「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(124ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inexpensive high-performance illuminator which can be mounted on an inspection device such as a microscope as an illuminator using a fly-eye lens.例文帳に追加

フライアイレンズ用いた照明装置であって、顕微鏡等の検査装置に搭載することができる高性能で安価な照明装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which facilitates installation of a beam splitter and a reflecting mirror and makes it possible to obtain a sharp image of a sample.例文帳に追加

ビームスプリッタと反射ミラーの設置を容易に行い、試料の鮮明な画像を得ることが可能な共焦点顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a small, light and maneuverable microscope for a surgical operation of which the balance can be maintained when a vertical movement range exceeds the prescribed quantity.例文帳に追加

小型および軽量で、鉛直動範囲が所定の量よりも大きくなったときにバランスが取られる操作性の良い手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a laser microscope device capable of improving image quality by removing a non-resonance component, while suppressing complication of device constitution.例文帳に追加

装置構成の複雑化を抑制しつつ、非共鳴成分を除去して画質を向上させることができるレーザ顕微鏡装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a scan type optical microscope using a wavefront converting element which less deteriorates in imaging performance even when a position in the direction of an optical axis where light is condensed on an object is changed.例文帳に追加

物体に集光する光軸方向の位置を変更しても結像性能の劣化が少ない波面変換素子を用いた走査型光学顕微鏡。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of highly accurately measuring by selecting the optimum measuring environment according to a measuring condition.例文帳に追加

測定条件によって最適な測定環境を選択することで、より精度の高い測定を可能とする走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a compact light source device for lighting of an optical equipment such as an optical microscope and a CCD camera that is capable of freely inserting from the outside of the equipment.例文帳に追加

光学顕微鏡、ＣＣＤカメラ等の光学機器照明用で、機器の外部から嵌装自在のコンパクトな光源装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a confocal scanning microscope for suppressing a fluctuation although a movement step is large in a z direction.例文帳に追加

本発明は、Ｚ方向の移動ステップ量を大きくしても、ばらつきを抑えることができる共焦点走査型顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁

To extend a lifetime of a working probe used for a mechanical removal process with an atomic force microscope and to reduce a drift in a probe position during working.例文帳に追加

原子間力顕微鏡による機械的な除去加工で加工用の探針の寿命を延ばし、加工中の探針位置のドリフトの低減を実現する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its measuring method for utilizing a gradient method and automatically measuring a sidewall.例文帳に追加

傾斜法を利用して側壁等を測定する方法で自動的な計測を行うことができる走査型プローブ顕微鏡およびその計測方法を提供する。 - 特許庁

To improve convenience and an observation environment when observing a specimen by use of a microscope which includes a stand and a body attachable to or detachable from the stand.例文帳に追加

スタンドと、スタンドに着脱可能な本体とからなる顕微鏡を用いて試料を観察する場合に、利便性および観察環境を向上させる。 - 特許庁

To provide a variable magnification operation microscope which detects a deep image of an object's region using an OCT scanning light path is configured compactly.例文帳に追加

ＯＣＴ走査光路による物体領域の深部像の検出が可能で、拡大率が可変でコンパクトに構成された手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The electron gun system of a microscope can be adjusted onto the axis of the condenser lens system by tilting and shifting the deflection system of the gun. 例文帳に追加

(電子)顕微鏡の電子銃系は、電子銃の偏向系を傾けたりずらしたりすることによって、コンデンサレンズ系の軸上に調整できる。 - 科学技術論文動詞集

The test piece observation method includes a process to set a contour line or a plurality of points located on the contour line on an image of an electron microscope and a process to arrange a plurality of fields of vision of the electron microscope along the contour line, and a device to achieve the observation method is provided.例文帳に追加

上記目的を達成するために、以下に電子顕微鏡像上にて輪郭線、或いは当該輪郭上に位置する複数の点を設定する行程と、当該輪郭線に沿って電子顕微鏡の複数の視野を配列する行程を備えた試料観察方法、及び当該方法を実現するための装置を提案する。 - 特許庁

A resolution evaluation chart 11 for a fluorescence microscope includes: a substrate 12 which is optically smooth to illumination light of a fluorescence microscope; and a light-emitting part (area excluding non-emitting parts 14,16,18) having a two-dimensional structure which is formed on the substrate 12 and includes quantum dots which are excited by illumination light to emit light.例文帳に追加

蛍光顕微鏡用解像度評価チャート１１は、蛍光顕微鏡の照明光に対して光学的に平滑な基板１２と、基板１２上に形成され、照明光により励起され発光する量子ドットを含む、２次元構造を有する発光部（非発光部分１４，１６，１８を除いた部分）とを備える。 - 特許庁

This microscopic observation device is constituted of a monitor display to the ocular part of a microscope through an image sensor displays the low-magnification image 220 as part of the high-magnification image 210 from the objective part of the microscope and the low-magnification image 220 is thus embedded to obtain superior usability.例文帳に追加

かゝる本発明は、顕微鏡の接眼部にイメージセンサを介してモニター・ディスプレイを接続した顕微観察装置において、顕微鏡の対物部からの高倍率画像２１０の一部に低倍率画像２２０を表示させる顕微観察装置にあり、この低倍率画像２２０の組み込みによって、優れた使い勝手が得られる。 - 特許庁

The resolution evaluating chart for the fluorescent microscope to be used for evaluating the imaging performance of the fluorescence microscope comprises a luminescent thin film 2 containing a fluorescent material, formed on a substrate 1 with a luminescence center and a non-luminescent portion 3 formed on the luminescent thin film 2 by destroying the luminescence center.例文帳に追加

蛍光顕微鏡の結像性能を評価するのに用いる蛍光顕微鏡用解像度評価チャートであって、基板１上に形成された発光中心を持つ蛍光材料を含有する発光薄膜２と、この発光薄膜２に発光中心を破壊して形成された非発光部分３とを有する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for putting a defect of an observational object in a view of an electron microscope, etc. without failure, and further making a scale of the apparatus small, in the method and the apparatus for observing the defect detected by an optical foreign matter inspection device or an optical visual inspection device with the electron microscope in detail.例文帳に追加

光学式異物検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡で詳細に観察する方法およびその装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ、装置規模を小さくできる方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

The microscope is constituted in such a manner that a sample mounting stand 21 covered with a conductive coating film 213 on the peripheral wall is fitted freely attachably and detachably to an attachment part 161 on the base 16 of a microscope main body 10 and the conductive coating film 213 of the sample mounting stand 21 is pressed against the base 16 and is held by using a plate spring member 23.例文帳に追加

周壁に導電性被膜２１３が被着された試料載置台２１を、顕微鏡本体１０のベース１６の取付部１６１に着脱自在に嵌装して、この試料載置台２１の導電性被膜２１３をベース１６に対して板ばね部材２３を用いて圧接して保持するように構成したものである。 - 特許庁

By this method, the stage movable range is set in accordance with the inspecting range of the object to be inspected, and the stage is inhibited from moving outside the range, so that the visual field range of the microscope is prevented from moving outside the inspecting range of the object to be inspected, and the operability is improved even though the microscope is operated in the case of the observation with high magnification.例文帳に追加

上記発明によれば、被検査物の検査範囲に応じて、ステージの可動範囲が設定され、その範囲外への移動が禁止されるので、高倍率で観察しながら操作しても、顕微鏡の視野範囲が被検査物の検査範囲外に移動することが防止され、操作性を向上させることができる。 - 特許庁

In an analytical method for a crystal grain orientation, for each of plural areas of an electron microscope image, Fourier transformation is performed to generate a Fourier image (S16), intensity of the Fourier image with respect to an angle is calculated (S18), and a crystalline domain in the electron microscope image is analyzed based on the intensity (S26).例文帳に追加

電子顕微鏡像の複数の領域それぞれについてフーリエ変換を行なうことによりフーリエ像を生成し（Ｓ１６）、前記フーリエ像の角度に対する強度を演算し（Ｓ１８）、前記強度に基づいて、前記電子顕微鏡像内の結晶性ドメインを分析する（Ｓ２６）結晶粒方位の分析方法。 - 特許庁

The asbestos detection device includes a microscope 14 for observing the fibrous material contained in a sample, a camera 16 for capturing the observed image by the microscope 14 and for output of image data, an image analyzing apparatus 18 for acquiring the image data and conducting a prescribed image processing, and a terminal device 20 for output of asbestos detection results.例文帳に追加

試料に含まれる繊維状物質を観察する顕微鏡１４と、顕微鏡１４の観察画像を撮像し、画像データを出力するカメラ１６と、画像データを取得して所定の画像処理を行う画像解析装置１８と、アスベスト検出結果が出力される端末装置２０を備える。 - 特許庁

To provide a microscope system with which an observation object is easily tracked without causing troublesomeness on display even if operation of a microscope that causes a change of observation environment is performed when observation images obtained by imaging the same observation object by a plurality of observation methods are superposed to be observed.例文帳に追加

本発明では、同一の観察体に対して複数の観察方法で撮像した観察画像を重畳させて観察しているときに、観察環境の変化を生じさせる顕微鏡の動作が行われた場合でも、表示上の煩わしさがなく、容易に観察体の追跡を行うことができる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide ionic fine particles having characteristics of both of water-insoluble ionic particles and a water-soluble crosslinked polymer, invisible by an ordinary optical microscope and visible by a phase contrast microscope and having ionic character of cationic or amphoteric character, and to provide application of the same.例文帳に追加

水不溶性のイオン性粒子と水溶性架橋ポリマーの双方の特徴を兼ね備え、通常の光学顕微鏡では確認できず位相差顕微鏡ではじめて確認できる粒子であって、カチオン性あるいは両性のイオン性を持つことを特徴とするイオン性微粒子とその用途を提供することである。 - 特許庁

A polynomial approximation expression is created based on a focus map of a previously measured optical microscope, and a control amount derived from the polynomial approximation expression by adding thereto wafer height information at creation time and a difference between it and another wafer height information at actual observation time is input as a focus control value for the optical microscope.例文帳に追加

予め測定された光学式顕微鏡のフォーカスマップを基に多項式近似式を作成し、その時のウエハ高さ情報と、実際の観察時におけるウエハ高さ情報との差分を前記多項式近似式に加算した制御量を光学式顕微鏡のフォーカス制御値として入力する。 - 特許庁

When total reflection illumination is selected in the microscope, a piece 65 is rotated by a motor 66, and ceiling plates 62 and 63 are raised to be nearly parallel to the stage 12 so that laser light with which the sample 53 is irradiated from below may not leak to the outside through the objective lens of the microscope.例文帳に追加

顕微鏡において全反射照明が選択されている場合、顕微鏡の対物レンズを介して下方から標本５３に照射されるレーザ光が外部に漏れるのを防ぐように、モータ６６により駒６５が回転し、天井板６２および天井板６３がステージ１２とほぼ平行となる位置まで持ち上げられる。 - 特許庁

To provide a vibration method of a cantilever for a scanning probe microscope including an excitation mechanism capable of vibrating the cantilever efficiently, capable of suppressing a noise of a displacement detection mechanism, suppressing a vibration noise of a member, and performing measurement having high resolution, concerning a scanning probe microscope in a vibration system.例文帳に追加

振動方式の走査型プローブ顕微鏡において、効率的にカンチレバーを振動させることができる加振機構を備え、変位検出機構のノイズを抑制するとともに、部材の振動ノイズを抑え、分解能の高い測定が可能となるような走査型プローブ顕微鏡用のカンチレバーの加振方法を提供する。 - 特許庁

The device for replacing an objective lens in a microscope is provided with a fixed stage device, a microscope stand 2, which has an end wall 8 and sidewalls 4 and 6 and has sidewalls 4 and 6 coupled by the end wall 8 and a rear wall 3, and an objective lens revolver 14 which determines an axial line 26 of rotation, which is arranged obliquely to sidewalls 4 and 6.例文帳に追加

固定ステージ装置と、端壁（８）と第１および第２の側壁（４，６）を有し、第１および第２の側壁（４，６）が前記端壁（８）と後壁（３）により結合されている顕微鏡スタンド（２）と、両側壁（４，６）に対し斜めに配置されている回転軸線（２６）を決定する対物レンズレボルバー（１４）とを備えている。 - 特許庁

To provide an autofocus microscope capable of visualizing a focusing position on the sample surface with a simple constitution without adding a new light source for illuminating a mark indicating the focusing position on the sample surface and without changing the conventional optical system disposed in the microscope in the least.例文帳に追加

標本の表面上の合焦点位置を示す指標を照明するための新たな光源を追加することなく、また、顕微鏡が備える既存の光学系を何ら変更することなく、標本の表面上の合焦点位置を簡単な構成で視認することができる自動焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope for analysis having an analyzing function accurately performing element analysis and element mapping at a specific area of a sample at a correct analysis position (consonance of electron beam) with a simple constitution without providing an equivalent circuit on a scanning electron microscope side and an external analyzer side.例文帳に追加

走査電子顕微鏡本体側と外部分析装置側に同等の回路を備えることなく、簡単な構成により、試料の特定領域の元素分析や元素マッピングを正しい分析位置（電子ビーム一致）で正確に行うことができる分析機能を有した分析走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

The pattern matching method and apparatus for carrying out pattern matching between design data and the image taken by a scanning electron microscope converts the design data into a bitmap, and carries out the matching between the bitmapped design data and the image taken by a scanning electron microscope.例文帳に追加

本発明は、設計データと走査型電子顕微鏡にて取得される画像との間でパターンマッチングを行うパターンマッチング方法及び装置であって、設計データをビットマップに変換して、当該ビットマップ化された設計データと、走査型電子顕微鏡によって取得された画像とのマッチングを行うことを特徴とする。 - 特許庁

To reduce the measuring error of film thickness and to suppress width irregularity at every work, in setting a cross section by a frozen section method when the cross section of a sheet-like sample is observed or the thickness thereof is measured by an electron microscope or an optical microscope, by enhancing the workability at time of the vertical setting of the sample.例文帳に追加

電子顕微鏡および光学顕微鏡でのシート状試料の断面観察や膜厚を測定する際の凍結切片法により断面出しを行う場合において、試料を垂直にセットする際の作業性を向上させることにより、膜厚測定の誤差を小さくすると共に、作業毎のバラツキ幅を抑えること。 - 特許庁

Corner dovetails 411a and 411b fit in the dovetail grooves 11b and 11c of the main body 10 of the microscope for study are respectively provided in a revolver main body part 411, and a female screw 411d attached to the main body 10A of the general microscope by using a coupling part 80 is provided in the main body part 411.例文帳に追加

レボルバ本体部４１１には、研究用顕微鏡本体１０のアリ溝１１ｂ，１１ｃに嵌合される角アリ４１１ａ，４１１ｂがそれぞれ設けられるとともに、連結部品８０を使用して一般用顕微鏡本体１０Ａに取り付けるためのメスネジ４１１ｄが設けられている。 - 特許庁

The optical fiber end face observation microscope 10 which is capable of easily changing the direction of the front end projected from a fiber holder 14 of the optical fiber 13 fixed to the fiber holder 14 with respect to a microscope body 12 by rotating a holder holding section 15 for holding the fiber holder 14 by a direction changing mechanism 20.例文帳に追加

ファイバホルダ１４を保持するホルダ保持部１５を向き変更機構２０によって回転することで、前記ファイバホルダ１４に固定された光ファイバ１３の前記ファイバホルダ１４から突出された先端の顕微鏡本体１２に対する向きを容易に変更できる光ファイバ端面観察顕微鏡１０を提供する。 - 特許庁

To provide a microscopic image processing device capable of specifying an optical device such as a fluorescent cube set in a fluorescence microscope based on a result of detection of an imaging apparatus for imaging a sample observed by the fluorescence microscope, and a microscopic image processing program and a microscopic image processing method.例文帳に追加

蛍光顕微鏡により観察される試料を撮像する撮像装置の検出結果に基づいて、蛍光顕微鏡にセットされる蛍光キューブなどの光学素子を特定することが可能な顕微鏡画像処理装置、顕微鏡画像処理プログラムおよび顕微鏡画像処理方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and a system for inspecting a semiconductor by which the continuity etc., of circuit elements in a semiconductor device can be inspected by observation by a scanning charged particle microscope such as the electronic microscope etc., without performing such troublesome work as the random access operation of a probe.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、プローブのランダムアクセス操作のような厄介な作業をすることなく、電子顕微鏡等の走査型荷電粒子顕微鏡の観察から半導体デバイスにおける回路要素の導通等の検査を可能とする検査手法を提示し、それを実現するシステムを提供することにある。 - 特許庁

In the microscope of box type in which a microscope portion 1 covered with the shielding object 3 has a conversion section mounted with the plurality of objective lenses, there is provided a remote drive mechanism 2 for operating the optical adjustment correction ring for the objective lenses on the optical axis, from outside the shielding object separated from the optical axis.例文帳に追加

顕微鏡部１が遮蔽物３で覆われた箱型の顕微鏡であって、複数の対物レンズを搭載した転換部を有している顕微鏡において、光軸上にある対物レンズの光学調整補正環を、光軸から離れた遮蔽物の外から操作するための、遠隔駆動機構２を備えている。 - 特許庁

In a scanning probe microscope, such as a scanning tunnel microscope, one part of the layer 4 is selectively etched away by scanning the surface of the layer 4 with a probe 5 to make the layer 3 partially exposed, and a strain distribution to respond to the shape of the pattern of the layer 4 is formed on the surface of a sample.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、例えば走査型トンネル顕微鏡において、プローブ５でＧａＡｓ層４の表面を走査することによりＧａＡｓ層４を選択的にエッチング除去してＩｎＧａＡｓ層３を部分的に露出させ、試料表面にＧａＡｓ層４のパターン形状に応じた歪分布を形成する。 - 特許庁

To provide an inspection method for inspecting a semiconductor by which the continuity of circuit elements in a semiconductor device can be inspected by observation by a scanning charged particle microscope such as an electronic microscope without performing such troublesome work as the random access operation of a probe, and to provide a system for obtaining the same.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、プローブのランダムアクセス操作のような厄介な作業をすることなく、電子顕微鏡等の走査型荷電粒子顕微鏡の観察から半導体デバイスにおける回路要素の導通等の検査を可能とする検査手法を提示し、それを実現するシステムを提供することにある。 - 特許庁

To provide an electron source which is used for a semiconductor wafer inspection device such as a scanning or transmission electron microscope, a surface analyzer like an Auger electron spectroscopic analyzer, an electron beam exposure apparatus, especially a scanning electron microscope using an electron beam accelerated with low voltage of 1 kV or less, a CD SEM, or a DRSEM.例文帳に追加

走査型又は透過型電子顕微鏡、オージェ電子分光装置等の表面分析装置、電子線露光機、特に、電子ビームの加速電圧が１ｋＶ以下の低加速で用いられる走査型電子顕微鏡、ＣＤ ＳＥＭ、ＤＲＳＥＭ等の半導体ウェハ検査装置に用いられる電子源を提供する。 - 特許庁

A sample is arranged on the slide of a laser dissection microscope to make the slide movable in parallel on an extension surface, and an adhesive collection system, with the center aligned with the optical axis, is lowered to the sample, bonded adhered to the sample, freely moved in parallel, together with the slide, and then strayed from the optical axis of the microscope.例文帳に追加

レーザ解剖顕微鏡のスライド上に試料を配置し、スライドはその延在面で平行移動可能とし、粘着性採集装置をその中心を光軸に合わせた状態で試料上まで下降させ、試料に付着させてスライドと共に自由に平行移動しかつ顕微鏡の光軸から外れる。 - 特許庁

To provide a pattern forming method and a pattern forming apparatus by which a pattern in a relatively wide region of a square millimeter or larger can be formed in a short time by electrochemical lithographic pattern forming method and the pattern can be formed without using an expensive apparatus such as an AFM (atomic force microscope) and an STM (scanning tunneling microscope).例文帳に追加

電気化学リソグラフィーによるパターン形成方法において、平方ミリメートル以上の比較的広い領域に渡るパターン形成を、短時間で行うことを可能とするとともに、ＡＦＭ、ＳＴＭなどの高価な装置を用いることなくパターンを形成し得るパターン形成方法及びパターン形成装置を提供する。 - 特許庁

The yttrium oxide powder has an average particle diameter of secondary particles of 0.1-4 μm as observed with a scanning electron microscope of 20,000 magnifications, an average circularity of the secondary particles of 0.70-0.90 as observed with the scanning electron microscope of 20,000 magnifications, and a specific surface area of 1-120 m^2/g.例文帳に追加

走査電子顕微鏡（２００００倍）で観察される２次粒子の平均粒径が０．１μｍ〜４μｍであり、且つ、走査電子顕微鏡（２００００倍）で観察される２次粒子の真円率平均が０．７０〜０．９０であり、且つ、比表面積が１〜１２０ｍ^2／ｇであることを特徴とする酸化イットリウム粉末を提案する。 - 特許庁

The automatic focusing microscope is constituted of a positive first lens group G1 and a second lens group G2 in order from a sample side, the first lens group G1 is movably disposed along an optical axis direction and the focus position can be changed by moving the first lens group G1 and the microscope is distinguished by satisfying following conditional formulae (1), (2).例文帳に追加

標本側から順に、正の第１レンズ群Ｇ１と、第２レンズ群Ｇ２とからなり、第１レンズ群Ｇ１が光軸方向に沿って移動可能に設けられていて、第１レンズ群Ｇ１の移動によって焦点位置を変化させることが可能であり、次の条件式(1)，(2)を満足することを特徴としている。 - 特許庁

The head part 3 has the LED 31 for emitting flash light, a microscope 32 guiding the flash light to the object 9 and entered by light from the object 9, and an imaging device 33 for converting an object 9 image formed with a prescribed magnification by the microscope 32 into an electric signal.例文帳に追加

ヘッド部３は、フラッシュ光を出射するＬＥＤ３１、対象物９にフラッシュ光を導くとともに対象物９からの光が入射する顕微鏡３２、および、顕微鏡３２により所定の倍率で結像された対象物９の像を電気信号に変換する撮像デバイス３３を有する。 - 特許庁