「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(169ページ目) - Weblio英語例文検索

The alignment mark of the mask and the alignment mark of the panel to be attached are detected while being shifted timewise without moving the position of an alignment microscope in the XYθ directions and, as the result, the mask and the panel are relatively moved such that the detected both alignment marks comes to a prescribed positional relation.例文帳に追加

マスクのアライメントマークと貼り合せを行なうパネルのアライメントマークとを、アライメント顕微鏡の位置をＸＹθ方向には移動させないで時間的にずらして検出し、検出した両アライメントマークが所定の位置関係になるように、マスクとパネルとを相対的に移動させる。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope apparatus, a sample holder, a sample stage and a method for acquiring a spectral image, capable of acquiring the spectral image from a plurality of pieces of samples simultaneously, and measuring a chemical shift of high precision from an electron energy loss spectrum extracted from the spectral image.例文帳に追加

複数個の試料から同時にスペクトル像を取得し、スペクトル像より抽出された電子エネルギー損失スペクトルから、高精度のケミカルシフトを測定することが可能な透過型電子顕微鏡装置，試料ホルダ，試料台及びスペクトル像の取得方法を提供する。 - 特許庁

In a hardness tester 1 which measure the hardness of a sample S by pushing an indenter 11 against the sample S and is provided with an optical system which can observe the recess, a probe microscope 17 which can scan the surface of the recess with a probe 18 is provided.例文帳に追加

試料Ｓに圧子１１を押し付けることによって形成されるくぼみから硬さを測定し、前記くぼみを観察可能な光学システムを備える硬さ試験機１において、前記くぼみの表面をプローブ１８によって走査可能であるプローブ顕微鏡１７を備えている。 - 特許庁

This scanning probe microscope is characterized by having the electrically independent plural probes 10a, 10b or the like, among which two or more probes 10a, 10b or the like are nanotube probes and one or more probes 10a, 10b or the like are equipped with image observation function.例文帳に追加

電気的に独立した複数のプローブ１０ａ，１０ｂ等を有し、プローブ１０ａ，１０ｂ等のうち、２本以上のプローブ１０ａ，１０ｂ等がナノチューブプローブであり、かつ、１本以上のプローブ１０ａ，１０ｂ等が像観察機能を備えることを特徴とする走査型プローブ顕微鏡である。 - 特許庁

The focus stabilization mechanism of the microscope, etc., comprises, constituting the optical machine consisting of optical system sections fabricated to a type symmetrical with the optical axis in both of weights and shapes and peripheral sections having a sample positioning mechanism, by combining respective components which has nearly zero for the dependence on temperature.例文帳に追加

光軸に重量、形状とも対象型につくられた光学系部と試料位置決め機構を有す周辺部とからなる光学機械において、それぞれのコンポーネントを温度依存性がゼロに近いものを組み合わせて構成したことを特徴とする顕微鏡等のフォーカス安定性機構。 - 特許庁

The semiconductive belt includes an elastic layer made of a semiconductive rubber and a surface layer, wherein the surface layer is composed of a resin layer, containing a polytetrafluoroethylene resin fine powder, and a hardness-corresponding peak voltage value of the surface layer measured by an SPM (scanning probe microscope) method is ≤-6.35 V.例文帳に追加

半導電性ゴムからなる弾性層と表面層からなり，表面層はポリ四フッ化エチレン樹脂微粉末を含有する樹脂層からなり，表面層のＳＰＭ法（走査型プローブ顕微鏡）で測定した硬度対応ピーク電圧値が−６．３５Ｖ以下である半導電性ベルトとする。 - 特許庁

The slope adjusting device 1 of the objective lens servo-controls the position of the objective lens 5 by using a focusing actuator 41 and a tracking actuator 42 provided in an optical pickup 4, and thereby prevents the shifting of a beam spot out of the visual field of the microscope during the slope adjustment of the objective lens 5.例文帳に追加

対物レンズの傾角調整装置１は、光ピックアップ装置４に備わっているフォーカシングアクチュエータ４１およびトラッキングアクチュエータ４２を利用して対物レンズ５の位置をサーボ制御し、これにより、対物レンズ５の傾角調整時にビームスポットが顕微鏡視野内から外れることを防止している。 - 特許庁

In this case, if the cursor is located within a predetermined distance from the GUI component, the computer 2 displays information about the operation target of the microscope system 1 associated with the GUI component in advance, onto the monitor 4 regardless of the acquisition of the input for instructing to execute the operation.例文帳に追加

ここで、コンピュータ２は、カーソルが該ＧＵＩ部品から所定の距離以内に位置したときには、ＧＵＩ部品に予め関連付けられている顕微鏡システム１の操作対象に関する情報を、実行指示の入力の取得とは無関係に、モニタ４に表示させる。 - 特許庁

In an atomic force microscope wherein an optical lever system is adopted, a light emitting element 8 is provided on the back side of a cantilever 5, and a light receiving device 9 is directly irradiated with light from the light emitting element 8, to thereby suppress decline of light receiving sensitivity of the light receiving device 9 caused by reflection of unintended light.例文帳に追加

光てこ方式を採用した原子間力顕微鏡において、発光素子８をカンチレバー５の背面側に設け、発光素子８から直接受光装置９に光を照射することで、意図しない光の反射による受光装置９の受光感度の低下を抑制する。 - 特許庁

When an operator instructs a point near the inclined axis of the inclined axis pattern by an input device 23, the display control device 22 sets a focusing position on the inclined axis J, which is closest in distance from the instructed point and informs the electron microscope body control part 30 of focusing position information.例文帳に追加

入力装置２３によりオペレータが傾斜軸パターンの傾斜軸近傍の点を指示すると、表示制御装置２２は指示点から距離が最も近い傾斜軸Ｊ上に焦点合わせ位置を設定し、その焦点合わせ位置の情報を電子顕微鏡本体制御部３０に通知する。 - 特許庁

A second image acquisition control part 63 acquires an image in which only a pixel with the highest luminance is selected among images obtained in respective focal positions of the confocal microscope with light of a light quantity shown by the second light quantity setting data, and records the image in the memory 66.例文帳に追加

続いて、第２の画像取得制御部６３は、第２の光量設定データで表される光量の光により、共焦点顕微鏡の各焦点位置で得られた各画像の中で輝度が最も高い画素のみが選択された画像を取得し、その画像をメモリ６６に記録する。 - 特許庁

To provide a focus detector which can be downsized and simplified, is excellent in productivity and is capable of detecting a focus with good accuracy and high reliability even if objective lenses of any magnifications are used as well as an objective lens, optical microscope or optical test apparatus having the same.例文帳に追加

小型化、簡易化でき、生産性に優れ、かつ、異なる倍率の対物レンズを用いても、精度よく信頼性の高い焦点検出を行なうことができる焦点検出装置、及びそれを備えた対物レンズ、光学顕微鏡又は光学検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for detecting the concrete physical quantity of an observed object such as the inclination of the observed object, the minute planer part, the edge part, the level difference and the phase variation, etc., in a short time from the differential interference image of the observed object obtained through a differential interference microscope.例文帳に追加

観察物体の勾配，微小平面部，エッジ部，段差，位相変化量等の具体的な物理量を微分干渉顕微鏡によって得られる観察物体の微分干渉画像から短時間で検出するための装置とこれを用いた検出方法を提供する。 - 特許庁

As a result, the operator of the scanning electron microscope can find out the occurrence of the abnormality of the device by the mail of the PC1, while the service center for the device can immediately find out the occurrence of the abnormality of the device, the type of the abnormality, the occurrence time of the abnormality and the like by the mail of the PC2.例文帳に追加

この結果、走査電子顕微鏡のオペレータは、ＰＣ１のメールによって装置の異常の発生を知ることができ、一方、装置のサービスサイトでは、ＰＣ２のメールによって装置の異常の発生、その異常の種類、異常の発生時刻等をただちに知ることができる。 - 特許庁

Succeedingly, illumination light from the selected light source among the light sources 62A-62C transmits through the filters 72 combined by the filter changeover means 70A and 70B and an illumination light inputted to a light source changeover means 68 is outputted to the microscope through an optical fiber 56.例文帳に追加

続いて、選択された光源６２Ａ〜６２Ｃからの照明光は、固定円板６６を介して、フィルタ切換え手段７０Ａ、７０Ｂにより組合わせたフィルタ７２を透過することにより、光源切換え手段６８に入力した照明光は、光ファイバ５６を介して顕微鏡に出力される。 - 特許庁

In an image selecting device, a controller 9 examines a pattern of vibration which is generated in a substrate 1 based on an image of a subject photographed by an imaging portion 3 by a microscope 2 or an output of a vibration sensor 10, and derives an imaging time T and an imaging interval dt based on the pattern.例文帳に追加

制御部９は、顕微鏡部２を介して撮像部３が撮像した被写体の画像または振動センサ１０の出力に基づいて、基板１に生じる振動のパターンを調べ、そのパターンに基づいて撮像時間Ｔと撮像間隔ｄｔを導出する。 - 特許庁

To provide a method and a device for adjusting automatic axis of an electron lens of a scanning electron microscope capable of automatically adjusting an axis of the electron lens in high precision.例文帳に追加

本発明は走査型電子顕微鏡における電子レンズの自動軸調整方法及び装置に関し、電子レンズの軸調整を高精度で高速に自動で行なうことができる電子顕微鏡における電子レンズの自動軸調整方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide an illumination apparatus for a microscope capable of irradiating a specimen with light beams of a plurality of wavelengths simultaneously with the same irradiation intensity distribution and independently setting the wavelength and the intensity of each light beam, and to provide an image processing apparatus using the same.例文帳に追加

標本に複数の波長の光を同時にかつ同一の照射強度分布で照射することができ、夫々の光の波長や強度を独立して設定することができる顕微鏡の照明装置及びその照明装置を用いた画像処理装置を提供する。 - 特許庁

As to this array for irradiation by using several wavelengths inside a microscope, in a parallel optical path inside an irradiating and image forming lens system EO, a compensating a lens system for producing the wavelengths while adjusting the wavelengths to be accurately superposed inside a sample area P is arranged.例文帳に追加

顕微鏡内で数個の波長を用いて照射するための配列であって、照射・結像レンズ系EOの内部にある平行光路内で、諸波長を試料領域P内に正確に重ね合わせることを調整しながら作り出すための補正レンズ系が配備されている配列 - 特許庁

To provide a surface plasmon fluorescence microscope for visual confirmation with strong fluorescent intensity by configurating a light receiving member to receive the fluorescence enhanced by surface plasmon, and to provide a method of measuring the fluorescence excited by the surface plasmon.例文帳に追加

本発明は、表面プラズモンにより増強された蛍光を受光するように受光部品を構成することにより、強い蛍光強度で視認できる表面プラズモン蛍光顕微鏡、および表面プラズモンにより励起された蛍光を測定する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The molecule manipulator includes photoreactive molecules including a double bond and changes a cis-trans arrangement of the double bond in reaction by the irradiation by the light of the selected wavelength, and a probe with the photoreactive molecules fitted thereto, for example, a probe of a scanning proximity probe microscope.例文帳に追加

分子マニピュレータは、二重結合を含み、選択した波長の光による照射に反応してその二重結合のシス−トランス配置を変更する光反応分子と、その光反応分子が取り付けられるプローブ、たとえば、走査近接プローブ顕微鏡のプローブとを含む。 - 特許庁

The imaging apparatus for the microscope having an interlace system CCD has a mechanical shutter 804, and performs exposure by controlling the operation of the shutter 804 and a shutter in the CCD 801 being an electronic shutter in accordance with a photographing condition.例文帳に追加

インターレース方式のＣＣＤを有する顕微鏡用撮像装置であって、メカシャッター８０４を有し、撮影条件に応じて、メカシャッター８０４と電子シャッターであるＣＣＤ８０１の素子内シャッターの動作を制御して露光を行うようにした顕微鏡用撮像装置である。 - 特許庁

To provide a laser microscope capable of selectively performing detection of Raman scattering light and observation of Coherent Antistokes Raman Scattering (CARS) light without moving an observation sample and capable of effectively selecting a vibration frequency for CARS light observation without needing complicated work.例文帳に追加

観察対象の標本を動かすことなく、ラマン散乱光検出およびＣＡＲＳ光観察を選択的に行うことができ、煩雑な作業を要することなく、ＣＡＲＳ光観察のための振動周波数を効率的に選択できるレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

when chromosomes at a particular stage in cell division are stained using one of several laboratory techniques, a specific pattern of light and dark stripes (bands) appears when the chromosomes are viewed through a microscope; the banding pattern assists in assigning each chromosome its particular number and evaluating its structure. 例文帳に追加

いくつかの検査技法のひとつを用いて細胞分裂の特定の段階にある染色体を染色すると、顕微鏡下で観察した染色体上に明暗の縞模様（バンド）が出現する；このバンドのパターンは各染色体の同定と構造の評価に有用な情報となる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

To provide: a method for highly precisely estimating a detection value of emitted electrons obtained by actual observation; a method for highly precisely simulating an SEM image obtained by actual observation; and a scanning electron microscope having an electronic optical system or the like set therein, so that a dummy SEM image is actually obtained.例文帳に追加

走査電子顕微鏡において、実観察で得られる放出電子の検出値を高精度に推定する方法、実観察で得られるＳＥＭ像を高精度にシミュレーションする方法と模擬ＳＥＭ像が実際に得られるように電子光学系等が設定される装置を提供する。 - 特許庁

The container has sufficient resistance to a high temperature and change of the temperature during nucleic acid amplification reaction by integrally molding the side wall part 2 and the bottom wall part 3 with the resin while the inside thereof can be observed by an optical microscope through the flat plate shaped bottom wall part 3.例文帳に追加

平板状の底壁部３を介して光学顕微鏡によって内部を観察可能でありながら、側壁部２と底壁部３とが樹脂から一体成形されていることにより核酸増幅反応時の高温や温度変化にも十分に耐性を有している。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for identifying and inspecting a simple easy phase object image, whereby a wide, deep measurement visual field is provided and a phase difference interference image is sharply obtained in the place of conventional phase difference microscope used for observing a phase object such as a biological cell.例文帳に追加

生体細胞のような位相物体の観察に用いられてきた従来の位相差顕微鏡に代わって、広くて深い測定視界を持ち、位相差の干渉画像が鮮明に得られる、単純で簡便な位相物体画像の識別、検査の方法と装置を提供する。 - 特許庁

A measuring implement 3 having a position indicator 32 is installed so that it can rotate integrally with the test object 5, and enlarged images of the position indicator 32 formed by a microscope 1 at a plurality of points of time in a process of rotation of the test object 5 are picked up respectively by an image capturing camera 17.例文帳に追加

位置指標３２を有する測定用治具３を被検体５と一体的に回転し得るように設置し、被検体５が回転する過程の複数の時点において、顕微鏡１により形成される位置指標３２の拡大像を撮像カメラ１７によりそれぞれ撮像する。 - 特許庁

In a pulse exciting type ultrasonic microscope 2, a transducer 13 is provided to a Z-axis stage 15 and the interval between a glass substrate 20, and the transducer 13 is adjusted by moving the Z-axis stage 15 so as to match the focal distance of the transducer 13.例文帳に追加

パルス励起型超音波顕微鏡２において、Ｚ軸ステージ１５にトランスデューサ１３が設けられており、そのＺ軸ステージ１５を移動させることにより、ガラス基板２０とトランスデューサ１３との間隔がトランスデューサ１３の焦点距離と一致するよう調整される。 - 特許庁

To provide a liquid immersion apochromatic microscope objective lens which can maintain the flatness of an image plane over the entire part of a visual field and is to be well corrected in various aberrations while maintaining a magnification of about 60 times and a large NA of 1.4 without forming a lens group of the extreme image side to a Gauss type.例文帳に追加

最も像側のレンズ群をガウスタイプにすることなく、倍率が６０倍程度で１．４という高ＮＡを維持しつつ、視野全体にわたって像面の平坦性を維持でき、かつ諸収差が良好に補正される液浸系アポクロマート顕微鏡対物レンズを提供すること。 - 特許庁

To provide a liquid immersion microscope in which an observation state is given without using the movement of a substrate and the spread of liquid into unnecessary portion (portion where the collection of liquid thereafter is impossible) around an observation point is prevented regardless of the state of the surface of the substrate (hydrophilicity/hydrophobicity).例文帳に追加

基板の移動を利用せずに観察状態を実現することができ、基板の表面の状態（親水性／撥水性）に拘わらず、観察点の周囲の不要な箇所（後から回収できない箇所）への液体の広がりを防止できる液浸顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a slice sample preparation method for surely holding a slice sample on a fixing base and a slice sample for this method so as to prevent the sample slice placed on a sample base for a microscope from peeling off from the sample base and being lost during storage, carriage, or operation.例文帳に追加

本発明の課題は、試料台に載置した顕微鏡用の試料切片が、保管したり運搬したり作業中に試料台から剥がれ遺失してしまうことがなく、固定台上に確実に保持される薄片試料を作成する方法と、そのような薄片試料を提供することにある。 - 特許庁

To provide a cylinder piezoeletric element and a scanning probe microscope, with which an error of straightness can be corrected with a simple structure on an expansion and contraction operation in an axial direction, high straightness is realized, measurement precision is improved and a measurement object with a high aspect ratio can securely be measured.例文帳に追加

軸方向の伸縮動作に関して簡単な構成で真直度の誤差を補正することができ、高い真直度を実現し、測定精度を高め、高アスペクト比の測定対象物も確実に測定できる筒型圧電素子および走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The method of evaluating the vapor deposition film measures a phase change by scanning vibratingly a probe of an atomic force microscope on a vapor deposition film surface of an optical member having the vapor deposition film on a base material, and evaluates the vapor deposition film, based on the measured phase change.例文帳に追加

基材上に蒸着膜を有する光学部材の該蒸着膜表面上で、原子間力顕微鏡の探針を振動させながら走査して位相変化を測定し、測定された位相変化に基づいて前記蒸着膜を評価する蒸着膜評価方法。 - 特許庁

A decode processing part 33 converts the physical address into a display address showing the arrangement of the objective lens when viewed from the viewpoint of a user, by using an address conversion table prepared in advance, when the type information shows an upright microscope, and displays the display address on a display part 23.例文帳に追加

デコード処理部３３は、種別情報により示される種別が正立顕微鏡用である場合、予め用意されたアドレス変換テーブルを用いて、物理アドレスを、使用者の視点から見た対物レンズの配置を示す表示アドレスに変換し、表示部２３に表示させる。 - 特許庁

To provide a scanning charged-particle microscope in which distortion of measurement, even of an insulator pattern, in the field of view can be suppressed by suppressing the impact of charging due to primary charged-particle beam irradiation during photographing, and suppressing change in the detection rate of secondary charged-particles.例文帳に追加

絶縁体パターンであっても，撮影中一次荷電粒子線照射起因帯電の影響を抑制し，二次荷電粒子の検出率の変化を抑制することにより視野内の計測歪みを抑制することのできる走査型荷電粒子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an optical trap probe near-field light microscope, capable of obtaining a high S/N ratio in a near-field light detection signal captured stably and detected by an optical trap probe, and to provide a near-field optical detection method.例文帳に追加

本発明は、光トラッププローブを安定的に捕捉でき、かつ検出される近接場光検出信号において高いＳ／Ｎを得ることを可能とする光トラッププローブ近接場光学顕微鏡装置及び近接場光検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide observation equipment which makes it possible to observe a sample tissue of an organism from the part to be checked by a microscope on the spot, while observing a tissue of an organism of the part to be checked of a patient's body by an endoscope and make a pathological diagnosis instantly.例文帳に追加

本発明は、患者の体内の目的部位の生体組織を内視鏡装置で観察しながら、その目的部位の生体組織の標本をその場で顕微鏡観察することができ、迅速な病理診断を行うことができる観察装置を提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

The deflection generating on a cantilever 41 is detected by an inter-atomic force between a probe 44 of the cantilever 41 and the air bearing surface 13 of the thin-film magnetic head Q in the manner of using an atomic force microscope(AFM) 4 provided with the cantilever 41 mounting a magnetic field generating element 45 thereon.例文帳に追加

磁界発生素子４５を取り付けたカンチレバー４１を有する原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）４を用い、カンチレバー４１の探針４４と薄膜磁気ヘッドＱの空気ベアリング面１３の間の原子間力によって、カンチレバー４１に生じる撓みを検知する。 - 特許庁

To provide a configuration to prevent an easy forgery by a means such as the investigation of a hologram pattern using an optical microscope, in a optical recording medium (computer generated hologram(CGH) recording medium) recorded with information by using a CGH.例文帳に追加

計算機生成ホログラム（ＣＧＨ：Ｃｏｍｐｕｔｅｒ Ｇｅｎｅｒａｔｅｄ Ｈｏｌｏｇｒａｍ）を用いて情報を記録した光記録媒体（ＣＧＨ記録媒体）において、光学顕微鏡でホログラムパターンを調べる等の手段によって容易に偽造を行うことを防止する構成を提供する。 - 特許庁

To provide a probe scanning control device, scanning probe microscope by the same, probe scanning control method, and measuring method by the scanning control method, capable of detecting a solid-shaped sample where the angle of inclination changes, with fixed resolution in the direction of the shape of the sample.例文帳に追加

傾斜角の変化する立体形状試料に対して、試料形状方向の分解能を一定として検出できるプローブの走査制御装置、該走査制御装置による走査型プローブ顕微鏡、及びプローブの走査制御方法、該走査制御方法による測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method of measuring crystallographic orientation relationship of adjacent crystal grains using the goniometer of a transmission electron microscope capable of accurately observing the orientation relationship of two crystal grains and characteristics of their grain boundary in real time.例文帳に追加

２つの結晶の方位関係と結晶粒界の特性をリアルタイムで正確に確認できることを特徴とし、透過電子顕微鏡のゴニオメ−タを利用した隣り合う結晶粒の結晶学的方位関係と結晶粒界の特性を測定する測定装置及びその測定方法を提示する。 - 特許庁

To obtain a highly accurate three-dimensional image by using accurate displacement information of an actuator for driving an objective lens, and also to realize a three-dimensional laser microscope system capable of obtaining a stable image by controlling a vibration level based on the acceleration calculated from the displacement information of the actuator.例文帳に追加

対物レンズを駆動するアクチュエータの正確な変位情報を用いて高精度な３次元像を得ると共に、アクチュエータの変位情報から計算した加速度に基づき振動レベルを制御することにより安定した画像を得ることができる３次元レーザ顕微鏡システムを実現する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for measuring a magnetic force of a specimen using a scanning probe microscope, capable of automatically obtaining an optimal applied voltage for cantilever vibration when a lift amount is optionally determined.例文帳に追加

本発明は走査プローブ顕微鏡を用いた試料の磁気力測定方法及び装置に関し、任意のリフト量を設定した際、最適なカンチレバ加振電圧を自動的に求めることができる走査プローブ顕微鏡を用いた試料の磁気力測定方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

In the scanning charged particle microscope designed for semiconductor tests and measurements, the use of an image after image restoration to perform a pattern size measurement, defect detection, and defect classification or the like enables the improvement of the precision of measurement and the rise in the precision of detection and classification of a defect.例文帳に追加

さらに、半導体検査および半導体計測用の走査型荷電粒子顕微鏡において、画像復元後の画像を用いてパターン寸法計測、欠陥検出、欠陥分類等に用いることにより、計測精度向上や欠陥検出、欠陥分類の高精度化を可能とした。 - 特許庁