Microscopeを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8962件
A program (counting software) is stored in a computer of a counter body 24 for processing image data on an optical fiber image taken in through a microscope 23.例文帳に追加
計数装置本体24のコンピュータには、マイクロスコープ23から取り込んだ光ファイバ画像の画像データを処理するプログラム(計数ソフトウエア)が格納されている。 - 特許庁
xlii) Electron accelerators or flash X-ray generators falling under any of the following (excluding electron microscope components and medical equipment 例文帳に追加
四十二 電子加速器又はフラッシュ放電型のエックス線装置であって、次のいずれかに該当するもの(電子顕微鏡の部分品又は医療用装置を除く。) - 日本法令外国語訳データベースシステム
To provide a video type stereoscopic microscope that can adjust a direction of penta prisms within a plane orthogonal to an incident optical axis onto the penta prisms.例文帳に追加
ペンタプリズムへの入射光軸に直交した面内においてペンタプリズムの向きを調整することができるビデオ型立体顕微鏡を、提供する。 - 特許庁
Thereafter, the application of AC voltage is stopped and the respective flocculation states of the carrier particles 1 and the carrier particles 2 are observed using an optical microscope.例文帳に追加
その後、交流電圧の印加を停止し、担体粒子1、担体粒子2のそれぞれの凝集状態は光学顕微鏡などを用いて観察する。 - 特許庁
To provide a confocal microscope capable of making precise sectioning even when exchanging the objective lens and to obtain correct confocal images of desired sectioning resolution after acquiring images of samples.例文帳に追加
対物レンズを切り替えても精度良くセクショニングが可能で標本の画像取得後に所望のセクショニング分解能の正確な共焦点画像を得る。 - 特許庁
To constitute an illuminating device for a DUV microscope so that it can supply a DUV wavelength band having the maximum transmittance and a small half value width.例文帳に追加
DUV顕微鏡用の照明装置が、最大の透過率と小さい半値幅を有するDUV波長バンドを供給するように構成すること。 - 特許庁
To create a microscope with which simple and sure changeover for selective work in a far UV spectral region or visible spectral region is possible.例文帳に追加
遠紫外スペクトル領域または可視スペクトル領域における選択的な作業のための簡単で確実な切換が可能である顕微鏡を創作すること。 - 特許庁
To obtain an image large in the number of pixels even when a CCD imaging device smaller in size is utilized without designing again the lens group of a microscope adapter.例文帳に追加
顕微鏡アダプタのレンズ群の設計をやり直すことなく、より小さい寸法のCCD撮像素子を用いても画素数の多い画像の得られる。 - 特許庁
To provide an ion microscope capable of assessing quality of a conductive tip (needle-like electrode tip) used in a gas field ion source (electrical field ionization gas ion source).例文帳に追加
気体電界イオン源(電界電離ガスイオン源)の導電性先端(針状電極先端)の品質を評価できるようにしたイオン顕微鏡を提供する。 - 特許庁
SQUID DEVICE, BIOMAGNETISM MEASUREMENT DEVICE, MAGNETOENCEPHALOGRAPH, MAGNETOCARDIOGRAPH, SQUID MAGNETIC INSPECTION DEVICE, SQUID MICROSCOPE AND SQUID METAL DETECTOR例文帳に追加
SQUID装置、生体磁気計測装置、脳磁計、心磁計、SQUID磁気探傷装置、SQUID顕微鏡、及びSQUID金属探知器。 - 特許庁
To provide microscope including a lighting means for adjusting an irradiation area with a laser beam and keeping the uniform intensity in the irradiation area.例文帳に追加
レーザー光の照射領域を調節するとともに、その照射領域の中で強度を均質に保つ照明手段を備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a scanning electron microscope capable of preventing charge-up and contamination in the midst of observation without executing special preprocessing and stably obtaining a secondary electron image.例文帳に追加
特別な前処理をすることなく観察中のチャージアップや汚染を防ぐことができ、安定して2次電子像が得られる走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a compact low-cost polarizing microscope capable of obtaining an excellent observation image through conoscope observation and orthoscope observation, and an adjusting method.例文帳に追加
コノスコープ観察およびオルソスコープ観察による良好な観察像を得られるコンパクトでコスト的にも安価な偏光顕微鏡および調整方法を提供する。 - 特許庁
To provide a means useful for easily selecting and dispensing coverglasses over specimens on slides for the purpose of viewing specimens through a microscope.例文帳に追加
顕微鏡を通して標本を視認する目的で、簡便にスライド上で標本の上のカバーガラスを選択し、放出するために役立つ手段の提供 - 特許庁
To provide a method for efficiently, speedily, and accurately bringing a probe and a microscope sample into electrical contact in a micro manipulation apparatus and provide its apparatus.例文帳に追加
マイクロマニピュレーション装置において、プローブと顕体試料の電気的接触を効率的にかつ迅速、正確に行なうための方法および装置の提供。 - 特許庁
To provide a new discrimination method and a device therefor capable of discriminating surely a nano-air bubble from other foreign matters by using an atomic force microscope.例文帳に追加
原子間力顕微鏡を用いてナノ気泡を確実にその他の異物から判別することのできる、新たな判別方法及びその装置を提供する。 - 特許庁
This scanning probe microscope is equipped with an optical-type high-sensitive proximity sensor to control approximation between the sample and the probe, achieving speed-up of approach to each measured place.例文帳に追加
光学式の高感度近接センサを具備して試料と探針との接近を制御することによって、各測定箇所へのアプローチを高速化した。 - 特許庁
To provide a shutter device for a microscope made excellent in versatility and inexpensive, preventing the arrangement of a manipulator and a reflux device from being restricted and excellent in handleability.例文帳に追加
汎用性に優れ、安価で、かつマニプレータや還流装置等の配置を制限しない使い勝手の良い顕微鏡のシャッタ装置を提供する。 - 特許庁
A superimposed picture signal of a electronic microscope image or the like is converted into an analog signal by the DAC 20 after passing through the selectors 15-17, and displayed on a display device in a superimposed state.例文帳に追加
電子顕微鏡像などのスーパーインポーズ画像信号はセレクタ15〜17を通った後ビデオDAC20によりアナログ変換されて、表示装置にスーパーインポーズ表示される。 - 特許庁
To provide an illuminator capable of guiding light emitted from an optical filter to a predetermined position by controlling the direction of the light, and a scanning microscope.例文帳に追加
光学フィルタから出射される光の向きを制御して光を所定の位置へ導くことができる照明装置及び走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a simple microscopic system for lightening the load on a control substrate and a light source, when attaching/detaching an illumination unit to/from a microscope body by hot plug.例文帳に追加
顕微鏡本体から照明ユニットを活線挿抜した際に、制御基板や光源への負荷を軽減することができる簡素な顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁
To provide a sample holder for effectively finding an opening of a substrate covered with a film for holding a sample by an optical microscope.例文帳に追加
試料保持用の膜により覆われた基板の開口部を、光学顕微鏡により効率良く探し出すことのできる試料保持体を提供する。 - 特許庁
An electro-optical device is used as a phase plate for a phase- contrast microscope, and the phase shift volume of zero-order light is made variable for diffracted light other than zero-order light.例文帳に追加
位相差顕微鏡の位相板に電気光学素子を用い、0次以外の回折光に対する0次光の位相シフト量を可変にする。 - 特許庁
To provide a method for measuring a tilt angle of a liquid crystal cell, which can be carried out by measuring only once the intensity of transmitted light in the liquid crystal cell without requiring microscope optics.例文帳に追加
顕微光学系の必要がなく、液晶セルの透過光強度を1回測定するだけでできる液晶セルのチルト角測定方法を提供する。 - 特許庁
The control part 32 causes the TAB tape 10 to be conveyed to a position where a piece determined to be non-defective at a first verification is photographed by the microscope 24.例文帳に追加
搬送制御部32は、第1のベリファイで良品と判定されたピースを顕微鏡24で撮影できる位置までTABテープ10を搬送する。 - 特許庁
There is provided a method for judging the in vivo percutaneous absorbency or the skin barrier function which uses an image according to fluorescent video microscope observation of the skin coated with a fluorescent substance.例文帳に追加
蛍光物質を塗布した皮膚の蛍光ビデオマイクロスコープ観察で得た画像によりin vivo経皮吸収性又は皮膚バリア機能を判定する方法。 - 特許庁
To provide a microscope that is easy to operate and that requires a user to replace a component on the optical axis with as a few steps as possible when switching observation methods.例文帳に追加
観察方法の切換え時の光軸上に対する素子の挿脱操作を1回でも少ない回数で行える操作性のよい顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To improve the near field light intensity in a micro-aperture type near field light generation element, a near field light recording device, and a near field light microscope.例文帳に追加
微小開口型の近視野光発生素子、近視野光記録装置、および近視野光顕微鏡において、近視野光強度を向上させること。 - 特許庁
A control part 108 acquires installation state information indicating an installation state of an optical member inserted into an observation optical path of the microscope 101.例文帳に追加
制御部108は、顕微鏡101の観察光路中に挿入される光学部材の設置状態を示す設置状態情報を取得する。 - 特許庁
A scanning type confocal microscope system is provided with a photodetector 15 of normal sensitivity and a photodetector 19 of high sensitivity as means for detecting reflected light from a sample 10.例文帳に追加
本装置は、試料10からの反射光を検出する手段としてノーマル感度の光検出器15と高感度の光検出器19を備える。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a sample suitable for evaluating two-dimensional carrier distribution by a scanning probe microscope, wherein the sample is used for measuring the two-dimensional carrier distribution.例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡による2次元キャリア分布の評価に適した2次元キャリア分布測定用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁
To provide an optical microscope in which the handling time and labor for attachment and detachment of a member shielding vertical illuminating light can be saved and the forgetting to mount the shielding member can be prevented.例文帳に追加
落射照明光を遮蔽する部材の着脱の手間を省き、遮蔽部材の装着忘れを防止することができる光学顕微鏡の提供。 - 特許庁
To provide a surgical microscope which can easily be balanced by a simple mechanism not only when it is installed on a horizontal floor but also when it is installed on an inclined floor.例文帳に追加
水平床設置時のみならず傾斜床設置時に簡単な機構により容易にバランスを取ることが可能な手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a microscope stage which allows a specimen to be reliably aligned even when the specimen is observed with high magnifications and is small-sized and can be made inexpensive.例文帳に追加
高倍観察時にも標本の位置合わせを確実に行なうことができ、小型で価格的にも安価にできる顕微鏡ステージを提供する。 - 特許庁
To provide a real time confocal microscope not including a scanner but using a dispersion optical system capable of capturing the two-dimensional cross-sectional video of an object in real time.例文帳に追加
走査装置を含めず物体の2次元断面映像を実時間で獲得可能な分散光学系を用いた実時間共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a high resolving power microscope capable of observing the non-linear optical response of a sample with high space resolving power and high time resolving power.例文帳に追加
試料の非線形光学応答を高空間分解能及び高時間分解能で観測することのできる高分解能顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a photoelectric sensor, from which the influence of interference fringe is removed, and to provide a pattern-inspecting device using the sensor, a microscope and the manufacturing method of a mask.例文帳に追加
干渉縞の影響を除去した光電センサと、それを用いたパターン検査装置、顕微鏡およびマスクの製造方法を提供すること。 - 特許庁
To provide an adapter system and an image pickup system capable of easily picking up the enlarged image of a microscope by using an image pickup system such as a digital camera.例文帳に追加
ディジタルカメラ等の撮像装置を使って手軽に顕微鏡の拡大像を撮像することができるアダプタシステム及び撮像システムを提供すること。 - 特許庁
To provide a cantilever driven by a dynamic mode; to provide an atomic force microscope; and to improve measuring precision of an interatomic force in a method of measuring the interatomic force.例文帳に追加
ダイナミックモードで駆動されるカンチレバー、原子間力顕微鏡、および原子間力の測定方法において、原子間力の測定精度を高める。 - 特許庁
An S is a sample cross-section desired to be obtained by an operator, in Fig. (c), and the sample cross-section S is observed thereafter by a scanning electron microscope or the like.例文帳に追加
図9(c)において、Sはオペレーターが得たかった試料断面であり、この試料断面Sは後で走査電子顕微鏡などで観察される。 - 特許庁
An image of a flying trace detection solid after etch processing is acquired by a microscope device 21 to be binarized, and the ellipse is fitted an image for each etch pit.例文帳に追加
エッチ処理済みの飛跡検出用固体の画像を顕微鏡装置21で取得し、これを二値化し、各エッチピットの画像に楕円をフィッティングする。 - 特許庁
In the image of the last acquired in a series of discrete images, the structure of the involved is searched, and positioned at the centroid of the image area of a microscope.例文帳に追加
一連の個別像において取得された最後の像において、関与の構造が検索され、顕微鏡の像域の中心に位置決めされる。 - 特許庁
To provide a device which detects, in a short period of time, a quantity of phase change of an observation object from a differential interference image obtained by a differential interference microscope.例文帳に追加
観察物体の位相変化量等を微分干渉顕微鏡により得た微分干渉画像から短時間で検出する装置を提供する。 - 特許庁
To provide a microscope capable of obtaining dimensions of an observation object easily and correctly even if an aspect ratio of an image is changed.例文帳に追加
画像の縦横比が変更された場合においても、観察対象物の寸法を容易にかつ正しく求めることを可能とする顕微鏡を提供する。 - 特許庁
When a mask M and a work W are aligned with each other, the work stage 13 is moved, and the position of a work mark WAM is detected by the work mark microscope 15.例文帳に追加
マスクMとワークWの位置合わせの際には、ワークステージ13を移動させワークマーク用顕微鏡15によりワークマークWAMの位置を検出する。 - 特許庁
To attain high accuracy of processing of an atomic force microscope microprocessing device and to make it possible to remove process waste produced in a cutting step by a process probe.例文帳に追加
原子間力顕微鏡微細加工装置の加工の高精度化と加工探針による切削で発生した加工屑をインラインで除去可能にする。 - 特許庁
A mold is cultured on a liquid permeable film inoculated with the mold and the liquid permeable film is observed by a microscope to observe mold morphology.例文帳に追加
カビを接種した液体透過性フィルム上で、当該カビを培養し、上記液体透過性フィルムを顕微鏡観察に供し、カビの形態観察を行う。 - 特許庁
The housing 3 is fixed in the housing of the microscope 101 so that the position thereof can be adjusted in the optical axis direction of the optical system 210.例文帳に追加
このズームハウジング3は、立体顕微鏡101のハウジング内に、クローズアップ光学系210の光軸方向に位置調整可能に固定されている。 - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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