「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(167ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a biosensor that allows electrical characteristics of a biologically-relevant substance contained in a subject fluid such as an aqueous solution disposed on a sensing film to be detected and the biologically-relevant substance contained in the subject fluid to be observed with an observation instrument such as a microscope with high magnification.例文帳に追加

感応膜に配置された水溶液などの被検査流体に含まれる生体関連物質の電気的特性を検出し、顕微鏡などの観察機器によって、かつ、高倍率によって被検査流体に含まれる生体関連物質を観察するバイオセンサを提供する。 - 特許庁

A switching lever 29 is turned till the lever 29 abuts on a stopper 31 (32) centering a shaft 28, an LED 33 (34) is selectively positioned on an optical axis 41, so that the picture of a pointer 20 can be projected on an observed picture surface of a microscope in accordance with the light emission color of the LED 33 (34).例文帳に追加

切り換えレバー２９を、軸２８を中心にストッパ３１（３２）に当たるまで回動し、ＬＥＤ３３（３４）を選択的に光軸４１上に位置させことで、ＬＥＤ３３（３４）の発光色に応じたポインター２０の像を顕微鏡の観察像面に投影する。 - 特許庁

While applying a constant voltage of 10 V between a probe 1210 of the scanning probe microscope 1000 and a positive electrode core material PB, surface of the positive electrode mixture layer PA is scanned by means of the probe 1210, and the value of a current flowing between the probe 1210 and the positive electrode core material PB is measured.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１０００の探針１２１０と正極芯材ＰＢとの間に１０Ｖの定電圧を印加しつつ，正極合材層ＰＡの表面に探針１２１０を走査させるとともに，探針１２１０と正極芯材ＰＢとの間に流れる電流値を測定する。 - 特許庁

In the atomic force microscope that separates the light from a light source 21 into S-polarized light and P-polarized light by a lotion prism 28 to measure the relative displacement of the article 1 to be inspected and the cantilever 12, the function for measuring the displacement of the cantilever 12 by using a reference mirror 63 as a measurement standard is provided.例文帳に追加

光源２１からの光をローションプリズム２８によってＳ偏光とＰ偏光に分離して、被検物１とカンチレバー１２との相対変位を計測する原子間力顕微鏡において、参照ミラー６３を計測基準としてカンチレバー変位を計測する機能を設ける。 - 特許庁

To provide a microscope optical system capable of improving workability in micromanipulation without the need of the change of magnification performed by the rotation of an objective lens by a revolver by disposing a high magnifying power observation optical system to face oppositely to a low magnifying power observation optical system.例文帳に追加

低倍率の観察光学系と高倍率の観察光学系を対向させて配置することにより、レボルバでの対物レンズの転換による倍率の変換を行う必要がなく、マイクロマニピュレーションでの作業性の向上が図れる顕微鏡光学系を提供する。 - 特許庁

To provide a microscopic image synthesizing device capable of adhering plural images, which are picked up by an image pickup means mounted with a lens for a microscope, without requiring an expensive PC-controlled power stage and forcing a user to perform complicated operation.例文帳に追加

この発明は、高価なＰＣ制御の電動ステージを用いる必要がなく、かつユーザに複雑な操作をしいることなく、顕微鏡用レンズが装着された撮像手段で撮像された複数の画像を貼り合わせることができる顕微鏡画像合成装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In the microscope system equipped with a first objective lens 14 and a second objective lens 16 at positions facing each other across a sample 4, the first objective lens 14 is an objective lens transmitting the deep ultraviolet and the second objective lens 16 is configured to collect observation light from the sample 4.例文帳に追加

試料４を挟んで対向する位置に第一対物レンズ１４と第二対物レンズ１６を備える顕微鏡システムにおいて、第一対物レンズ１４は深紫外線を透過する対物レンズであり、第二対物レンズ１６は試料４からの観察光を収集する構成とした。 - 特許庁

A microscope apparatus includes: an observation optical system 70 for magnifying and observing the specimen; and an illuminating device 80 for emitting spot light serving as an index when the specimen is positioned within the field of view of the observing optical system 70 or for emitting illuminating light for illuminating the inside of the field of view of the observation optical system 70.例文帳に追加

顕微鏡装置は、試料を拡大観察する観察光学系７０と、試料を観察光学系７０の視野内に位置させる際の指標となるスポット光、または観察光学系７０の視野内を照明するための照明光を照射する照明装置８０と、を備える。 - 特許庁

In addition, the turning handle 71 for X direction operation, the turning handle 72 for Y direction operation and the rough-fine adjustment changeover switch 73 constitute a stage handle unit 70 and the stage handle unit 70 is allowed to be attachable and detachable with respect to either of the left and right side surfaces of the microscope main body or the stage 140.例文帳に追加

また、Ｘ方向操作回転ハンドル７１、Ｙ方向操作回転ハンドル７２及び粗微動切換スイッチ７３をステージハンドルユニット７０として構成し、このステージハンドルユニット７０を顕微鏡本体又はステージ１４０の左右いずれの側面に対しても着脱できるようにした。 - 特許庁

Fluorescence generated from the sample is transmitted through the dichroic mirror 8 through the microscope 4, passes through an analyzer (polarizer) 12 set in the same polarization direction as the polarizing plate 10, and then is guided to a streak scope 16 through a cut-off filter 14 for removing excitation light components.例文帳に追加

試料から発生した蛍光は、顕微鏡４を通ってダイクロイックミラー８を透過し、偏光板１０と同一の偏光方向に設定された検光子（偏光子）１２を通過した後、励起光成分を除去するカットオフフィルタ１４を経てストリークスコープ１６に導かれて検出される。 - 特許庁

By adjusting the image of the face 22 so as not to produce the fringe, the face 22 becomes precisely vertical with respect to a light axis 15 of the microscope 40, and an axis of the coated fiber 10 have been adjusted precisely in parallel with the optical axis 45.例文帳に追加

光反射面２２の画像において干渉縞が生じないように調整できれば、光反射面２２が干渉顕微鏡４０の光軸４５に対して精密に直角になり、光ファイバ心線１０の軸が光軸４５に精密に平行になるよう調整できたことになる。 - 特許庁

The supporting stand which is used in a operation room 4 installed with the MRI where an electric shield is applied on a wall face of the operating room installed with the MRI and the power source 8 of the supporting stand which supports a microscope is located outside the operating room 4.例文帳に追加

ＭＲＩを設置した手術室４内で使用され、顕微鏡１を支持するＭＲＩ用の支持スタンド２であって、ＭＲＩを設置した手術室の壁面に電気シールドを施し、顕微鏡を支持する支持スタンドの電源８を手術室４の外部に配することを特徴とする。 - 特許庁

This invention relates to the device for optically coupling the light (1) of at least one wavelength of the laser beam source (2) to the optical assembly (3), more specifically the confocal scanning microscope, having an optically active element (4) acting to select the wavelength and to set the power of the coupling light (5).例文帳に追加

本発明は、レーザ光源（２）の少なくとも１つの波長の光（１）を、具体的には波長を選択し、結合光（５）のパワーを設定するために作用する光学活性素子（４）を有する光学組立物（３）、好ましくは共焦点走査型顕微鏡に結合するための装置に関する。 - 特許庁

To provide a method for immediately finding out a focal position from one obtained image without searching an optimum position by obtaining an image while slightly mechanically moving a sample or an optical member when a focal surface is obtained by using an optical microscope.例文帳に追加

本発明の課題は、光学顕微鏡を用いて焦点面を求める際にわずかずつ試料若しくは光学部材の機械的移動を行いながら画像を取得して最適な位置を探索することなく、得られた１画像から即座に合焦位置を割り出すことが出来る手法を提示することにある。 - 特許庁

A high speed video camera 9 enlarges, with a microscope lens 8, the state where the photosensitive layer of the photosensitive colored resin sheet 14 is adhered to the adhering face 12a of the glass substrate 12 and images the state when the thermo-compression roller 5 passes through the downside of an opening 3c of a holding base plate 3.例文帳に追加

ハイスピードビデオカメラ９は、熱圧着ローラ５が保持基板３の開口３ｃの下方を通過する際に、感光性着色樹脂シート１４の感光層がガラス基板１２の貼着面１２ａに貼着される状態を顕微鏡レンズ８で拡大して撮像する。 - 特許庁

To provide a microscopic stage with which the entire part of a culture vessel can be warmed at all times in spite of moving of the culture vessel in a two-dimensional direction and further, even a high-powered microscope can come close to observation objects, such as cells, before an objective lens and condenser lens focus at them.例文帳に追加

培養容器を二次元方向へ移動しても培養容器全体を常に加温することができて、更に高倍率の顕微鏡でも対物レンズ及びコンデンサの焦点が合うまで細胞等の観察対象に接近することができる顕微鏡ステージを提供する。 - 特許庁

In this positioning device for circulating nozzle 1 for retaining a circulating nozzle N for injecting a liquid to a vessel (Petri dish or the like) or discharging the liquid from the vessel, a nozzle retaining member 3 for retaining the circulating nozzle N is provided on a base part 2 fixable on a prescribed reference plane (the stage of a microscope).例文帳に追加

容器（シャーレ等）に液体を注入し、又は容器から液体を排出する還流ノズルＮを保持する還流ノズル位置決め装置１であって、所定の基準面（顕微鏡のステージ）に定置可能なベース部２上に、還流ノズルＮを保持するノズル保持部材３を設ける。 - 特許庁

The stereoscopic microscope 10 is used for observation of a sample 11, and many holes 15 piercing a stage 12 in a prescribed direction are formed in the stage 12 on which the sample 11 is placed, and the stage 12 is provided with a porous member 14 made of a material which is opaque and has a low reflectivity.例文帳に追加

標本１１の観察に用いられる実体顕微鏡１０であって、標本１１を載置する載物台１２に、所定方向に貫通する多数の孔１５，１５，…が形成され、かつ、不透明で反射率が小さい物質からなる多孔質部材１４を設ける。 - 特許庁

This microscope device for surgery is provided with a visual field inside indicating controller 29 inputting an observation condition to an eyepiece part 8 for an operator and first and second rotation computing circuits 30, 31 changing the observation condition of an eyepiece part 9 for an assistant according to the condition inputted to the eyepiece part 8.例文帳に追加

術者用接眼部８に観察条件を入力する視野内表示コントローラー２９と、その条件に応じて助手用接眼部９の観察状態を変更する第１の回転演算処理回路３０および第２の回転演算処理回路３１とを設けたものである。 - 特許庁

The backcoat layer has an average surface roughness ranging from 15 to 25 nm, as measured by an atomic force microscope, and a density of protrusions equal to or greater than 50 nm in height ranges from 1 to 50 pieces/mm^2 on the backcoat layer surface, as measured by a three-dimensional surface roughness meter with a contact needle.例文帳に追加

原子間力顕微鏡で測定したバックコート層表面の平均表面粗さは１５〜２５ｎｍの範囲であり、かつ触針式三次元表面粗さ計により測定したバックコート層表面の高さ５０ｎｍ以上の突起密度は１〜５０個／ｍｍ^2の範囲である。 - 特許庁

To perform wave front correction for preventing an obtained image from becoming unclear by phase fluctuation such as the fluctuation of a medium in an optical path in video equipment such as a microscope, a telescope and a camera in real time by an optical write type liquid crystal space phase modulation element.例文帳に追加

顕微鏡、望遠鏡、カメラ等の映像機器において、光路中の媒質のゆらぎ等の位相変動により、得られた像が不鮮明となることを防止する波面補正において、光書き込み型液晶空間位相変調素子により実時間で行うようにする。 - 特許庁

To provide a technique for obtaining accurate energy spectral for obtaining a sharp electron image by suppressing the charging or potential strain on the surface of an insulator sample, caused when the insulator sample is observed in the field of an photoemission electron microscopic technique, and to provide a photoemission electron microscope that applies this technique.例文帳に追加

放射電子顕微鏡技術の分野において、絶縁物試料を観察した際に生じる試料表面の帯電や電位歪みを抑制し、鮮明な電子像を得て正確なエネルギースペクトルを得るための手法と、それを応用した放射電子顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of rapidly performing measurement of high precision by causing no fine change of potential in the surface fine region of a sample by properly holding the potential difference between the surface of the sample and a probe when the sample due to the probe is measured in an inspection process.例文帳に追加

検査工程での探針による試料測定時に試料の表面と探針との間の電位差を適切に保ち、試料表面の微細領域での微細な電位変化を生じさせず、迅速にかつ高い精度の測定を行うことができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The carbon fiber material has 0.83-0.94 ratio A1/A2 of the measured value A1 of π*/σ* on the outermost surface and the maximum value A2 in a single fiber obtained by measurement of the cross section of the single fiber according to an electron energy loss spectroscopy using a field emission type electron microscope.例文帳に追加

本発明の炭素繊維材料の単繊維断面を電界放出型電子顕微鏡を用いて、電子エネルギー損失分光法で測定して得られるπ＊／σ＊の最表面測定値Ａ１と単繊維内部最高値Ａ２との比Ａ１／Ａ２が０．８３〜０．９４である。 - 特許庁

In a microscope in which an optical system is internally mounted on a shaft and which is provided with a wedge-shaped prism at its tip, two light sources are arranged downward at the upper end face of the prism, and its lower part is cut obliquely so as to form a mirror surface.例文帳に追加

この発明は、軸部に光学系を内装し、先端部に楔状プリズムを備えたスコープにおいて、前記楔状プリズムの上端面に、２つの光源を下向きに配置すると共に、下部を斜切してミラー面を形成したことを特徴とするマイクロスコープにより目的を達成した。 - 特許庁

A process waste 5, produced in mechanical processing with an atomic force microscope probe 3, is irradiated with a gas cluster ion beam 1, having energy that will not damage a normal pattern 6 or a glass substrate 7, but which can remove the process waste 5 which is weakly depositing thereon, so as to remove the waste by sputtering effects.例文帳に追加

原子間力顕微鏡探針３による機械加工で発生した加工屑５を正常パターン６やガラス基板７にはダメージを与えないが弱く付着した加工屑５は除去できるようなエネルギーを持ったガスクラスターイオンビーム１を照射してスパッタ効果で除去する。 - 特許庁

To provide an objective lens which is constituted, by incorporating respective elements, such as a polarizer, in advance and a quarter-wave plate necessary for extremely low magnification observation, thereby becoming capable of switching observation, from a very low magnification to a high magnification only by revolving operation of a revolver, and to provide a microscope device which includes the lens.例文帳に追加

極低倍の観察に必要な偏光子や１／４波長板などの各素子を予め組み込んで構成することで、レボルバの回転作業のみで、極低倍から高倍までの観察を切り替えることが可能な対物レンズ及びこれを有する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

A measuring mode is set to a tapping mode, when observing the semi-solid substance in the semi-solid state with the solid substance existing by an atomic force microscope, and a shape and a state of the solid substance existing in the semi-solid substance are evaluated based on phase information obtained by the tapping mode.例文帳に追加

固体物質が存在する半固体状態のままの半固体状物質を原子間力顕微鏡にて観察する場合、測定モードをタッピングモードに設定し、半固体状物質中に存在する固体物質の形状および状態をタッピングモードにより得られる位相情報で評価する。 - 特許庁

In this scanning electron microscope, the acceleration voltage of an electron beam EB irradiated on a sample 2 is set to 4 kV, and a voltage of -3 kV is applied to the sample 2 from a power source 11, so that the electron beam EB is decelerated immediately in front of the sample and is irradiated on the sample 2 with an energy of 1 kV.例文帳に追加

試料２に照射される電子ビームＥＢの加速電圧は、４ｋＶとされており、試料２には電源１１より−３ｋＶの電圧が印加されていることから、電子ビームＥＢは試料の直前で減速され、１ｋＶのエネルギーで試料２に照射される。 - 特許庁

The method for evaluating the fatigue of a solder junction containing Sn as a main component includes the steps of enlarging a cut section of the junction by an electron microscope, measuring a phase size (d) of an Sn phase 20 and an Ag_3Sn phase 22, and biquadrating the measured value (d) to a phase growth evaluating parameter S.例文帳に追加

Ｓｎを主成分とするはんだの接合部の疲労評価方法において、はんだ接合部の切断面を電子顕微鏡により拡大して、Ｓｎ相２０やＡｇ_３Ｓｎ相２２の相寸法ｄを測定し、この測定値ｄを４乗して相成長評価パラメータＳとする。 - 特許庁

The optical element prepared from the optical ceramic is particularly suitable for use as a lens system in combination with lenses of glass, but also with other ceramic lens, in particular also in the field of digital cameras, mobile phone cameras, microscope, microlithography, optical data storage or other applications in the field of consumer or industry applications.例文帳に追加

光学セラミックから成る光学素子は、特にデジタルカメラ、携帯電話用カメラ、顕微鏡、マイクロリソグラフィー、光データ記憶、あるいはコンシューマあるいは産業分野における他用途において、ガラスレンズ、あるいは他のセラミックレンズと組み合わせたレンズ系として利用可能である。 - 特許庁

When the surface form of the substrate 21 is measured in the measurement range of four quarters whose one side is 5μm by using an atomic force microscope, the number of ridges of textures which are observed at a position higher than the average line of measured roughness curve by 1.5nm is 200 or less.例文帳に追加

同情報記録媒体用ガラス基板２１の表面形状を、原子間力顕微鏡を使用し、１辺が５μｍ四方の測定範囲内で測定したとき、測定された粗さ曲線の平均線よりも１．５ｎｍ高い位置で観測されるテクスチャーの尾根の数は２００個以下である。 - 特許庁

To make the displacing amount of a finely moving element which minutely changes the height position of a probe with respect to a sample controllable to a desired amount when the probe is brought nearer to the surface of the sample and stopped in a measurable state at the time of measuring the surface of the sample under a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡で試料の表面を測定する場合において試料表面に探針を接近させ測定可能状態で停止するとき、試料に対する探針の高さ位置を微小に変える微動要素の変位量を所望量に制御できるようにする - 特許庁

This confocal microscope has amplification means (32, 33) for amplifying a frame image signal with a high gain and a low gain alternately, and means (36, 37, 38, 39) for forming respectively the whole focal image from a series of high-gain amplification images and low-gain amplification images.例文帳に追加

本発明による共焦点顕微鏡は、フレーム画像信号を高ゲイン及び低ゲインで交互に増幅する増幅手段（３２，３３）と、一連の高ゲイン増幅画像及び低ゲイン増幅画像から全焦点画像をそれぞれ形成する手段（３６，３７，３８，３９）を有する。 - 特許庁

The electron microscope is provided with a maintenance mode consisting of a plurality of steps including an adjustment item setting step capable of setting adjustment items by selecting from a plurality of items to be adjusted necessary at the time of maintenance and inducing works necessary for adjustment for each step.例文帳に追加

電子顕微鏡は、メンテナンス時に必要な複数の調整項目から調整する調整項目を選択して設定可能な調整項目設定ステップを含む複数のステップからなり、各ステップ毎に調整に必要な作業を行うよう誘導するメンテナンスモードを備える。 - 特許庁

The confocal optical microscope 100 also has a caged-state release optical system for irradiating the sample with light for releasing the caged compound, and the system is constituted of the objective lens 107, a light source 131 for caged-state release, a dichroic mirror 132 and a shutter 133.例文帳に追加

共焦点光学顕微鏡１００は更にＣａｇｅｄ化合物を解除する光を試料に照射するＣａｇｅｄ解除光学系を有し、それは、対物レンズ１０７と共に、Ｃａｇｅｄ解除用光源１３１とダイクロイックミラー１３２とシャッター１３３とから構成される。 - 特許庁

On measuring length of the resist film having the above pattern formed thereon by using a CD-SEM (critical dimension scanning electron microscope), first an objective chip region 11a for length measurement is designated among a plurality of chip regions, and the position of the length measurement pattern 13a placed in the left side is identified.例文帳に追加

このようなパターンの形成が行われたレジスト膜に対して、ＣＤ−ＳＥＭを用いて測長を行う場合には、複数のチップ領域のうちから測長対象チップ領域１１ａを指定した後、その左方に位置する測長パターン１３ａの位置を特定する。 - 特許庁

In second process step, the barrel part 23 with the built-in aberration correcting lens is attached to the microscope barrel part 24, thereafter, the optical element module lens part 27 is moved by a centering mechanism part 58 so as to make alignment between the center of the light-receiving/emitting part 28 and the center of the lens 29 with the aberration.例文帳に追加

第二工程では、収差補正用レンズ内蔵筒体部２３を顕微鏡筒体部２４に取り付け、この後に、調心機構部５８を用いて光素子モジュールレンズ部２７を移動させつつ受発光部２８の中心と収差を持たせたレンズ２９の中心との位置合わせを行う。 - 特許庁

(2) Alternatively, the composite yarn comprises the modified cross-section regenerated cellulose fibers having 1.1-10 degree of modified cross section of the fibers, 10-50 nm fiber surface roughness parameter Ra measured under the atomic force microscope and containing 0.2-5 wt.% of a fine powder having 0.05-10 μm 50% average particle diameter.例文帳に追加

(2) 繊維の異型度が１．１〜１０で、原子間力顕微鏡で測定した繊維表面粗度パラメーターＲａが１０〜５０ｎｍであり、５０％平均粒径が０．０５〜１０μｍである微粉末を０．２〜５重量％含む異型断面再生セルロース繊維を含有する複合糸。 - 特許庁

In the confocal microscope 1 adopting a close pupil system where pupils are placed in the vicinities of two scanner mirrors for scanning of a sample 22, the luminance unevenness correction value of each of pixels constituting an acquired picture is preliminarily obtained and stored in a ROM 28, and a CPU 27 corrects the acquired picture in accordance with luminance unevenness correction values.例文帳に追加

試料２２を走査する２つのスキャナミラーの近傍に瞳が位置する近接瞳方式をいたコンフォーカル顕微鏡１において、予め取得画像を構成する各ピクセルの輝度ムラ補正値を求めてROM２８に記憶させ、CPU２７が輝度ムラ補正値に従って、取得した画像に補正をかける。 - 特許庁

The microscope has a columnar prop 2 fixed to a pedestal 1, a focusing part moving mechanism 3 which can move along the prop 2, a lens barrel moving mechanism 10, a focusing part 5 provided on the focusing part moving mechanism 3, and an objective 9 screwed and fixed in the focusing part 5.例文帳に追加

顕微鏡は、架台１に固定された円柱形状の支柱２と、支柱２に沿って移動可能な焦準部移動機構３と、鏡筒移動機構１０と、焦準部移動機構３に設けられた焦準部５と、焦準部５にねじ込み固定された対物レンズ９とを有している。 - 特許庁

This cantilever for a scan type probe microscope is constructed of a monocrystal silicone supporting part 101, a stress-reduced silicone nitride lever part 102 extending from the supporting part 102, and a probe part 103 arranged in the vicinity of the free end of the lever part, while the supporting part and the lever part are connected together via a Si-B-O glass layer.例文帳に追加

単結晶シリコン製支持部101 と、該支持部より延びた低応力化した窒化シリコン製レバー部102 と、該レバー部の自由端近傍に設けた探針部103とを有し、支持部とレバー部とはSi-B-Oガラス層を介して接合して走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーを構成する。 - 特許庁

The microscope unit 100 has, in its housing 101: an observing optical system 300 for observing a specimen; a support/drive system 400 supporting the specimen and the observing optical system and electrically driven; and a temperature adjustment device 500 keeping the inside of the unit at a specified temperature.例文帳に追加

顕微鏡ユニット１００は、試料を観察する観察光学系３００と、試料および観察光学系を支持すると共に、電動駆動する支持・駆動系４００と、当該ユニット内部を、指示された温度に維持する温度調整装置５００とを、筐体内１０１に有する。 - 特許庁

A microscope body 8 is vertically moved by activating a vertical direction moving unit 7A in order to respectively observe the anterior segment and eyeground segment of the eye E to be examined and the observation focus position of at least either of the focus position of the anterior segment and the focus position of the eyeground segment is stored in a memory 61.例文帳に追加

被検眼Ｅの前眼部や眼底部をそれぞれ観察するために、上下方向移動ユニット７Ａを動作させて顕微鏡本体８を上下方向に移動させ、前眼部フォーカス位置および眼底部フォーカス位置の少なくとも一方の観察フォーカス位置をメモリ６１に記憶する。 - 特許庁

A inspecting pattern, which is etched through the intermediary of the checking resist patterns 31a and 31b, is observed visually through an optical microscope, it is determined whether or not space between the checking patterns is within an proper range, and it is inspected as to whether the wiring pattern 20 of a product is properly etched.例文帳に追加

検査用レジストパターン３１ａ，３１ｂを介してエッチングされる検査パターンを光学顕微鏡を通して目視し、この検査パターン間の間隔が所定の適正範囲内になっているか否かを判定することにより、製品の配線パターン２０が適正にエッチングされているか否かを検査する。 - 特許庁