「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(126ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a condenser lens for a microscope which secure a high numerical aperture (≥0.75) and a relatively long working distance (≥0.4f), while suppressing the aberrations of the visual field and aberrations of pupil.例文帳に追加

本発明の顕微鏡用コンデンサレンズは、視野の収差と瞳の収差とを抑えつつ、高開口数（０．７５以上）かつ比較的長い作動距離（０．４ｆ以上）を確保する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe for microscopic operation which is surely sterilizable and excellent in operability under a microscope and can provide an ultrasonic image of high resolution.例文帳に追加

滅菌を確保することが可能で、顕微鏡下での操作性に優れかつ高分解能の超音波画像を得られる顕微鏡下手術用超音波プローブを提供すること。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of automatically detecting a defect and observing high resolution without requiring to specify a defect position by using an inspection device in advance.例文帳に追加

予め検査装置を用いて欠陥位置を特定する必要なく、欠陥の検出及び高分解能観察を自動的に行うことのできる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a focusing device in which measuring range is expanded and measuring precision is improved using a simple structure and to provide a displacement sensor and a cofocusing microscope.例文帳に追加

簡単な構成で測定範囲を拡大したり、測定精度を高めたりすることができる合焦装置及び変位センサ並びに共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To enhance rigidity of XY slow motion mechanisms, to improve a scanning speed, and to miniaturize a device without narrowing a scanning area in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、走査領域を狭めることなく、XY微動機構の剛性を高め、走査速度の向上と装置の小型化をはかることを目的とする。 - 特許庁

A transmission type microscope 315 comprises an objective lens 306 and a cover glass 452 which is arranged between the objective lens 306 and a sample 307 and is formed of a negative refractive index medium 301.例文帳に追加

透過型顕微鏡３１５は、対物レンズ３０６と、標本３０７との間に配置され、負屈折率媒質３０１で形成されたカバーグラス４５２を有する。 - 特許庁

APPARATUS FOR MEASURING CRYSTALLOGRAPHIC ORIENTATION RELATIONSHIP OF ADJACENT CRYSTAL GRAINS USING GONIOMETER OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD OF EXAMINING CHARACTERISTICS OF GRAIN BOUNDARY USING THE SAME例文帳に追加

透過電子顕微鏡のゴニオメ−タを利用した隣り合う結晶粒の結晶学的方位関係測定装置及びそれによる結晶粒界の特性の糾明方法 - 特許庁

The inspection and repair system 1 comprises an optical microscope 11, an video image retrieval device 12, a photon detector 13, a data process controller 14, and a high energy beam generating device 15.例文帳に追加

検査修復システム１は、光学顕微鏡１１、映像取出し装置１２、光子検知器１３、データ処理コントローラ１４、及び高エネルギービーム発生装置１５を備える。 - 特許庁

A revolver dark field-lighting optical path R2 and an observation optical path R1 are ensured in the state where an objective lens optical axis coincides with a microscope optical path.例文帳に追加

対物レンズ光軸ＯＬと顕微鏡光軸ＲＬとが一致している状態ではレボルバ暗視野照明光路Ｒ２と観察光路Ｒ１とは確保されている。 - 特許庁

Other buttons (25 and 26) are also arranged on at least one of the side faces of the stand (1), and an objective lens for the microscope (10) is guided to an operating position by operating the buttons.例文帳に追加

さらなるボタン（２５、２６）が、スタンド（１）の側面の少なくとも一方に設けられ、該ボタンを使用することにより顕微鏡（１０）の対物レンズが動作位置に導入される。 - 特許庁

To provide a method for red-tuning the resonance frequency of a photonic crystal structure that includes a plurality of holes by using a near-field scanning optical microscope (NSOM) system.例文帳に追加

近接場走査型光学顕微鏡（ＮＳＯＭ）システムを用いて、複数のホールを有するフォトニック結晶構造の共振周波数を赤チューニングするための方法である。 - 特許庁

To provide a confocal scanning type microscope in which compensation is easily carried out in consideration of the field curvature of an objective lens when measuring various specimens.例文帳に追加

様々な試料を測定する際に、簡単に対物レンズの像面湾曲を考慮した補正をすることの出来る共焦点走査型顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The magnetite powder is obtained by reducing hematite and is characterized in that a layered uneven pattern having an interval of 5-80 μm is observed on the surface of each particle in an AFM (atomic force microscope) image.例文帳に追加

ＡＦＭ（原子間力顕微鏡）像において粒子表面に５〜８０ｎｍ間隔の層状凹凸模様が観察されるヘマタイトを還元してなるマグネタイトの粉末。 - 特許庁

The abrasive plane of a whetstone 10 is imaged at a measuring object position on the whetstone 10, by changing the focusing position of a microscope 40 with a camera stepwise in the direction perpendicular to the abrasive plane.例文帳に追加

砥石１０上の測定対象位置について、カメラ付き顕微鏡４０の焦点位置を砥面と垂直の方向にステップ的に可変しながら砥面を撮像する。 - 特許庁

To provide an objective lens adjustment mechanism for adjusting inclination between an optical light axis of an objective lens and an optical light axis of a microscope main body by simple structure.例文帳に追加

簡易な構成により、対物レンズの光学的光軸と顕微鏡本体の光学的光軸との間の傾きを調整する対物レンズの調整機構を提供する。 - 特許庁

Observation is carried out by means of an optical microscope 26 from an upper layer side by emitting illumination light from a lower layer side of the ceramic laminate at a position wherein the groove 19 is formed.例文帳に追加

溝１９が形成された位置で、セラミック積層体１３の下層側から照明光を照射して上層側から光学顕微鏡２６で観察する。 - 特許庁

The illumination system 8 of a slit-lamp microscope (stereomicroscope) 1 is turnable in right and left directions and projects illumination light passed through an illumination diaphragm 56 to an eye to be examined.例文帳に追加

細隙灯顕微鏡（実体顕微鏡）１の照明系８は、左右方向に回動可能とされ、照明絞り５６を経由した照明光を被検眼に投射する。 - 特許庁

An observed image of the phase-difference microscope is analyzed to regard as an optimum focus point the position where the sizes and number of images of an observed solid body are maximum.例文帳に追加

位相差顕微鏡の観測像を画像解析して、観測される個体の像影の大きさおよび像影の個数が最大となる位置を最適フォーカス位置とした。 - 特許庁

To provide a liquid immersion microscope apparatus designed so as to restrain soil from sticking to the surface of a substrate (a part which is in contact with a liquid) during liquid immersion observation.例文帳に追加

液浸観察時の基板の表面（液体との接触部分）における汚れの付着を抑制することができる液浸顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

To set an inspection area on an image of a substrate without the need for a microscope even when the image of the substrate does not show any feature of the substrate as a detailed appearance.例文帳に追加

基板画像に基板の特徴が詳細な外観として表れていなくても顕微鏡などを必要とせずに基板画像上に検査領域を設定する。 - 特許庁

To provide an inexpensive confocal microscope for which an operator need not set a Z range every time he or she changes an objective lens, and a scanning method.例文帳に追加

対物レンズを切替えても、操作者がＺ範囲を都度設定する必要が無く、且つ安価な共焦点顕微鏡及び走査方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an afocal zoom system capable of continuously changing the magnifications over a wide range, simultaneously increasing the resolution and the visual field in a microscope.例文帳に追加

顕微鏡において、広い範囲に亘って倍率を連続的に変化させ、同時に分解能と視野を大きくすることを可能とするアフォーカルズーム装置を提供する。 - 特許庁

While the position of the spot and the position of the spot of the liquid crystal display element 2 are compared by a monitor television 65 projecting the videos of a microscope 64, these positions are aligned in X-Y directions.例文帳に追加

スポットの位置と液晶表示素子２のスポットの位置とを顕微鏡64の映像を映したモニタテレビジョン65で比較しながら、ＸＹ方向の位置合わせする。 - 特許庁

To provide an incident-light fluorescent illumination device that achieves high illumination uniformity even when the pupil position of an objective lens is changed, and to provide a fluorescent microscope having the incident-light fluorescent illumination device.例文帳に追加

対物レンズの瞳位置が変化しても高い照明の均一性を実現する落射蛍光照明装置、及び、それを備えた蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a clear virtual slide as a whole by making a boundary between microscope images obtained adjacently inconspicuous even when an unevenness exists on an observation object.例文帳に追加

観察対象に起伏が存在しても、隣接して取得された顕微鏡画像間の境界を目立たなくして、全体として鮮明なバーチャルスライドを作成する。 - 特許庁

To provide a laser microscope apparatus which can extend adjustment width of frequency difference of two pulse laser beams and can obtain coherent anti-Stokes Raman scattering light with high strength.例文帳に追加

２つのパルスレーザ光の周波数差の調整幅を広げることができ、強度の高いコヒーレントアンチストークスラマン散乱光を得ることができるレーザ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope with which a quantitative element image with high S/N and an electron beam energy loss spectrum with high energy accuracy and high energy resolution can be measured.例文帳に追加

本発明の目的は、高Ｓ／Ｎで定量的な元素像や、エネルギー精度やエネルギー分解能の高い電子線エネルギー損失スペクトルを計測することに関する。 - 特許庁

To provide a microscope which can obtain a satisfactory observation image by adequately ensuring a quantity of light around a visual field for observation without increasing the size of an objective lens.例文帳に追加

対物レンズの大型化を招くことなく、観察視野周辺の光量を十分に確保でき、良好な観察画像を得ることが可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a variable diaphragm capable of equalizing a light quantity in a view field observed through an imaging optics, and to provide a microscope having the variable diaphragm.例文帳に追加

結像光学系を介して観察される視野内の光量を均一にすることができる可変絞り及びこの可変絞りを有する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

When observing a sample in the container 14 with a microscope 11, an observer specifies the kind of the container 14 and wells to be observed on the container 14.例文帳に追加

顕微鏡１１で容器１４内の標本を観察する場合、観察者は、容器１４の種別と、その容器１４上の観察対象とするウェルを指定する。 - 特許庁

The microscope 1 lowly evaluates the contrast of an area having a color (color difference signal C) separated from a reference color (reference color difference signal CS) to be exhibited by the sample SP.例文帳に追加

このとき、顕微鏡１は、サンプルＳＰが呈すべき基準色（基準色差信号ＣＳ）から乖離する色（色差信号Ｃ）を有する領域のコントラストを低く評価する。 - 特許庁

The LPS is administered to gums outside the lower jaw grinder together with the subject substance or independently under the stereoscopic microscope and a bone density of the alveolar bone is measured.例文帳に追加

また、実体顕微鏡下において、マウスの下顎臼歯外側の歯肉に、ＬＰＳを被検物質と共に、又は単独で投与し歯槽骨の骨密度を測定する。 - 特許庁

To provide a microscope camera that enables optimum photographing by changing a quantity of illumination light/exposure time/camera gain in accordance with an amount of blur of an image of a subject.例文帳に追加

被写体の像のぶれ量に応じて、照明光量／露光時間／カメラゲインを変化させることにより、最適撮影を行うことができる顕微鏡カメラを提供する。 - 特許庁

In an imaging system 100, multiple regions of each physical slide of a microscope 12 are identified to define at least two focus z-positions z1, and z2.例文帳に追加

画像化システム１００では、顕微鏡１２のそれぞれの物理スライドに対して複数の領域を識別し、少なくとも２つの焦点ｚ位置ｚ１及びｚ２を定義する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam microscope which can obtain information about pattern materials and stereostructure without lowering throughput of pattern dimension measurement.例文帳に追加

パターン寸法計測のスループットを低下させることなくパターンの材料や立体構造に関する情報を得ることができる荷電粒子線顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To easily and stably obtain an observation image with high image quality while suppressing deterioration of a sample by increasing repetition frequency of ultrashort pulse light in a multiphoton microscope.例文帳に追加

多光子顕微鏡において、超短パルス光の繰り返し周波数を上げて試料の劣化を抑制するとともに、高画質の観察像を容易に安定して得る。 - 特許庁

To provide a fine pattern measuring method which accurately measures a sidewall angle of a fine pattern from an image obtained by a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡で得られる画像から微細パターンの側壁角度を精度良く測定することができる微細パターン測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an information processing apparatus and method, and a program, which prevents a viewer from oversight of an observation object with a microscope.例文帳に追加

観察者が顕微鏡での観察対象物の見落としを防止できるようにするための情報処理装置、情報処理方法及びそのプログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope, having an objective lens movable in the vertical direction, capable of focusing with reference to the distance between the objective lens and a stage and the height of the objective lens.例文帳に追加

対物レンズとステージとの間の距離調整と対物レンズの高さ位置を基準にしたフォーカスを可能にした対物レンズ上下動式の顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To obtain an observation image having higher image quality, when an optical element capable of controlling the amplitude and phase of light independently is used for a scanning microscope.例文帳に追加

光の振幅と位相を独立して制御可能な光学素子を走査型顕微鏡に用いる場合に、より画質のよい観察画像を得ることができるようにする。 - 特許庁

To provide a microscope capable of obtaining an excellent observation image of a sample even when a lens effect of a culture solution occurs in observing the sample in a culture container.例文帳に追加

培養容器中の試料を観察する際に培養液にレンズ効果が生じている場合でも、試料の良好な観察像を得ることが可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide: a stage control device that can improve efficiency of obtaining images of a sample without changing the depth of field; a stage control method; a stage control program; and a microscope.例文帳に追加

被写界深度を代えずに、サンプルに対する像の取得効率を向上させ得るステージ制御装置、ステージ制御方法、ステージ制御プログラム及び顕微鏡を提案する。 - 特許庁

To provide an interference objective lens which prevents dust or the like adhering to a reference mirror surface from being reflected in an image plane, and achieves excellent measurement, and a microscope device having the same.例文帳に追加

参照鏡面についたゴミなどが像面に映り込むのを防ぎ、良好な測定が可能な干渉対物レンズ及びこれを有する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting microorganisms by which the accurate autofocusing on a specimen by a microscope is achieved more easily than a conventional method.例文帳に追加

従来よりも容易に標本に対する正確なオートフォーカスを顕微鏡に実行させることができる微生物検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a confocal microscope for acquiring height information (e.g., ruggedness value) about a surface of a sample object to be observed, which is configured more easily and more inexpensively than in a conventional manner.例文帳に追加

観察する試料物体の表面の高さ情報（凹凸値など）を得るのに、従来に比べ、容易かつ安価に構成可能な共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁