「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(95ページ目) - Weblio英語例文検索

The microscope device is equipped with a microscope for transmission type bright-field observation, an image pickup means which picks up and obtains an image formed through the microscope, and an image pickup control means which makes the image pickup means pick up images with two kinds of exposure, i.e., proper exposure for a sample and specific exposure higher than the proper exposure.例文帳に追加

透過型明視野観察用の顕微鏡と、前記顕微鏡が形成した像を撮像して画像を取得する撮像手段と、前記検体に対する適正露出、及びその適正露出よりも高い所定露出の２種類の露出の下で前記撮像手段に対し前記撮像を行わせる撮像制御手段とを備える。 - 特許庁

The surgical microscope 1 is provided with image position adjusting means 138 capable of optically changing the angle and position of the display image on a plane conjugate with an intermediate imaging plane with respect to the microscope real field and image magnification adjusting means capable of optically changing the magnification of the display image with respect to the microscope real field.例文帳に追加

この手術顕微鏡１は、前記顕微鏡実視野に対して前記表示画像の角度と位置を前記中間結像面と共役な面上で、光学的に変更可能な画像位置調整手段１３８と、前記顕微鏡実視野に対して前記表示画像の倍率を光学的に変更可能な画像倍率調整手段とを備えている。 - 特許庁

In a polarization microscope image of crystals at the surface of an aluminum alloy, when the light and dark contrast in the microscope image is graded into three levels of equal intervals, the area ratio of crystals having each contrast level each falls within the range of 20-50%.例文帳に追加

アルミニウム合金表面の結晶の偏光顕微鏡観察像において、明暗コントラストを３段階に等分したとき、各段階のコントラストを有する結晶の面積分率を、それぞれ２０〜５０％の範囲とする。 - 特許庁

To provide a microscope system capable of acquiring a clear image by correcting a focus drift even when a distortion is caused in a microscope device, reducing costs, and acquiring a synthesized image at a high speed.例文帳に追加

本発明では、顕微鏡装置に歪みが生じても、フォーカスドリフトを補正して明瞭な画像を取得することができ、且つコストを抑え、高速な合成画像の取得を可能とした顕微鏡装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a sample-manufacturing method of a transmission electron microscope, capable of suppressing the deformation of a sample caused by the shrinkage of the low dielectric constant interlaminar insulating film of a semiconductor device, at observation due to the transmission electron microscope.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡による観察時における、半導体デバイスの低誘電率層間絶縁膜の収縮による試料の変形を抑制することが可能な透過型電子顕微鏡の試料作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope control device which is capable of controlling a microscope having an increased electric device switching speed, independently of an application of a host device while suppressing an influence of vibrations due to driving of electric devices.例文帳に追加

上位装置によるアプリケーションに因らなくても、電動装置の駆動における振動の影響を抑えつつ、電動装置の切り換えを高速化した顕微鏡を制御することが可能の顕微鏡制御装置を提供する。 - 特許庁

In order that the same nonmetallic inclusion may not doubly appear in microscope visual fields 25 before and after shifting, a stage 22 is shifted more than the amount of movement corresponding to the microscope visual field coust by an amount corresponding to play of a stage driving system.例文帳に追加

同じ非金属介在物が、シフト前後の顕微鏡視野２５内に重複して現われないよう、ステージ２２を、顕微鏡視野に対応する移動量よりもステージ駆動系の遊びに応じた分だけ大きくシフトする。 - 特許庁

To provide a confocal laser microscope capable of efficiently observing a confocal picture and a non-confocal picture, or a laser scanning microscope (LSM) picture and a television picture separately while utilizing the pictures as recognizable information simultaneously.例文帳に追加

共焦点レーザ顕微鏡において、共焦点画像と非共焦点画像、あるいは、レーザ走査型顕微鏡（ＬＳＭ）画像とテレビ画像を別々に認識可能な情報として同時に利用しながら効率的に観察する。 - 特許庁

In a microscope apparatus for surgical operation consisting of a microscope for surgical operation and an endoscope 30, a balloon 41 for covering the side edge of the apex face and the neighborhood of the apex of the endoscope is provided at the apex part of an inserting part 36 of the endoscope 30.例文帳に追加

手術用顕微鏡と内視鏡３０とから成る手術用顕微鏡装置に於いて、内視鏡３０の挿入部３６の先端部に、先端面の辺縁と内視鏡先端近傍を覆うバルーン４１が設けられている。 - 特許庁

In this scanning probe microscope, illumination light generated from an optical microscope 7, reflected by a beam splitter 13 and a mirror 21 and transmitted through a half mirror 22, is irradiated obliquely on the rear face of the cantilever 14 and is incident obliquely on a sample face.例文帳に追加

光学顕微鏡７から発生し、ビームスプリッタ１３およびミラー２１で反射してハーフミラー２２を透過した照明光は、カンチレバ１４の背面を斜めから照射すると共に、試料面に斜めから入射する。 - 特許庁

To realize a confocal microscope capable of observing reactions of luminous stimulus and fluorescence discoloration in real time by high-speed image measurement peculiar to a Nipkow disk system by adding a function for performing the luminous stimulus to a Nipkow disk system confocal microscope.例文帳に追加

ニポウディスク方式の共焦点顕微鏡に光刺激を行う機能を付加し、ニポウディスク方式特有の高速な画像計測により、光刺激や蛍光褪色の反応をリアルタイムで観察できる共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus capable of improving efficiency of using illuminating light with a simple composition, in the microscope apparatus having an illumination optical system which illuminates a sample from the objective lens side obliquely with respect to the optical axis and from a plurality of directions.例文帳に追加

試料を対物レンズ側からその光軸に対して斜めにかつ複数の方位から照明する照明光学系を有する顕微鏡装置において、簡易な構成で照明光の利用効率を向上させる。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope apparatus which enables to get always a high accuracy SEM image and line width measurement value without giving damage or the like to an object of measurement (observation) even under a high magnification, and a method of a length measurement with the microscope apparatus.例文帳に追加

高倍率下においても測定（観察）対象物にダメージ等を与えず、常に高精度なＳＥＭイメージと線幅測定値とを得ることができる走査型電子顕微鏡装置と該装置による測長方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surgical microscope which improves workability by easily shifting the position of an assistant form either the left or right side relative to a surgeon to the other side, and a position setting method in the surgical microscope.例文帳に追加

本発明は、術者に対し助手の位置を左右いずれかの一側方部から他側部に容易に入替えでき、作業性の向上を図れる手術用顕微鏡および手術用顕微鏡における位置設定方法を提供する。 - 特許庁

To arrange an electron microscope and a sample so that the distance therebetween is optimum, in a device which prepares a thin sample by focused ion beam for use in observation by a transmission electron microscope (TEM) and removes a damaged layer on the sample surface using a gaseous ion beam at a low acceleration voltage.例文帳に追加

集束イオンビームでＴＥＭ観察用の薄片化試料を作製し、低加速電圧の気体イオンビームで試料表面のダメージ層を除去する装置において、電子顕微鏡と試料とを最適な距離に配置すること。 - 特許庁

To provide a method for adjusting an active vibration insulation system for vibration insulation positioning particularly in a lithography device, a wafer processing system, and/or a microscope such as a scanning microscope, and also to provide the active vibration insulation system.例文帳に追加

特に、リソグラフィ・デバイス、ウェーハ処理システム、および／または走査顕微鏡などの顕微鏡の振動絶縁位置付けのための、能動振動絶縁システムを調整するための方法、および能動振動絶縁システムを提供すること。 - 特許庁

When analyzing the composite material by using the atomic force microscope, data of the phase delay of the composite material acquired by using a noncontact mode of the atomic force microscope are acquired under the condition of at least two set temperatures.例文帳に追加

複合材料を原子間力顕微鏡を用いて解析するとき、少なくとも２つの設定温度の条件下、原子間力顕微鏡の非接触モードを用いて得られる複合材料の位相遅れのデータを取得する。 - 特許庁

To provide a compact objective optical system for a microscope, the optical system having satisfactory optical performance for achieving a wide field of view at a long operation distance, and to provide a microscope that has the objective optical system and a variable power optical system.例文帳に追加

長作動距離で広視野を実現する良好な光学性能を有するコンパクトな顕微鏡用対物光学系、及び、その対物光学系と変倍光学系とを備えた顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a low-cost positioning unit for aligning positions of optical units, each having at least one optical element, on a beam path of a microscope between the observe side of an eye to be observed and an objective lens of the microscope.例文帳に追加

少なくとも一つの光学的素子を有する光学的ユニットを、観察対象の眼の正面と、顕微鏡の対物レンズとの間における顕微鏡のビーム経路において位置合わせするコストが低い位置決めユニットを提供する。 - 特許庁

A free installation display device for microscope and/or image data consists of a casing 1 with a display 2 and a data connection means to the microscope 3, and the connection of data is made through a connection line or by radio.例文帳に追加

顕微鏡データおよび／または画像データ用の自由設置可能な表示装置は、ディスプレイ２付きケーシング１および顕微鏡３へのデータ接続手段から成っているデータの接続は接続線を通じて、または無線で行われる。 - 特許庁

An image is obtained by holding plural plates 2 in the circumferential direction by the plate table 1, and by rotating oscillatingly or moving forwards and backwards a microscope 13 with a microscope arm 11, and by moving it vertically with respect to the plate table 1.例文帳に追加

また、プレートテーブル１によりプレート２を周方向に複数保持し、顕微鏡アーム１１により顕微鏡１３を首振り回転し又は前後移動し、およびプレートテーブル１に対して上下移動することで画像を取得する。 - 特許庁

To control a sample stage used in an optical microscope or an electronic microscope with high accuracy, when being moved vertically to a predetermined position in micron units, and to minimize the overall size of a device, as much as possible.例文帳に追加

光学顕微鏡や電子顕微鏡に使用される試料ステージを、所定位置にミクロン単位で鉛直移動させるに際し、精度高く制御し、且つ装置全体の大きさを極力抑えることができるようにすることにある。 - 特許庁

To provide a microscope electronic camera that can display an observed image in a display direction required by a viewer even when the electronic camera is mounted to each port and a configuration unit such as a microscope adaptor whose image directions differ from each other.例文帳に追加

それぞれ異なる像方向の各ポートや顕微鏡アダプタなどの構成ユニットのいずれに取り付けても、観察者の必要とする表示方向に観察像を表示できる顕微鏡用電子カメラを提供すること。 - 特許庁

To provide a photoacoustic microscope apparatus operating the drive part of a photoacoustic microscope at a high speed and realizing quiet operation environment and capable of scanning a sample at random by a laser beam and an imaging method.例文帳に追加

光音響顕微鏡の駆動部を高速に動作させ、かつ静粛な動作環境を実現し、光ビームを試料に対してランダムに走査することができる光音響顕微鏡装置及びその映像方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system in which a microscope device is operated by operating an operational screen by using a pointing device, and which controls a plurality of driving units by the pointing device.例文帳に追加

本発明では、ポインティングデバイスを用いて操作画面を操作することにより顕微鏡装置を操作する顕微鏡システムにおいて、ポインティングデバイスにより複数の駆動ユニットを制御することができる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide a multi-probe type scan probe microscope apparatus and a sample surface evaluation method which can reduce labor and time required for measuring work by facilitating the measurement of multiple kinds of scan probe microscope images.例文帳に追加

複数種の走査プローブ顕微鏡像の測定を容易に行えて、測定作業に要する労力および時間を軽減できるマルチプローブ型走査プローブ顕微鏡装置およびそれを用いた試料表面評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope for operation of excellent operability without a horizontal arm interfering with a microscope observer in the vertical operation of the horizontal arm even in an overhead state.例文帳に追加

本発明は、オーバーヘッド時であっても水平方向のアームの上下動作時に水平方向のアームが顕微鏡の観察者に干渉することがなく、操作性が優れる手術用顕微鏡を提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

This vertical fine adjustment mechanism of the microscope comprises vertically moving rectilinear guide mechanism 4 and 8 for an objective lens 6 of the microscope constituted to a type which is symmetric with the optical axis and fine adjustment means 10, 11 and 12 for the objective lens.例文帳に追加

光軸に対称型に作られた顕微鏡の対物レンズ６用の上下動直進案内機構４、８と対物レンズの微動手段１０、１１、１２とから構成したことを特徴とする顕微鏡の上下微動機構。 - 特許庁

The stage 20 of the inverted microscope includes a lower plate 21 which is fixed in the inverted microscope, an upper plate 23 which can move at least in two directions with respect to the lower plate 21 and a sample holder 41 which can be attached to/detached from the upper plate 23.例文帳に追加

倒立顕微鏡用ステージ２０は、倒立顕微鏡に固定された下板２１と、下板２１に対して少なくとも２方向に移動可能な上板２３と、上板２３に着脱可能な試料ホルダ４１とを備えている。 - 特許庁

To provide: an information apparatus capable of highly accurately correcting complicated distortion generated in an image obtained by an optical microscope; an information processing method; a program; and an imaging apparatus including the optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡により得られる画像に発生する複雑なディストーションを、高精度に補正することができる情報処理装置、情報処理方法、プログラム、及び光学顕微鏡を搭載した撮像装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a confocal microscope for shortening a focus detection time, and for improving the accuracy of focal position detection and adjustment and an automatic focus adjustment method by the confocal microscope.例文帳に追加

本発明では、焦点検出時間の短縮、および焦点位置検出及び調整の精度向上が可能な共焦点顕微鏡および共焦点顕微鏡による自動焦点調節方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an illuminating system and an illuminating method for a transmitted light type microscope by which the resolving power of a microscope and the distinctness of an image are enhanced by generating inclined light having a maximum angle possible for a lens to be used.例文帳に追加

使用レンズに可能な最大角度を有する傾斜光を発生させることにより、顕微鏡の解像力及び像の鮮明度を高める透過光型顕微鏡のための照明系及び照明方法を提供する。 - 特許庁

Three or more position detecting systems 14a, 14b, and 14c are provided to an exposure light TTR microscope mounted on the scanning aligner, and the position detecting systems 14a, 14b, and 14c are each provided with a drive mechanism for making the TTR microscope observe an optional position.例文帳に追加

走査型露光装置に搭載されている露光光ＴＴＲ顕微鏡に３つ以上の位置検出系１４ａ，１４ｂ，１４ｃを設け、各位置検出系は個々に任意の位置を観察するための駆動機構を備える。 - 特許庁

To provide a stereoscope microscope which enables an assistant to observe the electron image of an operation part by a stereoscopic viewer while observing the optical image of operation part by the naked eye of a master operator without incorporating an assistant's camera in a microscope main body.例文帳に追加

助手用カメラを顕微鏡本体の内部へ組込まずに、主術者は術部の光学像を肉眼で観察できながら、助手は術部の電子映像をステレオビュアで観察できる立体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus that prevents a sample such as pathological tissue to be photographed with a microscope from being damaged by heating from a surface light source using many light emitting diodes, and that can obtain a clear and precise photographing image.例文帳に追加

顕微鏡撮影を行う病理組織等の標本が、多数の発光ダイオードを用いた面光源の発熱によって損傷されるおそれがなく、明瞭且つ高精度な撮影画像が得られる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a probe suitable for measuring a biopolymer by a scanning probe microscope such as an atomic force microscope, etc., and a base material for immobilizing a polymer capable of immobilizing a biopolymer such as a substrate as a specimen.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などの走査型プローブ顕微鏡による生体高分子の測定に適したプローブならびに被検体としての基板などの生体高分子固定可能な重合体を固定する基材を提供すること。 - 特許庁

TEST PIECE CARRIER FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, OBSERVATION AND CRYSTAL STRUCTURE ANALYSIS METHODS USING THE SAME, AND TEST PIECE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料保持体およびその製造方法、透過型電子顕微鏡用試料およびその製造方法、並びに、透過型電子顕微鏡用試料を用いた観測方法および結晶構造解析方法 - 特許庁

To provide a photoelectron microscope, having a light source system for reliably performing a high-resolution measurement, such as work function distribution measurement and magnetic domain distribution measurement, and to provide a high-sensitivity measurement method by the photoelectron microscope.例文帳に追加

仕事関数分布測定や磁気ドメイン分布測定など、高分解能測定を確実に行うための光源システムを備えた光電子顕微鏡、及び、この光電子顕微鏡による高感度測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system varying ratios of light quantities divided to respective optical paths according to imaging conditions and microscope operations, and quickly and easily imaging a clear microscopic image.例文帳に追加

本発明では、撮影条件や顕微鏡操作に応じて各光路に分割される光量比率を変更することができる顕微鏡システムにおいて迅速かつ簡便に鮮明な顕微鏡画像を撮影できる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide a sample holder and an electron microscope, capable of improving resolution in acquiring an image when an scanning transmission electron image of a sample is acquired by using a general objective lens of the scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡における一般的な対物レンズを用いて試料の走査透過電子像を取得する際に、像取得時での分解能を向上させることのできる試料ホルダ及び電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an infrared microscope equipped with a plurality of up-conversion phosphors, in consideration of technical problems that a conventional infrared microscope does not have resolution in a depth direction inside a sample.例文帳に追加

本発明では、従来の赤外線顕微鏡において標本内部の深さ方向における分解能がないと言う技術的問題に鑑み、複数のアップコンバージョン蛍光体を備えた赤外線顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁

The otological microscope is equipped with a polyarticular arm 3 extended from a supporter; a ball for a ball joint hung from the distal end of the polyarticular arm 3; and a microscope control head connected to the ball for the ball joint so as to move freely the head.例文帳に追加

本発明の耳鼻科用顕微鏡装置は、支柱から延びる多関節アーム、多関節アームの先端部から垂下するボールジョイント用ボール及びボールジョイント用ボールに首振り自在に連結する顕微操作ヘッドを備えている。 - 特許庁

To provide a microscope for enabling an observer to perform a microscope operation without a delay in the case that an operation unit is arranged at a position where it is difficult to be put in a visual field while keeping on a technique.例文帳に追加

本発明は、操作装置が術式を継続したまま視界におさめることが困難な位置に配置されている場合に、観察者が顕微鏡操作を遅滞なく行えるようにすることができ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

By using a scanning thermal microscope cantilever 1 of a structure with a hole opening or a scanning thermal microscope probe of a structure in which a probe tip projects from the cantilever, the surface temperature of a sample 6 in the vicinity of the beam irradiation position can be measured.例文帳に追加

穴開き構造の走査熱顕微鏡カンチレバー1またはカンチレバーから探針先端が突き出した構造の走査熱顕微鏡探針を使用して、ビーム照射位置近傍のサンプル6の表面温度を測定できるようにする。 - 特許庁

To obtain a confocal microscope, capable of observing the reaction of luminous stimulus or fluorescence discoloration in real time by a high-speed image processing specific to a Nipkow disk system, by adding a function for performing the luminous stimulus to a Nipkow disk type confocal microscope.例文帳に追加

ニポウディスク方式の共焦点顕微鏡に光刺激を行なう機能を付加し、ニポウディスク方式特有の高速な画像処理により、光刺激や蛍光褪色の反応をリアルタイムで観察できる共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁