「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(169ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a low vacuum scanning electron microscope including an evacuation system in which an orifice diameter can be made larger than the conventional one so that a throughput until observation from sample exchange can be improved, and a required amount of a probe current can be obtained when irradiating an electron beam.例文帳に追加

本発明の目的は、試料交換から観察までのスループット向上を図ると共に、電子ビーム照射時には、必要なプローブ電流量が得られるようオリフィス径を従来より拡大することができる排気システムを備えた低真空電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide an objective lens for a microscope constituted only of a single lens not using a doublet, excellent in the performance of aberration correction and effectiveness to eccentric tolerance, having high magnification (≥ about 40) and such numerical aperture as about 0.9 and used in a deep ultraviolet wavelength region.例文帳に追加

接合レンズを用いない単レンズのみの構成で、収差補正の性能と偏心公差への効きが良好な、高倍率（４０倍程度以上）で開口数が０．９程度の、深紫外波長領域で使用することを目的とした顕微鏡用対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide a DLP type slit optical scanning microscope capable of attaining slit light illumination by irradiating a sample with slit light under the control of a DMD, and capable of easily adjusting the position and the extent of the illuminating light on the sample and the thickness (size) of the slit through which the sample is irradiated.例文帳に追加

ＤＭＤの制御の下にスリット光を照射して、スリット光照明を実現し、標本上の照明光の位置及び範囲並びに標本を照射するスリットの厚さ（太さ）を容易に調整することができるＤＬＰ式スリット光走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a biosensor that allows electrical characteristics of a biologically-relevant substance contained in a subject fluid such as an aqueous solution disposed on a sensing film to be detected and the biologically-relevant substance contained in the subject fluid to be observed with an observation instrument such as a microscope with high magnification.例文帳に追加

感応膜に配置された水溶液などの被検査流体に含まれる生体関連物質の電気的特性を検出し、顕微鏡などの観察機器によって、かつ、高倍率によって被検査流体に含まれる生体関連物質を観察するバイオセンサを提供する。 - 特許庁

To provide a microscope optical system capable of improving workability in micromanipulation without the need of the change of magnification performed by the rotation of an objective lens by a revolver by disposing a high magnifying power observation optical system to face oppositely to a low magnifying power observation optical system.例文帳に追加

低倍率の観察光学系と高倍率の観察光学系を対向させて配置することにより、レボルバでの対物レンズの転換による倍率の変換を行う必要がなく、マイクロマニピュレーションでの作業性の向上が図れる顕微鏡光学系を提供する。 - 特許庁

To provide a microscopic image synthesizing device capable of adhering plural images, which are picked up by an image pickup means mounted with a lens for a microscope, without requiring an expensive PC-controlled power stage and forcing a user to perform complicated operation.例文帳に追加

この発明は、高価なＰＣ制御の電動ステージを用いる必要がなく、かつユーザに複雑な操作をしいることなく、顕微鏡用レンズが装着された撮像手段で撮像された複数の画像を貼り合わせることができる顕微鏡画像合成装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of compensating the lowering of light quantity caused in the periphery area of the observed image of a sample, capable of successively and easily changing the light quantity of a light source and capable of changing the wavelength of illuminating light.例文帳に追加

試料の観察像の周辺領域で生じる光量の低下を補うことが可能な共焦点顕微鏡、光源光量を逐次容易に変化させることが可能な共焦点顕微鏡、及び照明光の波長を変化させることが可能な共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Furthermore, in the scanning charged particle microscope for semiconductor test and semiconductor measurement, by using a pattern size measurement, defect detection, and defect classification or the like by using the image after image restoration, measurement precision improvement and high precision of defect detection and defect classification or the like become possible.例文帳に追加

さらに、半導体検査および半導体計測用の走査型荷電粒子顕微鏡において、画像復元後の画像を用いてパターン寸法計測、欠陥検出、欠陥分類等に用いることにより、計測精度向上や欠陥検出、欠陥分類の高精度化を可能とした。 - 特許庁

In the microscope system equipped with a first objective lens 14 and a second objective lens 16 at positions facing each other across a sample 4, the first objective lens 14 is an objective lens transmitting the deep ultraviolet and the second objective lens 16 is configured to collect observation light from the sample 4.例文帳に追加

試料４を挟んで対向する位置に第一対物レンズ１４と第二対物レンズ１６を備える顕微鏡システムにおいて、第一対物レンズ１４は深紫外線を透過する対物レンズであり、第二対物レンズ１６は試料４からの観察光を収集する構成とした。 - 特許庁

A switching lever 29 is turned till the lever 29 abuts on a stopper 31 (32) centering a shaft 28, an LED 33 (34) is selectively positioned on an optical axis 41, so that the picture of a pointer 20 can be projected on an observed picture surface of a microscope in accordance with the light emission color of the LED 33 (34).例文帳に追加

切り換えレバー２９を、軸２８を中心にストッパ３１（３２）に当たるまで回動し、ＬＥＤ３３（３４）を選択的に光軸４１上に位置させことで、ＬＥＤ３３（３４）の発光色に応じたポインター２０の像を顕微鏡の観察像面に投影する。 - 特許庁

While applying a constant voltage of 10 V between a probe 1210 of the scanning probe microscope 1000 and a positive electrode core material PB, surface of the positive electrode mixture layer PA is scanned by means of the probe 1210, and the value of a current flowing between the probe 1210 and the positive electrode core material PB is measured.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１０００の探針１２１０と正極芯材ＰＢとの間に１０Ｖの定電圧を印加しつつ，正極合材層ＰＡの表面に探針１２１０を走査させるとともに，探針１２１０と正極芯材ＰＢとの間に流れる電流値を測定する。 - 特許庁

In the atomic force microscope that separates the light from a light source 21 into S-polarized light and P-polarized light by a lotion prism 28 to measure the relative displacement of the article 1 to be inspected and the cantilever 12, the function for measuring the displacement of the cantilever 12 by using a reference mirror 63 as a measurement standard is provided.例文帳に追加

光源２１からの光をローションプリズム２８によってＳ偏光とＰ偏光に分離して、被検物１とカンチレバー１２との相対変位を計測する原子間力顕微鏡において、参照ミラー６３を計測基準としてカンチレバー変位を計測する機能を設ける。 - 特許庁

A microscope apparatus includes: an observation optical system 70 for magnifying and observing the specimen; and an illuminating device 80 for emitting spot light serving as an index when the specimen is positioned within the field of view of the observing optical system 70 or for emitting illuminating light for illuminating the inside of the field of view of the observation optical system 70.例文帳に追加

顕微鏡装置は、試料を拡大観察する観察光学系７０と、試料を観察光学系７０の視野内に位置させる際の指標となるスポット光、または観察光学系７０の視野内を照明するための照明光を照射する照明装置８０と、を備える。 - 特許庁

In addition, the turning handle 71 for X direction operation, the turning handle 72 for Y direction operation and the rough-fine adjustment changeover switch 73 constitute a stage handle unit 70 and the stage handle unit 70 is allowed to be attachable and detachable with respect to either of the left and right side surfaces of the microscope main body or the stage 140.例文帳に追加

また、Ｘ方向操作回転ハンドル７１、Ｙ方向操作回転ハンドル７２及び粗微動切換スイッチ７３をステージハンドルユニット７０として構成し、このステージハンドルユニット７０を顕微鏡本体又はステージ１４０の左右いずれの側面に対しても着脱できるようにした。 - 特許庁

To provide an illumination apparatus for a microscope capable of irradiating a specimen with light beams of a plurality of wavelengths simultaneously with the same irradiation intensity distribution and independently setting the wavelength and the intensity of each light beam, and to provide an image processing apparatus using the same.例文帳に追加

標本に複数の波長の光を同時にかつ同一の照射強度分布で照射することができ、夫々の光の波長や強度を独立して設定することができる顕微鏡の照明装置及びその照明装置を用いた画像処理装置を提供する。 - 特許庁

As to this array for irradiation by using several wavelengths inside a microscope, in a parallel optical path inside an irradiating and image forming lens system EO, a compensating a lens system for producing the wavelengths while adjusting the wavelengths to be accurately superposed inside a sample area P is arranged.例文帳に追加

顕微鏡内で数個の波長を用いて照射するための配列であって、照射・結像レンズ系EOの内部にある平行光路内で、諸波長を試料領域P内に正確に重ね合わせることを調整しながら作り出すための補正レンズ系が配備されている配列 - 特許庁

To provide a surface plasmon fluorescence microscope for visual confirmation with strong fluorescent intensity by configurating a light receiving member to receive the fluorescence enhanced by surface plasmon, and to provide a method of measuring the fluorescence excited by the surface plasmon.例文帳に追加

本発明は、表面プラズモンにより増強された蛍光を受光するように受光部品を構成することにより、強い蛍光強度で視認できる表面プラズモン蛍光顕微鏡、および表面プラズモンにより励起された蛍光を測定する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a laser microscope capable of selectively performing detection of Raman scattering light and observation of Coherent Antistokes Raman Scattering (CARS) light without moving an observation sample and capable of effectively selecting a vibration frequency for CARS light observation without needing complicated work.例文帳に追加

観察対象の標本を動かすことなく、ラマン散乱光検出およびＣＡＲＳ光観察を選択的に行うことができ、煩雑な作業を要することなく、ＣＡＲＳ光観察のための振動周波数を効率的に選択できるレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The molecule manipulator includes photoreactive molecules including a double bond and changes a cis-trans arrangement of the double bond in reaction by the irradiation by the light of the selected wavelength, and a probe with the photoreactive molecules fitted thereto, for example, a probe of a scanning proximity probe microscope.例文帳に追加

分子マニピュレータは、二重結合を含み、選択した波長の光による照射に反応してその二重結合のシス−トランス配置を変更する光反応分子と、その光反応分子が取り付けられるプローブ、たとえば、走査近接プローブ顕微鏡のプローブとを含む。 - 特許庁

The imaging apparatus for the microscope having an interlace system CCD has a mechanical shutter 804, and performs exposure by controlling the operation of the shutter 804 and a shutter in the CCD 801 being an electronic shutter in accordance with a photographing condition.例文帳に追加

インターレース方式のＣＣＤを有する顕微鏡用撮像装置であって、メカシャッター８０４を有し、撮影条件に応じて、メカシャッター８０４と電子シャッターであるＣＣＤ８０１の素子内シャッターの動作を制御して露光を行うようにした顕微鏡用撮像装置である。 - 特許庁

when chromosomes at a particular stage in cell division are stained using one of several laboratory techniques, a specific pattern of light and dark stripes (bands) appears when the chromosomes are viewed through a microscope; the banding pattern assists in assigning each chromosome its particular number and evaluating its structure. 例文帳に追加

いくつかの検査技法のひとつを用いて細胞分裂の特定の段階にある染色体を染色すると、顕微鏡下で観察した染色体上に明暗の縞模様（バンド）が出現する；このバンドのパターンは各染色体の同定と構造の評価に有用な情報となる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

A decode processing part 33 converts the physical address into a display address showing the arrangement of the objective lens when viewed from the viewpoint of a user, by using an address conversion table prepared in advance, when the type information shows an upright microscope, and displays the display address on a display part 23.例文帳に追加

デコード処理部３３は、種別情報により示される種別が正立顕微鏡用である場合、予め用意されたアドレス変換テーブルを用いて、物理アドレスを、使用者の視点から見た対物レンズの配置を示す表示アドレスに変換し、表示部２３に表示させる。 - 特許庁

To provide a scanning charged-particle microscope in which distortion of measurement, even of an insulator pattern, in the field of view can be suppressed by suppressing the impact of charging due to primary charged-particle beam irradiation during photographing, and suppressing change in the detection rate of secondary charged-particles.例文帳に追加

絶縁体パターンであっても，撮影中一次荷電粒子線照射起因帯電の影響を抑制し，二次荷電粒子の検出率の変化を抑制することにより視野内の計測歪みを抑制することのできる走査型荷電粒子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an optical trap probe near-field light microscope, capable of obtaining a high S/N ratio in a near-field light detection signal captured stably and detected by an optical trap probe, and to provide a near-field optical detection method.例文帳に追加

本発明は、光トラッププローブを安定的に捕捉でき、かつ検出される近接場光検出信号において高いＳ／Ｎを得ることを可能とする光トラッププローブ近接場光学顕微鏡装置及び近接場光検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide: a method for highly precisely estimating a detection value of emitted electrons obtained by actual observation; a method for highly precisely simulating an SEM image obtained by actual observation; and a scanning electron microscope having an electronic optical system or the like set therein, so that a dummy SEM image is actually obtained.例文帳に追加

走査電子顕微鏡において、実観察で得られる放出電子の検出値を高精度に推定する方法、実観察で得られるＳＥＭ像を高精度にシミュレーションする方法と模擬ＳＥＭ像が実際に得られるように電子光学系等が設定される装置を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid immersion apochromatic microscope objective lens which can maintain the flatness of an image plane over the entire part of a visual field and is to be well corrected in various aberrations while maintaining a magnification of about 60 times and a large NA of 1.4 without forming a lens group of the extreme image side to a Gauss type.例文帳に追加

最も像側のレンズ群をガウスタイプにすることなく、倍率が６０倍程度で１．４という高ＮＡを維持しつつ、視野全体にわたって像面の平坦性を維持でき、かつ諸収差が良好に補正される液浸系アポクロマート顕微鏡対物レンズを提供すること。 - 特許庁

To provide a liquid immersion microscope in which an observation state is given without using the movement of a substrate and the spread of liquid into unnecessary portion (portion where the collection of liquid thereafter is impossible) around an observation point is prevented regardless of the state of the surface of the substrate (hydrophilicity/hydrophobicity).例文帳に追加

基板の移動を利用せずに観察状態を実現することができ、基板の表面の状態（親水性／撥水性）に拘わらず、観察点の周囲の不要な箇所（後から回収できない箇所）への液体の広がりを防止できる液浸顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a slice sample preparation method for surely holding a slice sample on a fixing base and a slice sample for this method so as to prevent the sample slice placed on a sample base for a microscope from peeling off from the sample base and being lost during storage, carriage, or operation.例文帳に追加

本発明の課題は、試料台に載置した顕微鏡用の試料切片が、保管したり運搬したり作業中に試料台から剥がれ遺失してしまうことがなく、固定台上に確実に保持される薄片試料を作成する方法と、そのような薄片試料を提供することにある。 - 特許庁

In a pulse exciting type ultrasonic microscope 2, a transducer 13 is provided to a Z-axis stage 15 and the interval between a glass substrate 20, and the transducer 13 is adjusted by moving the Z-axis stage 15 so as to match the focal distance of the transducer 13.例文帳に追加

パルス励起型超音波顕微鏡２において、Ｚ軸ステージ１５にトランスデューサ１３が設けられており、そのＺ軸ステージ１５を移動させることにより、ガラス基板２０とトランスデューサ１３との間隔がトランスデューサ１３の焦点距離と一致するよう調整される。 - 特許庁

To provide a cylinder piezoeletric element and a scanning probe microscope, with which an error of straightness can be corrected with a simple structure on an expansion and contraction operation in an axial direction, high straightness is realized, measurement precision is improved and a measurement object with a high aspect ratio can securely be measured.例文帳に追加

軸方向の伸縮動作に関して簡単な構成で真直度の誤差を補正することができ、高い真直度を実現し、測定精度を高め、高アスペクト比の測定対象物も確実に測定できる筒型圧電素子および走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The method of evaluating the vapor deposition film measures a phase change by scanning vibratingly a probe of an atomic force microscope on a vapor deposition film surface of an optical member having the vapor deposition film on a base material, and evaluates the vapor deposition film, based on the measured phase change.例文帳に追加

基材上に蒸着膜を有する光学部材の該蒸着膜表面上で、原子間力顕微鏡の探針を振動させながら走査して位相変化を測定し、測定された位相変化に基づいて前記蒸着膜を評価する蒸着膜評価方法。 - 特許庁

The container has sufficient resistance to a high temperature and change of the temperature during nucleic acid amplification reaction by integrally molding the side wall part 2 and the bottom wall part 3 with the resin while the inside thereof can be observed by an optical microscope through the flat plate shaped bottom wall part 3.例文帳に追加

平板状の底壁部３を介して光学顕微鏡によって内部を観察可能でありながら、側壁部２と底壁部３とが樹脂から一体成形されていることにより核酸増幅反応時の高温や温度変化にも十分に耐性を有している。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for identifying and inspecting a simple easy phase object image, whereby a wide, deep measurement visual field is provided and a phase difference interference image is sharply obtained in the place of conventional phase difference microscope used for observing a phase object such as a biological cell.例文帳に追加

生体細胞のような位相物体の観察に用いられてきた従来の位相差顕微鏡に代わって、広くて深い測定視界を持ち、位相差の干渉画像が鮮明に得られる、単純で簡便な位相物体画像の識別、検査の方法と装置を提供する。 - 特許庁

A measuring implement 3 having a position indicator 32 is installed so that it can rotate integrally with the test object 5, and enlarged images of the position indicator 32 formed by a microscope 1 at a plurality of points of time in a process of rotation of the test object 5 are picked up respectively by an image capturing camera 17.例文帳に追加

位置指標３２を有する測定用治具３を被検体５と一体的に回転し得るように設置し、被検体５が回転する過程の複数の時点において、顕微鏡１により形成される位置指標３２の拡大像を撮像カメラ１７によりそれぞれ撮像する。 - 特許庁

To provide observation equipment which makes it possible to observe a sample tissue of an organism from the part to be checked by a microscope on the spot, while observing a tissue of an organism of the part to be checked of a patient's body by an endoscope and make a pathological diagnosis instantly.例文帳に追加

本発明は、患者の体内の目的部位の生体組織を内視鏡装置で観察しながら、その目的部位の生体組織の標本をその場で顕微鏡観察することができ、迅速な病理診断を行うことができる観察装置を提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

The deflection generating on a cantilever 41 is detected by an inter-atomic force between a probe 44 of the cantilever 41 and the air bearing surface 13 of the thin-film magnetic head Q in the manner of using an atomic force microscope(AFM) 4 provided with the cantilever 41 mounting a magnetic field generating element 45 thereon.例文帳に追加

磁界発生素子４５を取り付けたカンチレバー４１を有する原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）４を用い、カンチレバー４１の探針４４と薄膜磁気ヘッドＱの空気ベアリング面１３の間の原子間力によって、カンチレバー４１に生じる撓みを検知する。 - 特許庁

To provide a configuration to prevent an easy forgery by a means such as the investigation of a hologram pattern using an optical microscope, in a optical recording medium (computer generated hologram(CGH) recording medium) recorded with information by using a CGH.例文帳に追加

計算機生成ホログラム（ＣＧＨ：Ｃｏｍｐｕｔｅｒ Ｇｅｎｅｒａｔｅｄ Ｈｏｌｏｇｒａｍ）を用いて情報を記録した光記録媒体（ＣＧＨ記録媒体）において、光学顕微鏡でホログラムパターンを調べる等の手段によって容易に偽造を行うことを防止する構成を提供する。 - 特許庁

To provide a probe scanning control device, scanning probe microscope by the same, probe scanning control method, and measuring method by the scanning control method, capable of detecting a solid-shaped sample where the angle of inclination changes, with fixed resolution in the direction of the shape of the sample.例文帳に追加

傾斜角の変化する立体形状試料に対して、試料形状方向の分解能を一定として検出できるプローブの走査制御装置、該走査制御装置による走査型プローブ顕微鏡、及びプローブの走査制御方法、該走査制御方法による測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method of measuring crystallographic orientation relationship of adjacent crystal grains using the goniometer of a transmission electron microscope capable of accurately observing the orientation relationship of two crystal grains and characteristics of their grain boundary in real time.例文帳に追加

２つの結晶の方位関係と結晶粒界の特性をリアルタイムで正確に確認できることを特徴とし、透過電子顕微鏡のゴニオメ−タを利用した隣り合う結晶粒の結晶学的方位関係と結晶粒界の特性を測定する測定装置及びその測定方法を提示する。 - 特許庁

To obtain a highly accurate three-dimensional image by using accurate displacement information of an actuator for driving an objective lens, and also to realize a three-dimensional laser microscope system capable of obtaining a stable image by controlling a vibration level based on the acceleration calculated from the displacement information of the actuator.例文帳に追加

対物レンズを駆動するアクチュエータの正確な変位情報を用いて高精度な３次元像を得ると共に、アクチュエータの変位情報から計算した加速度に基づき振動レベルを制御することにより安定した画像を得ることができる３次元レーザ顕微鏡システムを実現する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for measuring a magnetic force of a specimen using a scanning probe microscope, capable of automatically obtaining an optimal applied voltage for cantilever vibration when a lift amount is optionally determined.例文帳に追加

本発明は走査プローブ顕微鏡を用いた試料の磁気力測定方法及び装置に関し、任意のリフト量を設定した際、最適なカンチレバ加振電圧を自動的に求めることができる走査プローブ顕微鏡を用いた試料の磁気力測定方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

In the scanning charged particle microscope designed for semiconductor tests and measurements, the use of an image after image restoration to perform a pattern size measurement, defect detection, and defect classification or the like enables the improvement of the precision of measurement and the rise in the precision of detection and classification of a defect.例文帳に追加

さらに、半導体検査および半導体計測用の走査型荷電粒子顕微鏡において、画像復元後の画像を用いてパターン寸法計測、欠陥検出、欠陥分類等に用いることにより、計測精度向上や欠陥検出、欠陥分類の高精度化を可能とした。 - 特許庁

The rapid determination method of asbestos is characterized in that a sample taken from a material including a fibrous substance is heated at high temperature (80-1,250°C), and whether asbestos is included in the fibrous substance is determined depending on the presence of a fibrous substance recognized by microscope observation.例文帳に追加

繊維状物質を含む材料から採取した試料を高温（８００〜１２５０℃）で加熱し、顕微鏡観察により認められる繊維状物質の有無により、繊維状物質にアスベストが含まれているか、否かを判別することを特徴とするアスベストの迅速判別方法。 - 特許庁

A probe for a non-destructive determination of a complex dielectric constant of a material and for a near field optical microscope is based on a balance type multi-conductive transmission line structure formed on a dielectric support material which has a definite profile and limits a probe region within a sampling volume of a measuring material.例文帳に追加

材料の複素誘電率の非破壊的決定用及び近接場光学顕微鏡用のプローブは、明確な輪郭を有する、測定材料のサンプリング容積内にプローブ領域を制限する、誘電体支持部材上に形成された平衡型多導体伝送線構造に基づいている。 - 特許庁

In the eye cups 1 provided with attaching parts 5 attached to the eyepiece 21 of a microscope 10 and the eyes covering part 6 connected to the attaching parts 5, at least the parts 7 of the eyes covering part 6 brought into contact with the face F of an observer M are formed of gelled polymer having elasticity.例文帳に追加

顕微鏡１０の接眼レンズ２１に装着される装着部５と、この装着部５に接続される目当て部６とを備えるアイカップ１において、少なくとも目当て部６の観察者Ｍの顔面Ｆと接触する部分７が弾性を有するゲル状ポリマで形成されている。 - 特許庁