「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(131ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a scanning probe electron microscope (SFM) facilitating a change of probes while dispensing with adjustment for positioning a deflection detector after a change of probe.例文帳に追加

プローブ交換を容易にするとともにプローブ交換後の偏向検出器の位置決めのための調節を不要にした走査型プローブ電子顕微鏡（ＳＦＭ）を提供する。 - 特許庁

To provide an imaging method capable of observing one fluorescent coloring matter molecule with high time resolving power, an imaging device therefor and a total reflection type fluorescence microscope using the imaging device.例文帳に追加

蛍光色素分子1個の観察を高時間分解能で可能にする画像化方法及び装置、並びに、それを用いた全反射型蛍光顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope for obtaining a quantitative image by detecting fluorescence from a sample in uniform conditions in each pixel period.例文帳に追加

各画素周期において均一な条件で標本からの蛍光を検出して、定量性のある画像を取得することができるレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This plate inspection device includes a control unit, a stage having a flat plate 32 for supporting a plate 2 having a plurality of holes 2a formed thereto and a microscope provided with the stage.例文帳に追加

プレート検査装置は、制御装置と、複数の孔２ａが形成されたプレート２を支持する平板３２を有するステージと、ステージが設けられた顕微鏡とを含んでいる。 - 特許庁

The microscope system 10 has a plurality of light emitting diodes 16, etc., ringed as a lighting means 14 for an observed body 13 and lights up the observed body from the outer circumferential side of a lens 10a.例文帳に追加

顕微鏡系１０は、被観察物１３の照明手段１４として、複数個の発光ダイオード１６・・・を環状にしてレンズ１０ａの外周側から照明する。 - 特許庁

The magnetic scanning/ positioning system with at least two items of degree of freedom can be used in the fields of a scanning probe microscope, data memory and imaging.例文帳に追加

少なくとも２つの自由度を有する磁気走査または位置決めシステムが、走査型プローブ顕微鏡の分野、またはデータ記憶若しくはイメージングの分野で使用され得る。 - 特許庁

The input section 141 of the light-receiving unit 140 is optically connected to the output port 113 of the microscope 110 via an optical fiber 153.例文帳に追加

受光ユニット１４０の入力部１４１は、光ファイバー１５３を介して、共焦点光学顕微鏡１１０の出力ポート１１３と光学的に接続される。 - 特許庁

To provide a sample table for an electron microscope causing no burying of a microstructure of a biological sample and damage of the sample, and having stable electric conductivity and surface roughness.例文帳に追加

生物試料の微細構造の埋没、試料損傷等の発生がなく、安定した導電性及び面精度を有する電子顕微鏡用試料台を提供する。 - 特許庁

SIGNAL DETECTION DEVICE, PROBE MICROSCOPE BY SIGNAL DETECTION DEVICE, AND SIGNAL DETECTION METHOD, OBSERVATION METHOD FOR OBSERVING SAMPLE SURFACE BY USING SIGNAL DETECTION METHOD例文帳に追加

信号検出装置、信号検出装置によるプローブ顕微鏡、及び信号検出方法、信号検出方法を用いてサンプル表面を観察する観察方法 - 特許庁

To easily manufacture a disk of high precision at a low cost and to achieve the miniaturization and cost reduction of a cell counting and observation apparatus of cells by an optical microscope using the disk.例文帳に追加

高精度なディスクの製作の容易化と低コスト化、該ディスクを用いた光学式顕微鏡による細胞の計数観察装置の小型化と低コスト化とを図る。 - 特許庁

As an observed area of the sample 3 is irradiated by the electron beam E1 during observation with a scanning electron microscope, the area is negatively charged.例文帳に追加

走査電子顕微鏡等を用いた観察時に、電子ビームＥ１が試料３の被観察領域に照射されるにつれて、当該被観察領域が負に帯電されていく。 - 特許庁

To provide a photoelectron multiplication system that is so structured as to be able to measure even an extremely weak optical signal with a structurally simple means; and to provide a microscope having the system.例文帳に追加

極めて微弱な光信号であっても構造的に単純な手段によって測定可能に構成された光電子増倍システム及び該システムを有する顕微鏡。 - 特許庁

An overall controller 9 computes an unfocused quantity from the movement of a microscope image caused by beam deflection, and commands to the power source of the object lens to deflect a focus distance.例文帳に追加

全体制御器９は、ビーム偏向による顕微鏡像の移動量から焦点はずれ量を計算し、焦点距離を偏向するように対物レンズ電源に指令する。 - 特許庁

To provide a microwave resonator and a microwave microscope which are improved in measurement accuracy by improving the signal-to-noise ratio, and can carry out measurements over a wide microwave bandpass.例文帳に追加

S/Nを高くして測定精度を向上させると共に、広いマイクロ波帯域にわたり測定が可能なマイクロ波共振器及びマイクロ波顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a noncontact interatomic force microscope that can solve a variation problem of the sensitivity of each probe in a multiprobe and allows accurately to observe a sample surface.例文帳に追加

マルチプローブにおける各プローブ毎の感度のばらつきの問題を解決し、サンプル表面を正確に観察することができる非接触型原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The cantilever 15 of a near-field Raman spectroscopic system 40 is the general cantilever of an atomic force microscope and includes the near-field probe 10 at the leading end of the free end.例文帳に追加

近接場ラマン分光システムのカンチレバー１５は、一般的な原子間力顕微鏡のカンチレバーであって、その自由端の先端に近接場プローブ１０を備えている。 - 特許庁

To enable the correction of black defect in which also the riverbed is not generated in the practical throughput by combining a defect correcting device using an ion beam and an atomic force microscope(AFM).例文帳に追加

イオンビームを用いた欠陥修正装置と原子間力顕微鏡(AFM)を組み合わせることで、実用的なスル−プットでリバーベッドも無い黒欠陥修正を可能にする。 - 特許庁

To prevent degradation of throughput in a scanning electron microscope having a function of imaging a defect on a semiconductor wafer and transferring a captured image to an external device.例文帳に追加

半導体ウェーハ上の欠陥を撮像し、撮像画像を外部装置へ転送する機能を有する走査型電子顕微鏡において、スループットの低下を防止する。 - 特許庁

To obtain an automatic tracking function and digitalized data of living cells and molecules in real time with a stage structure having a driving actuator equal to that of an existing stage under a microscope.例文帳に追加

顕微鏡下での、既製ステージと同等の駆動アクチュエータをもったステージ構造で、生きた細胞や分子のリアルタイムでの自動トラッキング機能および数値化データを得る。 - 特許庁

To provide an ion microscope having an ion beam with a spot size of 10 nm or less at a surface of a sample using a gas field ion source, and excellent in versatility and long term reliability.例文帳に追加

気体電界イオン源を用いて試料表面でスポットサイズ１０ｎｍ以下のイオンビームを有する汎用性、長器信頼性に優れたイオン顕微鏡を実現する。 - 特許庁

The observation mechanism is a laser device 10 for observation/marking provided with a mechanism for performing the observation by an optical microscope and the mechanism for performing the observation by irradiation with the laser for the observation.例文帳に追加

上記観察機構は、光学顕微鏡により観察する機構及び観察用レーザー照射して観察する機構を備えた観察／マーキング用レーザー装置１０である。 - 特許庁

To provide a TTL-mode scanning electron microscope capable of giving high resolution to a secondary electron image and effectively providing a reflected electron image with good contrast.例文帳に追加

二次電子像での高分解能化が可能であり、かつＴＴＬ方式の走査型電子顕微鏡にてコントラストの良い反射電子像を効果的に得ることが課題である。 - 特許庁

To surely detect an optimum focusing position as to a method and a device for adjusting an automatic optimum focusing of a transmission electron microscope.例文帳に追加

本発明は透過型電子顕微鏡の自動最適合焦点調整方法及び装置に関し、最適合焦点位置を確実に検出することを目的としている。 - 特許庁

To extract a frozen hydrated sample for TEM (transmission electron microscope) inspection, such as a vitrified biological sample, from a substrate and to attach the sample to a manipulator.例文帳に追加

ＴＥＭ（透過型電子顕微鏡）検査のために、例えばガラス化した生体サンプル等の凍結した含水サンプルを基板から抽出し、該サンプルをマニピュレータに取り付ける。 - 特許庁

COLOR CORRECTION METHOD AND APPARATUS FOR QUANTIFYING SYMPTOM OF CATARACT BASED ON COLOR IMAGE DATA OF EYE SUFFERING CATARACT TO BE EXAMINED AS ACQUIRED FROM SLIT LAMP MICROSCOPE例文帳に追加

細隙灯顕微鏡から取得された白内障被検眼のカラー画像データに基づき、白内障の症状を定量化するための色補正方法および装置 - 特許庁

To establish a scanning image signal acquiring method and provide a scan type electron microscope, capable of producing an accurate image with a high resolution without requiring any expensive, complicated vibrationproof mechanism.例文帳に追加

高価で複雑な除振機構を必要とせず、高い分解能で正確な像を得ることができる走査像信号取得方法および走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

The laser microscope has a laser unit 1, a scanner unit 8 connected to the laser unit 1 through a single mode fiber 7 and the spectroscope unit 24 positioned in the scanner unit 8.例文帳に追加

レーザ顕微鏡は、レーザユニット１と、シングルモードファイバ７を介してレーザユニット１と接続されたスキャナユニット８と、スキャナユニット８内に位置する分光ユニット２４を有している。 - 特許庁

To control electrification of a thin film phase plate, minimize the influence even when it is electrified, enhance the contrast in electron microscope image, and remove the distortion of an image.例文帳に追加

薄膜位相板において帯電を制御し、また帯電してもその影響を最小化して電子顕微鏡像のコントラストを高めかつ像の歪をとり除く。 - 特許庁

To provide a zoom microscope including an illumination optical system having compact and fixed constitution and for suppressing occurrence of vignetting and color irregularity at a wide magnification.例文帳に追加

広い倍率でケラレや色ムラの発生が抑制されたコンパクトで且つ固定された構成の照明光学系を備えたズーム顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁

The test piece can be observed without changing the electron beam irradiation condition to the test piece even when the acceleration voltage of a transmission electron beam microscope is changed.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の加速電圧を変化させた場合の、試料面上への電子線照射条件を変化させずに試料を観察することが可能となる。 - 特許庁

In this inspection method, an observation image of the electrode pad 10a through a transparent mounting substrate 10 by the differential interference microscope 1 is acquired as electronic image data.例文帳に追加

本発明に係る検査方法では、微分干渉顕微鏡１による、透明な実装基板１０を介した電極パッド１０ａの観察像を電子画像データとして得る。 - 特許庁

The laser microscope uses simultaneous absorption of three or more photons to cause molecular excitation in the target substance, yielding intrinsic three-dimensional resolution.例文帳に追加

レーザ走査顕微鏡は、３つ又はそれ以上の光子の同時吸収により、目的物における分子励起を生じさせて、内在的な３次元分解能をもたらす。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus having improved resolution by re-condensing light which has been divided after outgoing from an objective lens group by one imaging lens group.例文帳に追加

対物レンズ群を射出した後に分割された光を、１つの結像レンズ群により再集光させることで解像力を向上させた顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope which is applicable to various kinds of microscopes or observation methods, and is capable of conducting focusing precisely and efficiently.例文帳に追加

各種の顕微鏡あるいは観察方法に対して適用することができ、精密に効率良く焦点合わせを行うことのできる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide an illuminating system which enables obtaining of a bright microscopic image at all times to objective lenses from low magnification to high magnification and an inexpensive microscope, using the same.例文帳に追加

低倍率から高倍率の対物レンズに対して常に明るい顕微鏡画像を得ることの出来る照明装置と、それを用いた安価な顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

A regular lamella structure is constructed by evaluating a Maltese Cross image with a polarizing microscope in using the polysuflated chondroitin sulfate as the test article.例文帳に追加

偏光顕微鏡でマルターゼクロス像を評価することにより、被験物質として多硫酸化コンドロイチン硫酸を用いたとき、規則正しくラメラ構造を構築した。 - 特許庁

The processing progress is monitored by running the electron beam, and detecting secondary electrons generated from the object by a secondary electron detector to acquire an electron microscope image.例文帳に追加

また、電子ビームを走査させ、物体から発生した二次電子を二次電子検出器で検出し電子顕微鏡画像を取得して、加工の進行状況をモニタリングする。 - 特許庁

To provide a method for preparing a samaple for microscopic observation using a transmission type electron microscope facilitating the observation of a planar microstructure with a specific depth in a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイス等における特定深さの平面的な微細構造の観察を容易にする、透過型電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a medical microscope capable of irradiating excitation light corresponding to various fluorescent substances and capable of securely eliminating heat rays from illumination light.例文帳に追加

各種の蛍光物質に対応した励起光の照射が可能で且つ照明光から熱線を確実に除去することができる医療用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A biological sample 40 that responds to gravity is observed through a microscope objective lens 12 whose optical axis is so arranged as to be perpendicular to a gravity direction.例文帳に追加

重力に応答する生物試料４０を、その光軸が重力方向に垂直になるように配置された顕微鏡対物レンズ１２を介して観察する。 - 特許庁

To improve operability when adjustment on a display screen, sensitivity, amplification factor, or lightness, at observation of a sample of a scanning microscope system is observed.例文帳に追加

走査顕微鏡システムにおける標本を観察するときの感度、増幅度又は明るさをディスプレイ画面上において調整するときの操作性の向上を図る。 - 特許庁

This scanning electron microscope irradiates an electron beam to a sample while keeping pressure in a sample chamber not less than 1 Pa, and detects generated ions to display images of the sample.例文帳に追加

走査電子顕微鏡は、試料室圧力を１Ｐａ以上に保持して試料に電子線を照射し、発生するイオンを検出して試料像を表示する。 - 特許庁

The microscope has symmetrically disposed double UV irradiation apparatus 20a and 20b and irradiation beam routes 10a and 10b are guided by a deflector 21.例文帳に追加

対称的に配されたダブル紫外線照射装置２０ａ、２０ｂを有していて、照明ビーム経路１０ａ、１０ｂは結合偏向装置２１によって案内される。 - 特許庁

The length-measurement value for a measurement point which is measured with the scanning microscope is multiplied by the magnification correction factor to provide a true dimension (S109-S111).例文帳に追加

走査形電子顕微鏡によって測長された測定ポイントの測長値に前記倍率補正係数を掛けることによって真の寸法を求める（Ｓ１０９〜Ｓ１１１）。 - 特許庁

Therefore, the working position of the sample being positioned is accurately irradiated with an ion beam, and the sample with the desired cross section for an electron microscope can be produced.例文帳に追加

このため、位置決めされた試料加工位置にイオンビームが正確に照射され、所望の断面を有する電子顕微鏡用試料を作製することができる。 - 特許庁