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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Microscopeの意味・解説 > Microscopeに関連した英語例文

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Microscopeを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 8959



例文

To provide a highly precise method of evaluating an SiC substrate, capable of being carried out as a nondestructive method without using an expensive evaluation instrument or microscope.例文帳に追加

高価な評価機器や顕微鏡を用いることなく、非破壊にて行える精度の高いSiC基板の評価方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope in which a transmission image of a sample is displayed on a display in real time, and visual field deviation by sample drift is automatically corrected.例文帳に追加

透過電子顕微鏡において、試料の透過像をディスプレイにリアルタイムに表示するとともに、試料ドリフトによる視野ずれの自動補正を行う。 - 特許庁

To acquire a method for characterizing a probe of an atomic force microscope by a characterization structure having two inclined sidewalls opposed to each other.例文帳に追加

互いに対向する二つの傾斜側壁を持つ特徴づけ構造によって原子間力顕微鏡の探針を特徴づけるための方法を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can identify a probe region and a bonding region of an electrode pad clearly by magnification observation by an optical microscope.例文帳に追加

電極パッドのプローブ領域とボンディング領域とを、光学顕微鏡による拡大観察で明確に識別することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a scanning electron microscope which obtains a high-resolution and high-contrast concavo-convex image of a sample surface.例文帳に追加

本発明は、試料表面の高分解能かつ高コントラストな凹凸像を得ることを特徴とする走査型電子顕微鏡を提供するものである。 - 特許庁


例文

To provide a collimation plate reducing individual difference of a measurement result and reducing the load of measuring work, and also to provide a microscope device using the collimation plate.例文帳に追加

測定結果の個人差を低減し、測定作業の負荷を低減することが可能な視準板、及び、この視準板を用いた顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To enable combination with a suitable drive mechanism and a relatively small structural size for a microscope, relating to an afocal zoom system for being used for microscopes.例文帳に追加

顕微鏡に使用するための無限焦点ズーム系に関し、適切な駆動メカニズムと組み合わせ、比較的小さい顕微鏡用構成サイズを可能とする。 - 特許庁

The microscope 1 varies a distance between a stage 11 for holding a sample SP and an objective lens 15, and images the sample SP magnified by the objective lens 15.例文帳に追加

顕微鏡1は、サンプルSPを保持するステージ11と対物レンズ15との距離を変動させ、対物レンズ15により拡大されるサンプルSPを撮像する。 - 特許庁

The operating microscope has the main objective 1 that extends along the objective plane and is penetrated by the binocular main observer beam path and the binocular co-observer beam path.例文帳に追加

手術用顕微鏡は、対物面に沿って延び、且つ双眼主観察者ビーム経路及び双眼補助観察者ビーム経路が通る主対物1を備える。 - 特許庁

例文

To provide an interference objective lens having a high NA and a long operating distance as well as a simplified configuration, and to provide a microscope device having the interference objective lens.例文帳に追加

構成の簡素化を図りつつ、高NAで、長作動距離を有する干渉対物レンズ及びこれを有する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

例文

To provide an ultrasonic microscope for transmitting high frequency ultrasonic waves to a sample and observing the inside of the sample with high spatial resolution.例文帳に追加

試料に対して高周波数の超音波を送出でき、高空間分解能で試料の内部を観察することができる超音波顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an immersion microscope objective lens whose working distance is long, numerical aperture is large and chromatic aberration is excellently corrected from a visible range to a near-infrared range.例文帳に追加

作動距離が長く、開口数が大きく、色収差が可視域から近赤外域まで良好に補正された液浸系顕微鏡対物レンズを提供する。 - 特許庁

To achieve a spatial resolution of a sub μm order using high frequency ultrasonic waves while suppressing aberration of an acoustic lens in an ultrasonic microscope.例文帳に追加

超音波顕微鏡において、音響レンズの収差を抑制しつつ高周波の超音波を用いてサブμmオーダの空間分解能を実現する。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of observation of a reaction process between a gas and a solid at atmospheric pressure.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡に関し、大気圧での気体と固体の反応過程の観察が実現できる電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and a surface inspection method for forming a marking sign on a sample surface without complicating a constitution of an apparatus.例文帳に追加

装置構成を複雑化することなく、試料表面にマーキング痕を形成できる走査型プローブ顕微鏡及び表面検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a laser microscope device capable of changing observation conditions according to a change in sample's status and of performing a high-speed and high-resolution observation.例文帳に追加

標本の状態変化に応じて観察条件を変化させ、高速かつ高分解能な観察を行うことができるレーザ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To reduce a difference between a reference line and an actual cutting line by preventing the distance between a shaft of a spindle and a microscope from changing owing to heat.例文帳に追加

スピンドルの軸と顕微鏡の距離が熱により変化することを防止し、基準線と実際の切断位置との誤差を小さくすることができる。 - 特許庁

In an image generation method, a first partial image obtained by imaging a target to be imaged which is observed by a microscope 50, with a prescribed resolution, is acquired.例文帳に追加

画像生成方法において、顕微鏡50で観察される撮像対象物を所定の解像度で撮像した第1の部分画像を取得する。 - 特許庁

To provide an inverted microscope that is highly rigid and capable of attaching an optical device to an observation optical system between an objective lens and an ocular lens.例文帳に追加

対物レンズから接眼レンズに至る観察光学系に光学装置を装着可能であって、かつ、剛性に優れた倒立顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a total reflection fluorescence microscope that can efficiently acquire a fluorescent light by eliminating loss of the fluorescent light excited by total reflection illumination to the utmost.例文帳に追加

全反射照明により励起された蛍光のロスを極力無くして、蛍光を効率よく取得可能な全反射蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope and a photodetector, permitting drawing of an accurate IZ-curve and obtaining a higher quality observed images at a low cost.例文帳に追加

正確なIZカーブを描くことができ、安価でより高画質な観察画像が得られる走査型レーザ顕微鏡及び光学素子を提供すること。 - 特許庁

To obtain a wide scanning range, as well as, precise position control related to a stage scanner, and to provide a scanning probe microscope.例文帳に追加

本発明はステージスキャナ及び走査型プローブ顕微鏡に関し、広範囲な走査範囲を確保しかつ精密な位置制御を実現することを目的としている。 - 特許庁

To accurately perform measurement with a scanning probe microscope for observing a μm-class fine target without causing a probe to be worn out.例文帳に追加

μm級の微細な対象物の観察を行える走査型プローブ顕微鏡での測定を探針摩耗の問題を起こすことなく高い測定精度で行える。 - 特許庁

To provide a microscope light source device by which the position of a light source image is easily and accurately adjusted and light from a light source is effectively used.例文帳に追加

簡便に精度良く光源像の位置を調整することができ、光源からの光を有効に使用できる顕微鏡用光源装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a simulation apparatus which forms a simulation image in a scanning probe microscope at high speed, and also to provide a simulation method, and a simulation program.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡におけるシミュレーション画像を高速に生成することができるシミュレーション装置、シミュレーション方法及びシミュレーションプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a SQUID microscope with its spatial resolution enhanced while keeping a specimen from contacting a probe.例文帳に追加

本発明は、試料とプローブとが接触することなく、かつ、空間分解能を高めることができるSQUID顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which is suitable for monitoring conditions of the device, without having to depend on the existence of electrostatic charges or sample tilting, or the like.例文帳に追加

本発明の目的は、帯電や試料傾斜等の存在によらず、装置の状態をモニタするのに好適な走査電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide a polarization control element capable of keeping light in a predetermined polarized state, a method for manufacturing the polarization control element and a laser microscope using the polarization control element.例文帳に追加

所定の偏光状態にすることができる偏光制御素子及びその製造方法、並びにそれを用いたレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The void ratio of the entire active material layer obtained by analyzing an electron microscope image of a cross section in the thickness direction of the active material layer 12 is 15 to 40%.例文帳に追加

活物質層12の厚み方向断面の電子顕微鏡像を画像解析して得られる該活物質層全体の空隙率が15〜40%である。 - 特許庁

To provide a microscopic device equipped with a scanning probe microscope capable of preventing the occurrence of vibration due to noise and a current of air.例文帳に追加

騒音および風等による振動の発生を防止することができる走査型プローブ顕微鏡を備える顕微鏡装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a microscope which can detect the light emitted from a micro-region with high efficiency even a as small as possible photoirradiation and can rapidly measure a sample.例文帳に追加

できるだけ少ない光照射でも、微小領域からの発光を高効率で検出でき、試料を短時間で計測できる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a surgical microscope which is suitable for use in ophthalmology and visualizes the transparent structure of the front part of the patient's eye by good contrast.例文帳に追加

眼科医学での使用に適し、患者の目の前方部分の透明構造を良好なコントラストで可視化する手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

When this device is used as a scanning electron microscope, a lens barrel 2 is kept at the same potential as that of a sample 4, and a negative potential is applied to an electron gun 1.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡として用いられる場合、レンズ鏡筒2は試料4と同電位に保持され、電子銃1には負の電位が印加される。 - 特許庁

To provide a culture container and a microscope capable of properly observing samples in culture medium contained in plural wells on a well plate.例文帳に追加

ウェルプレート上の複数のウェルに収納されている培養液中の試料を、好適に観察できるようにした培養容器及び顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a lighting system for reducing a deformation quantity of a shading means caused by temperature increase, and a microscope provided with the lighting system.例文帳に追加

温度上昇に起因する遮光手段の変形量を少なくすることができる照明装置及び照明装置を備える顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope that prevents variation in brightness of a transmitted image even when the brightness of a fluorescent image is adjusted.例文帳に追加

蛍光像の明るさ調整を行った場合にも透過像の明るさの変動を防止することができる顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a confocal microscope by which the change of height information along an arbitrary measuring line is obtained and also a time required for measuring is made short.例文帳に追加

任意の測定ラインに沿う高さ情報の変化を得ることができ、しかも測定に要する時間が短い共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope with which an irradiation range of a laser beam can capture an observation object in follow-up to a change in the observation object.例文帳に追加

観察対象の変化に追従してレーザ光の照射範囲が目的とした観察対象を捉えられる走査型レーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for detecting a target nucleic acid (DNA or RNA) by observing an aqueous solution in which the target nucleic acid is dissolved, under a microscope.例文帳に追加

標的核酸(DNA又はRNA)を溶解させた水溶液中を顕微鏡で観察することにより、標的核酸を検出する方法の提供。 - 特許庁

Also, the low magnification image 25 and a plurality of high magnification images 26 in the low magnification image 25 are automatically updated at all times be remotely controlling a microscope.例文帳に追加

また、低倍画像25と、この低倍画像25中の複数の高倍画像26は、顕微鏡をリモート制御することで、常時自動的に更新される。 - 特許庁

An optical element module packaging part 26, an optical element module lens part 27, a microscope and a centering device 21 are prepared for the method of manufacturing the optical element module 22.例文帳に追加

光素子モジュール22の製造方法は、光素子モジュールパッケージ部26と光素子モジュールレンズ部27と顕微鏡及び調心装置21とを準備する。 - 特許庁

To provide a system microscope with which a sample may be irradiated with a laser beam from an upper side and may be observed and the visibility of the sample and operability are assured.例文帳に追加

標本の上側からレーザ光線を照射し観察を行え、かつ標本の視認性と操作性を確保したシステム顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide fine processing of a type in which voltage is applied between working fluid and a workpiece using a combination of a scan type shear force microscope and a hollow probe.例文帳に追加

走査型シェアフォース顕微鏡と中空プローブの組み合わせを用いて,加工液と被加工物の間に電圧を印加するタイプの微細加工を実現する。 - 特許庁

To provide a microscope for surgery which is usable for plural departments with one unit and are excellent in operability in all of these departments.例文帳に追加

1台で複数の科に対して使用可能で、更にそれら全ての科において使い勝手の良い優れた手術用顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

This near-field optical microscope is provided with a light source unit 10, the probe 20 of optical fiber, an oscillation unit 30 and a signal feedback unit 40.例文帳に追加

この近視野光学顕微鏡は、光源ユニット10と、光ファイバの探り針20と、発振ユニット30と、信号フィードバックユニット40とを備える。 - 特許庁

LIGHT QUANTITY ADJUSTING MECHANISM, ILLUMINATION UNIT HAVING THE MECHANISM AND MICROSCOPE HAVING THE MECHANISM OR THE UNIT HAVING THE MECHANISM例文帳に追加

光量調節機構、それを備えた照明ユニット、及び光量調節機構又は光量調節機構を備えた照明ユニットを備えた顕微鏡 - 特許庁

To provide a microscope which enables reflection contrast lighting observation by using a unit of a epifluorescent lighting device in common and only making simple constitution alternations.例文帳に追加

落射蛍光照明装置のユニットを兼用して簡単な構成変更だけでリフレクションコントラスト照明観察を可能とする顕微鏡を提供する。 - 特許庁

MICROSCOPE, THREE-DIMENSIONAL IMAGE GENERATING METHOD, PROGRAM FOR MAKING COMPUTER PERFORM CONTROL OF GENERATING THREE-DIMENSIONAL IMAGE AND RECORDING MEDIUM HAVING THE PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

顕微鏡、三次元画像生成方法、三次元画像を生成する制御をコンピュータに行わせるプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

A laser microscope 100 is provided with a laser optical system 1 including a laser light source 10 and a white light optical system 2 including a white light source 20.例文帳に追加

レーザ顕微鏡100は、レーザ光源10を含むレーザ光学系1と、白色光源20を含む白色光光学系2を備えている。 - 特許庁

例文

Entire surface of the sample 2 can be observed, by moving the sample 2 or a microscope 8 continuously in the x-y plane.例文帳に追加

試料2または顕微鏡8をx−y面内において連続的に移動させることにより、試料2表面全面を観察できるようにする。 - 特許庁




  
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