「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(137ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an illuminator for a microscope capable of efficiently illuminating a sample even by using a laser beam which is not linearly polarized light, and illuminating the sample simultaneously with a plurality of laser beams having different wavelength.例文帳に追加

直線偏光でないレーザを用いても効率よく照明でき、しかも波長の異なる複数のレーザ光を同時に標本に照明できる顕微鏡照明装置を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic field measuring technology for accurately measuring a magnetic field waveform when a magnetic head writes a high-frequency signal by using a low-resonance-frequency probe in a magnetic force microscope.例文帳に追加

磁気力顕微鏡において、高周波信号を低共振周波数のプローブを用いて磁気ヘッドの書き込み時の磁界波形の計測を精度良く行う磁界計測技術を提供する。 - 特許庁

In the electron microscope device, at first a Fourier transformation image of a known period is obtained, and the relationship between the distance on the image and a pixel number is obtained, and this is made as the standard scale.例文帳に追加

本発明の電子顕微鏡装置によると、先ず、周期が既知の物質のフーリエ変換像を求め、画像上の距離と画素数の関係を求め、標準スケールとする。 - 特許庁

To provide a focusing device which enables an operator to focus an objective lens at a position where an image of a high contrast can be well observed and a microscope having this device.例文帳に追加

操作者にとってコントラストの高い像を良好に観察できる位置に焦点を合わせることが可能な焦点合わせ装置およびそれを備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning magnetic microscope capable of accurately estimating crystal conditions or the like of a sample by irradiating a sample such as a semiconductor material with an electron beam while being scanned.例文帳に追加

電子ビームを走査させながら半導体材料などの試料に照射させ、試料の結晶状況などの評価を精度良く行ない得る走査型磁気顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To easily provide an image which is in focus at any position in the image to be an observation target of a user and is free from occurrence of misalignment in the image in a virtual microscope or the like.例文帳に追加

バーチャル顕微鏡等において、画像中の、ユーザの観察対象となる何れの位置においても焦点が合うと共に画像のずれが生じることがない画像を容易に提供する。 - 特許庁

To provide a microwave near-field optical microscope for improving the sensitivity and resolution, by connecting a probe to a dielectric resonator and minimizing the influence of the temperature and the external environment.例文帳に追加

誘電体共振器に探針を結合して温度や外部環境の影響を最小化し、感度と分解能が向上したマイクロ波の近接場顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a near-field optical microscope to detect the scattering light in an extensive angular range, and a cantilever used therefor by improving the structure of the cantilever.例文帳に追加

本発明は、カンチレバーの構造を工夫することにより、より広い角度範囲の散乱光を検出可能にした近接場光学顕微鏡及びそれに用いられるカンチレバーを提供する。 - 特許庁

A height distribution at the same spot and in the same region as a spot measured by a CCD camera is measured by an interference microscope simultaneously with measurement of an image brightness value by the CCD camera.例文帳に追加

ＣＣＤカメラによる画像輝度値の測定と同時に、干渉式顕微鏡１８で、ＣＣＤカメラで測定している箇所と同一箇所、同一範囲の高さの分布を測定する。 - 特許庁

The reference position marks formed on the optical elements 131a, 131b are imaged with a CCD imaging element, using a microscope 190 and calculates the direction and distance to move from the images of those marks.例文帳に追加

移動方向、距離は光学素子１３１ａ，１３１ｂのそれぞれに形成した位置基準マークを顕微鏡１９０を用いてＣＣＤ撮像素子で撮像し、マーク像から算出する。 - 特許庁

Also, the microscope 11 is provided with an adapter 24 which is attachable and detachable to and from the objective lens 22 and the image guide 25, and to which the objective lens 22 and the image guide 25 are connected.例文帳に追加

また、顕微鏡１１には、対物レンズ２２およびイメージガイド２５に着脱可能であり、対物レンズ２２およびイメージガイド２５を接続するためのアダプタ２４が設けられている。 - 特許庁

When a sample stage is manually moved, a control device 6 stops the action of the point analysis, and starts the function of a scanning electron microscope to obtain a SEM image.例文帳に追加

手動により試料ステージの移動を行おうとする場合、制御装置６は点分析の動作を停止し、走査電子顕微鏡の機能を起動してこのときのＳＥＭ像を得る。 - 特許庁

Preferable matter is that the highest frequency blocked by the blocking member is one at which a microscope having no blocking member is considered to show a CTF of 0.5.例文帳に追加

好ましいことは、ブロッキング部材によってブロックされた最も高い周波数が、ブロッキング部材無しの顕微鏡が０．５のＣＴＦを示すと思われるようなものであることである。 - 特許庁

The kind of this hologram element 10 can be identified only by the color of the colored members 4 with the naked eye and it is not necessary to magnify a kind identifying mark through a microscope unlike a conventional hologram element.例文帳に追加

この着色部材４の色のみによって、肉眼でホログラム素子１０の種類を識別可能であって、従来のように種類識別マークを顕微鏡で拡大する必用はない。 - 特許庁

A destaticizing mechanism provided on a scanning electron microscope is provided with a gas flow-rate control valve 18, connected to a gas cylinder, switching valve 17, corona discharger 19, gas inlet tube 15, and memory 20.例文帳に追加

走査電子顕微鏡に備えられた除電機構は、ガスボンベに繋がったガス流量調整弁１８、開閉弁１７、コロナ放電器１９、ガス導入管１５及びメモリ２０を備える。 - 特許庁

To provide an asbestos sampler and an asbestos sampling method capable of carrying out a series of works from the sampling of the asbestos to observation of dyeing by a phase difference microscope, on one substrate.例文帳に追加

アスベストの採取から位相差顕微鏡による染色観察までの一連の作業が一つの基板上で行なえるアスベスト採取装置及び採取方法を提供する。 - 特許庁

An extraction portion 42 extracts halo-generated cells in time-lapse images photographed with a microscope 11 and a camera 12 using transmitting light at prescribed time intervals.例文帳に追加

抽出部４２は、顕微鏡１１およびカメラ１２により透過光を用いて細胞を所定の時間間隔で撮影したタイムラプス画像内において、ハロが発生している細胞を抽出する。 - 特許庁

PROBE SCANNING CONTROL DEVICE, SCANNING PROBE MICROSCOPE AND WORKING DEVICE BY THE SAME, PROBE SCANNING CONTROL METHOD, AND MEASURING AND WORKING METHOD BY THE SCANNING CONTROL METHOD例文帳に追加

プローブの走査制御装置、該走査制御装置による走査型プローブ顕微鏡及び加工装置、並びにプローブの走査制御方法、該走査制御方法による測定方法及び加工方法 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope (SEM) capable of shortening a time for length measuring inspection at a deficiency analysis time by a manual work or the like, and its image display method.例文帳に追加

手作業による不具合解析時などにおける測長検査の時間短縮を図ることが可能な走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）およびその画像表示方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can correctly position a probe in a short time to an observation point of a sample without making the probe approach the surface of the sample.例文帳に追加

探針を試料表面にアプローチさせること無く、試料の観察ポイントに対して探針を短時間且つ正確に位置決めさせることが可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A stage having a function reproducing the image of foreign matter under an optical microscope on the basis of the position data of the foreign matter preliminarily calculated by a separate foreign matter inspection apparatus is employed.例文帳に追加

予め別の異物検査装置により求められた異物の位置情報に基づいて光学顕微鏡下にその異物の像を再現する機能を備えたステージを採用した。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope can accurately measure a sample potential or a sample height, while preventing damages and the like by a charged-particle radiation.例文帳に追加

本発明は、電子線照射によるダメージ等を抑制しつつ、試料の電位、或いは試料高さを正確に測定することが可能な走査電子顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a super-resolution microscope for performing phase modulation without causing loss of light quantity of erasing light and inducing a remarkable super-resolution function with absolute minimum erasing light power.例文帳に追加

イレース光の光量ロスを生じることなく位相変調でき、必要最小限のイレース光パワーで、顕著な超解像機能を誘導できる超解像顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a frozen microtome and a thin leaf for observation by a microscope of tissue samples for avoiding frozen artifacts as much as possible and for easily handling the tissue samples.例文帳に追加

冷凍アーティファクツをできるだけ避けることができ、組織試料の取り扱いが容易な、冷凍ミクロトームと組織試料の顕微鏡観察用薄片の製造方法を提供する。 - 特許庁

To save power and prevent wasteful heating while maintaining a high-quality observation state by performing an optimum restoration operation based on a restoration timing of a non-operation part in a microscope system.例文帳に追加

顕微鏡システムにおける非稼動部位の復帰タイミングに着目し、最適な復帰動作を行うことで、質の高い観察状態を維持しつつ省電力と無駄な発熱を回避する。 - 特許庁

To provide a remote control method and a remote control system for an electron microscope capable of moving a sample to an intended position even if an environment of network line is bad.例文帳に追加

ネットワーク回線の環境が悪い場合でも、所望の位置に試料を移動させることができる電子顕微鏡の遠隔制御方法及び遠隔制御システムを実現する。 - 特許庁

To provide a lighting device of a microscope having two or more light source devices which are quickly switchable among two or more, particularly, three light source devices by motor drive.例文帳に追加

複数のとりわけ最大で３つの光源装置の間でのモータ駆動による迅速な切替えが可能とされる複数の光源装置を有する顕微鏡の照明装置の提供。 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope that can high accurately measure in a wide band by reducing the influence of the mechanical resonance frequency of a piezoelectric element.例文帳に追加

本発明は、圧電素子の機械的共振周波数の影響を低減することにより、広帯域において高精度測定を可能にした走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning type laser microscope device that can easily and accurately control the light intensity of laser light having a plurality of wavelengths or whose abnormal place can easily be specified.例文帳に追加

複数波長のレーザ光の光強度を簡易に正確に制御し、あるいは簡易に装置の異常箇所が特定できる走査型レ−ザ顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

To highly accurately measure a pattern dimension of a photomask upon measuring a dimension with the use of a microscope even when the objective pattern for measurement or adjacent patterns cause insufficient resolution.例文帳に追加

顕微鏡を用いた寸法測定において、測定対象パターンや隣接するパターンにて解像度不足が生じる場合にあっても、フォトマスクのパターン寸法を精度良く測定する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of varying the magnitude of probe current in one using a condenser lens formed by a permanent magnet.例文帳に追加

本発明は、永久磁石により構成されるコンデンサレンズを使用した走査電子顕微鏡において、プローブ電流の大きさを可変できる走査電子顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To obtain an interference microscope image of a multi-stage electron beam biprism by an electromagnetic lens system with the same number as the one-stage electron beam biprism without drop of operation flexibility of the multi-stage electron beam biprism.例文帳に追加

多段電子線バイプリズムの操作自由度を落とすことなく、１段電子線バイプリズムと同数の電磁レンズ系によって、多段電子線バイプリズムの干渉顕微鏡像を得る。 - 特許庁

An optical microscope 10 includes: a specimen stage 12; an imaging optical system including an objective lens 14 and an imaging lens 18; and an objective stage 16 supporting the objective lens 14.例文帳に追加

光学顕微鏡１０は、標本ステージ１２と、対物レンズ１４と結像レンズ１８を含む結像光学系と、対物レンズ１４を支持している対物ステージ１６を有している。 - 特許庁

To provide an easy-to-operate differential interference microscope, capable of moving a Nomarski prism to a desired position on an optical axis interlocked with the switching of an objective at observation of differential interference.例文帳に追加

微分干渉観察時に対物レンズの切換えに連動させてノマルスキープリズムを光軸上の所望位置に移動させることができる操作の容易な微分干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Hereby, four samples are formed by one-time sampling work, and size setting is performed beforehand so that the filtration region of each sample has a diameter below a visual field of a small-sized microscope.例文帳に追加

これにより、１回のサンプリング作業で４個のサンプルができ上がることになるが、各サンプルの濾過領域が、小型顕微鏡の視野以下の直径となるよう予め寸法設定しておく。 - 特許庁

To provide a quantitative analyzer for quantitatively analyzing a specific substance with high sensitivity by determining whether the photographing focus of a sample photographed by a fluorescence microscope matches a predetermined quantified value in a real time.例文帳に追加

蛍光顕微鏡で撮影した試料の撮影焦点が一致しているか否かをリアルタイムに判定し、特定物質を高感度で定量分析する定量分析装置を提供する。 - 特許庁

In an imaging system (100), multiple regions of a physical slide of a microscope (12) are identified, at least two focus z-positions z1, and z2 are defined.例文帳に追加

本発明による画像化システム（１００）では、顕微鏡（１２）のそれぞれの物理スライドに対して複数の領域を識別し、少なくとも２つの焦点ｚ位置ｚ１及びｚ２を定義する。 - 特許庁

This application relates to this scanning electron microscope provided with a sample chamber, an electron detector disposed in the sample chamber, and a sample table disposed in the sample chamber and equipped with a sample holder.例文帳に追加

本発明は、試料室と、試料室の中に配置された電子の検出器と、試料室の中に配置された、試料ホルダを備える試料台とを備える走査電子顕微鏡に関する。 - 特許庁

Column diameter distribution (B) is obtained by measuring an average column diameter of the columnar crystal on the electron microscope photograph and showing it with relative frequency, and the distribution of average column diameters has two peaks.例文帳に追加

柱径分布（Ｂ）は、電子顕微鏡写真上で柱状結晶の平均柱径を計測し、相対度数で示したもので、平均柱径の分布が、２つのピークを有している。 - 特許庁

To provide a preparation method of a sample observed by a transmission electron microscope and reduced in the change in the vicinity of the surface of the original sample.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡で観察するための試料の作製方法に関し、元のサンプルの表面近くの変化が少ない透過型電子顕微鏡用の試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide the confocal microscope which can select a pattern on a rotary body according to the power of an objective and obtains a confocal image of good picture quality.例文帳に追加

対物レンズの倍率に合わせた回転体上のパターンを選択することが可能で画質の良い共焦点画像を得ることが可能な共焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The ITO particles, when observed using a transmission electron microscope, has an observed site having a relatively high transmittance of electron beams in part of the interior of the particle.例文帳に追加

本発明のＩＴＯ粒子は、透過型電子顕微鏡を用いて観察した場合に、粒子内の一部に電子線の透過性が相対的に高い部位が観察されるものである。 - 特許庁

To provide an illuminator for microscope capable of accurately and easily adjusting the incident angle of illuminating light on a sample in the case of illuminating the sample through the objective lens.例文帳に追加

対物レンズを介して標本を照明するに当たって、標本への照明光の入射角を高精度かつ容易に調整できる顕微鏡用照明装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an evaluation method of an optical fiber probe capable of measuring and evaluating the diameter of the leading end of a core by a simple constitution without using a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いることなく、簡易な構成によりコア先端の直径を測定、評価することのできる、光ファイバプローブの評価方法を提供すること。 - 特許庁

Concretely, selecting any 20 particles from the images of electron microscope pictures that are used for measuring the average diameter of particles, the projected area of each particle was measured by an image analyzer. 例文帳に追加

具体的には、平均粒子径の測定に用いた電子顕微鏡写真の像から任意の20個の粒子を選び、それぞれの粒子について投影断面積を画像解析装置で測定した。 - 特許庁