「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(98ページ目) - Weblio英語例文検索

To prevent unrequested deviations from being caused between individual (constitutional) images of overlay images, with respect to a microscope.例文帳に追加

顕微鏡において、重畳画像における各個別（構成）画像の間の不所望のズレが生じないようにすること。 - 特許庁

To improve the capability of a scanning probe microscope following the surface and to improve the drawing accuracy of surface topography.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡が表面に追従する能力を高め、表面トポグラフィの描画精度を向上させること。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which can be easily focused, and a method for picking up a confocal image.例文帳に追加

簡便に焦点を調整することができるコンフォーカル顕微鏡、及びコンフォーカル画像の撮像方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope, in which an area for acquisition of a high-magnification image can be accurately recognized from a thumbnail image.例文帳に追加

サムネイル画像から高倍率画像を取得する領域を正確に認識することが可能な、顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning microscope that obtains a bright image by guiding light to a light-receiving surface at an optimum magnification.例文帳に追加

最適化された倍率で光を受光面に導いて、明るい画像が取得できる走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope in which synchronous stripes are removed by setting an optimum number of revolutions of a pinhole disk.例文帳に追加

ピンホールディスクの最適な回転数を設定することにより同期縞を除去した共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To obtain a video having little brightness irregularities in a microscope, where image is picked up using an electronic imaging device.例文帳に追加

電子撮像素子を用いて撮像する顕微鏡においては明るさムラの少ない映像を得ることができるようにする。 - 特許庁

APPARATUS WITH COAXIAL BARREL OF FOCUSED-ION BEAM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD FOR IMAGE FORMING AND PROCESSING例文帳に追加

集束イオンビームと走査型電子顕微鏡との同軸鏡筒を備えた装置並びに像形成及び処理方法 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope capable of generating a high precision diffraction pattern, by shielding light at central spot of the diffraction pattern.例文帳に追加

回折像の中心スポットを遮光して、高精度の回折像が得られる透過型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the photoelectric microscope thus configurated, not only a real image of a specimen but also an electron diffraction image can be observed.例文帳に追加

このような構成をした光電子顕微鏡は、試料の実像だけでなく、電子回折像も観察することができる。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, PATTERN MEASURING METHOD USING THE SAME, AND APPARATUS FOR CORRECTING DIFFERENCE BETWEEN SCANNING ELECTRON MICROSCOPES例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びそれを用いたパターン計測方法並びに走査型電子顕微鏡の機差補正装置 - 特許庁

To provide a photoelectric microscope in which not only a real image of a specimen but also an electron diffraction image can be observed.例文帳に追加

試料の実像だけでなく、電子回折像も観察することができる光電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

A focal point of a microscope lens 32 is focused on a focusing index provided on an abutting face 36a of a pressor plate 36.例文帳に追加

押圧板３６の当接面３６ａに設けられた合焦用指標に顕微鏡レンズ３２の焦点を合わせる。 - 特許庁

HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE TUNNEL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING MICRO SIGNAL SUPERIMPOSED THEREBY ON TUNNEL CURRENT例文帳に追加

ヘテロダインビートプローブ走査プローブトンネル顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法 - 特許庁

To provide a low vacuum scanning electron microscope wherein secondary electrons can be efficiently detected even at a low degree of vacuum.例文帳に追加

低い真空度でも２次電子を効率よく検出することができる低真空走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

SHARPENED DIAMOND NEEDLE, CANTILEVER USING THE SAME FOR SCANNING-PROBE MICROSCOPE, PHOTOMASK-CORRECTING PROBE, AND ELECTRON BEAM SOURCE例文帳に追加

先鋭化針状ダイヤモンド、およびそれを用いた走査プローブ顕微鏡用カンチレバー、フォトマスク修正用プローブ、電子線源 - 特許庁

To show a laser microdissection unit capable of realizing the unification of a microscope having a fluorescent axis and motorized and integrated.例文帳に追加

動力化され一体化された蛍光軸を有する顕微鏡の一体化を可能とするレーザー顕微解剖ユニットを示す。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope switching excitation light wavelength at a high speed.例文帳に追加

本発明では、励起光波長を高速に切り換えることができるレーザー走査型顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

In an electron microscope image obtained, by making electrons incident on the crystal material, the lattice strain distribution is evaluated from contrast.例文帳に追加

結晶材料に電子を入射して得られる電子顕微鏡像において、コントラストから、格子歪分布を評価する。 - 特許庁

The immersion oil for the microscope is composed by blending (B) α-olefin in (A) liquid diene copolymer.例文帳に追加

（Ａ）液状ジエン系共重合体に、（Ｂ）α−オレフィンを配合することを特徴とする顕微鏡用液浸油である。 - 特許庁

CONDUCTIVE CARBON NANOTUBE TIP, SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME例文帳に追加

導電性カーボンナノチューブチップ、これを備えた走査型プローブ顕微鏡のプローブ、及び該導電性カーボンナノチューブチップの製造方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of measuring a large-sized sample while keeping precision of several ten picometers.例文帳に追加

数十ピコメートルの精度を備えつつ、大型の試料を測定することができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

MIRROR DRIVING MECHANISM, AND SPECTROSCOPIC DEVICE AND SCANNING LASER MICROSCOPE PROVIDED WITH MIRROR DRIVEN BY MIRROR DRIVING MECHANISM例文帳に追加

ミラー駆動機構及びミラー駆動機構によって駆動されるミラーを備えた分光装置及び走査型レーザー顕微鏡 - 特許庁

An accurate electron energy loss spectrum is acquired with an electron microscope provided with the electron energy loss spectroscope.例文帳に追加

電子エネルギー損失スペクトル装置を備えた電子顕微鏡において、高精度な電子エネルギー損失スペクトルを取得できる。 - 特許庁

To provide a microscope system for operation capable of eliminating troublesomeness caused by leading round the long cable of an auxiliary observation device.例文帳に追加

補助観察装置の長いケーブル引き回しによる煩雑さを解消する手術用顕微鏡装置を提供する - 特許庁

Then, the work stage 13 is moved, and the projected position of the mask mark MAM is detected by the mask mark microscope 24.例文帳に追加

次いで、ワークステージ１３を移動させマスクマーク用顕微鏡１５によりマスクマークＭＡＭの投影位置を検出する。 - 特許庁

The photoelectron microscope 4 and fixed reflector 21 are fixed to a bridge structure 3 provided to the main body base 1.例文帳に追加

光電顕微鏡４及び固定反射鏡２１は本体ベース１に設けられたブリッジ構造体３に固定される。 - 特許庁

The microscope 11 includes the body 21 and the stand 22, and the body 21 is attachable to or detachable from the stand 22.例文帳に追加

顕微鏡１１は、本体２１とスタンド２２とからなり、本体２１はスタンド２２に対して着脱可能とされている。 - 特許庁

To create a color composite image that is produced by combining an optical image with an electron microscope image and reduces a feeling of strangeness of light and dark.例文帳に追加

明暗の違和感を低減した、光学画像と電子顕微鏡画像を合成したカラー合成画像を作成する。 - 特許庁

To provide a laser slit lamp which is composed of a slit lamp base, a slit lamp head, and a slit lamp microscope and which is coupled with an applicator.例文帳に追加

スリットランプベース、スリットランプヘッドおよびスリットランプ顕微鏡から構成され、アプリケータと結合しているレーザスリットランプ - 特許庁

To obtain an illuminating device for a microscope which prevents the efficiency of coupling with an optical fiber from lowering due to deviation of an optical axis occurring on and after a coupling lens.例文帳に追加

カップリングレンズ以降において発生した光軸ズレによる光ファイバへの結合効率の低下を防止する。 - 特許庁

To provide a high-resolution near-field photoelectron microscope capable of observing a sample image of a biological sample in real time.例文帳に追加

生物試料についてリアルタイムで試料像を観察できる高分解能の近接場光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a base for a microscope realizing the high efficiency of microscopic observation and the prevention of the infiltration of dust into a black box.例文帳に追加

顕微鏡観察の効率化及び暗箱内への塵の侵入防止を可能にした顕微鏡台を提供する。 - 特許庁

To obtain a filer cassette for vertically illuminated fluorescence microscope to which many filter sets can be attached and which is designed to be made small in size and reduced in occupancy space.例文帳に追加

多くのフィルタセットを取付けることができる小型、省スペース設計の落射蛍光顕微鏡用フィルタカセット。 - 特許庁

Furthermore, an illumination unit is disposed for an inspection which is carried out by each inspecting microscope unit 55 by using a transmission illumination.例文帳に追加

さらに、各検査用顕微鏡ユニット５５が透過照明で検査を行うための照明ユニットも設けられている。 - 特許庁

OPTICAL MICROSCOPE SYSTEM, OPTICAL AXIS CORRECTION METHOD USING SAME, OPTICAL AXIS CORRECTION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM HAVING THE PROGRAM RECORDED THEREIN例文帳に追加

光学顕微鏡システム、これを用いた光軸補正方法、光軸補正プログラム、及びこのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a means capable of extremely preventing the visual field of an auxiliary microscope from being shaded and securing the excellent visual field.例文帳に追加

補助顕微鏡の視野が遮られるのを極力抑え、良好な視野を確保できる手段の提供を課題とする。 - 特許庁

In this microscope, a slide glass 2 on which a sample 1 is placed is disposed on a total internal reflection prism 3 through a matching oil 4.例文帳に追加

試料１が載置されたスライドガラス２はマッチングオイル４を介して内部全反射プリズム３の上に配置される。 - 特許庁

To provide a scan probe microscope having the function of calculating the parameters reflecting the surface shape of a probe tip.例文帳に追加

探針先端表面形状を反映したパラメータを算出する機能を有する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a polarization retention photonic crystal fiber for easily discriminating a polarization surface by enlarged observation using a microscope or the like.例文帳に追加

顕微鏡等による拡大観察により偏波面が容易に判別できる偏波保持フォトニッククリスタルファイバを提供する。 - 特許庁

SONIC SPEED MEASURING METHOD AND DEVICE USING ULTRASONIC MICROSCOPE, AND IMAGE DIAGNOSING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

超音波顕微鏡を使用した音速測定方法、その音速測定装置、画像診断方法およびその画像診断装置 - 特許庁

To provide an optical/ultrasonic microscope system capable of reducing the installation space, and suppressing the facility cost.例文帳に追加

設置スペースを削減できるとともに、設備コストを抑えることができる光学／超音波顕微鏡システムを提供すること。 - 特許庁

To easily measure a deviation of an optical axis of an optical microscope used in an alignment sensor or an overlay inspecting instrument.例文帳に追加

アライメントセンサー又はオーバーレイ検査装置で使用される光学式顕微鏡の光軸ずれを簡単に測定すること。 - 特許庁

To adjust the set angle of a liquid crystal monitor device in accordance with the rotational angle of an observed image observed by a microscope.例文帳に追加

顕微鏡で観察される観察像の回転角度に応じて液晶モニタ装置の設置角度を調整すること。 - 特許庁

To reduce the amount of reflected light when an operation such as an ophthalmic operation is executed under a microscope and to secure superior cutting performance.例文帳に追加

眼科手術のように顕微鏡下で手術する際の反射光を少なくし、且つ切れ味の良さを確保する。 - 特許庁