「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(108ページ目) - Weblio英語例文検索

This application provides a method and device for acquiring a scanning electron microscope image without distortion by measuring and calibrating scanning distortion.例文帳に追加

走査歪みを計測し、校正することで歪みの無い走査電子顕微鏡像を取得するための方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus capable of controlling temperature with high accuracy without impairing operability and capable of minimizing focus drift.例文帳に追加

操作性を損なわずに、高精度で温度管理することができフォーカスドリフトを小さくすることができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope allowing observation on real time, a structural change of one biomolecule caused by a biochemical reaction.例文帳に追加

生化学反応に起因して起こる生体分子一個の構造変化を実時間で観測し得る走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of enhancing the natural frequency of a scanner and preventing the deterioration and breakage of a laser beam source.例文帳に追加

スキャナの固有振動数が高く、且つ、レーザ光源の劣化及び破壊を防止できる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide an immersion system microscope objective lens which can correct aberration caused by the difference in the refractive indexes of a cover glass and a sample.例文帳に追加

カバーガラスと試料の屈折率差に起因して発生する収差を補正し得る液浸系顕微鏡対物レンズが提供する。 - 特許庁

To provide a beam splitter by which a high-contrast image is obtained by restraining the scattering of light and to provide a laser scanning microscope equipped with the beam splitter.例文帳に追加

光の散乱を抑制し、高いコントラストの像を得るビームスプリッターおよびそれを備えたレーザ走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide the scan mechanism of a scanning probe microscope for suppressing generation of unwanted vibrations and having a small dimension along the z axis.例文帳に追加

不要な振動の発生が抑えられた、ｚ軸に沿った寸法の小さい走査型プローブ顕微鏡の走査機構を提供する。 - 特許庁

To provide a plurality of probes for scanning a large area in a short time and a simple device constitution for a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、大面積を短時間で走査するために、複数のプローブを備え、かつ、簡便な装置構成とする。 - 特許庁

To provide a surgical microscope which is capable to image structures having different optical characteristics in the human eye, and to provide a method to image the structures having different optical characteristics during an ophthalmic surgery.例文帳に追加

人間の目において異なる光学特性を有する構造を結像することが可能な外科用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a dark field illuminator for a microscope, which can be produced at low cost with simple constitution and evenly illuminate with high reflectance.例文帳に追加

簡単な構成で安価に製造でき、高い反射率でむらなく照明できる顕微鏡の暗視野照明装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic focusing device for a microscope capable of surely performing an appropriate focusing control, irrespective of the surface shape of an object to be inspected.例文帳に追加

被検物体の表面形状によらず、適正なオートフォーカス制御が確実にできる顕微鏡のオートフォーカス装置を提供する。 - 特許庁

To obtain the illumination optical system of a confocal laser scanning microscope constituted so that ring zonal luminous flux is always accurately projected on an objective pupil.例文帳に追加

輪帯光束が対物瞳に常に精度良く投影される共焦点レーザ走査顕微鏡の照明光学系を提供する。 - 特許庁

To easily, finely and accurately adjust tilting of a microscope and also to eliminate changes with respect to time passage which occurring after adjustment.例文帳に追加

顕微鏡のチルト調整が容易かつ微細で正確な調整が行えると共に、調整後の経時変化を無くすことができる。 - 特許庁

To provide a microscope system and an observing device to be used in combination with the microscope where a sample on a sample stage is difficult to move and the focus is easily adjusted by means of the objective lens of the microscope and where the display of a microscopic observation picture is stabilized in the case of observing a fine cell tissue with high magnification so as to obtain a sharp microscopic observation picture.例文帳に追加

本発明は、試料台上の試料が動き難く、顕微鏡の対物レンズによるピント合わせが行い易いうえ、微細な細胞組織を高倍率で観察する場合に顕微鏡観察画像の表示を安定化することができ、鮮明な顕微鏡観察画像を得ることができる顕微鏡装置とその顕微鏡と組合わせて使用される観察装置を提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

The culture observation system S comprises: a cultivator 2 for constituting an environment suitable for culture of cells; an imaging device 3 for taking a microscope image of cells; a display 4 for displaying a taken microscope image; and a computer 5 which controls the display of the display 4, wherein the computer 5 movably displays a predetermined scale in a microscope image displayed on the display 4.例文帳に追加

本発明の培養物観察システムＳは、細胞の培養に適した環境を構成するための培養庫２と、細胞の顕微鏡画像を撮影するための撮像装置３と、撮影された顕微鏡画像を表示するためのディスプレイ４と、ディスプレイ４の表示を制御するコンピュータ５とを備え、コンピュータ５は、ディスプレイ４に表示される顕微鏡画像内に所定のスケールを移動可能に表示する。 - 特許庁

To reduce wrong operation of a user of an electron microscope on which a specimen holder can be mounted, and to facilitate the management of information of the specimen.例文帳に追加

試料ホルダを装着可能な電子顕微鏡の使用者の誤操作を低減するとともに、試料の情報の管理を容易にする。 - 特許庁

Thus, the alignment mark can be observed while it is around the center of the visual field of the optical microscope as shown in 12.例文帳に追加

すると、当該アライメントマークは、１２で示されるように、光学顕微鏡の視野中心近傍に位置して観測されるようになる。 - 特許庁

To provide a laser microscope device by which a laser beam with appropriate light intensity can be emitted under short time control by a simple configuration.例文帳に追加

簡易な構成により短時間の制御で適正な光強度のレーザ光を照射できるレーザ顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

To reduce work load being exerted on a teacher who tries to comprehend the operating skill of students while the teacher teaches the operating method of a microscope.例文帳に追加

顕微鏡の操作方法を教授する際に、生徒の操作習熟度を把握するために教師にかかる労力を低減する。 - 特許庁

To provide a microscope system by which observation and measurement are performed without installing a material to be measured for six surfaces of the material to be measured again.例文帳に追加

被測定物の６面について該被測定物を再設置することなく、観察測定を可能とする顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

A confocal laser scanning microscope for acquiring a confocal image of a sample is provided with an optical microscope optical system which radiates illuminating light emitted from a light source, to the sample and detects measurement light from the sample to acquire a non-confocal image of the sample, and the optical microscope optical system has optical systems corresponding to at least two observation methods and can be switched to either of the optical systems.例文帳に追加

試料の共焦点画像を取得する共焦点レーザスキャニング顕微鏡は、光源から出射された照明光を試料に照射し、試料からの測定光を検出して試料の非共焦点画像を取得する光学顕微鏡光学系を備え、光学顕微鏡光学系は、少なくとも２種の観察法に対応する各光学系を有し、いずれか１つの前記光学系に切り換えられる。 - 特許庁

To provide a microscope which attains a bright vertical illumination, while WD and NA are identical to the values of the conventional types.例文帳に追加

ＷＤとＮＡが従来と同様な値でありながら、明るい落射照明を行うことができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

This nano-structure is utilized in a field emission type electronic source, a mold for nano imprint, a probe for a probe microscope and a magnetic recording medium.例文帳に追加

前記ナノ構造体を利用した電界放出型電子源、ナノインプリント用モールド、プローブ顕微鏡用探針、磁気記録媒体。 - 特許庁

To allow various defects on a wafer to be quickly observed with high sensitivity in a defect observation method and a device for the same of a scanning electron microscope (SEM).例文帳に追加

ＳＥＭの欠陥観察方法及びその装置において、ウェハ上の多様な欠陥を高速、高感度に欠陥を観察する。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope probe structure which is cost-effectively manufactured to achieve ultrahigh resolution and high yield.例文帳に追加

優れた費用効果で製造可能であり、超高分解能で高い歩留まりが可能な原子間力顕微鏡プローブ構成を提供する。 - 特許庁

Since the necessity of returning the beam spot into the visual field of the microscope during the slope adjustment is eliminated, the workability of the slope adjustment is improved.例文帳に追加

傾角調整時にビームスポットを顕微鏡視野内に戻す作業が不要となるので、傾角調整の作業性を改善できる。 - 特許庁

Further, immediately after the foreign matter is removed and sucked, inspection whether the foreign matter has been removed or not can be preformed using the microscope 4.例文帳に追加

また、異物を除去し吸引した後に、すぐに顕微鏡４を用いて異物が除去されたか否かの検査を行うことができる。 - 特許庁

To provide a beam or ray deflector and a scanning microscope in which noise is reduced at least in a sound volume level.例文帳に追加

少なくとも音量レベルの点で騒音を減少させたビームまたは光線偏向装置および走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a relatively thin transmission illuminator for a microscope which enables observation of a transparent sample with a moderate shadow.例文帳に追加

透明な試料に適度な陰影をつけて観察することを可能にする比較的薄型の顕微鏡用透過照明装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope that can reduce the time for finding visual field.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡に関し、視野探しに要する時間を短縮することができる電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide an achromat-grade objective lens for microscope whose magnification is about 50 and whose actuation distance is twice or more as long as a focal distance.例文帳に追加

倍率が５０倍程度で、焦点距離の２倍以上の作動距離を有するアクロマート級の顕微鏡対物レンズを提供する。 - 特許庁

In the magnetic probe for magnetic force microscope, a layered structure is formed on the surface of a needle-like part made of a nonmagnetic material.例文帳に追加

磁気力顕微鏡用の磁性探針においては、非磁性材料からなる針状部表面上に積層構造が形成されている。 - 特許庁

To provide a microscope device which can have its observation state switched easily and speedily without interrupting the sample observation.例文帳に追加

観察状態の切換えを簡単かつ迅速に、標本観察を中断することなく行うことができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a mechanism aligning chips and an optical fiber with a simple method by using a mirror without aligning them under the use of a microscope.例文帳に追加

チップと光ファイバーを顕微鏡の下で整列させるのではなく、ミラーを使って簡単な方法で調整する機構を提供する。 - 特許庁

To provide a scan laser microscope capable of acquiring an extensive and high-resolution image in high speed without failing to take any part of the image.例文帳に追加

広範囲かつ高解像な画像を、高速に且つ撮りもらしなく取得することができる走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an objective lens optimum for a multiphoton excitation laser scanning type microscope, and to provide a fluorescent detection system using the objective lens.例文帳に追加

本発明では多光子励起レーザー走査型顕微鏡に最適な対物レンズと、それを用いた蛍光検出システムを提供する。 - 特許庁

The known method includes using a scanning transmission electron microscope, and also using a scanned diffraction beam of the STEM.例文帳に追加

知られた方法は、走査透過電子顕微鏡を使用することを伴うと共に、ＳＴＥＭの回折の走査されたビームを使用する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope capable of finding an observation area of an electron beam diffraction image without overlapping and omission.例文帳に追加

電子線回折像の観察領域を重複及び欠落なしに、見つけ出すことができる透過型電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a laser microscope for achieving accurate observation of two-photon excitation fluorescence while suppressing fluorescence by three-photon excitation.例文帳に追加

３光子励起による蛍光を抑制しつつ、２光子励起蛍光の観察を精度よく行うことができるレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope provided with a mean measuring a dose of particle beam such as electron beam and ion beam.例文帳に追加

電子ビームやイオンビーム等の粒子線の粒子線量を測定する手段を備えた走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To realize a scanning electron microscope, in which secondary electrons can be detected even under a low vacuum, and an observation of a secondary electron image can be performed.例文帳に追加

低真空下でも２次電子を検出でき、２次電子像の観察を行うことができる走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide an electric revolver device for microscopes capable of reducing the cost, and a microscope including the electric revolver device.例文帳に追加

コストの低減を図ることができる顕微鏡用電動レボルバ装置および当該電動レボルバ装置を備えた顕微鏡を提供すること - 特許庁

To provide a scanning microscope for automatically setting an optimum acquired wavelength range only by selecting and inputting a fluorochrome.例文帳に追加

蛍光色素を選択して入力するだけで、最適な取得波長範囲を自動的に設定可能な走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This application may be composed as an additional module receivable particularly onto the sample table of a conventional scanning electron microscope.例文帳に追加

本発明は、特に、従来式の走査電子顕微鏡の試料台の上で受容可能な追加モジュールとして構成されていてよい。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a function which applies an arbitrary horizontal magnetic field from an outside only onto the region near a sample.例文帳に追加

外部から試料近傍のみに任意の水平方向磁場を印加する機能を有する走査型プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁