「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(98ページ目) - Weblio英語例文検索

A camera head 3 photographs the magnified image of a sample 7 obtained by a microscope body 2, to obtain a sample image.例文帳に追加

カメラヘッド３は、顕微鏡本体２により得られる標本７の拡大像を撮影して標本像を取得する。 - 特許庁

To provide a polarizing microscope by which high quenching ratio can be obtained even when an objective lens of high magnifying factor is used.例文帳に追加

高倍率な対物レンズを用いた場合であっても、高い消光比の得られる偏光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope with a vertical movement mechanism adaptable to a sample with thickness and a sample without thickness.例文帳に追加

厚みのある試料にも厚みのない試料にも対応可能な上下動機構を備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a preparation for favorably adjusting the positional relationship between two-dimensional images acquired by a microscope device.例文帳に追加

顕微鏡装置によって取得された二次元画像同士の位置関係を良好に調整できるプレパラートを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of performing the positioning of a probe due to coarse movement accurately and easily for a short time.例文帳に追加

粗動による探針の位置決めを、短時間で正確かつ容易に行える走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The period of the ruggedness of the surface is determined by a power spectral function of a rugged image which is obtained by an atomic force microscope.例文帳に追加

表面の凹凸の周期は、原子間力顕微鏡で得られた凹凸像のパワースペクトル関数を求め、決定する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope with a simple structure capable of obtaining high brightness hard to receive the influence of an external disturbance.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡において、簡易な構成で、高い輝度が得られ、外乱の影響を受けにくくすること。 - 特許庁

To easily inspect local variance in a pattern of an exposure mask only by measuring diffracted light without using a microscope.例文帳に追加

露光用マスクのパターンのローカルばらつきを、顕微鏡を用いることなく回折光の測定だけで簡易に検査する。 - 特許庁

By the invention, the high-luminance and high-resolution electron microscope and the electron beam drawing device can be obtained.例文帳に追加

また、各電子線放出素子を用いて電子銃，電子顕微鏡及び電子線描画装置とすることを特徴とする。 - 特許庁

SIGNAL DETECTION APPARATUS, SCANNING ATOMIC FORCE MICROSCOPE CONSTRUCTED OF IT, AND SIGNAL DETECTION METHOD例文帳に追加

信号検出装置、該信号検出装置によって構成した走査型原子間力顕微鏡、および信号検出方法 - 特許庁

To shorten time required to inspection when a wafer is inspected with an SEM(scanning electron microscope).例文帳に追加

ＳＥＭ（走査型電子顕微鏡）を使用して被検査ウエハの検査を行う際の検査に要する時間を短縮すること。 - 特許庁

To provide a scanning type proximity field microscope measuring a specimen at a high S/N ratio and a high resolution.例文帳に追加

高いＳ／Ｎ比で試料を高分解能に測定することが可能な走査型近接場顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To achieve the reduction of cost and the miniaturization of a color scanning microscope equipped with a confocal optical system and a white light optical system.例文帳に追加

共焦点光学系と白色光光学系とを備えて、カラーの走査顕微鏡のコストダウンと小型化を図る。 - 特許庁

To provide a sample observation method using an electron microscope capable of obtaining the sharper observation image of a sample.例文帳に追加

より鮮明な試料の観察像を得ることができる電子顕微鏡を用いた試料の観察方法を提供すること。 - 特許庁

STRIP FOR CONTROLLING ULTRATHIN LIQUID FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND COMBINATION OF SAME AND BOX例文帳に追加

電子顕微鏡用の超薄液体制御板及び電子顕微鏡用の超薄液体制御板とボックスとの組合せ - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of exciting a cantilever in its resonance frequency to observe a sample.例文帳に追加

カンチレバをその共振周波数で加振して試料観察を行うことができる走査形プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid-immersion objective lens capable of enhancing performance of optical tweezers, and to provide a microscope including the liquid-immersion objective lens.例文帳に追加

光ピンセットの性能を高めることができる液浸対物レンズとこれを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a sample surface treating method useful for observation of high performance intrinsic to a transmission electron microscope.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡本来の高性能の観察を行うために有用な試料表面の処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which simply sets an image desired by an observer and which is excellent in operability.例文帳に追加

観察者が求める画像を簡易に設定することができる操作性の良いコンフォーカル顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To prevent unrequested deviations from being caused between individual (constitutional) images of overlay images, with respect to a microscope.例文帳に追加

顕微鏡において、重畳画像における各個別（構成）画像の間の不所望のズレが生じないようにすること。 - 特許庁

To improve the capability of a scanning probe microscope following the surface and to improve the drawing accuracy of surface topography.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡が表面に追従する能力を高め、表面トポグラフィの描画精度を向上させること。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which can be easily focused, and a method for picking up a confocal image.例文帳に追加

簡便に焦点を調整することができるコンフォーカル顕微鏡、及びコンフォーカル画像の撮像方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope, in which an area for acquisition of a high-magnification image can be accurately recognized from a thumbnail image.例文帳に追加

サムネイル画像から高倍率画像を取得する領域を正確に認識することが可能な、顕微鏡を提供する。 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL INFORMATION GAINING METHOD, COFOCAL SCANNING MICROSCOPE AND STORAGE MEDIUM READABLE BY COMPUTER例文帳に追加

三次元情報取得方法及び共焦点走査型顕微鏡並びにコンピュータにより読み取り可能な記憶媒体 - 特許庁

To provide an image processor capable of easily performing color adjustment of an image according to a user, and a microscope.例文帳に追加

画像の色調整を使用者に合わせて簡便に行うことが可能な画像処理装置、顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The microscope 11 includes the body 21 and the stand 22, and the body 21 is attachable to or detachable from the stand 22.例文帳に追加

顕微鏡１１は、本体２１とスタンド２２とからなり、本体２１はスタンド２２に対して着脱可能とされている。 - 特許庁

Then, the work stage 13 is moved, and the projected position of the mask mark MAM is detected by the mask mark microscope 24.例文帳に追加

次いで、ワークステージ１３を移動させマスクマーク用顕微鏡１５によりマスクマークＭＡＭの投影位置を検出する。 - 特許庁

The photoelectron microscope 4 and fixed reflector 21 are fixed to a bridge structure 3 provided to the main body base 1.例文帳に追加

光電顕微鏡４及び固定反射鏡２１は本体ベース１に設けられたブリッジ構造体３に固定される。 - 特許庁

To provide a microscope system for operation capable of eliminating troublesomeness caused by leading round the long cable of an auxiliary observation device.例文帳に追加

補助観察装置の長いケーブル引き回しによる煩雑さを解消する手術用顕微鏡装置を提供する - 特許庁

a lamp that emits a narrow but intense beam of light that enables an ophthalmologist, using a microscope, to view the retina and optic nerve 例文帳に追加

眼科医が、顕微鏡を使用し、網膜と視神経を見ることができる、細いが、強い光線を放つ照明器具 - 日本語WordNet

APPARATUS WITH COAXIAL BARREL OF FOCUSED-ION BEAM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD FOR IMAGE FORMING AND PROCESSING例文帳に追加

集束イオンビームと走査型電子顕微鏡との同軸鏡筒を備えた装置並びに像形成及び処理方法 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope capable of generating a high precision diffraction pattern, by shielding light at central spot of the diffraction pattern.例文帳に追加

回折像の中心スポットを遮光して、高精度の回折像が得られる透過型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the photoelectric microscope thus configurated, not only a real image of a specimen but also an electron diffraction image can be observed.例文帳に追加

このような構成をした光電子顕微鏡は、試料の実像だけでなく、電子回折像も観察することができる。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, PATTERN MEASURING METHOD USING THE SAME, AND APPARATUS FOR CORRECTING DIFFERENCE BETWEEN SCANNING ELECTRON MICROSCOPES例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びそれを用いたパターン計測方法並びに走査型電子顕微鏡の機差補正装置 - 特許庁

To provide a photoelectric microscope in which not only a real image of a specimen but also an electron diffraction image can be observed.例文帳に追加

試料の実像だけでなく、電子回折像も観察することができる光電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

A focal point of a microscope lens 32 is focused on a focusing index provided on an abutting face 36a of a pressor plate 36.例文帳に追加

押圧板３６の当接面３６ａに設けられた合焦用指標に顕微鏡レンズ３２の焦点を合わせる。 - 特許庁

HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE TUNNEL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING MICRO SIGNAL SUPERIMPOSED THEREBY ON TUNNEL CURRENT例文帳に追加

ヘテロダインビートプローブ走査プローブトンネル顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法 - 特許庁

In an electron microscope image obtained, by making electrons incident on the crystal material, the lattice strain distribution is evaluated from contrast.例文帳に追加

結晶材料に電子を入射して得られる電子顕微鏡像において、コントラストから、格子歪分布を評価する。 - 特許庁

The immersion oil for the microscope is composed by blending (B) α-olefin in (A) liquid diene copolymer.例文帳に追加

（Ａ）液状ジエン系共重合体に、（Ｂ）α−オレフィンを配合することを特徴とする顕微鏡用液浸油である。 - 特許庁

CONDUCTIVE CARBON NANOTUBE TIP, SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME例文帳に追加

導電性カーボンナノチューブチップ、これを備えた走査型プローブ顕微鏡のプローブ、及び該導電性カーボンナノチューブチップの製造方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of measuring a large-sized sample while keeping precision of several ten picometers.例文帳に追加

数十ピコメートルの精度を備えつつ、大型の試料を測定することができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

MIRROR DRIVING MECHANISM, AND SPECTROSCOPIC DEVICE AND SCANNING LASER MICROSCOPE PROVIDED WITH MIRROR DRIVEN BY MIRROR DRIVING MECHANISM例文帳に追加

ミラー駆動機構及びミラー駆動機構によって駆動されるミラーを備えた分光装置及び走査型レーザー顕微鏡 - 特許庁

An accurate electron energy loss spectrum is acquired with an electron microscope provided with the electron energy loss spectroscope.例文帳に追加

電子エネルギー損失スペクトル装置を備えた電子顕微鏡において、高精度な電子エネルギー損失スペクトルを取得できる。 - 特許庁

To provide a low vacuum scanning electron microscope wherein secondary electrons can be efficiently detected even at a low degree of vacuum.例文帳に追加

低い真空度でも２次電子を効率よく検出することができる低真空走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

SHARPENED DIAMOND NEEDLE, CANTILEVER USING THE SAME FOR SCANNING-PROBE MICROSCOPE, PHOTOMASK-CORRECTING PROBE, AND ELECTRON BEAM SOURCE例文帳に追加

先鋭化針状ダイヤモンド、およびそれを用いた走査プローブ顕微鏡用カンチレバー、フォトマスク修正用プローブ、電子線源 - 特許庁