「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(90ページ目) - Weblio英語例文検索

A transmission electron microscope 5 photographs a three-dimensional shape of the surface 12a of the static bio cells and that of a static organic sample 11, after photographing by the reflection electron microscope 4.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡５は、反射型電子顕微鏡５による撮影終了後に、静止したバイオセル１２の表面１２ａの三次元形状と、静止した生体試料１１の三次元形状を撮影する。 - 特許庁

The microscope objective 1 is equipped with a metallic lens frame 17 holding a front lens 21, and the electric insulating member 6 disposing the lens frame 17 in the electrically insulated state from a microscope main body.例文帳に追加

先玉２１を保持する金属製の鏡枠１７と、該鏡枠１７を顕微鏡本体に対して電気的に絶縁した状態に配する電気絶縁部材６とを備える顕微鏡対物レンズ１を提供する。 - 特許庁

To provide a sample coating method of an electron microscope capable of performing the conductive treatment of an insulating sample by a simple constitution, concerning the sample coating method of the electron microscope.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡の試料コーティング方法に関し、絶縁試料の導電性処理を簡易な構成で行なうことができる電子顕微鏡の試料コーティング方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

This microscope has on the base 10 a first illumination 25 that consists of the light emitting diodes 29 mounted on an illumination board 28 centering around the optical axis of the microscope 14.例文帳に追加

ベース１０における実体顕微鏡本体１４の観察光軸Ｄが通る点を中心とする周辺に、複数の発光ダイオード２９を照明基板２８上に実装してなる第１の照明部２５を設ける。 - 特許庁

To continuously shift a phase while using a microscope without using many different modulators in a phase shift method and device for realizing phase difference observation or modulation contrast observation in the microscope.例文帳に追加

顕微鏡で位相差観察または変調コントラスト観察を実現するための位相シフト方法および装置において、多数の異なる変調器を使用せずに、顕微鏡の使用中に連続的な位相シフトを可能にさせる。 - 特許庁

METHOD OF FORMING TENSIONED AERIAL WIRING, CHARGED PARTICLE BEAM PRISM AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, OBSERVING METHOD USING INTERFERENCE FRINGE OF CHARGED PARTICLE BEAM, AND ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF FORMING INTERFERENCE FRINGE IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

緊張化した空中配線の形成方法、荷電粒子線プリズムとその製造方法、荷電粒子線の干渉縞を用いた観察方法、電子顕微鏡および電子顕微鏡における干渉縞の形成方法 - 特許庁

On the basis of the focusing position information, the electron microscope body control part 30 controls each part of an electron microscope body, so as to irradiate electron beams focused on the focusing position.例文帳に追加

そして、電子顕微鏡本体制御部３０は当該焦点合わせ位置情報に基づいて、電子線を当該焦点合わせ位置に集束して照射するように電子顕微鏡本体の各部を制御する。 - 特許庁

To provide a microscope observation reproducing method, and its apparatus, program and record medium, displaying an animation reproducing the microscope observation and automatically jetting and displaying description on a specified region on the animation arbitrarily.例文帳に追加

顕微鏡観察を再現する動画の表示や、その動画上の特定部位に関する噴出説明も任意に自動表示させる顕微鏡観察再現方法、その装置、プログラムならびに記録媒体を提供する。 - 特許庁

The creation of the virtual microscope slide is performed by capturing a plurality of the low-magnification images of a specimen using the computer-controlled microscope (10), tiling the images, and creating the reconstructed macro images (24).例文帳に追加

バーチャル顕微鏡スライドの作成は、コンピュータ制御顕微鏡（１０）を使用して試料の複数の低倍率イメージを取り込み、これらのイメージをタイル化し、再構築されたマクロイメージ（２４）を作成することによって行われる。 - 特許庁

To provide a microscope control device and a microscope control method that allow shortening of time to switch units of a turret drive system in continuous imaging of high-speed imaging and fluorescent observations in plural wavelengths.例文帳に追加

高速イメージングや、複数波長の蛍光観察の連続撮像において、ターレット駆動方式のユニットの切換え時間を短縮することが可能な顕微鏡制御装置および顕微鏡制御方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a calibration method of a scanning electron microscope and the scanning electron microscope capable of being precisely calibrated by making an irradiation position of an electron beam set by a user coincident with an actual irradiation position of the electron beam.例文帳に追加

ユーザが設定した電子ビームの照射位置と実際の電子ビームの照射位置を正確に一致させ、高精度な校正可能な走査型電子顕微鏡の校正方法及び走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The interatomic force microscope (AFM) functions as the dipping pen nano-lithography (DPN) for writing a pattern on a gold substrate (AU) by transferring molecules from the chip of the interatomic force microscope (AFM) to the gold substrate (AU).例文帳に追加

該原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）は、原子間力顕微鏡チップ（ＡＦＭ）から金基板（ＡＵ）へ分子を移動して金基板（ＡＵ）上にパターンを書き入れるための、つけペンナノリソグラフィ（ＤＰＮ）として作動する。 - 特許庁

This device is provided with an optical microscope aligning mark 76, that is a guiding mark for controlling a position of a measuring cantilever C2 with respect to a specimen measuring terminal face using the optical microscope, on a back face of a measuring cantilever C2.例文帳に追加

計測用カンチレバー［Ｃ２］の背面に、光学顕微鏡を用いて被検体測定端子面に対するカンチレバーの位置を制御するためのガイド用のマークである光学顕微鏡位置合せマーク［７６］を設けた。 - 特許庁

The polishing residues of the barrier metal layer 21 and the copper foil are inspected with a metallurgical microscope or a scanning electron microscope, and it is judged by thresholding the obtained images or a comparison between the images whether the polishing residues are left or not.例文帳に追加

そしてバリアメタル層２１や銅膜の研磨残りを金属顕微鏡または走査型電子顕微鏡で検査し、得られた検査画像の２値化処理または画像比較によって研磨残りを判定する。 - 特許庁

The controller 3 for the microscope for operating a microscope constituent constituting the microscope 1 has at least one set of rotary switches 22, 23 only for switching a plurality of contact points disposed on a circuit in the controller 3 for microscope, wherein the rotary switches 22, 23 are disposed such that rotation axes of the rotary switches 22, 23 become nearly vertical to the expansion and contraction direction of any finger.例文帳に追加

顕微鏡１を構成する顕微鏡構成要素を操作するための顕微鏡用コントローラ３において、顕微鏡用コントローラ３内の回路に設けられた複数の接点を切り替える回転式スイッチ２２，２３のみを少なくとも１つ有し、回転式スイッチ２２，２３は、顕微鏡用コントローラ３上に手を置いたとき、いずれかの指の屈伸方向に対して回転式スイッチ２２，２３の回転軸が略垂直となるように配置されていることを特徴とする。 - 特許庁

This grinding machine is provided for grinding the work by relatively moving the rotating grinding wheel to the work set on a chuck upper surface, and includes a microscope movable in the vertical direction, a CCD camera for photographing an image of the microscope and an image processing device for measuring the vertical directional distance between a reference surface of the microscope and an observation object of the microscope by processing the image photographed by the CCD camera.例文帳に追加

チャック上面にセットされるワークに対して、回転する研削砥石を相対移動させることで当該ワークを研削する研削盤であって、鉛直方向に移動可能な顕微鏡と、前記顕微鏡の画像を撮影するＣＣＤカメラと、前記ＣＣＤカメラで撮影された画像を処理することによって、前記顕微鏡の基準面と当該顕微鏡の観察対象物との鉛直方向距離を測定する画像処理装置と、を備える。 - 特許庁

A microscope system 1 includes: a microscope 2 successively photographing the partial small regions of a sample A; a first processing device 3 controlling the microscope 2 and producing the magnified images of the respective small regions, on the basis of image data photographed by the microscope 2; and a second processing device 4 joining the plurality of magnified images produced by the first processing device 3 to each other, to produce the virtual slide image.例文帳に追加

標本Ａの部分的な小領域を順次撮影する顕微鏡２と、該顕微鏡２を制御するとともに該顕微鏡２により撮影された画像データに基づいて各小領域の拡大画像を生成する第１の処理装置３と、該第１の処理装置３により生成された複数枚の拡大画像を継ぎ合わせてバーチャルスライド画像を生成する第２の処理装置４とを備える顕微鏡システム１を提供する。 - 特許庁

An image processing section detect contact based on the image of the probe group 8 picked up by means of an optical microscope 10.例文帳に追加

画像処理部は、光学顕微鏡１０が撮像した触針群８の画像に基づいて接触を検知する。 - 特許庁

The solidified particles, each of which has a core shell structure observable with an optical microscope, are fired.例文帳に追加

固化粒子は、光学顕微鏡で観察されるコアシェル構造を有しており、こうした固化粒子を焼成する。 - 特許庁

To provide a microscope that enables a plurality of kinds of observations to be made without any loss of the quantity of light.例文帳に追加

光量の損失なしに複数の種類の観察を同時に行うことができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope constituted so that the observation direction of an object side is changed according to the movement of an observer's head.例文帳に追加

観察者の頭の動きにより物体側の観察方向が変わる実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

NEAR-FIELD LIGHT SOURCE DEVICE, OPTICAL HEAD HAVING THE SAME, OPTICAL DEVICE, EXPOSURE APPARATUS, AND MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

近接場光源装置、該近接場光源装置を有する光ヘッド、光学装置、露光装置、顕微鏡装置 - 特許庁

To allow a doctor to remove eyelashes attached to tweezers without looking aside from eyepieces of a slit-lamp microscope.例文帳に追加

細隙燈顕微鏡の接眼部から医師が眼を離すことなく、ピンセットに付着した睫を除去することができる。 - 特許庁

To provide an optical microscope capable of carrying out measurement with high resolution, and a spectral measurement method.例文帳に追加

高い分解能の測定を行うことができる光学顕微鏡、及び分光測定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an image pickup device for microscope capable of easily setting an image pickup condition of high resolution.例文帳に追加

高解像度の撮像条件の設定を簡単に行なうことができる顕微鏡用撮像装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CONTROLLING BEAM IN SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

走査型顕微鏡におけるビーム制御のための方法および走査型顕微鏡におけるビーム制御のための装置 - 特許庁

The microscope executes adjustment in accordance with the adjustment items set in the adjustment item setting step.例文帳に追加

電子顕微鏡は調整項目設定ステップにおいて設定された調整項目に応じて調整を実行する。 - 特許庁

A light outputted from the light source 170 is supplied through an optical cable 152 to the microscope 153.例文帳に追加

光源装置１７０から出力される光は、光ケーブル１５２を介して顕微鏡１５３に供給される。 - 特許庁

To propose a focusing device, a focusing method, a focusing program and a microscope for reducing the time required for focusing.例文帳に追加

合焦に要する時間を短縮させ得る合焦装置、合焦方法、合焦プログラム及び顕微鏡を提案する。 - 特許庁

To provide a simply-structured slit-lamp microscope effectively observing and photographing the eyes of a subject.例文帳に追加

簡単な構成で効率的に被検者眼を観察及び撮影できる細隙灯顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To reduce the size and production costs of an optical microscope blocking light or maintaining the specimen environment.例文帳に追加

遮光または試料環境を維持することが可能な光学顕微鏡の小型化および低コスト化を図る。 - 特許庁

To provide a microscope system for visually recognizing a weak optical image of a biological sample in a live image.例文帳に追加

生体試料の微弱光画像をライブ画像中で視認することができる顕微鏡システム等を提供する。 - 特許庁

To provide an illuminating apparatus for a microscope that has a compact configuration by reducing the entire length of an illuminating system.例文帳に追加

照明系の全長を短くしコンパクトに構成することが可能な顕微鏡用照明装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope objective lens which has constitution with excellent assembling efficiency and whose aberration is satisfactorily corrected.例文帳に追加

組み立て効率の良い構成を有し、且つ、収差を良好に補正する顕微鏡対物レンズを提供する。 - 特許庁

The microscope device 20 has a high-magnification image acquiring part 21 acquiring a high-magnification image of the specimen 1.例文帳に追加

顕微鏡装置２０は、標本１の高倍率画像を取得する高倍率画像取得部２１を有する。 - 特許庁

To provide at a low cost a microscope apparatus able to supply a smallest quantity of liquid required for an immersion objective lens.例文帳に追加

液浸対物レンズに必要最少量の液体を供給可能な顕微鏡装置を廉価に提供する。 - 特許庁

To provide a carbon nanotube film composite structure, a method for manufacturing the same, and a transmission electron microscope grid.例文帳に追加

カーボンナノチューブフィルム複合構造体及びその製造方法、透過型電子顕微鏡グリッドを提供する。 - 特許庁

The alignment microscope is set to the magnification ratio of three first, and the search mark formed on the work is detected.例文帳に追加

まず、アライメント顕微鏡を３倍の倍率にして、ワーク上に形成された上記探索マークを検出する。 - 特許庁

To optimize a non-confocal detection optical system in accordance to a setting of a multi-photon excitation microscope.例文帳に追加

多光子励起顕微鏡の設定に応じて、非共焦点検出光学系を最適化する技術を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope that allows irradiation with uniform illumination light without decreasing the amount of light.例文帳に追加

光量を低下させることなく、均一化された照明光を照射することができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a dual beam system capable of operating an ion beam while feeding a current into a scanning electron microscope (SEM) lens.例文帳に追加

ＳＥＭレンズに電流を流しながらイオン・ビームを操作することのできる二重ビーム装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a microscope device for operation capable of performing clear observation regardless of the state of a part to be observed.例文帳に追加

観察部位の状態に関わらずに明瞭に観察できる手術用顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide an improved technology for measuring small dimensions quickly and accurately by using a probe microscope.例文帳に追加

プローブ顕微鏡を用いた、迅速且つ精度のよい微小寸法を計測する方法の改良技術を提供する。 - 特許庁

As the measurement of the average surface potential distribution, a measuring method of an atomic force microscope image can be enumerated.例文帳に追加

前記平均表面電位分布の測定としては原子間力顕微鏡像による測定法が挙げられる。 - 特許庁

To provide a light source adapter, suppressing overheat of a light source and a microscope including a light source adapter.例文帳に追加

光源の過熱を抑制することができる光源アダプタ及び光源アダプタを備える顕微鏡を提供する。 - 特許庁