「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(104ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a revolver device having high durability by suppressing click grooves or the like from being worn away, and to provide a microscope equipped with the revolver device.例文帳に追加

クリック溝等の摩耗を抑制して耐久性の高いレボルバ装置及びレボルバ装置を備える顕微鏡を提供する。 - 特許庁

An electron beam irradiation surface 13a is used for detecting a focusing state of an electron beam B of a scanning electron microscope 1.例文帳に追加

走査電子顕微鏡１の電子ビームＢの集束状態を検出するために電子ビーム照射面１３ａを使用する。 - 特許庁

To provide a laser microscope which can suppress the occurrence of misalignment and can stably detect an anti-stokes beam.例文帳に追加

ミスアライメントの発生を抑えることができ、反ストークスビームを安定して検出することができるレーザー顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To automatically execute focal point correction of an electron microscope; to display an astigmatic difference value; and to quantitatively execute astigmatism correction.例文帳に追加

電子顕微鏡の焦点補正を自動的に行い、非点隔差量を表示させ、非点収差補正を定量的に実行する。 - 特許庁

DEVICE FOR MEASURING SPECTRUM CHARACTERISTIC OF FLUORESCENCE CUBE, FLUORESCENCE MICROSCOPE WITH THE SAME, AND PHOTOMETRIC UNIT AND FLUORESCENCE CUBE例文帳に追加

蛍光キューブのスペクトル特性の測定装置及びこの測定装置を備えた蛍光顕微鏡並びに測光ユニット及び蛍光キューブ - 特許庁

Consequently, the optical axis of the eyepiece lens of the microscope 20 corresponds with the optical axis of the imaging lens of the data visual presenter 100.例文帳に追加

これにより、顕微鏡２０の接眼レンズの光軸と資料提示装置１００の撮像レンズの光軸が一致する - 特許庁

To analyze a metallic element contained in a solution by irradiating laser beams to the solution using a microscope.例文帳に追加

顕微鏡を使用して、溶液にレーザー光線を照射させることにより、溶液に含まれる金属元素を分析するものである。 - 特許庁

To provide a microscope capable of performing a focus movement and an appropriate aberration correction for a plurality of objective lenses different in magnification.例文帳に追加

倍率が異なる複数の対物レンズに対して焦点移動と適正な収差補正が可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To realize a scanning electron microscope which is capable of selectively detecting electrons having specified energy in secondary electrons from a sample.例文帳に追加

試料からの電子の内特定のエネルギーの電子を選択的に検出することができる走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

SELECTIVE DETECTION IN COHERENT RAMAN MICROSCOPE METHOD BY SPECTRAL TEMPORAL EXCITATION SHAPING, AND SYSTEM AND METHOD FOR IMAGING例文帳に追加

スペクトル・時間励起成形によるコヒーレント・ラマン顕微鏡法における選択的検出およびイメージングのためのシステムおよび方法 - 特許庁

MICROPLATE WITH PERIODIC STRUCTURE AND SURFACE PLASMON EXCITING INTENSIFIED FLUORESCENT MICROSCOPE USING THE SAME OR FLUORESCENT MICROPLATE READER例文帳に追加

周期構造を有するマイクロプレートおよびそれを用いた表面プラズモン励起増強蛍光顕微鏡または蛍光マイクロプレートリーダー - 特許庁

The present invention relates to the surgical microscope drape with the removable lens assembly for use with surgical microscopes.例文帳に追加

本発明は、外科用顕微鏡との使用のための取り外し可能なレンズ組立体を備える外科用顕微鏡ドレープに関する。 - 特許庁

To provide a small-sized and portable microscope for ultramicroanalysis with excellent space resolution and stationary analysis capabil ity.例文帳に追加

小型で可搬性があり、かつ、空間分解能や定置分析能力に優れた超微量分析のための顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope capable of accurately focusing even a crystalline sample by an electron ray tilting method.例文帳に追加

結晶性の試料に対しても、電子線傾斜法による焦点合わせを正確に行える透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its using method capable of preventing generation of a photoelectric current by a laser beam in a sample.例文帳に追加

レーザー光による光起電流を試料に発生させない走査型プローブ顕微鏡およびその使用方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope which allows observation of a three-dimensional position and a three-dimensional orientation of molecules contained in an observation target.例文帳に追加

観察対象物に含まれる分子の３次元位置及び３次元配向を観測することができる顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide a scanning type laser microscope that acquires height information even on a sample having a steep slope, with high accuracy.例文帳に追加

急峻な傾斜面を有する試料でも高さ情報を精度良く取得できる走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a heating device that can automatically stain or treat a plurality of tissue samples placed each on a microscope slide (37).例文帳に追加

顕微鏡スライド（３７）上に載せた複数の組織サンプルを自動的に染色または処理するための装置を提供すること。 - 特許庁

This microscope optical system comprises an objective lens OL and an intermediate variable magnification part VL, disposed immediately after the image side of the objective lens OL.例文帳に追加

対物レンズＯＬと、前記対物レンズＯＬの像側の直後に中間変倍部ＶＬを配置してなる顕微鏡光学系。 - 特許庁

To provided an electron microscope quickly switching a monochromator while suppressing deterioration of acquisition data without reducing reliability.例文帳に追加

モノクロメータのオンオフを、取得データの劣化を押さえ、信頼性の低下を伴うことなく速やかに行う電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To prevent, by a simple structure, moisture in the atmosphere outside an electron microscope from being deposited on a sample surface as frost.例文帳に追加

電子顕微鏡の装置外の大気中の水分が霜となって試料表面に付着するのを簡単な構造により防ぐ。 - 特許庁

To obtain a Z-axial slight movement mechanism for microscope which has a 100 μm stroke or larger and 0.005 μm or smaller reproducibility of circularity.例文帳に追加

ストローク１００μｍ以上、真直度の再現性０．００５μｍ以内の顕微鏡用Ｚ軸微動機構を提供すること。 - 特許庁

To provide a control program capable of running as a single application program to control a plurality of microscope photographing apparatuses having different specifications.例文帳に追加

仕様の異なる複数の顕微鏡撮影装置を単一のアプリケーションプログラムとして制御できる制御プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an immersion microscope system capable of efficiently drying the tip end of an immersion objective lens in a short period of time.例文帳に追加

液浸系の対物レンズの先端を効率よく短時間で乾燥させることができる液浸顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide an observed object moving device for a microscope capable of securing a large moving stroke and realizing miniaturization.例文帳に追加

本発明は、大きな移動ストロークを確保できるとともに、小型化も実現できる顕微鏡用観察物移動装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope allowing accurate positioning of laser light onto a cantilever, in the case of any sample.例文帳に追加

どんな試料の場合でも、カンチレバ上へのレーザ光の位置合わせが正確に行える走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus capable of sufficiently cooling a heat generation source without causing vibration, noise, dust and stray light.例文帳に追加

振動、騒音、粉塵、迷光が発生することなく、発熱源を十分に冷却することのできる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning near-field optical microscope capable of corresponding to a sample large in dimensions and weight and scanning at high speed.例文帳に追加

寸法や重量が大きな試料に対しても対応でき、また、高速走査化が可能な走査型近接場光学顕微鏡。 - 特許庁

The microscope includes an objective lens 105; and a CCD 136 for observing a cell 103 via the objective lens 105.例文帳に追加

顕微鏡は、対物レンズ１０５と、対物レンズ１０５を介して細胞１０３を観察するためのＣＣＤ１３６を有している。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of observing a sample 7 in various stress states at various temperature values.例文帳に追加

様々な応力状態にある試料７の観察が様々な温度下において可能な走査型プローブ顕微鏡の提供。 - 特許庁

The drive member and a detecting element (a rotary encoder 112, etc.), for detecting the driving state thereof are arranged on the microscope 100 side.例文帳に追加

前記駆動部と、その駆動状態を検出する検出部（ロータリエンコーダ１１２等）は、顕微鏡１００側に配置される。 - 特許庁

This atomic force microscope 100 has the cantilever 130 and a stage 110 for holding liquid L and the cantilever 130.例文帳に追加

原子間力顕微鏡１００は、カンチレバー１３０と、液体Ｌとカンチレバー１３０を保持するステージ１１０とを有している。 - 特許庁

To provide a system and a method for retrieving, operating, and browsing an object of 3D imaging among 3D virtual microscope slide images.例文帳に追加

３Ｄ仮想顕微鏡スライド画像から３Ｄ画像化対象を検索、操作、閲覧するためのシステムと方法を提供する。 - 特許庁

To provide a tilt stage which performs smooth adjustment of a tilting angle and stable hold of a tilting angle, and to provide a microscope having the tilt stage.例文帳に追加

滑らかな傾角調整及び安定した傾角保持が可能な傾斜ステージとこれを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a laser scanning type microscope into which a laser beam from a laser beam source is effectively and ideally introduced.例文帳に追加

レーザ光源からのレーザ光を有効かつ理想的に顕微鏡に導入するレーザ走査型顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

In addition, this phase plate 10 is arranged in a passage of electrons passing through an objective lens of a phase difference electron microscope and a sample.例文帳に追加

そして、この位相板１０を、位相差電子顕微鏡の対物レンズ及び試料を通過した電子の通路に配置する。 - 特許庁

To provide a microscope in which a stage position is stably maintained even when the mass of a sample placed on the stage is varied.例文帳に追加

ステージに載置される試料の質量が変化しても、ステージ位置を安定して維持することができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope in which an electron energy loss spectroscopic (EELS) profile can be obtained regardless of an electron beam irradiation position on a sample.例文帳に追加

試料上での電子線照射位置に関係なくＥＥＬＳプロファイルを得ることができる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an eyepiece of measurement microscope capable of reducing the size and weight and accurately measuring the angle.例文帳に追加

小型、軽量化を図れるとともに、高精度の角度測定を行えるようになる測定顕微鏡の接眼レンズを提供する。 - 特許庁

The mounted position of the electronic component 2 to the electrode pad 3 is inspected from an observation image of the differential interference microscope 8.例文帳に追加

そうして、微分干渉顕微鏡８の観察像から電極パッド３に対する電子部品２の実装位置を検査する。 - 特許庁

The reagent is added to urinary sediments at a ratio (volume ratio) of 1-50:1 (urinary sediments: reagent) and the urinary sediments are observed under a microscope.例文帳に追加

この試薬を、尿沈渣に、尿沈渣：試薬＝１〜５０：１（容量比）の割合で添加した後、顕微鏡下で尿沈渣を観察する。 - 特許庁

To provide a cooling system for a cantilever for enhancing sensitivity and spatial resolution of a scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の感度および空間分解能を向上させるためのカンチレバーの冷却システムを提供すること。 - 特許庁

To provide an aberration correcting device for an electron microscope which generates a negative spherical aberration and corrects a high-order aberration.例文帳に追加

負の球面収差を生じさせ、且つ高次の収差を補正する電子顕微鏡用の収差補正装置を提供する。 - 特許庁

To realize a transmission electron microscope capable of smoothly filming images for a wide range of magnifications from low to high.例文帳に追加

低倍率から高倍率まで広い倍率範囲の像の撮影をスムーズに行うことができる透過電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To realize an objective lens for scanning electron microscope capable of forming the appropriate distribution of magnetic field on an axis, according to a use.例文帳に追加

用途に応じて適切な軸上磁場分布を形成することができる走査電子顕微鏡等の対物レンズを実現する。 - 特許庁