「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(101ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an AFM probe for use in an atomic force microscope (AFM), which is suitable for testing both topographical and mechanical properties of a microstructure having a size on the order of micrometers or nanometers.例文帳に追加

本発明は、原子間力顕微鏡（Atomic Force Microscope；AFM）に用いられるＡＦＭプローブに関し、より詳しくは、マイクロ単位またはナノ単位のサイズを有する微小構造物の形状及び機械的物性試験に共用可能なＡＦＭプローブを提供すること。 - 特許庁

The microscope is moved to a specified place by the base 1 for the microscope in a state where a fixed base 5 is made to float from a floor surface by attaching a caster 9 to a movable base 6 and moving the base 6 in a downstream direction with respect to the base 5.例文帳に追加

顕微鏡台１によれば、可動台６にキャスタ９を取り付け、固定台５に対して下方向に可動台６を移動させて固定台５を床面から浮上させた状態で、顕微鏡を所定の場所に移動することができる。 - 特許庁

To provide a pattern dimension measuring method capable of measuring a cross-sectional shape using a scanning charged particle microscope such as a STEM (Scanning Transmission Electron Microscope), as to a plurality of cross sections, by one time of sample preparation, and a system therefor.例文帳に追加

ＳＴＥＭ等の走査型荷電粒子顕微鏡を用いた断面形状計測を１回のサンプル作成で複数の断面について行うことができるようにしたパターン寸法計測方法及びそのシステムを提供することにある。 - 特許庁

To provide a sample preparation method and a sample preparation device, capable of performing sample observation in a short time in a transmission electron microscope, a scanning electron microscope or the like, and a sample observation device capable of observing the prepared sample in a short time.例文帳に追加

透過電子顕微鏡や走査電子顕微鏡などにおける試料観察を短時間に行える試料作製方法および試料作製装置、ならびにその作製された試料を短時間に観察できる試料観察装置を提供する。 - 特許庁

A dichroic prism 3 is fitted to one microscope part 2 and spectrally diffuses light into color components of red(R), green(G), and blue(B), which are photodetected by monochromatic TDI line sensors 32 respectively to reduce the number of microscope parts to 1/3 as large as before.例文帳に追加

１個の顕微鏡部２にダイクロイックプリズム３を取り付け、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の各色成分に分光し、分光された各色成分を各々モノクロのＴＤＩラインセンサ３２で受光することにより顕微鏡部の個数を従来の１／３にした。 - 特許庁

To prevent the visual field deviation of a characteristic object at a stage without being sufficiently corrected in obtaining a coordinate value in a scanning electron microscope used in converting a coordinate value of a characteristic object on a sample sent from the other device to the coordinate value in the scanning electron microscope, in the scanning electron microscope having a function for observing the characteristic object on the sample.例文帳に追加

試料上の特徴物を観察する機能を有する走査電子顕微鏡において、他の装置から送られてくる試料上の特徴物の座標値を走査電子顕微鏡での座標値に変換する際に用いる走査電子顕微鏡での座標値を取得するときに十分な補正のかかっていない段階での特徴物の視野ずれを防ぐ。 - 特許庁

Light control is carried out by applying a voltage value within a voltage range of a voltage value or more of a prescribed ratio or more against the rating voltage of a microscope light source 12, or by means that the voltage value is fixed at a prescribed ratio and applied to the microscope light source 12, and that light flux emitted from the microscope light source 12 is made to be transmitted through a dimmer filter.例文帳に追加

顕微鏡光源１２の定格電圧に対して所定比率の電圧値以上の電圧範囲内で電圧値を可変して顕微鏡光源１２に印加することにより調光し、又は所定比率の電圧値に固定して顕微鏡光源１２に印加すると共に、顕微鏡光源１２から放射される光束を減光フィルタに透過させて調光する。 - 特許庁

A microscope 11 includes: a microscope head part 21 having an optical system configured of an objective lens 41 for enlarging an observation image of a sample 13, and an imaging element 45 for imaging the sample 13 through the optical system; and an imaging button 34 provided in the microscope head part 21 and operated in issuing an instruction to capture the image to be captured by the imaging element 45.例文帳に追加

顕微鏡１１は、試料１３の観察像を拡大する対物レンズ４１などからなる光学系、並びに、その光学系を介して試料１３を撮像する撮像素子４５を有する顕微鏡ヘッド部２１と、撮像素子４５により撮像される画像の取り込みを指示するときに操作され、顕微鏡ヘッド部２１に配設された撮像ボタン３４とを備える。 - 特許庁

An observation lens barrel 21 of an inverted microscope 100 comprises a fixed lens barrel 21a and a movable lens barrel 21b supported rotatably about the fixed lens barrel and when an observation is made through an ocular 34 of an erecting microscope 200, the movable lens barrel 21b of the inverted microscope 100 is rotated to retract the ocular 22 from the observation position in a folded state.例文帳に追加

倒立顕微鏡１００の観察鏡筒２１を固定鏡筒２１ａと、この固定鏡筒に対して回動可能に支持された可動鏡筒２１ｂから構成し、正立顕微鏡２００の接眼レンズ３４で観察する際に、倒立顕微鏡１００の可動鏡筒２１ｂを回動させ、接眼レンズ２２を折り曲げた状態として観察位置から退避させる。 - 特許庁

When observing a sample image, formed by a transmission electron microscope, with a camera 4 and if optical conditions of the transmission electron microscope are changed, luminance, obtained owing to the change of the optical conditions, of the sample image formed by the transmission electron microscope, is adjusted by changing a sensitivity of the camera 4 while using a correction value calculated from the optical conditions.例文帳に追加

透過電子顕微鏡で作成した試料像をカメラ４で観察する場合において、透過電子顕微鏡の光学条件を変更した場合、当該光学条件の変更に伴って透過電子顕微鏡で作成した試料像の輝度を、前記光学条件から算出される補正値を用いてカメラ４の感度を変更することで調整するように構成される。 - 特許庁

A second movable stage is disposed between a microscope and a sample placed on a first stage, and in a state the second movable stage is moved, the center part of the second movable stage is positioned on the optical axis of the microscope, then, the work for the captured foreign substance and the specified part can be easily performed by the manipulator needle within the visual field of the microscope.例文帳に追加

移動可能な第二のステージを顕微鏡と第一のステージに載置された試料との間に配設するとともに移動可能な第二のステージを移動した状態は顕微鏡の光学軸上に移動可能な第二のステージの中心付近に移動されることで、操作針で捕捉した異物や特定部位を顕微鏡の視野範囲で容易に作業ができるようにする。 - 特許庁

To provide a microscope lens barrel capable of suppressing an eye point low and performing an observation horizontally or at a depression angle that is almost horizontal.例文帳に追加

アイポイントを低く抑えることができるとともに、水平もしくは水平に近い俯視角で観察を行うことができること。 - 特許庁

To provide a vertical illuminating fluorescent illumination device where irregular illumination is hardly caused, and a microscope equipped therewith.例文帳に追加

本発明の目的は、照明ムラが生じにくい落射蛍光照明装置、及びこれを備えた顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of measuring a local electric characteristic highly accurately even in the case of a sample having irregularities.例文帳に追加

凹凸のある試料であっても局所的電気特性を高い精度で測定できる走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a probe microscope for being made compact by using a simple structure, and observing an object to be measured W appropriately.例文帳に追加

簡素な構成で小型化することができ、被測定物Ｗを適切に観察することができるプローブ顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide an image evaluation method capable of evaluating the image resolution of a microscope image objectively.例文帳に追加

本発明の目的は、顕微鏡像の像分解能を客観的判断のもとに評価できる像評価方法の提供にある。 - 特許庁

To provide a confocal microscope in which the efficiency of using light can be enhanced and the shorter time for photographing can be achieved.例文帳に追加

光の使用効率を高め、撮像時間の短縮化を達成することができるコンフォーカル顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide an inexpensive microscope device of simple constitution which enables observation free of an image blur synchronized with vibration of a sample.例文帳に追加

試料の振動に同期した像ぶれのない観察を簡単な構成で、安価に実現できる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

Thus, even if a communication failure is caused during pressing of the button, a motor-driven microscope 1 can immediately stop the operation processing.例文帳に追加

これによりボタン押下中に通信障害が生じても、直ちに電動顕微鏡１は動作処理を停止することが出来る。 - 特許庁

To provide a scanning optical microscope capable of easily measuring the quantity of illuminating light radiated to a sample.例文帳に追加

標本に照射される照明光の光量を容易に測定することが可能な走査型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning optical microscope of a low cost which makes it possible to adequately obtain the resolution in the peripheral portion of a visual field as well.例文帳に追加

視野の周辺部の解像力も好適に得られるようにした低コストの走査型光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

OPTICAL FIBER PROBE, SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE DEVICE AND OPTICAL RECORDING MEDIUM REPRODUCING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF OPTICAL FIBER PROBE例文帳に追加

光ファイバプローブ、走査近接場光顕微鏡装置及び光記録媒体再生装置並びに光ファイバプローブの製造方法 - 特許庁

The fluorescent microscope is equipped with an exciting light irradiating section, an illumination section, a controller, an imaging section, and a focus controller.例文帳に追加

本発明の蛍光顕微鏡は、対物レンズ、励起光照射部、照明部、制御部、撮像部および焦点制御部を備える。 - 特許庁

To provide a surgical microscope which permits the diversification of usage forms by realizing simple and easy handling operation.例文帳に追加

この発明は、簡便にして容易な取扱い操作を実現したうえで、使用形態の多様化を図り得るようにすることにある。 - 特許庁

OPTICAL SYSTEM ADJUSTING METHOD, OPTICAL RECORDING AND REPRODUCING DEVICE UTILIZING THE SAME, MICROSCOPE DEVICE, AND MACHINING DEVICE例文帳に追加

光学系調整方法、並びにその光学系調整方法を利用した光記録再生装置、顕微鏡装置及び加工装置 - 特許庁

The microscope 1 for surgical operation includes an illumination optical system 20, an observation optical system 30 and a controller 60.例文帳に追加

手術用顕微鏡装置１は、照明光学系２０、観察光学系３０及び制御部６０を含んで構成される。 - 特許庁

To provide a revolver device having high in durability by suppressing click grooves, or the like, from being worn away, and to provide a microscope equipped with the revolver device.例文帳に追加

クリック溝等の摩耗を抑制して耐久性の高いレボルバ装置及びレボルバ装置を備える顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The surgical microscope is supported by the stand unit for holding the ocular unit and allowing the tubular unit 2 to be freely pivotable.例文帳に追加

この手術用顕微鏡は、接眼ユニットを保持する一方、筒ユニット２の回転自在を可能にするスタンドによって支持される。 - 特許庁

To provide a microscope which can perform an omnifocal lens image display in all display observation regions even when the observation center is moved.例文帳に追加

観察中心を移動させても全観察領域で全焦点画像表示を行うことのできる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope configured for a user to see the right and left observation images of observation optical systems with the same brightness, in epi-bright-field observation.例文帳に追加

落射明視野観察で左右の観察光学系の観察像が同じ明るさで見える実体顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a focusing device, a focusing method, a focusing program and a microscope capable of enhancing the efficiency of the acquisition of a subject image.例文帳に追加

被写体像の取得効率を向上させ得る合焦装置、合焦方法、合焦プログラム及び顕微鏡を提案する。 - 特許庁

In particular, a dispersion staining method in which asbestos crystals are visually searched by using a phase-contrast microscope, can be assisted by this method.例文帳に追加

特に、アスベスト結晶を位相差顕微鏡によって目視観察により探索する分散染色法を補助することもできる。 - 特許庁

SCANNING NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND METHOD FOR DETECTING ANGLE DEPENDENCE OF SCATTERING LIGHT THEREIN例文帳に追加

走査型近接場光学顕微鏡、走査型近接場光学顕微鏡における散乱光の角度依存性の検出方法 - 特許庁

PROBE FOR NEAR FIELD LIGHT, ITS MANUFACTURING METHOD, NEAR FIELD LIGHT MICROSCOPE, AND INFORMATION RECORD REGENERATION METHOD FOR OPTICAL MEMORY例文帳に追加

近接場光用のプローブ及びその作製方法、並びに近接場光学顕微鏡、光メモリの情報記録再生方式 - 特許庁

The ultrasonic image inspection device 1 includes a microscope main body 3, an objective revolver 4, an X-Y stage 5, and a personal computer 6.例文帳に追加

本発明の超音波画像検査装置１は、顕微鏡本体３、対物レボルバ４、Ｘ−Ｙステージ５、パソコン６を備える。 - 特許庁

A specimen of a composite material is magnified using a microscope to acquire a microscopic image of the composite material (step S101).例文帳に追加

まず、顕微鏡によって複合材料の試験片を拡大して、複合材料の微視的画像を取得する（ステップＳ１０１）。 - 特許庁

An observed image by a microscope 60 in the space station 2 is transmitted to the earth side through a camera 62 and a communication part 40.例文帳に追加

宇宙局２にある顕微鏡６０による観察像を、カメラ６２と通信部４０を介して地上側へ送信する。 - 特許庁

The microscopic system 10 comprises the microscope 100 and a controller 200 which are connected by a cable 300 for connection.例文帳に追加

顕微鏡システム１０は、顕微鏡１００とコントローラ２００とで構成され、これらは接続用ケーブル３００で接続される。 - 特許庁

To obtain a microscope contributing to the improvement of operability by realizing the setting of optimum driving speed with simple constitution.例文帳に追加

この発明は、構成簡易で、最適な駆動速度の設定を実現して、操作性の向上に寄与し得るようにすることにある。 - 特許庁

A scanning mechanism 10 of the scanning probe microscope has a fixed table 12 and a movable table 14 movable relative thereto.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の走査機構１０は、固定テーブル１２と、これに対して移動可能な可動テーブル１４を有している。 - 特許庁

To provide a technology used for performing global alignment (detection of displacement and rotation of a wafer) stably and automatically by using an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡を用いたグローバルアライメント（ウェーハの位置ずれ・回転検出）を安定かつ自動に行う技術を提供する。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope which can easily obtain dark field illumination, exhibits excellent operability, and realizes power saving.例文帳に追加

暗視野照明を簡単に得られるとともに、操作性に優れ、しかも省電力化を実現できる実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In place of an objective lens 42a or 42b, the cutter 52 of a cutter device 50 is disposed on an optical axis AX of the microscope 40.例文帳に追加

対物レンズ４２ａまたは４２ｂに代えて、カッタ装置５０のカッタ５２を顕微鏡４０の光軸ＡＸ上に配置する。 - 特許庁

To provide a stage for a microscope which makes it possible to easily and accurately drip a macerating medium on a macerated objective.例文帳に追加

液浸対物レンズへの液浸媒質の滴下を簡単に、しかも正確に行うことができる顕微鏡用ステージを提供する。 - 特許庁

At a position a fixed distance away from the vernier, a target mark TM for moving the microscope to be used for measurement is provided.例文帳に追加

バーニアから一定距離離れた位置に、測定に用いる顕微鏡を移動させるためのターゲットマークＴＭを備えていること。 - 特許庁