「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(137ページ目) - Weblio英語例文検索

The photodetector 174 constitutes a probe displacement detection system for detecting optically the displacement in the Z-direction of the probe 162 together with the light source in the scanning optical microscope.例文帳に追加

光検出器１７４は、走査型光学顕微鏡内の光源と共に、プローブ１６２のＺ方向の変位を光学的に検出するプローブ変位検出系を構成している。 - 特許庁

As the scanning microscope, a device for axially displacing the images of at least one illumination ray and rotating point within the pupil (28) of the objective lens (30) is provided.例文帳に追加

走査顕微鏡としては、対物レンズ（３０）のひとみ（２８）内に少なくとも１つの照明光線・回転点の像を軸方向変位させるための装置が設けられていること。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which efficiently performs the distance measurement on a plurality of measurement items at once, and which easily registers, verifies, and changes the parameters for the automatic distance measurement.例文帳に追加

本発明は、一度に複数の測定項目の測長測定を効率よく行え、自動測長用のパラメータの登録、確認、変更を容易にできる走査形電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a condenser lens having an oblique illumination diaphragm capable of setting illumination light, with which a sample from various angles in the circumferential direction can be irradiated, and to provide a microscope mounted with the condenser lens.例文帳に追加

標本に円周方向の色々な角度から照明光を照射設定できる斜光照明絞りを有するコンデンサレンズとこれを搭載する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a confocal image measuring system for preferably attaining synchronization of a Nieuwpoort disk and an imaging device, and to provide a confocal microscope and a confocal image measuring method.例文帳に追加

ニポウ円盤と撮像装置との同期を好適に実現することが可能な共焦点像計測システム、共焦点顕微鏡、及び共焦点像計測方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a transmission electron microscope allowing easy interpretation of a dark-field image, capable of capturing a dynamic phenomenon occurring in a sample, and allowing observation of the dark-field image of a minute area.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡によって、暗視野像の解釈が容易で、試料で生じている動的現象を捉えることができ、且つ微小領域の暗視野像の観察を可能とする。 - 特許庁

The microscope system, which comprises a catadioptric lens group and a zooming tube lens group, has high optical resolution in the deep UV wavelengths, continuously adjustable magnification, and a high numerical aperture.例文帳に追加

カタディオプトリックレンズ群及びズーミングチューブレンズ群を含む顕微鏡システムは、極ＵＶ波長で高光学解像度と、連続的に調整可能な倍率と、高開口数とを有する。 - 特許庁

To provide a sample holder having large convenience by reducing a time until data acquisition becomes possible in the use of an electron microscope.例文帳に追加

本発明は、電子顕微鏡の利用におけるデーター取得開始が可能になるまでの待ち時間を軽減させること可能で、大幅な利便を有する試料ホルダーを提供することを目的とする。 - 特許庁

To solve the problem that it is incapable of effectively using a light emitting diode as a light source for illumination and selecting an excitation wavelength in a conventional fluorescence measurement apparatus such as a fluorescence microscope.例文帳に追加

従来の蛍光顕微鏡等の蛍光測定装置では、発光ダイオードを照明用光源として有効に用い、且つ、励起波長の選択を行えるようにすることができない。 - 特許庁

PROBE SCANNING CONTROL DEVICE, SCANNING PROBE MICROSCOPE AND WORKING DEVICE BY THE SAME, PROBE SCANNING CONTROL METHOD, AND MEASURING AND WORKING METHOD BY THE SCANNING CONTROL METHOD例文帳に追加

プローブの走査制御装置、該走査制御装置による走査型プローブ顕微鏡及び加工装置、並びにプローブの走査制御方法、該走査制御方法による測定方法及び加工方法 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope (SEM) capable of shortening a time for length measuring inspection at a deficiency analysis time by a manual work or the like, and its image display method.例文帳に追加

手作業による不具合解析時などにおける測長検査の時間短縮を図ることが可能な走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）およびその画像表示方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can correctly position a probe in a short time to an observation point of a sample without making the probe approach the surface of the sample.例文帳に追加

探針を試料表面にアプローチさせること無く、試料の観察ポイントに対して探針を短時間且つ正確に位置決めさせることが可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A stage having a function reproducing the image of foreign matter under an optical microscope on the basis of the position data of the foreign matter preliminarily calculated by a separate foreign matter inspection apparatus is employed.例文帳に追加

予め別の異物検査装置により求められた異物の位置情報に基づいて光学顕微鏡下にその異物の像を再現する機能を備えたステージを採用した。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope can accurately measure a sample potential or a sample height, while preventing damages and the like by a charged-particle radiation.例文帳に追加

本発明は、電子線照射によるダメージ等を抑制しつつ、試料の電位、或いは試料高さを正確に測定することが可能な走査電子顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a super-resolution microscope for performing phase modulation without causing loss of light quantity of erasing light and inducing a remarkable super-resolution function with absolute minimum erasing light power.例文帳に追加

イレース光の光量ロスを生じることなく位相変調でき、必要最小限のイレース光パワーで、顕著な超解像機能を誘導できる超解像顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a frozen microtome and a thin leaf for observation by a microscope of tissue samples for avoiding frozen artifacts as much as possible and for easily handling the tissue samples.例文帳に追加

冷凍アーティファクツをできるだけ避けることができ、組織試料の取り扱いが容易な、冷凍ミクロトームと組織試料の顕微鏡観察用薄片の製造方法を提供する。 - 特許庁

To save power and prevent wasteful heating while maintaining a high-quality observation state by performing an optimum restoration operation based on a restoration timing of a non-operation part in a microscope system.例文帳に追加

顕微鏡システムにおける非稼動部位の復帰タイミングに着目し、最適な復帰動作を行うことで、質の高い観察状態を維持しつつ省電力と無駄な発熱を回避する。 - 特許庁

To provide a remote control method and a remote control system for an electron microscope capable of moving a sample to an intended position even if an environment of network line is bad.例文帳に追加

ネットワーク回線の環境が悪い場合でも、所望の位置に試料を移動させることができる電子顕微鏡の遠隔制御方法及び遠隔制御システムを実現する。 - 特許庁

To provide a lighting device of a microscope having two or more light source devices which are quickly switchable among two or more, particularly, three light source devices by motor drive.例文帳に追加

複数のとりわけ最大で３つの光源装置の間でのモータ駆動による迅速な切替えが可能とされる複数の光源装置を有する顕微鏡の照明装置の提供。 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope that can high accurately measure in a wide band by reducing the influence of the mechanical resonance frequency of a piezoelectric element.例文帳に追加

本発明は、圧電素子の機械的共振周波数の影響を低減することにより、広帯域において高精度測定を可能にした走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The kind of this hologram element 10 can be identified only by the color of the colored members 4 with the naked eye and it is not necessary to magnify a kind identifying mark through a microscope unlike a conventional hologram element.例文帳に追加

この着色部材４の色のみによって、肉眼でホログラム素子１０の種類を識別可能であって、従来のように種類識別マークを顕微鏡で拡大する必用はない。 - 特許庁

A destaticizing mechanism provided on a scanning electron microscope is provided with a gas flow-rate control valve 18, connected to a gas cylinder, switching valve 17, corona discharger 19, gas inlet tube 15, and memory 20.例文帳に追加

走査電子顕微鏡に備えられた除電機構は、ガスボンベに繋がったガス流量調整弁１８、開閉弁１７、コロナ放電器１９、ガス導入管１５及びメモリ２０を備える。 - 特許庁

To provide an asbestos sampler and an asbestos sampling method capable of carrying out a series of works from the sampling of the asbestos to observation of dyeing by a phase difference microscope, on one substrate.例文帳に追加

アスベストの採取から位相差顕微鏡による染色観察までの一連の作業が一つの基板上で行なえるアスベスト採取装置及び採取方法を提供する。 - 特許庁

An extraction portion 42 extracts halo-generated cells in time-lapse images photographed with a microscope 11 and a camera 12 using transmitting light at prescribed time intervals.例文帳に追加

抽出部４２は、顕微鏡１１およびカメラ１２により透過光を用いて細胞を所定の時間間隔で撮影したタイムラプス画像内において、ハロが発生している細胞を抽出する。 - 特許庁

Hereby, four samples are formed by one-time sampling work, and size setting is performed beforehand so that the filtration region of each sample has a diameter below a visual field of a small-sized microscope.例文帳に追加

これにより、１回のサンプリング作業で４個のサンプルができ上がることになるが、各サンプルの濾過領域が、小型顕微鏡の視野以下の直径となるよう予め寸法設定しておく。 - 特許庁

To provide a quantitative analyzer for quantitatively analyzing a specific substance with high sensitivity by determining whether the photographing focus of a sample photographed by a fluorescence microscope matches a predetermined quantified value in a real time.例文帳に追加

蛍光顕微鏡で撮影した試料の撮影焦点が一致しているか否かをリアルタイムに判定し、特定物質を高感度で定量分析する定量分析装置を提供する。 - 特許庁

In an imaging system (100), multiple regions of a physical slide of a microscope (12) are identified, at least two focus z-positions z1, and z2 are defined.例文帳に追加

本発明による画像化システム（１００）では、顕微鏡（１２）のそれぞれの物理スライドに対して複数の領域を識別し、少なくとも２つの焦点ｚ位置ｚ１及びｚ２を定義する。 - 特許庁

This application relates to this scanning electron microscope provided with a sample chamber, an electron detector disposed in the sample chamber, and a sample table disposed in the sample chamber and equipped with a sample holder.例文帳に追加

本発明は、試料室と、試料室の中に配置された電子の検出器と、試料室の中に配置された、試料ホルダを備える試料台とを備える走査電子顕微鏡に関する。 - 特許庁

Column diameter distribution (B) is obtained by measuring an average column diameter of the columnar crystal on the electron microscope photograph and showing it with relative frequency, and the distribution of average column diameters has two peaks.例文帳に追加

柱径分布（Ｂ）は、電子顕微鏡写真上で柱状結晶の平均柱径を計測し、相対度数で示したもので、平均柱径の分布が、２つのピークを有している。 - 特許庁

To provide a preparation method of a sample observed by a transmission electron microscope and reduced in the change in the vicinity of the surface of the original sample.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡で観察するための試料の作製方法に関し、元のサンプルの表面近くの変化が少ない透過型電子顕微鏡用の試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide the confocal microscope which can select a pattern on a rotary body according to the power of an objective and obtains a confocal image of good picture quality.例文帳に追加

対物レンズの倍率に合わせた回転体上のパターンを選択することが可能で画質の良い共焦点画像を得ることが可能な共焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To enable observation and working by charged particle beams while confirming and discriminating the appearance of a sample confirmed by an optical microscope or the like at all time in operation of a charged particle beam device.例文帳に追加

荷電粒子線装置のオペレーションに際して、光学顕微鏡などで確認された試料の外観を常時確認識別しながら、荷電粒子線による観察・加工を可能とすること。 - 特許庁

To provide a scanning confocal microscope constituted so that an excellent observation image can be obtained without causing shading even when a wide area is observed by fluorescent observation.例文帳に追加

蛍光観察により、広い領域を観察した場合でもシェーディングの生じさせることなく良好な観察画像を得ることのできる走査型共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a probe for perpendicular scanning microscope which can supersensitively detect surface information of a sample by a nano-tube tip as a probe standing approximately perpendicular to the sample surface.例文帳に追加

探針となるナノチューブ先端が試料面に対し略垂直状に当接して試料の表面情報を高感度に検出できる垂直式走査型顕微鏡用プローブを実現する。 - 特許庁

The scanning microscope employs a micromirror array (2) as a device for deflecting the beam in a frequency scanning direction, and a linear image sensor (16) is used as a photodetector.例文帳に追加

本発明による走査顕微鏡では、周波数走査方向にビーム偏向を行う装置としてマイクロミラーアレイ（２）を用いると共に受光装置としてリニァイメージセンサ（１６）を用いる。 - 特許庁

The ITO particles, when observed using a transmission electron microscope, has an observed site having a relatively high transmittance of electron beams in part of the interior of the particle.例文帳に追加

本発明のＩＴＯ粒子は、透過型電子顕微鏡を用いて観察した場合に、粒子内の一部に電子線の透過性が相対的に高い部位が観察されるものである。 - 特許庁

To provide an illuminator for microscope capable of accurately and easily adjusting the incident angle of illuminating light on a sample in the case of illuminating the sample through the objective lens.例文帳に追加

対物レンズを介して標本を照明するに当たって、標本への照明光の入射角を高精度かつ容易に調整できる顕微鏡用照明装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an ocular which is used in a microscope, a stereomicroscope, a binocular observation optical device such as binoculars and in the binocular observation optical device and facilitates to merge right and left images.例文帳に追加

顕微鏡、実態顕微鏡、双眼鏡などの双眼観察光学装置および双眼観察光学装置で用いる接眼レンズにおいて、左右の像の融合などを行ないやすくする。 - 特許庁

SIGNAL DETECTING DEVICE BY SCANNING PROBE, PROBE MICROSCOPE BY THE DEVICE, SIGNAL DETECTING METHOD BY SCANNING PROBE AND OBSERVING METHOD FOR OBSERVING SAMPLE SURFACE USING THE METHOD例文帳に追加

走査型プローブによる信号検出装置、該装置によるプローブ顕微鏡、及び走査型プローブによる信号検出方法、該方法を用いてサンプル表面を観察する観察方法 - 特許庁

The depth distribution in the overetched portion of the glass is obtained with an atomic force microscope, and the film thickness to fill the defect is controlled according to the distribution to flatten the surface of the filled transparent film.例文帳に追加

原子間力顕微鏡でガラスのオーバーエッチ部の深さ分布を求め、その深さ分布に従って埋める膜厚を制御し埋めた透明膜表面が平坦になるようにする。 - 特許庁

In this case, the microscope, which has a focus detection optical path and an observation optical path independently of each other, guides the focus detection optical path from the objective lens rather than from a fluorescent observation device.例文帳に追加

ここで、フォーカス検出光路と観察光路を独立に備えた顕微鏡において、フォーカス検出光路を蛍光観察装置よりも対物レンズ側から導光するようにしている。 - 特許庁

In a microscope system, an exposure illuminating unit 32 has a plurality of second objective lenses in which the correction and adjustment of magnification are performed with respect to each of a plurality of objective lenses mounted on a revolver.例文帳に追加

露光照明ユニット３２は、レボルバに装着されている複数の対物レンズのそれぞれに対して倍率補正調整がなされている第２対物レンズを複数有している。 - 特許庁

The microscope system, which comprises a catadioptric lens group and a zooming tube lens group, has high optical resolution in the deep UV wavelengths, continuously adjustable magnification, and a high numerical aperture.例文帳に追加

カタディオプトリックレンズ群及びズーミングチューブレンズ群を含む顕微鏡システムは、極ＵＶ波長で高光学解像度と、連続的に調整可能な倍率と、高開口数とを有する。 - 特許庁

The fish-bone type carbonaceous microfiber body has a graphite crystal structure having a fish bone-like arrangement structure in the fiber axis direction in a transmission electron microscope (TEM) image.例文帳に追加

グラファイトの結晶構造が透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）画像において、繊維軸方向に魚骨状配列構造を有したフィッシュボーン型炭素質微細繊維状体である。 - 特許庁

In a conventional nearfield optical microscope, observation can be performed in the nanometer scale, but not performed particularly in a deep ultraviolet area where the organic material emits self-fluorescence.例文帳に追加

従来の近接場光学顕微鏡は、ナノメートルスケールでの観察は行えるものの、多くの物質、特に有機物が自家蛍光を発する深紫外線領域での観察が行えなかった。 - 特許庁