響による磁気変動量を測定するための磁気センサーを備えている。 - 特許庁

To provide a microscope equipped with an optical element provided with an antireflection film having high antireflection performance in a wide band from an ultraviolet region to a visible region and further over an infrared region and having high transmittance, and also to provide an imaging apparatus used therefor.例文帳に追加

紫外域から可視域、さらには赤外域にわたる広帯域で高い反射防止性能を有した反射防止膜を設けた高い透過率を有する光学素子を備えた顕微鏡及びこれに用いられる撮像装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technology for cleanly removing chips with the shaving of defects by a scanning probe microscope, without being restricted even by the surface tension of adsorption water existing on the surface or static charge with friction on a sample surface.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡による欠陥部削り落としに伴う切り粉が、表面に存在する吸着水の表面張力や摩擦にともなう帯電によっても試料面に拘束されることなく綺麗に除去される技術を提示する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a probe for a probe microscope capable of growing a carbon nanotube on the tip part of a probe substrate by a plasma CVD method by reducing a damage received from plasma by electric field concentration.例文帳に追加

電界集中によりプラズマから受けるダメージを減少させて探針基体の先端部にカーボンナノチューブをプラズマＣＶＤ法によって成長させることができるプローブ顕微鏡用探針の作製方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a microscope for ophthalmology which corresponds to perfect coaxial illumination and illumination with an angle range, and can easily perform modification operation of observation condition in a short time by enabling a change in correlated color temperature.例文帳に追加

本発明は、完全同軸照明や角度付照明に対応し、且つ、相関色温度を変更可能なことより、観察条件の変更操作を容易且つ短時間に行うことができる眼科用顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide metal nickel particle powder made of fine metal nanonickel particle which has a mean particle diameter obtained according to TEM (Transmission Electron Microscope) of ≤30 nm, and which has satisfactory dispersibility in a solvent, and has sintering temperature suppressed to low.例文帳に追加

ＴＥＭにより求まる平均粒子径が３０ｎｍ以下の微細な金属ナノニッケル粒子からなる粉末であって、溶媒中での分散性が良好であり、かつ焼結温度を低く抑えることが可能な金属ニッケル粒子粉末を提供する。 - 特許庁

By setting a required contour line on the observation object having a variety of shapes, and arranging the filed of vision, an image of the electron microscope can be selectively obtained based on the required field of vision set along the shape of the observation object.例文帳に追加

種々の形状を有する観察対象に対し、必要な輪郭線を設定した上で、視野を配列することで、観察対象の形状に沿った必要な視野設定に基づく電子顕微鏡像を選択的に取得することが可能となる。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of controlling quantity of electrons emitted from a sample generated by collision of electrons with other members, and to provide a method of static charge control for the sample by controlling quantity of electrons.例文帳に追加

本発明は、試料から放出された電子が、他部材に衝突した結果、生じる電子量を制御可能とすることを目的とした走査電子顕微鏡、及び電子量の制御による試料帯電制御方法の提供を目的とする。 - 特許庁

A scanning electron microscope 1 having an automatic focusing function is provided with a coordinate navigation function which allows setting measurement points arbitrarily and an output function for plotting thickness distribution based on the measured data, for measuring flatness of a wafer.例文帳に追加

オートフォーカス機能を有する走査型電子顕微鏡１に測定箇所を任意に設定可能な座標ナビゲーション機能と、計測したデータに基づいて厚さ分布を描画する出力機能を搭載することによりウェーハの平坦度の測定する。 - 特許庁

In another example of the visual inspecting method and apparatus, images are acquired by a confocal microscope having two corresponding pinhole arrays provided in its illumination and light receiving sides and a single TDI camera.例文帳に追加

本発明の他の態様によれば、対応する２つのピンホールアレイ（３７，３８）を顕微鏡の照明側と受光側に設けた共焦点顕微鏡と１つのＴＤＩカメラ（４０）により画像を取得する外観検査方法及び装置が提供される。 - 特許庁

A control section 10 obtains microscopic information on each constituting unit constituting a microscope main body 6, transmits the microscopic information and receives control information, to control the operation of each constituting unit based on the received control information.例文帳に追加

制御部１０は、顕微鏡本体６を構成する各構成ユニットに関する顕微鏡情報の取得、該顕微鏡情報の送信、及び、制御情報の受信を行い、受信した制御情報に基づいて各構成ユニットの動作を制御する。 - 特許庁

To examine a physical property of a target of inspection having one of its surfaces covered with a member resistant to transmission of laser light or a magnetic field, a semiconductor IC mounted on a substrate for example, by a laser SQUID microscope with higher sensitivity.例文帳に追加

レーザー光や磁場の透過が困難な部材により片面が覆われている検査対象物、例えば基板に実装された半導体ＩＣでも、レーザーＳＱＵＩＤ顕微鏡による物理的性質の検査をより高感度に行うこと。 - 特許庁

When the mobile part 31 is turned, the position in the turning direction of the mobile part 31 is determined in a prescribed angular position by a click stop mechanism omitted in Figure, and the optical element 34 or 35 is aligned with the optical axis of an optical system of the microscope.例文帳に追加

可動部３１を回動操作させると、所定の角度位置で不図示のクリックストップ機構により可動部３１の回動方向の位置が決められ、光学素子３４または３５が顕微鏡の光学系の光軸に対してアライメントされる。 - 特許庁

The reflector layer has at least one among an electrical conductivity exceeding about 5.0×10 (Ω.cm) an RMS surface roughness below about 1.0 nm in measurement by an atom force microscope and a refractive index below about 0.5 at a read-out wavelength.例文帳に追加

反射体層は、約５．０×１０^4（Ω・ｃｍ）^-^1を超える導電率、原子間力顕微鏡による測定で約１．０ｎｍ未満のＲＭＳ表面粗さ、および読出波長において約０．５未満の屈折率のうちの少なくとも１つを有する。 - 特許庁

To provide both a probe-rotating mechanism capable of highly accurately and correctly measuring even an extremely irregularly shaped object and an object having large level differences by changing the direction of a probe and a scanning probe microscope with the same.例文帳に追加

プローブの向きを変えることによって、凹凸形状の激しい物体や、段差の大きな物体においても高精度で正確な測定が可能となるプローブ回転機構、および該プローブ回転機構を有する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope equipped with a light source image detection optical system capable of reducing the light intensity of a light source image with a simple constitution without increasing the number of components, and wherein, the light source can be easily positioned with desired accuracy without causing eye strain.例文帳に追加

部品点数を増大させることなく簡易な構成で光源像の光の強度を低減可能な光源像検出光学系を備え、目に負担を招くことなく所望の精度で容易に光源の位置合わせを行うことができること。 - 特許庁

To provide a scanner which can scan two-dimensionally even within the scanning region inclined obliquely with respect to a coordinate axis fixed to the apparatus with the light from a light source and can be made smaller in a memory capacity, and a confocal microscope having the same.例文帳に追加

装置に固定された座標軸に対して斜めに傾いた走査領域内であっても、光源からの光を２次元的に走査することができ、かつ、メモリ容量も小さくできるスキャナ装置、およびそれを備えたコンフォーカル顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a laser microscope capable of securing a desired length measurement accuracy by turning the pixel size of a CCD element or the size of a light spot to the size for providing at least about four pixels at all times for one edge of a fine cycle structure to be an object.例文帳に追加

ＣＣＤ素子の画素サイズ又は光スポットの大きさを、対象となる微細周期構造の１つのエッジに対して常に少なくとも４画素程度含まれる大きさにして所望の測長精度を確保できるレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope using at least one or more motor-driving parts, and capable of preventing the motor-driving part from driving because an observer inadvertently depressing an operation part without using an expensive PC system or a liquid crystal display part or the like.例文帳に追加

少なくとも１つ以上の電動駆動部を用いた顕微鏡において、高価なＰＣシステムや液晶などの表示部を用いず、観察者が誤って操作部を押すことで電動部が駆動してしまうことが無い顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

This microscope is composed of photographing optical systems 1, 2, 3, 4L and 4R for taking left and right pictures having parallax and ocular optical systems 7L, 7R, 8L, 8R, 9 and 11 observing the pictures by left and right eyes 12L and 12R by displaying the pictures on picture display means 6R, 6M and 6L.例文帳に追加

左右の視差のある画像を撮影する撮影光学系１，２，３，４Ｌ，４Ｒと、その画像を画像表示手段６Ｒ，６Ｍ，６Ｌに表示して左右の目１２Ｌ，１２Ｒで観察する接眼光学系７Ｌ，７Ｒ，８Ｌ，８Ｒ，９，１１から成っている。 - 特許庁

To provide a measuring method/means which can measure a shape of an arbitrary pattern such as surrounded by non parallel lines when a pattern length is to be measured with the use of display image information of a scanning microscope or the like and which prevents personal differences and errors for each measurement.例文帳に追加

走査型顕微鏡等のディスプレイ画像情報を用いたパターン測長において非平行線で囲まれたような任意パターンの形状測定が可能で、個人差や測定毎の誤差が出にくい測定手法／手段を提供する。 - 特許庁

The focusing part 5 has a focusing handle 6 for moving itself to the focusing part moving mechanism 3, a power conversion part 7 for varying the power of the microscope, and a power varying handle 8 for varying the power of the power conversion part 7.例文帳に追加

焦準部５は、それ自体を焦準部移動機構３に対して移動させるための焦準ハンドル６と、顕微鏡の倍率を変更するための倍率変換部７と、倍率変換部７の倍率を変更するための変倍ハンドル８とを有している。 - 特許庁

To properly provide information about the inside of a visual field necessary for a surgeon or its assistant and to provide a surgical microscope device facilitating surger for securing an objective microscopic visual field during the surgery.例文帳に追加

本発明は、術者あるいは助手などに必要な視野内情報を適切に提供し、また、術中、目的の顕微鏡視野を確保する操作を簡便に行うことができる手術用顕微鏡装置を提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

The orientation flat 4a of a wafer 4, being held with a wafer holding unit which can move in the stage, is magnified with a microscope to obtain an image data, measure an edge location using an image processing means, and to obtain deviation of angle θ_0 for the holding reference location L_1.例文帳に追加

ステージで移動可能なウエハ保持部に保持されたウエハ４のオリフラ４ａを、顕微鏡で拡大して、画像データを取得し、画像処理手段を用いてエッジ位置を測定し、保持基準位置Ｌ_１に対する角度ずれθ_０を求める。 - 特許庁

A tool table 15 is placed on a rotary table 30, and turned by πradian, a blade tip 16a of the tool 16 is detected by a microscope, and the tool position is adjusted or corrected so that the blade tip 16a before the turning is agreed with that after the turning.例文帳に追加

工具台１５をロータリテーブル３０に積載しπラジアン旋回させ、工具１６の刃先端１６ａを顕微鏡により検知し、旋回前と旋回後の刃先端１６ａを一致させるよう工具位置を調整または補正して加工する。 - 特許庁

A cantilever 12 having a probe 12a for characteristic measurement is resonated by an exciting section 5, the vibration of the cantilever 12 is detected by a vibration detecting section 6, and AFM (Atomic Force Microscope) observation of a sample is determined based on the detection result by a control/arithmetic section 9.例文帳に追加

特性計測用プローブ１２ａが形成されたカンチレバー１２を励振部５により共振させ、カンチレバー１２の振動を振動検出部６で検出し、その検出結果に基づいて試料のＡＦＭ観察を制御・演算部９で求める。 - 特許庁

To provide a microscope control device capable of suppressing a load related to focusing when browsing a microscopic image and improving the convenience of a reader; and to provide an image display device, a method for generating focus position information, and an image display method.例文帳に追加

顕微鏡画像閲覧時のピント調整に関する負荷を抑制し、閲覧者の利便性を向上させることが可能な顕微鏡制御装置、画像表示装置、合焦位置情報生成方法及び画像表示方法を提供する。 - 特許庁

In the microscope provided with an illumination optical system 12 irradiating an object to be observed O with an illumination light L1 from a light source 12a via an opening diaphragm 12e, a light diffusion element 12f is disposed on the position of the opening diaphragm 12e.例文帳に追加

光源１２ａからの照明光Ｌ１を、開口絞り１２ｅを介して観察物Ｏに照射する照明光学系１２を備えた顕微鏡において、開口絞り１２ｅの位置に、光拡散性素子１２ｆを備える構成を採用した。 - 特許庁

To provide a forming method of an outgoing wiring, which effects the forming of leader wiring and connection to a substrate simultaneously while retaining collimation between a test piece and the substrate, and a manufacturing method of the test piece for scanning-type probe microscope to which this forming method is applied.例文帳に追加

引出配線の形成と基板との接合を同時に行い、かつ試料と基板の平行性を保持する引出配線の形成方法及びこの形成方法を適用した走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a preparation method of a specimen for observing a defective part of a semiconductor device substrate, which enables the fine defective part of the semiconductor device substrate to be easily specified in a short time, so that a thin specimen suitable for transmission electron microscope observation can be made.例文帳に追加

短時間で容易に、半導体デバイス基板の微小な欠陥部を特定でき、透過形電子顕微鏡観察に適した薄片試料とすることが可能な半導体デバイス基板の欠陥部観察用試料の作製方法を提供すること。 - 特許庁

To solve the problem, wherein when the resolution of a scanning electron microscope is monitored, preparation of a sample and employment of measurement algorithm capable of reducing the pattern dependence of resolution index value to be measured is required for accurately measuring the change in the size of electron beam.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の分解能をモニタする場合，計測する分解能指標値のパターン依存性を低減できるようなサンプルの準備と計測アルゴリズムの採用が，電子ビームサイズの変化を高精度に計測するために必要である。 - 特許庁

To provide an electron microscope of which, the problem of deterioration of vacuum in a mirror body caused by gas, and drift of sample resulting from the elongation of a heater by heating, which occurs in real-time observation of a reaction process of the sample with the gas in heating are solved, capable of observing with high resolution.例文帳に追加

電子顕微鏡で試料の加熱時のガスとの反応過程をリアルタイムで観察する際に起こる、ガスによる鏡体内の真空の悪化や、加熱によるヒーターの伸びからくる試料ドリフトを解決し、高分解能観察を可能にする。 - 特許庁

Regarding the microscope, an abutting member 20 which is made movable in the optical axis direction, with reference to an objective optical system 4, and also, which can be positioned in a desired position in the optical axis direction is arranged on the leading end part of the objective optical system 4 arranged adjacent to the sample A.例文帳に追加

試料Ａに近接配置される対物光学系４の先端部に、該対物光学系４に対して、光軸方向に移動可能かつ、所望の光軸方向位置に位置決め可能な突当て部材２０を備えることを特徴とする。 - 特許庁

This invention is applied to the microscope which performs the observation of a sample while illuminating a sample with an illuminator and has an eyepiece lens-barrel which performs the observation with the naked eye and an imaging optical lens-barrel which enables the observation with an imaging device such as a camera.例文帳に追加

本発明は、標本を照明装置で照明しつつ観察が行なわれ、肉眼による観察を行う接眼鏡筒およびカメラ等の撮像装置による観察が可能な撮像光学鏡筒を有する顕微鏡に適用される。 - 特許庁

In a glass substrate for an information recording medium, variability of surface roughness (Ra), which is calculated from measurement results of surface roughness (Ra) obtained from 10 or more fields of 10 μm square using an atomic force microscope, is less than 3%.例文帳に追加

情報記録媒体用ガラス基板は、原子間力顕微鏡を使用して、表面粗さ（Ｒａ）を１０μｍ四方の視野で１０視野以上測定した測定結果より算出される表面粗さ（Ｒａ）のばらつき率は、３％以下である。 - 特許庁

The microscope 202 is controlled in such a manner that the microscopic images when the position of the focus is in the position after the movement are successively acquired every time the movement of the position of the focus with respect to the sample is made at the intervals of the movement by this control.例文帳に追加

そして、該制御によって標本の位置に対する焦点の位置の移動が該移動の間隔でなされる度に、該焦点の位置が該移動後の位置であるときにおける顕微鏡画像を順次取得させるように顕微鏡２０２を制御する。 - 特許庁

In this defect inspecting method for the color filter, a surface potential of the color filter is measured by an atomic force microscope, and a defect in the surface is inspected based on a difference between the maximum value and the minimum value in the surface potential.例文帳に追加

カラーフィルターの欠陥検査方法であって、カラーフィルターの表面電位を原子間力顕微鏡で測定し、表面電位の最大値と最小値の差から表面の欠陥を検査することを特徴とするカラーフィルターの欠陥検査方法。 - 特許庁

To provide a method for measuring frictional force and a friction coefficient by using a scanning probe microscope for measuring frictional force as an absolute value not depending on the slope or shape of a specimen with respect to friction between a probe given arbitrary physical properties and a surface of the specimen.例文帳に追加

任意の物性を付与した探針と試料面間の摩擦について試料の傾き・形状によらない摩擦力を絶対値として測定する走査型プローブ顕微鏡による摩擦力および摩擦係数測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a near field opticalprobe which can be manufactured at low cost by simple process, a near field opticalprobe, a near field optical microscope, a near field light fine processing device and a near field optical record playback device.例文帳に追加

単純な工程で、安価なコストで作製することが可能となる近接場光プローブの作製方法、及び近接場光プローブ、近接場光学顕微鏡、近接場光微細加工装置、近接場光記録再生装置を提供する。 - 特許庁

A ferro-dielectric thin film 12 is attached onto a base board 11 which forms a work to be processed, and patterns are formed on the thin film using atomic force microscope which has an electroconductive probe 13 so that the desired nano-circuit pattern is partitioned.例文帳に追加

加工物を形成する基板１１上に強誘電体薄膜１２を付着し、次に、導電性探針１３を有する原子間力顕微鏡を用いて、強誘電体薄膜上にパターンを形成して、所望のナノ回路パターンを画定する。 - 特許庁

To provide a near-field optical probe high in resolution and high in detection efficiency, which can be employed in a near-field optical microscope capable of carrying out a measurement with a S/N ratio better than conventional ones, and to provide a method and an apparatus for manufacturing the near-field optical probe.例文帳に追加

従来よりも良好なＳＮ比で測定可能な近接場光顕微鏡に使用できる、分解能が高くかつ検出効率も高い近接場光プローブ、近接場光プローブの作製方法および作製装置を提供する。 - 特許庁

A groove 9a with a smooth bottom surface is formed from the side of the metal film 8 at the side of the glass pedestal 7 that is joined to the silicon wafer 2, thus directly observing the release of the junction surface and the presence or absence of void through the bottom surface of the groove 9a with a microscope or the like.例文帳に追加

シリコンウェハ２に接合されるガラス台座７の部位には、金属膜８側から底面の平らな溝９ａが形成されており、溝９ａの底面を通して接合面１３の剥離やボイドの有無を直接観察する。 - 特許庁

After internationally charging electric charge at early stages on a sample surface such as a photograph mask, the scanning electron microscope image, is set as the base which obtains the image based on a signal of a secondary electron produced by scanning with a primary electronic beam on the charged sample surface.例文帳に追加

フォトマスクのような試料表面に初期に意図的に電荷を帯電させた後で、帯電された試料表面を１次電子ビームでスキャンして生じる２次電子の信号を基とする画像を得る走査電子顕微鏡画像による。 - 特許庁

To provide a sample support stage for observing a three-dimensional structure of high versatility with a sample constitution while adopting a constitution capable of always holding a sample in the visual field center of an electron microscope, a protractor and a three-dimensional structure observing method.例文帳に追加

試料を常に電子顕微鏡の視野中心で保持可能な構成を採用しながら、簡素な構成で汎用性の高い３次元構造観察用の試料支持台及び分度器、並びに３次元構造観察方法を提供する。 - 特許庁