「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(126ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a scanning type confocal laser microscope by which an exact observation image is acquired even in an observation specimen containing transmissive substance through which a laser beam is transmitted.例文帳に追加

レーザ光を透過する透過物質を含む観察試料に対しても正確な観察画像を取得できる走査型共焦点レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Light emitted from the light source 100 is made incident on an optical fiber 202 after passing through an incident lens unit 200 and is guided to a microscope 300 by the optical fiber 202.例文帳に追加

光源１００から出射した光は入射レンズユニット２００を通過後，光ファイバ２０２に入射し，光ファイバ２０２により顕微鏡３００まで導光される。 - 特許庁

To obtain an immersion system condenser lens for a microscope whose spherical aberration is completely corrected even when NA is ≥1.4 so as to realize total reflection illumination.例文帳に追加

顕微鏡用液浸系コンデンサーレンズであって、全反射照明を可能にするために、ＮＡが１．４以上であっても十分に球面収差が補正されるようにする。 - 特許庁

In this substrate inspection device 1, a microscope unit 32 is loaded movably on a guide member 30 parallel to the X-direction which is a conveyance direction of a substrate W.例文帳に追加

基板検査装置１は、基板Ｗの搬送方向であるＸ方向に平行なガイド部材３０に顕微鏡ユニット３２が移動自在に搭載されている。 - 特許庁

To provide a sample-attaching and detaching mechanism of a sample- forming apparatus for an electron microscope which can safely and easily set or take out samples to a sample holder.例文帳に追加

安全かつ容易に、試料ホルダへ試料をセット又は取り出すことが可能な電子顕微鏡用試料作成装置の試料着脱機構を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a scan microscope securing coupling without loss and aberration for the inside of an adaptive optical system illumination optical path and/or the inside of a detection optical path.例文帳に追加

走査顕微鏡を、適応光学系の照明光路内及び、又は検出光路内への、損出のない、収差のない結合が保証されるように改良する。 - 特許庁

To provide a sample stage which stabilizes a sample position during sample observation and can smoothly move a sample and a microscope or measuring instrument using this sample stage.例文帳に追加

試料観察時には試料位置が安定し、かつ試料をスムーズに移動できる試料ステージ及びその試料ステージを用いた顕微鏡又は測定器を提供すること。 - 特許庁

The operation is performed by use of the scanning probe microscope including a probe the surface of which is modified with the biological relevant substance and a mechanism for detecting a generated heat.例文帳に追加

探針の表面が生体関連物質で修飾され、かつ、発生した熱量を検出する機構を有する走査型プローブ顕微鏡を用いて上記の操作を行う。 - 特許庁

To provide a confocal microscope device capable of obtaining both of the fluorescent image and bright-field image of a cell by one and the same camera, with simple structure.例文帳に追加

簡易な構造により、同じカメラで、細胞の蛍光画像と明視野画像の両方を取得できる共焦点顕微鏡装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

In order to solve the problems, a device is proposed in which a prescribed treatment is carried out by a line as a unit (scanning line as a unit) when an image is processed in a scanning electron microscope.例文帳に追加

上記課題を解決するために、走査電子顕微鏡の画像処理に際し、ライン単位（走査線単位）で所定の処理を実施する装置を提案する。 - 特許庁

The image is read by a camera (20) during the relative motion and a microscope controller (4) and a computer (6) are disposed for the purpose of evaluating and determining the focal position.例文帳に追加

画像が相対運動中にカメラ（２０）によって読み込まれ、顕微鏡制御装置（４）およびコンピュータ（６）が、焦点位置の評価および決定のために設けられる。 - 特許庁

To perform position alignment of a mask and a work piece by detecting two alignment marks located outside the depth of focus range without moving an alignment microscope in an optical axis direction.例文帳に追加

アライメント顕微鏡を光軸方向に移動させることなく、焦点深度範囲外にある２つのアライメントマークを検出しマスクとワークの位置合せをすること。 - 特許庁

To provide a resolution evaluation chart for a fluorescence microscope which is capable of coping with a light source having a wide wavelength region and is continuously usable, and a method of manufacturing the chart.例文帳に追加

幅広い波長領域の光源に対応でき継続的に使用可能な蛍光顕微鏡用解像度評価チャートおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a multiphoton laser microscopy for achieving depth of visual field resolution that is comparable to one brought about by confocal laser scanning microscope, and also for reducing toxicity of both photobleaching and light.例文帳に追加

共焦点レーザ走査顕微鏡によりもたらされるものに匹敵する視野分解能の深度を与え、更に、光漂白及び光の有毒性を減少させる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of measuring the shape and the property of the sample surface by preventing growth of ice on the sample surface at the sample cooling time.例文帳に追加

試料冷却時に試料面の氷の成長を防止して試料面の形状、及び物性を測定することを可能とする走査型プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning capacitance microscope(SCM) with which a p-n junction position in a semiconductor sample can be specified with high detection sensitivity and to provide a measuring method using the SCM.例文帳に追加

半導体試料中のｐ−ｎ接合位置を高い検出感度で特定できる走査型容量顕微鏡（ＳＣＭ）とそれを用いた測定方法を提供する。 - 特許庁

Alternatively, inclination of the process surface is corrected to the opposite direction by a biaxial tilt stage provided in the atomic force microscope scanner system so as to flatten the processed figure.例文帳に追加

もしくは加工面の傾きを原子間力顕微鏡スキャナー側に設けた2軸チルトステージで反対方向に補正することで加工形状が平らになるようにする。 - 特許庁

Since the line-and-space pattern P is a periodical pattern, it has high visibility for visual check with an optical microscope, and the region for inspection of defects can be defined.例文帳に追加

さらに、ラインアンドスペースパターンＰは、周期パターンであるため、光学顕微鏡を使って目視した場合に視認性が高く、欠陥検査領域を明確にすることができる。 - 特許庁

When measuring a positional relationship between a first lot wafer and a reticle, a reticle microscope is focused (step 412), and its state is stored (step 414).例文帳に追加

ロット先頭のウエハとレチクルとの位置関係の計測を行うに際して、レチクル顕微鏡の合焦動作を行い（ステップ４１２）、その状態を記憶する（ステップ４１４）。 - 特許庁

To provide a condenser lens for a microscope which secure a high numerical aperture (≥0.75) and a relatively long working distance (≥0.4f), while suppressing the aberrations of the visual field and aberrations of pupil.例文帳に追加

本発明の顕微鏡用コンデンサレンズは、視野の収差と瞳の収差とを抑えつつ、高開口数（０．７５以上）かつ比較的長い作動距離（０．４ｆ以上）を確保する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe for microscopic operation which is surely sterilizable and excellent in operability under a microscope and can provide an ultrasonic image of high resolution.例文帳に追加

滅菌を確保することが可能で、顕微鏡下での操作性に優れかつ高分解能の超音波画像を得られる顕微鏡下手術用超音波プローブを提供すること。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of automatically detecting a defect and observing high resolution without requiring to specify a defect position by using an inspection device in advance.例文帳に追加

予め検査装置を用いて欠陥位置を特定する必要なく、欠陥の検出及び高分解能観察を自動的に行うことのできる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a focusing device in which measuring range is expanded and measuring precision is improved using a simple structure and to provide a displacement sensor and a cofocusing microscope.例文帳に追加

簡単な構成で測定範囲を拡大したり、測定精度を高めたりすることができる合焦装置及び変位センサ並びに共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To enhance rigidity of XY slow motion mechanisms, to improve a scanning speed, and to miniaturize a device without narrowing a scanning area in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、走査領域を狭めることなく、XY微動機構の剛性を高め、走査速度の向上と装置の小型化をはかることを目的とする。 - 特許庁

A transmission type microscope 315 comprises an objective lens 306 and a cover glass 452 which is arranged between the objective lens 306 and a sample 307 and is formed of a negative refractive index medium 301.例文帳に追加

透過型顕微鏡３１５は、対物レンズ３０６と、標本３０７との間に配置され、負屈折率媒質３０１で形成されたカバーグラス４５２を有する。 - 特許庁

APPARATUS FOR MEASURING CRYSTALLOGRAPHIC ORIENTATION RELATIONSHIP OF ADJACENT CRYSTAL GRAINS USING GONIOMETER OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD OF EXAMINING CHARACTERISTICS OF GRAIN BOUNDARY USING THE SAME例文帳に追加

透過電子顕微鏡のゴニオメ−タを利用した隣り合う結晶粒の結晶学的方位関係測定装置及びそれによる結晶粒界の特性の糾明方法 - 特許庁

The inspection and repair system 1 comprises an optical microscope 11, an video image retrieval device 12, a photon detector 13, a data process controller 14, and a high energy beam generating device 15.例文帳に追加

検査修復システム１は、光学顕微鏡１１、映像取出し装置１２、光子検知器１３、データ処理コントローラ１４、及び高エネルギービーム発生装置１５を備える。 - 特許庁

A revolver dark field-lighting optical path R2 and an observation optical path R1 are ensured in the state where an objective lens optical axis coincides with a microscope optical path.例文帳に追加

対物レンズ光軸ＯＬと顕微鏡光軸ＲＬとが一致している状態ではレボルバ暗視野照明光路Ｒ２と観察光路Ｒ１とは確保されている。 - 特許庁

Other buttons (25 and 26) are also arranged on at least one of the side faces of the stand (1), and an objective lens for the microscope (10) is guided to an operating position by operating the buttons.例文帳に追加

さらなるボタン（２５、２６）が、スタンド（１）の側面の少なくとも一方に設けられ、該ボタンを使用することにより顕微鏡（１０）の対物レンズが動作位置に導入される。 - 特許庁

To provide a method for red-tuning the resonance frequency of a photonic crystal structure that includes a plurality of holes by using a near-field scanning optical microscope (NSOM) system.例文帳に追加

近接場走査型光学顕微鏡（ＮＳＯＭ）システムを用いて、複数のホールを有するフォトニック結晶構造の共振周波数を赤チューニングするための方法である。 - 特許庁

To provide a confocal scanning type microscope in which compensation is easily carried out in consideration of the field curvature of an objective lens when measuring various specimens.例文帳に追加

様々な試料を測定する際に、簡単に対物レンズの像面湾曲を考慮した補正をすることの出来る共焦点走査型顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The magnetite powder is obtained by reducing hematite and is characterized in that a layered uneven pattern having an interval of 5-80 μm is observed on the surface of each particle in an AFM (atomic force microscope) image.例文帳に追加

ＡＦＭ（原子間力顕微鏡）像において粒子表面に５〜８０ｎｍ間隔の層状凹凸模様が観察されるヘマタイトを還元してなるマグネタイトの粉末。 - 特許庁

The abrasive plane of a whetstone 10 is imaged at a measuring object position on the whetstone 10, by changing the focusing position of a microscope 40 with a camera stepwise in the direction perpendicular to the abrasive plane.例文帳に追加

砥石１０上の測定対象位置について、カメラ付き顕微鏡４０の焦点位置を砥面と垂直の方向にステップ的に可変しながら砥面を撮像する。 - 特許庁

To provide an objective lens adjustment mechanism for adjusting inclination between an optical light axis of an objective lens and an optical light axis of a microscope main body by simple structure.例文帳に追加

簡易な構成により、対物レンズの光学的光軸と顕微鏡本体の光学的光軸との間の傾きを調整する対物レンズの調整機構を提供する。 - 特許庁

Observation is carried out by means of an optical microscope 26 from an upper layer side by emitting illumination light from a lower layer side of the ceramic laminate at a position wherein the groove 19 is formed.例文帳に追加

溝１９が形成された位置で、セラミック積層体１３の下層側から照明光を照射して上層側から光学顕微鏡２６で観察する。 - 特許庁

To provide a foreign matter checking method for checking foreign matter of a material to be checked such as a resin piece by a checking device such as a microscope.例文帳に追加

本発明は、樹脂片などの被検査資料側の異物などを顕微鏡などの検査装置によって検査する異物検査方法を提供せんとするものである。 - 特許庁

This system integrates microscope modules such as objective lenses, tube lenses, and a zoom optics to reduce the number of components and simplify the manufacturing processes of the system.例文帳に追加

このシステムは、部品点数を削減し、システムの製造プロセスを簡単化するため、対物レンズ、チューブレンズ及びズーム光学系のような顕微鏡モジュールを統合する。 - 特許庁

MICROPLATE HAVING PERIODIC STRUCTURE, SURFACE PLASMON EXCITATION ENHANCED FLUORESCENCE MICROSCOPE USING THE SAME, FLUORESCENCE MICROPLATE READER, AND METHOD OF DETECTING SPECIFIC ANTIGEN/ANTIBODY REACTION例文帳に追加

周期構造を有するマイクロプレート、並びに、それを用いた表面プラズモン励起増強蛍光顕微鏡、蛍光マイクロプレートリーダーおよび特異的な抗原抗体反応の検出方法 - 特許庁

The illumination system 8 of a slit-lamp microscope (stereomicroscope) 1 is turnable in right and left directions and projects illumination light passed through an illumination diaphragm 56 to an eye to be examined.例文帳に追加

細隙灯顕微鏡（実体顕微鏡）１の照明系８は、左右方向に回動可能とされ、照明絞り５６を経由した照明光を被検眼に投射する。 - 特許庁

An observed image of the phase-difference microscope is analyzed to regard as an optimum focus point the position where the sizes and number of images of an observed solid body are maximum.例文帳に追加

位相差顕微鏡の観測像を画像解析して、観測される個体の像影の大きさおよび像影の個数が最大となる位置を最適フォーカス位置とした。 - 特許庁

To provide a liquid immersion microscope apparatus designed so as to restrain soil from sticking to the surface of a substrate (a part which is in contact with a liquid) during liquid immersion observation.例文帳に追加

液浸観察時の基板の表面（液体との接触部分）における汚れの付着を抑制することができる液浸顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

To set an inspection area on an image of a substrate without the need for a microscope even when the image of the substrate does not show any feature of the substrate as a detailed appearance.例文帳に追加

基板画像に基板の特徴が詳細な外観として表れていなくても顕微鏡などを必要とせずに基板画像上に検査領域を設定する。 - 特許庁

To provide an inexpensive confocal microscope for which an operator need not set a Z range every time he or she changes an objective lens, and a scanning method.例文帳に追加

対物レンズを切替えても、操作者がＺ範囲を都度設定する必要が無く、且つ安価な共焦点顕微鏡及び走査方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an afocal zoom system capable of continuously changing the magnifications over a wide range, simultaneously increasing the resolution and the visual field in a microscope.例文帳に追加

顕微鏡において、広い範囲に亘って倍率を連続的に変化させ、同時に分解能と視野を大きくすることを可能とするアフォーカルズーム装置を提供する。 - 特許庁

While the position of the spot and the position of the spot of the liquid crystal display element 2 are compared by a monitor television 65 projecting the videos of a microscope 64, these positions are aligned in X-Y directions.例文帳に追加

スポットの位置と液晶表示素子２のスポットの位置とを顕微鏡64の映像を映したモニタテレビジョン65で比較しながら、ＸＹ方向の位置合わせする。 - 特許庁