「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(159ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a sample support stage for observing a three-dimensional structure of high versatility with a sample constitution while adopting a constitution capable of always holding a sample in the visual field center of an electron microscope, a protractor and a three-dimensional structure observing method.例文帳に追加

試料を常に電子顕微鏡の視野中心で保持可能な構成を採用しながら、簡素な構成で汎用性の高い３次元構造観察用の試料支持台及び分度器、並びに３次元構造観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope device capable of realizing with a simple constitution an illumination means for illuminating a sample which is an observation object and a space filter for removing a specific space frequency component of a pattern on the sample, and its illumination method.例文帳に追加

本発明は観察対象である試料を照明する照明手段と、この試料上のパターンの特定の空間周波数成分を除去する空間フィルタとを簡単な構成で実現する顕微鏡装置及びその照明方法を提供する。 - 特許庁

As to this heating device 1 for the microscope; the end parts of a pair of electrodes 7 and 7 extend in a direction where they come closer to each other so that a current rapidly starts flowing in a transparent conductive film 6 existing in the opposed area of the electrodes when the electrodes 7 and 7 are energized.例文帳に追加

顕微鏡用加温装置１では、一対の電極７，７の一端部は互いに近づく方向へ延びているので、電極７，７に通電すると、その対向領域にある透明導電膜６に速やかに電流が流れる。 - 特許庁

The video microscope irradiates an object to be observed with light, converts an image of the observed object into an image signal by an image sensor and a signal processing circuit, and displays an enlarged image of the observed object on a display device according to the image signal.例文帳に追加

ビデオマイクロスコープは、観察対象物に光を照射し、観察対象物の像をイメージセンサ及び信号処理回路によって画像信号に変換し、その画像信号に基づいて観察対象物の拡大画像を表示装置に表示する。 - 特許庁

An image of the fluorescein ring part passed through two prisms and a microscope is captured, the deviation ΔL of two half fluorescein rings is accurately measured by image analysis, and a pressure of a measurer is controlled to make the deviation quantity ΔL less than or equal to a fixed value.例文帳に追加

２個のプリズムと顕微鏡を通過したフルオレスセインリング部の画像を取り込み、画像解析により２つの半割れフルオレスセインリングのずれ量ΔＬを正確に計測し、ずれ量ΔＬが一定値以下になるように、測圧子の押付力を制御する。 - 特許庁

To provide an electronic imaging apparatus wherein a change in color reproduction and a sense of edge emphasis is less even when the gamma characteristic is changed and deterioration in the S/N due to edge emphasis is less and to provide a microscope system employing the electronic imaging apparatus.例文帳に追加

γ特性を変化させても色再現、エッジ強調感の変化が少なく、エッジ強調によるＳ／Ｎの低下が少ない電子的撮像装置及びその電子的撮像装置を使用する顕微鏡システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

When the mobile part 31 is turned, the position in the turning direction of the mobile part 31 is determined in a prescribed angular position by a click stop mechanism omitted in Figure, and the optical element 34 or 35 is aligned with the optical axis of an optical system of the microscope.例文帳に追加

可動部３１を回動操作させると、所定の角度位置で不図示のクリックストップ機構により可動部３１の回動方向の位置が決められ、光学素子３４または３５が顕微鏡の光学系の光軸に対してアライメントされる。 - 特許庁

Three to five kinds of different defocuses are generated by switching the shape of a changeable mirror 7 in the confocal microscope (system) to change it, and then the height of the object is determined by confocal output intensity in respective condition.例文帳に追加

ここでは共焦点顕微鏡（システム）内の可変鏡７の形状を切り替えて変化させることにより３から５種類の異なったデフォーカス発生させ、それぞれの状態における共焦点出力強度より物体の高さを決定している。 - 特許庁

A observation device 1A includes: partial reflection mirrors 2, 3 arranged coaxially; and an optical microscope 19 for detecting light beams emitted from object points on a hologram surface 21a and a photodetector surface 22a through the partial reflection mirrors 2, 3.例文帳に追加

観察装置１Ａは、同軸上に配置された部分反射ミラー２，３と、部分反射ミラー２，３を経由して、ホログラム面２１ａおよび光検出器面２２ａ上の物点から発せられた光線を検出する光学顕微鏡１９とを備える。 - 特許庁

The reflector layer has at least one among an electrical conductivity exceeding about 5.0×10 (Ω.cm) an RMS surface roughness below about 1.0 nm in measurement by an atom force microscope and a refractive index below about 0.5 at a read-out wavelength.例文帳に追加

反射体層は、約５．０×１０^4（Ω・ｃｍ）^-^1を超える導電率、原子間力顕微鏡による測定で約１．０ｎｍ未満のＲＭＳ表面粗さ、および読出波長において約０．５未満の屈折率のうちの少なくとも１つを有する。 - 特許庁

To provide both a probe-rotating mechanism capable of highly accurately and correctly measuring even an extremely irregularly shaped object and an object having large level differences by changing the direction of a probe and a scanning probe microscope with the same.例文帳に追加

プローブの向きを変えることによって、凹凸形状の激しい物体や、段差の大きな物体においても高精度で正確な測定が可能となるプローブ回転機構、および該プローブ回転機構を有する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope equipped with a light source image detection optical system capable of reducing the light intensity of a light source image with a simple constitution without increasing the number of components, and wherein, the light source can be easily positioned with desired accuracy without causing eye strain.例文帳に追加

部品点数を増大させることなく簡易な構成で光源像の光の強度を低減可能な光源像検出光学系を備え、目に負担を招くことなく所望の精度で容易に光源の位置合わせを行うことができること。 - 特許庁

To provide a scanner which can scan two-dimensionally even within the scanning region inclined obliquely with respect to a coordinate axis fixed to the apparatus with the light from a light source and can be made smaller in a memory capacity, and a confocal microscope having the same.例文帳に追加

装置に固定された座標軸に対して斜めに傾いた走査領域内であっても、光源からの光を２次元的に走査することができ、かつ、メモリ容量も小さくできるスキャナ装置、およびそれを備えたコンフォーカル顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a laser microscope capable of securing a desired length measurement accuracy by turning the pixel size of a CCD element or the size of a light spot to the size for providing at least about four pixels at all times for one edge of a fine cycle structure to be an object.例文帳に追加

ＣＣＤ素子の画素サイズ又は光スポットの大きさを、対象となる微細周期構造の１つのエッジに対して常に少なくとも４画素程度含まれる大きさにして所望の測長精度を確保できるレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a light detection method and device, capable of detecting light to be detected with high sensitivity, even if the light to be detected is scattered light or light disturbed in wave front, and to provide a living body observing method, a microscope and an endoscope.例文帳に追加

被検出光が、散乱光や波面の乱れた光であっても、高感度かつ高感度に検出することができる光検出方法および光検出装置、並びに、生体観察方法、顕微鏡および内視鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a laser scanning type microscope capable of moving only the focused position of an observation laser beam while keeping a state where an operation laser beam is focused on the same position on a sample, and a microscopic observation method.例文帳に追加

標本内の同じ位置に操作用レーザ光を合焦させた状態を維持しながら観察用レーザ光の合焦位置のみを移動させることのできるレーザ走査型顕微鏡および顕微鏡観察方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A half mirror 41 is provided on an optical path between a beam expander 12 provided in a confocal microscope and a light source 2 generating a laser beam L to thereby divide the laser beam L into a laser beam L1 being illuminating light and a laser beam L2 being inspecting light.例文帳に追加

共焦点顕微鏡に設けられたビームエキスパンダ１２とレーザ光Ｌを発生する光源２との間の光路上にハーフミラー４１を設けて、レーザ光Ｌを照明光であるレーザ光Ｌ１と検査光であるレーザ光Ｌ２とに分割する。 - 特許庁

To provide a microscope for operation capable of being driven substantially in an XY plane relative to a plane to be observed even when the mirror body is in any condition by constituting a visual field moving means capable of being driven around two tilted axes.例文帳に追加

２つの傾斜軸まわりに駆動可能な視野移動手段を構成することで、鏡体がどういった観察状態にあっても、観察面に対して略ＸＹ平面に駆動可能となる手術用顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

To provide a microscope which can suppress the occurrence of flares caused by the intermediate optical system (e.g. a variable magnification optical system) provided between the objective lens and the focusing lens and can make the sample illuminating direction coincide with the observation direction.例文帳に追加

対物レンズと結像レンズとの間に設けた中間光学系（例えば変倍光学系）に起因するフレアの発生を抑えることができ、かつ、標本に対する照明方向を観察方向と揃えることもできる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The orientation flat 4a of a wafer 4, being held with a wafer holding unit which can move in the stage, is magnified with a microscope to obtain an image data, measure an edge location using an image processing means, and to obtain deviation of angle θ_0 for the holding reference location L_1.例文帳に追加

ステージで移動可能なウエハ保持部に保持されたウエハ４のオリフラ４ａを、顕微鏡で拡大して、画像データを取得し、画像処理手段を用いてエッジ位置を測定し、保持基準位置Ｌ_１に対する角度ずれθ_０を求める。 - 特許庁

A tool table 15 is placed on a rotary table 30, and turned by πradian, a blade tip 16a of the tool 16 is detected by a microscope, and the tool position is adjusted or corrected so that the blade tip 16a before the turning is agreed with that after the turning.例文帳に追加

工具台１５をロータリテーブル３０に積載しπラジアン旋回させ、工具１６の刃先端１６ａを顕微鏡により検知し、旋回前と旋回後の刃先端１６ａを一致させるよう工具位置を調整または補正して加工する。 - 特許庁

A cantilever 12 having a probe 12a for characteristic measurement is resonated by an exciting section 5, the vibration of the cantilever 12 is detected by a vibration detecting section 6, and AFM (Atomic Force Microscope) observation of a sample is determined based on the detection result by a control/arithmetic section 9.例文帳に追加

特性計測用プローブ１２ａが形成されたカンチレバー１２を励振部５により共振させ、カンチレバー１２の振動を振動検出部６で検出し、その検出結果に基づいて試料のＡＦＭ観察を制御・演算部９で求める。 - 特許庁

To provide a microscope control device capable of suppressing a load related to focusing when browsing a microscopic image and improving the convenience of a reader; and to provide an image display device, a method for generating focus position information, and an image display method.例文帳に追加

顕微鏡画像閲覧時のピント調整に関する負荷を抑制し、閲覧者の利便性を向上させることが可能な顕微鏡制御装置、画像表示装置、合焦位置情報生成方法及び画像表示方法を提供する。 - 特許庁

In the microscope provided with an illumination optical system 12 irradiating an object to be observed O with an illumination light L1 from a light source 12a via an opening diaphragm 12e, a light diffusion element 12f is disposed on the position of the opening diaphragm 12e.例文帳に追加

光源１２ａからの照明光Ｌ１を、開口絞り１２ｅを介して観察物Ｏに照射する照明光学系１２を備えた顕微鏡において、開口絞り１２ｅの位置に、光拡散性素子１２ｆを備える構成を採用した。 - 特許庁

To provide a forming method of an outgoing wiring, which effects the forming of leader wiring and connection to a substrate simultaneously while retaining collimation between a test piece and the substrate, and a manufacturing method of the test piece for scanning-type probe microscope to which this forming method is applied.例文帳に追加

引出配線の形成と基板との接合を同時に行い、かつ試料と基板の平行性を保持する引出配線の形成方法及びこの形成方法を適用した走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope of which, the problem of deterioration of vacuum in a mirror body caused by gas, and drift of sample resulting from the elongation of a heater by heating, which occurs in real-time observation of a reaction process of the sample with the gas in heating are solved, capable of observing with high resolution.例文帳に追加

電子顕微鏡で試料の加熱時のガスとの反応過程をリアルタイムで観察する際に起こる、ガスによる鏡体内の真空の悪化や、加熱によるヒーターの伸びからくる試料ドリフトを解決し、高分解能観察を可能にする。 - 特許庁

Regarding the microscope, an abutting member 20 which is made movable in the optical axis direction, with reference to an objective optical system 4, and also, which can be positioned in a desired position in the optical axis direction is arranged on the leading end part of the objective optical system 4 arranged adjacent to the sample A.例文帳に追加

試料Ａに近接配置される対物光学系４の先端部に、該対物光学系４に対して、光軸方向に移動可能かつ、所望の光軸方向位置に位置決め可能な突当て部材２０を備えることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a microscope using at least one or more motor-driving parts, and capable of preventing the motor-driving part from driving because an observer inadvertently depressing an operation part without using an expensive PC system or a liquid crystal display part or the like.例文帳に追加

少なくとも１つ以上の電動駆動部を用いた顕微鏡において、高価なＰＣシステムや液晶などの表示部を用いず、観察者が誤って操作部を押すことで電動部が駆動してしまうことが無い顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

This microscope is composed of photographing optical systems 1, 2, 3, 4L and 4R for taking left and right pictures having parallax and ocular optical systems 7L, 7R, 8L, 8R, 9 and 11 observing the pictures by left and right eyes 12L and 12R by displaying the pictures on picture display means 6R, 6M and 6L.例文帳に追加

左右の視差のある画像を撮影する撮影光学系１，２，３，４Ｌ，４Ｒと、その画像を画像表示手段６Ｒ，６Ｍ，６Ｌに表示して左右の目１２Ｌ，１２Ｒで観察する接眼光学系７Ｌ，７Ｒ，８Ｌ，８Ｒ，９，１１から成っている。 - 特許庁

To provide a measuring method/means which can measure a shape of an arbitrary pattern such as surrounded by non parallel lines when a pattern length is to be measured with the use of display image information of a scanning microscope or the like and which prevents personal differences and errors for each measurement.例文帳に追加

走査型顕微鏡等のディスプレイ画像情報を用いたパターン測長において非平行線で囲まれたような任意パターンの形状測定が可能で、個人差や測定毎の誤差が出にくい測定手法／手段を提供する。 - 特許庁

The focusing part 5 has a focusing handle 6 for moving itself to the focusing part moving mechanism 3, a power conversion part 7 for varying the power of the microscope, and a power varying handle 8 for varying the power of the power conversion part 7.例文帳に追加

焦準部５は、それ自体を焦準部移動機構３に対して移動させるための焦準ハンドル６と、顕微鏡の倍率を変更するための倍率変換部７と、倍率変換部７の倍率を変更するための変倍ハンドル８とを有している。 - 特許庁

To properly provide information about the inside of a visual field necessary for a surgeon or its assistant and to provide a surgical microscope device facilitating surger for securing an objective microscopic visual field during the surgery.例文帳に追加

本発明は、術者あるいは助手などに必要な視野内情報を適切に提供し、また、術中、目的の顕微鏡視野を確保する操作を簡便に行うことができる手術用顕微鏡装置を提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

To easily adhere a sample on a metal mesh without breaking an organic film adhered on the mesh without breaking the sample for an electron microscope or without flying and losing the sample.例文帳に追加

本発明は、電子顕微鏡用試料を破壊したり、飛ばして紛失したりすることがなく、また金属メッシュに張られた有機膜を破ることなく、容易に金属メッシュ上に試料を張り付けることができることを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

To provide a multifocal confocal Raman spectroscopic microscope capable of obtaining a planar spectrum image at a high speed and obtaining a plurality of band images at the same time without damaging a sample even in the case where the sample is a living cell.例文帳に追加

試料が生細胞である場合においても試料にダメージを与えることなく、面的なスペクトルイメージを高速に取得することができ、複数のバンドのイメージを同時に取得することができる多焦点共焦点ラマン分光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

There is used an ultrasonic microscope 1a in which ultrasonic waves are generated by using pulsed light, the generated ultrasonic waves are converged by an acoustic lens 2 and radiated to a sample 6 and the sample 6 is observed by using the reflected ultrasonic waves.例文帳に追加

パルス光を用いて超音波を発生させ、発生した超音波を音響レンズ２で収束させて試料６に照射し、試料６で反射した反射超音波を用いて、試料６を観察する超音波顕微鏡１ａを用いる。 - 特許庁

In the evaluation of the semiconductor device 1 provided with a semiconductor layer 2 and a metal layer 3, the surface potential of the semiconductor layer 2 and the surface potential of the metal layer 3 are measured by using the same cantilever 6 of a Kelvin probe force microscope (KFM).例文帳に追加

半導体層２及び金属層３を有する半導体装置１の評価において、ケルビンプローブフォース顕微鏡（ＫＦＭ）の同一のカンチレバー６を使用して半導体層２の表面電位及び金属層３の表面電位を測定する。 - 特許庁

To provide a SQUID microscope that can enhance spatial resolution while keeping a sample from contacting a probe and can acquire a magnetic signal with a high signal-to-noise ratio by a lock-in detecting method.例文帳に追加

本発明は、試料とプローブとが接触することなく、かつ、空間分解能を高めることができ、ロックイン検出法によって信号対雑音比の高い磁気信号を得ることができるＳＱＵＩＤ顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a polariscopic phase microscope that precisely observes a specimen, and more specifically, observes a structure and change of a physiological cell by using a phase contrast of light passing through components of the physiological cell.例文帳に追加

本発明は、標本を精密に観察するための偏光位相顕微鏡に関し、より詳くは、生体細胞の構成要素を通過する光の位相差を用いて生体細胞の構造および変化を観察することが可能な偏光位相顕微鏡に関する。 - 特許庁

The particulate black composite oxide particles comprise 60 to 80 mass% cobalt and 0.1 to 5 mass% manganese and has an average primary particle diameter of 0.05 to 0.3 μm (as measured by observation with a scanning electron microscope (SEM)).例文帳に追加

６０質量％〜８０質量％のコバルトおよび０．１質量％〜５質量％のマンガンを含有し、ＳＥＭ観察で測定した一次粒子平均径が０．０５μｍ〜０．３μｍであることを特徴とする粒状黒色複合酸化物粒子。 - 特許庁

The electron beam control device for controlled use of an electron beam, such as an electron microscope or an electron beam aligner, comprises a magnetic sensor for measuring an externally influenced magnetic variation that influences a track of an electron beam.例文帳に追加

電子顕微鏡および電子ビーム露光装置等の、電子ビームを制御して利用する電子ビーム制御装置であって、電子ビームの飛跡に影響を及ぼす、外界からの影響による磁気変動量を測定するための磁気センサーを備えている。 - 特許庁

To provide a microscope equipped with an optical element provided with an antireflection film having high antireflection performance in a wide band from an ultraviolet region to a visible region and further over an infrared region and having high transmittance, and also to provide an imaging apparatus used therefor.例文帳に追加

紫外域から可視域、さらには赤外域にわたる広帯域で高い反射防止性能を有した反射防止膜を設けた高い透過率を有する光学素子を備えた顕微鏡及びこれに用いられる撮像装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technology for cleanly removing chips with the shaving of defects by a scanning probe microscope, without being restricted even by the surface tension of adsorption water existing on the surface or static charge with friction on a sample surface.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡による欠陥部削り落としに伴う切り粉が、表面に存在する吸着水の表面張力や摩擦にともなう帯電によっても試料面に拘束されることなく綺麗に除去される技術を提示する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a probe for a probe microscope capable of growing a carbon nanotube on the tip part of a probe substrate by a plasma CVD method by reducing a damage received from plasma by electric field concentration.例文帳に追加

電界集中によりプラズマから受けるダメージを減少させて探針基体の先端部にカーボンナノチューブをプラズマＣＶＤ法によって成長させることができるプローブ顕微鏡用探針の作製方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a microscope for ophthalmology which corresponds to perfect coaxial illumination and illumination with an angle range, and can easily perform modification operation of observation condition in a short time by enabling a change in correlated color temperature.例文帳に追加

本発明は、完全同軸照明や角度付照明に対応し、且つ、相関色温度を変更可能なことより、観察条件の変更操作を容易且つ短時間に行うことができる眼科用顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide metal nickel particle powder made of fine metal nanonickel particle which has a mean particle diameter obtained according to TEM (Transmission Electron Microscope) of ≤30 nm, and which has satisfactory dispersibility in a solvent, and has sintering temperature suppressed to low.例文帳に追加

ＴＥＭにより求まる平均粒子径が３０ｎｍ以下の微細な金属ナノニッケル粒子からなる粉末であって、溶媒中での分散性が良好であり、かつ焼結温度を低く抑えることが可能な金属ニッケル粒子粉末を提供する。 - 特許庁