「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(127ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a variable diaphragm capable of equalizing a light quantity in a view field observed through an imaging optics, and to provide a microscope having the variable diaphragm.例文帳に追加

結像光学系を介して観察される視野内の光量を均一にすることができる可変絞り及びこの可変絞りを有する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

When observing a sample in the container 14 with a microscope 11, an observer specifies the kind of the container 14 and wells to be observed on the container 14.例文帳に追加

顕微鏡１１で容器１４内の標本を観察する場合、観察者は、容器１４の種別と、その容器１４上の観察対象とするウェルを指定する。 - 特許庁

The microscope 1 lowly evaluates the contrast of an area having a color (color difference signal C) separated from a reference color (reference color difference signal CS) to be exhibited by the sample SP.例文帳に追加

このとき、顕微鏡１は、サンプルＳＰが呈すべき基準色（基準色差信号ＣＳ）から乖離する色（色差信号Ｃ）を有する領域のコントラストを低く評価する。 - 特許庁

The LPS is administered to gums outside the lower jaw grinder together with the subject substance or independently under the stereoscopic microscope and a bone density of the alveolar bone is measured.例文帳に追加

また、実体顕微鏡下において、マウスの下顎臼歯外側の歯肉に、ＬＰＳを被検物質と共に、又は単独で投与し歯槽骨の骨密度を測定する。 - 特許庁

To provide a microscope camera that enables optimum photographing by changing a quantity of illumination light/exposure time/camera gain in accordance with an amount of blur of an image of a subject.例文帳に追加

被写体の像のぶれ量に応じて、照明光量／露光時間／カメラゲインを変化させることにより、最適撮影を行うことができる顕微鏡カメラを提供する。 - 特許庁

In an imaging system 100, multiple regions of each physical slide of a microscope 12 are identified to define at least two focus z-positions z1, and z2.例文帳に追加

画像化システム１００では、顕微鏡１２のそれぞれの物理スライドに対して複数の領域を識別し、少なくとも２つの焦点ｚ位置ｚ１及びｚ２を定義する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam microscope which can obtain information about pattern materials and stereostructure without lowering throughput of pattern dimension measurement.例文帳に追加

パターン寸法計測のスループットを低下させることなくパターンの材料や立体構造に関する情報を得ることができる荷電粒子線顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To easily and stably obtain an observation image with high image quality while suppressing deterioration of a sample by increasing repetition frequency of ultrashort pulse light in a multiphoton microscope.例文帳に追加

多光子顕微鏡において、超短パルス光の繰り返し周波数を上げて試料の劣化を抑制するとともに、高画質の観察像を容易に安定して得る。 - 特許庁

To provide a fine pattern measuring method which accurately measures a sidewall angle of a fine pattern from an image obtained by a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡で得られる画像から微細パターンの側壁角度を精度良く測定することができる微細パターン測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an information processing apparatus and method, and a program, which prevents a viewer from oversight of an observation object with a microscope.例文帳に追加

観察者が顕微鏡での観察対象物の見落としを防止できるようにするための情報処理装置、情報処理方法及びそのプログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope, having an objective lens movable in the vertical direction, capable of focusing with reference to the distance between the objective lens and a stage and the height of the objective lens.例文帳に追加

対物レンズとステージとの間の距離調整と対物レンズの高さ位置を基準にしたフォーカスを可能にした対物レンズ上下動式の顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To obtain an observation image having higher image quality, when an optical element capable of controlling the amplitude and phase of light independently is used for a scanning microscope.例文帳に追加

光の振幅と位相を独立して制御可能な光学素子を走査型顕微鏡に用いる場合に、より画質のよい観察画像を得ることができるようにする。 - 特許庁

To provide a microscope capable of obtaining an excellent observation image of a sample even when a lens effect of a culture solution occurs in observing the sample in a culture container.例文帳に追加

培養容器中の試料を観察する際に培養液にレンズ効果が生じている場合でも、試料の良好な観察像を得ることが可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide: a stage control device that can improve efficiency of obtaining images of a sample without changing the depth of field; a stage control method; a stage control program; and a microscope.例文帳に追加

被写界深度を代えずに、サンプルに対する像の取得効率を向上させ得るステージ制御装置、ステージ制御方法、ステージ制御プログラム及び顕微鏡を提案する。 - 特許庁

To provide an interference objective lens which prevents dust or the like adhering to a reference mirror surface from being reflected in an image plane, and achieves excellent measurement, and a microscope device having the same.例文帳に追加

参照鏡面についたゴミなどが像面に映り込むのを防ぎ、良好な測定が可能な干渉対物レンズ及びこれを有する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting microorganisms by which the accurate autofocusing on a specimen by a microscope is achieved more easily than a conventional method.例文帳に追加

従来よりも容易に標本に対する正確なオートフォーカスを顕微鏡に実行させることができる微生物検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a confocal microscope for acquiring height information (e.g., ruggedness value) about a surface of a sample object to be observed, which is configured more easily and more inexpensively than in a conventional manner.例文帳に追加

観察する試料物体の表面の高さ情報（凹凸値など）を得るのに、従来に比べ、容易かつ安価に構成可能な共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope which can realize the best optical performance by exhibiting the effect of field stop to the maximum in various photographing conditions, and at the same time, is excellent in operability.例文帳に追加

種々の撮影条件において視野絞りの効果を最大限に発揮させて最良の光学性能を得ることができるとともに、操作性の良い顕微鏡の提供。 - 特許庁

An image-obtaining section 61 photographs an embryos set to a microscope as a sample with a camera in time series to obtain observation images, and supplies the obtained observation images to an observation section 62.例文帳に追加

画像取得部６１は、顕微鏡に標本として設置されている胚をカメラにより時系列に撮影した観察画像を取得し、観察部６２に供給する。 - 特許庁

Accordingly, the minute object can be manufactured by coupling together two members, such as nano-tube probe in the correct positional relationship, while enlarged photographing takes place in the electron microscope device.例文帳に追加

従って、電子顕微鏡装置内で拡大撮像しながら、ナノチューブプローブのように、２部材を正しい位置関係で相互に結合して微小物を製造できる。 - 特許庁

To provide a condenser lens and AF microscope that enables an AF unit to be used, even when there is no reflecting surface to reflect the AF light near the sample surface.例文帳に追加

ＡＦ光を反射する反射面が標本面近傍に無い場合でもＡＦ装置を利用可能にするコンデンサレンズと、ＡＦ顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

To obtain a scanning probe microscope capable of preventing the lowering of detection precision based on the relative positional relation of a laser beam source and the reflecting part of a cantilever, and to provide the cantilever.例文帳に追加

レーザ光源とカンチレバーにおける反射部の相対的な位置関係に基づく検出精度の低下を防止できる走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーを得る。 - 特許庁

In the infrared microscope, visible light 12 from a visible light source 11 and infrared light 22 from an FTIR 21 take optical paths which are vertical to each other and are made incident to a cold filter 1.例文帳に追加

本発明では、可視光源１１からの可視光１２とＦＴＩＲ２１からの赤外光２２は、互いに直角な光路をとり、コールドフィルター１に入射する。 - 特許庁

First, a wafer stage is moved so that design positions of respective alignment marks may be on the center of a visual field of an optical microscope, and the positions are measured in this status.例文帳に追加

初めに、各アライメントマークについて、その設計上の位置が光学顕微鏡の視野中心にくるようにウエハステージを移動させてその状態で測定を行う。 - 特許庁

To provide an imaging optical system, a microscope device and a stereomicroscope device which reduce feeling of fatigue of a viewer and allow for good stereoscopic observation of a specimen.例文帳に追加

観察者の疲労感を抑制し、被検物を立体的に良好に観察できるようにした結像光学系、顕微鏡装置及び実体顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

A CPU 201 gives an instruction to a memory reading/writing part 36, and makes removable media 35 record an image data file expressing a sample image obtained by using a microscope.例文帳に追加

ＣＰＵ２０１はメモリ読み出し書き込み部３６へ指示を与え、顕微鏡により得られる標本像を表わしている画像データファイルをリムーバブルメディア３５に記録させる。 - 特許庁

To provide a method and device which can achieve an improvement in video image processing rate and a reduction in compressing cost at the time of transmitting a live image obtained through a microscope through a digital network.例文帳に追加

ビデオ画像処理率の向上と、顕微鏡の生画像をデジタルネットワークを介して伝送する際の圧縮コストの低減を達成する方法および装置を提供する。 - 特許庁

To improve selectivity and image quality of sample information obtained from a secondary electronic signal in a method for observing structure and characteristics of a sample by an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡による試料の構造や特性を観察する方法において、２次電子信号で得られる試料情報の選択性と画質を向上させる。 - 特許庁

For pixels in a non-error region, information on a height of the part of the sample 1 expressed by the pixels is acquired based on information on the focal position of each microscope image.例文帳に追加

非エラー領域の画素については、該画素で表されている標本１の部位の高さの情報を、各顕微鏡画像の焦点位置の情報に基づき取得する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which is of low cost, easy to use, and can make it sufficiently small in size as can be put on, for example, a table in a classroom.例文帳に追加

安価で、使い易く、例えば教室のテーブル上に置くことのできる十分に小さな寸法とすることができる走査型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a stage positioning control apparatus capable of suppressing oscillation or drift of a stage loading and holding a wafer and capable of shortening positioning time in positioning control of the stage in an electron microscope apparatus.例文帳に追加

電子顕微鏡装置におけるステージの位置決め制御時において、ウェーハを搭載保持しているステージの振動やドリフトを抑えると共に、位置決め時間を短縮する。 - 特許庁

A light irradiation section 1 irradiates a mask M with exposure light, and an alignment microscope 10 receives a projection image of a mask mark MAM, and position coordinates of the projection image are found and stored.例文帳に追加

光照射部１からマスクＭに露光光を照射し、アライメント顕微鏡１０でマスクマークＭＡＭの投影像を受像し、その位置座標を求め記憶する。 - 特許庁

To provide an ultra-high resolution microscope capable of easily and accurately performing an optical adjustment of pumping light and erasing light, and capable of surely accomplishing ultra-high resolution effect.例文帳に追加

ポンプ光とイレース光との光学調整を簡単かつ正確に行うことができ、超解像効果を確実に発現できる超解像顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a near-field optical microscope capable of preventing a probe from being broken due to impacting on a sample and surely making the probe close to the sample in a short time.例文帳に追加

プローブの試料への衝突による破損を防ぎ、確実かつ短時間でプローブを試料に対して接近させることが可能な近接場光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a current mirror type biosensor by which a bio-related substance contained in a fluid for inspection is easily observed by optical observation equipment such as a microscope.例文帳に追加

顕微鏡などの光学観察機器によって被検査液体に含まれる生体関連物質を容易に観察することが可能なカレントミラー型バイオセンサを提供する。 - 特許庁

To provide a three-dimensional confocal microscope capable of preventing mechanical vibration from occurring in a scanning means in an optical axis direction and also performing scanning in the optical axis direction at high speed.例文帳に追加

光軸方向の走査手段に機械的振動の発生がなく、しかも高速に光軸方向の走査ができる３次元共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide an electron microscope, a pressure control method, and a program allowing observation of a specimen, after a pretreatment by a glow-discharge digging unit, without contaminating the specimen.例文帳に追加

グロー放電掘削部による前処理後の試料を汚染することなく観察することが可能な電子顕微鏡、圧力制御方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a moon grid specialized for three-dimensional observation by a transmission electron microscope which can effectively obtain three-dimensional images without perfoming a separate mark-attachment process.例文帳に追加

別途の標式付着工程を行なわないで効率的に３次元イメージを得ることができる透過電子顕微鏡３次元観察専用ムーングリッドを提供する。 - 特許庁

To provide a compact scanner system capable of acquiring XY-positional information without distortion and accurate Z-positional information, and a probe microscope unit using the scanner system.例文帳に追加

歪のないＸＹ位置情報とともに、正確なＺ位置情報を得ることが可能であるコンパクトなスキャナシステム、およびこれを用いたプローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide the characteristic of a confocal scanning type microscope design in which a high signal output and a high ratio between a signal and a noise are realized with a simple means.例文帳に追加

高い信号出力および高い信号対雑音比が簡素な手段を用いて実現される冒頭に述べた種類の顕微鏡設計の特性を備えることにある。 - 特許庁

Pattern data corresponding to a portion having a pattern formed thereon and background data corresponding to a background are detected from image data in an imaging area of an SEM(scanning electron microscope) 20.例文帳に追加

撮像領域におけるＳＥＭ２０画像デ−タのうち、パターンが形成された部分に対応するパタ−ンデ−タおよび背景に対応する背景デ−タを検出する。 - 特許庁

To obtain a probe microscope not causing the collision of a probe with a sample and high in operation speed and a data recording and reproducing apparatus.例文帳に追加

本発明は探針と試料の衝突が生じず、かつ動作速度の速いプローブ型顕微鏡及び情報記録再生装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an inexpensive scanning probe microscope fitted with a dynamic vibration reducer capable of accurately obtaining measuring data reduced in noise with high resolving power.例文帳に追加

ノイズを低減した測定データを正確に且つ高分解能に得ることが可能な低コストな動吸振器付き走査型プローブ顕微鏡及びその測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope constituted so that direct-viewing observation can be facilitated, in addition to the observation of an observation part through an objective optical system.例文帳に追加

本発明の目的は、対物光学系を介した観察部位の観察に加えて、直視での観察を容易に行い得る実体顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

In the scanning probe microscope, while keeping the physical quantities constant at the measuring parts, the sample surface is scanned by the probe by the moving mechanisms, to thereby measure the sample surface.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡では測定部で物理量を一定に保ちながら移動機構により探針で試料の表面を走査して試料の表面を測定する。 - 特許庁