「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(97ページ目) - Weblio英語例文検索

A microscope controller 13 has a touch panel 27 and a CPU (Central Processing Unit) 21 including first and second recognition units 21a and 21b.例文帳に追加

顕微鏡コントローラ１３は、第１及び第２の認識部２１ａ、２１ｂを含むＣＰＵ２１とタッチパネル２７を有する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus for semiconductor wafer inspection that can precisely inspect edge, rear, and bevel sections.例文帳に追加

エッジ部、裏面部、およびベベル部について精巧な検査を実行できる半導体検査用顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope capable of preventing brightness of an image from being changed even when autofocusing is operated.例文帳に追加

オートフォーカスを動作させても、画像の明るさが変化することがない透過電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide an optical path splitting element capable of easily changing the positions of separated images and a microscope having the same.例文帳に追加

分離した画像の位置を容易に変更可能な光路分割光学素子とこれを備えた顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

Thus, the microscope system 1 can complete the replacement process for the slide glass SG in an extremely short time.例文帳に追加

これにより顕微鏡システム１は、スライドガラスＳＧの交換処理を極めて短い時間で完了することができる。 - 特許庁

To prevent the same nonmetallic inclusion from being doubly measured in different microscope visual fields coust by play of a stage driving system.例文帳に追加

ステージ駆動系の遊びにより、同じ非金属介在物が、異なる顕微鏡視野で重複して測定されるのを防ぐ。 - 特許庁

To provide a scanning microscope arranging first and second deflection elements nearby and reducing a total size.例文帳に追加

第１及び第２の偏向素子を近づけて配置することができ、全体を小型化した走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING OPTICAL FIBER PROBE, NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND NEAR-FIELD OPTICAL PROCESSING APPARATUS例文帳に追加

光ファイバープローブ評価方法、光ファイバープローブ評価装置、近接場光学顕微鏡、及び近接場光加工装置 - 特許庁

To provide a photomicrographic apparatus with which the state recovery of a microscope and a photographic means can easily be performed.例文帳に追加

顕微鏡および撮影手段の状態復帰を簡単に行うことができる顕微鏡撮影装置を提供する。 - 特許庁

An imaging part 102 picks up an observation image of a specimen obtained by a microscope 101 to acquire a specimen image.例文帳に追加

撮像部１０２は、顕微鏡１０１により得られる標本の観察像を撮像して標本画像を取得する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope for actualizing the downsizing of a device by dispensing with alignment adjustment on a detection system.例文帳に追加

検出系のアライメント調整を無くして装置の小型化を実現可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

PEDESTAL BASE PLATE, MEASURING HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, MEASURING SAMPLE ASSEMBLY, METHOD FOR PRODUCING MEASURING SAMPLE AND MEASURING METHOD例文帳に追加

ペデスタル基板、電子顕微鏡用測定治具、測定試料組み立て体、測定試料の作製方法及び測定方法 - 特許庁

To provide a scanning charged particle microscope equipped with an aberration correction device easily adjustable, having deep focal depth.例文帳に追加

容易に調整可能で焦点深度の深い、収差補正手段を備えた走査形荷電粒子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an optical microscope and an observation method by which the inside of a hole having a small inside diameter is observed.例文帳に追加

内径が小さい孔の内部を観察することができる光学顕微鏡及び観察方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection microscope system capable of efficiently and also accurately inspecting a part to be inspected.例文帳に追加

本発明は、効率よく、しかも正確に被検査箇所の検査を行なうことができる検査顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

The microscope measuring apparatus carries out a spectroscopic measuring of reflected light from a minute spot imaged on the test object B.例文帳に追加

被検体Ｂ上に結像した微小スポットからの反射光の分光測定を行う顕微鏡測定装置である。 - 特許庁

During or after the culture, the liquid permeable film having a grown mold is observed by a microscope.例文帳に追加

培養過程または培養終了後に、生育したカビを有する液体透過性フィルムを顕微鏡観察に供する。 - 特許庁

OPERATING INFORMATION COLLECTING DEVICE OF MICROSCOPE, OPERATING INFORMATION COLLECTING METHOD AND PROGRAM TO EXECUTE THE METHOD IN COMPUTER例文帳に追加

顕微鏡の操作情報収集装置、操作情報収集方法、その方法をコンピュータに実行させるためのプログラム - 特許庁

To provide a laser scanning type microscope capable of surely detecting angular deviation and parallel shifting of the optical axis of a light beam.例文帳に追加

光ビームの光軸の角度ずれと平行ずれを確実に検出できるレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a probe for a magnetic force microscope capable of heightening sharpness of a magnetic probe tip.例文帳に追加

磁気探針先端の先鋭化を高めることができる磁気力顕微鏡用探針の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a photoemission electron microscope improved so as to be able to be focused surely and highly accurately in a short time.例文帳に追加

短時間で確実に高精度の焦点合わせができるように改良した光電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING DISTANCE BETWEEN OPTICAL OBSERVATION DEVICE AND EXAMINED SAMPLE WITH EXTENT, AND MICROSCOPE IMPLEMENTING THE SAME METHOD例文帳に追加

光学的観察装置と広がりのある被検試料との間の距離測定方法及び該方法を実行する顕微鏡 - 特許庁

To provide a scanning type laser microscope device with which a fluorescence image having a good contrast can be obtained with simple constitution.例文帳に追加

簡易な構成でコンントラストの良い蛍光画像が取得できる走査型レーザ顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

A camera head 3 photographs the magnified image of a sample 7 obtained by a microscope body 2, to obtain a sample image.例文帳に追加

カメラヘッド３は、顕微鏡本体２により得られる標本７の拡大像を撮影して標本像を取得する。 - 特許庁

To provide a polarizing microscope by which high quenching ratio can be obtained even when an objective lens of high magnifying factor is used.例文帳に追加

高倍率な対物レンズを用いた場合であっても、高い消光比の得られる偏光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope with a vertical movement mechanism adaptable to a sample with thickness and a sample without thickness.例文帳に追加

厚みのある試料にも厚みのない試料にも対応可能な上下動機構を備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a preparation for favorably adjusting the positional relationship between two-dimensional images acquired by a microscope device.例文帳に追加

顕微鏡装置によって取得された二次元画像同士の位置関係を良好に調整できるプレパラートを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of performing the positioning of a probe due to coarse movement accurately and easily for a short time.例文帳に追加

粗動による探針の位置決めを、短時間で正確かつ容易に行える走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The period of the ruggedness of the surface is determined by a power spectral function of a rugged image which is obtained by an atomic force microscope.例文帳に追加

表面の凹凸の周期は、原子間力顕微鏡で得られた凹凸像のパワースペクトル関数を求め、決定する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope with a simple structure capable of obtaining high brightness hard to receive the influence of an external disturbance.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡において、簡易な構成で、高い輝度が得られ、外乱の影響を受けにくくすること。 - 特許庁

To easily inspect local variance in a pattern of an exposure mask only by measuring diffracted light without using a microscope.例文帳に追加

露光用マスクのパターンのローカルばらつきを、顕微鏡を用いることなく回折光の測定だけで簡易に検査する。 - 特許庁

By the invention, the high-luminance and high-resolution electron microscope and the electron beam drawing device can be obtained.例文帳に追加

また、各電子線放出素子を用いて電子銃，電子顕微鏡及び電子線描画装置とすることを特徴とする。 - 特許庁

SIGNAL DETECTION APPARATUS, SCANNING ATOMIC FORCE MICROSCOPE CONSTRUCTED OF IT, AND SIGNAL DETECTION METHOD例文帳に追加

信号検出装置、該信号検出装置によって構成した走査型原子間力顕微鏡、および信号検出方法 - 特許庁

To shorten time required to inspection when a wafer is inspected with an SEM(scanning electron microscope).例文帳に追加

ＳＥＭ（走査型電子顕微鏡）を使用して被検査ウエハの検査を行う際の検査に要する時間を短縮すること。 - 特許庁

To provide a scanning type proximity field microscope measuring a specimen at a high S/N ratio and a high resolution.例文帳に追加

高いＳ／Ｎ比で試料を高分解能に測定することが可能な走査型近接場顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To achieve the reduction of cost and the miniaturization of a color scanning microscope equipped with a confocal optical system and a white light optical system.例文帳に追加

共焦点光学系と白色光光学系とを備えて、カラーの走査顕微鏡のコストダウンと小型化を図る。 - 特許庁

To provide a sample observation method using an electron microscope capable of obtaining the sharper observation image of a sample.例文帳に追加

より鮮明な試料の観察像を得ることができる電子顕微鏡を用いた試料の観察方法を提供すること。 - 特許庁

STRIP FOR CONTROLLING ULTRATHIN LIQUID FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND COMBINATION OF SAME AND BOX例文帳に追加

電子顕微鏡用の超薄液体制御板及び電子顕微鏡用の超薄液体制御板とボックスとの組合せ - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of exciting a cantilever in its resonance frequency to observe a sample.例文帳に追加

カンチレバをその共振周波数で加振して試料観察を行うことができる走査形プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid-immersion objective lens capable of enhancing performance of optical tweezers, and to provide a microscope including the liquid-immersion objective lens.例文帳に追加

光ピンセットの性能を高めることができる液浸対物レンズとこれを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a sample surface treating method useful for observation of high performance intrinsic to a transmission electron microscope.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡本来の高性能の観察を行うために有用な試料表面の処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which simply sets an image desired by an observer and which is excellent in operability.例文帳に追加

観察者が求める画像を簡易に設定することができる操作性の良いコンフォーカル顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To prevent unrequested deviations from being caused between individual (constitutional) images of overlay images, with respect to a microscope.例文帳に追加

顕微鏡において、重畳画像における各個別（構成）画像の間の不所望のズレが生じないようにすること。 - 特許庁

To improve the capability of a scanning probe microscope following the surface and to improve the drawing accuracy of surface topography.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡が表面に追従する能力を高め、表面トポグラフィの描画精度を向上させること。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which can be easily focused, and a method for picking up a confocal image.例文帳に追加

簡便に焦点を調整することができるコンフォーカル顕微鏡、及びコンフォーカル画像の撮像方法を提供する。 - 特許庁