appearance testとは 意味・読み方・使い方

To provide a dielectric ceramic composition having no defective external appearance in a pressure cooker test and excellent electric characteristics.例文帳に追加

プレッシャークッカー試験での外観不良がなく、かつ電気的特性が優れた誘電体磁器組成物を提供すること。 - 特許庁

To provide a solar battery module wherein the faultiness of its external appearance is eliminated, and its characteristics are not degraded in its long-term reliability test.例文帳に追加

外観不良がなく、かつ長期信頼性試験において特性低下がみられない太陽電池モジュールを提供する。 - 特許庁

To facilitate confirmation an appearance test of a joint part and a collapsed state of conductive particles by a microscope in case of jointing with the use of an anisotropic conductive film.例文帳に追加

異方性導電フィルムを用いて接合した場合に、接合部の外観検査、導電粒子のつぶれの状態を顕微鏡による確認を容易にする。 - 特許庁

To provide a laminated sheet which is good in lamination aptitude on a metal sheet, has embossment heat resistance, and has neither cracks even when being subjected to an alkaline immersion test, nor appearance change in a boiling water immersion test.例文帳に追加

金属板へのラミネート適性が良好であり、エンボス耐熱性を有し、アルカリ浸漬試験に供してもクラックを生じる事のない積層シートであり、沸騰水浸漬試験での外観変化も生じない積層シートを提供する。 - 特許庁

A test determination unit 16 detects the presence/absence of a response operation input from a user who has recognized the appearance of the first figure when the first figure appears at the particular position on the display screen, while the test image is output.例文帳に追加

テスト判定部１６は、テスト用画像が出力されている間、ディスプレイ画面の特定位置に第１図形が出現したとき、該第１図形の出現を認識したユーザから入力される応答操作の有無を検出する。 - 特許庁

The distance data regarding the test chart projected in the pickup image are treated as evaluation samples, and a histogram showing the relation between the distance value of the evaluation sample and its appearance frequency is produced.例文帳に追加

撮像画像に映し出されたテストチャートに関する距離データを評価サンプルとし、この評価サンプルの距離値と出現度数との関係を示したヒストグラムを生成する。 - 特許庁

To provide an appearance inspecting device of chaind and an appearance inspecting method using it, while extracting external defect and surface defect correctly, and detecting faulty defect with a high degree of accuracy and attempting to miniaturize well the dimensions against a test object.例文帳に追加

外形不良及び表面不良を正確に抽出し、欠陥不良を高精度に検出するとともに、被検査物の大きさに対して十分に小型化を図ったチェーンの外観検査装置及びそれを用いた外観検査方法を提供する。 - 特許庁

After a wafer W is placed on a θ stage 21 arranged on an input side of a probing tester 3 to perform positioning the wafer W and the external appearance test of each semiconductor chip, this wafer W is placed on the probing tester 3 to perform the probing test.例文帳に追加

プロービングテスト装置３の入側に配置されたθステージ２１にウエハＷを載せて、このウエハＷの位置決めと各半導体チップの外観検査を行った後に、このウエハＷをプロービングテスト装置３に設置してプロービングテストを行う。 - 特許庁