「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(115ページ目) - Weblio英語例文検索

The ultrafine particle crystal has at least 10^2μm^2 of 2-dimensional area and can be observed with an optical microscope.例文帳に追加

ここにおける超微粒子結晶は、少なくとも２次元面の面積が１０^２μｍ^２以上あり、光学顕微鏡で観察可能である。 - 特許庁

To provide an electrode ring in which the extraction efficiency of secondary electrons emitted from a test piece is improved, and provide an electron microscope having the same.例文帳に追加

試料より放出される２次電子の引き上げ効率を高めた電極リング及びこれを備えた電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of simply carrying out three-dimensional shape measurement without adding an exclusive device and with less changes.例文帳に追加

専用の装置を付加することなく少ない変更で簡単に三次元形状計測を行うことができる走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

It is preferable that particulate iron having a particle diameter of ≥1 nm is not observed by microscopic observation with a transmission electron microscope (TEM).例文帳に追加

好ましくは、透過電子顕微鏡（ＴＥＭ）観察により、粒子径１ｎｍ以上の粒子状の鉄が観測されない多孔質構造体。 - 特許庁

To provide a well plate, a biological microscope, and an organism observation apparatus capable of surely acquiring images by facilitating auto-focusing operations.例文帳に追加

オートフォーカス動作を容易にして、画像を確実に取得することのできるウェルプレート、生物顕微鏡及び生物観察装置を提供する - 特許庁

To provide a sample holder and a sample table that enable examination of the samples for examination, from many directions in the electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡内において観察対象となる試料を多方向から観察することができる試料ホルダーおよび試料台を提供する。 - 特許庁

To facilitate the adjusting operation of a plurality of image forming positions by making a plurality of relay lens barrels common in the assembly stage of a microscope.例文帳に追加

顕微鏡の組み立て工程において、複数のリレー鏡筒の共通化を図って複数の結像位置の調整作業が容易にする。 - 特許庁

To provide the probe of a scanning probe microscope(SPM) having the channel structure of a field effect transistor formed at the tip thereof, and its fabricating method.例文帳に追加

チップの先に電界効果トランジスタのチャンネル構造が形成されたスキャニングプローブマイクロスコープ(SPM)の探針及びその製作方法を提供する。 - 特許庁

The scanning microscope (100) is provided with at least one light source (4), an objective lens (10) and at least one detector (12).例文帳に追加

走査型顕微鏡（１００）は、少なくとも１つの照射源（４）、対物レンズ（１０）および少なくとも１つの検出器（１２）を備えている。 - 特許庁

To provide an immersion microscope objective lens having a long working distance achieving both of a wide observation area and a high numerical aperture.例文帳に追加

広い観察範囲と高い開口数を両立する長い作動距離を有する液浸顕微鏡対物レンズを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a sample for tuning of a scanning electron microscope, and it manufacturing method, capable of accurately carrying out correction of an axis and an astigmatism.例文帳に追加

軸や非点収差の補正を精度良く行うことができる走査型電子顕微鏡調整用試料及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

An SPIM microscope (Selective Plane Imaging Microscopy) has a y-direction illumination light source 4 and a z-direction detection light camera 16.例文帳に追加

ｙ方向の照明光源４とｚ方向検出光カメラ１６とを有するＳＰＩＭ顕微鏡（選択的面結像顕微鏡）が開示される。 - 特許庁

Light from a microscope 10 transmits through a hole 5b of a Cr film 5 of a mask 4 and is delivered onto the resist film 2 through a microlens 3b.例文帳に追加

顕微鏡１０からの光は、マスク４のＣｒ膜５の孔５ｂを通過し、マイクロレンズ３ｂを透過してレジスト膜２上に照射される。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope which is capable of reducing a data capacity required to generate an observation image.例文帳に追加

観察画像を生成するために必要なデータ容量を削減することのできる走査型電子顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a fluorescence microscope capable of realizing fluorescence observation even when it is not installed in a dark room and changing magnification while keeping contrast.例文帳に追加

暗室内に設置しなくとも蛍光観察が可能で、かつコントラストを維持したまま倍率を変更可能な蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To make observation visual field of a microscope movable without switching and moving an objective lens and changing the location and the condition of a specimen.例文帳に追加

対物レンズの切り替えや移動を伴うことなく、且つ、標本の位置や状態を変えることなく、顕微鏡の観察視野を移動可能にする。 - 特許庁

To use a camera consisting of a CCD image-pickup device for a microscope and to form an image having the number of pixels larger than the CCD imaging device.例文帳に追加

ＣＣＤ撮像素子からなるカメラを顕微鏡に使用し、そのＣＣＤ撮像素子の画素数より多い画素数となる画像を生成する。 - 特許庁

To provide a retrieval method of easily and quickly searching a desired electron microscope image from among a number of them.例文帳に追加

多数の電子顕微鏡画像の中から所望の電子顕微鏡画像を容易に且つ迅速に検索するための検索方法を提供する。 - 特許庁

To cut a carbon nanotube adhering to the tip of a probe of a scanning type probe microscope or a handling device to an arbitrary length at an arbitrary position.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡あるいはハンドリング機器のプローブ先端部に付着したカーボンナノチューブについて任意の長さや位置で切断する。 - 特許庁

To easily manufacture a colloid probe excellent in measuring precision constituted by bonding a spherical sample particle onto a probe of an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡探針に球状試料粒子を接着させてなる測定精度の良いコロイドプローブを容易に製造できるようにする。 - 特許庁

To provide a microscope capable of efficiently observing with a high magnification an optional concerned area on an image observed with a low magnification.例文帳に追加

低倍率で観察した画像上の任意の関心領域を高倍率で効率良く観察することができる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a vacuum exhaustion device for electron microscope with small number of parts and simple structure, capable of reducing the cost.例文帳に追加

本発明は、部品数が少なく、構造が簡単で低コスト化できる電子顕微鏡の真空排気装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method of assembling an array of particulates or molecules using an atomic force microscope for partitioning a ferro-dielectric magnetic domain.例文帳に追加

強誘電体磁区を画定するために原子間力顕微鏡を用いて、微小粒子または分子のアレイをアセンブルする方法を提供する。 - 特許庁

The scriber shank 10 is fixed to a cartridge (frame member) 100 while having a scribing angle θ and an azimuth angle ψ by adjustments using a microscope.例文帳に追加

スクライバーシャンク１０は、顕微鏡下での調整によって、スクライビング角θ、方位角ψで、カートリッジ（枠部材）１００に固定されている。 - 特許庁

When the crystal grain size of the sintered body is observed by a scanning electron microscope, the average crystal grain size is preferably 0.1 to 20 μm.例文帳に追加

焼結体の結晶粒径を走査型電子顕微鏡で観察したとき、平均結晶粒径は０．１〜２０μｍであることが好ましい。 - 特許庁

The computer-controlled microscope (16) then captures a plurality of high resolution images (26) of the selected areas for display to the user.例文帳に追加

コンピュータ制御された顕微鏡（１６）はそれから、選択された領域について複数の高解像度のイメージ（２６）を捕捉し、ユーザに表示する。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope which can construct a fluorescence image with high resolution even with a photodetector with a small number of arrays.例文帳に追加

アレイ数の少ない光検出器であっても高い解像度で蛍光画像を構築することができるレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To apply a laser scanning confocal microscope device to measurement using a plurality of lights having at least different wavelengths as excitation light.例文帳に追加

少なくとも波長の異なる複数の光を励起光として用いる測定にレーザ走査型顕共焦点微鏡装置を適用可能にする。 - 特許庁

To provide an electron microscope for inspecting and processing an object having a microstructure, and a manufacturing method of the object having the microstructure.例文帳に追加

微小化構造を有する物体を検査及び加工するための電子顕微鏡、微小化構造を有する物体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope which can always project TEM image correctly on a light-receiving face of a TV detector without monitoring by a fluorescent screen.例文帳に追加

蛍光板でモニターしなくても、ＴＶ検出器の受光面にＴＥＭ像を常に正しく投影可能な電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of easily setting an aperture optimum for conditions for observation and capable of obtaining images of high resolution.例文帳に追加

観察条件に最適な開口を容易に設定でき、高い分解能の画像を得ることができるコンフォーカル顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope attaining the synchronization of the scanning position of a 1st scanning optical system and the scanning position of a 2nd scanning optical system.例文帳に追加

第一走査光学系の走査位置と第二走査光学系の走査位置の同期が図られた走査型レーザー顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To correct a drift of a focusing point position at a high speed in a scanning electron microscope having a function to observe featured objects on a sample.例文帳に追加

試料上の特徴物を観察する機能を有する走査型電子顕微鏡において、合焦点位置のずれを高速に補正する。 - 特許庁

ABERRATION EVALUATION PATTERN, ABERRATION EVALUATION METHOD, ABERRATION CORRECTION METHOD, ELECTRON BEAM DRAWING APPARATUS, ELECTRON MICROSCOPE, MASTER, STAMPER, RECORDING MEDIUM AND STRUCTURE例文帳に追加

収差評価用パターン、収差評価方法、収差補正方法、電子線描画装置、電子顕微鏡、原盤、スタンパ、記録媒体、及び構造物 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of reducing distortion errors in images and performing relative two-dimensional scanning between a probe and a sample.例文帳に追加

像の歪誤差をより小さくすることができる、プローブと試料との相対的な２次元走査を行いうる走査プローブ顕微鏡を実現する。 - 特許庁

First of all, an observation image of the electrode pad 3 through a transparent mounting substrate 1 by a differential interference microscope 8 is acquired as electronic image data.例文帳に追加

まず、微分干渉顕微鏡８による透明な実装基板１を介した電極パッド３の観察像を、電子画像データとして得る。 - 特許庁

To provide an operational amplifier capable of applying a high voltage and a large current and achieving stable and precise amplification and to provide a scanning electron microscope.例文帳に追加

高電圧・大電流を扱うことができ、安定且つ精密な増幅が可能な演算増幅器、及び走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method and a device using a scanning electron microscope capable of performing fine control of a probe accurately and simply.例文帳に追加

探針の微細な制御を正確に簡単に行なうことができる走査電子顕微鏡を用いた検査方法および装置をを実現する。 - 特許庁

To provide a differential interference microscope which permits easy changing of observation conditions without requiring intricate operations, such as mechanical actions.例文帳に追加

機械的な動作などの煩雑な操作を必要とすることなく、観察条件を容易に変更できる微分干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a conductive nanotube probe with reduced electric resistance, and an electrical characteristics evaluation apparatus and a scanning microscope which use the probe.例文帳に追加

電気抵抗を低減した導電性ナノチューブ探針、それを用いた電気特性評価装置及び走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which is made small-sized and always allows satisfactory confocal observation independently of switching of objective lenses.例文帳に追加

小型で、対物レンズの切換えに関係なく、常に良好な共焦点観察を行うことができる共焦点顕微鏡を提供できる。 - 特許庁

To provide an automatic focusing device capable of exactly determining the position of focusing in a short time, and to provide a microscope using the automatic focusing device.例文帳に追加

合焦点位置を短い時間で正確に求めることが可能な自動焦点装置、及びそれを用いた顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

The floating point execution unit may be used, for example, to accelerate pixel shading algorithms such as Fresnel and electron microscope effects.例文帳に追加

浮動小数点実行ユニットは、例えば、フレネル効果および電子顕微鏡効果などのピクセル・シェーディング・アルゴリズムを促進するのに使用されるとよい。 - 特許庁

To further reduce mechanical vibrations due to drive of a shutter device using a piezoelectric element for an actuator in a high performance transmission type electron microscope.例文帳に追加

高性能透過型電子顕微鏡において、アクチュエータに圧電素子を用いたシャッタ装置の駆動による機械的振動をより減少させる。 - 特許庁

Finally, by using an ion milling device, the observation part 14 is thinned to approximately several hundred nm, thus completing a sample for a transmission electron microscope.例文帳に追加

最後にイオンミリング装置を用い、観察部分１４を数百ｎｍまで薄片化して透過型電子顕微鏡用の試料を完成させる。 - 特許庁