Microscopeを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8959件
To provide a microscope, in which an area for acquisition of a high-magnification image can be accurately recognized from a thumbnail image.例文帳に追加
サムネイル画像から高倍率画像を取得する領域を正確に認識することが可能な、顕微鏡を提供する。 - 特許庁
THREE-DIMENSIONAL INFORMATION GAINING METHOD, COFOCAL SCANNING MICROSCOPE AND STORAGE MEDIUM READABLE BY COMPUTER例文帳に追加
三次元情報取得方法及び共焦点走査型顕微鏡並びにコンピュータにより読み取り可能な記憶媒体 - 特許庁
To provide an image processor capable of easily performing color adjustment of an image according to a user, and a microscope.例文帳に追加
画像の色調整を使用者に合わせて簡便に行うことが可能な画像処理装置、顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a high-resolution near-field photoelectron microscope capable of observing a sample image of a biological sample in real time.例文帳に追加
生物試料についてリアルタイムで試料像を観察できる高分解能の近接場光顕微鏡を提供する。 - 特許庁
OPTICAL MICROSCOPE SYSTEM, OPTICAL AXIS CORRECTION METHOD USING SAME, OPTICAL AXIS CORRECTION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM HAVING THE PROGRAM RECORDED THEREIN例文帳に追加
光学顕微鏡システム、これを用いた光軸補正方法、光軸補正プログラム、及びこのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
To provide a means capable of extremely preventing the visual field of an auxiliary microscope from being shaded and securing the excellent visual field.例文帳に追加
補助顕微鏡の視野が遮られるのを極力抑え、良好な視野を確保できる手段の提供を課題とする。 - 特許庁
SONIC SPEED MEASURING METHOD AND DEVICE USING ULTRASONIC MICROSCOPE, AND IMAGE DIAGNOSING METHOD AND DEVICE例文帳に追加
超音波顕微鏡を使用した音速測定方法、その音速測定装置、画像診断方法およびその画像診断装置 - 特許庁
To provide a scan probe microscope having the function of calculating the parameters reflecting the surface shape of a probe tip.例文帳に追加
探針先端表面形状を反映したパラメータを算出する機能を有する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a polarization retention photonic crystal fiber for easily discriminating a polarization surface by enlarged observation using a microscope or the like.例文帳に追加
顕微鏡等による拡大観察により偏波面が容易に判別できる偏波保持フォトニッククリスタルファイバを提供する。 - 特許庁
Furthermore, an illumination unit is disposed for an inspection which is carried out by each inspecting microscope unit 55 by using a transmission illumination.例文帳に追加
さらに、各検査用顕微鏡ユニット55が透過照明で検査を行うための照明ユニットも設けられている。 - 特許庁
To provide a base for a microscope realizing the high efficiency of microscopic observation and the prevention of the infiltration of dust into a black box.例文帳に追加
顕微鏡観察の効率化及び暗箱内への塵の侵入防止を可能にした顕微鏡台を提供する。 - 特許庁
To provide a laser slit lamp which is composed of a slit lamp base, a slit lamp head, and a slit lamp microscope and which is coupled with an applicator.例文帳に追加
スリットランプベース、スリットランプヘッドおよびスリットランプ顕微鏡から構成され、アプリケータと結合しているレーザスリットランプ - 特許庁
To obtain an illuminating device for a microscope which prevents the efficiency of coupling with an optical fiber from lowering due to deviation of an optical axis occurring on and after a coupling lens.例文帳に追加
カップリングレンズ以降において発生した光軸ズレによる光ファイバへの結合効率の低下を防止する。 - 特許庁
To provide an electronic camera for a microscope which occupies so small a space, is constituted of components at a reasonable cost, and can obtain a digital photograph with ease.例文帳に追加
省スペースで安価な構成であり、簡単にデジタル写真の撮れる顕微鏡用電子カメラを提供すること。 - 特許庁
To provide a microscope for medical operation capable of efficiently operating a treating tool to be used for medical operation.例文帳に追加
手術に使用する処置具を効率よく操作することができる手術用顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁
To provide an electron microscope which can contribute greatly to making efficient cause investigation of a discovered pattern irregularity.例文帳に追加
発見したパタン異常の原因究明の効率化に大きく寄与することができる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
A body case 11 has a dovetail part 11a connected to the microscope, and a projection optical system 12 is fixed inside the case 11.例文帳に追加
本体ケース11は、顕微鏡に接続するアリ部11aを有し、内部に投影光学系12を固定している。 - 特許庁
To remove a black defect with less over etching by detecting a finish point by an AFM (Atomic Force Microscope) photomask defect correcting apparatus.例文帳に追加
AFMフォトマスク欠陥修正装置で終点検出によりオーバーエッチングの少ない黒欠陥除去を行う。 - 特許庁
To provide a scanning microscope that obtains a bright image by guiding light to a light-receiving surface at an optimum magnification.例文帳に追加
最適化された倍率で光を受光面に導いて、明るい画像が取得できる走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a confocal microscope in which synchronous stripes are removed by setting an optimum number of revolutions of a pinhole disk.例文帳に追加
ピンホールディスクの最適な回転数を設定することにより同期縞を除去した共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To obtain a video having little brightness irregularities in a microscope, where image is picked up using an electronic imaging device.例文帳に追加
電子撮像素子を用いて撮像する顕微鏡においては明るさムラの少ない映像を得ることができるようにする。 - 特許庁
To provide a microscope which can easily switch an objective lens, without minding a retreating work of the objective lens.例文帳に追加
対物レンズの退避作業を意識することなく、対物レンズの切り換えが容易に行える顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
To provide a microscope apparatus configured to photograph fluorescence generated by a sample of a pathology tissue or the like with exciting light.例文帳に追加
励起光による病理組織等標本等の発する蛍光の撮影を行う顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
To provide a laser confocal microscope capable of precisely detecting a sample surface, and a surface detection method.例文帳に追加
試料表面を正確に検出することができるレーザ共焦点顕微鏡及び表面検出方法を提供する。 - 特許庁
To enhance a scanning speed for a scanning X-ray microscope to provide a means capable of shortening a measuring time.例文帳に追加
走査型X線顕微鏡のスキャンスピードを向上させることにより、測定時間を短縮できる手段を提供する。 - 特許庁
To provide an optical/ultrasonic microscope system for reducing installation space and restraining installation costs.例文帳に追加
設置スペースを削減できるとともに、設備コストを抑えることができる光学/超音波顕微鏡システムを提供すること。 - 特許庁
The focal position deciding value is used as the optimum focal position deciding index of an optical microscope for measurement mark.例文帳に追加
この焦点位置決定値を測定マークに対する光学顕微鏡の最適な焦点位置決定指標として用いる。 - 特許庁
To provide a scanning confocal microscope having spectrum detection function having high light utilization efficiency in a wide wavelength region.例文帳に追加
広い波長域で高い光の利用効率を有する、分光検出機能を備えた共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To selectively detect only a microorganism without requiring an expensive microscope or much labor.例文帳に追加
高価な顕微鏡または多大な労力を必要とせずに微生物のみを選択的に検出することを目的とする。 - 特許庁
The microscope 11 includes the body 21 and the stand 22, and the body 21 is attachable to or detachable from the stand 22.例文帳に追加
顕微鏡11は、本体21とスタンド22とからなり、本体21はスタンド22に対して着脱可能とされている。 - 特許庁
Then, the work stage 13 is moved, and the projected position of the mask mark MAM is detected by the mask mark microscope 24.例文帳に追加
次いで、ワークステージ13を移動させマスクマーク用顕微鏡15によりマスクマークMAMの投影位置を検出する。 - 特許庁
The photoelectron microscope 4 and fixed reflector 21 are fixed to a bridge structure 3 provided to the main body base 1.例文帳に追加
光電顕微鏡4及び固定反射鏡21は本体ベース1に設けられたブリッジ構造体3に固定される。 - 特許庁
To obtain a filer cassette for vertically illuminated fluorescence microscope to which many filter sets can be attached and which is designed to be made small in size and reduced in occupancy space.例文帳に追加
多くのフィルタセットを取付けることができる小型、省スペース設計の落射蛍光顕微鏡用フィルタカセット。 - 特許庁
To provide a microscope system for operation capable of eliminating troublesomeness caused by leading round the long cable of an auxiliary observation device.例文帳に追加
補助観察装置の長いケーブル引き回しによる煩雑さを解消する手術用顕微鏡装置を提供する - 特許庁
a lamp that emits a narrow but intense beam of light that enables an ophthalmologist, using a microscope, to view the retina and optic nerve 例文帳に追加
眼科医が、顕微鏡を使用し、網膜と視神経を見ることができる、細いが、強い光線を放つ照明器具 - 日本語WordNet
APPARATUS WITH COAXIAL BARREL OF FOCUSED-ION BEAM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD FOR IMAGE FORMING AND PROCESSING例文帳に追加
集束イオンビームと走査型電子顕微鏡との同軸鏡筒を備えた装置並びに像形成及び処理方法 - 特許庁
To provide a transmission electron microscope capable of generating a high precision diffraction pattern, by shielding light at central spot of the diffraction pattern.例文帳に追加
回折像の中心スポットを遮光して、高精度の回折像が得られる透過型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
In the photoelectric microscope thus configurated, not only a real image of a specimen but also an electron diffraction image can be observed.例文帳に追加
このような構成をした光電子顕微鏡は、試料の実像だけでなく、電子回折像も観察することができる。 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, PATTERN MEASURING METHOD USING THE SAME, AND APPARATUS FOR CORRECTING DIFFERENCE BETWEEN SCANNING ELECTRON MICROSCOPES例文帳に追加
走査型電子顕微鏡及びそれを用いたパターン計測方法並びに走査型電子顕微鏡の機差補正装置 - 特許庁
To provide a photoelectric microscope in which not only a real image of a specimen but also an electron diffraction image can be observed.例文帳に追加
試料の実像だけでなく、電子回折像も観察することができる光電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
A focal point of a microscope lens 32 is focused on a focusing index provided on an abutting face 36a of a pressor plate 36.例文帳に追加
押圧板36の当接面36aに設けられた合焦用指標に顕微鏡レンズ32の焦点を合わせる。 - 特許庁
HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE TUNNEL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING MICRO SIGNAL SUPERIMPOSED THEREBY ON TUNNEL CURRENT例文帳に追加
ヘテロダインビートプローブ走査プローブトンネル顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法 - 特許庁
In an electron microscope image obtained, by making electrons incident on the crystal material, the lattice strain distribution is evaluated from contrast.例文帳に追加
結晶材料に電子を入射して得られる電子顕微鏡像において、コントラストから、格子歪分布を評価する。 - 特許庁
The immersion oil for the microscope is composed by blending (B) α-olefin in (A) liquid diene copolymer.例文帳に追加
(A)液状ジエン系共重合体に、(B)α−オレフィンを配合することを特徴とする顕微鏡用液浸油である。 - 特許庁
CONDUCTIVE CARBON NANOTUBE TIP, SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME例文帳に追加
導電性カーボンナノチューブチップ、これを備えた走査型プローブ顕微鏡のプローブ、及び該導電性カーボンナノチューブチップの製造方法 - 特許庁
To provide a scanning probe microscope capable of measuring a large-sized sample while keeping precision of several ten picometers.例文帳に追加
数十ピコメートルの精度を備えつつ、大型の試料を測定することができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
MIRROR DRIVING MECHANISM, AND SPECTROSCOPIC DEVICE AND SCANNING LASER MICROSCOPE PROVIDED WITH MIRROR DRIVEN BY MIRROR DRIVING MECHANISM例文帳に追加
ミラー駆動機構及びミラー駆動機構によって駆動されるミラーを備えた分光装置及び走査型レーザー顕微鏡 - 特許庁
An accurate electron energy loss spectrum is acquired with an electron microscope provided with the electron energy loss spectroscope.例文帳に追加
電子エネルギー損失スペクトル装置を備えた電子顕微鏡において、高精度な電子エネルギー損失スペクトルを取得できる。 - 特許庁
To provide a low vacuum scanning electron microscope wherein secondary electrons can be efficiently detected even at a low degree of vacuum.例文帳に追加
低い真空度でも2次電子を効率よく検出することができる低真空走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁
SHARPENED DIAMOND NEEDLE, CANTILEVER USING THE SAME FOR SCANNING-PROBE MICROSCOPE, PHOTOMASK-CORRECTING PROBE, AND ELECTRON BEAM SOURCE例文帳に追加
先鋭化針状ダイヤモンド、およびそれを用いた走査プローブ顕微鏡用カンチレバー、フォトマスク修正用プローブ、電子線源 - 特許庁
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