「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(112ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a fluorescence microscope that makes it possible to observe the same observation face on a specimen irrespective of an observation method.例文帳に追加

本発明は、観察方法に依らず試料上の同一観察面の観察を可能とする蛍光顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a human sperm number-detecting kit capable of measuring human sperm numbers without using a microscope or a spectrophotometer by enzymatically producing NADH from fructose in a human semen and then adding luciferase emitting light with NADH thereto.例文帳に追加

顕微鏡や分光光度計などの設備がなくとも一般人が容易に測定できる精子数測定キットを開発すること。 - 特許庁

To provide an illuminating device for a laser scanning type microscope prepared in the cross-sectional direction of at least one of substantially uniform illumination light beams.例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡用の、本質的に均質な照明光線内の少なくとも一つの断面方向に準備された照明装置 - 特許庁

The potential difference generated by it is measured with use of a scanning surface potential microscope to identify the position of the opening defective contact 15.例文帳に追加

このことにより発生する電位差を走査型表面電位顕微鏡を用いて測定して、開口不良コンタクト１５の位置特定を行う。 - 特許庁

To accurately estimate the destruction cause of a metal material, which forms break surfaces unrecognized by visual observation or an optical microscope.例文帳に追加

目視や光学顕微鏡等では判別不能な破面が発生する金属材料の破壊原因を正確に推定することを目的とする。 - 特許庁

To provide a microscope for operation that has a simple constitution and can be improved in operability by realizing convenient and easy handling and operation.例文帳に追加

この発明は、簡易な構成で、且つ、簡便にして容易な取扱い操作を実現して、使い勝手の向上を図り得るようにすることにある。 - 特許庁

In one embodiment, an optical gadget to be fixed at a prescribed location in the central optical axis of an orthogonal operating system, such as a microscope, is provided.例文帳に追加

一つの実施態様では、顕微鏡などの直交動作システムの中心光軸内の所定位置に固定する光学装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of determining which channel data can be acquired from among recoding channels that are used for evaluating image in a microscope system.例文帳に追加

顕微鏡装置において、画像評価するための記録チャネルのうち、どのチャネルでデータ取得ができるかを読み取れる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a support device that prevents inclination of the rotation shaft of a support member supporting an imaging means, and to provide a microscope having the support device.例文帳に追加

撮像手段を支持する支持部材の回動軸が傾くことが防止される支持装置およびそれを備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Further, the electron microscope is equipped with a visual field deviation detection means judging existence of view field deviation, and a visual field correction means correcting the visual field.例文帳に追加

更に、本発明によると、視野ずれの有無を判定する視野ずれ検出手段と、視野ずれを補正する視野ずれ補正手段と、を有する。 - 特許庁

The surgical microscope 15 has a pair of eye pieces 22, and a main operator can three-dimensionally observe an optical image of a surgical site T.例文帳に追加

手術顕微鏡１５は一対の接眼部２２を有しており、主術者は術部Ｔの光学像を立体観察することができる。 - 特許庁

To prevent the visual field of a microscope from moving outside an object to be inspected or an inspection area, so that the operability of stage driving is improved.例文帳に追加

顕微鏡の視野が、被検査物の外にまたは検査領域の外に移動することを防止して、ステージ駆動の操作性を向上させる。 - 特許庁

To provide a microscope control device that detects whether or not switching is carried out without altering an objective lens switching mechanism.例文帳に追加

対物レンズの切り替え機構に変更を加えなくともその切り替えの有無を検知することのできる顕微鏡制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide an illuminating optical system for a microscope capable of obtaining a bright image by suppressing the intensity reduction of illuminating light and scattered light.例文帳に追加

照明光及び散乱光の強度の低下を抑制し、明るい像を得ることが可能な顕微鏡用照明光学系を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system which reads information from a non-contact storage medium pasted on a holder on which a sample is placed and writes information to the storage medium concerned.例文帳に追加

標本を載置するホルダに貼り付けられた非接触記憶媒体に対して情報を読み書きすることが可能な顕微鏡システム。 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL PROBE UNIT, ITS PRODUCING SYSTEM AND METHOD, NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING SAMPLE USING NEAR-FIELD LIGHT例文帳に追加

近接場光プローブユニット、その作製装置および作製方法、近接場光顕微鏡ならびに近接場光による試料測定方法 - 特許庁

At this time, the presence or absence of etching erosion of the metal thin film 25 can be inspected by using a passing light and a reflecting light by a microscope.例文帳に追加

このとき、金属薄膜２５のエッチング浸食の有無を顕微鏡によって、透過光及び反射光を用いて行うことができる。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting structure on a semiconductor substrate by forming the image of the structure with X-rays in an image forming X-ray microscope.例文帳に追加

結像型Ｘ線顕微鏡において構造をＸ線で結像する半導体基板上の構造の検査方法及び検査装置。 - 特許庁

To provide a confocal microscope with a light quantity saturation display function in which operation to adjust a light receiving gain or the like to an optimum condition is facilitated.例文帳に追加

受光ゲイン等を最適の状態に調整する作業が容易な光量飽和表示機能付共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This microscope is provided with a light source 17 emitting coherent light and a polarization variable element 18 changing the phase difference of x-polarization and y-polarization of the light.例文帳に追加

可干渉光を発する光源１７と、この光のｘ偏波とｙ偏波の位相差を変える偏波可変素子１８とを有する。 - 特許庁

The axis of a laser stripe (30a) is positioned by using a microscope, micrometer, or some other suitable scope, and its position is shown by a positioning mark, such as the crossing lines of a scope.例文帳に追加

顕微鏡、マイクロメータ等のスコープを用いて、レーザストライプ（30a）の軸を位置決めし、スコープの十字線等の位置決めマークでその位置を示す。 - 特許庁

To provide a microscope, a position control method, and a position control program that are able to exert position control of a stage at a high speed and with a simple configuration.例文帳に追加

簡易な構成で高速にステージの位置制御を行い得る顕微鏡、位置制御方法及び位置制御プログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope system capable of maintaining the amount of a liquid in a Petri dish to be approximately constant even when the liquid such as a culture medium is repeatedly discharged and injected.例文帳に追加

培地等の液体の排出と注入を繰り返してもシャーレ内の液体の量を略一定に維持可能な顕微鏡システム。 - 特許庁

By using an atomic force microscope provided with a probe 22 of the same composition as the protective layer 13, a force curve in a lubricating layer 14 is measured.例文帳に追加

保護層１３と同一組成の探針２２を備えた原子間力顕微鏡を用いて、潤滑層１４におけるフォースカーブを測定する。 - 特許庁

To provide an optical microscope system enabling a user to easily observe a specimen by using an image obtaining means and an image display means.例文帳に追加

画像取得手段および画像表示手段を用いて試料を容易に観察することができる光学顕微鏡システムを提供する - 特許庁

To provide a withstand voltage optical fiber resistant to deterioration in insulation, as well as being heavily insulated for an ultra-high voltage electron microscope and realize a manufacturing method thereof.例文帳に追加

絶縁劣化を起こし難く、高耐圧を有する超高圧電子顕微鏡用耐圧光ファイバー及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope structured so as to be able to effectively select magnifications often used from among many of those available for observation.例文帳に追加

多くの観察可能な倍率から、頻繁に使う倍率のみを効率よく選択できるように構成した電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a stage for a microscope of a flat parallel link type which has a compact structure and of which the moving capability has at three degrees of freedom.例文帳に追加

コンパクトな構造で、かつ運動能力が少なくとも３自由度を有する偏平なパラレルリンク型の顕微鏡用ステージを提供する。 - 特許庁

To provide a microscope for surely developing super resolution effect by surely synchronizing pump light and erase light to be radiated on a sample.例文帳に追加

ポンプ光およびイレース光を確実に同期して試料に照射でき、超解像効果を確実に発現できる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of obtaining a three-dimensional image of a subject and capable of shortening time taken for three-dimensional measurement.例文帳に追加

被検物の三次元画像の取得及び三次元計測の時間の短縮化を図ることができる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The region-specific expression information has high accuracy because visual determination using the optical microscope image is incorporated in this information.例文帳に追加

この領域特異的発現情報は光学顕微画像を用いた視覚的判断が織り込まれたものであるので高い正確性を有する。 - 特許庁

To provide a magnetic domain observation microscope efficiently and visibly observing the direction of the magnetization vector of a magnetic domain formed in a magnetic material.例文帳に追加

磁性体に形成された磁区の磁化ベクトルの方向を効率的に、かつ視認性良く観察できる磁区観察顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an ultraviolet microscope capable of for reducing a sample damage caused on the occasion of ultraviolet rays observation and to provide an observation method using the same.例文帳に追加

紫外光観察時の標本のダメージを軽減できる紫外線顕微鏡、およびこれを用いた観察方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an optical microscope system which allows disalignment of an optical axis to be corrected with an observation object kept still on a stage.例文帳に追加

本発明では、ステージ上の観察対象物を静止させたまま光軸ずれを補正することができる光学顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide a length-measuring method of a scanning electron microscope wherein no error in measuring length takes place from the configuration of a sample or film kind, etc.例文帳に追加

試料の構成や膜種等によって測長誤差の生じることのない走査形電子顕微鏡の測長方法を提供する。 - 特許庁

When the optical performance of the microscope is sufficiently secured, there is a gap between the mobile part 31 and auxiliary members 36 to 39.例文帳に追加

顕微鏡の光学性能が十分に確保されている状態においては可動部３１と補助部材３６〜３９との間に隙間がある。 - 特許庁

To provide a magnetic force microscope capable of providing an irregular image containing no magnetic information even in the observation of a sample in vacuum.例文帳に追加

真空中での試料観察においても磁気情報を含まない凹凸像を得ることができる磁気力顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a positioning device for an optical member suppressing vibration when positioning an optical member, and to provide a microscope having the same.例文帳に追加

光学部材を位置決めする際の振動を抑制することができる光学部材の位置決め装置と、これを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

A surface state measuring part (microscope camera 9, surface measuring part 53a) observes the surface state of the substrate to be measured as image data.例文帳に追加

表面状態計測部（顕微鏡カメラ９、表面計測部５３ａ）は、基板の表面状態を観察して画像データとして計測する。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope equipped with electric control components, which is very convenient for a user, and also, very excellent in ergonomics.例文帳に追加

本発明は、利用者にとって非常に便利で人間工学上も非常に優れている電気制御コンポーネント付き立体顕微鏡に関する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope by which the impurity concentration of a semiconductor as a sample 3 is detected without a bad influence due to a stray capacitance.例文帳に追加

試料３である半導体の不純物濃度を、浮遊容量の悪影響なしに、検出する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The microscope system has observation means composed of an objective lens and the electronic image pickup element and magnifying factor Mob of the objective lens satisfies a condition described below.例文帳に追加

対物レンズと電子撮像素子による観察手段を有していて、対物レンズの倍率Ｍｏｂが下記条件を満足するようにする。 - 特許庁

To provide an ophthalmic operation microscope which is heightened in visual discrimination of various different ophthalmic media and/or various different border layers between the ophthalmic media.例文帳に追加

種々異なる眼媒質及び／又は該眼媒質間の種々異なる境界層の視覚的識別性を改善する眼科用手術顕微鏡。 - 特許庁

To provide a microscopic focus maintenance device capable of shortening a time required for detecting a focal position, and to provide a microscope device.例文帳に追加

フォーカス位置の検出時間の短縮を図ることのできる顕微鏡フォーカス維持装置及び顕微鏡装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Both of the inspecting sections have inspecting microscope units 55 each being configured to flexibly move in the width direction perpendicular to a feed direction of the glass substrate W.例文帳に追加

両検査部は、検査用顕微鏡ユニット５５をガラス基板Ｗの搬送方向と直交する幅方向に移動自在に構成されている。 - 特許庁