「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(132ページ目) - Weblio英語例文検索

Furthermore, the electron microscope is provided with a preview function to display a plurality of simple observation images corresponding to the picture quality set by the picture quality setting part 50 on a display part 28.例文帳に追加

また、電子顕微鏡は、画質設定部５０によって設定された画質に対応する複数の簡易観察像を表示部２８に表示するプレビュー機能を備える。 - 特許庁

To provide an electroconductive double-sided adhesive sheet for an electron microscope, hardly forming unevenness caused by air bubbles on the surface of an adhesive layer even performing vacuum sucking.例文帳に追加

真空引きしても、粘着剤層表面に気泡による凹凸が生じにくい電子顕微鏡用導電性両面粘着シートを提供するを提供する。 - 特許庁

This invention can be applied to, for example, a scanning type microscope performing three-dimensional scanning by simultaneously performing the two-dimensional scanning in XY directions and movement in the Z direction.例文帳に追加

本発明は、例えば、ＸＹ方向の２次元走査と、Ｚ方向の移動とを同時に行って３次元走査を行う走査型顕微鏡に適用することができる。 - 特許庁

To set an illumination state optimum for each of various kinds of objective lenses varying in magnification of a microscope of a transmission type for bright-field viewing.例文帳に追加

透過型かつ明視野観察用の顕微鏡において倍率の異なる各種の対物レンズのそれぞれに対し最適な照明状態を設定することを目的とする。 - 特許庁

This atomic force microscope (AFM) 102 for inspecting a sample 124 includes a probe assembly 106 including a first tip 302 and a second tip 304 directed respectively to a surface 131 of the sample 124.例文帳に追加

サンプル(124)の表面(131)にそれぞれ向けられる第１の先端部(302)及び第２の先端部(304)を含むプローブアセンブリ(106)を含む、該サンプル(124)を検査するための原子間力顕微鏡(AFM)(102)。 - 特許庁

To provide a scanning tunneling microscope emission converging apparatus having a higher light converging efficiency in a vacuum without impairing the high space resolution of an STM.例文帳に追加

ＳＴＭのもつ高い空間分解能を犠牲にすることなく、真空中でより高い集光効率をもった走査トンネル顕微鏡発光集光装置を提供する。 - 特許庁

The electron microscope performs adjustment and deletion of phase differences due to differences of electron beam paths, generated at focusing or image formation of the electron beams by a lens.例文帳に追加

本発明は、電子線をレンズにより収束もしくは結像する際に生じる、電子線経路の差により生じる位相差を調整し、その差をなくすことに関する。 - 特許庁

A chamber for observing a biological sample with a microscope includes an optical filter in part of or the entire bottom face of the chamber.例文帳に追加

生物学的試料を顕微鏡で観察するためのチャンバーであって、該チャンバーの底面の一部又は全体に光学フィルターを含むことを特徴とする上記チャンバー。 - 特許庁

To provide an optical microscope capable of measuring spectra by a spectrograph and imaging a sample speedily with high resolution, and to provide an observation method.例文帳に追加

分光器によってスペクトルを測定可能であるとともに、試料を高速かつ高分解能で撮像することができる光学顕微鏡、及び観察方法を提供する。 - 特許庁

A personal computer 20 acquires the microscopic image generated by the electron microscope 10, and performs image processing using maximum entropy method to the microscopic image.例文帳に追加

パーソナルコンピュータ２０は電子顕微鏡１０によって生成された顕微鏡画像を取得し、前記顕微鏡画像に最大エントロピー法を用いた画像処理を施す。 - 特許庁

In this case, the microscope focus maintaining device can alter the luminous flux diameter of a laser beam and an output from a laser light source, according to the pupil diameter of the objective lens used in combination.例文帳に追加

ここで、顕微鏡フォーカス維持装置は、組み合わせる対物レンズの瞳径に合わせてレーザー光ビームの光束径とレーザー光源の出力を変更可能になっている。 - 特許庁

To store various other devices which are not used such as an eyepiece and a micrometer together with a microscope main body and further, to compactly and efficiently arrange and store microscopes in nonuse.例文帳に追加

使用していない他の接眼レンズ、マイクロメータ等の諸機器を顕微鏡本体と共に保管でき、また、不使用時ではコンパクトに効率的に整列させて保管収納できる。 - 特許庁

To provide an image of a nanowire having small diameter or a carbon nanotube by using an optical microscope as it is used in an existing semiconductor element manufacturing process.例文帳に追加

既存の半導体素子製造工程に使われる光学顕微鏡をそのまま使用して直径の細いナノ線又は炭素ナノチューブの映像を獲得すること。 - 特許庁

To provide a Nipkow system confocal microscope improved so that the area of a sample is selectively illuminated and observed by using a DMD.例文帳に追加

ニプコウ方式の共焦点顕微鏡においてＤＭＤを用いて標本の領域を選択的に照明して観察することができる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a slide image data preparing device capable of speedily and automatically generating slide image data obtained by photographing the necessary part of a sample by a microscope.例文帳に追加

試料の必要部分を顕微鏡により撮影したスライド画像データを高速かつ自動的に生成することができるスライド画像データ作成装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope equipped with an observational optical system enabling a surface of a sample to be optically observed with a high magnification while having a wide scanning range.例文帳に追加

広い走査範囲を有しながらも、試料表面を高倍率で光学的に観察できる観察光学系を備えた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In this analysis method, by observing phenomenon with an emission microscope and liquid crystal analyzer, the power supply drop occurrence part in the semiconductor integrated circuit is estimated.例文帳に追加

この現象をエミッション顕微鏡、液晶解析装置で観測することによって、半導体集積回路内の電源ドロップ発生箇所を推測する解析手法を提案する。 - 特許庁

To provide an optical scanning microscope for acquiring information on the quantity of light in a wide range according to actual luminance regardless of the intensity of the luminance and to provide its photometric apparatus.例文帳に追加

輝度の強弱に拘わり無く実際の輝度に応じた広い範囲の光量情報を得ることができる光走査型顕微鏡及びその測光装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus to allow automated focusing of a charged particle beam in the scanning electron microscope or the like.例文帳に追加

自動的に荷電粒子線の焦点合わせを行うことができる走査電子顕微鏡などの荷電粒子線装置における焦点合わせ方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning type confocal laser microscope in which measurement error which occurs depending on the relative angle between the arrangement of a specimen and laser scanning is reduced.例文帳に追加

試料の配置とレーザ走査の相対的角度によって発生する可能性のある測定誤差の低減を図った走査型共焦点レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an ion microscope excellent in versatility and long-term reliability having an ion beam with a spot size of 10 nm or less at a surface of a sample using a gas field ion source.例文帳に追加

気体電界イオン源を用いて試料表面でスポットサイズ１０ｎｍ以下のイオンビームを有する汎用性、長器信頼性に優れたイオン顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A microscope objective lens having an objective lens housing and including a plurality of lenses is disclosed and the lens is slidably arranged within the objective lens housing for focusing.例文帳に追加

対物レンズハウジングを備えると共に複数のレンズを含む顕微鏡対物レンズが開示され、レンズは、フォーカシングするための対物レンズハウジングの内部に、摺動可能に配置される。 - 特許庁

Concretely, software is employed to give marks such as rectangles, characters and lines on an image viewed with an electron microscope so that fast navigation can take place using the minimal information.例文帳に追加

具体的には電子顕微鏡の画像上にてソフトウェアにより矩形、文字、線等のマークを付けることにより、必要最小限の情報にて迅速なナビゲーションを行う。 - 特許庁

A scanning electron microscope 10 generates a microscopic image by emitting electron beams from an electron gun to a sample, and detecting secondary electrons generated from the sample.例文帳に追加

走査電子顕微鏡１０は、電子銃から電子線を試料に照射し、試料から発生した二次電子を検出することによって顕微鏡画像を生成する。 - 特許庁

To provide an optical microscope which enables even dispersed colors having near color tones to be clearly recognized and enables asbestos having double refraction property to be accurately identified.例文帳に追加

色調が近い分散色でも明確に認識でき、複屈折性を有するアスベストの同定を正確に行うことができる光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

a microscope (device used to magnify small objects) in which objects are lit at a very low angle from the side so that the background appears dark and the objects show up against this dark background. 例文帳に追加

物体を側面のとても低い角度から照らすために背景が暗くなり、物体が暗い背景に映し出されるしくみの顕微鏡（小さい物体を拡大する装置）。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

a benign (not cancer) condition in which there are more cells than normal in the lining of breast ducts and the cells look abnormal under a microscope. 例文帳に追加

乳管の内面を覆う組織に通常より多くの細胞が存在し、顕微鏡で観察するとそれらが異常な外観を呈する良性の（がんではない）病態。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

A microscope capable of checking a reference mark is disposed at one of the stop positions at four points of the turn table 6 so that the outer peripheral ends of the signal grooves of the master stamper can be checked.例文帳に追加

基準マークを確認しうる顕微鏡を回転テーブル６の４箇所の停止位置の１つに設けて、マスタースタンパの信号溝の外周端を観察できるようにする。 - 特許庁

To provide a cantilever holding mechanism which is suitable for an observation or the like in a liquid and by which a cantilever can be attached easily to a cantilever mounting base, and to provide a scanning probe microscope.例文帳に追加

液中観察などに適し、カンチレバをカンチレバ取付台に容易に取付けることができるカンチレバ保持機構および走査形プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A condenser lens telecentrically illuminating a sample surface, a field diaphragm, an aperture diaphragm and a diffusing means having action to diffuse illuminating light are provided in this optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡に、標本面をテレセントリックに照明するコンデンサレンズと視野絞りと開口絞りと照明光を拡散する働きをもつ拡散手段を設ける。 - 特許庁

To enhance both the near field light intensity and resolution in micro- opening type near field light emitting element, near field light recorder, and near field light microscope.例文帳に追加

微小開口型の近視野光発生素子、近視野光記録装置、および近視野光顕微鏡において、近視野光強度と解像度の両方を向上させること。 - 特許庁

To allow an optical microscope system to be switched to at least two observation methods such as bright field observation, dark field observation, and differential interference observation.例文帳に追加

例えば明視野観察、暗視野観察又は微分干渉観察などの光学顕微鏡系の観察法の少なくとも２種の観察法を切り替え可能とすること。 - 特許庁

In the support apparatus, a base body 31 which can be jointed to a microscope 10 installed on the installation face 9a of a vibration-absorbing table 9, is installed substantially perpendicular to the installation face 9a.例文帳に追加

除震台９の設置面９ａに設置される顕微鏡１０に結合可能なベース本体３１を、設置面９ａに対してほぼ垂直に設置する。 - 特許庁

The operating microscope comprises: a mirror body 4 for observing a part to be operated; at least one movable part; and a support means 6 for movably supporting the mirror body 4.例文帳に追加

術部を観察可能な鏡体４と、少なくとも１つの可動部を有し、鏡体４を移動可能に支持する支持手段６とを有する手術用顕微鏡。 - 特許庁

A processor device 12 is provided with a part identifying unit 57 for identifying the kind of a part to be observed based on special-light image data obtained by photographing with an electron microscope 11.例文帳に追加

プロセッサ装置１２に、電子内視鏡１１による撮影で得られた特殊光画像データに基づき、被観察部位の種類を判別する部位判別部５７を設ける。 - 特許庁

To provide a device for holding a medical equipment which does not prevent the visual field of an operation microscope also in various techniques and also which does not prevent the operation of an operating tool.例文帳に追加

本発明は、さまざまな術式においても、手術用顕微鏡の視野を妨げず、かつ術具操作も妨げない医療用器具保持装置を提供する。 - 特許庁

This microscope has a stage 101 for supporting the object 102a to be inspected, an objective lens 112 and a deflecting member 111 for making illumination light incident on the objective lens 112.例文帳に追加

被検物体１０２ａを支持するステージ１０１と、対物レンズ１１２と、対物レンズ１１２に照明光を入射させる偏向部材１１１とを有する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of rapidly correcting the positional deviation of a sample on an observation image, and a correction method for rapidly correcting the positional deviation of the sample on the observation image.例文帳に追加

観察画像上の試料の位置ずれ補正を速やかに行える顕微鏡、及び観察画像上の試料の位置ずれを速やかに補正する補正方法を提供する。 - 特許庁

When inspection of the inspectable range is finished, the non-inspectable range is moved under a movable range of the microscope unit 32, by moving a conveyance device 3, and then inspection is carried out.例文帳に追加

検査可能な範囲の検査が終了したら、搬送装置３を移動させて検査できない範囲を顕微鏡ユニット３２の可動範囲下に移動させ検査を実施する。 - 特許庁

To provide a method for preparing samples for transmission electron microscope observation and a sampling apparatus whereby extracted samples can be fixed in an arbitrary direction to a sample stage.例文帳に追加

摘出試料を任意の方向に向けて試料台に固定することが可能な透過電子顕微鏡観察用試料作製方法およびサンプリング装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope for surgical operation, where an appropriately bright surgical observation image is readily obtained even when the angle of light illuminating the eye for operation has been changed.例文帳に追加

被手術眼を照明する照明光の角度が変更されたときに、好適な明るさの観察像を容易に得ることができる手術用顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

In the defect inspection method, the surface of a wafer 7 is photographed by a differential interference microscope, and the number of defects observed on the surface is counted by image processing.例文帳に追加

ウェーハ７の表面を微分干渉顕微鏡で撮影し、画像処理によって表面に観察される欠陥の個数を計数する欠陥検査方法である。 - 特許庁

A corrected EBSD pattern is then calculated using the calculated trajectories, the corrected EBSD pattern representing the EBSD pattern if the microscope magnetic field were substantially absent.例文帳に追加

次に、計算された軌道を用いて、顕微鏡の磁場が実質的に存在しない場合のＥＢＳＤパターンを表現する、修正されたＥＢＳＤパターンが、計算される。 - 特許庁

In the obtained composite, the silica particles of 5-50 nm are uniformly dispersed in the observation of transmission electron microscope (TEM), and both bending and tensile strengths are remarkably improved.例文帳に追加

得られたコンポジットをＴＥＭで観察したところ５ｎｍ〜５０ｎｍのシリカ粒子が均一に分散しており、曲げ強度、引張強度とも大幅に向上した。 - 特許庁

Uniform illumination can be obtained by a simpler optical system than that in a conventional method of providing the illuminating light source 10 within a microscope, and accurate sample observation is possible.例文帳に追加

顕微鏡内に照明光源１０を備える従来の方法に比べて、単純な光学系で、明るい均一な照明が得られ、正確な試料観察ができる。 - 特許庁