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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Microscopeの意味・解説 > Microscopeに関連した英語例文

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Microscopeを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 8959



例文

To create a color composite image that is produced by combining an optical image with an electron microscope image and reduces a feeling of strangeness of light and dark.例文帳に追加

明暗の違和感を低減した、光学画像と電子顕微鏡画像を合成したカラー合成画像を作成する。 - 特許庁

In this microscope, a slide glass 2 on which a sample 1 is placed is disposed on a total internal reflection prism 3 through a matching oil 4.例文帳に追加

試料1が載置されたスライドガラス2はマッチングオイル4を介して内部全反射プリズム3の上に配置される。 - 特許庁

To provide an autofocus mechanism which shortens the time required for autofocus operation and a microscope equipped with the mechanism.例文帳に追加

オートフォーカス動作に要する時間の短縮化を図ったオートフォーカス機構、および該機構を備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which is simple and inexpensive in constitution and has a high-velocity focus detecting function.例文帳に追加

構成が簡単で且つ安価であり、高速の焦点検出機能を備えた共焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

例文

To provide an optical/ultrasonic microscope system capable of reducing the installation space, and suppressing the facility cost.例文帳に追加

設置スペースを削減できるとともに、設備コストを抑えることができる光学/超音波顕微鏡システムを提供すること。 - 特許庁


例文

To introduce four-probe type probe having a new constitution capable of measuring an electric conductivity into an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡に、電気伝導率を計測できる新しい構成の4探針のプローブを導入すること。 - 特許庁

To provide a compound microscope capable of simultaneously observing the same part of the same sample by different methods.例文帳に追加

同一の試料の同一部分を、同時に異なる方法によって観察することが可能な複合顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This device can be applied to an optical system for detecting the three-dimensional position of the particle under observation by the microscope.例文帳に追加

本発明は、顕微鏡観察下における微粒子3次元位置を検出する光学系に適用することができる。 - 特許庁

Left and right photographing optical systems of this video type stereoscopic microscope comprise object optical systems 210, 220, 230 and relay optical systems 240, 250.例文帳に追加

左右の撮影光学系は、対物光学系210,220,230と、リレー光学系240,250とから、構成されている。 - 特許庁

例文

To provide a display device which suppresses a flicker of a displayed figure and characters, and a microscope device having the same.例文帳に追加

表示された図や文字のちらつきを抑制した表示装置と、これを有する顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

例文

To reduce the decrease of a driving amplitude of a piezoelectric element when driving the piezoelectric element provided in a microscope at a high speed.例文帳に追加

顕微鏡に設けられたピエゾ素子を高速駆動する場合に、ピエゾ素子の駆動振幅の減少を低減させる。 - 特許庁

The branched lines created by the dichroic mirror 135 and the prism 202 pass through the inside of a microscope body 101.例文帳に追加

ダイクロイックミラー135とプリズム202によって作り出された分岐光路は顕微鏡本体101の内部を通っている。 - 特許庁

To adjust the set angle of a liquid crystal monitor device in accordance with the rotational angle of an observed image observed by a microscope.例文帳に追加

顕微鏡で観察される観察像の回転角度に応じて液晶モニタ装置の設置角度を調整すること。 - 特許庁

NEAR FIELD LIGHT GENERATION EQUIPMENT, NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME, OPTICAL RECORDING AND REPRODUCING DEVICE, AND SENSOR例文帳に追加

近接場光発生器およびそれを用いた近接場光学顕微鏡および光記録/再生装置およびセンサ - 特許庁

A setting region recording section 81 records the display prohibition region of the superimposition image in the microscope observing field.例文帳に追加

設定領域記録部81は、顕微鏡観察視野内における重畳画像の表示禁止領域を記録する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of improving the visibility of a sample when the position of the sample is visually confirmed.例文帳に追加

試料の位置を目視で確認する際の試料の視認性を向上させることのできる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

This fluorescence detector 1 is provided with a microscope 10, an excitation light source 20, a detecting part 30, a processing part 40, and the like.例文帳に追加

蛍光検出装置1は、顕微鏡10、励起光源20、検出部30および処理部40等を備える。 - 特許庁

To provide a device for measuring microscope field light quantity distribution capable of measuring a focus deviation due to shading and color aberration.例文帳に追加

シェーディングと色収差による焦点ズレを測定できる顕微鏡視野光量分布測定装置を実現する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of preventing the positional deviation of a slide glass when a stage is operated.例文帳に追加

ステージを操作した際のスライドガラスの位置ずれを防止することができる顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a culture container suitable for observing by a microscope with high contrast in culturing work of biological cells or others.例文帳に追加

生体細胞などの培養作業において、高コントラストの顕微鏡観察に好適な培養容器を提供する。 - 特許庁

Therefore, for example, the application to a microscope performing illumination for both bright-field illumination and dark-field illumination can be performed.例文帳に追加

本発明は、例えば、明視野照明及び暗視野照明の併用照明を行う顕微鏡に適用できる。 - 特許庁

To provide a compact illuminator that has a low-cost, satisfactory illuminating performance, and to provide a microscope.例文帳に追加

低コストで良好な照明性能を備えたコンパクトな照明装置及び顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁

By this constitution, the optical axis of the microscope is allowed to coincide with that of the transmission illumination part and the focuses of them are allowed to coincide with each other.例文帳に追加

これにより、顕微鏡と透過照明部の光軸を一致させ、しかもそれらの焦点を一致させる。 - 特許庁

To provide a high frequency magnetic field generation device for a scanning probe microscope, capable of efficiently operating with a simple configuration.例文帳に追加

簡単な構成で、効率的に稼動する走査型プローブ顕微鏡用高周波磁場発生装置を提供する。 - 特許庁

To provide a super-resolution microscope that facilitates induction of super-resolution effects, without requiring complex adjustment operation.例文帳に追加

煩雑な調整作業を要することなく、超解像効果を容易に誘導できる超解像顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an infrared microscope which can be used in the most suitable state with a simple optical system in both a transmission mode and a reflection mode.例文帳に追加

簡単な光学系で、透過・反射両モードとも最適の状態で使用できる赤外顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The aerial wiring of the metal deposited film, which becomes unnecessary after correction, is removed by ion beam etching or AFM (atomic force microscope) scratch processing.例文帳に追加

修正後不要となった金属デポジション膜空中配線をイオンビームエッチングまたはAFMスクラッチ加工で除去する。 - 特許庁

The laser light source of the 1st microscope 21A is placed in operation and a reflected light image and an OBIC image are displayed one over the other.例文帳に追加

第1マイクロスコープ21Aのレーザ光源を作動させ、反射光像とOBIC像を重畳して表示する。 - 特許庁

To provide a super-resolution microscope capable of always stably demonstrating a super-resolution effect with a simple and inexpensive constitution.例文帳に追加

簡単かつ安価な構成で、常に安定して超解像効果を発現できる超解像顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope capable of measuring height information inexpensively and highly precisely at a high speed.例文帳に追加

安価で高精度且つ高速に高さ情報を測定可能な走査型レーザ顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁

The confocal microscope by a monochromatic light source measures the height shape of the object without scanning in an axial direction.例文帳に追加

軸方向の走査なしに物体の高さ形状を計測する単色光源による共焦点顕微鏡を作成した。 - 特許庁

To provide an operation device achieving higher efficiency in operation for moving a stage or an objective, a microscope and a stage device.例文帳に追加

ステージ又は対物レンズを移動させる操作の効率化を図った操作装置、顕微鏡、ステージ装置を提供する。 - 特許庁

To provide a focus detector for a microscope constituted so that the efficiency of automatic focusing is enhanced at the time of vertical fluorescence observation.例文帳に追加

落射蛍光観察におけるオートフォーカスの効率が向上する顕微鏡用焦点検出装置を提供すること。 - 特許庁

The microscope 11 further includes a diaphragm 42 for passing excitation light through a conjugate position with the observation camera 29.例文帳に追加

また、顕微鏡11には、観察カメラ29と共役な位置に励起光を通過させる絞り42が設けられている。 - 特許庁

The sample-holding part 3 has a region 1 to be observed having a sample for observing an electron microscope mounted on the top part thereof.例文帳に追加

試料保持部3は、頂部に電子顕微鏡観察用の試料を搭載する観察対象領域1を有する。 - 特許庁

To provide an autofocus device for a microscope capable of bringing an object into focus even when a tilted object is moved at high speed.例文帳に追加

傾いた物体を高速で移動させても合焦させることが可能な顕微鏡のオートフォーカス装置を提供する。 - 特許庁

The resin molding surface 3 has <0.2 [nm] surface roughness Ra measured by an atomic force microscope (AFM).例文帳に追加

樹脂成形面3の表面粗さRaは、原子間顕微鏡(AFM)で測定した場合に、0.2[nm]未満となっている。 - 特許庁

To provide a microscope capable of easily shifting a focal point without changing a distance between an objective lens and a sample.例文帳に追加

対物レンズと試料の距離を変えることなく焦点移動を簡単に行なうことができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope device capable of being smoothly switched from a visible light optical system to an ultraviolet ray optical system.例文帳に追加

可視光光学系と紫外光光学系の切換えを円滑に行なうことができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system capable of suppressing the occurrence of defocusing due to influences of a change in ambient temperature and vibration, etc.例文帳に追加

周囲温度の変化や振動等の影響による合焦ずれの発生が抑えられた顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To easily measure a deviation of an optical axis of an optical microscope used in an alignment sensor or an overlay inspecting instrument.例文帳に追加

アライメントセンサー又はオーバーレイ検査装置で使用される光学式顕微鏡の光軸ずれを簡単に測定すること。 - 特許庁

To reduce the amount of reflected light when an operation such as an ophthalmic operation is executed under a microscope and to secure superior cutting performance.例文帳に追加

眼科手術のように顕微鏡下で手術する際の反射光を少なくし、且つ切れ味の良さを確保する。 - 特許庁

TEM SAMPLE WITH IDENTIFICATION FUNCTION, TEM SAMPLE-PROCESSING FOCUSED ION BEAM DEVICE AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

識別機能を備えたTEM試料及びTEM試料加工用集束イオンビーム装置並びに透過型電子顕微鏡 - 特許庁

Microscope objective lens carries out color compensation at a wavelength of 2λ_1 which is about twice a wavelength λ_1 in a UV region.例文帳に追加

紫外域の波長λ_1に対してほぼ2倍の2λ_1の波長に対して色補正された顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a high performance probe for a near-field microscope easily manufactured and having high shape repeatability.例文帳に追加

高性能であり、製作し易く、形状再現性の良い近視野顕微鏡用プローブの製造方法を提供する。 - 特許庁

The operating microscope 100 further includes an OCT system 120 for examining an object's region.例文帳に追加

本発明によると、手術用顕微鏡100は物体領域を検査するためのOCTシステム120を含んでいる。 - 特許庁

To prevent photographing of a useless observation image when a sample is observed using a microscope.例文帳に追加

顕微鏡を利用して標本を観察する場合に、無駄な観察画像が撮影されてしまうことを防止できるようにする。 - 特許庁

To avoid collision between an objective lens and a stage, in a microscope system having a general object lens and stage.例文帳に追加

一般的な対物レンズ及びステージを備えた顕微鏡システムにおいて、対物レンズとステージとの衝突を回避すること。 - 特許庁

To provide a high resolution microscope using terahertz waves without requiring introduction of a fluorescence marker into a sample.例文帳に追加

試料に蛍光マーカを導入する必要がなく、高い分解能を有するテラヘルツ波を用いた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a scanning probe microscope capable of measuring a three-dimensional shape with no limitation on shape.例文帳に追加

形状の制約なしに3次元の立体形状を測定することが可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁




  
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