「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(135ページ目) - Weblio英語例文検索

This polybenzazole fiber is characterized by having an uneven fiber surface and having a fiber surface area rate of ≥1.03 in an AFM (atomic force microscope) observation visual field range of 1×1 μm^2.例文帳に追加

繊維表面に凹凸を有し、当該繊維表面のＡＦＭ観察視野範囲１×１μｍ^2における表面積率が１．０３以上であることを特徴とするポリベンザゾール繊維。 - 特許庁

To provide a calibration method for near field scanning optical microscope laser processing device and a device thereof capable of performing combination from/to a NSOM probe and to an NSOM probe of laser beam efficiently.例文帳に追加

レーザ光のＮＳＯＭプローブへの、またＮＳＯＭプローブからの結合を効率よく行うニアフィールド走査光学顕微鏡レーザ加工装置の較正方法および装置を得る。 - 特許庁

To provide a microscope optical system allowing observation extending from low magnification to high magnification, without causing barrel distortion or defocusing, when observing magnification is changed.例文帳に追加

観察倍率を変更する際に、筒偏芯や同焦点のずれが発生することなく、低倍率から高倍率まで良好な像を観察できる顕微鏡光学系を提供すること。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope having a dark field lighting device by which an examinee can be irradiated with the light emitted by a light source with high efficiency an lighting unevenness can be reduced.例文帳に追加

光源から出射された光を高効率で被検体に照射することができ、しかも照明むらの少ない暗視野照明装置を有する実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of preventing flare during a dark-field observation, and preventing limb darkening due to vignetting during a bright-field observation, thereby obtaining good observation images during both observations.例文帳に追加

暗視野観察時にはフレアを防止し、かつ明視野観察時にはケラレによる周辺減光を防止し、両者とも良好な観察像を得ることの出来る顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a probe control device of a scanning type probe microscope capable of enhancing measuring precision by eliminating rise and fall characteristic difference brought from servo followability, and to provide a probe control method.例文帳に追加

サーボ追従性からくる上り・下りの特性差を解消して計測精度を向上できる走査型プローブ顕微鏡の探針制御の装置および方法を提供する。 - 特許庁

In the confocal microscope device, a variable mirror wherein the wave front evaluation method is optimized as a cost function is used, to thereby realize aberration correction in the system.例文帳に追加

この共焦点顕微鏡装置では本発明の波面評価方法をコスト関数として最適化される可変鏡を用いることでシステムにおける収差の補正を実現する。 - 特許庁

To provide a technique capable of restraining the charges generated by electron beam irradiation from accumulating in a measuring sample, in a probing device that uses an SEM (scanning electron microscope) as the observation means.例文帳に追加

ＳＥＭを観察手段として用いるプロービング装置において、電子線照射により生じる測定試料への電荷の蓄積を抑制することのできる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of obtaining precise measurement data by eliminating noise component characteristically arises only in specific scanning direction of the measurement device.例文帳に追加

測定データから測定装置の一定の走査方向にのみ特有に出現するノイズ成分を除去し、精度の高い測定データを得られる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

With the sample platform for the scanning electron microscope, a method is adopted to drop, dry and fix slurries by setting a patterned indented surface at a position where the slurries are to be dropped.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の試料台において、懸濁液を滴下する位置の表面に凹凸形状を設けることにより、懸濁液をその上から滴下し乾燥，固定する手法を用いる。 - 特許庁

To provide a transfer system of an electron microscope image capable of speeding up an update rate of the image even when there is change in capacity of a network line and the capacity is either small or large.例文帳に追加

ネットワーク回線の容量の変化があり、容量が大きい場合でも小さい場合でも画像の更新レートを速くすることができる電子顕微鏡像の転送方式を実現する。 - 特許庁

To provide an immersion objective of a microscope being a lens system which has a large numerical aperture and a large magnification and whose aberration is satisfactorily corrected, and made excellent in observation of feeble light.例文帳に追加

大きな開口数と大きな倍率を有し、諸収差が良好に補正されたレンズ系で、微弱な光の観察に優れた液浸系顕微鏡対物レンズを提供することにある。 - 特許庁

An observation optical system 30 of the surgical microscope 1 guides the reflected light of first reflection light on a patient's eye E to an eye lens 36 via an objective lens 31 and a variable magnification lens 32.例文帳に追加

手術用顕微鏡１の観察光学系３０は、患者眼Ｅによる第１照明光の反射光を対物レンズ３１や変倍レンズ３２を介して接眼レンズ３６に導く。 - 特許庁

To provide a microscope which has a spatial resolution greatly beyond a wavelength limit, being able to obtain a high resolution even by using the light in a visible range, and having a wide range of choice on observable objects.例文帳に追加

波長限界を大きく超えた空間分解能を有し、可視域の光を利用しても高い分解能が得られ、観測可能な対象の選択肢も広い顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The electron energy spectrometer has such a correcting means, and the electron microscope is provided with such a spectrometer.例文帳に追加

また、下流側の１２重極子レンズでは電子線が電子線エネルギー分光器に入射する角度と入射電子線のエネルギー広がりに関係する値の積に比例する収差を補正する。 - 特許庁

This is an automatic focusing method of a scanning electron microscope 10 which acquires an image signal and forms a test piece image based on secondary charged particle beams from a test piece irradiated with charged particle beams.例文帳に追加

荷電粒子ビームが照射された試料からの２次荷粒子に基づいて画像信号を取得し試料像を形成する走査電子顕微鏡１０のオートフォーカス方法である。 - 特許庁

On the basis of simultaneous thermal and electrical measurements using scanning thermal probes, the applicability of a scanning thermal microscope (SThM) is expanded for analyzing the characteristics of the thermoelectric matter.例文帳に追加

本方法は、走査熱プローブを使用する熱的及び電気的同時測定を基礎とし、走査熱顕微鏡（ＳＴｈＭ）の適用性を熱電物質の特性解析へと拡張する。 - 特許庁

To provide a drive apparatus capable of easily improving the straightness of the track of a movable part and provide a scanning probe microscope apparatus capable of providing highly accurate images through the use of the drive apparatus.例文帳に追加

容易に可動部の軌跡の真直度を向上させることができる駆動装置と、これを用い、精度の高い画像を提供できる走査型プローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a mesh for a transmission electron microscope having a structure capable of preventing a sample from being lost by protecting the surface on the side holding a sample immediately after the sample is placed on it.例文帳に追加

試料を載置した直後から試料を保持した側の面を保護して、試料の紛失などを防止することができる構造を有する透過電子顕微鏡用メッシュの提供。 - 特許庁

A replica of a skin surface state is sampled (step 10) and is measured by using a confocal microscope so as to obtain three-dimensional shape measurement data of the replica (step 11).例文帳に追加

皮膚表面状態を採取したレプリカを採取し（ステップ１０）、これを共焦点顕微鏡を用いて計測することによりレプリカの三次元形状計測データを求める（ステップ１１）。 - 特許庁

To optimize easily various parameters for extracting the line edge shape of a pattern with high precision and over a wide range in a semiconductor device inspection process using a scanning type microscope.例文帳に追加

走査型顕微鏡を用いた半導体装置検査工程においてパターンのラインエッジ形状を高精度で広範囲に渡って抽出するための各種パラメータを簡便に最適化する。 - 特許庁

To provide a high-sensitive X-ray detector capable of suppressing movement of a secondary electron image and distortion of the secondary electron image caused by astigmatism or the like even if bringing the detector close to a sample inside an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡内の試料に近接させても２次電子像の移動および非点収差等による２次電子像の歪みの低い，高感度なＸ線検出器を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning microscope by which the quality of an observation image in observation using polarization such as differential interference observation is improved by making the polarization state of illumination light better.例文帳に追加

照明光の偏光状態を良好にして、微分干渉観察など偏光を用いた観察時の観察画像の質を向上させた走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an aberration corrector capable of correcting chromatic aberration of an electronic optical system of a transmission type electron microscope by a comparatively simple and convenient system and capable of achieving high resolution observation.例文帳に追加

比較的簡便な系で透過型電子顕微鏡の電子光学系の色収差補正を行うことができ、かつ高分解能観察を実現できる色収差補正装置を提供する。 - 特許庁

To provide an imaging device capable of displaying a scale without troublesome operation and easily find actual dimensions in a photographed image of a sample observed by a microscope.例文帳に追加

顕微鏡により観察された標本の撮像画像において、煩雑な操作を行うことなくスケールを表示することができ、実寸法を容易に知ることができる撮像装置を提供する。 - 特許庁

A pulse excitation type ultrasonic microscope 2 is equipped with a resin plate 9 for supporting a living tissue 8 made to adhere, an ultrasonic transducer 13, and an X-Y stage 14.例文帳に追加

本発明のパルス励起型超音波顕微鏡２は、生体組織８を密着させて支持するための樹脂プレート９と、超音波トランスデューサ１３と、Ｘ−Ｙステージ１４とを備える。 - 特許庁

To provide a system capable of covering an imaging head by the other imaging head, when any of the imaging heads gets abnormal, in a microscope imaging device and a dimension measuring instrument having the plurality of imaging heads.例文帳に追加

複数の撮像ヘッドを有した顕微鏡撮像装置及び寸法測定装置において、いずれかが異常になったときに、他の撮像ヘッドでカバー可能なシステムを提供する。 - 特許庁

The zoom microscope includes a replaceable infinity correction objective lens 11, an aperture stop 12, an afocal zoom system 13, and an imaging optical system 14 which are arranged in this order from a specimen 10A side.例文帳に追加

標本１０Ａの側から順に、交換可能な無限遠補正型の対物レンズ１１と、開口絞り１２と、アフォーカルズーム系１３と、結像光学系１４とを配置する。 - 特許庁

This fluorescence spectroscopic analyzer 100 has a microscope part 110, an excitation light control part 130, a fluorescence detection part 140, a signal processing part 150 and an operation part 160.例文帳に追加

蛍光分光分析装置１００は顕微鏡部１１０と励起光制御部１３０と蛍光検出部１４０と信号処理部１５０と演算部１６０とを有している。 - 特許庁

To provide a surgical microscope which allows to diagnose pathologically even a tumor tissue as being undistinguishable by preoperative imaging diagnosis and can efficiently provide an operator with the pathological diagnosis result.例文帳に追加

術前の画像診断で判別できない腫瘍組織の病理診断を可能にし、この病理診断結果を術者へ効率的に提示可能な手術用顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a controller for a microscope constituted so that the arrangement of a switch and a handle can be changed suitable for a left-handed user instead of a right-handed user and having high flexibility in terms of operability.例文帳に追加

スイッチやハンドルの配置を右利き検者用の配置から左利き検者用の配置に変更可能で操作性の自由度が大きな顕微鏡用制御コントローラ装置を提供する。 - 特許庁

Alternatively, inclination of the scanning plane and the mask surface is corrected by a biaxial tilt stage provided in an atomic force microscope scanner system to process the mask, while the mask surface is kept parallel to the scanning plane.例文帳に追加

もしくはスキャン面とマスク面の傾きを原子間力顕微鏡スキャナー側に設けた2軸チルトステージで補正してスキャン面とマスク面が平行になる状態で加工を行う。 - 特許庁

In the microscope, the detector device is composed as a detector module 1 capable of setting in the optical path 2 of the detecting line and being replaced as a whole.例文帳に追加

上記顕微鏡において、検出器装置が検出線光路２へ設置可能なそして全体として交換可能な検出器モジュール１として構成されることを特徴とする。 - 特許庁

The movable probe apparatus comprises a probe 1 and a drive mechanism 3 which moves the probe 1 so that its tip contacts a portion of specimen 2 which is in the field of view of a microscope or its periphery or rear surface of them.例文帳に追加

プローブ１と、プローブ１を移動させてその先端を試料２の顕微鏡視野内の部位又はその周辺あるいはこれらの裏面に接触させる駆動機構３を備えている。 - 特許庁

To obtain an illuminating lighting device for a stereoscopic microscope having an ideal inward angle (10° to 20°) and contributing to realization of highly accurate coaxial vertical illumination observation from a low magnification to a high magnification.例文帳に追加

この発明は、理想的な内向角（１０°〜１２°）を有する実体顕微鏡に使用でき、低倍から高倍までの高精度な同軸落射観察の実現に寄与し得るようにすることにある。 - 特許庁

As a result, the positional relationship between the alignment mark on the wafer and the reference microscope can be known via the reference mark.例文帳に追加

他方のウェハに対しては、ウェハ上のアライメントマークとホルダ上の基準マークの位置位置関係を測定し、次いで、基準マークを測定用顕微鏡（基準顕微鏡との位置関係は既知）で検出する。 - 特許庁

This scanning probe microscope is provided with a rough moving stage 400 having a coarse moving mechanism optionally movable on XY-plane and a sample base 430, the rough moving stage 400 is placed on a frame 550.例文帳に追加

ＸＹ平面を任意に移行可能な粗動機構４００と試料台４３０を有する粗動ステージ４００を備え、この粗動ステージ４００のがフレーム５５０上に載置されている。 - 特許庁

The preparation with the sample included is sucked and held by a preparation holding hand 5 with a negative pressure, then, pulled out of a preparation storage magazine 4, then, the preparation is shifted just under the objective lens 2A of the microscope 2.例文帳に追加

プレパラート保持ハンド５がプレパラート収納マガジン４から、試料の入ったプレパラートを負圧により吸着保持して取り出し、顕微鏡２の対物レンズ２Ａの直下に移動させる。 - 特許庁

A thin film phase plate is arranged so that it is placed at the rear focal plane of the lens or behind it, and in order to prevent electrification, it is irradiated with an electron beam in a large quantity prior to the use of the microscope.例文帳に追加

薄膜位相板は、レンズ後焦点面またはその後方にくるように配置され、帯電を防止するために顕微鏡使用前に電子線を大量に照射する。 - 特許庁

To provide an organic sample observation device which is equipped with both of the function of a vertical fluorescence image pickup device and the function of a stereoscopic microscope and which can be used by switching both functions by simple operation.例文帳に追加

落射蛍光撮像装置の機能と実体顕微鏡の機能とを併せ持ち、且つ簡単な操作で両機能を切り替えて使用できる生体試料観察装置を提供する。 - 特許庁

When air containing the dust particles is sucked by a fan, a guide is installed so as to suck the dust particles at a high speed, the air is bumped to a flat plate, and the dust particles which adhere to the surface of the flat plate are measured under a microscope.例文帳に追加

粉塵を含む空気をファンで吸込む際にガイドを設け高速化し、その空気を平板にぶつけ、平板表面に付着した粉塵を顕微鏡で計測する。 - 特許庁

To provide an automatic inspection apparatus for a microscope, in which only one stage is used, in which the movement distance of the stage is reduced and in which a position error in a preliminary positioning operation and in an actual inspection is reduced.例文帳に追加

ステージを一つにするとともに移動距離を少なくし、予備位置決めの際と実際の検査の際の位置誤差を小さくした自動顕微鏡検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a connection device for an optical instrument and the optical instrument which suppress the expansion and deformation of a microscope body due to thermal conduction from a light source to prevent the focus deviation.例文帳に追加

光源からの熱伝導による顕微鏡本体部の膨張および変形を抑制してフォーカスずれを防止する光学機器接続装置および光学機器を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope measuring apparatus capable of accurately setting a spectroscopic measuring area of a test object such as a color filter or the like, and accurately grasping spectroscopic information of the test object.例文帳に追加

カラーフィルタなどの被検体の分光計測領域を正確に設定することが可能で、被検体の分光情報を正確に把握できる顕微鏡測定装置を提供する。 - 特許庁

To efficiently apply a relatively large magnetic field to a measuring target, for a polarization microscope and based on this, to observe the dynamic magnetization response of the measuring target.例文帳に追加

偏光顕微鏡において、被測定物に比較的大きな磁界を効率的に印加し、それにより被測定物の動的な磁化応答を観測することを可能とすることにある。 - 特許庁