「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(94ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a culture medium observation microscope device for objectively determining a deterioration level of a culture medium.例文帳に追加

培地の劣化の程度を客観的に判定することができる培養細胞観察用顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

An atmospheric pressure scanning tunnel microscope system is used, and Pt/Ir is used for a probe 2 as one electrode.例文帳に追加

大気圧走査トンネル顕微鏡システムを用い、一方の電極としての探針２にはＰｔ／Ｉｒを用いる。 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, ITS SYSTEM, AND DIMENSION MEASURING METHOD USING THEM例文帳に追加

電子顕微鏡装置およびそのシステム並びに電子顕微鏡装置およびそのシステムを用いた寸法計測方法 - 特許庁

To provide a microscope which makes a user possible to perform good observation while preventing an operation error in changing over of objective lenses.例文帳に追加

対物レンズの切換の操作ミスを防いで良好な観察を行うことができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an illumination device and a microscope device capable of preventing UV rays from leaking to the outside.例文帳に追加

紫外光が外部へ漏れるのを防止することができる照明装置及び顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a slit scanning confocal microscope in which the resolution of a specimen in a depth direction is enhanced.例文帳に追加

試料の深さ方向の分解能を高めることができるスリット走査共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

As one example, a confocal microscope device for correcting the aberration dynamically by using the method is shown.例文帳に追加

その例として本発明の方法を用いて動的に収差を補正する共焦点顕微鏡装置を示す。 - 特許庁

This microscope system comprises a filter enabling the simultaneous observation of a tissue with visible light and fluorescence.例文帳に追加

顕微鏡システムは、可視光と蛍光との両方で同時に組織を観察することを可能にするフィルタを含む。 - 特許庁

To provide a microscope capable of constantly capturing appropriate focus error detection characteristics regardless of exchange of objective lenses.例文帳に追加

対物レンズを切り替えても、常に適切な焦点誤差検出特性を獲得できる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The electron microscope and the electron beam exposure apparatus are provided with this field-emission electron gun.例文帳に追加

一実施の形態の電子顕微鏡、及び電子ビーム露光機は、この電界放出型電子銃を備えている。 - 特許庁

To provide a Kerr effect microscope realizing the restraint of the lowering of an extinction ratio caused by the irregular polarization of an objective.例文帳に追加

対物レンズの偏光ムラに起因する消光比の低下が抑制されたカー効果顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope capable of simultaneously displaying a plurality of observation images with different magnification.例文帳に追加

異なる倍率の複数の観察画像を同時に表示することができる走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The focused ion beams are emitted to make the transmission type electron microscope plane-observed semiconductor thin sample.例文帳に追加

集束イオンビームを照射して透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料を作製する。 - 特許庁

To provide a low-cost scanning probe microscope capable of acurately aligning a laser beam to a cantilever.例文帳に追加

レーザー光のカンチレバーへの位置合わせを正確に行える低コストの走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a laser modulator capable of modulating laser beams having a plurality of wavelengths at high speed and to provide a microscope.例文帳に追加

複数の波長のレーザ光を高速で変調することが可能なレーザ変調装置、顕微鏡を提供する。 - 特許庁

an instrument called scanning tunnel microscope 例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡という,トンネル効果を利用して物質表面の原子の大きさ程度の凹凸を測定する装置 - EDR日英対訳辞書

individual layers of cancerous tissue are removed and examined under a microscope one at a time until all cancerous tissue has been removed. 例文帳に追加

がん組織全てを除去するまで、がん組織を層状に除去していき1層ずつ顕微鏡で検査する。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

the pathologist may study the tissue under a microscope or perform other tests on the cells or tissue. 例文帳に追加

病理医はその組織を顕微鏡で調べたり、その細胞または組織に対して他の検査を実施したりする。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

it is marked by lymphocytes (a type of white blood cell) in and around the tumor that can be seen when viewed under a microscope. 例文帳に追加

顕微鏡下で腫瘍の内部や周囲にリンパ球（白血球の一種）が観察できることを特徴とする。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

the gleason score (a number that describes how abnormal the cells look under a microscope) can be any level. 例文帳に追加

グリソンスコア（顕微鏡で観察したときに細胞が異常に見える程度を示す値）はさまざまな値をとりうる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

the cells are then placed onto slides by a special machine and examined under a microscope to see if the cells are abnormal. 例文帳に追加

その後、細胞を特殊な装置を用いてスライドガラスの上に置き、顕微鏡で異常細胞の有無を調べる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

To provide a microscope that meets demands for safety and attains a reliable automatic operation.例文帳に追加

安全性に関する要求を充足し、信頼性のある自動的作動を可能とする顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a cantilever used for an atomic force microscope formed by integrating a highly sensitive force displacement sensors.例文帳に追加

高感度な力変位センサを集積した、原子間力顕微鏡等に用いられるカンチレバーを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning near-field optical microscope capable of detecting a near-field signal with a superior S/N ratio.例文帳に追加

近接場信号を良好なＳ／Ｎで検出できる走査型近接場光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope which makes a sample surface observable without being affected by the regular reflected light of illumination light.例文帳に追加

照明光の正反射光の影響を受けないで試料表面の観察ができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

OPTICAL ELEMENT REPLACEMENT DEVICE FOR MICROSCOPE, METHOD OF CONTROLLING THE SAME, CONTROL PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

顕微鏡の光学素子交換装置、光学素子交換装置の制御方法、制御プログラムおよび記憶媒体 - 特許庁

To provide a small-sized resonator which can be easily assembled and which is stable in operation, and to provide a microscope equipped with the resonator.例文帳に追加

組立が容易で動作が安定した小型の共振器及び共振器を有する顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the microscope, a pseudo reference image Sref1 is composed of a pair of reference line profiles Lref1, Lref2 being arranged parallel to and apart from each other.例文帳に追加

疑似リファレンス画像Ｓref1は、一対の基準ラインプロファイルＬref1，Ｌref2を平行に離間配置して構成される。 - 特許庁

CAPTURING DEVICE FOR OPTICALLY CAPTURING OBJECT, METHOD FOR OPERATING IT, SCANNER, AND CONFOCAL MICROSCOPE例文帳に追加

物体の光学的捕捉用捕捉装置、該捕捉装置の稼動方法ならびに走査装置および共焦点顕微鏡 - 特許庁

To provide a fiber lighting type microscope that is capable of bright uniform lighting and of ensuring high resolution observation.例文帳に追加

明るくムラない照明を得られ、高分解能の観察を可能にしたファイバ照明型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE, MEASURING METHOD FOR SURFACE SHAPE USING IT AND MANUFACTURE OF MAGNETIC RECORDING MEDIUM例文帳に追加

原子間力顕微鏡、それを用いた表面形状の測定方法及び磁気記録媒体の製造方法 - 特許庁

To make it possible to irradiate also a minute defect with a light beam with accuracy while observing a photo mask by using an optical microscope.例文帳に追加

フォトマスクを光学顕微鏡を用いて観察しつつ、微小な欠陥にも精度良くビームを照射する。 - 特許庁

An SPM (scanning probe microscope) can write fine patterns on a substance by manipulating atoms one by one. 例文帳に追加

SPM(走査プローブ顕微鏡)は、原子1個1個を操作することにより、物質上に微細なパターンを描くことができる。 - 科学技術論文動詞集

The back focal plane of the final projector lens contains the diffraction pattern of the sample when the microscope is in image mode. 例文帳に追加

顕微鏡が像モードのとき、最終投影レンズの後焦点面は試料の回折図形を収容する。 - 科学技術論文動詞集

The microscope imaging apparatus comprises: an imaging means for outputting a microscope observation image as a color image; a coefficient setting means for setting the color images/monochromatic image conversion coefficient conformed to the selected microscope inspecting method; and an image conversion means for converting the color image into a monochromatic image by applying the set color image/monochromatic image conversion coefficient.例文帳に追加

顕微鏡観察画像をカラー画像として出力する撮像手段と、選択された検鏡法に適合するカラー画像／モノクロ画像変換係数を設定する係数設定手段と、前記設定されたカラー画像／モノクロ画像変換係数を適用して前記カラー画像をモノクロ画像に変換する画像変換手段とを具備する。 - 特許庁

In the confocal scanner which is used by being connected to a confocal microscope via the C-mount, the connection opening for the C-mount is sealed by a member configured so as to make exciting light incident on the confocal microscope and observation light returned from the confocal microscope pass and so as to freely attach and detach the C-mount.例文帳に追加

共焦点顕微鏡にCマウントを介して接続して用いられる共焦点スキャナにおいて、前記Cマウントとの接続口は、前記共焦点顕微鏡に入射する励起光および共焦点顕微鏡から戻ってくる観察光が通過可能に形成された部材で封止されると共に、Cマウントが自在に着脱できるように形成する。 - 特許庁

To provide a fluorescent microscope resolution evaluating chart which is easily manufactured and is used to objectively, quantitatively and accurately evaluate the image forming performance of an ultra-resolution fluorescent microscope that uses two wavelengths and is made superior in versatility and to provide a manufacturing method of the chart and to provide a resolution evaluating method of the fluorescent microscope using the chart.例文帳に追加

容易に製造でき、２波長を用いる超解像蛍光顕微鏡の結像性能も客観的かつ定量的に正確に評価できる汎用性に優れた蛍光顕微鏡用解像度評価チャートおよびその製造方法、並びに蛍光顕微鏡用解像度評価チャートを用いる蛍光顕微鏡の解像度評価方法を提供する。 - 特許庁

The laser scanning type microscope equipped with an acoustooptical element or an electrooptical element in an illumination optical system for introducing the laser beam from the laser beam source of the laser scanning type microscope into the microscope is equipped with a beam expander (120) arranged between the laser beam source (110) and the acoustooptical element or the electrooptical element (130).例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡のレーザ光源からのレーザ光を顕微鏡に導入する照明光学系内に、音響光学素子又は電気光学素子を備えたレーザ走査型顕微鏡において、前記レーザ光源（１１０）と、前記音響光学素子又は電気光学素子（１３０）との間に配置されたビームエキスパンダー（１２０）を具備する。 - 特許庁

This operating microscope has a positioning part which regulates rotation on an observation optical axis of the transparent protective cover 151 in the operating microscope which has a drape 150 of the operating microscope equipped with the transparent protective cover 151 fixed on the observation optical axis sidlingly and a mounting part of the transparent protective cover 151.例文帳に追加

観察光軸に対し傾斜して取り付けられる透明保護カバー１５１を有する手術用顕微鏡のドレープ１５０と、前記透明保護カバー１５１の取付け部とを有する手術用顕微鏡において、前記透明保護カバー１５１の前記観察光軸に対する回転を規制する位置決め部を備えた手術用顕微鏡である。 - 特許庁

Regarding the camera adapter for the microscope for attaching the camera for photographing a sample image from the 1st eyepiece sleeve of the binocular lens barrel part of the microscope through an eyepiece to the microscope, the camera adapter is provided with an adapter fixing part 15 for fixing the camera adapter main body to the 2nd eyepiece sleeve of the binocular lens barrel part, and a camera holding part 5 for holding the camera.例文帳に追加

顕微鏡の双眼鏡筒部の第１の接眼スリーブから接眼レンズを介して標本像を撮影するカメラを前記顕微鏡に装着するための顕微鏡用カメラアダプタであって、前記双眼鏡筒部の第２の接眼スリーブにカメラアダプタ本体を固定するためのアダプタ固定部１５と、前記カメラを保持するカメラ保持部５と、を具備する。 - 特許庁

One end part of a light guide OF is provided with a light shielding member 26 made of resin and having elasticity, which can be connected to a microscope body for observing an observation object and intercepts an optical path of the light guide OF when the connecting state between the light guide OF for guiding illuminating light of a light source to the microscope body and the microscope body is released.例文帳に追加

観察対象物を観察する顕微鏡本体に接続可能であり、光源の照明光を顕微鏡本体に導くライトガイドＯＦと顕微鏡本体との接続状態が解除されたとき、ライトガイドＯＦの光路を遮断する樹脂製で弾性を有する遮光部材２６をライトガイドＯＦの一端部に設けた。 - 特許庁

A light projecting unit 3 is stored in a light projecting optical system storage section H of a microscope main body 1 from an opening section 32 formed on the bottom surface of the microscope main body 1 and a lever 31, various knobs 30 and a light guide 24 are mounted for the stored light projecting unit 3 from an opening section 75 formed on the side surface of the microscope main body 1.例文帳に追加

投光ユニット３を顕微鏡本体１の底面に形成された開口部３２から顕微鏡本体１の投光光学系収納部Ｈ内に収納し、この収納された投光ユニット３に対して顕微鏡本体１の側面に形成された開口部７５からレバー３１や各ツマミ３０、ライトガイド２４の取り付けを行うようにした。 - 特許庁

A column electron microscope combined device has a structure of arranging: an electron microscope capable of beam tilting for obtaining images by irradiating charged particle beams on an observation defect and detecting electrons emitted from a surface of the observation defect; and compact column electron microscopes enabling imaging from an arbitrary angle on a column of the electron microscope.例文帳に追加

本発明は、上記目的を達成するために、荷電粒子ビームを観察欠陥に照射し、観察欠陥の表面から放出される電子を検出して画像を取得するビームチルトが可能な電子顕微鏡と、当該電子顕微鏡カラムに任意の角度から撮像可能とする小型カラム電子顕微鏡を複数配置した構造とする。 - 特許庁

The microscopic device 38 is provided with a microscope body part 80 having an introduction hole 78 for introducing illumination light and a light shielding stop 96 arranged on the front stage of the introduction hole 78 of the microscope body part 80 to shield a part of illumination light introduced from the introduction hole 78 into the microscope body part 80.例文帳に追加

顕微鏡装置３８は、照明光を導入するための導入孔７８を有する顕微鏡本体部８０と、顕微鏡本体部８０の導入孔７８の前段に設けられており、導入孔７８から顕微鏡本体部８０に導入される照明光の一部を遮光するための遮光絞り９６と、を備える。 - 特許庁

This scanning electron microscope is equipped with a sample chamber 5 of the microscope and a sample processing chamber 10 via an airlock valve 9, and the sample disposed in the specimen processing chamber 10 is processed, then subjected to slanting and rotation drive, followed by the introduction of the processed sample into the sample chamber 5 of the microscope for observation.例文帳に追加

走査電子顕微鏡であって、該走査電子顕微鏡の試料室５とエアロックバルブ９を介して試料加工室１０が設けられており、該試料加工室１０内に配置された試料を傾斜・回転駆動させて加工した後、加工された試料を走査電子顕微鏡の試料室５に導入して観察するように構成する。 - 特許庁