「Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(92ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a technique for surely and efficiently separating and collecting cells or cell clusters under a microscope.例文帳に追加

顕微鏡下で細胞または細胞塊の選別回収を確実に効率的に行なう技術を提供する。 - 特許庁

To provide a fiber illumination type microscope capable of reducing illumination unevenness, in low cost and easy fashion.例文帳に追加

本発明では、安価でかつ容易に照明ムラの軽減を可能にした、ファイバ照明型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system capable of minimizing damage to a sample to the utmost while realizing excellent operability.例文帳に追加

試料の損傷を極力少なくすることができ、且つ、操作性に優れた顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

THERAPY SYSTEM WITH LOW-FREQUENCY CURRENT GENERATOR WHICH IS INTEGRATED WITH THERAPY SYSTEM WITH RAW BLOOD TEST DEVICE USING MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡による生血液検査装置治療システムと一体化の低周波電流発生装置治療システム - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of obtaining a totally focused image whose contrast is optimumly adjusted.例文帳に追加

最適なコントラストに調整された全焦点画像を取得することができる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope which adjusts the light quantity of illuminating light without using a dimmer filter.例文帳に追加

減光フィルタを用いることなく照明光の光量を調整することができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a simply structured illuminator capable of adjusting at high speed the light quantity of illumination light to a microscope.例文帳に追加

顕微鏡の照明光の光量を高速で調整し得る簡単な構成の照明装置を提供する。 - 特許庁

To lengthen the focal distance of an ultrasonic probe used for an ultrasonic microscope, and to deepen the depth of field.例文帳に追加

超音波顕微鏡に用いる超音波探触子の焦点距離を長くし、被写界深度を深くする。 - 特許庁

To provide an optical observation device whose holding ability in the case of being used as a microscope is improved.例文帳に追加

顕微鏡として用いる際における保持性能の向上等を図った光学式観察装置を提供する。 - 特許庁

The microscope is provided with a force detector 11 with a flexible member 11a for which a probe 11b is provided.例文帳に追加

顕微鏡は、探針１１ｂが設けられた撓み部材１１ａを有する力検出器１１を備える。 - 特許庁

OPTICAL ELEMENT, SPATIAL OPTICAL FILTER, PROBE FOR SCAN TYPE NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE, AND MASK FOR PHOTOLITHOGRAPHIC PRINT例文帳に追加

光学素子、空間光学フィルタ、走査型近接場光学顕微鏡用プローブおよび写真平版印刷用マスク - 特許庁

To provide a differential interference microscope fabricated by using a birefringent optical member which is simply manufactured and has satisfactory performance.例文帳に追加

製造が簡単で性能のよい複屈折光学部材を使用した微分干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The nano-structure is utilized in a field emission type electronic source, a mold for nano imprint and a probe for a probe microscope.例文帳に追加

前記ナノ構造体を利用した電界放出型電子源、ナノインプリント用モールド、プローブ顕微鏡用探針。 - 特許庁

To form the differential interference image of matter without using an exclusive interference device (e.g., a Nomarski microscope or the like).例文帳に追加

専用の干渉装置（例えばノマルスキープリズムなど）を用いることなく物体の微分干渉画像を生成する。 - 特許庁

To execute fast and precise atomic tracking with respect to a scanning probe microscope.例文帳に追加

本発明は走査型プローブ顕微鏡に関し、高速で正確な原子追跡を実施することを目的としている。 - 特許庁

To provide a sample inspection device in which a sample is inspected by using a scanning electron microscope which irradiates electron beams.例文帳に追加

電子ビームを照射する走査電子顕微鏡を用いて試料を検査する試料検査装置を提供する。 - 特許庁

In this measuring microscope apparatus, an XY stage 27 and a column 30 are fitted on the upper surface of a base 26.例文帳に追加

この測定顕微鏡装置にあっては、ベース２６上面にＸＹステージ２７及びコラム３０が取付けられる。 - 特許庁

To provide an objective assembly for a microscope which can have a large aperture and long focus and obtain high resolution.例文帳に追加

大口径、長焦点を可能にし、高い解像度が得られる顕微鏡用対物レンズ組立体を提供する。 - 特許庁

To easily observe a sample at a time of use as a probe for a proximity-field light microscope.例文帳に追加

近接場光学顕微鏡用のプローブとして使用するとき容易に試料の観察を行うことを可能とする。 - 特許庁

In addition, the instruction acquisition unit 3 acquires an input for instructing to perform the operation of a scanning type laser microscope body 1.例文帳に追加

また、指示取得部３は、走査型レーザ顕微鏡本体１の操作の実行指示の入力を取得する。 - 特許庁

To provide a microscope superior in practicality which is improved in S/N and improved in spatial resolution with inexpensive constitution.例文帳に追加

安価な構成で、Ｓ／Ｎおよび空間分解能を高くできる実用性に優れた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

An illumination part 20 in the video microscope 100 is provided with a substrate 2202, a reflection case 30 and a lens case 32.例文帳に追加

ビデオマイクロスコープ１００の照明部２０は、基板２２０２と、反射ケース３０と、レンズケース３２とを備えている。 - 特許庁

DETECTING DEVICE, DETECTING METHOD, VEIN SENSING DEVICE, SCANNING PROBE MICROSCOPE, DISTORTION DETECTING DEVICE, AND METAL DETECTOR例文帳に追加

検出装置、検出方法、静脈センシング装置、走査プローブ顕微鏡、歪み検知装置および金属探知機 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPY, AND ELECTRON MICROSCOPE, BIOLOGICAL SAMPLE INSPECTING METHOD AND BIOLOGICAL INSPECTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

電子顕微方法及びそれを用いた電子顕微鏡並び生体試料検査方法及び生体検査装置 - 特許庁

To provide a slit scanning confocal microscope in which the resolution in the longitudinal direction of a slit is enhanced.例文帳に追加

スリットの長さ方向の分解能を高めることができるスリット走査共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a sample processing device capable of making a suitable sample for observation by a transmission electron microscope.例文帳に追加

透過電子顕微鏡の観察に適した試料を作製することができる試料加工装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of measurement in liquid for stably retaining liquid near a cantilever.例文帳に追加

カンチレバー付近の液体が安定に保持される液中測定可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope allowing a continuous visual field image avoiding influence of aberration to be photographed.例文帳に追加

収差の影響を回避した連続視野像を撮影することができる透過型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a double beam apparatus for operating an ion beam while feeding a current into a scanning electron microscope (SEM) lens.例文帳に追加

ＳＥＭレンズに電流を流しながらイオン・ビームを操作することができる二重ビーム装置を提供すること。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING CEMENTED LENS, CEMENTED LENS MANUFACTURED BY THE METHOD, AND MICROSCOPE PROVIDED WITH THE CEMENTED LENS例文帳に追加

接合レンズの製造方法、該製造方法によって製造された接合レンズ、及び該接合レンズを備えた顕微鏡 - 特許庁

ATOMIC FORCE/HORIZONTAL FORCE MICROSCOPE WITH CALIBRATION FUNCTION AND METHOD FOR CALIBRATING SENSITIVITY THEREOF例文帳に追加

校正機能付き原子間力／水平力顕微鏡と原子間力／水平力顕微鏡の感度校正方法 - 特許庁

To restrict the damage of a sample caused by deep ultraviolet light with respect to a microscope using the deep ultraviolet light as a light source.例文帳に追加

深紫外を光源とした顕微鏡において、深紫外光による試料の損傷を制限する。 - 特許庁

This eyecup can be used in other optical devices, such as an astronomical telescope and binoculars, besides a microscope 1 used for an operation.例文帳に追加

また、手術顕微鏡１の他に天体望遠鏡や双眼鏡などの他の光学装置にも適用できる。 - 特許庁

PHOTOEMISSION ELECTRON MICROSCOPE SUPPRESSING CHARGING OR POTENTIAL STRAIN OF INSULATOR SAMPLE, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

絶縁物試料の帯電又は電位歪みを抑制した放射電子顕微鏡装置及び試料観察方法 - 特許庁

The emission of light from each transistor with the rejunction of a small number of carriers is detected by an emission microscope 25.例文帳に追加

各トランジスタからの少数キャリアの再結合による発光は、エミッション顕微鏡２５により検出される。 - 特許庁

The optical system (11, 12, 15 ) of the scanning microscope for evanescence illumination image is arranged at the side of the second face.例文帳に追加

エバネッセンス照明像用の走査顕微鏡光学系（１１，１２，１５）は、前記第２の面側に配置されている。 - 特許庁

To provide a microscope objective lens in which eccentricity of an optical axis, caused by a spring cushioning function, is prevented.例文帳に追加

本発明では、スプリング緩衝機能による光軸偏心を防止した顕微鏡対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide a remote controller with which the feel of use similar to that of a manual microscope is obtainable and a microscopic system.例文帳に追加

マニュアル式顕微鏡と似た使用感の得られる遠隔操作装置、及び顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

a thin tissue or blood sample spread on a glass slide and stained for cytologic examination and diagnosis under a microscope 例文帳に追加

顕微鏡で細胞学的検査と診断をするためにスライドに延ばされ、塗られた薄い組織または血液サンプル - 日本語WordNet

SECONDARY ELECTRON-REFLECTED ELECTRON DETECTING DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING SECONDARY ELECTRON-REFLECTED ELECTRON DETECTING DEVICE例文帳に追加

２次電子・反射電子検出装置及び２次電子・反射電子検出装置を有する走査電子顕微鏡 - 特許庁

ENERGY DISPERSION TYPE X-RAY DETECTION DEVICE, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME AND ELECTRON BEAM MICRO ANALYZER例文帳に追加

エネルギー分散型Ｘ線検出装置及びこれを用いた走査型電子顕微鏡及び電子線マイクロアナライザー - 特許庁

METHOD FOR ADJUSTING SCALE BAR OF ELECTRON MICROSCOPE USING PERIODICAL WAVEFORM ON VERTICAL SIDE WALL OF PHOTO RESIST LAYER例文帳に追加

フォトレジスト層の垂直側壁上の周期的な波形を用いた電子顕微鏡のスケールバー調整をする方法 - 特許庁

ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH, AND ELECTRON ENERGY LOSS SPECTRUM MEASURING METHOD例文帳に追加

電子エネルギー損失分光装置、及びそれを備えた電子顕微鏡、及び電子エネルギー損失スペクトル測定方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope with which proper sample images containing not noise component can be obtained.例文帳に追加

ノイズ成分を含まない良好な試料像を得ることができる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To improve the S/N ratio of an image when a biological sample marked with a fluorochrome is observed using a fluorescence microscope.例文帳に追加

蛍光色素標識された生物学的試料を蛍光顕微鏡で観察するときの像のS/N比の改善。 - 特許庁