「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(86ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an atomic force microscope which can measure a shape of a measuring object having no rigidity, with high accuracy.例文帳に追加

剛性のない被測定物の形状を高精度に測定できる原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an optical microscope configured to perform observation by making an objective lens come very close to an observation object disposed in the interior of a container.例文帳に追加

容器内部に配置された観察対象物に対物レンズを近接させて観察を行う。 - 特許庁

The sample is moved along a substantially straight passage in the Z-axis (optical axis of the transmission electron microscope).例文帳に追加

標本は、Ｚ軸（透過型電子顕微鏡の光軸）における実質的な直線通路を移動する。 - 特許庁

To provide a method for the automatic analysis of microscope images of biological objects such as, for example, fluorescence images of cells.例文帳に追加

細胞の蛍光画像等の生物被写体の顕微鏡画像の自動解析法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope that easily focuses on a specimen in a simple configuration.例文帳に追加

簡易な構成で標本に対して容易にピントを合わせることができる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a technique for a microscope system or the like capable of automatically correcting spherical aberration.例文帳に追加

自動的に球面収差を補正することができる顕微鏡システム等の技術を提供すること。 - 特許庁

To provide an optical element replacement device for a microscope, which prevents erroneous recognition when an optical element is replaced.例文帳に追加

光学素子交換時の誤認識を防止可能な顕微鏡の光学素子交換装置を提供する。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND COMPACT DISK/CROSS-SECTIONAL PROFILE MEASURING METHOD AS WELL AS SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡及びＣＤ・断面プロファイル計測方法並びに半導体デバイス製造方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of discriminating reflected lights from each of a plurality of cantilevers.例文帳に追加

複数のカンチレバーのそれぞれからの反射光を識別可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

NEAR-FIELD LIGHT PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD AND OPTICAL RECORDING REPRODUCING UNIT AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

近接場光プローブとその製造方法と光記録再生装置及び近接場光顕微鏡 - 特許庁

To provide a simple and low-cost adapter for imaging which is used for a microscope or the like, without using a field lens.例文帳に追加

フィールドレンズを用いることなく、簡便で安価な顕微鏡用などの撮像用アダプタを提供する。 - 特許庁

The optical system (4, 5, 6, 7, 8) of the confocal scanning microscope is arranged at the side of the first face.例文帳に追加

前記第１の面側に共焦点走査顕微鏡光学系（４，５，６，７，８）が配置されている。 - 特許庁

To enhance a processing quality and a processing accuracy of a fine processing device utilizing an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を応用した微細加工装置の加工品質や加工精度を向上させる。 - 特許庁

Additionally, the microscope system 100 includes a well-known active-type auto-focus unit 118 for microscopes.例文帳に追加

また、顕微鏡システム１００は、公知の顕微鏡用アクティブ型のオートフォーカスユニット１１８を備えている。 - 特許庁

In the defect repairing device using an ion beam, a blank defect hard to repair is observed with AFM(atomic force microscope) or the like.例文帳に追加

イオンビームを用いた欠陥修正装置では修正し難い白欠陥に対してAFM等で観察する。 - 特許庁

To provide a microscope device which is made suitable for a long duration observation and does not generate fluctuation of a focusing surface.例文帳に追加

長時間観察に適し、且つ焦点面の変動が生じない顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

In addition, a device for preparing the sample for an electron microscope applying the freeze-drying device is provided.例文帳に追加

さらに、当該凍結乾燥装置を応用する電子顕微鏡用試料作製装置を提供する。 - 特許庁

The mask mark microscope 24 is provided on a work stage 13 and set movable together with the work stage 13.例文帳に追加

マスクマーク用顕微鏡２４をワークステージ１３に設けワークステージ１３と一体に移動可能に構成する。 - 特許庁

To provide a dark field detection system of a scanning electron microscope (SEM) having a polar angle identification function of scattered electrons.例文帳に追加

散乱電子の極角識別機能を有するＳＥＭ暗視野検出システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a confocal optical microscope controlling caged-state release of a caged compound.例文帳に追加

Ｃａｇｅｄ化合物のＣａｇｅｄ解除を制御可能な共焦点光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a probe for near field optical microscope having a reduced background.例文帳に追加

本発明の目的はバックグラウンドを低減した近接場光学顕微鏡用プローブを提供することにある。 - 特許庁

NEAR-FIELD LIGHT PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING IT AND OPTICAL RECORDING REPRODUCING UNIT例文帳に追加

近接場光プローブおよびそれを用いた近接場光学顕微鏡および光記録再生装置 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of discriminating each reflected light from a plurality of cantilevers.例文帳に追加

複数のカンチレバーのそれぞれからの反射光を識別可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a near-field optical microscope that can obtain a high- resolution near-field optical image.例文帳に追加

高分解能の近接場光学像を得ることができる近接場光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

SCANNING TYPE SHAPE MEASURING INSTRUMENT, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査型形状測定装置、原子間力顕微鏡及びそれを用いた表面形状測定方法 - 特許庁

MEMBER OF MICROSCOPE UTILIZING X RAYS, MEMBER FOR RETAINING OBJECT TO BE MEASURED, AND METHOD FOR MANUFACTURING RETAINING MEMBER例文帳に追加

Ｘ線を利用した顕微鏡の部材、被測定物の保持部材及び保持部材の製造方法 - 特許庁

To provide a fluorescent microscope and a computer program which enables a light source to be successfully controlled.例文帳に追加

良好な光源制御を行なうことができる蛍光顕微鏡およびコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

In this microscope, the following conditional equation is satisfied: A≤D/2, where A is the diameter of the field stop, and D is a beam diameter of light incident on the field stop.例文帳に追加

A≦D／２ ただし、Aは前記視野絞りの径、Dは前記視野絞りに入射するビームのビーム径とする。 - 特許庁

To provide a near-field optical microscope device capable of detecting light generation out of an excitation area.例文帳に追加

励起エリア外の発光を検出することができる近接場光学顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of efficiently correcting image distortion caused by a scanning error or the like.例文帳に追加

スキャン誤差等に起因した像歪みの補正を効率的に行うことができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In lithographic mode, an atomic force microscope is adapted to write information to a sample surface.例文帳に追加

リソグラフィ・モードでは、原子間力顕微鏡が、試料の表面に情報を書き込むように適合される。 - 特許庁

To provide a polarization retention photonic crystal fiber that can easily discriminate a polarization surface by observation using a microscope.例文帳に追加

顕微鏡観察により偏波面が容易に判別できる偏波保持フォトニッククリスタルファイバを提供する。 - 特許庁

The gadget operates as if a splitter is a sequential innovation or an extension of microscope.例文帳に追加

装置は、スプリッターがあたかも逐次的な技術革新または顕微鏡の延長であるかように動作する。 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING IT AND OPTICAL RECORDING/REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

近接場光プローブおよびそれを用いた近接場光学顕微鏡および光記録／再生装置 - 特許庁

To provide an optical microscope capable of shortening a measurement time, and to provide a spectrum measuring method.例文帳に追加

測定時間を短縮することができる光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法を提供する。 - 特許庁

APPARATUS FOR MEASURING SURFACE CROSS-SECTIONAL SHAPE OR THREE-DIMENSIONAL SURFACE SHAPE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

表面の断面形状若しくは三次元表面形状測定装置及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

The transmission electronic microscope specimen includes; a specimen body 4a; a thin film part 11; and a protection film 8.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料は、試料本体４ａと薄膜部１１と保護膜８とを具備する。 - 特許庁

To provide an imaging device having excellent imaging performance, and to provide a microscope provided with the image forming device.例文帳に追加

優れた結像性能を有する結像装置、この結像装置を備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a near-field optical microscope capable of performing further accurate measurement.例文帳に追加

本発明の目的は、測定をより正確に行なえる近接場光学顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To realize a sample moving system of electron microscope hardly affected by acoustic vibration and vibration of floor.例文帳に追加

音響振動やフロア振動の影響を受けにくい電子顕微鏡用試料移動装置を実現する。 - 特許庁

This allows the observation in a wide visual field to the bottom of the surgical part by using the microscope or the endoscope.例文帳に追加

従って、顕微鏡や内視鏡により術部の底部まで広い視野で観察することができる。 - 特許庁

To realize highly accurate alignment between mask and wafer using a microscope imaging apparatus.例文帳に追加

１つの顕微鏡撮像装置によってマスクとウエハとの高精度の位置合わせを実現できるようにする。 - 特許庁

To provide a digital camera for a microscope capable of easily performing highly accurate parfocal correction in a short time.例文帳に追加

短時間で簡単に高精度な同焦補正が行なえる顕微鏡用デジタルカメラを提供すること。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of clearly detecting minute unevenness of a sample.例文帳に追加

試料に微小な凹凸があっても明瞭に検出することができる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope or the like capable of easily determining the type and the aperture diameter of an objective lens diaphragm.例文帳に追加

対物レンズ絞りの種類や絞り径を容易に判別可能な電子顕微鏡等を提供する。 - 特許庁