Microscopeを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8959件
The microscope device 20 has a high-magnification image acquiring part 21 acquiring a high-magnification image of the specimen 1.例文帳に追加
顕微鏡装置20は、標本1の高倍率画像を取得する高倍率画像取得部21を有する。 - 特許庁
To optimize a non-confocal detection optical system in accordance to a setting of a multi-photon excitation microscope.例文帳に追加
多光子励起顕微鏡の設定に応じて、非共焦点検出光学系を最適化する技術を提供する。 - 特許庁
To provide a microscope that allows irradiation with uniform illumination light without decreasing the amount of light.例文帳に追加
光量を低下させることなく、均一化された照明光を照射することができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a dual beam system capable of operating an ion beam while feeding a current into a scanning electron microscope (SEM) lens.例文帳に追加
SEMレンズに電流を流しながらイオン・ビームを操作することのできる二重ビーム装置を提供すること。 - 特許庁
As the measurement of the average surface potential distribution, a measuring method of an atomic force microscope image can be enumerated.例文帳に追加
前記平均表面電位分布の測定としては原子間力顕微鏡像による測定法が挙げられる。 - 特許庁
To provide a light source adapter, suppressing overheat of a light source and a microscope including a light source adapter.例文帳に追加
光源の過熱を抑制することができる光源アダプタ及び光源アダプタを備える顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a microscope device for operation capable of performing clear observation regardless of the state of a part to be observed.例文帳に追加
観察部位の状態に関わらずに明瞭に観察できる手術用顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
To provide an improved technology for measuring small dimensions quickly and accurately by using a probe microscope.例文帳に追加
プローブ顕微鏡を用いた、迅速且つ精度のよい微小寸法を計測する方法の改良技術を提供する。 - 特許庁
COORDINATE CONVERSION METHOD FROM SCANNER IMAGE COORDINATES OF RARE CELL INTO MICROSCOPE COORDINATES USING RETICLE MARK ON SAMPLE MEDIUM例文帳に追加
サンプル媒体上のレチクルマークを用いて、希少細胞のスキャナ画像座標を顕微鏡座標に変換する方法 - 特許庁
To provide an ultra-broadband ultraviolet (UV) catadioptric imaging microscope system with wide-range zoom capability.例文帳に追加
広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外(UV)カタディオプトリック映像顕微鏡システムが開示される。 - 特許庁
PROBE, SCANNING PROBE MICROSCOPE, BIOMOLECULE CHIP, BIOMOLECULE OBSERVATION METHOD, AND METHOD FOR IMMOBILIZING BIOMOLECULE例文帳に追加
プローブ、走査型プローブ顕微鏡及び生体分子チップ並びに生体分子観察方法及び生体分子固定方法 - 特許庁
To provide an optical scanning type confocal microscope capable of spectrally detecting fluorescence with sufficient light intensity.例文帳に追加
蛍光の分光検出を十分な光強度で行なえる光走査型共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a small-sized and compact microscope in which the selective optical deflection and/or division of an optical path are available.例文帳に追加
小型でコンパクトな、光線路の選択的な光学的偏向及び/又は分割が可能な顕微鏡の提供。 - 特許庁
A slit lamp microscope includes a photographing part, a control part 101, an extraction part 111 and a composition part 112.例文帳に追加
細隙灯顕微鏡は、撮影部と、制御部101と、抽出部111と、合成部112とを有する。 - 特許庁
To provide an imaging device for a microscope and an objective micrometer capable of reducing troublesomeness of calibration operation.例文帳に追加
キャリブレーション操作の煩わしさを軽減可能な、顕微鏡用撮像装置と対物ミクロメータを提供すること。 - 特許庁
To provide a scanning probe microscope which can prevent frost from adhering to the surface of a sample.例文帳に追加
試料表面上への霜の付着を防止することができる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
To provide a scanning microscope capable of deflecting a beam at a high speed without using an acoustooptical element.例文帳に追加
音響光学素子を用いることなく、高速でビーム偏向することができる走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To easily attach a mouse input device incorporating a CCD imaging apparatus to the eye piece of the microscope.例文帳に追加
CCD撮像装置を組み込んだマウス入力装置を顕微鏡の接眼部に簡単に取り付け可能とする。 - 特許庁
To provide a scanning laser microscope having a high S/N ratio and high resolution.例文帳に追加
高S/N比と高解像力とのどちらの要求にも応えることのできる走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide an ultraviolet microscope preventing the degradation of an image to be observed even when being subjected to autofocusing during observation.例文帳に追加
観察中にオートフォーカスをかけた場合でも、観察される像が劣化しない紫外線顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a microscope system capable of preventing a blot or the like due to immersion liquid from occurring on a sample.例文帳に追加
被検体上に浸液による染み等が発生するのを防止することができる顕微鏡システムの提供。 - 特許庁
To provide a scanning microscope which is prevented from radiating unwanted light to a sample when focusing before acquiring data.例文帳に追加
データ取得前の合焦時等に、無駄な光を試料に照射することがない走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁
SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE DEVICE, AND METHOD OF PROCESSING IMAGE ACQUIRED BY THE SAME例文帳に追加
走査型荷電粒子顕微鏡装置及び走査型荷電粒子顕微鏡装置で取得した画像の処理方法 - 特許庁
NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND MICROSCOPE, RECORDING/REPRODUCING DEVICE, AND FINE- MACHINING DEVICE USING THEM例文帳に追加
近接場光プローブとその作製方法、及びこれらを用いた顕微鏡、記録再生装置、微細加工装置 - 特許庁
A vibration probe 18 of a scanning force microscope is engaged with a sample surface 24 in an initial approach process.例文帳に追加
走査型力顕微鏡の振動プローブ18を、初期接近プロセスで試料表面24に係合させる。 - 特許庁
To provide a microscope with a function of correcting defects by which observation can be excellently executed.例文帳に追加
本発明の目的は、良好に観察を行える欠陥修正機能付き顕微鏡を提供することである。 - 特許庁
To provide a method and a device for generating a three dimensional tomographic image in a scanning electron microscope system.例文帳に追加
走査型電子顕微鏡システムにおける3次元トモグラフィ・イメージ生成のための方法と装置を提供する。 - 特許庁
To provide a specimen container by which observation conditions of a phase contrast microscope can be more easily adjusted.例文帳に追加
位相差顕微鏡の観察条件の調整をより容易に行うことのできる被検体容器を提供する。 - 特許庁
To provide a laser scanning microscope which is miniaturized and maintains good image quality, and a semiconductor light source is used.例文帳に追加
半導体光源を用い、装置の小型化、画質の維持を図るレーザ走査型顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
When the cross section is exposed, a scanning electron microscope is used for measuring dimensions of the feature.例文帳に追加
各断面が暴露される際、フィーチャの該当寸法を測定するために、走査電子顕微鏡が使用される。 - 特許庁
To provide a sample holder for an electron microscope, which can reduce a drift due to the heat of a sample.例文帳に追加
試料の熱によるドリフトを軽減させることができる電子顕微鏡用試料ホルダを提供すること。 - 特許庁
To provide a total reflection illuminator of a microscope with which always good fluorescent observation images can be obtained.例文帳に追加
常に良好な蛍光観察像を確保することができる顕微鏡の全反射照明装置を提供する。 - 特許庁
To provide an optical microscope that achieves lightening of mass of a portion to be driven without causing complication of a structure.例文帳に追加
構造の複雑化を招くことなく被駆動部分の質量を軽量化できる光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a measuring microscope configured to be connected to a plurality of operation terminals, as necessary.例文帳に追加
複数の操作端末と必要なときに接続可能なように構成された測定顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
To provide a vertical illumination type microscope which allows the distinct observation of the appearance of a cylindrical object to be inspected.例文帳に追加
円筒状の被検物体の外観を鮮明に観察することのできる落射型顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a microscope capable of efficiently performing three-dimensional imaging regardless of the shape of a sample.例文帳に追加
標本の形状等に関わらず、効率的に3Dイメージングを行うことができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To provide a stage mechanism for an electron microscope low in vibration, small in drift, and capable of executing accurate positioning.例文帳に追加
低振動でドリフトが小さく高精度の位置決めを行える電子顕微鏡用ステージ機構を実現する。 - 特許庁
To provide a microscopic observation method realizing observation in a wide range, and a microscope for using it.例文帳に追加
広い範囲の観察を可能とした顕微鏡の観察方法及びそれを用いるための顕微鏡を提供する。 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND PROBE MANUFACTURED BY THE SAME METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用探針の作製方法、該作製方法によって作製された探針及び作製装置 - 特許庁
To provide a microscope stand that is compact and easy to operate, and makes less noise during position adjustment.例文帳に追加
コンパクトであり容易に操作可能であり且つ位置調節時に騒音が少ない顕微鏡用スタンドを提供する。 - 特許庁
To provide a microscope including an optical element switching device with which an erroneous operation can be suppressed.例文帳に追加
誤操作を抑制することができる光学素子切換装置を含む顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide a fluorescent microscope whose light source part is in simple structure and can be made small-sized and lightweight and which has good operability.例文帳に追加
光源部が、簡単な構造で、小型、軽量化でき、かつ操作性のよい蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁
To realize working, without overetching or insufficient shaping in defect correction on a mask using atomic force microscope techniques.例文帳に追加
原子間力顕微鏡技術を用いたマスクの欠陥修正でオーバーエッチや削り残しのない加工を実現する。 - 特許庁
To provide a phase-contrast microscope capable of realizing the phase-difference observation of the different spot of a fixed sample.例文帳に追加
固定された標本の異なる場所の位相差観察を可能とする位相差顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
To provide an illumination device of a scanning microscope which allows the use of a spectral range where addressing is heretofore infeasible.例文帳に追加
従来アドレス化が不可能であったスペクトル範囲を使用できる走査顕微鏡の照明装置を提供する。 - 特許庁
To improve the operability of an electron microscope by enabling focusing with a desired magnification without any stoppage.例文帳に追加
所望倍率におけるフォーカス合わせを支障なく行えるようにして電子顕微鏡の操作性を向上させる。 - 特許庁
To provide an ultra-broadband ultraviolet (UV) catadioptric imaging microscope system with wide-range zoom capability.例文帳に追加
広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外(UV)カタディオプトリック映像顕微鏡システムが開示される。 - 特許庁
To provide a method and system for creating a virtual microscope slide having optimum image quality characteristics.例文帳に追加
最適なイメージ画質特性を有する仮想顕微鏡スライドを作成するシステム及び方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a light source adapter capable of restraining the overheat of a light source and a microscope equipped with the light source adapter.例文帳に追加
光源の過熱を抑制することができる光源アダプタ及び光源アダプタを備える顕微鏡を提供する。 - 特許庁
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